JP6281193B2 - レーザー走査型顕微鏡システム - Google Patents
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Description
1・顕微鏡システムについて
2.光源の構成例
3.顕微鏡システムの構成例
4.サンプリング周期と間欠発光周期の関係
5.サンプリング周期と間欠駆動周期を一致させるための構成例
6.ローパスフィルタの構成
7.レーザー光の光パルスとレーザー光の変調との同期
8.光学的分解能とサンプリング周波数の関係
まず、図1を参照しながら、本開示の一実施形態に係る顕微鏡システムについて説明する。図1は、本実施形態に係る顕微鏡システムの一例を示す模式図である。この顕微鏡システムは、生体解析用のレーザー走査型顕微鏡であり、特に二光子励起の光源を有する顕微鏡システムである。図1に示すように、顕微鏡システム1000は、顕微鏡本体100と、光源200と、制御部300とを有して構成されている。
図2は、光源200の構成を詳細に示す模式図である。光源200は、モードロック発振型レーザーと光アンプを組み合わせたMOPA210と、波長変換モジュール(OPO)250とから構成されている。MOPA210は、モードロックレーザー部(Mode Locked Laser Diode)220と、光アイソレータ部230と、光増幅器部(SOA部)240とを有している。
次に、図4に基づいて、顕微鏡本体100の構成について説明する。図4では、2種類のガルバノミラーを用いた共焦点蛍光顕微鏡の構成例を示している。顕微鏡本体100は、対象サンプルSに対して2つのガルバノミラーにより二次元にビーム走査を行なう。
なお、以下の説明では、例えば図5に示した座標系が定義された測定サンプルSのサンプル平面において、X方向の走査を制御するガルバノミラー120の動作速度が、Y方向の走査を制御するガルバノミラー130の動作速度よりも早いものとする。
ラスター・スキャン方式では、図5の測定サンプルSのサンプル平面に示したように、X方向ガルバノミラー120が回転して励起光がサンプル平面の左端から右端に向けてX方向に移動している期間に、蛍光の検出(画像の取得)が行われる。ラスター・スキャン方式では、X方向ガルバノミラー120が動作している期間は、Y方向ガルバノミラー130は静止している。
TY_all=Ty×Ny ・・・(式13)
光子を検出する光電子増倍管(PMT)等の検出器110はアナログの素子であり、導入された光子を光電変換して電気信号(電流値、電圧値)へ変換する。変換された電気信号は、所定のサンプリング周期でA/D変換される。A/D変換された信号は、1ピクセルの画像情報に相当する。図6〜図8は、サンプリング周期とパルス波形P1による間欠発光の周期Tを示す特性図である。
次に、図1に基づいて、サンプリング周期と間欠駆動周期を一致させるための構成を説明する。図1に示すように、制御部300は、タイミングジェネレータ302、サンプリング信号発生部304、A/D変換部306、メモリ308、ガルバノビーム制御部310、DA変換部312、間欠発光信号発生部314、発振同期信号注入部316、ローパスフィルタ(LPF)318を有して構成される。
A/D変換部306の前段に設けられたローパスフィルタ318は、検出器(PMT)110の出力をナイキストのサンプリング定理を満たす周波数に帯域制限する。より具体的には、ローパスフィルタ318は、検出器110の出力をサンプリング周波数の1/2〜1/3の周波数に帯域制限する。例えば、サンプリング周波数が1GHzである場合、検出器110の出力は300〜500kHz程度に帯域制限される。サンプリング周波数が可変である場合には、ローパスフィルタ318の帯域もサンプリング周波数に比例して変更する。
次に、レーザー光の発振光パルスと間欠発光信号の周期との関係について説明する。本実施形態では、レーザー光の光発振パルスについても、タイミングジェネレータ302のクロックCLKと同期させることができる。
レーザー走査顕微鏡の分解能は、励起光源の波長λ[m]に比例する光学的分解能によって決定される。光学的分解能doは、λ/2または0.61*λで見積もられるが、簡単のためにλ/2を使うと、λ=1000nmでは光学的分解能do=500nmとなる。光電変換素子の帯域に制約が無い場合、電気的な分解能deは、ビーム速度v[m/s]とサンプリング周波数fs[1/s]によって決定される。
(1)所定の周波数のレーザー光を出射するモードロックレーザー部と、
前記モードロックレーザー部から出射されるレーザー光を所定の間欠発光周期で間欠発光させる間欠発光部と、
間欠発光された前記レーザー光を受けて対象物から励起した蛍光体を電気信号に変換する検出器と、
前記電気信号を前記間欠発光周期と同期したサンプリング周期でサンプリングするA/D変換部と、
を備える、レーザー走査型顕微鏡システム。
(2)前記サンプリング及び前記間欠発光に係る周波数及び位相が同一である、前記(1)に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
(3)前記モードロックレーザー部は、二光子励起のための前記レーザー光を出射する、前記(1)に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
(4)前記A/D変換部に対して前記サンプリング周期を与えるサンプリング信号と、前記間欠発光部に対して前記間欠発光周期を与える間欠発光信号とが同一の信号である、前記(1)に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
(5)前記A/D変換部に対して前記サンプリング周期を与えるサンプリング信号を発生させるサンプリング信号発生部と、
前記間欠発光部に対して前記間欠発光周期を与える間欠発光信号を発生させる間欠発光信号発生部と、を更に備え、
前記サンプリング信号と前記間欠発光信号とを同一のクロックに基づいて発生させる、前記(1)に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
(6)前記モードロックレーザー部又は前記間欠発光部は、前記レーザー光を所定の有効発光期間のみ前記対象物に入射させる、前記(1)に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
(7)前記レーザー光を前記対象物の表面の第1の方向へ走査する第1のガルバノミラーと、
前記レーザー光を前記対象物の表面の前記第1の方向と直交する第2の方向へ走査する第2のガルバノミラーと、
前記第1及び第2のガルバノミラーを制御するガルバノミラー制御部と、を備え、
前記ガルバノミラー制御部は、前記第1の方向への走査が完了すると、前記第1の方向の始点位置に前記レーザー光を戻すとともに、前記レーザー光の1ライン分だけ前記第2の方向への走査を行い、その後、再び前記第1の方向への走査を行い、
前記有効発光期間は、前記第1の方向へ走査を行う期間の少なくとも一部である、前記(6)に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
(8)前記検出器から出力された前記電気信号を帯域制限して前記A/D変換部へ入力するローパスフィルタを備え、
前記ローパスフィルタは、前記サンプリングの周波数に対してナイキストのサンプリング定理が成立するように前記帯域制限を行う、前記(1)に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
(9)前記ローパスフィルタは、前記サンプリングの周波数の1/2以下となるように前記帯域制限を行う、前記(8)に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
110 検出器
220 モードロックレーザー部
240 光増幅器部(SOA部)
306 A/D変換部
Claims (9)
- 所定の周波数のレーザー光を出射するモードロックレーザー部と、
前記モードロックレーザー部から出射されるレーザー光を増幅するとともに、前記所定の周波数に対応する周期よりも長い所定の間欠発光周期で間欠発光させる間欠発光部と、
間欠発光された前記レーザー光を受けて対象物から励起した蛍光体を電気信号に変換する検出器と、
前記電気信号を前記間欠発光周期と同期したサンプリング周期でサンプリングするA/D変換部と、
を備える、レーザー走査型顕微鏡システム。 - 前記サンプリング及び前記間欠発光に係る周波数及び位相が同一である、請求項1に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
- 前記モードロックレーザー部は、二光子励起のための前記レーザー光を出射する、請求項1又は2に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
- 前記A/D変換部に対して前記サンプリング周期を与えるサンプリング信号と、前記間欠発光部に対して前記間欠発光周期を与える間欠発光信号とが同一の信号である、請求項1〜3のいずれかに記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
- 前記A/D変換部に対して前記サンプリング周期を与えるサンプリング信号を発生させるサンプリング信号発生部と、
前記間欠発光部に対して前記間欠発光周期を与える間欠発光信号を発生させる間欠発光信号発生部と、を更に備え、
前記サンプリング信号と前記間欠発光信号とを同一のクロックに基づいて発生させる、請求項1〜4のいずれかに記載のレーザー走査型顕微鏡システム。 - 前記モードロックレーザー部又は前記間欠発光部は、前記レーザー光を所定の有効発光期間のみ前記対象物に入射させる、請求項1〜5のいずれかに記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
- 前記レーザー光を前記対象物の表面の第1の方向へ走査する第1のガルバノミラーと、
前記レーザー光を前記対象物の表面の前記第1の方向と直交する第2の方向へ走査する第2のガルバノミラーと、
前記第1及び第2のガルバノミラーを制御するガルバノミラー制御部と、を備え、
前記ガルバノミラー制御部は、前記第1の方向への走査が完了すると、前記第1の方向の始点位置に前記レーザー光を戻すとともに、前記レーザー光の1ライン分だけ前記第2の方向への走査を行い、その後、再び前記第1の方向への走査を行い、
前記有効発光期間は、前記第1の方向へ走査を行う期間の少なくとも一部である、請求項6に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。 - 前記検出器から出力された前記電気信号を帯域制限して前記A/D変換部へ入力するローパスフィルタを備え、
前記ローパスフィルタは、前記サンプリングの周波数に対してナイキストのサンプリング定理が成立するように前記帯域制限を行う、請求項1に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。 - 前記ローパスフィルタは、前記サンプリングの周波数の1/2以下となるように前記帯域制限を行う、請求項8に記載のレーザー走査型顕微鏡システム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013113572A JP6281193B2 (ja) | 2013-05-30 | 2013-05-30 | レーザー走査型顕微鏡システム |
US14/279,934 US9551664B2 (en) | 2013-05-30 | 2014-05-16 | Laser scanning microscope system |
CN201410223168.9A CN104215612B (zh) | 2013-05-30 | 2014-05-23 | 激光扫描显微镜系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013113572A JP6281193B2 (ja) | 2013-05-30 | 2013-05-30 | レーザー走査型顕微鏡システム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014232241A JP2014232241A (ja) | 2014-12-11 |
JP2014232241A5 JP2014232241A5 (ja) | 2016-03-17 |
JP6281193B2 true JP6281193B2 (ja) | 2018-02-21 |
Family
ID=51984049
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013113572A Expired - Fee Related JP6281193B2 (ja) | 2013-05-30 | 2013-05-30 | レーザー走査型顕微鏡システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9551664B2 (ja) |
JP (1) | JP6281193B2 (ja) |
CN (1) | CN104215612B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8236574B2 (en) * | 2010-03-01 | 2012-08-07 | Quanterix Corporation | Ultra-sensitive detection of molecules or particles using beads or other capture objects |
JP2015161719A (ja) * | 2014-02-26 | 2015-09-07 | ソニー株式会社 | レーザー走査型顕微鏡システム及びサンプリング装置 |
JP6550673B2 (ja) * | 2015-04-03 | 2019-07-31 | 国立大学法人 東京大学 | フォトルミネセンス寿命測定装置及び測定方法 |
JP2017049447A (ja) * | 2015-09-02 | 2017-03-09 | オリンパス株式会社 | レーザ顕微鏡および顕微鏡観察方法 |
JP6651768B2 (ja) * | 2015-09-28 | 2020-02-19 | 株式会社ニコン | パターン描画装置 |
US10473908B2 (en) * | 2017-04-21 | 2019-11-12 | Shimadzu Corporation | Optical observation device |
TWI714378B (zh) * | 2019-12-04 | 2020-12-21 | 國立臺灣大學 | 一種用於高速深組織成像的大角度光域掃描系統 |
CN112987273B (zh) * | 2021-04-15 | 2023-08-29 | 南方科技大学 | 一种荧光激发块光源和荧光显微镜 |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4794598A (en) * | 1986-07-18 | 1988-12-27 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Synchronously pumped ring fiber Raman laser |
US5252834A (en) * | 1990-11-13 | 1993-10-12 | Union Oil Company Of California | Pulsed and gated multi-mode microspectrophotometry device and method |
US5982535A (en) * | 1997-08-07 | 1999-11-09 | Marine Biological Laboratory | Centrifuge microscope capable of realizing polarized light observation |
US20010015411A1 (en) * | 1999-09-24 | 2001-08-23 | Yasuo Ohdaira | Laser scanning microscope |
JP4667571B2 (ja) * | 1999-09-24 | 2011-04-13 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡 |
JP2001188902A (ja) * | 2000-01-04 | 2001-07-10 | Konica Corp | 放射線画像読取装置 |
US6759644B2 (en) * | 2001-03-15 | 2004-07-06 | Omron Corporation | Sensor using radiation pulses |
JP4930742B2 (ja) * | 2001-03-29 | 2012-05-16 | 株式会社トプコン | 位置検出装置 |
JP4912545B2 (ja) * | 2001-07-13 | 2012-04-11 | オリンパス株式会社 | 共焦点レーザ走査型顕微鏡 |
JP4175833B2 (ja) * | 2002-05-23 | 2008-11-05 | オリンパス株式会社 | レーザ顕微鏡 |
MX347048B (es) * | 2003-03-28 | 2017-04-07 | Inguran Llc * | Aparato de muestreo digital y métodos para separar partículas. |
DE102005047884A1 (de) * | 2005-10-06 | 2007-04-26 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Scanmikroskop und Scanverfahren mit einem Scanmikroskop |
CN100541204C (zh) * | 2006-08-11 | 2009-09-16 | 中国科学院力学研究所 | 一种微流道速度分布的测量装置和测量方法 |
JP2009229715A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
DE102009055993B4 (de) * | 2009-11-26 | 2016-06-02 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zum Untersuchen eines Objekts mit Hilfe eines Mikroskops und Vorrichtung nach Art eines Mikroskops zum Untersuchen eines Objekts |
US8630322B2 (en) * | 2010-03-01 | 2014-01-14 | Board Of Trustees Of Michigan State University | Laser system for output manipulation |
JP5771371B2 (ja) * | 2010-07-22 | 2015-08-26 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
JP5589671B2 (ja) * | 2010-08-20 | 2014-09-17 | ソニー株式会社 | レーザ装置、レーザ増幅変調方法。 |
JP2012059343A (ja) * | 2010-09-13 | 2012-03-22 | Sony Corp | 記録装置 |
JP2012185888A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-09-27 | Sony Corp | 記録装置 |
DE102011105181A1 (de) * | 2011-06-17 | 2012-12-20 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskop und Verfahren zur bildgebenden Fluoreszenzmikroskopie |
CN202814861U (zh) * | 2012-07-31 | 2013-03-20 | 苏州微清医疗器械有限公司 | 一种多功能生物医学显微镜 |
JP5602817B2 (ja) * | 2012-11-07 | 2014-10-08 | 住友大阪セメント株式会社 | 光パルスレーザー装置及び光パルスレーザー発生方法 |
US10180402B2 (en) * | 2012-12-14 | 2019-01-15 | Sri International | Method and apparatus for conducting automated integrated circuit analysis |
US9778193B2 (en) * | 2013-08-22 | 2017-10-03 | Kinetic River Corp. | Methods and apparatuses for label-free particle analysis |
-
2013
- 2013-05-30 JP JP2013113572A patent/JP6281193B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-05-16 US US14/279,934 patent/US9551664B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-05-23 CN CN201410223168.9A patent/CN104215612B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014232241A (ja) | 2014-12-11 |
CN104215612A (zh) | 2014-12-17 |
US20140353521A1 (en) | 2014-12-04 |
US9551664B2 (en) | 2017-01-24 |
CN104215612B (zh) | 2018-07-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160202 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160202 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161220 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170210 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20170718 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171010 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20171017 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20171226 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180108 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6281193 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |