JP6395425B2 - 撮像装置及び撮像システム - Google Patents

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Description

本発明は、スキャナ、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ等に用いられる撮像装置及び撮像システムに関する。
特許文献1には、ゲインを切り替えることが可能な列信号増幅手段と、サンプルホールド容量と、容量値が切り替え可能なクランプ容量を有するノイズ除去回路により、高速化と低ノイズ化を実現する技術が開示されている。特許文献1で開示されている技術では、動作速度が要求されるモードではクランプ容量を小さくし、クランプを行うために必要な時間を短縮して、高速化を実現する。一方、低ノイズが要求されるモードでは、クランプ容量を大きくして、クランプ容量のkT/Cノイズを小さくすることで、低ノイズ化を実現する。
特開2007−181088号公報
しかしながら、特許文献1に記載の記述では以下の2個の課題がある。第1に、列信号増幅手段で増幅した信号が、クランプ容量とサンプルホールド容量による容量分割で減衰してしまう。第2に、列信号増幅手段とノイズ除去回路とで決定されるゲインと、低ノイズ化を実現する容量値が独立に決められない。
本発明の目的は、高速動作及び低ノイズ化を両立させることができる撮像装置及び撮像システムを提供することである。
本発明の撮像装置は、複数の列を含む行列状に配置され、光電変換素子で生じた電荷に基づく信号を出力する複数の画素と、前記複数の列に対応して設けられ、前記画素の出力信号が入力される複数の読み出し回路とを有し、前記読み出し回路は、前記画素の出力信号を増幅する、ゲインが可変の増幅部と、サンプリングホールド部と、を有し、前記サンプリングホールド部は、サンプリングスイッチと、前記増幅部の出力端子に前記サンプリングスイッチを介して接続され、かつ、前記サンプリングスイッチと前記サンプリングホールド部の出力ノードとの間に接続され、かつ、容量値が可変であるサンプルホールド容量とを有し、前記増幅部のゲインが第1のゲインである状態において、サンプリングスイッチがオンからオフに遷移する時には、前記サンプルホールド容量の容量値は第1の容量値であり、前記増幅部のゲインが前記第1のゲインより大きい第2のゲインである状態において、サンプリングスイッチがオンからオフに遷移する時には、前記サンプルホールド容量の容量値は前記第1の容量値より小さい第2の容量値であることを特徴とする。
増幅部のゲインに応じてサンプルホールド容量の容量値を変えることにより、高速動作及び低ノイズ化を両立させることができる。
撮像装置の構成例を示す図である。 列読み出し回路の構成例を示す図である。 画素の構成例を示す図である。 ランプ信号を生成する回路の構成例を示す図である。 列読み出し回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。 ゲインと動作周波数を説明するための図である。 サンプルホールド容量を切り替える回路の構成例を示す図である。 列読み出し回路の構成例を示す図である。 撮像システムの構成例を示す図である。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態による撮像装置の構成例を示す図である。撮像装置は、画素部1と、列読み出し回路2と、比較器3と、記憶部4と、水平走査回路5と、ランプ源6と、カウンタ回路7と、信号処理回路8とを有する。画素部1は、2次元行列状に配置される複数の画素30(図3)を有する。複数の画素出力線10は、それぞれ、各列の画素30に共通に接続される。複数の列読み出し回路2は、画素30の列毎に設けられ、それぞれ、入力端子が各列の画素出力線10に接続され、出力端子が各列の列読み出し回路出力線13に接続される。すなわち、列読み出し回路2は、画素30の出力信号を入力する。ランプ源6は、時間と共にレベルが変化するランプ信号(参照信号)を生成し、ランプ信号をランプ配線11に出力する。なお、参照信号は、ランプ信号に限定されず、時間と共にレベルがステップ状に変化する信号でもよい。複数の比較器3は、画素30の列ごとに配置され、それぞれ、各列の列読み出し回路出力線13の信号とランプ配線11のランプ信号とを比較し、比較結果を出力する。カウンタ回路7は、カウント値をカウントし、カウンタデータをカウントデータ配線12に出力する。複数の記憶部4は、画素30の列ごとに配置され、それぞれ、各列の比較器3の比較結果に応じて、カウントデータ配線12のカウントデータを保持する。水平走査回路5は、各列の記憶部4に格納されているデジタルデータを順次、信号処理回路8に出力させる。
列読み出し回路2は、画素30のリセット状態におけるノイズ信号と、画素30の光電変換に基づく画素信号を出力する。比較器3は、列読み出し回路2の出力信号と、ランプ配線11のランプ信号の大きさを比較し、両者の大小関係が反転する時、出力信号がハイレベルからローレベル又はローレベルからハイレベルに反転する。比較器3の出力信号が反転するタイミングで、記憶部4は、カウンタ回路7から出力されるデジタルデータを記憶する。比較器3は、上記のノイズ信号と光電変換に基づく画素信号とで2回、上記の比較を行い、記憶部4は、ノイズ信号のデジタルデータ及び光電変換に基づく画素信号のデジタルデータを記憶する。なお、記憶部4は、ノイズ信号用の記憶部と光電変換に基づく画素信号用の記憶部を有する。アナログデジタル変換部は、比較器3と、記憶部4と、ランプ源6と、カウンタ回路7とを有し、列読み出し回路2の出力信号をアナログからデジタルに変換する。記憶部4に記憶されたノイズ信号及び光電変換に基づく画素信号のデジタルデータは、それぞれ、水平走査回路5から出力される信号に応じて、列毎に信号処理回路8に順次転送される。信号処理回路8は、ノイズ信号に対応するデジタルデータと、光電変換に基づく画素信号に対応するデジタルデータとを減算し、デジタルCDS(デジタル相関二重サンプリング)を実現する。
図2は、列読み出し回路2の構成例を示す回路図である。列読み出し回路2は、列増幅部20と、サンプルホールド部21とを有する。列増幅部20は、反転増幅器であり、列アンプ22と、入力容量C0と、フィードバック容量Cfと、リセットスイッチ25とを有する。列アンプ22は、差動増幅回路であり、非反転入力端子には参照電位線23が接続され、反転入力端子には入力容量C0の一方の端子とフィードバック容量Cfの一方の端子とリセットスイッチ25の一方の端子が接続される。列アンプ22の出力端子は、フィードバック容量Cfの他方の端子と、リセットスイッチ25の他方の端子と、サンプルホールド部21の入力端子に接続される。入力容量C0の他方の端子は、列増幅部20の入力端子であり、画素出力線10に接続される。列増幅部20のゲインは、入力容量C0とフィードバック容量Cfの容量比で決まる。列増幅部20は、反転増幅器であることから、そのゲインは−C0/Cfである。ここで、入力容量C0及びフィードバック容量Cfは、容量値が切り替え可能であり、よって列増幅部20のゲインが切り替え可能となる。入力容量C0とフィードバック容量Cfの一方のみの容量値が切り替え可能に構成されていても、列増幅部20のゲインは切り替え可能になる。以上のように、列増幅部20は、画素30の出力信号を可変のゲインで増幅する。
サンプルホールド部21は、サンプルホールド容量Cshと、サンプリングスイッチ26とを有する。サンプリングスイッチ26の一方の端子は列増幅部20の出力端子に接続され、サンプリングスイッチ26の他方の端子はサンプルホールド容量Cshに接続される。サンプリングスイッチ26とサンプルホールド容量Cshとが接続される配線は、サンプルホールド部21の出力線であり、かつ、列読み出し回路出力線13である。サンプルホールド容量Cshは、その容量値が切り替え可能であり、列読み出し回路出力線13及び固定電位線24間に接続される。すなわち、サンプルホールド回路Cshは、列増幅部20の出力端子にサンプリングスイッチ26を介して接続され、容量値が可変である。列読み出し回路2の動作については後に説明する。
図3は、画素部1の構成例を示す回路図である。画素部1は、画素30及び電流源33を有する。複数の画素30は、2次元行列状に配列される。各列の画素出力線10には、各列の画素30及び電流源33が接続される。画素30は、光電変換素子32と、リセットトランジスタ34と、転送トランジスタ35と、ソースフォロワトランジスタ36と、選択トランジスタ37とを有する。光電変換素子32は、光電変換により、入射光量に応じた電荷を生成する。読み出し行の画素30では、信号PSELがハイレベルになり、選択トランジスタ37はオンになる。この時、ソースフォロワトランジスタ36と電流源33とでソースフォロワが形成される。読み出し時には、信号PRESをハイレベルにして、リセットトランジスタ34をオンにし、フローティングディフュージョンFDを電源電圧VDDにリセットする。リセット後に、信号PRESをローレベルにして、リセットトランジスタ34をオフにする。その後、信号PTXをハイレベルにして、転送トランジスタ35がオンになり、光電変換素子32に蓄積された電荷がフローティングディフュージョンFDに転送される。ソースフォロワトランジスタ36は、フローティングディフュージョンFDに蓄積された電荷量に応じて電圧を、選択トランジスタ37を介して、画素出力線10に出力する。信号PTXがローレベルからハイレベルに遷移する前まで、画素出力線10には画素30のリセット状態のノイズ信号が出力される。信号PTXがハイレベルに遷移した後には、光電変換素子32の光電変換に基づく画素信号が、画素出力線10に出力される。以上のように、複数の画素30は、行列状に配置され、光電変換素子32による信号を出力する。
図4は、ランプ源6の構成例を示す回路図である。ランプ源6は、電流源41と、充電容量42と、充電スイッチ43と、放電スイッチ44と、出力バッファ45とを有し、ランプ信号を生成する。出力バッファ45の出力端子は、ランプ配線11に接続される。充電スイッチ43のオン/オフは、信号RMP_ENにより制御される。放電スイッチ44のオン/オフは、信号RMP_RESにより制御される。充電スイッチ43及び放電スイッチ44は、それぞれ、制御信号RMP_EN及びRMP_RESがハイレベルの時にオンにする。アナログデジタル(AD)変換を行う際、信号RMP_ENをハイレベル、信号RMP_RESをローレベルにする。すると、充電スイッチ43がオンし、放電スイッチ44がオフし、電流源41から充電容量42への充電が開始される。信号RMP_ENがハイレベル、信号RMP_RESがローレベルの期間中、充電容量42には電流源41の電流量に対応した電荷が蓄積され続けるので、出力バッファ45の入力端子には経過時間に応じて電位が増加するランプ信号が入力される。このランプ信号は、出力バッファ45及びランプ配線11を介して、各列の比較器3に供給される。この期間がAD変換期間になる。AD変換が終了した後に、信号RMP_ENをローレベル、信号RMP_RESをハイレベルにする。すると、充電スイッチ43がオフし、放電スイッチ44がオンし、充電容量42に蓄積された電荷が放電し、ランプ信号をリセットし、次のAD変換に備える。ランプ信号のリセットがされた時、出力バッファ45に入力される電位はグランド電位であり、その時の出力バッファ45の出力電位をVst(図5)とする。ランプ信号を生成する期間とランプ信号をリセットする期間を、ノイズ信号のAD変換と光電変換に基づく画素信号のAD変換とで繰り返すことで、前述のデジタルCDSを実現する。
図5は、撮像装置に駆動方法を示すタイミングチャートである。カウンタ回路7は、ノイズ信号と光電変換に基づく画素信号のAD変換期間にカウント動作を行い、記憶部4はノイズ信号と光電変換に基づく画素信号のAD変換期間に書き込みが可能である。ノイズ信号と光電変換に基づく画素信号のAD変換期間は、前述の通り、ランプ配線11にランプ信号が入力されている期間である。信号PRES及びPTXは、それぞれ、n行目の画素30の信号PRES及びPTXである。信号PRES2は、n+1行目の画素30の信号PRESを示す。以下、n行目の画素30の動作を例に説明する。n行目の画素30の選択トランジスタ37はオンしている。なお、列読み出し回路出力線13の電位よりもランプ配線11の電位が大きくなった時点で、比較器3の出力信号はローレベルからハイレベルに遷移するものとして説明する。
まず、時刻T1では、信号PRESがローレベルからハイレベルに遷移し、読み出し行の画素30のリセットトランジスタ34がオンし、読み出し行の画素30のリセットが開始される。この時、画素出力線10の電位は、前の行の画素信号から読み出し行のノイズ信号Vpixnに遷移する。また、この時、前の行の光電変換に基づく画素信号のAD変換が行われているため、ランプ配線11にはランプ信号が入力されている。この例では、時刻T1では、ランプ配線11の電位の方が列読み出し回路出力線13の電位よりも大きいので、比較器3の出力信号はハイレベルである。
時刻T2では、信号PRESがローレベルになり、読み出し行の画素30のリセットトランジスタ34がオフし、読み出し行の画素30のリセットが終了する。時刻T3では、列増幅部リセット信号PC0Rがローレベルからハイレベルに遷移し、リセットスイッチ25がオンし、列増幅部20のリセット動作が開始される。この時、列増幅部20の出力電位は、前行の画素信号に対応した電位から電位Vnに遷移する。なお、列増幅部リセット期間は、列増幅部20がボルテージフォロワの構成になるので、電位Vnは参照電位線23の電位におおよそ等しくなる。
時刻T4では、信号RMP_RESにより、ランプ信号がリセットされ、ランプ配線11の電位はVstに遷移する。この時、列読み出し回路出力線13の電位の方がランプ信号の電位Vstよりも大きくなるため、比較器3の出力信号はローレベルになる。時刻T5では、信号PC0Rがローレベルになり、リセットスイッチ25がオフし、列増幅部20のリセット動作が終了する。
時刻T6では、サンプリング制御信号SPがハイレベルになり、サンプリングスイッチ26がオンし、サンプルホールド容量Cshに列増幅部20の出力電位Vnがサンプリングされる。よって、列読み出し回路2の出力信号であるノイズ信号の電位はVnとなる。時刻T7では、サンプリング制御信号SPがローレベルになり、サンプリングスイッチ26がオフし、サンプリングが終了する。
時刻T8では、信号RMP_ENにより、ランプ配線11のランプ信号の電位増加が開始し、ノイズ信号のAD変換が開始される。この時、カウンタ回路7は、カウント値のカウント動作を開始する。ランプ配線11の電位が列読み出し回路出力線13の電位Vnより大きくなると、比較器3の出力信号はローレベルからハイレベルに遷移する。この時刻をT9とすると、時刻T9に対応するカウンタ回路7がカウントしたカウント値をカウントデータとして記憶部4に記憶することで、ノイズ信号に対応したデジタル値を得ることができる。なお、カウンタ回路7は、ある所定のノイズ信号のAD変換期間が終わった後に、動作をやめて、次のAD変換が行われる前にカウント値が0にリセットされる。
時刻T10では、読み出し行の画素30の信号PTXがハイレベルになり、読み出し行の画素30の転送トランジスタ35がオンし、光電変換素子32の光電変換による電荷はフローティングディフュージョンFDに転送される。画素出力線10には、光電変換に基づく画素信号が出力され、画素出力線10の電位はVpixsとなる。この時の列増幅部20の出力電位をVsとすると、Vs−Vn=−(Vpixs−Vpixn)×C0/Cfとなる。なお、前述の通り、列増幅部20は、反転増幅器であるため、右辺は−1倍されている。
時刻T11では、読み出し行の画素30の信号PTXがローレベルになり、読み出し行の画素30の転送トランジスタ35がオフし、電荷転送が終了する。時刻T12では、信号RMP_RESにより、ランプ信号がリセットされ、ランプ配線11の電位はVstになる。
時刻T13では、サンプリング制御信号SPがハイレベルになり、サンプリングスイッチ26がオンし、サンプルホールド容量Cshへのサンプリング動作が開始される。このサンプリング動作により、サンプルホールド容量Cshには電位Vsがサンプリングされる。よって、列読み出し回路出力線13の光電変換に基づく画素信号の電位はVsである。
時刻T14では、サンプリング制御信号SPがローレベルになり、サンプリングスイッチ26がオフし、サンプルホールド容量Cshは光電変換に基づく画素信号の電位Vsをホールドする。
時刻T15では、光電変換に基づく画素信号のAD変換開始のため、信号RMP_ENにより、ランプ配線11のランプ信号の電位増加が開始し、カウンタ回路7はカウント値のカウント動作を開始する。ランプ配線11の電位が列読み出し回路出力線13の電位より大きくなると、比較器3の出力信号はローレベルからハイレベルに遷移する。この時の時刻をT16とすると、時刻T16に対応するカウンタ回路7のカウント値をカウントデータとして記憶部4に記憶することで、光電変換に基づく画素信号のデジタル値を得ることができる。
時刻T17では、次の行の画素30のリセット制御信号PRES2がハイレベルになり、次の行の画素30のリセットトランジスタ34がオンし、次の行の画素30のリセット動作が開始される。次の行の画素30の動作は、前述の読み出し行の画素30の動作と同様である。時刻T18では、信号PRES2がローレベルになる。時刻T19では、信号PC0Rがハイレベルになる。
時刻T20では、信号RMP_RESにより、ランプ配線11のランプ信号がリセットされ、その電位がVstになる。同時に、列読み出し回路出力線13の電位がランプ配線11の電位より大きくなるので、比較器3の出力信号はハイレベルからローレベルに遷移する。なお、カウンタ回路7は、ある所定の光電変換に基づく画素信号のAD変換期間が終わった後に、動作をやめて、次のAD変換を行う前にカウント値が0にリセットされる。光電変換に基づく画素信号のAD変換が終了した後に、記憶部4に記憶されたノイズ信号と光電変換に基づく画素信号のそれぞれに対応するデジタルデータは、信号処理回路8に転送され、減算されることで、デジタルCDSが行われる。
時刻T1〜T10のノイズ信号期間では、画素30は、リセットされたノイズ信号を列増幅部20に出力し、サンプルホールド容量Cshは、列増幅部20の出力信号をサンプルホールドする。これに対し、時刻T10〜T17の画素信号期間では、画素30は、光電変換に基づく画素信号を列増幅部20に出力し、サンプルホールド容量Cshは、列増幅部20の出力信号をサンプルホールドする。
n行目の画素30がリセットされたノイズ信号を出力している時に、時刻T6で、サンプリングスイッチ26がオンし、サンプルホールド容量Cshに列増幅部20の出力信号が書き込まれる。その後、時刻T7で、サンプリングスイッチ26がオフし、サンプルホールド容量Cshは列増幅部20の出力信号を保持する。その後、時刻T8で、アナログデジタル変換部のアナログデジタル変換期間が開始する。その後、時刻T10で、n行目の画素30が光電変換に基づく画素信号を出力する。その後、時刻T11の前で、ランプ信号の電位が一定になり、アナログデジタル変換部のアナログデジタル変換期間が終了する。
また、n行目の画素30が光電変換に基づく画素信号を出力している時に、時刻T13で、サンプリングスイッチ26がオンし、サンプルホールド容量Cshに列増幅部20の出力信号が書き込まれる。その後、時刻T14で、サンプリングスイッチ26がオフし、サンプルホールド容量Cshは列増幅部20の出力信号を保持する。その後、時刻T15で、アナログデジタル変換部のアナログデジタル変換期間が開始する。その後、時刻T17で、n+1行目の画素30がリセットされたノイズ信号を出力する。その後、時刻T19の前で、ランプ信号の電位が一定になり、アナログデジタル変換部のアナログデジタル変換期間が終了する。
以上のように、画素30のノイズ信号と光電変換に基づく画素信号のそれぞれに対応した列増幅部20の出力信号をサンプルホールドする。前述の通り、サンプリング制御信号SPがハイレベルになると、サンプリングスイッチ26がオンになり、列増幅部20の出力信号はサンプルホールド容量Cshへのサンプリングが開始される。サンプリング制御信号SPがローレベルに遷移した時に、サンプリングスイッチ26がオフになり、列増幅部20の出力信号はサンプルホールド容量Cshへのサンプリングが終了し、ホールドされる。この時、サンプルホールド容量Cshには、列増幅部20の出力ノイズとサンプルホールド容量Cshの容量値で決定されるkT/Cノイズが蓄積される。ここで、サンプルホールド容量Cshを大きくすると、列増幅部20の動作周波数が低くなる。よって、列増幅部20の出力ノイズは帯域が小さくなった分だけ小さくなり、また、kT/Cノイズも小さくなる。しかし、一方で、動作周波数が低くなった分だけ列増幅部20の動作が遅くなる。よって、サンプルホールド容量Cshを大きくしすぎると、列増幅部20が所望の時間で動作が完了しない可能性が出てくるので、サンプルホールド容量Cshの容量値を適正値にする。
図6は、列増幅部20のゲインと周波数の関係を示す図であり、列アンプ22のオープンループゲインと、列増幅部20のゲインが大きい時と小さい時の周波数帯域及びゲインを示す。実線は、列アンプ22の出力端子に容量Cshとして負荷容量C1(図7)を接続した場合の列アンプ22のオープンループゲインを示す。列増幅部20の出力端子に接続されるサンプルホールド容量Cshが容量C1と等しいとすると、ゲインが小さい時の動作周波数の最大値はf1であり、ゲインが大きい時の動作周波数の最大値はfhである。今、列増幅部20の動作に必要な周波数をf0とすると、ゲインが小さい時ではf1−f0分だけ周波数帯域が冗長であり、ゲインが大きい時ではfh−f0だけ周波数帯域が冗長である。つまり、列読み出し回路2のサンプルホールド動作で考えると、この周波数帯域の冗長分だけ列アンプ22のノイズ帯域が広がり、かつそれがサンプリングされるので、結果としてノイズ増加を招くということになる。そこで、例えば、列増幅部20のゲインが小さい時に、列増幅部20の周波数帯域がf0となるように、サンプルホールド容量Cshを大きくする。この時、列アンプ22のノイズ帯域も制限されるので、サンプルホールド容量Cshにサンプリングされるノイズも小さくなる。また、サンプルホールド容量Cshが大きくなるので、kT/Cノイズも小さくすることができる。このサンプルホールド容量Cshの大きさを維持したまま、列増幅部20のゲインを大きくしていくと、ゲインが大きい時の周波数帯域は、図6に示すように、f12になる。図6より、f12<f0なので、必要な周波数に満たしていないことがわかる。よって、この時、列増幅部20は所望の時間内での動作ができないということになる。そこで、列増幅部20のゲインが大きい時は、列増幅部20のゲインが小さい時と比較してサンプルホールド容量Cshを小さくする。列増幅部20のゲインが第1のゲインである場合には、サンプルホールド容量Cshの容量値は第1の容量値である。列増幅部20のゲインが第1のゲインより大きい第2のゲインである場合には、サンプルホールド容量Cshの容量値は第1の容量値より小さい第2の容量値である。ここで、サンプルホールド容量Cshの大きさは、周波数fhが、列増幅部20の動作に必要な周波数f0と等しくなるように設定されるのが望ましい。必要な動作周波数f0を満足し、かつ列増幅部20のノイズ帯域の制限とkT/Cノイズの削減により、低ノイズ化を実現できる。
以上のように、列増幅部20のゲインに応じて、サンプルホールド容量Cshの大きさを変更し、列増幅部20の周波数帯域を適切に設定することによって、低ノイズ化と高速動作の両立が可能となる。サンプルホールド容量Cshの切り換え部としては、例えば図7のように、複数の切り替えスイッチSELSWと複数の容量C1〜C3とで実現可能である。容量選択信号SEL1〜SEL3により、切り替えスイッチSELSWは、容量C1〜C3を選択的にサンプルホールド容量Cshとして列読み出し回路出力線13に接続することで、サンプルホールド容量Cshの大きさを変更することができる。なお、切り替えスイッチSELSWは、容量C1〜C3のうち、1つを選択するだけでなく、複数を選択してもよい。
なお、列アンプ22は、差動増幅回路としたが、それに限定されず、例えば、ソース接地アンプでもよい。その場合、参照電位線23は省略可能である。本実施形態では、読み出し行のノイズ信号出力期間と前行の光電変換に基づく画素信号のAD変換期間が重なり、光電変換に基づく画素信号出力期間とノイズ信号のAD変換期間とが重なっているが、それに限定されない。例えば、リセット信号出力後、ノイズ信号をAD変換し、その後に光電変換に基づく画素信号を出力し、その後に光電変換に基づく画素信号をAD変換し、その後に次の行のリセット信号を出力してもよい。その場合、画素出力線10に出力されている信号期間とAD変換されている信号期間とが対応している。
(第2の実施形態)
図8は、本発明の第2の実施形態に係る列読み出し回路2の構成例を示す回路図である。以下、本実施形態(図8)が第1の実施形態(図2)と異なる点を説明する。列読み出し回路2は、ゲインを切り替えることが可能な列増幅部20と、サンプルホールド部21と、さらにバッファ回路81を有する。バッファ回路81の入力配線82は、サンプリングスイッチ26及びサンプルホールド容量Cshに接続される。バッファ回路81の出力端子は、列読み出し回路出力線13を介して、比較器3の入力端子に接続される。その他の接続に関しては、第1の実施形態と同様である。本実施形態の動作は、図5に示したタイミングチャートと同様である。サンプルホールド容量Cshにサンプリングされた信号は、バッファ回路81を介して、列読み出し回路出力線13に出力される。バッファ回路81は、例えば、差動増幅回路を用いたボルテージフォロワ、又はソースフォロワなどである。
第1の実施形態と同様に、列増幅部20のゲインが大きい時にサンプルホールド容量Cshの容量値を小さくし、列増幅部20のゲインが小さい時にサンプルホールド容量Cshの容量値を大きくする。これにより、列読み出し回路2の動作速度を維持しつつ、kT/Cノイズ及び列増幅部20の高周波ノイズをカットすることができる。つまり、高速動作と低ノイズ化の両立を実現できる。サンプルホールド容量Cshの容量値の切り替え部としては、例えば図7の回路で実現できる。また、サンプルホールド部21の次段にバッファ回路81を設けることで、例えば、列読み出し回路出力線13に大きな容量負荷が接続された場合でも、その大きな容量負荷をバッファ回路81が駆動することができる。また、バッファ回路81を設けることにより、比較器3の出力信号がハイレベルからローレベル又はローレベルからハイレベルに遷移した時に起こるノイズの影響を軽減することができる。つまり、比較器3の出力信号が反転した時に、その影響が比較器3の入力側にも現れた場合、低出力インピーダンスのバッファ回路81が比較器3の入力側を駆動しているので、比較器3の入力側に現れる影響は軽減される。また、サンプルホールド容量Cshへの影響も軽減される。また、比較器3だけではなく、その次段に接続される記憶部4等のデジタル回路のキックバックノイズも、バッファ回路81により軽減される。
(第3の実施形態)
図9は、本発明の第3の実施形態による撮像システムの構成例を示す図である。撮像システム800は、例えば、光学部810、撮像装置820、映像信号処理部830、記録・通信部840、タイミング制御部850、システム制御部860、及び再生・表示部870を含む。撮像装置820は、先の実施形態で説明した撮像装置が用いられる。レンズ等の光学系である光学部810は、被写体からの光を撮像装置820の、複数の画素30が2次元状に配列された画素部1に結像させ、被写体の像を形成する。撮像装置820は、タイミング制御部850からの信号に基づくタイミングで、画素部1に結像された光に応じた信号を出力する。撮像装置820から出力された信号は、映像信号処理部830に入力され、映像信号処理部830が、プログラム等によって定められた方法に従って信号処理を行う。映像信号処理部830での処理によって得られた信号は画像データとして記録・通信部840に出力される。記録・通信部840は、画像を形成するための信号を再生・表示部870に出力し、再生・表示部870に動画や静止画像を再生・表示させる。記録・通信部840は、また、映像信号処理部830からの信号を入力し、システム制御部860と通信を行うほか、記録媒体に、画像を形成するための信号を記録する動作も行う。
システム制御部860は、撮像システムの動作を統括的に制御するものであり、光学部810、タイミング制御部850、記録・通信部840、及び再生・表示部870の駆動を制御する。また、システム制御部860は、例えば記録媒体である記憶装置を備え、ここに撮像システムの動作を制御するのに必要なプログラム等が記録される。また、システム制御部860は、例えばユーザの操作に応じて駆動モードを切り替える信号を撮像システム内に供給する。具体的な例としては、読み出す行やリセットする行の変更、電子ズームに伴う画角の変更や、電子防振に伴う画角のずらし等である。タイミング制御部850は、システム制御部860による制御に基づいて撮像装置820及び映像信号処理部830の駆動タイミングを制御する。
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
1 画素部、2 列読み出し回路、20 列増幅部、26 サンプリングスイッチ、30 画素、Csh サンプルホールド容量

Claims (8)

  1. 複数の列を含む行列状に配置され、光電変換素子で生じた電荷に基づく信号を出力する複数の画素と、
    前記複数の列に対応して設けられ、前記画素の出力信号が入力される複数の読み出し回路とを有し、
    前記読み出し回路は、
    前記画素の出力信号を増幅する、ゲインが可変の増幅部と、
    サンプリングホールド部と、を有し、
    前記サンプリングホールド部は、サンプリングスイッチと、前記増幅部の出力端子に前記サンプリングスイッチを介して接続され、かつ、前記サンプリングスイッチと前記サンプリングホールド部の出力ノードとの間に接続され、かつ、容量値が可変であるサンプルホールド容量とを有し、
    前記増幅部のゲインが第1のゲインである状態において、サンプリングスイッチがオンからオフに遷移する時には、前記サンプルホールド容量の容量値は第1の容量値であり、
    前記増幅部のゲインが前記第1のゲインより大きい第2のゲインである状態において、サンプリングスイッチがオンからオフに遷移する時には、前記サンプルホールド容量の容量値は前記第1の容量値より小さい第2の容量値であることを特徴とする撮像装置。
  2. ノイズ信号期間では、
    前記画素は、リセットされたノイズ信号を前記増幅部に出力し、
    前記サンプルホールド容量は、前記増幅部の出力信号をサンプルホールドし、
    画素信号期間では、
    前記画素は、光電変換に基づく画素信号を前記増幅部に出力し、
    前記サンプルホールド容量は、前記増幅部の出力信号をサンプルホールドすることを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
  3. さらに、前記読み出し回路の出力信号をアナログからデジタルに変換するアナログデジタル変換部を有することを特徴とする請求項2記載の撮像装置。
  4. n行目の前記画素が前記光電変換に基づく画素信号を出力している時に、前記サンプリングスイッチがオンし、前記サンプルホールド容量に前記増幅部の出力信号が書き込まれ、
    その後、前記サンプリングスイッチがオフし、前記サンプルホールド容量は前記増幅部の出力信号を保持し、
    その後、前記アナログデジタル変換部のアナログデジタル変換期間が開始し、
    その後、n+1行目の前記画素が前記リセットされたノイズ信号を出力し、
    その後、前記アナログデジタル変換部のアナログデジタル変換期間が終了することを特徴とする請求項3記載の撮像装置。
  5. 前記画素が前記リセットされたノイズ信号を出力している時に、前記サンプリングスイッチがオンし、前記サンプルホールド容量に前記増幅部の出力信号が書き込まれ、
    その後、前記サンプリングスイッチがオフし、前記サンプルホールド容量は前記増幅部の出力信号を保持し、
    その後、前記アナログデジタル変換部のアナログデジタル変換期間が開始し、
    その後、前記画素が前記光電変換に基づく画素信号を出力し、
    その後、前記アナログデジタル変換部のアナログデジタル変換期間が終了することを特徴とする請求項3又は4記載の撮像装置。
  6. 前記読み出し回路は、前記サンプルホールド容量に接続されるバッファ回路を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の撮像装置。
  7. 前記アナログデジタル変換部は、
    時間と共にレベルが電位が変化する参照信号と前記複数の読み出し回路の出力信号とをそれぞれ比較する複数の比較器と、
    カウント値をカウントしてカウントデータを出力するカウンタ回路と、
    前記比較器の比較結果に応じて、前記カウントデータを保持する記憶部とを有することを特徴とする請求項3〜5のいずれか1項に記載の撮像装置。
  8. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置と、
    前記撮像装置に光を結像させる光学部と
    を有することを特徴とする撮像システム。
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