JP4667571B2 - レーザ走査顕微鏡 - Google Patents

レーザ走査顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP4667571B2
JP4667571B2 JP2000280886A JP2000280886A JP4667571B2 JP 4667571 B2 JP4667571 B2 JP 4667571B2 JP 2000280886 A JP2000280886 A JP 2000280886A JP 2000280886 A JP2000280886 A JP 2000280886A JP 4667571 B2 JP4667571 B2 JP 4667571B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
laser
pulse
scanning microscope
synchronization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2000280886A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001159734A5 (ja
JP2001159734A (ja
Inventor
泰生 大平
佳弘 島田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2000280886A priority Critical patent/JP4667571B2/ja
Publication of JP2001159734A publication Critical patent/JP2001159734A/ja
Publication of JP2001159734A5 publication Critical patent/JP2001159734A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4667571B2 publication Critical patent/JP4667571B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ走査顕微鏡において、パルスレーザを励起光源として用いたときの、蛍光信号のサンプリング機構に関する。
【0002】
【従来の技術】
レーザ走査顕微鏡の概要は、例えば外国文献"HANDBOOK OF BIOLOGICAL CONFOCAL MICROSCOPY" (J. Pawley編、PLENUM PRESS, 1990)に記述されている。一般に、レーザ走査顕微鏡は、図5に示すように、レーザ光を発振する光源1と光源1からのレーザ光と後述するサンプル9からの光を分離するハーフミラー3と、レーザ光をX、Y方向に走査するガルバノミラー5と、レーザ光をサンプル9に照射する対物レンズ7と、サンプル9からの光から散乱光等を除去して焦点位置だけの光を抽出するピンホール9と、ピンホール9を介した光を受光する受光素子11と、受光素子11にて光電変換された電気信号を供給する画像処理装置15とから構成される。画像処理部15は、独立した発振器などにより任意に定めたサンプリングクロックにより、デジタル信号に変換し、デジタル信号は図示しないラインメモリに記憶して、レーザ光の走査に同期した画像処理を行ないモニタディスプレイ17上に表示している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
サンプルにレーザを照射してサンプルからの蛍光を検出するレーザ走査顕微鏡は一般的には、ヘリウムネオンレーザのような連続発振型のレーザが用いられる。しかしながら、近年、研究対象となるサンプルの多様化からさまざまな波長のレーザが使用されるようになった。これらのレーザの中には、発振モード間の競合による平均出力の変動を抑えるために、Qスイッチやモード同期法によりパルス発振させるものも多い。
【0004】
さらに、極めて高い光子密度で光をサンプルに照射して、サンプルからの多光子蛍光を検出するために、その光源としてモード同期超短パルスレーザがレーザ走査顕微鏡に利用されるようになった。これらパルスレーザを励起光源として用いると、サンプルからの蛍光信号は時間とともに減衰する信号となる。
【0005】
このときレーザ光のパルス(以下、レーザパルスと称する。)とサンプリングパルスとは、一般的に同期していないため、必ずしも蛍光のピークをサンプリングするとは限らない。このため、得られている蛍光光量に対応した画像を生成することができないため、画像が暗くなるといった不具合が考えられる。特に、多光子過程における蛍光の発生率は低く、レーザパルスとサンプリングパルスが同期していないために、蛍光信号を効率良くサンプリングすることが困難であるといった不具合も考えられる。
【0006】
本発明の目的は、パルスレーザ励起を用いたレーザ走査顕微鏡において、蛍光信号をそのピークを含めて確実にサンプリングすることのできるレーザ走査顕微鏡を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載のレーザ走査顕微鏡は、サンプルを励起させるパルスレーザを発振するパルスレーザ発振手段と、前記サンプルからの光を検出し、電気信号を出力する光検出部とを備えたレーザ走査顕微鏡において、前記光検出部からの電気信号を前記パルスレーザ発信手段からのパルスレーザの発振に同期してサンプリングするサンプリング手段と、前記サンプリング手段からのデータを蓄積するメモリ部とを備えたことを特徴とする。
【0008】
請求項2記載のレーザ走査顕微鏡は、前記パルスレーザ発振手段からのパルスレーザの発振を検知し、前記パルスレーザの発振に同期した同期信号を出力する同期信号発生手段を備え、前記同期信号発生手段からの同期信号に同期して、前記サンプリング手段で前記光検出手段からの電気信号をサンプリングすることを特徴とする。
【0009】
請求項3記載のレーザ走査顕微鏡の同期信号発生手段は、同期信号を任意の時間遅延させるトリガ信号を出力する遅延回路部を有し、前記遅延回路部で遅延させた同期信号に同期して前記光検出部からの電気信号をサンプリングすることを特徴とする。
【0010】
請求項4記載のレーザ走査顕微鏡は、前記遅延回路部で遅延させた同期信号に同期してパルス信号を発振制御可能なパルス発生器を備え、前記パルス発生器からのパルス信号に応じたサンプリングを行うことを特徴とする。
【0011】
請求項1記載のレーザ走査顕微鏡によれば、サンプリング手段で光検出部からの電気信号をパルスレーザ発信手段からのパルスレーザの発振に同期してサンプリングさせ、サンプリング手段からのデータをメモリ部に蓄積するようにしたので、パルスレーザの発振のタイミングとサンプリングのタイミングを一致させることができ、サンプルからの光のを確実にサンプリングできる。
【0012】
請求項2記載のレーザ走査顕微鏡によれば、同期信号発生手段でパルスレーザ発信手段からのパルスレーザの発振を検知し、パルスレーザの発振に同期した同期信号を出力するようにしたので、同期信号発生手段からの同期信号に同期して、サンプリング手段で光検出部からの電気信号をサンプリングすることができる。
【0013】
請求項3記載のレーザ走査顕微鏡によれば、遅延回路部を同期信号発生手段に設けたので、同期信号を任意の時間遅延させるトリガ信号を出力できるので、遅延回路部で遅延させた同期信号に同期して光検出部からの電気信号をサンプリングすることができる。
【0014】
請求項4記載のレーザ走査顕微鏡によれば、パルス発生器により遅延回路部で遅延させた同期信号に同期してパルス信号を発振制御可能にしたので、パルス発生器からのパルス信号に応じたサンプリングを行うことができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【0016】
[第1の実施の形態]
図1はレーザ走査顕微鏡のサンプリング機構に関するシステムブロック図である。図1に示すサンプリング機構は、サンプル励起用パルスレーザ光(以下、レーザ光と称する。)を発するパルスレーザ装置(以下、レーザ装置と称する。)21と、レーザ装置21からのレーザ光をサンプル23に照射することにより発せられたサンプル23からの蛍光を光電変換するフォトディテクタあるいはフォトマルチプライヤ等で構成される光電変換部25と、光電変換部25からのアナログ信号をデジタル信号に変換し、且つ光電変換部25からの信号をレーザ装置21からのレーザ発振に同期してサンプリングを行える機能を備えたA/D変換部27(サンプリング手段)と、A/D変換部27からのデジタル信号を記憶するメモリ29と、メモリ29から取り出したデジタルデータ画像(共焦点画像)を表示する画像表示手段31と、A/D変換部27にサンプリングのためのクロック信号を供給するサンプリング制御部(同期信号発生手段)33とで構成される。ここで、サンプリング制御部33は、レーザ発振同期信号発生回路部35と遅延回路部37を有する。レーザ発振同期信号発生回路部35は、レーザ装置21からのレーザ発振を検出する検出部36を有する。検出部36は、例えばレーザ装置21からレーザ発振と同期した電気信号として出力されるトリガ出力信号、あるいはレーザ光の一部を例えばフォトディテクタやフォトマルチプライヤなどにより光電変換した電気信号を用いてレーザ装置21の発振を検出し、レーザ発振信号を出力する。レーザ発振同期信号発生回路部35は検出部36により検出されたレーザ発振信号に応答してレーザ発振同期信号を遅延回路部37にレーザ発振同期信号を出力する。遅延回路部37はレーザ発振同期信号発生回路部35から出力されたレーザ発振同期信号を、外部入力回路39から与えられた遅延時間(Δt1)だけ遅延させトリガ信号とし、トリガ信号はサンプリングクロックとしてA/D変換部27に入力される。
【0017】
上述のように構成されたこの発明の一実施形態の動作について図1および図2を参照して説明する。
【0018】
図1において、レーザ装置21は、図2(a)に示すパルスレーザがサンプル23に対して発振されるとともに、レーザ装置21からのレーザ発振に同期した電気信号をサンプリング制御部33のレーザ発振同期信号発生回路部35に出力する。レーザ発振同期信号発生回路部35は検出部36によりこのレーザ光のレーザ発振信号を検出し、図2(c)に示すようなレーザ発振同期信号を生成し、遅延回路部37に出力する。レーザ装置21からのレーザ光はサンプル23に照射され、図2(b)に示すような蛍光信号が光電変換部25に入力され、電気信号に変換される。
【0019】
一方、遅延回路部37は、入力されたレーザ発振同期信号を外部入力回路39を介して与えられた遅延時間(Δt1)だけ遅延し、図2(d)に示すトリガ信号38をA/D変換部27に出力する。A/D変換部27は、このトリガ信号をサンプリングクロックとして用いて、光電変換部25からの電気信号(アナログ信号)をデジタル信号に変換する。このとき、図2(b)に示す蛍光信号のピークと、図2(d)に示すサンプリングタイミングを一致させることで、蛍光信号のピークをサンプリングすることができる遅延時間(Δt1)は、光電変換後の蛍光信号とトリガ信号を時間的に比較し、蛍光のピークとトリガ信号のタイミングを一致させるか、もしくは画像が最も明るくなるように、外部入力回路39を用いて適宜調節することができる。A/D変換部27は、図2(e)に示すようなサンプリングデータをメモリ29に出力する。画像表示部31は、一般的なレーザ走査顕微鏡と同様に、メモリ29に記憶されたデータをリードするための制御信号をメモリ29に出力し、メモリ29に記憶されているサンプリングデータ(デジタルデータ)とアドレスを読み出し、レーザ光の走査位置に同期させて画面に表示する。
【0020】
以上のように、トリガ信号をサンプリングクロックとして用いることにより、蛍光信号のピークのタイミングとサンプリングのタイミングを一致させることができ、蛍光信号のピークを確実にサンプリングできるようになる。
【0021】
また、蛍光信号のピークを確実にサンプリングすることで、レーザパルスに同期させていないときに比べ、画像を明るくすることが可能となる。
【0022】
さらに、蛍光発生の頻度が低く、必ずしもレーザパルス発生毎に蛍光信号が発生していなくても、レーザ発振に同期してサンプリングすることで、蛍光信号を効率よく取得することができる。
【0023】
次に、この発明の第2の実施の形態について図3および図4を参照して説明する。なお、図3において、図1と同一部は同符号を付してその説明を省略する。
【0024】
この実施の形態においては、A/D変換部27のサンプリングクロックとして、パルス発生器45のパルス信号を用いる。パルス発生器45は、遅延回路37から出力されるトリガ信号38に同期して図4(e)に示すパルス信号を発生する。このパルスの繰り返し周波数fpと出力時間(Δt2)は、外部入力回路39により任意に設定可能である。すなわち、A/D変換部27では、遅延回路37からのトリガ信号をサンプリングクロックとして用いてサンプリングするとともに、出力時間(Δt2)(図4(e))の間のみ、サンプリングを行う。従って、トリガ信号を遅延回路部37の遅延時間(Δt1)とパルス発生器45のパルスの出力時間(Δt2)を調節することで、時間とともに減衰する蛍光信号の経時変化を、ピークを含めて確実にサンプリングすることができる。また、蛍光信号が発生していないところでは、サンプリングを行わないようにタイミング調節が可能である。例えば、2光子過程を用いたレーザ走査顕微鏡に上述した構成を用いる場合、2光子過程では、パルス幅100[fs]のパルス繰り返し周波数80[MHz]のレーザ光が使用されるので、レーザ光のパルスが1回繰り返し中に100回のサンプリングを行うとすれば、パルスの出力時間(Δt2)を10[ns]以下、パルス発生器45のパルス信号に10[GHz]程度に設定すれば適用できる。
【0025】
このことにより、蛍光信号のピークを確実にサンプリングすることで、レーザ光のパルスに同期させていない場合に取得した画像にくらべ、更に明るくすることができる。また、蛍光の頻度が低くても必ずしもレーザパルスの発生ごとに蛍光信号が発生するとは限らない。このような場合にも、レーザ発振に同期してサンプリングし続けることで、効率よく蛍光信号を取得できる。また、蛍光信号のピークを含めて確実にサンプリングしてメモリ29に格納しているため、デジタルデータから、例えば蛍光信号のデジタル積算、最大値の解析、蛍光信号の時定数の解析などの、デジタル処理を行うことが可能となる。また、蛍光信号の発生していない不要な部分のサンプリングを行わないことで、メモリを有効に使うことができる。
【0026】
また、本発明は上述した実施の形態に限られるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々変更は可能であり、例えば遅延回路を介在させることなく、レーザ装置からのレーザ発振に同期して蛍光信号をサンプリングするようにしてもよい。また、光電変換部から発せられる蛍光信号を同期信号として用いることでサンプルから蛍光が発せられたタイミングに同期して蛍光信号をサンプリングしてもよい。なお、本発明のレーザ装置としては2光子励起用のモード同期超短パルスレーザであっても良いし、1光子励起用のパルスレーザでも良い。
【0027】
【発明の効果】
この発明によれば、パルスレーザ励起を用いたマルチフォトンレーザ走査顕微鏡において、蛍光信号をそのピークを含めて確実にサンプリングすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のレーザ走査顕微鏡の一実施形態を示すブロック図。
【図2】図1に示すレーザ走査顕微鏡のタイミングチャートを示す図。
【図3】この発明のレーザ走査顕微鏡の他の実施形態を示すブロック図。
【図4】図3に示すレーザ走査顕微鏡の他の実施形態のタイミングチャートを示す図。
【図5】従来技術によるレーザ走査顕微鏡のシステムブロック図。
【符号の説明】
23…サンプル
25…光電変換部
27…A/D変換部
29…メモリ
31…画像表示部
33…サンプリング制御部
35…検出部
37…遅延回路
39…外部入力回路
41…制御信号
43…データ
45…パルス発生器

Claims (7)

  1. サンプルを励起させるパルスレーザを発振するパルスレーザ発振手段と、
    前記サンプルからの光を検出し、電気信号を出力する光検出部とを備えたレーザ走査顕微鏡において、
    前記光検出部からの電気信号を前記パルスレーザ発振手段からのパルスレーザの発振に同期してサンプリングするサンプリング手段と、
    前記サンプリング手段からのデータを蓄積するメモリ部とを備えたことを特徴とするレーザ走査顕微鏡。
  2. 前記レーザ走査顕微鏡は、
    前記パルスレーザ発信手段からのパルスレーザの発振を検知し、前記パルスレーザの発振に同期した同期信号を出力する同期信号発生手段を備え、
    前記同期信号発生手段からの同期信号に同期して、前記サンプリング手段で前記光検出部からの電気信号をサンプリングすることを特徴とする請求項1記載のレーザ走査顕微鏡。
  3. 前記同期信号発生手段は、
    同期信号を任意の時間遅延させるトリガ信号を出力する遅延回路部を有し、前記遅延回路部で遅延させた同期信号に同期して前記光検出部からの電気信号をサンプリングすることを特徴とする請求項2記載のレーザ走査顕微鏡。
  4. 前記レーザ走査顕微鏡は、
    前記遅延回路部で遅延させた同期信号に同期してパルス信号を発振制御可能なパルス発生器を備え、
    前記パルス発生器からのパルス信号に応じたサンプリングを行うことを特徴とする請求項3記載のレーザ走査顕微鏡。
  5. 前記同期信号の遅延時間を与えるための外部入力部を備えることを特徴とする請求項3記載のレーザ走査顕微鏡。
  6. 前記光検出部が検出する光は前記パルスレーザの照射によって発生する蛍光であって、前記パルス信号に応じてサンプリングされ前記メモリ部に蓄積されたデジタルデータから、蛍光信号のデジタル積算、最大値の解析および蛍光信号の時定数解析の少なくとも一つのデジタル処理を行うことを特徴とする請求項4記載のレーザ走査顕微鏡。
  7. 前記パルスレーザ発生手段はモード同期超短パルスレーザであり、多光子励起によってサンプルからの蛍光を検出することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載のレーザ走査顕微鏡。
JP2000280886A 1999-09-24 2000-09-14 レーザ走査顕微鏡 Expired - Lifetime JP4667571B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000280886A JP4667571B2 (ja) 1999-09-24 2000-09-14 レーザ走査顕微鏡

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11-271293 1999-09-24
JP27129399 1999-09-24
JP2000280886A JP4667571B2 (ja) 1999-09-24 2000-09-14 レーザ走査顕微鏡

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001159734A JP2001159734A (ja) 2001-06-12
JP2001159734A5 JP2001159734A5 (ja) 2007-10-25
JP4667571B2 true JP4667571B2 (ja) 2011-04-13

Family

ID=26549634

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000280886A Expired - Lifetime JP4667571B2 (ja) 1999-09-24 2000-09-14 レーザ走査顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4667571B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013122169A1 (ja) 2012-02-15 2013-08-22 オリンパス株式会社 レーザ走査型観察装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005047884A1 (de) * 2005-10-06 2007-04-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und Scanverfahren mit einem Scanmikroskop
JP6153340B2 (ja) * 2013-02-08 2017-06-28 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡装置
JP6281193B2 (ja) * 2013-05-30 2018-02-21 ソニー株式会社 レーザー走査型顕微鏡システム
JP6218596B2 (ja) * 2013-12-25 2017-10-25 オリンパス株式会社 走査型観察装置
JP2015230453A (ja) * 2014-06-06 2015-12-21 ソニー株式会社 走査型顕微鏡システム及び走査型顕微鏡システムの制御方法
JP7064315B2 (ja) 2017-11-07 2022-05-10 オリンパス株式会社 光検出装置およびレーザ走査型顕微鏡

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5841337A (ja) * 1981-09-04 1983-03-10 Hamamatsu Tv Kk 発光現象の測定装置
JPS6217643A (ja) * 1985-07-01 1987-01-26 ダイアトロン コ−ポレ−シヨン 蛍光測定器
JPS6339099B2 (ja) * 1978-08-01 1988-08-03 Cho Eru Esu Ai Gijutsu Kenkyu Kumiai
JPH03181910A (ja) * 1989-12-12 1991-08-07 Sumitomo Cement Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JPH04145390A (ja) * 1990-10-05 1992-05-19 Mitsubishi Electric Corp 距離測定装置
JPH04256841A (ja) * 1991-02-08 1992-09-11 Hamamatsu Photonics Kk 空間・時間分解光解析装置
JPH04307510A (ja) * 1991-04-05 1992-10-29 Hamamatsu Photonics Kk 近接場走査光学顕微鏡
JPH08163440A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Olympus Optical Co Ltd 光電信号処理装置
JPH09304636A (ja) * 1995-11-02 1997-11-28 View Eng Inc 走査遠隔結像法及びシステム、並びにその際に用いるフィルターの最適設計特性決定法
JPH1062694A (ja) * 1993-06-03 1998-03-06 Hamamatsu Photonics Kk レーザスキャン光学装置
JPH11132953A (ja) * 1997-10-29 1999-05-21 Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk 蛍光寿命測定方法および装置
JPH11271626A (ja) * 1998-03-23 1999-10-08 Olympus Optical Co Ltd 走査型レーザ顕微鏡

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6339099B2 (ja) * 1978-08-01 1988-08-03 Cho Eru Esu Ai Gijutsu Kenkyu Kumiai
JPS5841337A (ja) * 1981-09-04 1983-03-10 Hamamatsu Tv Kk 発光現象の測定装置
JPS6217643A (ja) * 1985-07-01 1987-01-26 ダイアトロン コ−ポレ−シヨン 蛍光測定器
JPH03181910A (ja) * 1989-12-12 1991-08-07 Sumitomo Cement Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JPH04145390A (ja) * 1990-10-05 1992-05-19 Mitsubishi Electric Corp 距離測定装置
JPH04256841A (ja) * 1991-02-08 1992-09-11 Hamamatsu Photonics Kk 空間・時間分解光解析装置
JPH04307510A (ja) * 1991-04-05 1992-10-29 Hamamatsu Photonics Kk 近接場走査光学顕微鏡
JPH1062694A (ja) * 1993-06-03 1998-03-06 Hamamatsu Photonics Kk レーザスキャン光学装置
JPH08163440A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Olympus Optical Co Ltd 光電信号処理装置
JPH09304636A (ja) * 1995-11-02 1997-11-28 View Eng Inc 走査遠隔結像法及びシステム、並びにその際に用いるフィルターの最適設計特性決定法
JPH11132953A (ja) * 1997-10-29 1999-05-21 Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk 蛍光寿命測定方法および装置
JPH11271626A (ja) * 1998-03-23 1999-10-08 Olympus Optical Co Ltd 走査型レーザ顕微鏡

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013122169A1 (ja) 2012-02-15 2013-08-22 オリンパス株式会社 レーザ走査型観察装置
US9347871B2 (en) 2012-02-15 2016-05-24 Olympus Corporation Laser scanning type observation apparatus having a delay circuit unit, a multi-stage delay setting unit and a decision unit

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001159734A (ja) 2001-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20010015411A1 (en) Laser scanning microscope
US6741346B1 (en) Method for detecting fluorescence phenomena in microscope
US7193224B2 (en) Scanning microscope and laser microscope
WO2013122169A1 (ja) レーザ走査型観察装置
JP2002131645A (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP4667571B2 (ja) レーザ走査顕微鏡
JP2009229715A (ja) 顕微鏡
EP1324021B1 (en) Imaging apparatus
JP2003043369A (ja) レーザ走査型顕微鏡
JP7064315B2 (ja) 光検出装置およびレーザ走査型顕微鏡
JP2005140981A (ja) 顕微鏡装置
JPH11271626A (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP4136440B2 (ja) 顕微鏡装置
JP3618416B2 (ja) 顕微鏡用測光装置
JPH1010436A (ja) 光走査型顕微鏡
JP2013195522A (ja) 多光子励起観察装置
US20100245993A1 (en) Laser scanning microscope
WO2020160389A1 (en) High dynamic range imaging
JP2000337826A (ja) 画像信号制御装置
JP4115755B2 (ja) サンプリングクロック発生装置及びサンプリングクロック発生方法
JP2004212204A (ja) 蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム
JP4599093B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡装置
JP2004212203A (ja) 蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム
JP2003098086A (ja) 光量測定装置
JP2005148497A (ja) 走査型レーザ顕微鏡システム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070907

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070907

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101007

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110104

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110112

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140121

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4667571

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140121

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term