JP5973777B2 - レーザー走査顕微鏡装置 - Google Patents
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Description
本発明は上記背景に鑑みてなされたもので、近接したビームを得ると同時にビート周波数を高くして、分解能と走査速度を著しく向上させるレーザー走査顕微鏡装置を提供することを目的とする。
さらには、実質上、回折限界以上の分解能を有する顕微鏡装置を実現するとともに、ビーム利用効率の低下を招かない光学系を実現したレーザー走査顕微鏡装置を提供することをも目的とする。
該レーザー光を相互に異なる周波数の2つの光に変調させつつ相互に異なる方向に出射する光変調器と、
前記2つの光を1次元走査あるいは2次元走査する走査素子面を有する走査光学素子と、
前記光変調器から出射された2つの光を拡大し、かつ、前記光変調器の回折光出射面と該走査素子面とを共役な配置とするように、前記光変調器と該走査光学素子との間に位置する瞳伝達拡大レンズ系と、
瞳位置を有し、配置されている対象物に2つの光を出射する対物レンズと、
前記走査光学素子の走査素子面と該対物レンズの瞳位置とを共役な配置とするように、前記走査光学素子と該対物レンズとの間に位置する瞳伝達レンズ系と、
前記対象物からの反射光あるいは透過光を受光する受光素子と、
前記受光素子で受光した光を光電変換して各々のビート信号を作成する光電変換部と、
前記光電変換部のビート信号に基づいて得られた信号の位相差または強度差を検出する信号比較器と、
前記信号比較器の位相情報または強度情報を取得して得たデータに基づき処理を行うデータ処理部と、
を含むことを特徴とするレーザー走査顕微鏡装置とされるものである。
第1の受光素子が、前記走査光学素子と共役な位置に配置され、かつ、瞳伝達拡大レンズ系から送られ前記ビームスプリッターで反射されて分離された光を受光し、
第2の受光素子が、前記光変調器と共役な位置に配置され、かつ、前記対象物から反射されて、前記対物レンズおよび前記瞳伝達レンズ系を経て前記ビームスプリッターにおいて反射された光を受光するものが好適である。
さらに、本発明においては、前記信号比較器が、光電変換された信号のうち前記2つの光の周波数差に相当するビート信号の位相または強度と前記対象物がないかあるいは前記対象物があっても影響がないほど前記対物レンズをデフォーカスした状態での信号との位相差または強度差を検出するものが好適である。
さらに、本発明に係わる受光素子は、前記光変調器により相互に異なる方向に出射された2つの光の分離方向に少なくとも2分割以上された複数の受光素子であるものが好適である。
また、本発明においては、前記光電変換部で作成されたビート信号は、前記受光素子の2分割以上された複数の受光素子のすべての受光素子の和信号、または、2分割以上された分割素子の対応する位置にある受光素子同士の差信号より取得することが好適である。
レーザー光源から出射されたレーザー光を相互に異なる周波数の2つの光に変調させつつ相互に異なる方向に光変調器が出射する。つまり、周波数fcと周波数fmの電気信号で光変調器である音響光学素子を駆動すると、周波数fcをキャリアとするAM変調により、周波数fc+fmと周波数fc-fmを有する2つのビームが発生する。キャリア周波数である周波数fcを数十MHz程度とし、数MHz程度の周波数fmを付与すると、音響光学素子のブラッグ回折角はかなり大きくなる。
この2つの近接したビームによるビート信号は、対象物が反射物体である場合には、音響光学素子とほぼ共役な位置に配置された受光素子により取得することができ、対象物が透過物体である場合には、ファーフィールドではあるが対象物からあまり離れていない位置に配置した受光素子により取得することができる。
また、透過型にすれば、生物や細胞を生きたままリアルタイムかつ高い分解能で観察、計測できるので、細胞等を不活性化して計測する電子顕微鏡にはない大きな特徴ともなる。
図1は、本実施例に係るレーザー走査顕微鏡装置の構成を示すブロック図である。この図1に示すように、光学系として、レーザー光が出射されるレーザー光源1と光を分離するための光変調器である音響光学変調素子(AOD)4との間に、コリメーターレンズ2及びビーム整形光学系3が配置されている。これらレーザー光源1および音響光学変調素子4は制御基板14にそれぞれ接続されていて、この制御基板14により動作がそれぞれ制御されるようになる。音響光学素子4に、キャリア交流信号としての周波数fcと正弦波信号としての変調周波数fmを制御基板14に内臓の信号発生器が印加する。
回折光が第1の瞳伝達拡大レンズ系6の光軸Lを通るよう、音響光学変調素子4から第1の瞳伝達拡大レンズ系6への入射角にθの傾きを持たせる。また、第1の瞳伝達拡大レンズ系6は2群のレンズからなるのに伴い、入射側レンズ群の焦点距離をfin 出射側レンズ群の焦点距離をfoutとしている。
Ea=Aexpj(2π(fo+fc+fm)t)
Eb=Bexpj(2π(fo+fc-fm)t+δ)
この複素振幅Ebの式のδは、ビームLAのスポットAを基準としたビームLBのスポットBの高さ方向の位相差を表わし、foは光の周波数を表す。なお、前述したように、この2つのスポット間隔は、音響光学変調素子4に加えた変調周波数fmと拡大光学系の倍率m4によって決定されるので、走査速度とは無関係である。
I=(Ea+Eb)(Ea+Eb)*=A2+B2+2ABcos(2π*2fmt+δ)
したがって、信号比較器21を用いて、周波数2fmのヘテロダイン検波の位相比較を行うことにより、位相差δを測定することができる。このようにすれば、変調周波数fmを高くし、かつ、ビームを非常に接近させることができるので、横分解能を高くすることができると同時に、データの取得を高速に行うことができる。
さて、上記のように音響光学変調素子にキャリア信号fcと変調信号fmの掛け算信号(DSB変調)を与えると、実質上、回折光は2つの僅かに分離したfc±fmの周波数を持った光となる。対物レンズで収束されるとΔxだけ分離した2つのビームとなり、各ビームプロファイルをu(x)とする。この場合、対物レンズから離れた場所では、表面プロファイルとビームプロファイルの積のフーリエ変換となる。
E=∫(Aejθ(x) u(x)ejkxdx・ej(ωc-ωm)t+Aejθ(x+Δx) u(x)ejkxdx・ej(ωc+ωm)tとなる。
I(k)=A2∫ej(θ(x)-θ(x'+Δx') u(x) u(x’) ejk(x-x')dxdx’e-j2ωmt
+A2∫e-j(θ(x)-θ(x'+Δx') u(x) u(x’) ejk(x-x')dxdx’ej2ωmt・・・・・(1)式
ここでまず、2つの受光素子の和信号がどのようになるかを考える。対象物Sから離れた位置では、フーリエ変換面であると考えられるので、受光素子で受光できる最大空間周波数をKmaxとすると、和信号では強度Iが下記式から求められる。
I=∫I(k)dk(積分範囲は-KmaxからKmax)
=A2∫cos(θ(x)−θ(x’+Δx’)−2ωmt) u(x) u(x’)sin(Kmax(x-x’))/(x-x’)dxdx’
sin(Kmax(x-x’))/(x-x’)=Kδ(x-x’)となるので、以下の(2)式のようになる。
I=A2∫cos(θ(x) −θ(x+Δx) −2ωmt) u(x)2dx・・・・・(2)式
(2)式を変形すると下記の式を得る。
Iq=A2∫cos(θ(x)−θ(x+Δx) u(x)2dx・cos(2ωmt)
Ii=A2∫sin(θ(x)−θ(x+Δx) u(x)2dx・sin(2ωmt)
Θ=tan-1(∫sin(θ(x)−θ(x+Δx)) u(x)2dx/∫cos(θ(x)−θ(x+Δx)) u(x)2dx)・・・・・(3)式
I=∫I(k)dk(積分範囲は0からKmax)−∫I(k)dk(積分範囲は−Kmaxから0)
=A2∫sin(θ(x)−θ(x’+Δx’)−2ωmt) u(x) u(x’)( cos(Kmax(x-x’)-1)/(x-x’)dxdx’
(cos(Kmax(x-x’)-1)/(x-x’)=δ’(x-x’)+1/x(δ(x)-1)となるので、下記(4)式のようになる。
I=A2∫d/dx(sin(θ(x)―θ(x+Δx)―2ωmt) )u(x)2dx・・・・・(4)式
さらに、この(4)式を変形すると、下記のようになる。
Iq=A2∫d/dx(sin(θ(x)−θ(x+Δx)) u(x)2dx・cos(2ωmt)
Ii=−A2∫d/dx(cos(θ(x)−θ(x+Δx)) u(x)2dx・sin(2ωmt)
Θ=tan-1(−∫d/dx(cos(θ(x)−θ(x+Δx)) u(x)2dx/∫d/dx(sin(θ(x)−θ(x+Δx))u(x)2dx)・・・・・(5)式
まず、(3)式では、ビームの中心距離Δxだけ離れた2点の位相差をu(x)の重み関数で、平滑化した結果として得られる位相差を示しているので、ビーム内の平均的な位相差を示している。これは、微分干渉顕微鏡と等価な処理である。
図4は、本実施例のレーザー走査顕微鏡装置に係る光学系のブロック図を示している。対象物Sの表面からの反射戻り光は、対物レンズ16の開口によって制限されるため、対物レンズの開口によってケラレた空間周波数の高い成分は受光素子19に戻らない。このため、図4に示すように、本実施例では対物レンズ16と対象物Sとの間に、対物レンズ16を入出射する光束をケラないよう受光素子26を組み込む構造にする。
この受光素子19は、前述のように音響光学変調素子4によるビームを分離する方向に少なくとも2分割されている。この構成により受光素子19は、対物レンズ16の対象物S側に受光素子を配置したことと等価となる。従って、受光素子19と受光素子26により、対象物Sの表面からの反射光を空間周波数の高い成分まで取り込むことが可能となる。
図5は、本実施例のレーザー走査顕微鏡装置に係る光学系のブロック図を示している。実施例1の受光素子24と光電変換部25を図5に示すように取り払い、対象物Sが配置されていないか、あるいは、対象物Sがあってもかなりデフォーカスした状態でレーザーを走査する。このことで、位相差を受光素子19により取得し、画面内の位置情報とともにデータ処理部22内のメモリーに蓄えるようにする。
図6は、この透過型のレーザー走査顕微鏡装置に係る光学系のブロック図を示している。主要な光学系は実施例1と同じなので説明を割愛するが、図6に示す本実施例では、対物レンズ16で集光された光は透過することになるので、対象物Sを挟んで対物レンズ16と対向して受光素子28が配置されることが特徴である。そして、この受光素子28は、対物レンズ16の光軸Lを中心として音響光学変調素子4によりビームが分離された方向に沿ってそれぞれ設置された、少なくとも2つ以上の受光素子から成る。
図7は、この透過型のレーザー走査顕微鏡装置に係る光学系のブロック図を示している。実施例3と同じように実施例4の受光素子24と光電変換部25を取り払い、対象物Sが配置されていないか、あるいは、対象物Sがあってもかなりデフォーカスした状態でレーザーを走査する。このことで、位相差を受光素子28により取得し、画面内の位置情報とともにデータ処理部22内のメモリーに蓄えるようにする。
この位相情報は、光学系、電気系の有する位相ずれであるので、これを基準値として、対象物Sのある場合の位相情報を補正することにより、真の位相情報を取得することができる。
図8は、このレーザー走査顕微鏡装置に係る光学系のブロック図を示している。本図では実施例5の第2の瞳伝達拡大光学系12および第2の1次元走査ディバイス13を省略した形となっており、対象物Sの位置の設置されたマイクロ流路などの流路方向を第1の1次元走査ディバイス11の走査方向に対して垂直な方向、図8では図面に対し垂直な方向になるようマイクロ流路などを配置する。
図9は、本実施例で適用される空間変調器を示した概念図である。この図9(A)に示すような空間変調器53を構成する磁性ガーネット膜53Aをピクセルごとに電圧または電流により駆動できるように、電極(図示せず)を付して、この空間変調器53を図1における音響光学変調素子4の位置に配置する。そして、磁性ガーネット膜53Aの各ピクセルに電圧、電流を印加することで、磁気光学効果によって各ピクセルの偏光面が回転するが、この偏光面の回転の程度は、印加する電圧、電流の大きさにより決定される。このような構造の空間変調器53として、ピクセル数が128×128であり、15nsの応答速度を有しているものがある。
Acos{2π/d(x−vt)}=A/2(expj{2π/d(x−vt)}+expj{−2π/d(x−vt)})
このため、±1次回折光がfm=±2πv/dの変調周波数を有することになる。尚、強度の場合には、0次の直流成分が生じるが、DC成分なので、ビート信号に影響はない。
上述の実施例のように瞳伝達拡大光学系を用いることにより、高速走査可能なレーザー走査顕微鏡装置を提供可能となるが、一方で拡大光学系を用いたことにより、レーザー光束の利用効率が低下する問題が発生する。
シリンドリカルレンズの曲率方向となる、音響光学変調素子4の回折、及び1次元走査ディバイス11、13の走査方向には、瞳伝達拡大光学系となるが、曲率のない音響光学変調素子4の回折、及び1次元走査ディバイス11、13の走査方向には光学系として機能しない。したがって、曲率方向にビームは拡大するが、これに垂直な方向は拡大に寄与せず、また光の強度は面積に反比例するため、ビームの利用効率が大幅に向上する。
2 コリメーターレンズ
3 ビーム整形光学系
4 音響光学変調素子
6 第1の瞳伝達拡大レンズ系
7 ピンホール
8 制限開口
9 ビームスプリッター
11 第1の1次元走査ディバイス
12 第2の瞳伝達拡大レンズ系
13 第2の1次元走査ディバイス
14 制御基板
15 第3の瞳伝達拡大レンズ系
16 対物レンズ
18 シリンドリカルレンズ
19 受光素子
20 光電変換部
21 信号比較器
22 データ処理部
23 ディスプレー
24 受光素子
25 光電変換部
26 受光素子
27 光電変換部
28 受光素子
29 光電変換部
53 空間変調器
53A 磁性ガーネット膜
S 対象物
Claims (12)
- レーザー光を出射するレーザー光源と、
該レーザー光を相互に異なる周波数の2つの光に変調させつつ相互に異なる方向に出射する光変調器と、
前記2つの光を1次元走査あるいは2次元走査する走査素子面を有する走査光学素子と、
前記光変調器から出射された2つの光を拡大し、かつ、前記光変調器の回折光出射面と該走査素子面とを共役な配置とするように、前記光変調器と該走査光学素子との間に位置する瞳伝達拡大レンズ系と、
瞳位置を有し、配置されている対象物に2つの光を出射する対物レンズと、
前記走査光学素子の走査素子面と該対物レンズの瞳位置とを共役な配置とするように、前記走査光学素子と該対物レンズとの間に位置する瞳伝達レンズ系と、
前記対象物からの反射光あるいは透過光を受光する受光素子と、
前記受光素子で受光した光を光電変換して各々のビート信号を作成する光電変換部と、
前記光電変換部のビート信号に基づいて得られた信号の位相差または強度差を検出する信号比較器と、
前記信号比較器の位相情報または強度情報を取得して得たデータに基づき処理を行うデータ処理部と、
を含むことを特徴とするレーザー走査顕微鏡装置。 - 瞳伝達拡大レンズ系と走査光学素子との間にビームスプリッターが配置され、受光素子が第1の受光素子および第2の受光素子からなり、
第1の受光素子が、前記走査光学素子と共役な位置に配置され、かつ、瞳伝達拡大レンズ系から送られ前記ビームスプリッターで反射されて分離された光を受光し、
第2の受光素子が、前記光変調器と共役な位置に配置され、かつ、前記対象物から反射されて、前記対物レンズおよび前記瞳伝達レンズ系を経て前記ビームスプリッターにおいて反射された光を受光することを特徴とする請求項1記載のレーザー走査顕微鏡装置。 - 前記信号比較器が、光電変換された信号のうち前記2つの光の周波数差に相当するビート信号の位相または強度と前記対象物がないかあるいは前記対象物があっても影響がないほど前記対物レンズをデフォーカスした状態での信号との位相差または強度差を検出することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のレーザー走査顕微鏡装置。
- 前記光変調器は、
前記レーザー光源から出射されたレーザー光が入射させる音響光学素子と、
前記音響光学素子にキャリア交流信号と正弦波信号を印加する信号発生器と、
を含むことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。 - 前記光変調器は、
前記レーザー光源から出射されたレーザー光が入射させる空間光変調器と、
前記空間光変調器に振幅または位相情報として正弦波状の格子縞を書き込み、キャリア交流信号と正弦波信号を印加して、前記格子縞を一定方向に移動させる信号発生器と、
を含むことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。 - 前記走査光学素子は、ガルバノミラー、レゾナントミラーによる1次元走査素子、2つの1次元走査ディバイスと瞳伝達レンズ系よりなる2次元走査光学系、あるいは、1次元走査または2次元走査のマイクロミラーディバイスよりなることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。
- 前記受光素子は、前記光変調器により相互に異なる方向に出射された2つの光の分離方向に少なくとも2分割以上された複数の受光素子であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。
- 前記光電変換部で作成されたビート信号は、前記受光素子の2分割以上された複数の受光素子のすべての受光素子の和信号、または、2分割以上された分割素子の対応する位置にある受光素子同士の差信号より取得することを特徴とする請求項7記載のレーザー走査顕微鏡装置。
- 前記走査光学素子の走査素子面と対物レンズの瞳位置とを共役な配置とする瞳伝達レンズ系が、拡大光学系とされることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。
- 前記走査光学素子が、1次元走査光学素子を2つ組み合わせて2次元走査光学素子とされることを特徴とする請求項9記載のレーザー走査顕微鏡装置。
- 前記光変調器の回折光出射面と前記走査光学素子の走査素子面とを共役な配置とする瞳伝達拡大レンズ系が、光変調器により回折された方向に曲率を持つシリンドリカルレンズを含むレンズ系とされることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれかに記載のレーザー走査顕微鏡装置。
- 前記光変調器側寄りの1次元走査光学素子が、光変調器により回折された方向と同じ方向に走査するとき、前記走査光学素子の瞳位置が共役な配置となる瞳伝達レンズ系が、前記光変調器により回折された方向に曲率を持つシリンドリカルレンズを含むレンズ系とされることを特徴とする請求項10記載のレーザー走査顕微鏡装置。
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