JP5507345B2 - 測定装置および測定方法 - Google Patents

Description

本発明は、第１パラメータ軸および第２パラメータ軸で構成される座標平面内において第１パラメータの変化に対する第２パラメータの変化を示す波形の極点を検索する検索処理を実行する測定装置および測定方法に関するものである。

この種の測定装置として、特開２００５−６２０４５号公報に開示されたコモンモード等価回路の定数測定器（以下、単に「測定器」ともいう）が知られている。この測定器は、通信ネットワークに接続されているＩＴ通信機器における設計条件算出や伝搬特性条件等をシミュレーションするコモンモード等価回路を作成する機器であって、インピーダンス測定部、インピーダンス記憶部およびインピーダンス極小・極大点探索部などを備えて構成されている。この測定器では、インピーダンス測定部が、所定の周波数帯域におけるインピーダンスを測定し、インピーダンス記憶部がインピーダンス測定部によって測定されたインピーダンスを記憶する。また、インピーダンス極小・極大点探索部が、インピーダンス記憶部からインピーダンスを読み出し、コモンモード等価回路を作成する際に必要なインピーダンス変化における極点（極小点および極大点）を探索する。

この場合、この種の測定装置では、一般的に、極点を検索する際に、次のような手法が用いられる。例えば、図２に示すように、横軸（ｘ軸）を周波数とし、縦軸（ｙ軸）をインピーダンスとして、周波数の変化に対するインピーダンスの変化を示す波形Ｗ１における極点を検索するときには、周波数が一定の値ずつ異なる波形Ｗ１上の３つのポイント（例えば、同図に示すポイントＰａ１〜Ｐｃ１）における各々のインピーダンスを比較する。この際に、３つのポイントのうちの横軸に沿って中央に位置するポイント（この例では、ポイントＰｂ１）におけるインピーダンスが他の２つのポイント（この例では、ポイントＰａ１，Ｐｃ１）におけるインピーダンスよりも大きいときには、その中央に位置するポイントを極大点とする。また、３つのポイント（例えば、同図に示すポイントＰｉ１〜Ｐｋ１）のうちの横軸に沿って中央に位置するポイント（この例では、ポイントＰｊ１）におけるインピーダンスが他の２つのポイント（この例では、ポイントＰｉ１，Ｐｋ１）におけるインピーダンスよりも小さいときには、その中央に位置するポイントを極小点とする。つまり、この例では、周波数の増加に伴ってインピーダンスが増加した後に減少するポイントが極大点として検索され、周波数の増加に伴ってインピーダンスが減少した後に増加するポイントが極小点として検索される。

特開２００５−６２０４５号公報（第７頁、第１図）

ところが、上記した従来の測定装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、この測定装置では、例えば、ノイズの重畳や測定誤差によって測定値が変化した場合においても、その変化したポイントが極大点や極小点として検索されることがある。具体的には、図２に破線で示すように、ノイズの重畳がなくまた測定誤差がなかったときには、極大点に該当するポイントが１つだけ（同図におけるポイントＰｇ１だけ）で、極小点に該当するポイントが存在しない波形であっても、実際には、ノイズの重畳や測定誤差が存在するため、これとは異なるポイント（同図の例では、ポイントＰｂ１，Ｐｃ１，Ｐｊ１，Ｐｋ１，Ｐｍ１，Ｐｎ１）が極大点や極小点として検索され、本来あるべき検索結果とは異なる検索結果となることがある。このように、従来の測定装置には、ノイズの重畳や測定誤差が存在する場合において、極点の正確な検出が困難であるという課題が存在し、この点の改善が望まれている。

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、波形の極点を正確に検出し得る測定装置および測定方法を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、第１パラメータについての第１パラメータ軸および第２パラメータについての第２パラメータ軸で構成される座標平面内において当該第１パラメータの変化に対する当該第２パラメータの変化を示す波形の極点を検索する検索処理を実行する処理部を備えた測定装置であって、前記処理部は、前記検索処理において、予め決められた値ずつ前記第１パラメータの値が異なる前記波形上の複数のポイントで構成されるポイント群内の１つのポイントである第１ポイントと、当該第１ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の原点側に位置してＮ（Ｎは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第２ポイントと、前記第１ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の先端側に位置してＭ（Ｍは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第３ポイントとを選択すると共に、当該３つのポイントにおける各々の前記第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第１指定パターンに該当するときに当該第１指定パターンに対して設定された重み付け値を前記第１ポイントとした前記ポイントの重み付け値として取得する処理を前記第１ポイントとなる前記ポイントを変更しつつ繰り返して行う第１取得処理を前記Ｎおよび前記Ｍの少なくとも一方を異ならせてＬ（Ｌは２以上の整数）回実行し、当該Ｌ回の第１取得処理において取得した前記重み付け値を前記第１ポイントとした各ポイント毎に合計し、その合計値が予め規定された第１規定値以上との条件を満たす前記ポイントを前記ポイント群における前記極点と判定する極点判定処理を実行する。

また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記処理部は、前記極点判定処理において、前記合計値が最も大きい前記ポイントを前記条件を満たすポイントと判定する。

また、請求項３記載の測定装置は、請求項１または２記載の測定装置において、前記第１指定パターンが複数種類設けられると共に、当該各第１指定パターンに対して異なる大きさの前記重み付け値が設定され、前記処理部は、前記第２パラメータの大小関係によって分類される前記パターンがいずれかの前記第１指定パターンに該当するときに、当該該当する第１指定パターンに対して設定された前記重み付け値を前記第１ポイントとした前記ポイントの重み付け値として取得する。

また、請求項４記載の測定装置は、請求項１から３のいずれかに記載の測定装置において、前記処理部は、前記波形の前記ポイントにおける１つのポイントである第４ポイントと、当該第４ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の原点側に位置してＱ（Ｑは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第５ポイントと、前記第４ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の先端側に位置してＰ（Ｐは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第６ポイントとを選択すると共に、当該３つのポイントにおける各々の前記第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第２指定パターンに該当するときに当該第２指定パターンに対して設定された重み付け値を前記第４ポイントの重み付け値として取得する処理を前記第４ポイントを変更しつつ繰り返して行う第２取得処理を前記Ｑおよび前記Ｐの少なくとも一方を異ならせてＯ（Ｏは２以上の整数）回実行し、当該Ｏ回の第２取得処理において取得した前記重み付け値を前記第４ポイントとした各ポイント毎に合計し、その合計値が予め規定された第２規定値以上の前記ポイントが連続する集合体を特定し、当該集合体を構成する全ての前記ポイントの前記合計値を累計し、その累計値が予め規定された第３規定値以上のときに当該集合体を前記ポイント群として前記検索処理を実行する。

また、請求項５記載の測定装置は、請求項４記載の測定装置において、前記Ｐおよび前記Ｑの少なくとも一方を任意に設定可能に構成されている。

また、請求項６記載の測定装置は、請求項４または５記載の測定装置において、前記Ｏを任意に設定可能に構成されている。

また、請求項７記載の測定装置は、請求項１から６のいずれかに記載の測定装置において、前記Ｍおよび前記Ｎの少なくとも一方を任意に設定可能に構成されている。

また、請求項８記載の測定装置は、請求項１から７のいずれかに記載の測定装置において、前記Ｌを任意に設定可能に構成されている。

また、請求項９記載の測定方法は、第１パラメータについての第１パラメータ軸および第２パラメータについての第２パラメータ軸で構成される座標平面内において当該第１パラメータの変化に対する当該第２パラメータの変化を示す波形の極点を検索する検索処理を実行する測定方法であって、前記検索処理において、予め決められた値ずつ前記第１パラメータの値が異なる前記波形上の複数のポイントで構成されるポイント群内の１つのポイントである第１ポイントと、当該第１ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の原点側に位置してＮ（Ｎは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第２ポイントと、前記第１ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の先端側に位置してＭ（Ｍは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第３ポイントとを選択すると共に、当該３つのポイントにおける各々の前記第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第１指定パターンに該当するときに当該第１指定パターンに対して設定された重み付け値を前記第１ポイントとした前記ポイントの重み付け値として取得する処理を前記第１ポイントとなる前記ポイントを変更しつつ繰り返して行う第１取得処理を前記Ｎおよび前記Ｍの少なくとも一方を異ならせてＬ（Ｌは２以上の整数）回実行し、当該Ｌ回の第１取得処理において取得した前記重み付け値を前記第１ポイントとした各ポイント毎に合計し、その合計値が予め規定された第１規定値以上との条件を満たす前記ポイントを前記ポイント群における前記極点と判定する極点判定処理を実行する。

請求項１記載の測定装置、および請求項９記載の測定方法では、波形の３つのポイント（第１ポイント〜第３ポイント）における各々の第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第１指定パターンに該当するときにその第１指定パターンに対して設定された重み付け値を取得する処理を３つのポイントを変更しつつ繰り返して行う第１取得処理を、３つのポイントの間に挟む他のポイントの数（ＮおよびＭ）を異ならせてＬ回実行し、各第１取得処理において取得した重み付け値の合計値が第１規定値以上との条件を満たす第１ポイントを極点と判定する極点判定処理を実行する。このため、この測定装置および測定方法では、例えば、Ｌ回の第１取得処理のうちの１回の第１取得処理において突発的な第２パラメータの変化のパターンが極点を示す第１指定パターンに該当すると判定されたとしても、他の第１取得処理においては極点を示す第１指定パターンに該当しないと判定されることがある。したがって、この測定装置および測定方法によれば、第２パラメータの突発的な変化のパターンが極点を示す第１指定パターンに該当するとの判定結果が、Ｌ回の第１取得処理の実行によって稀釈化され（つまり、極点を示す第１指定パターンに該当するか否かの判定結果が平均化され）、この結果、ノイズの重畳や測定誤差による突発的な第２パラメータの変化の影響が低減されて、本来極点として検索されるべきポイントだけを極点として正確に検出させることができる。

また、請求項２記載の測定装置によれば、Ｌ回の第１取得処理において取得した重み付け値の合計値が最も大きいポイントをポイント群における極点と判定することにより、ポイント群を構成する各ポイントの中で、波形における凸部の頂部に相当するポイントだけを極大点とし、波形における凹部の底部に相当するポイントだけを極小点として検出することができる。

また、請求項３記載の測定装置では、第１指定パターンが複数種類設けられると共に、各第１指定パターンに対して異なる大きさの重み付け値が設定されている。この場合、例えば、１つの第１指定パターンだけが指定されている構成では、３つのポイントにおける各々の第２パラメータの大小関係のパターンがその１つの第１指定パターンと僅かに異なっただけで、重み付け値が取得できずに、極点として検出されないこともある。これに対して、この測定装置では、第１指定パターンを複数種類設けたことで、いずれかの第１指定パターンに該当させることができる結果、このようなポイントを極点として判定することができる。

また、請求項４記載の測定装置では、波形上の各ポイントを対象として、３つのポイント（第４ポイント〜第６ポイント）における各々の第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第２指定パターンに該当するときにその第２指定パターンに対して設定された重み付け値を取得する処理を３つのポイントを変更しつつ繰り返して行う第２取得処理を、３つのポイントの間に挟む他のポイントの数（ＱおよびＰ）を異ならせてＯ回実行し、Ｏ回の第２取得処理において取得した重み付け値の合計値が第２規定値以上のポイントが連続するポイントの集合体を特定し、その集合体における全てのポイントの合計値を累計した累計値が第３規定値以上のときに、その集合体をポイント群として検索処理（第１取得処理および極点判定処理）を実行する。このため、この測定装置によれば、複数の凹凸部が存在する波形における極点を検索する場合において、各凹凸部をポイント群として特定することができる結果、各凹凸部のそれぞれにおける極点を別々に検索することができる。

また、請求項５記載の測定装置は、ＰおよびＱの少なくとも一方を任意に設定可能に構成されている。このため、この測定装置によれば、ＰおよびＱの少なくとも一方を大きい値に設定することで、ノイズの重畳や測定誤差によって突発的に第２パラメータが変化した部分のポイントを検索処理（第１取得処理および極点判定処理）の対象とするポイント群に含ませないようにすることができる。また、例えば、ＰおよびＱの少なくとも一方を小さな値に設定することで、第２パラメータがある程度小さく変化した部分のポイントを検索処理の対象とするポイント群に含ませることができる。

また、請求項６記載の測定装置は、Ｏを任意に設定可能に構成されている。このため、この測定装置によれば、例えば、Ｏを大きな値に設定することで、ノイズの重畳や測定誤差によって突発的に第２パラメータが変化した部分のポイントを検索処理（第１取得処理および極点判定処理）の対象とするポイント群に含ませないようにすることができると共に、ポイント群を特定する処理の精度を十分に向上させることができる。また、例えば、Ｏを小さな値に設定することで、第２パラメータがある程度小さく変化した部分のポイントを検索処理の対象とするポイント群に含ませることができると共に、ポイント群を特定する処理の処理時間を十分に短くすることができる。

また、請求項７記載の測定装置は、ＭおよびＮの少なくとも一方を任意に設定可能に構成されている。このため、この測定装置によれば、例えば、ＭおよびＮの少なくとも一方を大きい値に設定して、３つのポイントの間に挟む他のポイントの数を多くすることで、ノイズの重畳や測定誤差による突発的な第２パラメータの変化の影響をさらに少なくすることができる。また、例えば、ＭおよびＮの少なくとも一方を小さな値に設定して、３つのポイントの間に挟む他のポイントの数を少なくすることで、ある程度小さな第２パラメータの変化も極点として判定させたりすることができる。

また、請求項８記載の測定装置は、Ｌを任意に設定可能に構成されている。このため、この測定装置によれば、例えば、Ｌを大きな値に設定して第１取得処理の回数を多く設定することで、ノイズの重畳や測定誤差による突発的な第２パラメータの変化の影響をさらに少なくすることができると共に、極点を検索する検索処理の精度をさらに向上させることができる。また、例えば、Ｌを小さな値に設定して第１取得処理の回数を少なく設定することで、ある程度小さな第２パラメータの変化も極点として判定させたりすることができると共に、検索処理の処理時間を十分に短くすることができる。

波形表示装置１の構成を示すブロック図である。 波形Ｗ１を表示部１２に表示させた表示波形図である。 第１指定パターンＦ１〜Ｆ９の内容を示すパターン図である。 第１取得処理および極点判定処理を説明する第１の説明図である。 波形Ｗ２を表示部１２に表示させた表示波形図である。 第１取得処理および極点判定処理を説明する第２の説明図である。 波形Ｗ３を表示部１２に表示させた表示波形図である。

以下、測定装置および測定方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

最初に、波形表示装置１の構成について、図面を参照して説明する。図１に示す波形表示装置１は、測定装置の一例であって、測定部１１、表示部１２、操作部１３、制御部１４および記録部１５を備えて、測定方法に沿った処理を実行可能に構成されている。

測定部１１は、制御部１４の制御に従い、測定対象体に対して電気信号を供給したときの測定対象体についての物理量（第２パラメータに相当し、例えば、インピーダンス）を電気信号の周波数（第１パラメータに相当する）を変更しつつ測定して測定データＤｗを出力する。

表示部１２は、一例として、液晶パネルで構成されて、制御部１４の制御に従い、例えば図２，５，７に示す波形Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３（以下、波形Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３を区別しないときには「波形Ｗ」ともいう）を表示する。また、表示部１２は、制御部１４の制御に従い、波形Ｗ１の極点（極大点および極小点）における周波数およびインピーダンスを示す文字情報Ｉｖを表示する。

操作部１３は、モード切替えキー、記録開始キー、記録終了キー、波形表示キー、検索開始キー、および後述する「Ｌ」、「Ｍ」、「Ｎ」、「Ｏ」、「Ｐ」および「Ｑ」を入力するための数字キーなどを備えて構成され、これらが操作されたときに操作信号Ｓｏを出力する。

制御部１４は、操作部１３から出力される操作信号Ｓｏに従って波形表示装置１を構成する各部に対する制御や、各種の処理を実行する。具体的には、制御部１４は、測定部１１によるインピーダンスの測定（測定処理）を制御すると共に、記録部１５への測定データＤｗの記録や、記録部１５からの測定データＤｗの読み出しを行う。

また、制御部１４は、測定部１１から出力された測定データＤｗに基づき、周波数軸Ａｘ（第１パラメータ軸に相当し、この例ではＸ軸）およびインピーダンス軸Ａｙ（第２パラメータ軸に相当し、この例ではＹ軸）で構成される座標平面（ＸＹ平面）内における周波数の変化に対するインピーダンスの変化を示す波形Ｗを表示部１２に表示させる。

また、制御部１４は、後述する検索処理を実行して波形Ｗにおける極点（極大点および極小点）を検索すると共に、検索した極点における周波数およびインピーダンスを示す文字情報Ｉｖを表示部１２に表示させる。

記録部１５は、制御部１４の制御に従い、測定部１１から出力された測定データＤｗを記録する。また、記録部１５は、操作部１３に対する操作によって設定された後述する「Ｌ」、「Ｍ」、「Ｎ」、「Ｏ」、「Ｐ」および「Ｑ」を示すデータを記録する。

さらに、記録部１５は、制御部１４によって実行される検索処理において用いられるパターンデータＤｐを記憶する。この場合、パターンデータＤｐには、周波数が予め決められた値ずつ異なる（つまり、周波数軸Ａｘに沿って同じ間隔で離間する）波形Ｗ上の複数のポイント（例えば、図２に示すポイントＰａ１〜Ｐｏ１：以下、区別しないときには「ポイントＰ」ともいう）で構成されるポイント群Ｃｐ内の３つのポイントＰにおける各々のインピーダンスの大小関係によって分類されるパターンとして予め指定された複数種類（一例として、９種類）の第１指定パターンＦ１〜Ｆ９（図３参照：以下、第１指定パターンＦ１〜Ｆ９を区別しないときには「第１指定パターンＦ」ともいう）を示すデータが含まれている。また、パターンデータＤｐには、各第１指定パターンＦ１〜Ｆ９に対して設定されている重み付け値Ｖ（同図参照）を示すデータが含まれている。

この場合、図３に示す各第１指定パターンＦ１〜Ｆ９における真中の点、左側の点および右側の点が、後述する第１ポイントＰ１、第２ポイントＰ２および第３ポイントＰ３にそれぞれ相当する。また、第１ポイントＰ１、第２ポイントＰ２および第３ポイントＰ３におけるインピーダンスをそれぞれＺ１、Ｚ２およびＺ３とすると、各第１指定パターンＦ１〜Ｆ９では、Ｚ１、Ｚ２およびＺ３の大小関係が、次のように規定されている。
第１指定パターンＦ１：Ｚ２＜Ｚ１＜Ｚ３
第１指定パターンＦ２：Ｚ２＜Ｚ１＝Ｚ３
第１指定パターンＦ３：Ｚ２＜Ｚ１＞Ｚ３
第１指定パターンＦ４：Ｚ２＝Ｚ１＜Ｚ３
第１指定パターンＦ５：Ｚ２＝Ｚ１＝Ｚ３
第１指定パターンＦ６：Ｚ２＝Ｚ１＞Ｚ３
第１指定パターンＦ７：Ｚ２＞Ｚ１＜Ｚ３
第１指定パターンＦ８：Ｚ２＞Ｚ１＝Ｚ３
第１指定パターンＦ９：Ｚ２＞Ｚ１＞Ｚ３
なお、第１指定パターンＦ１，Ｆ３，Ｆ７，Ｆ９については、Ｚ２，Ｚ１の差とＺ１，Ｚ３の差とが等しい場合および異なる場合の双方が含まれる。また、第１指定パターンＦ３は、極点と判定したポイントＰが極大点であることを判別する際に用いられ、第１指定パターンＦ７は、極点と判定したポイントＰが極小点であるかことを判別する際に用いられる。つまり、第１指定パターンＦ３は、極大点を示す第１指定パターンＦとして指定され、第１指定パターンＦ７は極小点を示す第１指定パターンＦとして指定されている。

次に、波形表示装置１を用いた測定方法、およびその際の波形表示装置１の動作について、図面を参照して説明する。

まず、操作部１３のモード切替えキーを操作して、波形表示装置１を測定モードに切り替えた後に、操作部１３の測定開始キーを操作する。この際に、制御部１４が、操作部１３から出力された操作信号Ｓｏに従って測定部１１に対して測定処理を実行させる。この測定処理では、測定部１１は、電気信号の周波数を変更しつつ、この電気信号を測定対象体に対して供給し、このときの測定対象体についてのインピーダンスを測定する。また、測定部１１は、各周波数毎のインピーダンスを示す測定データＤｗを出力する。

次いで、制御部１４は、測定部１１から出力された測定データＤｗを記録部１５に記録させる。続いて、測定を終了するときには、操作部１３の測定終了キーを操作する。これに応じて、制御部１４は、測定部１１を制御して測定処理を停止させると共に、記録部１５を制御して測定データＤｗの記録を終了させる。

次に、記録部１５に記録した測定データＤｗに基づく波形Ｗ１を表示させる。具体的には、操作部１３のモード切替えキーを操作して、波形表示装置１を波形表示モードに切り替える。この際に、制御部１４は、操作部１３から出力された操作信号Ｓｏに従い、記録部１５に記録されている測定データＤｗの一部または全部を読み出す。次いで、制御部１４は、表示部１２を制御して、図２に示すように、読み出した測定データＤｗに基づく波形Ｗ１を表示させる。この場合、波形Ｗ１は、同図に示すように、周波数軸Ａｘおよびインピーダンス軸Ａｙで構成される座標平面内における周波数の変化に対するインピーダンスの変化を示している。

次に、表示部１２に表示されている波形Ｗ１における極点を検索させるときには、操作部１３のモード切替えキーを操作して、波形表示装置１を設定モードに切り替える。次いで、操作部１３の数字キーを操作して、後述する第１取得処理を制御部１４に実行させる回数としてのＬ（Ｌは２以上の整数）を設定する。この例では、Ｌを「３」に設定したものとする。続いて、操作部１３の数字キーを操作して、後述するＮ（Ｎは０以上の整数）およびＭ（Ｍは０以上の整数）を入力する。この場合、第１取得処理を実行する回数（この例では、１回目〜３回目）毎にＮおよびＭの少なくとも一方を異なる値に設定する。この例では、１回目の第１取得処理についてＮおよびＭをそれぞれ「０」に設定し、２回目の第１取得処理についてＮおよびＭをそれぞれ「１」に設定し、３回目の第１取得処理についてＮおよびＭをそれぞれ「２」に設定したものとする。また、制御部１４は、設定されたＬ，Ｍ，Ｎを示すデータを記録部１５に記録させる。

次いで、操作部１３の検索開始キーを操作する。この際に、制御部１４は、操作部１３から出力された操作信号Ｓｏに従い、検索処理を実行する。この検索処理では、制御部１４は、測定データＤｗに基づき、表示部１２に表示されている波形Ｗ上における周波数が予め決められた値ずつ異なる複数のポイントＰ（例えば、図２に示すポイントＰａ１〜Ｐｏ１）で構成されるポイント群Ｃｐを特定する。

続いて、制御部１４は、パターンデータＤｐを記録部１５から読み出すと共に、Ｌ，Ｍ，Ｎを示すデータを記録部１５から読み出す。次いで、制御部１４は、１回目の第１取得処理を実行する。この第１取得処理では、制御部１４は、ポイント群Ｃｐを構成する各ポイントＰのうちの１つのポイントＰ（例えば、図２に示すポイントＰｂ１）を選択し、このポイントＰｂ１を第１ポイントＰ１とする。続いて、制御部１４は、第１ポイントＰ１よりも周波数軸Ａｘに沿って周波数軸Ａｘの原点側（同図における左側）に位置して他のポイントＰを挟まずに（つまり、Ｎ個の一例としての０個のポイントＰを挟んで）隣接するポイントＰａ１を選択し、このポイントＰａ１を第２ポイントＰ２とする。次いで、制御部１４は、第１ポイントＰ１よりも周波数軸Ａｘに沿って周波数軸Ａｘの先端側（同図における右側）に位置して他のポイントＰを挟まずに（つまり、Ｍ個の一例としての０個のポイントＰを挟んで）隣接するポイントＰｃ１を選択し、このポイントＰｃ１を第３ポイントＰ３とする（図４における「１回目」の列の「Ｐｂ１」の欄参照）。

続いて、制御部１４は、上記のようにして選択した３つのポイントＰａ１〜Ｐｃ１におけるインピーダンスの大小関係によって分類されるパターンが、図３に示す９つの第１指定パターンＦ１〜Ｆ９のうちのいずれかに該当するか否かを判定すると共に、いずれかの第１指定パターンＦに該当したときにはその第１指定パターンＦに対して設定されている重み付け値Ｖを第１ポイントＰ１の重み付け値Ｖとして取得する。この場合、図２に示すように、ポイントＰａ１〜Ｐｃ１におけるインピーダンスの大小関係によって分類されるパターンが、図３に示す第１指定パターンＦ３に該当するため、制御部１４は、第１指定パターンＦ３に対して設定されている「３」の重み付け値Ｖを第１ポイントＰ１としたポイントＰｂ１の重み付け値Ｖとして取得する（図４における「１回目」の列の「Ｐｂ１」の欄参照）。

次いで、制御部１４は、ＭおよびＮを変更せずに、上記した重み付け値Ｖを取得する処理を、第１ポイントＰ１〜第３ポイントＰ３として選択するポイントＰを変更しつつ、ポイント群Ｃｐ内から第１ポイントＰ１〜第３ポイントＰ３を選択する全ての組み合わせについて繰り返して行い（図４における「１回目」の列参照）、１回目の第１取得処理を終了する。

続いて、制御部１４は、２回目の第１取得処理を実行する。この２回目の第１取得処理では、制御部１４は、第１ポイントＰ１よりも周波数軸Ａｘの原点側に位置してＮ個の一例としての１個のポイントＰを挟んで第１ポイントＰ１に隣接する（つまり、１個置きで隣接する）ポイントＰを第２ポイントＰ２として選択し、第１ポイントＰ１よりも周波数軸Ａｘの先端側に位置してＭ個の一例としての１個のポイントＰを挟んで第１ポイントＰ１に隣接する（つまり、１個置きで隣接する）ポイントＰを第３ポイントＰ３として選択して、上記した１回目の第１取得処理と同様の処理を行う（図４における「２回目」の列参照）。

次いで、制御部１４は、２回目の第１取得処理が終了したときには、３回目の第１取得処理を実行する。この場合、制御部１４は、第１ポイントＰ１よりも周波数軸Ａｘの原点側に位置してＮ個の一例としての２個のポイントＰを挟んで第１ポイントＰ１に隣接する（つまり、２個置きで隣接する）ポイントＰを第２ポイントＰ２として選択し、第１ポイントＰ１よりも周波数軸Ａｘの先端側に位置してＭ個の一例としての２個のポイントＰを挟んで第１ポイントＰ１に隣接する（つまり、２個置きで隣接する）ポイントＰを第３ポイントＰ３として選択して、上記した１回目の第１取得処理と同様の処理を行う（図４における「３回目」の列参照）。

続いて、制御部１４は、極点判定処理を実行する。この極点判定処理では、制御部１４は、上記した１回目から３回目までの３（Ｌの一例）回の第１取得処理において取得した重み付け値Ｖを各ポイントＰ毎に合計した合計値Ｖｔを算出する（図４参照）。次いで、制御部１４は、合計値Ｖｔが第１規定値以上（一例として、「８」以上）でかつ最も大きいとの条件を満たすポイントＰ（この例では、ポイントＰｇ１）をポイント群Ｃｐにおける極点と判定する。ここで、制御部１４は、第１取得処理において、ポイントＰｇ１を第１ポイントＰ１とした３つのポイントＰにおけるインピーダンスの大小関係によって分類されるパターンが、極大点を示す第１指定パターンＦ３に該当すると判定している（同図における「Ｐｇ１」の行参照）。この場合、制御部１４は、Ｌ回の第１取得処理における１回以上の第１取得処理において、そのパターンが極大点を示す第１指定パターンＦ３に該当すると判定したときには、極点と判定したポイントＰ（この例では、ポイントＰｇ１を）を極大点とする。続いて、制御部１４は、表示部１２を制御して、図２に示すように、極点として判定したポイントＰｇ１を通ってポイントＰｇ１が極点である旨を示すカーソル線Ｃｌを表示させると共に、そのポイントＰｇ１における周波数およびインピーダンスを示す文字情報Ｉｖを表示させる。

この場合、他のポイントＰを挟まずに隣接する３つのポイントＰにおけるインピーダンスの大小関係のパターンのみに基づいて極点を検索している従来の測定装置を用いて、図２に示す波形Ｗ１の極点を検索させたときには、本来極点として検索されるべきポイントＰｇ１に加えて、ノイズの重畳や測定誤差によって測定値が変化した可能性が高いポイントＰｂ１，Ｐｃ１，Ｐｊ１，Ｐｋ１，Ｐｍ１，Ｐｎ１までもが極点として検索されることとなり、検出結果が不正確となるおそれがある。これに対して、この波形表示装置１では、重み付け値Ｖを取得する処理を３つのポイントＰを変更しつつ繰り返して行う第１取得処理を、３つのポイントＰの間に挟む他のポイントＰの数を異ならせて（つまり、３つのポイントＰの相互の間隔を異ならせて）複数回実行する。このため、この波形表示装置１では、例えば、複数回の第１取得処理のうちの１回の第１取得処理において突発的なインピーダンスの変化パターンが極点を示す第１指定パターンＦに該当すると判定されたとしても、他の第１取得処理においては極点を示す第１指定パターンＦに該当しないと判定されることがある。したがって、この波形表示装置１では、突発的なインピーダンスの変化パターンが極点を示す第１指定パターンＦに該当するとの判定結果が、複数回の第１取得処理の実行によって稀釈化され（つまり、極点を示す第１指定パターンＦに該当するか否かの判定結果が平均化され）、この結果、ノイズの重畳や測定誤差による突発的なインピーダンスの変化の影響が低減されて、本来極点として検索されるべきポイントＰｇ１だけを極点として正確に検出させることが可能となっている。また、この波形表示装置１では、３つのポイントＰの間に挟む他のポイントＰの数を多く設定したり、第１取得処理の回数を多く設定したりすることで、ノイズの重畳や測定誤差による突発的なインピーダンスの変化の影響を極力少なくしたり、３つのポイントＰの間に挟む他のポイントＰの数を少なく設定したり、第１取得処理の回数を少なく設定したりすることで、ある程度小さなインピーダンスの変化も極点として判定させたりすることが可能となっている。

次に、例えば、図５に示す波形Ｗ２を表示部１２に表示させた状態において、表示されている波形Ｗ２における極点を検索させるときには、操作部１３の検索開始キーを操作して、制御部１４に検索処理を実行させる。この際に、制御部１４は、表示されている波形Ｗ２上のポイントＰａ２〜Ｐｏ２で構成されるポイント群Ｃｐを特定し、次いで、上記した第１取得処理をＮおよびＭを異ならせて３（Ｌの一例）回実行する。

続いて、制御部１４は、上記した極点判定処理を実行して、３回の第１取得処理において取得した重み付け値Ｖを各ポイントＰ毎に合計した合計値Ｖｔを算出する（図６参照）。この場合、同図に示すように、ポイントＰｇ２の合計値Ｖｔが最も大きいため、このポイントＰｇ２をポイント群Ｃｐにおける極点と判定する。ここで、制御部１４は、第１取得処理において、ポイントＰｇ２を第１ポイントＰ１とした３つのポイントＰにおけるインピーダンスの大小関係によって分類されるパターンが、極小点を示す第１指定パターンＦ７に該当すると判定している（同図における「Ｐｇ２」の行参照）。この場合、制御部１４は、Ｌ回の第１取得処理における１回以上の第１取得処理において、そのパターンが極小点を示す第１指定パターンＦ７に該当すると判定したときには、極点と判定したポイントＰ（この例では、ポイントＰｇ２を）を極小点とする。次いで、制御部１４は、表示部１２を制御して、図５に示すように、極点として判定したポイントＰｇ２を通ってポイントＰｇ２が極点である旨を示すカーソル線Ｃｌを表示させると共に、ポイントＰｇ２における周波数およびインピーダンスを示す文字情報Ｉｖを表示させる。この例においても、重み付け値Ｖを取得する処理を、３つのポイントＰの間に挟む他のポイントＰの数を異ならせて複数回実行するため、ノイズの重畳や測定誤差による突発的なインピーダンスの変化を極点として判定させないようにすることが可能な結果、波形Ｗ２における極点が正確に検出される。

このように、この波形表示装置１および測定方法では、波形Ｗ上の３つのポイントＰ（第１ポイントＰ１〜第３ポイントＰ３）における各々の第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第１指定パターンＦに該当するときにその第１指定パターンＦに対して設定された重み付け値Ｖを取得する処理を３つのポイントＰを変更しつつ繰り返して行う第１取得処理を、３つのポイントＰの間に挟む他のポイントＰの数を異ならせて複数回実行し、各第１取得処理において取得した重み付け値Ｖの合計値Ｖｔが第１規定値以上との条件を満たす第１ポイントＰ１を極点と判定する極点判定処理を実行する。このため、この波形表示装置１および測定方法によれば、例えば、複数回の第１取得処理のうちの１回の第１取得処理において突発的なインピーダンスの変化パターンが極点を示す第１指定パターンＦに該当すると判定されたとしても、他の第１取得処理においては極点を示す第１指定パターンＦに該当しないと判定されることがある。したがって、この波形表示装置１および測定方法によれば、突発的なインピーダンスの変化パターンが極点を示す第１指定パターンＦに該当するとの判定結果が、複数回の第１取得処理の実行によって稀釈化され（つまり、極点を示す第１指定パターンＦに該当するか否かの判定結果が平均化され）、この結果、ノイズの重畳や測定誤差による突発的なインピーダンスの変化の影響が低減されて、本来極点として検索されるべきポイントＰだけを極点として正確に検出させることができる。

また、この波形表示装置１および測定方法によれば、Ｌ回の第１取得処理において取得した重み付け値Ｖの合計値Ｖｔが最も大きいポイントＰをポイント群Ｃｐにおける極点と判定することにより、ポイント群Ｃｐを構成する各ポイントＰの中で、波形Ｗにおける凸部の頂部に相当するポイントＰだけを極大点とし、波形Ｗにおける凹部の底部に相当するポイントＰだけを極小点として検出することができる。

また、この波形表示装置１では、第１指定パターンＦが複数種類設けられると共に、各第１指定パターンＦに対して異なる大きさの重み付け値Ｖが設定されている。この場合、例えば、１つの第１指定パターンＦだけを指定する構成では、３つのポイントＰにおける各々の第２パラメータの大小関係のパターンがその１つの第１指定パターンＦと僅かに異なっただけで、重み付け値Ｖが取得できずに、極点として検出されないこともある。これに対して、この波形表示装置１では、第１指定パターンＦを複数種類設けたことで、いずれかの第１指定パターンＦに該当させることができる結果、このようなポイントＰを極点として判定することができる。

また、この波形表示装置１は、ＭおよびＮの少なくとも一方を任意に設定可能に構成されている。このため、この波形表示装置１によれば、例えば、ＭおよびＮの少なくとも一方を大きい値に設定して、３つのポイントＰの間に挟む他のポイントＰの数を多くすることで、ノイズの重畳や測定誤差による突発的なインピーダンスの変化の影響をさらに少なくすることができる。また、例えば、ＭおよびＮの少なくとも一方を小さな値に設定して、３つのポイントＰの間に挟む他のポイントＰの数を少なくすることで、ある程度小さなインピーダンスの変化も極点として判定させたりすることができる。

また、この波形表示装置１は、Ｌを任意に設定可能に構成されている。このため、この波形表示装置１によれば、例えば、Ｌを大きな値に設定して第１取得処理の回数を多く設定することで、ノイズの重畳や測定誤差による突発的なインピーダンスの変化の影響をさらに少なくすることができると共に、極点を検索する検索処理の精度をさらに向上させることができる。また、例えば、Ｌを小さな値に設定して第１取得処理の回数を少なく設定することで、ある程度小さなインピーダンスの変化も極点として判定させたりすることができると共に、検索処理の処理時間を十分に短くすることができる。

また、図７に示すように、極小点および極大点を有する凹凸部Ａ１〜Ａ４（以下、区別しないときには「凹凸部Ａ」ともいう）が複数存在する波形Ｗ３を表示部１２に表示させた状態において、この波形Ｗ３を対象として上記の検索処理を実行することもできる。この際には、各凹凸部Ａ１〜Ａ４のうちのいずれか１つの凹凸部Ａにおける１つのポイントＰだけが極大点として検索され、いずれか１つの凹凸部Ａにおける１つのポイントＰだけが極小点として検索される。この波形Ｗ３の各凹凸部Ａ１〜Ａ４のそれぞれにおける極点を別々に検索させたいときには、制御部１４に対して次のような処理を実行させる。

まず、制御部１４は、表示部１２に表示されている波形Ｗ３における全てのポイントＰを対象として上記した第１取得処理と同様の第２取得処理を実行する。この第２取得処理では、上記した第１取得処理における第１ポイントＰ１、第２ポイントＰ２および第３ポイントＰ３をそれぞれ第４ポイント、第５ポイントおよび第６ポイントとし、ＮをＱ（Ｑは０以上の整数）とし、ＭをＰ（Ｐは０以上の整数）とし、第１指定パターンを第２指定パターンとして、重み付け値Ｖを取得する処理を行う。また、制御部１４は、この第２取得処理をＯ（Ｏは２以上の整数）回実行する。この場合、Ｑ、ＰおよびＯは、操作部１３に対する操作によって任意に設定することが可能となっている。

続いて、制御部１４は、Ｏ回の第２取得処理において取得した重み付け値Ｖを各第４ポイントＰ４毎に合計して合計値Ｖｔを算出する。次いで、制御部１４は、その合計値Ｖｔが予め規定された第２規定値（特に限定されないが、例えば、「３」）以上の第４ポイントＰ４が連続する第４ポイントＰ４の集合体を特定する。続いて、制御部１４は、その集合体を構成する全ての第４ポイントＰ４の合計値Ｖｔを累計し、その累計値Ｖｓが予め規定された第３規定値（特に限定されないが、例えば「２０」）以上のときに集合体をポイント群Ｃｐとして特定する。この処理を行うことにより、波形Ｗ３における複数の凹凸部Ａがそれぞれポイント群Ｃｐとして特定される。次いで、制御部１４は、特定されたポイント群Ｃｐに対して上記した検索処理（第１取得処理および極点判定処理）を実行する。これにより、波形Ｗ３においてポイント群Ｃｐとして特定された複数の凹凸部Ａのそれぞれにおける極点が別々に検索される。

このように、この構成によれば、波形Ｗ上の各ポイントＰを対象とした第２取得処理を、ＱおよびＰを変更してＯ回実行し、Ｏ回の第２取得処理において取得した重み付け値Ｖの合計値Ｖｔが第２規定値以上の第４ポイントＰ４が連続する第４ポイントＰ４の集合体を特定し、その集合体における全ての第４ポイントＰ４の合計値Ｖｔを累計した累計値Ｖｓが第２規定値以上のときに、その集合体をポイント群Ｃｐとして検索処理（第１取得処理および極点判定処理）を実行することにより、複数の凹凸部Ａが存在する波形Ｗ３における極点を検索する場合において、各凹凸部Ａをポイント群Ｃｐとして特定することができるため、各凹凸部Ａのそれぞれにおける極点を別々に検索することができる。

また、この構成によれば、ＰおよびＱの少なくとも一方を任意に設定可能に構成したことにより、例えば、ＰおよびＱの少なくとも一方を大きい値に設定することで、ノイズの重畳や測定誤差によって突発的にインピーダンスが変化した部分のポイントＰを検索処理（第１取得処理および極点判定処理）の対象とするポイント群Ｃｐに含ませないようにすることができる。また、例えば、ＰおよびＱの少なくとも一方を小さな値に設定することで、インピーダンスがある程度小さく変化した部分のポイントＰを検索処理の対象とするポイント群Ｃｐに含ませることができる。

さらに、この構成によれば、Ｏを任意に設定可能に構成したことにより、例えば、Ｏを大きな値に設定することで、ノイズの重畳や測定誤差によって突発的にインピーダンスが変化した部分のポイントＰを検索処理（第１取得処理および極点判定処理）の対象とするポイント群Ｃｐに含ませないようにすることができると共に、ポイント群Ｃｐを特定する処理の精度を十分に向上させることができる。また、例えば、Ｏを小さな値に設定することで、インピーダンスがある程度小さく変化した部分のポイントＰを検索処理の対象とするポイント群Ｃｐに含ませることができると共に、ポイント群Ｃｐを特定する処理の処理時間を十分に短くすることができる。

なお、上記の構成および方法では、Ｎを「０」、「１」および「２」に設定し、Ｍを「０」、「１」および「２」に設定しているが、ＮおよびＭは、０以上の任意の整数に設定することができる。また、上記の構成および方法では、ＮとＭとを異なる値に設定することもできる。また、第１取得処理を実行させる回数としてのＬを「３」に設定しているが、Ｌは、２以上の任意の整数に設定することができる（つまり、第１取得処理を２回以上の任意の回数実行させることができる）。また、Ｌ，Ｍ，Ｎ，Ｏ，Ｐ，Ｑを操作部１３に対する操作によって設定する構成および方法に代えて、Ｌ，Ｍ，Ｎ，Ｏ，Ｐ，Ｑの一部または全部を予め設定しておく構成および方法を採用することもできる。

また、９個の第１指定パターンＦが指定されている例について上記したが、第１指定パターンＦは、上記した９個の第１指定パターンＦのうちの１つであってもよいし、９個の第１指定パターンＦのうちの任意の複数であってもよい。また、上記した９個の第１指定パターンＦとは異なる第１指定パターンＦを指定することもできる。具体的には、上記した第１指定パターンＦ１，Ｆ３，Ｆ７，Ｆ９については、Ｚ２，Ｚ１の差とＺ１，Ｚ３の差とが等しい場合および異なる場合の双方が含まれるが、上記した第１指定パターンＦ１，Ｆ３，Ｆ７，Ｆ９においてＺ２，Ｚ１の差とＺ１，Ｚ３の差とが等しい第１指定パターンＦや、上記した第１指定パターンＦ１，Ｆ３，Ｆ７，Ｆ９においてＺ２，Ｚ１の差とＺ１，Ｚ３の差とが異なる第１指定パターンＦを指定することができる。

また、合計値Ｖｔが最も大きい第１ポイントＰ１を極点と判定する例について上記したが、合計値Ｖｔが予め決められた値以上の第１ポイントＰ１を極点と判定する構成および方法を採用することもできる。

さらに、第１パラメータ軸としての周波数軸Ａｘおよび第２パラメータ軸としてのインピーダンス軸Ａｙで構成される座標平面内において第１パラメータとしての周波数の変化に対する第２パラメータとしての物理量（上記の例では、インピーダンス）の変化を示す波形Ｗの極点を検出させる際に適用する例について上記したが、第２パラメータとしての電圧値、電流値、電力値、抵抗値および温度などの各種の物理量の変化を示す波形の極点を検出させる際に適用することができるのは勿論である。また、第１パラメータ軸としての時間軸および第２パラメータ軸で構成される座標平面内において、電圧値、電流値、電力値、抵抗値、インピーダンスおよび温度などの各種の物理量を第２パラメータとして、その第２パラメータについての経時変化を示す波形の極点を検出させる際に適用することができるのも勿論である。

１ 波形表示装置
１４ 制御部
Ａｘ 周波数軸
Ａｙ インピーダンス軸
Ｃｐ１，Ｃｐ２ ポイント群
Ｆ１〜Ｆ９ 第１指定パターン
Ｐ１ 第１ポイント
Ｐ２ 第２ポイント
Ｐ３ 第３ポイント
Ｐａ１〜Ｐｏ１，Ｐａ２〜Ｐｏ２ ポイント
Ｖ 重み付け値
Ｖｔ 合計値
Ｖｓ 累計値
Ｗ１〜Ｗ３ 波形

Claims (9)

1. 第１パラメータについての第１パラメータ軸および第２パラメータについての第２パラメータ軸で構成される座標平面内において当該第１パラメータの変化に対する当該第２パラメータの変化を示す波形の極点を検索する検索処理を実行する処理部を備えた測定装置であって、
   前記処理部は、前記検索処理において、
   予め決められた値ずつ前記第１パラメータの値が異なる前記波形上の複数のポイントで構成されるポイント群内の１つのポイントである第１ポイントと、当該第１ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の原点側に位置してＮ（Ｎは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第２ポイントと、前記第１ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の先端側に位置してＭ（Ｍは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第３ポイントとを選択すると共に、当該３つのポイントにおける各々の前記第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第１指定パターンに該当するときに当該第１指定パターンに対して設定された重み付け値を前記第１ポイントとした前記ポイントの重み付け値として取得する処理を前記第１ポイントとなる前記ポイントを変更しつつ繰り返して行う第１取得処理を前記Ｎおよび前記Ｍの少なくとも一方を異ならせてＬ（Ｌは２以上の整数）回実行し、
   当該Ｌ回の第１取得処理において取得した前記重み付け値を前記第１ポイントとした各ポイント毎に合計し、その合計値が予め規定された第１規定値以上との条件を満たす前記ポイントを前記ポイント群における前記極点と判定する極点判定処理を実行する測定装置。
2. 前記処理部は、前記極点判定処理において、前記合計値が最も大きい前記ポイントを前記条件を満たすポイントと判定する請求項１記載の測定装置。
3. 前記第１指定パターンが複数種類設けられると共に、当該各第１指定パターンに対して異なる大きさの前記重み付け値が設定され、
   前記処理部は、前記第２パラメータの大小関係によって分類される前記パターンがいずれかの前記第１指定パターンに該当するときに、当該該当する第１指定パターンに対して設定された前記重み付け値を前記第１ポイントとした前記ポイントの重み付け値として取得する請求項１または２記載の測定装置。
4. 前記処理部は、前記波形の前記ポイントにおける１つのポイントである第４ポイントと、当該第４ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の原点側に位置してＱ（Ｑは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第５ポイントと、前記第４ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の先端側に位置してＰ（Ｐは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第６ポイントとを選択すると共に、当該３つのポイントにおける各々の前記第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第２指定パターンに該当するときに当該第２指定パターンに対して設定された重み付け値を前記第４ポイントの重み付け値として取得する処理を前記第４ポイントを変更しつつ繰り返して行う第２取得処理を前記Ｑおよび前記Ｐの少なくとも一方を異ならせてＯ（Ｏは２以上の整数）回実行し、
   当該Ｏ回の第２取得処理において取得した前記重み付け値を前記第４ポイントとした各ポイント毎に合計し、その合計値が予め規定された第２規定値以上の前記ポイントが連続する集合体を特定し、当該集合体を構成する全ての前記ポイントの前記合計値を累計し、その累計値が予め規定された第３規定値以上のときに当該集合体を前記ポイント群として前記検索処理を実行する請求項１から３のいずれかに記載の測定装置。
5. 前記Ｐおよび前記Ｑの少なくとも一方を任意に設定可能に構成されている請求項４記載の測定装置。
6. 前記Ｏを任意に設定可能に構成されている請求項４または５記載の測定装置。
7. 前記Ｍおよび前記Ｎの少なくとも一方を任意に設定可能に構成されている請求項１から６のいずれかに記載の測定装置。
8. 前記Ｌを任意に設定可能に構成されている請求項１から７のいずれかに記載の測定装置。
9. 第１パラメータについての第１パラメータ軸および第２パラメータについての第２パラメータ軸で構成される座標平面内において当該第１パラメータの変化に対する当該第２パラメータの変化を示す波形の極点を検索する検索処理を実行する測定方法であって、
   前記検索処理において、
   予め決められた値ずつ前記第１パラメータの値が異なる前記波形上の複数のポイントで構成されるポイント群内の１つのポイントである第１ポイントと、当該第１ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の原点側に位置してＮ（Ｎは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第２ポイントと、前記第１ポイントよりも前記第１パラメータ軸に沿って当該第１パラメータ軸の先端側に位置してＭ（Ｍは０以上の整数）個のポイントを挟んで隣接する第３ポイントとを選択すると共に、当該３つのポイントにおける各々の前記第２パラメータの大小関係によって分類されるパターンが予め指定された第１指定パターンに該当するときに当該第１指定パターンに対して設定された重み付け値を前記第１ポイントとした前記ポイントの重み付け値として取得する処理を前記第１ポイントとなる前記ポイントを変更しつつ繰り返して行う第１取得処理を前記Ｎおよび前記Ｍの少なくとも一方を異ならせてＬ（Ｌは２以上の整数）回実行し、
   当該Ｌ回の第１取得処理において取得した前記重み付け値を前記第１ポイントとした各ポイント毎に合計し、その合計値が予め規定された第１規定値以上との条件を満たす前記ポイントを前記ポイント群における前記極点と判定する極点判定処理を実行する測定方法。

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