JP6243110B2 - レーザー走査顕微鏡装置 - Google Patents
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レーザー光を2次元走査する走査光学素子と、
瞳位置を有し、3次元的に移動し得る対称物を有した試料に対してレーザー光を出射する対物レンズと、
レーザー光の光軸に対して対称に2分割された分割受光素子を有し、試料からの反射光あるいは透過光を受光する際に0次回折光と±1次回折光との干渉情報に変換される試料の屈折率分布や凸凹の情報を、これら分割受光素子間の差出力に反映して受光する受光素子と、
前記分割受光素子からの出力差の情報を取得してデータ処理すると共に、このデータ処理に基づき前記試料内の対象物に視点を合致させるデータ処理制御部と、
を含むことを特徴とするレーザー走査顕微鏡装置とされるものである。
該レーザー光を相互に異なる周波数の2つの光に変調させつつ、相互に異なる方向に出射する光変調器と、
2つの光を2次元走査する走査光学素子と、
瞳位置を有し、3次元的に移動し得る対称物を有した試料に対して2つの光を出射する対物レンズと、
前記光変調器と該対物レンズとの間に位置して、前記光変調器で相互に異なる方向に出射された各々の光を試料上で近接させる瞳伝達レンズ系と、
試料からの反射光あるいは透過光を受光し光電変換してビート信号を発生する受光素子と、
前記受光素子のビート信号に基づいて得られた2つの光同士の位相差およびビート信号自体の振幅を検出する信号比較器と、
前記信号比較器で検出された位相差による位相情報と振幅による強度情報を取得してデータ処理すると共に、このデータ処理に基づき前記試料内の対象物に視点を合致させるデータ処理制御部と、
を含むことを特徴とするレーザー走査顕微鏡装置とされるものである。
前記受光素子が、
前記ビームスプリッターで分離された光を受光する第1の受光素子と、
前記ビームスプリッターで反射した前記試料からの反射光を受光する第2の受光素子と、
を含み、
第1の受光素子で受光した変調信号と第2の受光素子で受光した出力信号とのビート信号を信号比較器で作成するものが好適である。
同じく、前記光変調器からの光を一部分離するビームスプリッターを有し、
前記受光素子が、
前記ビームスプリッターで分離された光を受光する第1の受光素子と、
前記試料からの透過光を受光する第2の受光素子と、
を含み、
第1の受光素子で受光した変調信号と第2の受光素子で受光した出力信号とのビート信号を信号比較器で作成するものが好適である。
方向に垂直な方向に少なくとも2分割された分割受光素子とされることが好適である。
また、本発明に係わる受光素子の出力は、前記受光素子の2分割以上された分割受光素
子のすべての分割受光素子の和信号、または2分割以上された分割受光素子の対応する
位置にある分割受光素子同士の差信号より取得することが好適である。
前記対象物の存在する対象領域を特定する第1の過程と、
該対象領域の強度情報を2値化して重心検出を行う第2の過程と、
前記強度情報のヒストグラムのばらつき程度を評価する第3の過程と、
該ばらつきの大きい方向を特定する第4の過程と、
よりなる各過程を有し、
搭載台を移動することで、第2の過程から算出された重心位置に前記試料内の対象物を動かし、
第4の過程により対物レンズをばらつきの大きい方向に動かすことが好適である。
また、本発明は、前記第4の過程において、対物レンズを微小振動させてばらつきの大きい方向に対物レンズを動かすことが好適である。
該近赤外レーザー光源からの赤外光を平行光とするコリメーターレンズと、
前記瞳伝達レンズ系と前記対物レンズとの間の光軸上に配し、かつ赤外光を反射して
試料側に送る副ビームスプリッターと、
を含むことが好適である。
また、本発明に係わる赤外カットフィルターが、前記受光素子と赤外光の導入光路と
の間に配置されたことが好適である。
DPC法および、DPC法とヘテロダイン法の融合方法によれば、1走査で3次元プロファイル情報を取得できるので、その情報をもとにして以下の演算がおこなわれる。
具体的には、3次元的に移動し得る対称物を有した試料からの画像を経時的に連続して取得して画像データを各フレーム毎に得ると共に、この対象物の演算領域を特定し、対象物の観察から得られた情報の差動信号を2値化して、重心座標X、Yの検出を行う。
X=Σxnnx/Σnx
Y=Σynny/Σny
ここで、xn,ynは、2値化された画素に対応するx座標、y座標であり、nx,nyは、x,y座標を占める画素の個数である。
この演算により算出した重心座標X、Yに基づき、対物レンズや試料を載せている移動ステージのx、y値を変化させて対象物を光軸に対して移動させ、視野の中心に対象物が常時位置するように制御する。
この際、対象物から検出された信号強度のコントラストのヒストグラムを重心座標X、Yのデータに基づき作成した場合、ばらつきの大きいものほど合焦点となる。特に、ヘテロダイン検波を用いた方法では、位相情報がプロファイルの傾きの方向を表しているので、合焦点付近では±90度程度の角度の値になる。例えば、信号強度のコントラストのヒストグラムは合焦点状態に対して鋭敏であり、これを使用するものの、位相情報を補足確認手段として使うこともできる。
これらの光学系が図1および図2に示す光学系と異なるのは、音響光学素子3によりきわめて接近した2つの光束を作成し、拡大率を適正にすることで、図4の実線で示すビームLAおよび点線で示すビームLBのように、非常に接近して相互に同一径とされる2つのビームとされて、試料Sに照射することができる。
さらに、このビームスプリッター7に隣り合って、2群のレンズからなる瞳伝達レンズ系10が位置し、この隣に対物レンズ11が試料Sと対向して配置されている。つまり、これら部材がレーザー光の光路とされる光軸Lに沿って並んでいることになる。
まず、上記した光学系によれば、3次元情報をリアルタイムに取得できるので、画像情報を構成するビデオ信号のフレーム間で動きのある物体と静止している背景とを容易に分離可能となる。たとえば、データ処理制御部14にてフレーム間での差算を行い、変化のある画素を残し、ある大きさ以上の領域を動いている物体の領域として同定することができる。この様にして第1の過程でまず、試料S中にいくつかある領域のうちの対象物S1の存在する対象領域を選択する。
X=Σxnnx/Σnx
Y=Σynny/Σny
ここで、xn,ynは、2値化された画素に対応するx座標、y座標であり、nx,nyは、x,y座標を占める画素の個数である。
この演算をフレームごとに行い、各フレームの各演算により算出した重心座標X、Yの値に基づき、試料Sを載せている搭載台である移動ステージ12のx、y値を変化させて対象物S1を光軸Lに対して移動させることができる。そして、例えば視野の中心である光軸L上に対象物S1が常時位置するように制御すれば、対象物S1を視野の中心である視点にほぼ制止している状態にできる。
ここで、図7はDPC法における透過光学系のブロック図を示し、図8はDPC法における反射光学系のブロック図を示し、図9はDPC法とヘテロダイン法とを組み合わせた透過光学系のブロック図を示し、図10はDPC法とヘテロダイン法とを方法を組み合わせた反射光学系のブロック図を示す。これら光学系は、実施例1で説明したものとほぼ同様であり、実施例1と異なる点を以下に述べる。
具体的には、ガラスやシリコン等の複屈折性の少ない素材を用いて、図11に示すように先端21Aが球状で伸縮素材になっているプレパラート21を採用する。このプレパラート21を図示しないカバーガラスに吸盤のように軟かく吸着するようにしておき、対象物S1の大きさよりも大きい径と深さの異なる数種の凹凸部22を先端21A間に設けた構造とする。
以上、本発明に係る実施の形態を説明したが、本発明は前述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
2 コリメーターレンズ
3 音響光学素子
4 AODドライバー
5 瞳伝達レンズ系
6 2次元走査デバイス
7 ビームスプリッター
8、9 受光素子
10 瞳伝達レンズ系
11 対物レンズ
12 移動ステージ
13 信号比較器
14 データ処理制御部
15 近赤外レーザー光源
16 コリメーターレンズ
17 副ビームスプリッター
18 カラーフィルター
21 プレパラート
22 凹凸部
S 試料
S1 対象物
Claims (13)
- レーザー光を出射するレーザー光源と、
レーザー光を2次元走査する走査光学素子と、
瞳位置を有し、3次元的に移動し得る対称物を有した試料に対してレーザー光を出射
する対物レンズと、
レーザー光の光軸に対して対称に2分割された分割受光素子を有し、試料からの反射
光あるいは透過光を受光する際に0次回折光と±1次回折光との干渉情報に変換される
試料の屈折率分布や凸凹の情報を、これら分割受光素子間の差出力に反映して受光する
受光素子と、
前記分割受光素子からの出力差の情報を取得してデータ処理すると共に、このデータ
処理に基づき前記試料内の対象物に視点を合致させるデータ処理制御部と、
を含むことを特徴とするレーザー走査顕微鏡装置。 - レーザー光を出射するレーザー光源と、
該レーザー光を相互に異なる周波数の2つの光に変調させつつ、相互に異なる方向に
出射する光変調器と、
2つの光を2次元走査する走査光学素子と、
瞳位置を有し、3次元的に移動し得る対称物を有した試料に対して2つの光を出射す
る対物レンズと、
前記光変調器と該対物レンズとの間に位置して、前記光変調器で相互に異なる方向に
出射された各々の光を試料上で近接させる瞳伝達レンズ系と、
試料からの反射光あるいは透過光を受光し光電変換してビート信号を発生する受光素
子と、
前記受光素子のビート信号に基づいて得られた2つの光同士の位相差およびビート信
号自体の振幅を検出する信号比較器と、
前記信号比較器で検出された位相差による位相情報と振幅による強度情報を取得して
データ処理すると共に、このデータ処理に基づき前記試料内の対象物に視点を合致させ
るデータ処理制御部と、
を含むことを特徴とするレーザー走査顕微鏡装置。 - 前記光変調器からの光を一部分離すると共に前記試料からの反射光を反射するビーム
スプリッターを有し、
前記受光素子が、
前記ビームスプリッターで分離された光を受光する第1の受光素子と、
前記ビームスプリッターで反射した前記試料からの反射光を受光する第2の受光素子
と、
を含み、
第1の受光素子で受光した変調信号と第2の受光素子で受光した出力信号とのビート
信号を信号比較器で作成することを特徴とする請求項2記載のレーザー走査顕微鏡装置
。 - 前記光変調器からの光を一部分離するビームスプリッターを有し、
前記受光素子が、
前記ビームスプリッターで分離された光を受光する第1の受光素子と、
前記試料からの透過光を受光する第2の受光素子と、
を含み、
第1の受光素子で受光した変調信号と第2の受光素子で受光した出力信号とのビート
信号を信号比較器で作成することを特徴とする請求項2記載のレーザー走査顕微鏡装置
。 - 前記信号比較器が、
前記光変調器に印加された変調信号と前記受光素子の出力信号とのビート信号を作成
することで、該ビート信号に基づいて得られた2つの光同士の位相差とビート信号自体
の振幅を検出することを特徴とする請求項2記載のレーザー走査顕微鏡装置。 - 前記光変調器は、前記レーザー光源から出射されたレーザー光を入射させる音響光学
素子と該音響光学素子にキャリア交流信号(fc)と正弦波信号(fm)を印加する信
号発生器とを含むことを特徴とする請求項2から5のいずれかに記載のレーザー走査顕
微鏡装置。 - 前記走査光学素子は、ガルバノミラー、レゾナントミラーの1次元走査素子、2つの
1次元走査デバイスと瞳伝達レンズ系よりなる2次元走査光学系、あるいは、1次元ま
たは2次元のマイクロミラーデバイスとされることを特徴とする請求項1から6のいず
れかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。 - 前記受光素子は、前記光変調器で異なる方向に出射された光の分離方向に垂直な方向
に少なくとも2分割された分割受光素子とされることを特徴とする請求項3から6のい
ずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。 - 前記受光素子の出力は、前記受光素子の2分割以上された分割受光素子のすべての分
割受光素子の和信号、または2分割以上された分割受光素子の対応する位置にある分割
受光素子同士の差信号より取得することを特徴とする請求項1から8のいずれかに記載
のレーザー走査顕微鏡装置。 - 搭載台に前記試料が載せられたレーザー走査顕微鏡装置であって、
前記対象物の存在する対象領域を特定する第1の過程と、
該対象領域の強度情報を2値化して重心検出を行う第2の過程と、
前記強度情報のヒストグラムのばらつき程度を評価する第3の過程と、
該ばらつきの大きい方向を特定する第4の過程と、
を含む各過程を有し、
搭載台を移動することで、第2の過程から算出された重心位置に前記試料内の対象物
を動かし、
第4の過程により対物レンズを該ばらつきの大きい方向に動かすことを特徴とする請
求項1から9のいずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。 - 前記第4の過程において、対物レンズを微小振動させて前記ヒストグラムのばらつき
の大きい方向に対物レンズを動かすことを特徴とする請求項10記載のレーザー走査顕
微鏡装置。 - 赤外光を出射する近赤外レーザー光源と、
該近赤外レーザー光源からの赤外光を平行光とするコリメーターレンズと、
前記瞳伝達レンズ系と前記対物レンズとの間の光軸上に配し、かつ赤外光を反射して
試料側に送る副ビームスプリッターと、
を含むことを特徴とする請求項2〜6、8のいずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装
置。 - 赤外カットフィルターが、前記受光素子と赤外光の導入光路との間に配置されたこと
を特徴とする請求項12記載のレーザー走査顕微鏡装置。
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