JP6392882B2 - Hall sensor and lens module - Google Patents

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Description

本発明は、ホールセンサ及びレンズモジュールに関する。   The present invention relates to a hall sensor and a lens module.

磁界を検出するセンサとして、ホール素子を用いた磁気センサが知られている。特許文献1に記載の磁気センサは、ペレット(ホール素子等の磁気センサチップ)を用いたアイランドレス構造の磁気センサであって、ペレットを小型薄型化した場合でも、リーク電流の増大を防止できるようにした磁気センサに関するものである。この磁気センサは、ペレットと、このペレットの周囲に配置された複数のリード端子と、ペレットが有する複数の電極部と複数のリード端子とをそれぞれ電気的に接続する複数の導線と、ペレットの複数の電極部を有する面の反対側の面を覆う絶縁層と、ペレットと複数の導線とを覆う樹脂部材とを備え、絶縁層の少なくとも一部と、複数のリード端子の各々の導線と接続する面の反対側の面の少なくとも一部は、樹脂部材からそれぞれ露出している磁気センサである。   As a sensor for detecting a magnetic field, a magnetic sensor using a Hall element is known. The magnetic sensor described in Patent Document 1 is an islandless structure magnetic sensor using a pellet (magnetic sensor chip such as a Hall element), and can prevent an increase in leakage current even when the pellet is reduced in size and thickness. The present invention relates to a magnetic sensor. The magnetic sensor includes a pellet, a plurality of lead terminals disposed around the pellet, a plurality of lead wires electrically connecting the plurality of electrode portions and the plurality of lead terminals of the pellet, and a plurality of pellets. An insulating layer that covers the surface opposite to the surface having the electrode portion, and a resin member that covers the pellet and the plurality of conductive wires, and is connected to at least a part of the insulating layer and each of the conductive wires of the plurality of lead terminals. At least a part of the surface opposite to the surface is a magnetic sensor exposed from the resin member.

国際公開第2014/091714号International Publication No. 2014/091714

ところで、近年の電子機器の薄型化、高機能化に伴い、より薄型で、かつ磁界を正確に検出することが可能なホールセンサが求められている。上述した特許文献1の磁気センサにおいて、磁気センサを薄型化すると、磁界検出の正確さが低下するという問題が生じうる。以下その理由について説明する。
図1は、本発明に係るホールセンサの課題を説明するための図である。ホールセンサ400は、ホール素子310と、その周囲に配置された電源端子となるリード端子325及び接地電位に接続されたリード端子327を備えている。ホール素子310上に設けられた各電極部と各リード端子は導線343で接続されており、各リード端子及びホール素子310はモールド樹脂350で固定されている。リード端子325、327は、ハンダ(半田)370を介して配線基板450の配線パターン451に接続されている。なお、符号440は絶縁層を示している。
By the way, with recent thinning and high functionality of electronic devices, there is a demand for a hall sensor that is thinner and capable of accurately detecting a magnetic field. In the magnetic sensor of Patent Document 1 described above, if the magnetic sensor is thinned, a problem may occur that the accuracy of magnetic field detection is reduced. The reason will be described below.
FIG. 1 is a diagram for explaining a problem of the Hall sensor according to the present invention. The hall sensor 400 includes a hall element 310, a lead terminal 325 serving as a power supply terminal arranged around the hall element 310, and a lead terminal 327 connected to a ground potential. Each electrode portion and each lead terminal provided on the Hall element 310 are connected by a conductive wire 343, and each lead terminal and the Hall element 310 are fixed by a mold resin 350. The lead terminals 325 and 327 are connected to the wiring pattern 451 of the wiring board 450 through solder (solder) 370. Reference numeral 440 indicates an insulating layer.

磁気センサを薄型化するためには、ワイヤーボンディングのトップの高さをできるだけ低くする必要がある。しかし、上述した特許文献1の磁気センサは、ホール素子の方がリード端子よりも高い位置にあるので、ワイヤーが撓んだり、トップの高さが低くなるようなワイヤーボンディングをしたときに導線がホール素子の基板のエッジに接触しやすいという問題があった。導線が基板のエッジに接触すると、導線と基板の接触点と電極部を通るリーク電流が発生する。リーク電流が発生すると、それがホール素子の駆動電流に見えてしまう。リーク電流は、ホール素子の駆動電流のオフセット電流にみえてしまう。駆動電流のオフセット電流は、ホール素子のオフセット電圧として見えるため、磁気を正確に検出することができなくなるという問題があった。   In order to reduce the thickness of the magnetic sensor, it is necessary to make the height of the top of wire bonding as low as possible. However, in the magnetic sensor of Patent Document 1 described above, since the Hall element is located higher than the lead terminal, the wire is bent when the wire is bent or the top height is lowered. There was a problem that it was easy to contact the edge of the substrate of the Hall element. When the conducting wire contacts the edge of the substrate, a leak current is generated through the contact point between the conducting wire and the substrate and the electrode portion. When a leak current is generated, it appears as a drive current for the Hall element. The leak current appears as an offset current of the drive current of the Hall element. Since the offset current of the drive current appears as an offset voltage of the Hall element, there is a problem that magnetism cannot be detected accurately.

本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、薄型で、かつ磁気を正確に検出できるホールセンサ及びレンズモジュールを提供することにある。   The present invention has been made in view of such problems, and an object thereof is to provide a Hall sensor and a lens module that are thin and can detect magnetism accurately.

(1);半絶縁性の基板と、前記基板上又は前記基板内に設けられた感磁部と、前記感磁部と接続する複数の電極部とを有し、前記基板の前記感磁部が形成されている面側のエッジが前記感磁部及び前記電極部で覆われていないホール素子と、前記ホール素子の周囲に配置された複数の外部端子と、前記複数の電極部の各電極部と前記複数の外部端子の各外部端子とをそれぞれ電気的に接続する複数の導線と、前記ホール素子の前記感磁部、前記複数の導線、及び、前記各外部端子の少なくとも一部を覆う封止部材とを備え、前記各外部端子は、前記複数の導線の各導線と接続している第2面と、前記第2面とは反対側の第1面とを有し、前記第1面は、前記封止部材の底面から露出しており、前記ホール素子の厚みは、前記外部端子の厚みよりも薄く、前記封止部材の底面から前記各電極部と前記各導線との第1の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記各外部端子と前記各導線との第2の接触点までの高さよりも低くすることにより、前記導線と前記基板の前記エッジとが接触しにくいホールセンサである。 (1); possess a semi-insulating substrate, and the magnetic sensitive section disposed on the substrate or the substrate, and a plurality of electrode portions connected to said sensing section, the magnetic sensitivity surfaces of the substrate A Hall element in which the edge on the surface side on which is formed is not covered with the magnetic sensing part and the electrode part, a plurality of external terminals arranged around the Hall element, and each electrode of the plurality of electrode parts A plurality of conductors that electrically connect the external portion and each of the plurality of external terminals, and at least a part of the magnetically sensitive portion of the Hall element, the plurality of conductors, and the external terminals. Each external terminal has a second surface connected to each of the plurality of conductive wires, and a first surface opposite to the second surface, and surface is exposed from the bottom surface of the sealing member, the thickness of the Hall element, the thickness of the external terminal Remote thin, the height from the bottom surface of the sealing member to the first point of contact with the respective conductors and each of the electrode portions, the first from the bottom of the sealing member between the respective external terminals and the respective conductors by make lower than height of the second contact point, which is the lead and the hole sensor have edges and is difficulty to contact the substrate.

(2);(1)において、前記各外部端子は、前記封止部材の側面から露出している。
(3);(1)又は(2)において、前記複数の外部端子のうちの少なくとも1つの外部端子は、前記第2面において段差を有しており、前記複数の外部端子は、前記段差を境に、前記段差を有する前記各外部端子の前記ホール素子に近い側に第1の部位を有し、前記ホール素子に遠い側に第2の部位を有し、前記封止部材の底面から前記第1の部位における前記第2面までの高さは、前記封止部材の底面から前記第2の部位における前記第2面までの高さよりも低く、前記各導線は、前記段差を有する前記各外部端子の前記第2の部位における前記第2面で接続している。
(4);基板と、前記基板上又は前記基板内に設けられた感磁部と、前記感磁部と接続する複数の電極部とを有するホール素子と、前記ホール素子の周囲に配置された複数の外部端子と、前記複数の電極部の各電極部と前記複数の外部端子の各外部端子とをそれぞれ電気的に接続する複数の導線と、前記ホール素子の前記感磁部、前記複数の導線、及び、前記各外部端子の少なくとも一部を覆う封止部材とを備え、前記各外部端子は、前記複数の導線の各導線と接続している第2面と、前記第2面とは反対側の第1面とを有し、前記第1面は、前記封止部材の底面から露出しており、前記封止部材の底面から前記各電極部と前記各導線との第1の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記各外部端子と前記各導線との第2の接触点までの高さよりも低く、前記複数の外部端子のうちの少なくとも1つの外部端子は、前記第2面において段差を有しており、前記複数の外部端子は、前記段差を境に、前記段差を有する前記各外部端子の前記ホール素子に近い側に第1の部位を有し、前記ホール素子に遠い側に第2の部位を有し、前記封止部材の底面から前記第1の部位における前記第2面までの高さは、前記封止部材の底面から前記第2の部位における前記第2面までの高さよりも低く、前記各導線は、前記段差を有する前記各外部端子の前記第2の部位における前記第2面で接続しているホールセンサである。
(2); In (1), each said external terminal is exposed from the side surface of the said sealing member.
(3) In (1) or (2), at least one of the plurality of external terminals has a step on the second surface, and the plurality of external terminals have the step. At the boundary, the external terminal having the step has a first part on the side close to the Hall element, has a second part on the side far from the Hall element, and the bottom of the sealing member The height from the bottom surface of the sealing member to the second surface in the first portion is lower than the height from the bottom surface of the sealing member to the second surface in the second portion, and each of the conductive wires has the step. The second terminal of the external terminal is connected at the second surface.
(4); a Hall element having a substrate, a magnetic sensitive part provided on or in the substrate, and a plurality of electrode parts connected to the magnetic sensitive part, and disposed around the Hall element A plurality of external terminals, a plurality of conductors electrically connecting each of the electrode portions of the plurality of electrode portions and each of the external terminals of the plurality of external terminals, the magnetically sensitive portion of the Hall element, the plurality of the plurality of external terminals A conductive member and a sealing member that covers at least a part of each of the external terminals, wherein each of the external terminals is connected to each of the plurality of conductive wires, and the second surface A first surface on the opposite side, the first surface exposed from the bottom surface of the sealing member, and a first contact between the electrode portions and the conductive wires from the bottom surface of the sealing member. The height to the point is from the bottom surface of the sealing member to the second contact point between each external terminal and each conductor. The at least one external terminal of the plurality of external terminals has a step in the second surface, and the plurality of external terminals have the step with the step as a boundary. Each external terminal has a first part on the side close to the Hall element, has a second part on the side far from the Hall element, and the first part in the first part from the bottom surface of the sealing member. The height to the second surface is lower than the height from the bottom surface of the sealing member to the second surface in the second portion, and each of the conductive wires has the second step of each of the external terminals having the step. It is a hall sensor connected with the 2nd surface in a part.

);(3)又は(4)において、前記封止部材の底面から前記第1の部位における前記第2面までの高さは、前記封止部材の底面から前記各電極部までの高さよりも低い。
);(3)〜(5)のいずれかにおいて、前記段差は、前記ホール素子を囲む周上に設けられている。
);(1)〜()のいずれかにおいて、前記基板の前記複数の電極部が設けられた面とは反対側の面に設けられた絶縁層を更に備え、前記絶縁層は、前記封止部材の底面から露出している。
( 5 ); In (3) or (4) , the height from the bottom surface of the sealing member to the second surface in the first part is the height from the bottom surface of the sealing member to each of the electrode portions. Lower than that.
( 6 ); In any one of (3) to (5), the step is provided on a circumference surrounding the Hall element.
( 7 ); In any one of (1) to ( 6 ), the substrate further includes an insulating layer provided on a surface opposite to the surface on which the plurality of electrode portions are provided. It is exposed from the bottom surface of the sealing member.

);(1)〜()のいずれかにおいて、前記複数の外部端子は、第1から第4の外部端子を含み、前記第1から第4の外部端子は、前記第1の外部端子と前記第3の外部端子とを結ぶ仮想直線と前記第2の外部端子と前記第4の外部端子とを結ぶ仮想直線が平面視で交差するように配置されており、前記ホール素子の前記基板は平面視で長方形であり、かつ、平面視で、前記ホール素子の前記基板の4つの頂点は、前記第1の外部端子と前記第2の外部端子の間の領域、前記第2の外部端子と前記第3の外部端子の間の領域、前記第3の外部端子と前記第4の外部端子の間の領域及び前記第4の外部端子と前記第1の外部端子の間の領域に配置されている。 ( 8 ); In any one of (1) to ( 7 ), the plurality of external terminals include first to fourth external terminals, and the first to fourth external terminals are the first external terminals. A virtual straight line connecting the terminal and the third external terminal and a virtual straight line connecting the second external terminal and the fourth external terminal are arranged so as to intersect in plan view, and the Hall element The substrate is rectangular in plan view, and in plan view, the four vertices of the substrate of the Hall element are regions between the first external terminal and the second external terminal, and the second external Arranged in a region between the terminal and the third external terminal, a region between the third external terminal and the fourth external terminal, and a region between the fourth external terminal and the first external terminal Has been.

);半絶縁性の基板、前記基板上又は前記基板内に設けられた感磁部、及び、電極部を有し、前記基板の前記感磁部が形成されている面側のエッジが前記感磁部及び前記電極部で覆われていないホール素子と、前記ホール素子の周囲に配置された外部端子と、前記電極部と前記外部端子とを接続する導線と、前記ホール素子の感磁部、前記導線、及び、前記外部端子の前記導線が接続される第2面を覆う封止部材と、を備え、前記外部端子は、前記第2面とは反対側の第1面が前記封止部材の底面から露出しており、前記ホール素子の厚みは、前記外部端子の厚みよりも薄く、前記封止部材の底面から前記電極部と前記導線との第1の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記外部端子と前記導線との第2の接触点までの高さよりも低くすることにより、前記導線と前記基板の前記エッジとが接触しにくいホールセンサである。 (9); semi-insulating substrate, magnetic sensitive sections provided on the substrate or the substrate, and have a electrode portion, the sense of the edge of the surface on which magnet part is formed of the substrate Hall elements not covered by the magnetic sensing portion and the electrode portion, external terminals disposed around the Hall elements, conductive wires connecting the electrode portions and the external terminals, and magnetic sensitivity of the Hall elements A sealing member that covers a second surface of the external terminal to which the conductive wire of the external terminal is connected, and the external terminal has a first surface opposite to the second surface that is sealed. It is exposed from the bottom surface of the stop member, and the thickness of the Hall element is smaller than the thickness of the external terminal, and the height from the bottom surface of the sealing member to the first contact point between the electrode portion and the conducting wire. Is the height from the bottom surface of the sealing member to the second contact point between the external terminal and the conducting wire. By Rimohiku Kusuru is the conductor and the Hall sensor have edges and is difficulty to contact the substrate.

10);()において、前記電極部は、第1から第4の電極部を有し、前記外部端子は、第1から第4の外部端子を有し、前記導線は、前記第1から第4の電極部と前記第1から第4の外部端子とをそれぞれ接続する第1から第4の導線を有し、前記封止部材の底面から前記第1の電極部と前記第1の導線との第1の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記第1の外部端子と前記第1の導線との第2の接触点までの高さよりも低い。
11);(10)において、前記封止部材の底面から前記第2の電極部と前記第2の導線との第3の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記第2の外部端子と前記第2の導線との第4の接触点までの高さよりも低く、前記封止部材の底面から前記第3の電極部と前記第3の導線との第5の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記第3の外部端子と前記第3の導線との第6の接触点までの高さよりも低く、前記封止部材の底面から前記第4の電極部と前記第4の導線との第7の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記第4の外部端子と前記第4の導線との第8の接触点までの高さよりも低い。
( 10 ); In ( 9 ), the electrode portion includes first to fourth electrode portions, the external terminal includes first to fourth external terminals, and the conductive wire includes the first wire. To the fourth electrode portion and the first to fourth external terminals respectively connected to the first electrode portion from the bottom surface of the sealing member. The height to the first contact point with the conducting wire is lower than the height from the bottom surface of the sealing member to the second contact point between the first external terminal and the first conducting wire.
( 11 ); In ( 10 ), the height from the bottom surface of the sealing member to the third contact point between the second electrode portion and the second conducting wire is from the bottom surface of the sealing member to the first A fifth contact point between the third electrode portion and the third lead wire from the bottom surface of the sealing member, which is lower than the height of the second external terminal and the second lead wire to the fourth contact point. Is lower than the height from the bottom surface of the sealing member to the sixth contact point between the third external terminal and the third conductor, and from the bottom surface of the sealing member to the fourth The height from the bottom surface of the sealing member to the eighth contact point between the fourth external terminal and the fourth conductor is as high as the seventh contact point between the electrode portion and the fourth conductor. Lower than that.

12);()〜(11)のいずれかにおいて、前記ホール素子は、前記基板がGaAs基板であり、前記基板の前記電極部が設けられた面とは反対側の面に絶縁層をさらに有し、前記電極部は前記感磁部と接続され、前記絶縁層は、前記封止部材の底面から露出している。 ( 12 ); In any one of ( 9 ) to ( 11 ), in the Hall element, the substrate is a GaAs substrate, and an insulating layer is provided on a surface opposite to the surface on which the electrode portion of the substrate is provided. Further, the electrode portion is connected to the magnetic sensing portion, and the insulating layer is exposed from the bottom surface of the sealing member.

13);()〜(12)のいずれかに記載のホールセンサと、磁石が取り付けられたレンズホルダと、前記ホールセンサの前記外部端子からの出力信号に基づいて、前記磁石を移動させる駆動コイルと、を備えるレンズモジュールである。 ( 13 ); The Hall sensor according to any one of ( 9 ) to ( 12 ), a lens holder to which a magnet is attached, and the magnet is moved based on an output signal from the external terminal of the Hall sensor. And a driving coil.

本発明の一態様によれば、薄型で、かつ磁気を正確に検出できるホールセンサ及びレンズモジュールを提供することが可能となる。   According to one embodiment of the present invention, it is possible to provide a hall sensor and a lens module that are thin and can accurately detect magnetism.

図1は、本発明に係るホールセンサの課題を説明するための図である。FIG. 1 is a diagram for explaining a problem of the Hall sensor according to the present invention. 図2(a)乃至(c)は、本発明に係るホールセンサの実施形態1を説明するための構成図である。FIGS. 2A to 2C are configuration diagrams for explaining the first embodiment of the Hall sensor according to the present invention. 図3は、図1(a)乃至(c)に示したホールセンサの全体斜視図である。FIG. 3 is an overall perspective view of the Hall sensor shown in FIGS. 図4(a),(b)は、具体的なホールセンサの構成図である。4A and 4B are configuration diagrams of specific Hall sensors. 図5(a),(b)は、実施形態1に係るホールセンサのリードフレームを示した図である。5A and 5B are views showing a lead frame of the Hall sensor according to the first embodiment.

以下の詳細な説明では、本発明の実施形態の完全な理解を提供するように多くの特定の細部について記載される。しかしながら、かかる特定の細部がなくても1つ以上の実施態様が実施できることは明らかであろう。他にも、図面を簡潔にするために、周知の構造及び装置が略図で示されている。
以下、図面を参照して本発明の各実施形態について説明する。
In the following detailed description, numerous specific details are set forth in order to provide a thorough understanding of embodiments of the present invention. However, it will be apparent that one or more embodiments may be practiced without such specific details. In other instances, well-known structures and devices are schematically shown in order to simplify the drawing.
Hereinafter, each embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

<実施形態1>
図2(a)乃至(c)は、本発明に係るホールセンサの実施形態1を説明するための構成図で、図2(a)は図2(b)におけるA−A線断面図、図2(b)は図2(a)の平面図、図2(c)は図2(a)の底面図、図3は図2(a)乃至(c)に示したホールセンサの全体斜視図を示している。なお、Gaは表面のハーフエッチング、Gbは裏面のハーフエッチングの施された部分を示している。
本実施形態1のホールセンサ100は、ホール素子10と複数のリード端子21a乃至21d(第1〜第4の外部端子)と複数の導線31a乃至31d(第1〜第4の導線)と封止部材50とを備えている。
<Embodiment 1>
FIGS. 2A to 2C are configuration diagrams for explaining the first embodiment of the Hall sensor according to the present invention. FIG. 2A is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 2 (b) is a plan view of FIG. 2 (a), FIG. 2 (c) is a bottom view of FIG. 2 (a), and FIG. 3 is an overall perspective view of the Hall sensor shown in FIGS. 2 (a) to 2 (c). Is shown. Ga represents a half-etched surface, and Gb represents a portion subjected to half-etching on the back surface.
The Hall sensor 100 according to the first embodiment includes a Hall element 10, a plurality of lead terminals 21a to 21d (first to fourth external terminals), a plurality of conductors 31a to 31d (first to fourth conductors), and a seal. The member 50 is provided.

ホール素子10は、基板11と、この基板11上(又は基板11内)に設けられた感磁部12と、この感磁部12と接続する複数の電極部13a乃至13d(第1〜第4の電極部)とを有している。なお、図2(a)においては、感磁部12が基板11上に設けられている場合について拡大図で示している。
また、複数のリード端子21a乃至21dは、ホール素子10の周囲、つまり、封止部材50の底面に沿ってホール素子10の四隅を取り囲むようにして配置されている。また、上面視で、ホールセンサ100の四隅領域に配置されてもよい。
The Hall element 10 includes a substrate 11, a magnetic sensing part 12 provided on the substrate 11 (or in the substrate 11), and a plurality of electrode parts 13 a to 13 d (first to fourth) connected to the magnetic sensing part 12. Electrode portion). In FIG. 2A, the case where the magnetic sensitive part 12 is provided on the substrate 11 is shown in an enlarged view.
The plurality of lead terminals 21 a to 21 d are arranged so as to surround the four corners of the Hall element 10 around the Hall element 10, that is, along the bottom surface of the sealing member 50. Further, it may be arranged in the four corner regions of the Hall sensor 100 in a top view.

また、複数の導線31a乃至31dは、複数の電極部13a乃至13dの各電極部13a乃至13dのそれぞれと複数のリード端子21a乃至21dの各リード端子21a乃至21dのそれぞれとを電気的に接続する。
また、封止部材50は、ホール素子10と複数のリード端子21a乃至21dと複数の導線31a乃至31dとを覆う。
また、各リード端子21a乃至21dは、前記各導線31a乃至31dと接続している第2面M2と、この第2面M2とは反対側の第1面M1とを有し、この第1面M1は、封止部材50の底面Eから露出している。
The plurality of conductive wires 31a to 31d electrically connect each of the electrode portions 13a to 13d of the plurality of electrode portions 13a to 13d and each of the lead terminals 21a to 21d of the plurality of lead terminals 21a to 21d. .
The sealing member 50 covers the Hall element 10, the plurality of lead terminals 21a to 21d, and the plurality of conductive wires 31a to 31d.
Each lead terminal 21a to 21d has a second surface M2 connected to each of the conductive wires 31a to 31d and a first surface M1 opposite to the second surface M2, and this first surface. M1 is exposed from the bottom surface E of the sealing member 50.

また、封止部材50の底面Eから各電極部13a乃至13dと各導線31a乃至31dとの第1の接触点aまでの高さh1は、封止部材50の底面Eから各リード端子21a乃至21dと各導線31a乃至31dとの第2の接触点bまでの高さh2よりも低くなるように構成されている。また、ホールセンサは直方形状であり、直方形上の長辺を含む側面Sからの断面視で、隣接する外部端子間のスペースに、ホール素子が含まれるように配置されている。なお、小型化の観点から、ホール素子は、上面視で、直方形状のホールセンサの辺に対して、45度傾けて配置してもよい。その場合、直方形上の長辺を含む側面Sからの断面視で、隣接する外部端子間のスペースに、高さ方向においてホール素子が含まれるように配置される。   The height h1 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the first contact point a between the electrode portions 13a to 13d and the conductive wires 31a to 31d is from the bottom surface E of the sealing member 50 to the lead terminals 21a to 21a. 21d and each conducting wire 31a thru | or 31d are comprised so that it may become lower than the height h2 to the 2nd contact point b. The Hall sensor has a rectangular shape, and is arranged so that the Hall element is included in the space between the adjacent external terminals in a cross-sectional view from the side surface S including the long side on the rectangular shape. From the viewpoint of miniaturization, the Hall element may be disposed at an angle of 45 degrees with respect to the side of the rectangular Hall sensor in a top view. In that case, when viewed in a cross-section from the side surface S including the long side on the rectangular shape, the space between the adjacent external terminals is arranged so that the Hall element is included in the height direction.

つまり、封止部材50の底面Eから第1の接触点aまでの高さh1と、封止部材50の底面Eから第2の接触点bまでの高さh2との関係は、h1<h2の関係を有している。
本実施形態1のホールセンサは、h1<h2の関係を有しているので、ホール素子の基板11のエッジに導線31a乃至31dが接触しにくく、リーク電流が発生しにくい。これにより、薄型で、かつ磁気を正確に検出できるホールセンサを実現することができる。
なお、本実施形態1のホールセンサは、リード端子のエッジと導線の接触が発生しやすい構造となるが、リード端子のエッジタッチに関しては、同電位のリード端子に導線が2カ所接続された状態となるだけであるので、特に問題は無い。本実施形態1において、高さh1と高さh2の関係としては、h1は、0.2×h2以上h2未満であることが好ましい。より好ましくは、0.4×h2以上h2未満であり、さらに好ましくは、0.4×h2以上0.99×h2以下である。さらに、h1は、0.4×h2以上0.95×h2以下でもよい。
That is, the relationship between the height h1 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the first contact point a and the height h2 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the second contact point b is h1 <h2. Have the relationship.
Since the Hall sensor of Embodiment 1 has a relationship of h1 <h2, the conducting wires 31a to 31d are unlikely to contact the edge of the substrate 11 of the Hall element, and a leak current is unlikely to occur. Thereby, it is possible to realize a hall sensor that is thin and capable of accurately detecting magnetism.
The Hall sensor according to the first embodiment has a structure in which the contact between the edge of the lead terminal and the lead wire is likely to occur. However, with respect to the edge touch of the lead terminal, two lead wires are connected to the lead terminal having the same potential. There is no problem in particular. In the first embodiment, as a relationship between the height h1 and the height h2, h1 is preferably not less than 0.2 × h2 and less than h2. More preferably, it is 0.4 × h2 or more and less than h2, and further preferably 0.4 × h2 or more and 0.99 × h2. Furthermore, h1 may be not less than 0.4 × h2 and not more than 0.95 × h2.

また、各リード端子21a乃至21dは、封止部材50の側面Sから露出している。つまり、封止部材50の側面Sからリード端子21a乃至21dが露出しているので、リード端子21a乃至21dの底面に露出している部分(底面電極)の他、側面に露出している部分(側面電極)を使って実装可能である。特に、全体の厚さの中での側面電極の割合を高くすることが可能であるので、実装が容易となる。また、リード端子と半田の接触が悪く導通が取れなくなるということが少なくなり、実装信頼性が高い。さらに、半田実装後の外観検査における視認性が向上し、半田付けが問題なくできているか容易に確認できる。   The lead terminals 21 a to 21 d are exposed from the side surface S of the sealing member 50. That is, since the lead terminals 21a to 21d are exposed from the side surface S of the sealing member 50, the portion exposed to the side surface (the bottom electrode) in addition to the portion exposed to the bottom surface of the lead terminals 21a to 21d (the bottom electrode). It can be mounted using side electrodes). In particular, since the ratio of the side electrodes in the entire thickness can be increased, mounting is facilitated. In addition, the contact between the lead terminal and the solder is poor, and it is less likely that continuity cannot be obtained. Furthermore, the visibility in the appearance inspection after solder mounting is improved, and it can be easily confirmed whether or not the soldering is performed without any problem.

また、複数のリード端子21a乃至21dのうちの少なくとも1つのリード端子21a乃至21dのいずれかには、第2面M2で段差Dを有している。つまり、リード端子に段差がついている。リード端子21a乃至21dの全てのリード端子で第2面M2に段差Dを有することが好ましい。
また、複数のリード端子21a乃至21dは、段差Dを境に、段差Dを有する各リード端子21a乃至21dのホール素子10に近い側に第1の部位N1を有し、ホール素子10に遠い側に第2の部位N2を有し、封止部材50の底面Eから第1の部位N1における第2面M2までの高さp1は、封止部材50の底面Eから第2の部位N2における第2面M2までの高さp2よりも低く構成されている。
In addition, at least one of the plurality of lead terminals 21a to 21d has a step D on the second surface M2. That is, the lead terminal has a step. All of the lead terminals 21a to 21d preferably have a step D on the second surface M2.
Further, the plurality of lead terminals 21a to 21d have the first portion N1 on the side close to the Hall element 10 of each lead terminal 21a to 21d having the step D with the step D as a boundary, and the side far from the Hall element 10 The height p1 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the second surface M2 in the first region N1 is the second portion N2 in the second region N2 from the bottom surface E of the sealing member 50. It is configured to be lower than the height p2 up to the second surface M2.

つまり、封止部材50の底面Eから第1の部位N1における第2面M2までの高さp1と、封止部材50の底面Eから第2の部位N2における第2面M2までの高さp2との関係は、p1<p2の関係を有している。また、各導線31a乃至31dは、段差(D)を有する各リード端子21a乃至21dの第2の部位N2における第2面M2で接続されている。
このような構成により、導線がリード端子のエッジに接触して断線してしまうことを抑制することが可能である。
That is, the height p1 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the second surface M2 in the first portion N1, and the height p2 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the second surface M2 in the second portion N2. The relationship between and has a relationship of p1 <p2. The conductive wires 31a to 31d are connected by the second surface M2 in the second portion N2 of the lead terminals 21a to 21d having a step (D).
With such a configuration, it is possible to suppress the conductor from coming into contact with the edge of the lead terminal and being disconnected.

リード端子21aの第2面M2に複数の段差がある場合は、ホール素子10に最も近い段差を段差Dとし、段差Dを境に、ホール素子10に近い側を第1の部位N1、ホール素子10に遠い側を第2の部位N2とする。リード端子21b乃至21dについても同様である。リード端子21a乃至21dの第2面M2に形成されている段差Dは、封止部材50で封止されている。
また、封止部材50の底面Eから第1の部位N1における第2面M2までの高さp1は、封止部材50の底面Eから各電極部13a乃至13dまでの高さh1よりも低く構成されている。
When there are a plurality of steps on the second surface M2 of the lead terminal 21a, the step closest to the Hall element 10 is defined as a step D, and the side closer to the Hall element 10 with the step D as a boundary is the first portion N1 and the Hall element The side far from 10 is defined as a second portion N2. The same applies to the lead terminals 21b to 21d. The step D formed on the second surface M2 of the lead terminals 21a to 21d is sealed with a sealing member 50.
Further, the height p1 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the second surface M2 in the first part N1 is configured to be lower than the height h1 from the bottom surface E of the sealing member 50 to each of the electrode portions 13a to 13d. Has been.

つまり、封止部材50の底面Eから第1の部位N1における第2面M2までの高さp1と、封止部材50の底面Eから第2の部位N2における第2面M2までの高さp2と、封止部材50の底面Eから各電極部13a乃至13dまでの高さh1との関係は、p1<h1<p2の関係を有している。
このような構成により、導線がリード端子のエッジに接触して断線しまうことをより抑制することが可能である。
ところで、一般に、ホール素子10を所定の位置に載置する際にはコレットが使用され、また、ホール素子の電極部とリード端子をワイヤーボンディングする際にはキャピラリが使用される。このような構成により、ホール素子の載置時にコレットがリード端子に接触してしまうことを防ぐことが可能となる。また、ワイヤーボンディング時にキャピラリがリード端子に接触してしまうことを防ぐことが可能である。
That is, the height p1 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the second surface M2 in the first portion N1, and the height p2 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the second surface M2 in the second portion N2. In addition, the relationship between the bottom surface E of the sealing member 50 and the height h1 from the electrode portions 13a to 13d has a relationship of p1 <h1 <p2.
With such a configuration, it is possible to further suppress the conductor from coming into contact with the edge of the lead terminal and being disconnected.
By the way, generally, a collet is used when the Hall element 10 is placed at a predetermined position, and a capillary is used when wire bonding the electrode portion of the Hall element and the lead terminal. With such a configuration, it is possible to prevent the collet from coming into contact with the lead terminal when the Hall element is placed. Further, it is possible to prevent the capillary from coming into contact with the lead terminal during wire bonding.

また、ホール素子10を中心とした楕円形又は多角形の周上に段差Dが設けられている。つまり、段差は、ホール素子を囲む周上に設けられている。コレットやキャピラリの先端は、楕円形状や多角形状であることが多いので、段差Dも楕円形状や多角形状にした方が良いため、楕円形状又は多角形状に段差Dを設けるような構成になっている。
コレットやキャピラリの先端は、特に円形状であることが多いので、コレットやキャピラリの接触を防ぐために、ホール素子10を中心とした円周上に段差Dを設けることが好ましい。
Further, a step D is provided on the circumference of an ellipse or polygon centered on the Hall element 10. That is, the step is provided on the circumference surrounding the Hall element. Since the tip of the collet or capillary is often elliptical or polygonal, it is better to make the step D also elliptical or polygonal. Therefore, the step D is provided in the elliptical or polygonal shape. Yes.
Since the tip of the collet or capillary is often circular, it is preferable to provide a step D on the circumference centered on the Hall element 10 in order to prevent contact of the collet or capillary.

また、複数の導線31a乃至31dは、複数の電極部13a乃至13dが第1回目のボンディングであり、複数のリード端子21a乃至21dが第2回目のボンディングとなるようにワイヤーボンディングされている。
このように、低い方から高い方にワイヤーボンディングするので、エッジ接触が起きにくくなる。これにより、ホール素子とリード端子の間の距離を短くしてもエッジ接触が起きにくくなる。これにより、ホール素子とリード端子の間の距離を短くすることが可能となり、小型化が可能となる。
The plurality of conductive wires 31a to 31d are wire-bonded such that the plurality of electrode portions 13a to 13d are the first bonding and the plurality of lead terminals 21a to 21d are the second bonding.
Thus, since wire bonding is performed from the lower side to the higher side, edge contact is less likely to occur. Thereby, even if the distance between the Hall element and the lead terminal is shortened, the edge contact hardly occurs. As a result, the distance between the Hall element and the lead terminal can be shortened, and the size can be reduced.

あるいは、複数の導線31a乃至31dは、複数のリード端子21a乃至21dが第1回目のボンディングであり、複数の電極部13a乃至13dが第2回目のボンディングとなるようにワイヤーボンディングされている。
このように、高い方から低い方にワイヤーボンディングするので、ワイヤーボンディングの頂点を低くすることができ、薄型化が可能となる。
また、基板11の複数の電極部13a乃至13dが設けられた面とは反対側の面に設けられた絶縁層40を更に備えている。この絶縁層40は、封止部材50の底面Eから露出している。絶縁層40を設けることの効果は、実施形態2で説明する。
Alternatively, the plurality of conductive wires 31a to 31d are wire-bonded such that the plurality of lead terminals 21a to 21d are the first bonding and the plurality of electrode portions 13a to 13d are the second bonding.
Thus, since wire bonding is performed from the higher side to the lower side, the apex of the wire bonding can be lowered and the thickness can be reduced.
The substrate 11 further includes an insulating layer 40 provided on the surface opposite to the surface on which the plurality of electrode portions 13a to 13d are provided. The insulating layer 40 is exposed from the bottom surface E of the sealing member 50. The effect of providing the insulating layer 40 will be described in the second embodiment.

本実施形態1において、絶縁層40としては、絶縁樹脂層、絶縁シートなどが挙げられる。絶縁層40としては、ホール素子の抵抗よりも高い抵抗であればよい。例えば、絶縁層40の体積抵抗率が10〜1020(Ω・cm)であることが好ましい。より好ましくは、絶縁層40の体積抵抗率が1010〜1018(Ω・cm)である。絶縁層40が数mm四方で、厚み数μmの場合、絶縁層40の抵抗は、1010〜1018(Ω)となり、ホール素子の抵抗は、通常、約10Ω以下であるため、十分な絶縁性がある。
絶縁層40は、その成分として、例えば、エポキシ系の熱硬化型樹脂と、フィラーとしてシリカ(SiO)とを含むことがより好ましい。絶縁層40は、ホール素子10の裏面、つまり、感磁部12を有する面の反対側の面に接しており、この絶縁層40によってホール素子10の裏面が覆われている。ホール素子10の裏面全体が絶縁層40により覆われていることが、リーク電流の発生の抑制の観点から好ましい。絶縁層40のうち、ホール素子10の裏面を覆っている部分の厚さは、フィラーサイズで決まり、例えば、5μm以上である。
In the first embodiment, examples of the insulating layer 40 include an insulating resin layer and an insulating sheet. The insulating layer 40 may be any resistance that is higher than the resistance of the Hall element. For example, it is preferable that the volume resistivity of the insulating layer 40 is 10 8 to 10 20 (Ω · cm). More preferably, the volume resistivity of the insulating layer 40 is 10 10 to 10 18 (Ω · cm). When the insulating layer 40 is several mm square and has a thickness of several μm, the resistance of the insulating layer 40 is 10 10 to 10 18 (Ω), and the resistance of the Hall element is usually about 10 9 Ω or less. Insulating property.
More preferably, the insulating layer 40 includes, for example, an epoxy thermosetting resin and silica (SiO 2 ) as a filler. The insulating layer 40 is in contact with the back surface of the Hall element 10, that is, the surface opposite to the surface having the magnetic sensing portion 12, and the back surface of the Hall element 10 is covered with the insulating layer 40. It is preferable from the viewpoint of suppressing the occurrence of leakage current that the entire back surface of the Hall element 10 is covered with the insulating layer 40. The thickness of the portion of the insulating layer 40 that covers the back surface of the Hall element 10 is determined by the filler size, and is, for example, 5 μm or more.

ホール素子10は、例えば、ホール素子などの磁電変換素子である。ホール素子10は、例えば、半絶縁性のガリウムヒ素(GaAs)基板11と、このGaAs基板11上に形成された半導体薄膜からなる感磁部(活性層)12と、感磁部12に電気的に接続する電極部13a乃至13dとを有している。感磁部12は、例えば、平面視で十字(クロス)型であり、クロスの4つの先端部上にそれぞれ電極13a乃至13dが設けられている。平面視で向かい合う一対の電極13a、13cが感磁部12に電流を流すための入力端子であり、電極13a、13cを結ぶ線と平面視で直交する方向で向かい合う他の一対の電極13b、13dが感磁部12から電圧を出力するための出力端子である。ホール素子10の厚さを薄くするためには、基板11の感磁部(活性層)12が設けられている面とは反対側の面を研磨すればよい。   The Hall element 10 is, for example, a magnetoelectric conversion element such as a Hall element. The Hall element 10 is electrically connected to, for example, a semi-insulating gallium arsenide (GaAs) substrate 11, a magnetic sensing part (active layer) 12 made of a semiconductor thin film formed on the GaAs substrate 11, and the magnetic sensing part 12. And electrode portions 13a to 13d connected to. The magnetic sensing part 12 is, for example, a cross shape in plan view, and electrodes 13a to 13d are provided on the four tip parts of the cross, respectively. A pair of electrodes 13a and 13c facing each other in plan view are input terminals for flowing current to the magnetic sensing portion 12, and another pair of electrodes 13b and 13d facing each other in a direction orthogonal to the line connecting the electrodes 13a and 13c in plan view. Is an output terminal for outputting a voltage from the magnetic sensing unit 12. In order to reduce the thickness of the Hall element 10, the surface of the substrate 11 opposite to the surface on which the magnetically sensitive portion (active layer) 12 is provided may be polished.

ホールセンサ100は、アイランドレス構造であり、外部との電気的接続を得るための複数のリード端子21a乃至21dを有している。図2(b)に示すように、リード端子21a乃至21dは、ホール素子10の周囲、例えば、ホールセンサ100の四隅近傍に配置されている。例えば、リード端子21aとリード端子21cとがホール素子10を挟んで対向するように配置されている。また、リード端子21bとリード端子21dとがホール素子10を挟んで対向するように配置されている。さらに、リード端子21aとリード端子21cとを結ぶ直線(仮想線)と、リード端子21bとリード端子21dとを結ぶ直線(仮想線)とが平面視で交差するように、リード端子21乃至21dはそれぞれ配置されている。   The hall sensor 100 has an islandless structure and includes a plurality of lead terminals 21a to 21d for obtaining electrical connection with the outside. As illustrated in FIG. 2B, the lead terminals 21 a to 21 d are arranged around the Hall element 10, for example, near the four corners of the Hall sensor 100. For example, the lead terminal 21a and the lead terminal 21c are arranged so as to face each other with the Hall element 10 interposed therebetween. Further, the lead terminal 21b and the lead terminal 21d are arranged so as to face each other with the Hall element 10 interposed therebetween. Further, the lead terminals 21 to 21d are arranged such that a straight line (imaginary line) connecting the lead terminal 21a and the lead terminal 21c and a straight line (imaginary line) connecting the lead terminal 21b and the lead terminal 21d intersect in plan view. Each is arranged.

つまり、複数のリード端子は、第1から第4のリード端子を含み、第1から第4のリード端子は、第1のリード端子と第3のリード端子とを結ぶ仮想直線と第2のリード端子と第4のリード端子とを結ぶ仮想直線が平面視で交差するように配置されている。
リード端子21a乃至21dは、例えば、銅(Cu)などの金属からなる。また、リード端子21a乃至21dは、その面側又は裏面の一部がエッチング(すなわち、ハーフエッチング)されていてもよい。
なお、図示しないが、リード端子21a乃至21dの表面で(図2(a)における上面側)、導線31a乃至31dで接続されるリード端子21a乃至21dの表面には、Agめっきが施されていることが電気的接続の観点から好ましい。
That is, the plurality of lead terminals include first to fourth lead terminals, and the first to fourth lead terminals include a virtual straight line connecting the first lead terminal and the third lead terminal and the second lead. The virtual straight line connecting the terminal and the fourth lead terminal is arranged so as to intersect in plan view.
The lead terminals 21a to 21d are made of a metal such as copper (Cu), for example. In addition, the lead terminals 21a to 21d may be etched (that is, half-etched) on the surface side or a part of the back surface.
Although not shown in the drawing, Ag plating is applied to the surfaces of the lead terminals 21a to 21d connected by the conducting wires 31a to 31d on the surface of the lead terminals 21a to 21d (the upper surface side in FIG. 2A). It is preferable from the viewpoint of electrical connection.

また、リード端子21a乃至21dの表面及び裏面には、外装めっき層60に代えて、ニッケル(Ni)−パラジウム(Pd)−金(Au)などのめっきが施されていてもよい。ホールセンサであるが、アイランドレスのため、磁性体であるNiめっき膜の影響を受けにくいため実施が可能となる。
導線31a乃至31dは、ホール素子10が有する電極部13a乃至13dと、リード端子21a乃至21dをそれぞれ電気的に接続する導線であり、例えば、金(Au)からなる。図2(b)に示すように、導線31aは、リード端子21aと電極部13aとを接続し、導線31bはリード端子21bと電極部13bとを接続している。また、導線31cはリード端子21cと電極部13cとを接続し、導線31dは、リード端子21dと電極13dとを接続している。
Further, the front and back surfaces of the lead terminals 21a to 21d may be plated with nickel (Ni) -palladium (Pd) -gold (Au) or the like instead of the exterior plating layer 60. Although it is a hall sensor, since it is islandless, it is difficult to be affected by the Ni plating film, which is a magnetic material, and can be implemented.
The conducting wires 31a to 31d are conducting wires that electrically connect the electrode portions 13a to 13d of the Hall element 10 and the lead terminals 21a to 21d, and are made of, for example, gold (Au). As shown in FIG. 2B, the conducting wire 31a connects the lead terminal 21a and the electrode portion 13a, and the conducting wire 31b connects the lead terminal 21b and the electrode portion 13b. Conductive wire 31c connects lead terminal 21c and electrode portion 13c, and conductive wire 31d connects lead terminal 21d and electrode 13d.

封止部材50は、ホール素子10と、リード端子21a乃至21dの少なくとも表面側、つまり、導線と接続する側の面と、導線31a乃至31dとを樹脂封止で覆って保護している。封止部材50は、例えば、エポキシ系の熱硬化型樹脂からなり、リフロー時の高熱に耐えられるようになっている。なお、封止部材50と絶縁層40は、例えば、同じエポキシ系の熱硬化型樹脂の場合でも、その材料は互いに異なる。例えば、含有する成分が異なる、又は、含有する成分が同一であっても含有比が異なる。
また、図2(c)に示すように、ホールセンサ100の底面側、つまり、配線基板に実装する側では、各リード端子21a乃至21dの裏面の少なくとも一部と、絶縁層40の少なくとも一部とが、封止部材50からそれぞれ露出している。
The sealing member 50 covers and protects the Hall element 10 and at least the surface side of the lead terminals 21a to 21d, that is, the surface connected to the conducting wire, and the conducting wires 31a to 31d with resin sealing. The sealing member 50 is made of, for example, an epoxy-based thermosetting resin and can withstand high heat during reflow. Note that the material of the sealing member 50 and the insulating layer 40 are different from each other even in the case of the same epoxy-based thermosetting resin. For example, the components to be contained are different, or the content ratio is different even if the components to be contained are the same.
Further, as shown in FIG. 2C, on the bottom surface side of the Hall sensor 100, that is, on the side mounted on the wiring board, at least a part of the back surface of each lead terminal 21a to 21d and at least a part of the insulating layer 40. Are exposed from the sealing member 50.

また、外装めっき層60は、封止部材50から露出しているリード端子21a乃至21dの裏面に形成されている。外装めっき層60は、例えば、スズ(Sn)などからなる。
このような構成により、ホールセンサ100を用いて磁気(磁界)を検出する場合は、例えば、リード端子21aを電源電位(+)に接続するとともに、リード端子21cを接地電位(GND)に接続して、リード端子21aからリード端子21cに電流を流す。そして、リード端子21b,21d間の電位差V1−V2(ホール出力電圧VH)を測定する。ホール出力電圧VHの大きさから磁界の大きさを検出し、ホール出力電圧VHの正負から磁界の向きを検出する。
すなわち、リード端子21aは、ホール素子10に所定電圧を供給する電源用リード端子である。リード端子21cは、ホール素子10に接地電位を供給する接地用リード端子である。リード端子21b,21dは、ホール素子10のホール起電力信号を取り出す信号取出用リード端子である。
The exterior plating layer 60 is formed on the back surfaces of the lead terminals 21 a to 21 d exposed from the sealing member 50. The exterior plating layer 60 is made of, for example, tin (Sn).
With this configuration, when magnetism (magnetic field) is detected using the Hall sensor 100, for example, the lead terminal 21a is connected to the power supply potential (+) and the lead terminal 21c is connected to the ground potential (GND). Thus, a current is passed from the lead terminal 21a to the lead terminal 21c. Then, the potential difference V1-V2 (Hall output voltage VH) between the lead terminals 21b and 21d is measured. The magnitude of the magnetic field is detected from the magnitude of the Hall output voltage VH, and the direction of the magnetic field is detected from the positive / negative of the Hall output voltage VH.
That is, the lead terminal 21 a is a power supply lead terminal that supplies a predetermined voltage to the Hall element 10. The lead terminal 21 c is a ground lead terminal that supplies a ground potential to the Hall element 10. The lead terminals 21 b and 21 d are signal extraction lead terminals for extracting the Hall electromotive force signal of the Hall element 10.

図4(a),(b)は、具体的なホール素子の構成図で、図4(a)は断面図、図4(b)は上面図を示している。ただし、導線は図示されていない。図中符号Gaは表面のハーフエッチング、Gbは裏面のハーフエッチングの施された部分を示している。なお、図2(a)における断面図は図2(b)のA−A線断面図を示しているが、図4(a)の断面図は図4(b)のB−B線断面図を示している。
図4(a),(b)に示したホールセンサは、コレットとの接触がなるべく少なくなるように設計されたリード端子が用いられており、リード端子の表面がハーフエッチングされている。つまり、コレットが干渉するエリアがハーフエッチングされている。
4A and 4B are configuration diagrams of specific Hall elements, FIG. 4A shows a cross-sectional view, and FIG. 4B shows a top view. However, the conducting wire is not shown. In the figure, symbol Ga indicates a half-etched surface, and Gb indicates a portion subjected to half-etching on the back surface. 2A is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 2B, but the cross-sectional view of FIG. 4A is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 4B. Is shown.
The Hall sensor shown in FIGS. 4A and 4B uses a lead terminal designed to minimize contact with the collet, and the surface of the lead terminal is half-etched. That is, the area where the collet interferes is half-etched.

図4(b)に示したホールセンサのホール素子は、図2(b)に示したホールセンサのホール素子に対し45度回転して配置されている。すなわち、図4(b)に示したホールセンサのホール素子は平面視で長方形であり、かつ、その長方形の4つの頂点がそれぞれリード端子21aとリード端子21bの間の領域、リード端子21bとリード端子21cの間の領域、リード端子21cとリード端子21dの間の領域、リード端子21dとリード端子21aの間の領域に配置されるように、ホール素子が配置されている。
このような向きにホール素子を配置することで、ホールセンサ全体を小型化することが可能になる。ただし、このようにホール素子を配置すると、ホール素子の載置時にコレットがリード端子に接触しやすくなるので、リード端子21a乃至21dの第2面M2に段差Dを設けることが好ましい。なお、上記の長方形には正方形が含まれる。
The Hall element of the Hall sensor shown in FIG. 4B is arranged to be rotated by 45 degrees with respect to the Hall element of the Hall sensor shown in FIG. That is, the Hall element of the Hall sensor shown in FIG. 4B is rectangular in plan view, and the four vertices of the rectangle are regions between the lead terminal 21a and the lead terminal 21b, the lead terminal 21b and the lead, respectively. Hall elements are arranged so as to be arranged in a region between the terminals 21c, a region between the lead terminals 21c and 21d, and a region between the lead terminals 21d and 21a.
By arranging the Hall elements in such a direction, it is possible to reduce the size of the Hall sensor as a whole. However, when the Hall element is arranged in this way, the collet is likely to come into contact with the lead terminal when the Hall element is placed. Therefore, it is preferable to provide a step D on the second surface M2 of the lead terminals 21a to 21d. The rectangle includes a square.

本実施形態1では、ホール素子10と封止部材50の底面Eとの間にホール素子10を載置するための金属製のアイランドが無いアイランドレス構造を中心に説明したが、ホール素子10と封止部材50の底面Eとの間にアイランドを設けてもよい。また、そのアイランドは、接地用リード端子21cと電気的に接続していてもよい。ただし、薄型化の観点から、ホール素子10と封止部材50の底面Eとの間にアイランドを設けないことが好ましい。
また、本実施形態1では、封止部材50の底面Eから第1の接続点aまでの高さh1が各電極部13a乃至13dで全て等しい場合を例に説明したが、封止部材50の底面Eから第1の接続点aまでの高さh1は電極部13a乃至13dで異なっていてもよい。また、同様に、封止部材50の底面Eから第2の接続点bまでの高さh2が各リード端子21a乃至21dで異なっていても良い。1本の共通の導線に接続する電極部とリード端子を一つのユニットとした場合に、少なくとも一つのユニットで高さh1<高さh2を満たしていればよい。ただし、全てのユニットで高さh1<高さh2を満たしていることが好ましい。
In the first embodiment, the description has focused on the islandless structure in which there is no metal island for placing the Hall element 10 between the Hall element 10 and the bottom surface E of the sealing member 50. An island may be provided between the bottom surface E of the sealing member 50. The island may be electrically connected to the ground lead terminal 21c. However, it is preferable not to provide an island between the Hall element 10 and the bottom surface E of the sealing member 50 from the viewpoint of thinning.
In the first embodiment, the case where the heights h1 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the first connection point a are all equal in each of the electrode portions 13a to 13d has been described as an example. The height h1 from the bottom surface E to the first connection point a may be different in the electrode portions 13a to 13d. Similarly, the height h2 from the bottom surface E of the sealing member 50 to the second connection point b may be different for each lead terminal 21a to 21d. When the electrode part and the lead terminal connected to one common conducting wire are made into one unit, it is sufficient that at least one unit satisfies the height h1 <height h2. However, it is preferable that height h1 <height h2 is satisfied in all units.

図5(a),(b)は、本実施形態1のホールセンサのリードフレームを示す図である。図5(a)は表面図、図5(b)は裏面図である。リードフレームは各ホールセンサのリード端子となる部分が金属板で連なった構造となっている。図中符号Hは穴部を示しており、ハッチング部分はハーフエッチング領域を示している。点線で囲まれた領域は、1つのホールセンサで使用される領域であり、また、点線と点線の間の領域はダイシング時にダイシングの歯が通過する領域である。
本実施形態1のホールセンサの製造方法は、基材の一方の面に複数のリード端子が形成されたリードフレームを準備する工程と、基材の一方の面の複数のリード端子で囲まれる領域に、絶縁層を介してリード端子の厚みよりも薄いホール素子を載置する工程と、ホール素子が有する複数の電極部と複数のリード端子とを複数の導線でそれぞれ電気的に接続する工程と、ホール素子が載置された面側を封止部材で封止する工程と、封止部材及び絶縁層から基材を分離する工程とを有し、基材を分離する工程では、ホール素子の複数の電極部を有する面の反対側の面に絶縁層を残している。なお、具体的な製造方法は、ホール素子の厚み以外は上述した特許文献1と同様である。
リードフレームを準備する工程では、図5(a),(b)で示すリードフレームが使用されても良い。つまり、複数のリード端子が有する面のうち、基材と接触する面とは反対側の面に段差Dを設けられたリードフレームを使用してもよい。
5A and 5B are views showing the lead frame of the Hall sensor of the first embodiment. FIG. 5A is a front view, and FIG. 5B is a back view. The lead frame has a structure in which a portion serving as a lead terminal of each Hall sensor is connected by a metal plate. In the figure, symbol H indicates a hole, and the hatched portion indicates a half-etched region. A region surrounded by a dotted line is a region used by one Hall sensor, and a region between the dotted lines is a region through which dicing teeth pass during dicing.
The Hall sensor manufacturing method according to the first embodiment includes a step of preparing a lead frame in which a plurality of lead terminals are formed on one surface of a substrate, and a region surrounded by the plurality of lead terminals on one surface of the substrate. A step of placing a Hall element thinner than the thickness of the lead terminal through an insulating layer, and a step of electrically connecting a plurality of electrode portions of the Hall element and a plurality of lead terminals with a plurality of conductive wires, respectively. And a step of sealing the surface side on which the Hall element is placed with a sealing member, and a step of separating the base material from the sealing member and the insulating layer. In the step of separating the base material, An insulating layer is left on the surface opposite to the surface having the plurality of electrode portions. A specific manufacturing method is the same as that of Patent Document 1 described above except for the thickness of the Hall element.
In the step of preparing the lead frame, the lead frame shown in FIGS. 5A and 5B may be used. That is, you may use the lead frame which provided the level | step difference D in the surface on the opposite side to the surface which contacts a base material among the surfaces which a some lead terminal has.

<実施形態2>
以下に、実施形態2について説明する。本実施形態2においては、ホールセンサ100が完成した後に、例えば、図示しないが配線基板を用意し、この配線基板の一方の面にホールセンサ100を実装する。この実装工程では、例えば、各リード端子21a乃至21dのうち、封止部材50から露出し、かつ外装めっき層60で覆われている裏面を、ハンダ(図示せず)を介して配線基板の配線パターン(図示せず)に接続する。このハンダ付けは、例えば、リフロー方式で行うことができる。リフロー方式は、配線パターン上にハンダペーストを塗布(すなわち、印刷)し、その上に外装めっき層60が重なるように配線基板上にホールセンサ100を配置し、この状態でハンダペーストに熱を加えてハンダを溶かす方法である。実装工程を経て、ホールセンサ100と、ホールセンサ100が取り付けられる配線基板と、ホールセンサ100の各リード端子21a乃至21dを配線基板の配線パターンに電気的に接続するハンダとを備えたホールセンサ装置が完成する。
<Embodiment 2>
The second embodiment will be described below. In the second embodiment, after the Hall sensor 100 is completed, for example, although not shown, a wiring board is prepared, and the Hall sensor 100 is mounted on one surface of the wiring board. In this mounting step, for example, the back surface of each of the lead terminals 21a to 21d that is exposed from the sealing member 50 and covered with the exterior plating layer 60 is wired on the wiring board via solder (not shown). Connect to pattern (not shown). This soldering can be performed by a reflow method, for example. In the reflow method, solder paste is applied (that is, printed) on the wiring pattern, and the hall sensor 100 is arranged on the wiring board so that the exterior plating layer 60 is overlaid thereon, and heat is applied to the solder paste in this state. This is a method of melting solder. A hall sensor device including a hall sensor 100, a wiring board to which the hall sensor 100 is attached, and solder for electrically connecting the lead terminals 21a to 21d of the hall sensor 100 to the wiring pattern of the wiring board after the mounting process. Is completed.

このような構成により、以下のような効果を奏する。つまり、アイランドレス構造のホールセンサ100において、ホール素子10の裏面は絶縁層40で覆われている。これにより、ホールセンサ100を配線基板に取り付ける際に、例えば、電源電位に接続されるリード端子(すなわち、電源端子)21a下からホール素子10の下方までハンダがはみ出した場合でも、ホール素子10(半導体)とハンダ(金属)との間でショットキー接合が形成されることを防ぐことができ、このショットキー接合の順方向(すなわち、金属から半導体に向かう方向)に電流が流れることを防ぐことができる。
例えば、電源端子21a→導線31a→電極部13a→感磁部12→電極部13c→導線31c→リード端子21cの方向に電流を流した場合でも、ハンダからホール素子10へリーク電流が流れることを防ぐことができる。これにより、オフセット電圧の発生を抑え、磁界を正確に検出することが可能となる。
Such a configuration provides the following effects. That is, in the islandless hall sensor 100, the back surface of the hall element 10 is covered with the insulating layer 40. Thereby, when the Hall sensor 100 is attached to the wiring board, for example, even when the solder protrudes from the lead terminal (that is, the power supply terminal) 21a connected to the power supply potential to the lower part of the Hall element 10, the Hall element 10 ( It is possible to prevent a Schottky junction from being formed between the semiconductor) and the solder (metal), and to prevent current from flowing in the forward direction of this Schottky junction (ie, from the metal toward the semiconductor). Can do.
For example, even when a current flows in the direction of the power supply terminal 21a → the conducting wire 31a → the electrode portion 13a → the magnetic sensing portion 12 → the electrode portion 13c → the conducting wire 31c → the lead terminal 21c, the leakage current flows from the solder to the Hall element 10. Can be prevented. Thereby, generation | occurrence | production of an offset voltage is suppressed and it becomes possible to detect a magnetic field correctly.

<実施形態3>
以下に、実施形態3について説明する。上述した本実施形態1及び2においては、ホール素子10の裏面を覆う絶縁層40として、絶縁ペーストを用いる場合について説明した。しかしながら、本実施形態3において、絶縁層40は、絶縁ペーストに限定されるものではない。絶縁層40として、例えば、ダイアタッチフィルム、つまり、ダイシング・ダイボンディング一体型フィルムの粘着層を用いてもよい。
このような構成により、以下のような効果を奏する。つまり、ホール素子10の裏面を覆う絶縁層として、ダイアタッチフィルムの粘着層を用いる。これにより、絶縁ペーストの塗布工程を省くことができるので、工程数の削減に寄与することができる。
<Embodiment 3>
The third embodiment will be described below. In the first and second embodiments described above, the case where the insulating paste is used as the insulating layer 40 covering the back surface of the Hall element 10 has been described. However, in Embodiment 3, the insulating layer 40 is not limited to the insulating paste. As the insulating layer 40, for example, a die attach film, that is, an adhesive layer of a dicing / die bonding integrated film may be used.
Such a configuration provides the following effects. That is, the adhesive layer of the die attach film is used as an insulating layer that covers the back surface of the Hall element 10. Thereby, since the application | coating process of insulating paste can be skipped, it can contribute to reduction of the number of processes.

<実施形態4>
本実施形態のレンズモジュールは、ホールセンサと、磁石が取り付けられたレンズホルダと、ホールセンサの外部端子からの出力信号であるホール起電力信号に基づいて、磁石を移動させる駆動コイルと、を備える。本実施形態のホールセンサは、薄型で、かつ、磁気を正確に検出することができるため、レンズモジュールを小型化することができ、また、正確な位置検出を行うことが可能となる。レンズホルダに取り付けられた磁石の磁場を、本実施形態のホールセンサで検知し、検知した出力信号に基づいて、駆動コイルに駆動電流を流すことにより、オートフォーカス制御や手振れ補正制御を精度良く行うことができる。また、本実施形態のホールセンサは、薄型化しているため、ホールセンサ内部のホール素子と、磁石との位置を近づけることが可能となり、より精度のよい磁気検知が可能である。
<Embodiment 4>
The lens module of the present embodiment includes a Hall sensor, a lens holder to which a magnet is attached, and a drive coil that moves the magnet based on a Hall electromotive force signal that is an output signal from an external terminal of the Hall sensor. . Since the Hall sensor of this embodiment is thin and can detect magnetism accurately, the lens module can be miniaturized and accurate position detection can be performed. The magnetic field of the magnet attached to the lens holder is detected by the Hall sensor of the present embodiment, and based on the detected output signal, a driving current is passed through the driving coil to perform autofocus control and camera shake correction control with high accuracy. be able to. In addition, since the Hall sensor of the present embodiment is thin, the Hall element inside the Hall sensor and the magnet can be brought closer to each other, and more accurate magnetic detection is possible.

以上のように、特定の実施形態を参照して本発明を説明したが、これらの説明によって発明を限定することを意図するものではない。本発明の説明を参照することにより、当業者には、開示された実施形態の種々の変形例とともに本発明の他の実施形態も明らかである。従って、特許請求の範囲は、本発明の技術的範囲及び要旨に含まれるこれらの変形例又は実施形態も網羅すると解すべきである。   As described above, the present invention has been described with reference to specific embodiments. However, the present invention is not intended to be limited by these descriptions. From the description of the invention, other embodiments of the invention will be apparent to persons skilled in the art, along with various variations of the disclosed embodiments. Therefore, it is to be understood that the claims encompass these modifications and embodiments that fall within the technical scope and spirit of the present invention.

10 ホール素子
11 基板
12 感磁部
13a乃至13d 電極部(第1〜第4の電極部)
21a乃至21d リード端子(第1〜第4の外部端子)
31a乃至31d 導線(第1〜第4の導線)
40 絶縁層
50 封止部材
60a乃至60d 外装めっき層
100 ホールセンサ
310 ホール素子
320 リードフレーム
325 リード端子(電源端子)
327 リード端子(接地端子)
343 金属細線
350 封止部材
370 ハンダ(半田)
451 配線パターン
400 磁気センサ
440 絶縁層
450 配線基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Hall element 11 Board | substrate 12 Magnetosensitive part 13a thru | or 13d Electrode part (1st-4th electrode part)
21a to 21d Lead terminals (first to fourth external terminals)
31a thru | or 31d conducting wire (1st-4th conducting wire)
40 Insulating layer 50 Sealing members 60a to 60d Exterior plating layer 100 Hall sensor 310 Hall element 320 Lead frame 325 Lead terminal (power supply terminal)
327 Lead terminal (ground terminal)
343 Metal thin wire 350 Sealing member 370 Solder (solder)
451 wiring pattern 400 magnetic sensor 440 insulating layer 450 wiring board

Claims (13)

半絶縁性の基板と、前記基板上又は前記基板内に設けられた感磁部と、前記感磁部と接続する複数の電極部とを有し、前記基板の前記感磁部が形成されている面側のエッジが前記感磁部及び前記電極部で覆われていないホール素子と、
前記ホール素子の周囲に配置された複数の外部端子と、
前記複数の電極部の各電極部と前記複数の外部端子の各外部端子とをそれぞれ電気的に接続する複数の導線と、
前記ホール素子の前記感磁部、前記複数の導線、及び、前記各外部端子の少なくとも一部を覆う封止部材とを備え、
前記各外部端子は、前記複数の導線の各導線と接続している第2面と、前記第2面とは反対側の第1面とを有し、
前記第1面は、前記封止部材の底面から露出しており、
前記ホール素子の厚みは、前記外部端子の厚みよりも薄く、
前記封止部材の底面から前記各電極部と前記各導線との第1の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記各外部端子と前記各導線との第2の接触点までの高さよりも低くすることにより、前記導線と前記基板の前記エッジとが接触しにくいホールセンサ。
A semi-insulating substrate, and the magnetic sensitive section disposed on the substrate or the substrate, have a plurality of electrode portions connected to said sensing section, wherein the sensing section is formed of the substrate A Hall element whose edge on the surface side is not covered with the magnetic sensing part and the electrode part ,
A plurality of external terminals arranged around the Hall element;
A plurality of conductive wires for electrically connecting each electrode portion of the plurality of electrode portions and each external terminal of the plurality of external terminals;
A sealing member that covers at least a part of the magnetically sensitive portion of the Hall element, the plurality of conductive wires, and the external terminals;
Each of the external terminals has a second surface connected to each of the plurality of conductive wires, and a first surface opposite to the second surface,
The first surface is exposed from the bottom surface of the sealing member,
The thickness of the Hall element is thinner than the thickness of the external terminal,
The height from the bottom surface of the sealing member to the first point of contact with the respective conductor and the electrode portions, the second contact point of the from the bottom surface of the sealing member and the external terminal said each conductor by far than the height make lower, the conductor and the Hall sensor have edges and is difficulty to contact the substrate.
前記各外部端子は、前記封止部材の側面から露出している請求項1に記載のホールセンサ。   The Hall sensor according to claim 1, wherein each external terminal is exposed from a side surface of the sealing member. 前記複数の外部端子のうちの少なくとも1つの外部端子は、前記第2面において段差を有しており、
前記複数の外部端子は、前記段差を境に、前記段差を有する前記各外部端子の前記ホール素子に近い側に第1の部位を有し、前記ホール素子に遠い側に第2の部位を有し、
前記封止部材の底面から前記第1の部位における前記第2面までの高さは、前記封止部材の底面から前記第2の部位における前記第2面までの高さよりも低く、
前記各導線は、前記段差を有する前記各外部端子の前記第2の部位における前記第2面で接続している請求項1又は2に記載のホールセンサ。
At least one of the plurality of external terminals has a step on the second surface,
The plurality of external terminals have a first portion on the side closer to the Hall element of each external terminal having the step with the step as a boundary, and a second portion on the side far from the Hall element. And
The height from the bottom surface of the sealing member to the second surface at the first portion is lower than the height from the bottom surface of the sealing member to the second surface at the second portion,
3. The Hall sensor according to claim 1, wherein each of the conductive wires is connected to the second surface of the second portion of each of the external terminals having the step.
基板と、前記基板上又は前記基板内に設けられた感磁部と、前記感磁部と接続する複数の電極部とを有するホール素子と、  A Hall element having a substrate, a magnetic sensing part provided on or in the substrate, and a plurality of electrode parts connected to the magnetic sensing part;
前記ホール素子の周囲に配置された複数の外部端子と、  A plurality of external terminals arranged around the Hall element;
前記複数の電極部の各電極部と前記複数の外部端子の各外部端子とをそれぞれ電気的に接続する複数の導線と、  A plurality of conductive wires for electrically connecting each electrode portion of the plurality of electrode portions and each external terminal of the plurality of external terminals;
前記ホール素子の前記感磁部、前記複数の導線、及び、前記各外部端子の少なくとも一部を覆う封止部材とを備え、  A sealing member that covers at least a part of the magnetically sensitive portion of the Hall element, the plurality of conductive wires, and the external terminals;
前記各外部端子は、前記複数の導線の各導線と接続している第2面と、前記第2面とは反対側の第1面とを有し、  Each of the external terminals has a second surface connected to each of the plurality of conductive wires, and a first surface opposite to the second surface,
前記第1面は、前記封止部材の底面から露出しており、  The first surface is exposed from the bottom surface of the sealing member,
前記封止部材の底面から前記各電極部と前記各導線との第1の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記各外部端子と前記各導線との第2の接触点までの高さよりも低く、  The height from the bottom surface of the sealing member to the first contact point between each electrode portion and each conductive wire is the second contact point between each external terminal and each conductive wire from the bottom surface of the sealing member. Lower than the height of,
前記複数の外部端子のうちの少なくとも1つの外部端子は、前記第2面において段差を有しており、  At least one of the plurality of external terminals has a step on the second surface,
前記複数の外部端子は、前記段差を境に、前記段差を有する前記各外部端子の前記ホール素子に近い側に第1の部位を有し、前記ホール素子に遠い側に第2の部位を有し、  The plurality of external terminals have a first portion on the side closer to the Hall element of each external terminal having the step with the step as a boundary, and a second portion on the side far from the Hall element. And
前記封止部材の底面から前記第1の部位における前記第2面までの高さは、前記封止部材の底面から前記第2の部位における前記第2面までの高さよりも低く、  The height from the bottom surface of the sealing member to the second surface at the first portion is lower than the height from the bottom surface of the sealing member to the second surface at the second portion,
前記各導線は、前記段差を有する前記各外部端子の前記第2の部位における前記第2面で接続しているホールセンサ。  Each said conducting wire is a Hall sensor connected with the said 2nd surface in the said 2nd site | part of each said external terminal which has the said level | step difference.
前記封止部材の底面から前記第1の部位における前記第2面までの高さは、前記封止部材の底面から前記各電極部までの高さよりも低い請求項3又は4に記載のホールセンサ。 The height of the second surface, the hole sensor according from the bottom of the sealing member to the lower claim 3 or 4 than the height to the electrode portions in the first region from the bottom surface of the sealing member . 前記段差は、前記ホール素子を囲む周上に設けられている請求項3乃至5のいずれか1項に記載のホールセンサ。 The step, the Hall sensor according to any one of claims 3 to 5 are provided on the peripheral surrounding the Hall element. 前記基板の前記複数の電極部が設けられた面とは反対側の面に設けられた絶縁層を更に備え、前記絶縁層は、前記封止部材の底面から露出している請求項1〜のいずれか1項に記載のホールセンサ。 Further comprising an insulating layer provided on the surface opposite to the plurality of surfaces on which the electrode portion is provided in said substrate, said insulating layer, according to claim 1 is exposed from the bottom surface of the sealing member 6 The hall sensor according to any one of the above. 前記複数の外部端子は、第1から第4の外部端子を含み、
前記第1から第4の外部端子は、
前記第1の外部端子と前記第3の外部端子とを結ぶ仮想直線と前記第2の外部端子と前記第4の外部端子とを結ぶ仮想直線が平面視で交差するように配置されており、
前記ホール素子の前記基板は平面視で長方形であり、かつ、平面視で、前記ホール素子の前記基板の4つの頂点は、前記第1の外部端子と前記第2の外部端子の間の領域、前記第2の外部端子と前記第3の外部端子の間の領域、前記第3の外部端子と前記第4の外部端子の間の領域及び前記第4の外部端子と前記第1の外部端子の間の領域に配置されている請求項1〜のいずれか1項に記載のホールセンサ。
The plurality of external terminals include first to fourth external terminals,
The first to fourth external terminals are:
The virtual straight line connecting the first external terminal and the third external terminal and the virtual straight line connecting the second external terminal and the fourth external terminal are arranged so as to intersect in plan view,
The substrate of the Hall element is rectangular in plan view, and in plan view, the four vertices of the substrate of the Hall element are regions between the first external terminal and the second external terminal, A region between the second external terminal and the third external terminal; a region between the third external terminal and the fourth external terminal; and a region between the fourth external terminal and the first external terminal. Hall sensor according to any one of claims 1 to 7 arranged in the region between.
半絶縁性の基板、前記基板上又は前記基板内に設けられた感磁部、及び、電極部を有し、前記基板の前記感磁部が形成されている面側のエッジが前記感磁部及び前記電極部で覆われていないホール素子と、
前記ホール素子の周囲に配置された外部端子と、
前記電極部と前記外部端子とを接続する導線と、
前記ホール素子の感磁部、前記導線、及び、前記外部端子の前記導線が接続される第2面を覆う封止部材と、を備え、
前記外部端子は、前記第2面とは反対側の第1面が前記封止部材の底面から露出しており、
前記ホール素子の厚みは、前記外部端子の厚みよりも薄く、
前記封止部材の底面から前記電極部と前記導線との第1の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記外部端子と前記導線との第2の接触点までの高さよりも低くすることにより、前記導線と前記基板の前記エッジとが接触しにくいホールセンサ。
Semi-insulating substrate, magnetic sensitive sections provided on the substrate or the substrate, and have a electrode portion, the edge of the surface where the sensing section is formed of the substrate is the sensing section And a Hall element not covered with the electrode part ,
An external terminal disposed around the Hall element;
A conducting wire connecting the electrode part and the external terminal;
A magnetic member of the Hall element, the conductive wire, and a sealing member that covers a second surface to which the conductive wire of the external terminal is connected, and
In the external terminal, the first surface opposite to the second surface is exposed from the bottom surface of the sealing member,
The thickness of the Hall element is thinner than the thickness of the external terminal,
The height from the bottom surface of the sealing member to the first contact point between the electrode portion and the conducting wire is higher than the height from the bottom surface of the sealing member to the second contact point between the external terminal and the conducting wire. also by make lower, the conductor and the Hall sensor have edges and is difficulty to contact the substrate.
前記電極部は、第1から第4の電極部を有し、
前記外部端子は、第1から第4の外部端子を有し、
前記導線は、前記第1から第4の電極部と前記第1から第4の外部端子とをそれぞれ接続する第1から第4の導線を有し、
前記封止部材の底面から前記第1の電極部と前記第1の導線との第1の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記第1の外部端子と前記第1の導線との第2の接触点までの高さよりも低い請求項に記載のホールセンサ。
The electrode portion has first to fourth electrode portions,
The external terminal has first to fourth external terminals,
The conductive wires include first to fourth conductive wires that connect the first to fourth electrode portions and the first to fourth external terminals, respectively.
The height from the bottom surface of the sealing member to the first contact point between the first electrode portion and the first conductor is from the bottom surface of the sealing member to the first external terminal and the first contact point. The hall sensor according to claim 9 , wherein the hall sensor is lower than a height to the second contact point with the conducting wire.
前記封止部材の底面から前記第2の電極部と前記第2の導線との第3の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記第2の外部端子と前記第2の導線との第4の接触点までの高さよりも低く、
前記封止部材の底面から前記第3の電極部と前記第3の導線との第5の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記第3の外部端子と前記第3の導線との第6の接触点までの高さよりも低く、
前記封止部材の底面から前記第4の電極部と前記第4の導線との第7の接触点までの高さは、前記封止部材の底面から前記第4の外部端子と前記第4の導線との第8の接触点までの高さよりも低い請求項10に記載のホールセンサ。
The height from the bottom surface of the sealing member to the third contact point between the second electrode portion and the second conductor is from the bottom surface of the sealing member to the second external terminal and the second contact point. Lower than the height to the fourth contact point with the conductor,
The height from the bottom surface of the sealing member to the fifth contact point between the third electrode portion and the third conductor is from the bottom surface of the sealing member to the third external terminal and the third contact point. Lower than the height to the sixth contact point with the conductor,
The height from the bottom surface of the sealing member to the seventh contact point between the fourth electrode portion and the fourth conductor is from the bottom surface of the sealing member to the fourth external terminal and the fourth contact point. The Hall sensor according to claim 10 , wherein the Hall sensor is lower than a height up to an eighth contact point with the conducting wire.
前記ホール素子は、前記基板がGaAs基板であり、前記基板の前記電極部が設けられた面とは反対側の面に絶縁層をさらに有し、前記電極部は前記感磁部と接続され、
前記絶縁層は、前記封止部材の底面から露出している請求項9〜11のいずれか1項に記載のホールセンサ。
In the Hall element, the substrate is a GaAs substrate, and further includes an insulating layer on a surface opposite to the surface on which the electrode portion of the substrate is provided, and the electrode portion is connected to the magnetically sensitive portion,
The Hall sensor according to claim 9 , wherein the insulating layer is exposed from a bottom surface of the sealing member.
請求項9〜12のいずれか1項に記載のホールセンサと、
磁石が取り付けられたレンズホルダと、
前記ホールセンサの前記外部端子からの出力信号に基づいて、前記磁石を移動させる駆動コイルと、
を備えるレンズモジュール。
The hall sensor according to any one of claims 9 to 12 ,
A lens holder with a magnet attached thereto;
A drive coil for moving the magnet based on an output signal from the external terminal of the Hall sensor;
A lens module comprising:
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