JPH08163440A - 光電信号処理装置 - Google Patents
光電信号処理装置Info
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- JPH08163440A JPH08163440A JP6304713A JP30471394A JPH08163440A JP H08163440 A JPH08163440 A JP H08163440A JP 6304713 A JP6304713 A JP 6304713A JP 30471394 A JP30471394 A JP 30471394A JP H08163440 A JPH08163440 A JP H08163440A
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- Japan
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- circuit
- scanning position
- sampling pulse
- delay
- electric signal
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、特に、サンプリングタイミング速度
を高速化した場合も、所望の走査位置に正確に対応した
デジタルデータを正確にサンプリングできる光電信号処
理装置を提供する。 【構成】標本からの入力光が光電変換回路１に与えられ
ると、電気信号に変換したのち、遅延回路７で所定時間
（ＴDA＋ＴDB1 ）遅延して、Ａ／Ｄ変換回路２に与え、
一方、走査位置検出回路５より標本上の光の走査位置に
対応した検出信号が出力されると、サンプリングパルス
発生回路６よりサンプリングパルスを生成し、これをＡ
／Ｄ変換回路２に与え、このサンプリングパルスに同期
して、Ａ／Ｄ変換回路２での電気信号からデジタルデー
タの変換動作を制御するようにしている。
を高速化した場合も、所望の走査位置に正確に対応した
デジタルデータを正確にサンプリングできる光電信号処
理装置を提供する。 【構成】標本からの入力光が光電変換回路１に与えられ
ると、電気信号に変換したのち、遅延回路７で所定時間
（ＴDA＋ＴDB1 ）遅延して、Ａ／Ｄ変換回路２に与え、
一方、走査位置検出回路５より標本上の光の走査位置に
対応した検出信号が出力されると、サンプリングパルス
発生回路６よりサンプリングパルスを生成し、これをＡ
／Ｄ変換回路２に与え、このサンプリングパルスに同期
して、Ａ／Ｄ変換回路２での電気信号からデジタルデー
タの変換動作を制御するようにしている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば走査型の光学顕
微鏡に用いられる光電信号処理装置に関するものであ
る。
微鏡に用いられる光電信号処理装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、標本をレーザ光で走査するととも
に、その走査に同期して標本像を画像化するものとして
走査型顕微鏡が知られている。このような走査型顕微鏡
では、一般にレーザ走査されている標本の透過光または
反射光を光電子増倍管やフォトダイオードなどを有する
光変換回路により電気信号に変換し、さらにＡ／Ｄ変換
回路によりデジタルデータに変換したのちメモリに記憶
するような光電信号処理装置が設けられている。
に、その走査に同期して標本像を画像化するものとして
走査型顕微鏡が知られている。このような走査型顕微鏡
では、一般にレーザ走査されている標本の透過光または
反射光を光電子増倍管やフォトダイオードなどを有する
光変換回路により電気信号に変換し、さらにＡ／Ｄ変換
回路によりデジタルデータに変換したのちメモリに記憶
するような光電信号処理装置が設けられている。
【０００３】そして、この光電信号処理装置では、標本
上での光の走査位置を検出する走査位置検出回路の検出
信号に同期したサンプリングパルスを生成するサンプリ
ング回路を設けていて、このサンプリング回路より生成
されるサンプリングパルスによりＡ／Ｄ変換回路でのＡ
／Ｄ変換動作を制御することで、走査位置検出回路での
検出信号に同期したデジタルデータを出力するようにし
ている。
上での光の走査位置を検出する走査位置検出回路の検出
信号に同期したサンプリングパルスを生成するサンプリ
ング回路を設けていて、このサンプリング回路より生成
されるサンプリングパルスによりＡ／Ｄ変換回路でのＡ
／Ｄ変換動作を制御することで、走査位置検出回路での
検出信号に同期したデジタルデータを出力するようにし
ている。
【０００４】図２は、このようなサンプリング回路を有
する光電信号処理装置の具体例を示すもので、レーザ走
査されている標本の透過光または反射光は、光電変換回
路１に入力され、電気信号に変換され、Ａ／Ｄ変換回路
２に入力され、ここで後述するサンプリングパルス発生
回路６からのサンプリングパルスに同期してデジタルデ
ータに変換され、さらに、サンプリングパルス発生回路
６のサンプリングパルスに同期させて記憶回路３に記憶
され、その後、必要に応じて画像処理部４に転送され画
像処理が実行される。一方、走査位置検出回路５では、
標本上での光の走査位置を検出するもので、標本上の所
望位置に光が照射されたことを検出すると、サンプリン
グパルス発生回路６が起動されて、このサンプリングパ
ルス発生回路６より標本上での光の走査位置に対応する
サンプリングパルスが生成され、このサンプリングパル
スがＡ／Ｄ変換回路２にＡ／Ｄ変換の同期信号として与
えられるようになる。
する光電信号処理装置の具体例を示すもので、レーザ走
査されている標本の透過光または反射光は、光電変換回
路１に入力され、電気信号に変換され、Ａ／Ｄ変換回路
２に入力され、ここで後述するサンプリングパルス発生
回路６からのサンプリングパルスに同期してデジタルデ
ータに変換され、さらに、サンプリングパルス発生回路
６のサンプリングパルスに同期させて記憶回路３に記憶
され、その後、必要に応じて画像処理部４に転送され画
像処理が実行される。一方、走査位置検出回路５では、
標本上での光の走査位置を検出するもので、標本上の所
望位置に光が照射されたことを検出すると、サンプリン
グパルス発生回路６が起動されて、このサンプリングパ
ルス発生回路６より標本上での光の走査位置に対応する
サンプリングパルスが生成され、このサンプリングパル
スがＡ／Ｄ変換回路２にＡ／Ｄ変換の同期信号として与
えられるようになる。
【０００５】ここで、走査位置検出回路５に使用される
センサとしては、フォトダイオードやマルチプライヤな
どの光電変換素子や可変リアクタンスコイルや可変容量
コンデンサなどが使用される。
センサとしては、フォトダイオードやマルチプライヤな
どの光電変換素子や可変リアクタンスコイルや可変容量
コンデンサなどが使用される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな光電信号処理装置によると、仮に、サンプリングタ
イミング速度が高速化したような場合、走査位置検出回
路５がサンプリングすべき位置を検出しても、Ａ／Ｄ変
換回路２でＡ／Ｄ変換を完了するのは、変換時間（ＴDA
＋ＴDB）経過後となるため、実際にデータとして記憶回
路３に記憶されるデジタルデータは、走査位置検出回路
５で検出した位置に対応したものと異なるという問題点
があった。
うな光電信号処理装置によると、仮に、サンプリングタ
イミング速度が高速化したような場合、走査位置検出回
路５がサンプリングすべき位置を検出しても、Ａ／Ｄ変
換回路２でＡ／Ｄ変換を完了するのは、変換時間（ＴDA
＋ＴDB）経過後となるため、実際にデータとして記憶回
路３に記憶されるデジタルデータは、走査位置検出回路
５で検出した位置に対応したものと異なるという問題点
があった。
【０００７】ここで、変換時間（ＴDA＋ＴDB）は、次式
で表される時間を示している。 ＴDA＝ＴD2−ＴD1 …（１） ＴD1は、光電変換回路１に入力した光が電気回路に変換
されてＡ／Ｄ変換回路２に到達するまでの時間。または
光電変換回路１の応答時間。
で表される時間を示している。 ＴDA＝ＴD2−ＴD1 …（１） ＴD1は、光電変換回路１に入力した光が電気回路に変換
されてＡ／Ｄ変換回路２に到達するまでの時間。または
光電変換回路１の応答時間。
【０００８】ＴD2は、走査位置検出回路５がサンプリン
グ位置を検出してからＡ／Ｄ変換回路２にサンプリング
パルスが到達するまでの時間。 ＴDB＝ＴDB1 ＋ＴDB2 …（２） ＴDB1 は、Ａ／Ｄ変換回路２中においてサンプリングパ
ルスが入力してからデータをホールドするまでの時間。
グ位置を検出してからＡ／Ｄ変換回路２にサンプリング
パルスが到達するまでの時間。 ＴDB＝ＴDB1 ＋ＴDB2 …（２） ＴDB1 は、Ａ／Ｄ変換回路２中においてサンプリングパ
ルスが入力してからデータをホールドするまでの時間。
【０００９】ＴDB2 は、Ａ／Ｄ変換回路２でホールドさ
れたアナログデータを量子化してデジタルデータとして
出力端子より出力されるまでの時間。しかして、これら
（１）（２）式より、図３に示すように走査位置検出回
路５がサンプリング位置を検出してからＡ／Ｄ変換回路
２にサンプリングパルスが到達するまでの時間ＴD2とＡ
／Ｄ変換回路２中においてサンプリングパルスが入力し
てからデータをホールドするまでの時間ＴDB1 を加えた
ものが、光電変換回路１に入力した光が電気回路に変換
されてＡ／Ｄ変換回路２に到達するまでの時間ＴD1に等
しければ、つまり、ＴD1＝ＴD2＋ＴDB1 であれば、デー
タのずれはなくなることになるが、現実は、ＴDAにＴDB
1 を加えた（ＴDA＋ＴDB1 ）の範囲でずれを生じる。そ
して、このずれ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が正の値であれば、
走査位置検出回路５が検出した位置よりも後に走査した
位置のデータが記憶回路３に記憶され、一方、ずれ量
（ＴDA＋ＴDB1 ）が負の値であれば、走査位置検出回路
５が検出した位置よりも前に走査した位置のデジタルデ
ータが記憶回路３に記憶されることになり、いずれにし
ても所望する位置のデジタルデータを記憶できないこと
になる。
れたアナログデータを量子化してデジタルデータとして
出力端子より出力されるまでの時間。しかして、これら
（１）（２）式より、図３に示すように走査位置検出回
路５がサンプリング位置を検出してからＡ／Ｄ変換回路
２にサンプリングパルスが到達するまでの時間ＴD2とＡ
／Ｄ変換回路２中においてサンプリングパルスが入力し
てからデータをホールドするまでの時間ＴDB1 を加えた
ものが、光電変換回路１に入力した光が電気回路に変換
されてＡ／Ｄ変換回路２に到達するまでの時間ＴD1に等
しければ、つまり、ＴD1＝ＴD2＋ＴDB1 であれば、デー
タのずれはなくなることになるが、現実は、ＴDAにＴDB
1 を加えた（ＴDA＋ＴDB1 ）の範囲でずれを生じる。そ
して、このずれ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が正の値であれば、
走査位置検出回路５が検出した位置よりも後に走査した
位置のデータが記憶回路３に記憶され、一方、ずれ量
（ＴDA＋ＴDB1 ）が負の値であれば、走査位置検出回路
５が検出した位置よりも前に走査した位置のデジタルデ
ータが記憶回路３に記憶されることになり、いずれにし
ても所望する位置のデジタルデータを記憶できないこと
になる。
【００１０】このことは、特に、サンプリングタイミン
グ速度を高速化した、高速サンプリングシステムでは、
光電変換回路１の周波数帯域幅を広帯域化することか
ら、光電変換回路１に入力した光が電気回路に変換され
てＡ／Ｄ変換回路２に到達するまでの時間ＴD1を小さく
するように設計されるため、ずれ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が
正になることが多く、このため記憶回路３に記憶される
デジタルデータは、走査位置検出回路５が検出した位置
よりも後に走査した位置のものになるという問題点があ
った。
グ速度を高速化した、高速サンプリングシステムでは、
光電変換回路１の周波数帯域幅を広帯域化することか
ら、光電変換回路１に入力した光が電気回路に変換され
てＡ／Ｄ変換回路２に到達するまでの時間ＴD1を小さく
するように設計されるため、ずれ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が
正になることが多く、このため記憶回路３に記憶される
デジタルデータは、走査位置検出回路５が検出した位置
よりも後に走査した位置のものになるという問題点があ
った。
【００１１】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、サンプリングタイミング速度が高速化した場合も、
所望の走査位置に対応したデジタルデータを正確にサン
プリングすることができる光電信号処理装置を提供する
ことを目的とする。
で、サンプリングタイミング速度が高速化した場合も、
所望の走査位置に対応したデジタルデータを正確にサン
プリングすることができる光電信号処理装置を提供する
ことを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、標本から与え
られる反射光または透過光を電気信号に変換する光電変
換手段と、この光電変換手段で変換された電気信号を所
定時間遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延され
た電気信号をデジタルデータに変換するアナログ・デジ
タル変換手段と、前記標本上の光の走査位置を検出する
走査位置検出手段と、この走査位置検出手段の検出信号
に対応したサンプリングパルスを生成するサンプリング
パルス生成手段とを具備し、前記サンプリングパルス生
成手段のサンプリングパルスに同期させて前記アナログ
・デジタル変換手段でのデータ変換動作を制御するよう
に構成している。
られる反射光または透過光を電気信号に変換する光電変
換手段と、この光電変換手段で変換された電気信号を所
定時間遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延され
た電気信号をデジタルデータに変換するアナログ・デジ
タル変換手段と、前記標本上の光の走査位置を検出する
走査位置検出手段と、この走査位置検出手段の検出信号
に対応したサンプリングパルスを生成するサンプリング
パルス生成手段とを具備し、前記サンプリングパルス生
成手段のサンプリングパルスに同期させて前記アナログ
・デジタル変換手段でのデータ変換動作を制御するよう
に構成している。
【００１３】また、本発明では、遅延手段は、走査位置
検出手段が走査位置を検出してからアナログ・デジタル
変換手段にサンプリングパルスが到達するまでの時間を
ＴD2、入力した光が電気信号に変換されてアナログ・デ
ジタル変換手段に到達するまでの時間ＴD1、アナログ・
デジタル変換手段においてサンプリングパルスが入力し
てからデータホールドするまでの時間をＴDB1 とした場
合、ＴDA＝ＴD2−ＴD1とすると、（ＴDA＋ＴDB1 ）の遅
延時間を有するようにしている。また、本発明では、遅
延手段は、集中定数回路または群遅延回路により構成さ
れている。
検出手段が走査位置を検出してからアナログ・デジタル
変換手段にサンプリングパルスが到達するまでの時間を
ＴD2、入力した光が電気信号に変換されてアナログ・デ
ジタル変換手段に到達するまでの時間ＴD1、アナログ・
デジタル変換手段においてサンプリングパルスが入力し
てからデータホールドするまでの時間をＴDB1 とした場
合、ＴDA＝ＴD2−ＴD1とすると、（ＴDA＋ＴDB1 ）の遅
延時間を有するようにしている。また、本発明では、遅
延手段は、集中定数回路または群遅延回路により構成さ
れている。
【００１４】
【作用】この結果、本発明によれば、標本から与えられ
る反射光または透過光を光電変換手段で電気信号に変換
し、この電気信号を遅延手段により所定時間遅延させて
アナログ・デジタル変換手段に与え、一方、標本上の光
の走査位置を走査位置検出手段で検出すると、この検出
信号に対応したサンプリングパルスをサンプリングパル
ス生成手段により発生させ、このサンプリングパルスに
同期させて前記アナログ・デジタル変換手段でのデータ
変換動作を制御するようにしているので、標本上の所望
位置に正確に対応したデジタルデータをサンプリングす
ることができる。
る反射光または透過光を光電変換手段で電気信号に変換
し、この電気信号を遅延手段により所定時間遅延させて
アナログ・デジタル変換手段に与え、一方、標本上の光
の走査位置を走査位置検出手段で検出すると、この検出
信号に対応したサンプリングパルスをサンプリングパル
ス生成手段により発生させ、このサンプリングパルスに
同期させて前記アナログ・デジタル変換手段でのデータ
変換動作を制御するようにしているので、標本上の所望
位置に正確に対応したデジタルデータをサンプリングす
ることができる。
【００１５】また、本発明によれば、遅延手段による遅
延時間は、走査位置検出手段が走査位置を検出してから
アナログ・デジタル変換手段にサンプリングパルスが到
達するまでの時間をＴD2、入力した光が電気信号に変換
されてアナログ・デジタル変換手段に到達するまでの時
間ＴD1、アナログ・デジタル変換手段においてサンプリ
ングパルスが入力してからデータホールドするまでの時
間をＴDB1 とした場合、ＴDA＝ＴD2−ＴD1とすると、
（ＴDA＋ＴDB1 ）に設定されるので、サンプリングタイ
ミング速度の高速化により、ずれ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が
正になる場合にも、このずれ量を確実に補正することが
できる。また、本発明によれば、遅延手段として、集中
定数回路または群遅延回路を使用することにより、安定
した遅延時間を確保することができる。
延時間は、走査位置検出手段が走査位置を検出してから
アナログ・デジタル変換手段にサンプリングパルスが到
達するまでの時間をＴD2、入力した光が電気信号に変換
されてアナログ・デジタル変換手段に到達するまでの時
間ＴD1、アナログ・デジタル変換手段においてサンプリ
ングパルスが入力してからデータホールドするまでの時
間をＴDB1 とした場合、ＴDA＝ＴD2−ＴD1とすると、
（ＴDA＋ＴDB1 ）に設定されるので、サンプリングタイ
ミング速度の高速化により、ずれ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が
正になる場合にも、このずれ量を確実に補正することが
できる。また、本発明によれば、遅延手段として、集中
定数回路または群遅延回路を使用することにより、安定
した遅延時間を確保することができる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に従い説明す
る。図１は本発明を走査型顕微鏡に適用した光電信号処
理装置の概略構成を示すもので、図２と同一部分には、
同符号を付している。
る。図１は本発明を走査型顕微鏡に適用した光電信号処
理装置の概略構成を示すもので、図２と同一部分には、
同符号を付している。
【００１７】この場合、光電変換回路１とＡ／Ｄ変換回
路２の間に（ＴDA＋ＴDB1 ）に等しい遅延時間を有する
遅延回路７を接続するようにしている。この場合、遅延
回路７は、具体例として、集中定数回路のものでは、抵
抗とコンデンサからなる遅延回路やコイルとコンデンサ
からなる群遅延回路を用いることができ、また、分布定
数回路のものでは、ディレイラインを用いることができ
る。
路２の間に（ＴDA＋ＴDB1 ）に等しい遅延時間を有する
遅延回路７を接続するようにしている。この場合、遅延
回路７は、具体例として、集中定数回路のものでは、抵
抗とコンデンサからなる遅延回路やコイルとコンデンサ
からなる群遅延回路を用いることができ、また、分布定
数回路のものでは、ディレイラインを用いることができ
る。
【００１８】その他は、図２と同様である。しかして、
光電変換回路１にレーザ走査されている標本の透過光ま
たは反射光が入力されると、この入力された光は、光電
変換により電気信号に変換される。そして、この変換さ
れた電気信号は、遅延回路７に与えられる。この場合、
この遅延回路７は、（ＴDA＋ＴDB）に等しい遅延時間を
有することから、光電変換回路１から出力される電気信
号は、遅延時間（ＴDA＋ＴDB1 ）だけ遅延されてＡ／Ｄ
変換回路２に与えられる。
光電変換回路１にレーザ走査されている標本の透過光ま
たは反射光が入力されると、この入力された光は、光電
変換により電気信号に変換される。そして、この変換さ
れた電気信号は、遅延回路７に与えられる。この場合、
この遅延回路７は、（ＴDA＋ＴDB）に等しい遅延時間を
有することから、光電変換回路１から出力される電気信
号は、遅延時間（ＴDA＋ＴDB1 ）だけ遅延されてＡ／Ｄ
変換回路２に与えられる。
【００１９】一方、走査位置検出回路５では、標本上で
の光の走査位置を検出し、標本上の所望位置に光が照射
されたことを検出すると、サンプリングパルス発生回路
６が起動され、このサンプリングパルス発生回路６より
標本上での光の走査位置に対応するサンプリングパルス
が生成され、このサンプリングパルスがＡ／Ｄ変換回路
２に与えられる。これにより、Ａ／Ｄ変換回路２では、
サンプリングパルス発生回路６からのサンプリングパル
スを同期信号として、光電変換回路１より与えられる電
気信号をデジタルデータに変換するようになる。
の光の走査位置を検出し、標本上の所望位置に光が照射
されたことを検出すると、サンプリングパルス発生回路
６が起動され、このサンプリングパルス発生回路６より
標本上での光の走査位置に対応するサンプリングパルス
が生成され、このサンプリングパルスがＡ／Ｄ変換回路
２に与えられる。これにより、Ａ／Ｄ変換回路２では、
サンプリングパルス発生回路６からのサンプリングパル
スを同期信号として、光電変換回路１より与えられる電
気信号をデジタルデータに変換するようになる。
【００２０】そして、このＡ／Ｄ変換回路２からのデジ
タルデータは、サンプリングパルス発生回路６からのサ
ンプリングパルスに同期して記憶回路３に記憶され、そ
の後、必要に応じて画像処理部４に転送され画像処理が
実行される。
タルデータは、サンプリングパルス発生回路６からのサ
ンプリングパルスに同期して記憶回路３に記憶され、そ
の後、必要に応じて画像処理部４に転送され画像処理が
実行される。
【００２１】この場合、光電変換回路１から出力される
電気信号は、遅延時間（ＴDA＋ＴDB1 ）だけ遅延されて
Ａ／Ｄ変換回路２に与えられるので、サンプリングタイ
ミング速度の高速化によりずれ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が正
になる場合でも、このずれ量を遅延回路７の遅延時間
（ＴDA＋ＴDB1 ）により補正することができ、図３で述
べたＴD1＝ＴD2＋ＴDB1 の条件を満足できるようにな
る。これにより、記憶回路３には、走査位置検出回路５
による所望の位置に対応したデジタルデータをサンプリ
ングしたものを正確に記憶できることになる。
電気信号は、遅延時間（ＴDA＋ＴDB1 ）だけ遅延されて
Ａ／Ｄ変換回路２に与えられるので、サンプリングタイ
ミング速度の高速化によりずれ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が正
になる場合でも、このずれ量を遅延回路７の遅延時間
（ＴDA＋ＴDB1 ）により補正することができ、図３で述
べたＴD1＝ＴD2＋ＴDB1 の条件を満足できるようにな
る。これにより、記憶回路３には、走査位置検出回路５
による所望の位置に対応したデジタルデータをサンプリ
ングしたものを正確に記憶できることになる。
【００２２】従って、このような実施例によれば、レー
ザ走査される標本の透過光または反射光が光電変換回路
１に入力されると、電気信号に変換された後、遅延回路
７で遅延時間（ＴDA＋ＴDB1 ）だけ遅延してＡ／Ｄ変換
回路２に与えられ、一方、走査位置検出回路５で、標本
上での光の走査位置の検出により、標本上の所望位置に
光が照射されたことが検出されると、サンプリングパル
ス発生回路６が起動され、このサンプリングパルス発生
回路６より生成されるサンプリングパルスがＡ／Ｄ変換
回路２に与えられ、このサンプリングパルスを同期信号
として、光電変換回路１より与えられる電気信号がデジ
タルデータに変換されるようになるので、仮に、サンプ
リングタイミング速度の高速化によりずれ量（ＴDA＋Ｔ
DB1 ）が正になる場合も、このずれ量を遅延回路７の遅
延時間（ＴDA＋ＴDB1 ）により補正することができるこ
とになり、標本上の所望の位置に正確に対応したデジタ
ルデータをサンプリングしたものを記憶できるようにな
る。
ザ走査される標本の透過光または反射光が光電変換回路
１に入力されると、電気信号に変換された後、遅延回路
７で遅延時間（ＴDA＋ＴDB1 ）だけ遅延してＡ／Ｄ変換
回路２に与えられ、一方、走査位置検出回路５で、標本
上での光の走査位置の検出により、標本上の所望位置に
光が照射されたことが検出されると、サンプリングパル
ス発生回路６が起動され、このサンプリングパルス発生
回路６より生成されるサンプリングパルスがＡ／Ｄ変換
回路２に与えられ、このサンプリングパルスを同期信号
として、光電変換回路１より与えられる電気信号がデジ
タルデータに変換されるようになるので、仮に、サンプ
リングタイミング速度の高速化によりずれ量（ＴDA＋Ｔ
DB1 ）が正になる場合も、このずれ量を遅延回路７の遅
延時間（ＴDA＋ＴDB1 ）により補正することができるこ
とになり、標本上の所望の位置に正確に対応したデジタ
ルデータをサンプリングしたものを記憶できるようにな
る。
【００２３】
【発明の効果】この結果、本発明によれば、入力される
光を電気信号に変換する光電変換手段と、この光電変換
手段より出力される電気信号をデジタルデータに変換す
るアナログ・デジタル変換手段との間に、遅延時間（Ｔ
DA＋ＴDB1 ）に設定された遅延手段を介在させることに
より、サンプリングタイミング速度の高速化により、ず
れ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が正になる場合にも、このずれ量
を確実に補正することができるようになり、標本上の所
望の位置に正確に対応したデジタルデータをサンプリン
グしたものを記憶することができる。
光を電気信号に変換する光電変換手段と、この光電変換
手段より出力される電気信号をデジタルデータに変換す
るアナログ・デジタル変換手段との間に、遅延時間（Ｔ
DA＋ＴDB1 ）に設定された遅延手段を介在させることに
より、サンプリングタイミング速度の高速化により、ず
れ量（ＴDA＋ＴDB1 ）が正になる場合にも、このずれ量
を確実に補正することができるようになり、標本上の所
望の位置に正確に対応したデジタルデータをサンプリン
グしたものを記憶することができる。
【図１】本発明の一実施例の概略構成を示す図。
【図２】従来の光電信号処理装置の一例の概略構成を示
す図。
す図。
【図３】同光電信号処理装置の各部での時間遅れを説明
するための図。
するための図。
１…光電変換回路、 ２…Ａ／Ｄ変換回路、 ３…記憶回路、 ４…画像処理部、 ５…走査位置検出回路、 ６…サンプリングパルス発生回路、 ７…遅延回路。
Claims (3)
- 【請求項１】 標本から与えられる反射光または透過光
を電気信号に変換する光電変換手段と、 この光電変換手段で変換された電気信号を所定時間遅延
させる遅延手段と、 この遅延手段で遅延された電気信号をデジタルデータに
変換するアナログ・デジタル変換手段と、 前記標本上の光の走査位置を検出する走査位置検出手段
と、 この走査位置検出手段の検出信号に対応したサンプリン
グパルスを生成するサンプリングパルス生成手段とを具
備し、 前記サンプリングパルス生成手段のサンプリングパルス
に同期させて前記アナログ・デジタル変換手段でのデー
タ変換動作を制御することを特徴とする光電信号処理装
置。 - 【請求項２】 遅延手段は、走査位置検出手段が走査位
置を検出してからアナログ・デジタル変換手段にサンプ
リングパルスが到達するまでの時間をＴD2、入力した光
が電気信号に変換されてアナログ・デジタル変換手段に
到達するまでの時間ＴD1、アナログ・デジタル変換手段
においてサンプリングパルスが入力してからデータホー
ルドするまでの時間をＴDB1 とした場合、ＴDA＝ＴD2−
ＴD1とすると、（ＴDA＋ＴDB1 ）の遅延時間を有するこ
とを特徴とする請求項１記載の光電信号処理装置。 - 【請求項３】 遅延手段は、集中定数回路または群遅延
回路により構成されることを特徴とする請求項１または
２記載の光電信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30471394A JP3644993B2 (ja) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | 光電信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30471394A JP3644993B2 (ja) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | 光電信号処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08163440A true JPH08163440A (ja) | 1996-06-21 |
| JP3644993B2 JP3644993B2 (ja) | 2005-05-11 |
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ID=17936321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30471394A Expired - Fee Related JP3644993B2 (ja) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | 光電信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3644993B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0911637A2 (en) * | 1997-10-22 | 1999-04-28 | Ando Electric Co., Ltd. | Signal processing circuit for electro-optic probe |
| JP2001159734A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-06-12 | Olympus Optical Co Ltd | レーザ走査顕微鏡 |
| JP2002131646A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-05-09 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | 走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡 |
-
1994
- 1994-12-08 JP JP30471394A patent/JP3644993B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0911637A2 (en) * | 1997-10-22 | 1999-04-28 | Ando Electric Co., Ltd. | Signal processing circuit for electro-optic probe |
| EP0911637A3 (en) * | 1997-10-22 | 1999-12-01 | Ando Electric Co., Ltd. | Signal processing circuit for electro-optic probe |
| JP2001159734A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-06-12 | Olympus Optical Co Ltd | レーザ走査顕微鏡 |
| JP4667571B2 (ja) * | 1999-09-24 | 2011-04-13 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡 |
| JP2002131646A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-05-09 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | 走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
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