JP4407423B2 - レーザー顕微鏡 - Google Patents
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- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 43
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 12
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 7
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 7
- 102100038026 DNA fragmentation factor subunit alpha Human genes 0.000 description 6
- 101000950906 Homo sapiens DNA fragmentation factor subunit alpha Proteins 0.000 description 6
- 102100038023 DNA fragmentation factor subunit beta Human genes 0.000 description 5
- 101100277639 Homo sapiens DFFB gene Proteins 0.000 description 5
- 102100040862 Dual specificity protein kinase CLK1 Human genes 0.000 description 4
- 101000749294 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK1 Proteins 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 102100040844 Dual specificity protein kinase CLK2 Human genes 0.000 description 3
- 101000749291 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK2 Proteins 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 102100040856 Dual specificity protein kinase CLK3 Human genes 0.000 description 1
- 101000749304 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK3 Proteins 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000001917 fluorescence detection Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000012321 sodium triacetoxyborohydride Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
- G01N21/6458—Fluorescence microscopy
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
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- G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
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- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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Description
このような蛍光レーザー走査顕微鏡で標本を観察する場合、観察する標本にダメージを与えないために、照射(励起)する光をできるだけ弱くして蛍光画像を得ることが望ましい。そのため、蛍光の検出効率を高めて弱い蛍光でも画像化できるようにしている。
換言すれば、一方の積分器Aの積分期間に続くリセット期間を他方の積分器Bの積分期間とすることによって、ピクセルクロック1周期の全区間を積分期間に割り当てる。
さらに、換言すれば、ピクセルクロック1周期を2つの区間に分割して、第一区間を一方の積分器Aの積分期間に割り当て、第二区間において一方の積分器Aをリセットするとともに第二区間を他方の積分器Bの積分期間に割り当て、次のピクセルクロック1周期の第一区間において他方の積分器Bをリセットするとともに第一区間を一方の積分器Aの積分期間に割り当てる動作を繰り返し実行する。
これにより、ピクセルクロックPIXCLK1周期において積分器A、Bのリセット時間により輝度信号の積分時間が短縮されず、ピクセルクロックPIXCLK1周期の間、光検出器の輝度信号を積分することができるため、積分によるS/N比の改善効果が最大になり、標本から発せられる蛍光の検出効率を向上させることができる。
図6は一実施の形態の変形例の積分増幅回路12Aの詳細回路図である。また、図7は、図6に示す変形例の積分増幅回路12Aのタイミングチャートを示す。なお、図6において、図2に示す機器と同様な機器に対しては同一の符号を付して相違点を中心に説明する。この変形例の積分増幅回路12Aでは、図2に示すアナログ加算器124の代わりにマルチプレクサ141を用いる。マルチプレクサ141は、タイミング生成回路131から出力される切換信号SWにしたがって積分器A122とB123の出力を切り換える。すなわち、切換信号SWが“H”のときは積分器A122の出力を選択し、“L”のときは積分器B123の出力を選択する。それ以外の動作は図2に示す積分増幅回路12の動作と同様であり、説明を省略する。
図8は一実施の形態の他の変形例の積分増幅回路12Bの詳細回路図である。また、図9は、図8に示す他の変形例の積分増幅回路12Bのタイミングチャートを示す。なお、図8において、図2に示す機器と同様な機器に対しては同一の符号を付して相違点を中心に説明する。図2に示す積分増幅回路12では、積分器A122の出力と積分器B123の出力をデジタル信号に変換した後に加算する例を示した。この変形例の積分増幅回路12Bでは、積分器A122とB123の出力をそれぞれサンプルホールド回路S/HA151とS/HB152でサンプルホールドし、それらをアナログ加算器124で加算する。この加算値は1画素分を積分した出力になり、それをサンプルホールド回路S/HC153でサンプルホールドしてA/Dコンバーター126でA/D変換すると、1画素分の積分データ、すなわち光検出器11の1画素分の輝度の積分データになる。それ以外の動作は図2に示す積分増幅回路12の動作と同様であり、説明を省略する。
また、ピクセルクロックPIXCLKの1周期を等分せずに、各期間の長さがそれぞれ異なるようにしてもかまわない。
2 コリメーターレンズ
3 1stダイクロイックミラー
4 二次元走査光学系
5 対物レンズ
6 XYステージ
7 蛍光標本
8 スキャナードライバー
9 集光レンズ
10 蛍光フィルター
11 光検出器
12 積分増幅回路
13 同期信号発生回路
14 フレームメモリ
15 D/Aコンバーター
16 モニター
121 電圧電流変換器
122 リセット付き積分器A
123 リセット付き積分器B
124 アナログ加算器
125 サンプルホールド回路S/H
126 A/Dコンバーター
127 DフリップフロップDFF1
128 DフリップフロップDFF2
129 加算器
130 DフリップフロップDFF3
131 タイミング生成回路
132 インバーター
141 マルチプレクサ
151、152、153 サンプルホールド回路S/H
Claims (5)
- レーザー光を発する光源と、
前記光源から発せられたレーザー光を二次元に走査させながら標本に照射するとともに、前記標本から発せられた蛍光または反射光を集光する光学系と、
前記光学系により集光された前記標本からの蛍光または反射光を受光して輝度信号に変換する光検出器と、
クロック信号にしたがって前記光検出器の輝度信号を画素ごとに積分する積分回路と、
前記積分回路により積分した画素ごとの輝度信号により前記標本の画像を生成する画像生成回路とを備えたレーザー顕微鏡において、
前記積分回路は、入力された前記光検出器からの輝度信号を積分する積分器を複数個と、前記複数個の積分器からの出力を加算する加算器とを備え、前記クロック信号の1周期を複数の期間に区分した各期間において、前記積分器を順に切り換えながら前記輝度信号を積分するとともに、前記積分器により積分を行った期間の次の期間において前記積分器を順にリセットし、前記加算器により前記クロック信号の1周期におけるすべての前記積分器の出力を加算することを特徴とするレーザー顕微鏡。 - 請求項1に記載のレーザー顕微鏡において、
前記積分器により積分を行う期間を互いにオーバーラップさせることを特徴とするレーザー顕微鏡。 - 請求項1に記載のレーザー顕微鏡において、
前記加算器をデジタル加算器とすることを特徴とするレーザー顕微鏡。 - 標本にレーザー光を照射するレーザー光源と、
前記レーザー光を二次元に走査し、前記標本から発せられた蛍光または反射光を集光する光学系と、
前記光学系により集光された前記蛍光または反射光を受光して光電信号に変換する光検出器と、
クロック信号にしたがって前記光検出器の光電信号を、前記二次元走査した前記標本の画像の画素ごとに積分する積分回路と、
前記積分回路により積分された光電信号により、前記二次元走査した前記標本の画像を生成する画像生成回路とを備えたレーザー顕微鏡において、
前記積分回路は、第一および第二の積分器と、前記第一および第二の積分器の出力を加算する加算器とからなり、
前記積分回路は、前記第一の積分器の積分期間に続くリセット期間において、前記第二の積分器の積分期間を設定することで、前記クロック信号の1周期の全区間を積分期間に割り当てることを特徴とするレーザー顕微鏡。 - 標本にレーザー光を照射するレーザー光源と、
前記レーザー光源を二次元に走査し、前記標本から発せられた蛍光または反射光を集光する光学系と、
前記光学系により集光された前記蛍光または反射光を受光して光電信号に変換する光検出器と、
クロック信号にしたがって前記光検出器の光電信号を、前記二次元走査した前記標本の画像の画素ごとに積分する積分回路と、
前記積分回路により積分された光電信号により、前記二次元走査した前記標本の画像を生成する画像生成回路とを備えたレーザー顕微鏡において、
前記積分回路は、前記光検出器の光電信号を積分する第一および第二の積分器と、前記第一および前記第二の積分器の出力を加算する加算器とからなり、
前記積分回路は、前記クロック信号の1周期を第一区間と第二区間に分割して、前記第一区間を前記第一の積分器の積分期間に割り当て、前記第二区間において前記第一の積分器をリセットするとともに前記第二区間を前記第二の積分器の積分期間に割り当て、次の前記クロック信号の1周期の前記第一区間において前記第二の積分器をリセットするとともに該第一区間を前記第一の積分器の積分期間に割り当てる動作を繰り返し実行することを特徴とするレーザー顕微鏡。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004236100A JP4407423B2 (ja) | 2004-08-13 | 2004-08-13 | レーザー顕微鏡 |
DE102005037570A DE102005037570A1 (de) | 2004-08-13 | 2005-08-09 | Rastermikroskop und Lasermikroskop |
US11/200,170 US7193224B2 (en) | 2004-08-13 | 2005-08-10 | Scanning microscope and laser microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004236100A JP4407423B2 (ja) | 2004-08-13 | 2004-08-13 | レーザー顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006053096A JP2006053096A (ja) | 2006-02-23 |
JP4407423B2 true JP4407423B2 (ja) | 2010-02-03 |
Family
ID=35721750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004236100A Active JP4407423B2 (ja) | 2004-08-13 | 2004-08-13 | レーザー顕微鏡 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7193224B2 (ja) |
JP (1) | JP4407423B2 (ja) |
DE (1) | DE102005037570A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013122169A1 (ja) | 2012-02-15 | 2013-08-22 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型観察装置 |
JP2015094600A (ja) * | 2013-11-08 | 2015-05-18 | オリンパス株式会社 | 光検出回路および顕微鏡システム |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI258584B (en) * | 2003-12-09 | 2006-07-21 | Ind Tech Res Inst | Fluorescent-assisted tester |
WO2008010120A2 (en) * | 2006-07-17 | 2008-01-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Employing beam scanning for optical detection |
WO2008084647A1 (ja) * | 2007-01-10 | 2008-07-17 | Nikon Corporation | レーザー顕微鏡 |
DE102008010435B4 (de) * | 2008-02-21 | 2010-07-29 | Tecan Trading Ag | Datenerfassungsverfahren mit einem Laser Scanner-Gerät |
JP6063642B2 (ja) * | 2012-05-18 | 2017-01-18 | オリンパス株式会社 | 光検出装置 |
CN102706846B (zh) * | 2012-06-14 | 2014-09-03 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 近红外激光扫描共聚焦成像系统 |
JP6305115B2 (ja) * | 2013-03-21 | 2018-04-04 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡 |
JP6494196B2 (ja) | 2014-07-09 | 2019-04-03 | オリンパス株式会社 | サンプリング回路 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4293221A (en) * | 1979-04-17 | 1981-10-06 | Research Corporation | Multidimensional slit-scan flow system |
US5053626A (en) * | 1989-09-29 | 1991-10-01 | Boston University | Dual wavelength spectrofluorometer |
JP2516115B2 (ja) | 1991-08-28 | 1996-07-10 | 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社 | 蛍光パタ―ン読み取り装置 |
US7818129B2 (en) * | 2004-08-04 | 2010-10-19 | Agilent Technologies, Inc. | Detection of feature boundary pixels during array scanning |
-
2004
- 2004-08-13 JP JP2004236100A patent/JP4407423B2/ja active Active
-
2005
- 2005-08-09 DE DE102005037570A patent/DE102005037570A1/de not_active Withdrawn
- 2005-08-10 US US11/200,170 patent/US7193224B2/en active Active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013122169A1 (ja) | 2012-02-15 | 2013-08-22 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型観察装置 |
US9347871B2 (en) | 2012-02-15 | 2016-05-24 | Olympus Corporation | Laser scanning type observation apparatus having a delay circuit unit, a multi-stage delay setting unit and a decision unit |
JP2015094600A (ja) * | 2013-11-08 | 2015-05-18 | オリンパス株式会社 | 光検出回路および顕微鏡システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060033918A1 (en) | 2006-02-16 |
DE102005037570A1 (de) | 2006-02-23 |
US7193224B2 (en) | 2007-03-20 |
JP2006053096A (ja) | 2006-02-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070618 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121120 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151120 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151120 Year of fee payment: 6 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |