JP6349734B2 - 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム - Google Patents
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- 238000003908 quality control method Methods 0.000 title claims description 38
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 135
- 238000009736 wetting Methods 0.000 claims description 132
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 100
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 63
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 30
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 157
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 22
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 17
- 230000006870 function Effects 0.000 description 17
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 13
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 11
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 8
- 238000003326 Quality management system Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 3
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Images
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
- H05K13/0817—Monitoring of soldering processes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/082—Integration of non-optical monitoring devices, i.e. using non-optical inspection means, e.g. electrical means, mechanical means or X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/083—Quality monitoring using results from monitoring devices, e.g. feedback loops
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N2021/95638—Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's
- G01N2021/95646—Soldering
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
- H05K1/0269—Marks, test patterns or identification means for visual or optical inspection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/04—Soldering or other types of metallurgic bonding
- H05K2203/0465—Shape of solder, e.g. differing from spherical shape, different shapes due to different solder pads
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
- H05K2203/162—Testing a finished product, e.g. heat cycle testing of solder joints
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3421—Leaded components
- H05K3/3426—Leaded components characterised by the leads
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
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Description
良が発生した場合に、不良の要因が何であるかを特定することは困難である。
値以上であれば不良の予兆が生じていると判断し、検査項目に応じてはんだ印刷工程または部品実装工程の設定パラメータを変更する。
刷するはんだ印刷工程と、マウンタによってプリント基板上に電子部品を配置するマウント工程と、リフロー炉によって電子部品をはんだ接合するリフロー工程とを行う表面実装システムを管理する品質管理装置であって、前記電子部品または前記電子部品とプリント基板の接合個所の異なる部分において同一であるべき位置または形状に関する特徴量の不均一度を算出する不均一度算出手段と、前記特徴量の不均一度が所定の閾値以上であるか否か判定する判定手段と、前記特徴量の不均一度が前記所定の閾値以上である場合に、前記はんだ印刷装置または前記マウンタの設定パラメータを変更するか、ユーザに対して変更を提案するパラメータ変更手段と、を備え、前記設定パラメータは、前記マウンタの所定の位置であり、前記パラメータ変更手段は、前記特徴量の最大値と前記特徴量の最小値とのどちらか一方を与える部分に向かう方向に前記所定の位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をし、前記所定の位置は、部品吸着位置または部品装着位置である、ことを特徴とする。
ループとする)に特徴量の平均値を取り平均値の最大値や最小値として求めてもよい。なお、最大値および最小値の差や比を、その他の計測値(例えば、部品高さの不均一度を算出する場合は、部品の厚さなど)を用いて正規化してもよい。また、差や比以外にも分散などのばらつきを表す統計量を不均一度として算出してもよい。
ーザが容易に把握できるためである。
<システム構成>
図1は、プリント基板の表面実装ラインにおける生産設備及び品質管理システムの構成例を模式的に示している。表面実装(Surface Mount Technology:SMT)とはプリント基板の表面に電子部品をはんだ付けする技術であり、表面実装ラインは、主として、はんだ印刷〜部品のマウント〜リフロー(はんだの溶着)の三つの工程から構成される。
ましい。
テムであり、各検査装置Y1〜Y4の動作を定義する検査プログラム(検査手順、検査条件、設定パラメータなど)や、各検査装置Y1〜Y4で得られた検査結果やログデータなどを記憶、管理、出力する機能などを有している。
本実施形態にかかる品質管理システムについて、より詳細に説明する。本実施形態にかかる品質管理システムは、リフロー工程後の実装基板からはんだ形状等を測定し、その結果に基づいてマウンタX2の不良予兆を検知して、生産設備管理装置X4を介してマウンタX2の設定パラメータ(実装条件)の変更を指示する。図2は、本実施形態にかかる品質管理システムの機能ブロック図である。これらの機能ブロックは、分析装置Y6においてコンピュータがプログラムを実行することによって実現されるが、品質管理システムYのその他の装置が協働してこれらの機能を実現してもよい。なお、図2には上記の機能を実現するための機能ブロックのみを示しており、表面実装ラインの品質管理を行うためのその他の機能については省略している。
不均一度として算出する。不均一度算出部20は、後述するような複数の検査項目のそれぞれについて、このような不均一度を算出する。
けて記憶しておくことで、リフロー工程後の外観検査やX線検査の結果(不良の予兆事象)に基づいて、マウンタX2の実装条件を適切なものにすることができる。
図4は、本実施形態における品質管理システムにおける処理の流れを示すフローチャートである。まず、画像取得部10が、外観検査装置Y3の外観検査画像やX線検査装置Y4のX線検査画像を取得する(S1)。そして、不均一度算出部20が、外観検査画像やX線検査画像から、テーブル50(図3)に示した検査項目についての不均一度を算出する(S2)。詳細は後述するが、実装基板の複数の個所について検査項目の特徴量を求め、その最大値と最小値の差などから不均一度が算出される。判定部30は、このようにして算出した不均一度が、テーブル50に検査項目と対応付けて格納されている閾値との比較を行う(S3)。不均一度が閾値より小さければ(S3−NO)、正常と判断して、特段の処理は行わない。一方、不均一度が閾値以上であれば(S3−YES)、実装条件変更部40は、テーブル50を参照して、検査項目に対応するマウンタX2の実装条件を変更するように、生産設備管理装置X4に対して指示を送信する(S4)。なお、テーブル50には、検査項目に応じて、マウンタX2のどの実装条件をどのように修正すべきかが格納されているので、実装条件変更部40は、テーブル50を参照して、実装条件の変更方法を決定する。
以下、本実施形態にかかる品質管理システムにおいて検査の対象とするそれぞれの検査項目について、詳細に説明する。なお、品質管理システムにおいて、以下の全ての検査項目を対象として検査を行う必要はなく、一部の検査項目のみを対象として検査を行っても構わない。
電子部品の電極上面が水平であり、かつ、プリント基板に水平に配置およびはんだ接合される場合には、電子部品の電極上面の高さは本来同じ高さとなるべきである。したがって、電極上面の高さを特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。
U1=Max(電極上面高さ)−Min(電極上面高さ)
なお、MaxおよびMinは、同一の電子部品の複数の異なる部分における、括弧内の計測値の最大値および最小値をそれぞれ意味する。なお、最大値や最小値を算出する際に、例えば電極のグループごとに特徴量の平均値を取り、その平均値における最大値や最小値を採用するようにしてもよい。この際、列状に並んでいる一群の電極を1つのグループとしてその中で特徴量の平均値を求めることが考えられる。このようにすれば、特異値を最大値や最小値とすることを防止でき、列全体の傾向としての最大や最小をとることができる。
U1=(Max(電極上面高さ)−Min(電極上面高さ))/(電極厚さ)
U1=(Max(電極上面高さ)−Min(電極上面高さ))/(電極先端間距離)
この場合、電極厚さや電極先端間距離は、部品に関連付けてあらかじめ記憶しておいてもよいし、検査画像から算出してもよい。
U1=Max(電極上面高さ)/Min(電極上面高さ)
これら以外にも、複数の部分における電極上面高さの分散や標準偏差など、値のばらつきを表す統計量を電極上面高さアンバランスU1としてもよい。
電子部品の上面が水平であり、かつ、プリント基板に水平に配置およびはんだ接合される場合には、電子部品本体の上面の高さは本来同じ高さとなるべきである。したがって、部品本体上面の高さを特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。特に部品本体上面のエッジ部分での高さを算出し、その不均一度を検査項目とすることが好ましい。
の異なる部分において、その高さを求める。高さを算出する場所の数は、2以上であれば任意であってよく、具体的には不良予兆の検出精度と処理時間の要件を考慮して決定すればよい。
U2=Max(部品本体エッジ高さ)−Min(部品本体エッジ高さ)
U2=(Max(部品本体エッジ高さ)−Min(部品本体エッジ高さ))/(部品本体幅)
この場合、部品本体の幅は、部品に関連付けてあらかじめ記憶しておいてもよいし、検査画像から算出してもよい。
U2=Max(部品本体エッジ高さ)/Min(部品本体エッジ高さ)
これら以外にも、複数の部分における部品本体エッジ高さの分散や標準偏差など、値のばらつきを表す統計量を部品本体エッジ高さアンバランスU2としてもよい。
電子部品の電極下面が水平であり、かつ、プリント基板に水平に配置およびはんだ接合される場合には、電子部品の電極下面の高さは本来同じ高さとなるべきである。したがって、電極下面の高さ71を特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。電極下面高さアンバランスは、チップ部品に対して好適に採用できる検査項目である。
U3=(Max(電極下面高さ)−Min(電極下面高さ))/(電極厚さ)
U3=(Max(電極下面高さ)−Min(電極下面高さ))/(電極先端間距離)
U3=Max(電極下面高さ)/Min(電極下面高さ)
電子部品が正しい装着位置に配置された場合は、同一形状の端子およびランド部分では、ランド突出し量は等しくなるべきである。したがって、ランド突出し量を特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。
U4=Max(ランド突出し量)−Min(ランド突出し量)
U4=(Max(ランド突出し量)−Min(ランド突出し量))/(ランド長さ)
この場合、プリント基板のランド長さは、電子部品に関連付けてあらかじめ記憶しておいてもよいし、検査画像から算出してもよい。
U4=Max(ランド突出し量)/Min(ランド突出し量)
これら以外にも、複数の部分におけるランド突出し量の分散や標準偏差など、値のばらつきを表す統計量をランド突出し量アンバランスU4としてもよい。
電子部品が正しい装着位置に配置された場合は、同一形状の端子部分では、電極側のはんだのぬれ上がり高さは等しくなるべきである。したがって、電極側のはんだのぬれ上がり高さを特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。
ある場所での電極ぬれ上がり高さを求めるために、不均一度算出部20は、外観検査やX線検査の結果を用いて、電極上面のエッジ位置を求め、その場所でのはんだの高さを求めればよい。
U5=Max(電極ぬれ上がり高さ)−Min(電極ぬれ上がり高さ)
U5=(Max(電極ぬれ上がり高さ)−Min(電極ぬれ上がり高さ))/(電極厚さ)
この場合、電子部品の電極厚さは、電子部品に関連付けてあらかじめ記憶しておいてもよいし、検査画像から算出してもよい。
U5=Max(電極ぬれ上がり高さ)/Min(電極ぬれ上がり高さ)
これら以外にも、複数の部分における電極ぬれ上がり高さの分散や標準偏差など、値のばらつきを表す統計量を電極ぬれ上がり高さアンバランスU5としてもよい。
電子部品が正しい装着位置に配置された場合は、同一形状の端子およびランド部分では、ランド上でのはんだのぬれ長さは等しくなるべきである。したがって、ランド上でのぬれ長さを特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。
って異なる長さとなっている。ある場所でのランドぬれ長さを求めるために、不均一度算出部20は、外観検査やX線検査の結果を用いて、電極上面のエッジ位置とランド上でのはんだの端部位置とを求める。そして、その差分からランドぬれ長さが求められる。
U6=Max(ランドぬれ長さ)−Min(ランドぬれ長さ)
U6=(Max(ランドぬれ長さ)−Min(ランドぬれ長さ))/(ランド長さ)
この場合、プリント基板のランド長さは、電子部品に関連付けてあらかじめ記憶しておいてもよいし、検査画像から算出してもよい。
U6=Max(ランドぬれ長さ)/Min(ランドぬれ長さ)
これら以外にも、複数の部分におけるランドぬれ長さの分散や標準偏差など、値のばらつきを表す統計量をランドぬれ長さアンバランスU6としてもよい。
電子部品が正しい装着位置に配置された場合は、同一形状の端子およびランド部分では、ランド上でのはんだのぬれ角は等しくなるべきである。したがって、ランド上でのぬれ角を特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。
U7=Max(ランドぬれ角)−Min(ランドぬれ角)
値の比をランドぬれ角アンバランスU7としてもよい。
U7=Max(ランドぬれ角)/Min(ランドぬれ角)
これら以外にも、複数の部分におけるランドぬれ角の分散や標準偏差など、値のばらつきを表す統計量をランドぬれ角アンバランスU7としてもよい。
電子部品が正しい装着位置に配置された場合は、同一形状の端子およびランド部分では、電極側でのはんだのぬれ角は等しくなるべきである。したがって、電極上でのぬれ角を特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。
U8=Max(電極ぬれ角)−Min(電極ぬれ角)
U8=Max(電極ぬれ角)/Min(電極ぬれ角)
これら以外にも、複数の部分における電極ぬれ角の分散や標準偏差など、値のばらつきを表す統計量を電極ぬれ角アンバランスU8としてもよい。
電子部品が正しい装着位置に配置された場合は、同一形状の端子およびランド部分では、バックフィレットの長さは等しくなるべきである。したがって、バックフィレットの長さを特徴量として算出し、その不均一度を検査項目とすることができる。
U9=Max(バックフィレット長さ)−Min(バックフィレット長さ)
U9=(Max(バックフィレット長さ)−Min(バックフィレット長さ))/(ランド長さ)
この場合、プリント基板のランド長さは、電子部品に関連付けてあらかじめ記憶しておいてもよいし、検査画像から算出してもよい。
U9=Max(バックフィレット長さ)/Min(バックフィレット長さ)
これら以外にも、複数の部分におけるバックフィレット長さの分散や標準偏差など、値のばらつきを表す統計量をバックフィレット長さアンバランスU9としてもよい。
本実施形態によれば、リフロー工程後の外観検査やX線検査によるはんだ形状等に基づいて、マウンタ(実装装置)に起因する不良の予兆を検知し、不良が生じる前にマウンタの設定パラメータを修正できる。したがって、不良の発生を未然に防止することができる。また、設定パラメータの調整のために製造ラインを停止させる事態を最小限にすることができる。
象とされていなかった。本実施形態では、上記のような不均一度を不良の予兆と捉え、その発生要因となるマウンタの設定パラメータおよび当該設定パラメータの修正方法をあらかじめ記憶しておくことで、不良の予兆の段階でマウンタの設定パラメータを修正できる。
上記第1の実施形態では、リフロー工程後の実装基板からはんだ形状等を測定し、その結果に基づいてマウンタX2の不良予兆を検知して、マウンタX2の設定パラメータ(実装条件)を変更していた。本実施形態では、リフロー工程後の実装基板のはんだ形状等から、はんだ印刷装置X1の不良予兆を検知して、はんだ印刷装置X1の設定パラメータ(印刷条件)を変更する。
上記の実施形態の説明は、本発明を例示的に説明するものに過ぎず、本発明は上記の具体的な形態には限定されない。本発明は、その技術的思想の範囲内で種々の変形が可能である。
ンタの両方の設定パラメータを変更するようにしてもよいし、いずれか一方の設定パラメータのみを変更するようにしてもよい。また、閾値以上となる不均一度の組合せに応じて変更する設定パラメータを決定してもよい。例えば、電極上面高さアンバランスと電極ぬれ角アンバランスのいずれか一方のみが閾値以上となる場合にはマウンタの設定パラメータのみを変更するが、両方の不均一度が閾値以上となる場合にははんだ印刷装置の設定パラメータを変更するようにしてもよい。
X4・・生産設備管理装置
Y1・・はんだ印刷検査装置 Y2・・部品検査装置 Y3・・外観検査装置
Y4・・X線検査装置 Y5・・検査管理装置 Y6・・分析装置 Y7・・作業端末
10・・外観検査画像・X線検査画像取得部
20・・不均一度算出部
30・・判定部
40・・実装条件変更部
Claims (17)
- はんだ印刷装置によってプリント基板にはんだを印刷するはんだ印刷工程と、マウンタによってプリント基板上に電子部品を配置するマウント工程と、リフロー炉によって電子部品をはんだ接合するリフロー工程とを行う表面実装ラインを管理する品質管理装置であって、
前記電子部品または前記電子部品とプリント基板の接合個所の異なる部分において同一であるべき位置または形状に関する特徴量の不均一度を算出する不均一度算出手段と、
前記不均一度が所定の閾値以上であるか否か判定する判定手段と、
前記不均一度が前記所定の閾値以上である場合に、前記はんだ印刷装置または前記マウンタの設定パラメータを変更するか、ユーザに対して変更を提案するパラメータ変更手段と、
を備え、
前記設定パラメータは、前記マウンタの所定の位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記特徴量の最大値と前記特徴量の最小値とのどちらか一方を与える部分に向かう方向に前記所定の位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をし、
前記所定の位置は、部品吸着位置または部品装着位置である、品質管理装置。 - 前記不均一度算出手段は、前記接合個所の異なる複数の部分から前記特徴量を算出し、これら複数の特徴量の最大値および最小値の差または比に基づいて、前記不均一度を算出する、
請求項1に記載の品質管理装置。 - 前記不均一度算出手段は、複数種類の前記特徴量について、前記不均一度を算出し、
前記判定手段は、前記特徴量の種類ごとに異なる閾値を有しており、前記複数種類の特徴量のそれぞれに対して判定を行い、
前記パラメータ変更手段は、前記複数種類の特徴量のうち少なくともいずれかの不均一度が所定の閾値以上である場合に、前記不均一度が前記所定の閾値以上である特徴量の種類に応じて、変更すべき設定パラメータを決定する、
請求項1または2に記載の品質管理装置。 - 前記パラメータ変更手段は、前記不均一度が前記所定の閾値以上である特徴量の種類と、変更すべき設定パラメータおよび当該設定パラメータの変更方法とを対応付けたテーブルを備える、
請求項3に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品の電極上面の高さ位置であり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品吸着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記電極上面の高さの最小値を与える部分に向かう方向に部品吸着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品のエッジの高さ位置であり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品吸着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記エッジの高さの最小値を与える部分に向かう方向に部品吸着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品の電極下面の高さ位置であり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品吸着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記電極下面の高さの最小値を与える部分に向かう方向に部品吸着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品と重ならないランドの長さであるランド突出し量であり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品装着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記ランド突出し量の最大値を与える部分に向かう方向に部品装着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品の電極に対するはんだのぬれ上がり高さであり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品装着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記ぬれ上がり高さの最小値を与える部分に向かう方向に部品装着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品と重ならないランド上でのはんだの長さであるランドぬれ長さであり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品装着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記ランドぬれ長さの最大値を与える部分に向かう方向に部品装着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品を接合するはんだのランド側のぬれ角であり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品装着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記ぬれ角の最大値を与える部分に向かう方向に部品装着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品を接合するはんだの電極側のぬれ角であり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品装着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記ぬれ角の最大値を与える部分に向かう方向に部品装着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記特徴量は、前記電子部品を接合するはんだのバックフィレットの長さであり、
前記設定パラメータは、前記マウンタの部品装着位置であり、
前記パラメータ変更手段は、前記バックフィレットの長さの最小値を与える部分に向かう方向に部品装着位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をする、
請求項1から4のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記パラメータ変更手段は、前記設定パラメータを変更する際、または、ユーザに対して設定パラメータの変更を提案する際に、前記不均一度が閾値以上である特徴量の種類、当該特徴量の不均一度、変更対象の設定パラメータを、ユーザに提示する、
請求項1から13のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - 前記パラメータ変更手段は、前記設定パラメータの変更をユーザに提案するとともに当該変更を許可するか否かをユーザに問い合わせ、ユーザから当該変更を許可する入力を受けた場合に、当該設定パラメータの変更を実施する、
請求項1から14のいずれか1項に記載の品質管理装置。 - はんだ印刷装置によってプリント基板にはんだを印刷するはんだ印刷工程と、マウンタによってプリント基板上に電子部品を配置するマウント工程と、リフロー炉によって電子部品をはんだ接合するリフロー工程とを行う表面実装システムを管理する品質管理システムにおける品質管理方法であって、
コンピュータが、
前記電子部品または前記電子部品とプリント基板の接合個所の異なる部分において同一であるべき位置または形状に関する特徴量の不均一度の差を算出する特徴量算出ステップと、
前記特徴量の不均一度が所定の閾値以上であるか否か判定する判定ステップと、
前記特徴量の不均一度が前記所定の閾値以上である場合に、前記はんだ印刷装置または前記マウンタの設定パラメータを変更するか、ユーザに対して変更を提案するパラメータ変更ステップと、
を実行し、
前記設定パラメータは、前記マウンタの所定の位置であり、
前記パラメータ変更ステップでは、前記特徴量の最大値と前記特徴量の最小値とのどちらか一方を与える部分に向かう方向に前記所定の位置を移動するように前記設定パラメータを変更するか変更の提案をし、
前記所定の位置は、部品吸着位置または部品装着位置である、品質管理方法。 - 請求項16に記載の方法の各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014004106A JP6349734B2 (ja) | 2014-01-14 | 2014-01-14 | 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム |
CN201580004571.5A CN105917755B (zh) | 2014-01-14 | 2015-01-07 | 品质管理装置、品质管理方法及记录介质 |
EP15737258.2A EP3096596B1 (en) | 2014-01-14 | 2015-01-07 | Quality control apparatus, quality control method, and program |
PCT/JP2015/050265 WO2015107959A1 (ja) | 2014-01-14 | 2015-01-07 | 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014004106A JP6349734B2 (ja) | 2014-01-14 | 2014-01-14 | 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015133406A JP2015133406A (ja) | 2015-07-23 |
JP6349734B2 true JP6349734B2 (ja) | 2018-07-04 |
Family
ID=53542849
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014004106A Active JP6349734B2 (ja) | 2014-01-14 | 2014-01-14 | 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3096596B1 (ja) |
JP (1) | JP6349734B2 (ja) |
CN (1) | CN105917755B (ja) |
WO (1) | WO2015107959A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6528625B2 (ja) * | 2015-09-29 | 2019-06-12 | 日本電気株式会社 | 部品実装装置、部品実装方法及びプログラム。 |
JP6928461B2 (ja) * | 2017-03-03 | 2021-09-01 | 株式会社Fuji | 装着使用データ管理装置 |
JP7157948B2 (ja) * | 2018-04-25 | 2022-10-21 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 部品実装ライン、部品実装方法及び品質管理システム |
WO2020178990A1 (ja) | 2019-03-05 | 2020-09-10 | 株式会社Fuji | 補正量算出装置、部品装着機および補正量算出方法 |
EP4114164A1 (de) * | 2021-06-29 | 2023-01-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Ermitteln eines qualitätswertes beim bestücken eines elektrischen bauelements |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2684656B2 (ja) * | 1987-09-21 | 1997-12-03 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品の外観検査方法 |
JPH0765967B2 (ja) * | 1990-07-30 | 1995-07-19 | 松下電器産業株式会社 | 実装基板外観検査装置 |
JPH0765968B2 (ja) * | 1993-04-02 | 1995-07-19 | 日本電気株式会社 | 実装基板検査装置 |
JP3461915B2 (ja) * | 1994-06-30 | 2003-10-27 | 松下電器産業株式会社 | 実装基板生産装置 |
JPH08204399A (ja) * | 1995-01-25 | 1996-08-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装基板生産システム |
JP2005286015A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装品質要因分析方法 |
JP4481192B2 (ja) * | 2005-02-24 | 2010-06-16 | ヤマハ発動機株式会社 | 検査条件管理システムおよび部品実装システム |
JP4967275B2 (ja) | 2005-08-05 | 2012-07-04 | パナソニック株式会社 | 実装検査システム |
JP2007180060A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-12 | Toshiba Corp | 電子機器および部品配置の補正方法 |
JP5052114B2 (ja) * | 2006-12-15 | 2012-10-17 | 株式会社東芝 | 工程管理方法、データ登録プログラム及び電子装置の製造方法 |
JP2010271165A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Aisin Aw Co Ltd | プリント基板の検査装置 |
JP2011018696A (ja) * | 2009-07-07 | 2011-01-27 | Hitachi Ltd | 電子部品組立生産システム |
JP5365643B2 (ja) * | 2011-01-13 | 2013-12-11 | オムロン株式会社 | はんだ付け検査方法、および基板検査システムならびにはんだ付け検査機 |
JP6115012B2 (ja) * | 2011-08-30 | 2017-04-19 | 富士通株式会社 | 検査装置、検査方法及び検査プログラム |
-
2014
- 2014-01-14 JP JP2014004106A patent/JP6349734B2/ja active Active
-
2015
- 2015-01-07 CN CN201580004571.5A patent/CN105917755B/zh active Active
- 2015-01-07 WO PCT/JP2015/050265 patent/WO2015107959A1/ja active Application Filing
- 2015-01-07 EP EP15737258.2A patent/EP3096596B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105917755B (zh) | 2019-07-16 |
WO2015107959A1 (ja) | 2015-07-23 |
JP2015133406A (ja) | 2015-07-23 |
CN105917755A (zh) | 2016-08-31 |
EP3096596A4 (en) | 2017-10-18 |
EP3096596B1 (en) | 2020-03-25 |
EP3096596A1 (en) | 2016-11-23 |
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