JP6275631B2 - パワーサイクル試験装置およびパワーサイクル試験方法 - Google Patents
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Description
本発明のさらに他の局面に係るパワーサイクル試験装置は、被試験デバイスへの電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、前記被試験デバイスに繰り返し温度変化を与える装置である。このパワーサイクル試験装置は、前記被試験デバイスに電力を印加するための電力印加部と、前記電力印加部による電力印加および前記電力印加の停止を制御する制御部と、を備えている。前記制御部は、前記試験サイクル毎の前記被試験デバイスへの電力印加が開始される温度である開始温度が、前記試験サイクルの繰り返しに伴って予め設定されたプロファイルに沿って変わるように、前記電力印加部による電力印加のタイミングを調整する。前記プロファイルは、前記開始温度が前記試験サイクル毎に低下する降温ステップを含む。前記制御部は、前記降温ステップにおける前記試験サイクル毎の前記開始温度を算出する。
本発明のさらに他の局面に係るパワーサイクル試験方法は、被試験デバイスへの電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、前記被試験デバイスに繰り返し温度変化を与える方法である。この方法では、前記試験サイクル毎の前記被試験デバイスへの電力印加が開始される温度である開始温度が、前記試験サイクルの繰り返しに伴って予め設定されたプロファイルに沿って変わるように、電力印加のタイミングが調整される。前記プロファイルは、前記開始温度が前記試験サイクル毎に低下する降温ステップを含む。前記降温ステップにおける前記試験サイクル毎の前記開始温度が算出される。
まず、本発明の一実施形態に係るパワーサイクル試験装置の構成について説明する。図1は、本実施形態に係るパワーサイクル試験装置1の構成を模式的に示している。図2は、試験対象となるIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)モジュール2の構成を模式的に示している。
次に、上記パワーサイクル試験装置1を用いて行われるパワーサイクル試験方法の手順について説明する。上記パワーサイクル試験方法では、図3のフローチャートに示すように、IGBTモジュール2への電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、IGBTモジュール2に繰り返し温度変化を与えることにより、所定の熱ストレスが与えられえる。
まず、昇温ステップについて説明する。はじめに、開始温度T1において制御コントローラ40からの指令によりIGBTモジュール2への電力印加が開始され、試験サイクルS1が開始される。これにより、Tj温度が上昇する。そして、一定時間が経過した後、制御コントローラ40からの指令によりIGBTモジュール2への電力印加が停止される。その後、冷却部30によりIGBTモジュール2が冷却され、Tj温度が低下する。この冷却中、Tj温度は一定の時間間隔で測定される。そして、Tj温度が、次の試験サイクルS2の開始温度T2(>T1)に到達した時点で試験サイクルS1が完了し、試験サイクルS2に移行する。
次に、温度維持ステップについて説明する。Tj温度が開始温度T4に到達した時点で制御コントローラ40からの指令によりIGBTモジュール2への電力印加が開始され、試験サイクルS4が開始される。これにより、Tj温度が上昇する。そして、一定時間経過後、制御コントローラ40からの指令により電力印加が停止される。その後、冷却部30によりIGBTモジュール2が冷却され、Tj温度が低下する。この冷却中、Tj温度は、上記昇温ステップと同様に一定の時間間隔で測定される。そして、Tj温度が開始温度T4と同じ温度である開始温度T5に到達した時点で試験サイクルS4が完了する。
次に、降温ステップについて説明する。Tj温度が開始温度T5に到達した時点で制御コントローラ40からの指令によりIGBTモジュール2への電力印加が開始され、試験サイクルS5が開始される。これにより、Tj温度が上昇する。そして、一定時間経過後、制御コントローラ40からの指令により電力印加が停止され、その後IGBTモジュール2が冷却される。この冷却中、上記昇温ステップおよび温度維持ステップと同様に、Tj温度は一定の時間間隔で測定される。そして、Tj温度が次の試験サイクルS6の開始温度T6(<T5)に到達した時点で試験サイクルS5が完了し、試験サイクルS6に移行する。
次に、上記パワーサイクル試験装置1およびこれを用いたパワーサイクル試験方法による作用効果について説明する。
最後に、上記本実施形態の変形例について、図5〜図7を参照して説明する。図5〜図7には、図4と同様に試験サイクル毎の開始温度を変化させる温度プロファイルが一点鎖線により示されており、横軸は時間を示し、縦軸はTj温度を示している。
Claims (12)
- 被試験デバイスへの電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、前記被試験デバイスに繰り返し温度変化を与えるパワーサイクル試験装置であって、
前記被試験デバイスに電力を印加するための電力印加部と、
前記電力印加部による電力印加および前記電力印加の停止を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、一の前記試験サイクルにおける電力印加の停止中の前記被試験デバイスの温度が、前記一の試験サイクルにおける電力印加の開始時の前記被試験デバイスの温度である開始温度と異なる所定の温度に到達した時点で、次の前記試験サイクルに移行するように、前記電力印加部による電力印加のタイミングを調整する、パワーサイクル試験装置。 - 前記制御部は、前記試験サイクル毎の前記開始温度が予め設定されたプロファイルに沿って変わるように、前記電力印加部による電力印加のタイミングを調整する、請求項1に記載のパワーサイクル試験装置。
- 前記制御部は、前記開始温度が前記試験サイクル毎に上昇する昇温ステップと、前記開始温度が前記試験サイクル毎に低下する降温ステップと、を含む前記プロファイルに沿って前記試験サイクル毎の前記開始温度が変わるように、前記電力印加部による電力印加のタイミングを調整する、請求項2に記載のパワーサイクル試験装置。
- 前記制御部は、前記開始温度が前記試験サイクル毎に維持される温度維持ステップをさらに含む前記プロファイルに沿って前記試験サイクル毎の前記開始温度が変わるように、前記電力印加部による電力印加のタイミングを調整する、請求項3に記載のパワーサイクル試験装置。
- 被試験デバイスへの電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、前記被試験デバイスに繰り返し温度変化を与えるパワーサイクル試験装置であって、
前記被試験デバイスに電力を印加するための電力印加部と、
前記電力印加部による電力印加および前記電力印加の停止を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記試験サイクル毎の前記被試験デバイスへの電力印加が開始される温度である開始温度が、前記試験サイクルの繰り返しに伴って予め設定されたプロファイルに沿って変わるように、前記電力印加部による電力印加のタイミングを調整し、
前記プロファイルは、前記開始温度が前記試験サイクル毎に上昇する昇温ステップを含み、
前記制御部は、前記昇温ステップにおける前記試験サイクル毎の前記開始温度を算出する、パワーサイクル試験装置。 - 被試験デバイスへの電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、前記被試験デバイスに繰り返し温度変化を与えるパワーサイクル試験装置であって、
前記被試験デバイスに電力を印加するための電力印加部と、
前記電力印加部による電力印加および前記電力印加の停止を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記試験サイクル毎の前記被試験デバイスへの電力印加が開始される温度である開始温度が、前記試験サイクルの繰り返しに伴って予め設定されたプロファイルに沿って変わるように、前記電力印加部による電力印加のタイミングを調整し、
前記プロファイルは、前記開始温度が前記試験サイクル毎に低下する降温ステップを含み、
前記制御部は、前記降温ステップにおける前記試験サイクル毎の前記開始温度を算出する、パワーサイクル試験装置。 - 被試験デバイスへの電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、前記被試験デバイスに繰り返し温度変化を与えるパワーサイクル試験方法であって、
一の前記試験サイクルにおける電力印加の停止中の前記被試験デバイスの温度が、前記一の試験サイクルにおける電力印加の開始時の前記被試験デバイスの温度である開始温度と異なる所定の温度に到達した時点で、次の前記試験サイクルに移行するように、電力印加のタイミングが調整される、パワーサイクル試験方法。 - 前記試験サイクル毎の前記開始温度が予め設定されたプロファイルに沿って変わるように、電力印加のタイミングが調整される、請求項7に記載のパワーサイクル試験方法。
- 前記開始温度が前記試験サイクル毎に上昇する昇温ステップと、前記開始温度が前記試験サイクル毎に低下する降温ステップと、を含む前記プロファイルに沿って前記試験サイクル毎の前記開始温度が変わるように、電力印加のタイミングが調整される、請求項8に記載のパワーサイクル試験方法。
- 前記開始温度が前記試験サイクル毎に維持される温度維持ステップをさらに含む前記プロファイルに沿って前記試験サイクル毎の前記開始温度が変わるように、電力印加のタイミングが調整される、請求項9に記載のパワーサイクル試験方法。
- 被試験デバイスへの電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、前記被試験デバイスに繰り返し温度変化を与えるパワーサイクル試験方法であって、
前記試験サイクル毎の前記被試験デバイスへの電力印加が開始される温度である開始温度が、前記試験サイクルの繰り返しに伴って予め設定されたプロファイルに沿って変わるように、電力印加のタイミングが調整され、
前記プロファイルは、前記開始温度が前記試験サイクル毎に上昇する昇温ステップを含み、
前記昇温ステップにおける前記試験サイクル毎の前記開始温度が算出される、パワーサイクル試験方法。 - 被試験デバイスへの電力印加およびその停止による試験サイクルを繰り返し、前記被試験デバイスに繰り返し温度変化を与えるパワーサイクル試験方法であって、
前記試験サイクル毎の前記被試験デバイスへの電力印加が開始される温度である開始温度が、前記試験サイクルの繰り返しに伴って予め設定されたプロファイルに沿って変わるように、電力印加のタイミングが調整され、
前記プロファイルは、前記開始温度が前記試験サイクル毎に低下する降温ステップを含み、
前記降温ステップにおける前記試験サイクル毎の前記開始温度が算出される、パワーサイクル試験方法。
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