JP6217748B2 - 屈折率測定装置 - Google Patents
屈折率測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6217748B2 JP6217748B2 JP2015523687A JP2015523687A JP6217748B2 JP 6217748 B2 JP6217748 B2 JP 6217748B2 JP 2015523687 A JP2015523687 A JP 2015523687A JP 2015523687 A JP2015523687 A JP 2015523687A JP 6217748 B2 JP6217748 B2 JP 6217748B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement light
- display
- processing unit
- display screen
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 126
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000009420 retrofitting Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/20—Drawing from basic elements, e.g. lines or circles
- G06T11/206—Drawing of charts or graphs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/4133—Refractometers, e.g. differential
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
2 検出器
3 光源部
4 第1光学系
5 第2光学系
6 モータ
7 円板
8 ミラー
9 レンズ
10 オートコリメーションプリズム
31 光源
32 ミラー
41 レンズ
42,43,44 ミラー
45 干渉フィルタ
46 スリット
47 コリメータレンズ
50 テレメータ部
51,52 ミラー
53 テレメータレンズ
54 ビームスプリッタ
61 回転軸
100 制御部
101 走査処理部
102 屈折率測定処理部
103 表示処理部
200 カメラ
300 表示部
301 表示画面
311 グラフ
312 撮像画像
313 撮像切替キー
314 拡大表示キー
315 開始キー
316 中止キー
Claims (5)
- Vブロックプリズムを介して試料に測定光を照射することにより試料の屈折率を測定するVブロック方式の屈折率測定装置であって、
試料を透過する前の測定光が通過し、試料を透過した後の測定光は通過しないスリットと、
試料を透過した測定光を検出する検出器と、
試料を透過した測定光を撮像するカメラと、
試料を透過した測定光が前記検出器に導かれるまでの光路上に設けられたビームスプリッタと、
前記検出器により検出される測定光の検出強度を表すグラフ、及び、前記ビームスプリッタを介して前記カメラにより撮像される前記スリットを通過した測定光の線状の画像を、1つの表示画面にリアルタイムで表示させる表示処理部と、
一定速度でモータを回転させて、試料から出射する測定光を受光する角度、又は、試料に入射する測定光の角度を変化させることにより走査を行う走査処理部と、
前記走査処理部により回転される前記モータの回転角と前記検出器における検出強度とに基づいて、試料の屈折率を測定する屈折率測定処理部とをさらに備え、
前記表示処理部は、前記走査処理部による走査に伴い変化する前記検出器の検出強度をグラフとして連続的に描画するように前記表示画面にリアルタイムで表示させるとともに、前記カメラにより撮像される線状の画像を前記表示画面上で走査に伴い移動するようにリアルタイムで表示させることを特徴とする屈折率測定装置。 - 前記表示処理部は、前記走査処理部による走査が終了した後は、前記検出器の検出強度が最も高くなったときの前記カメラによる撮像画像を前記表示画面に表示させることを特徴とする請求項1に記載の屈折率測定装置。
- 前記表示処理部は、前記表示画面に対する前記カメラにより撮像される画像の表示を開始又は停止させるための撮像切替キーを前記表示画面に表示させることを特徴とする請求項1又は2に記載の屈折率測定装置。
- 前記表示処理部は、前記カメラにより撮像される画像を前記表示画面に別画面で拡大表示させるための拡大表示キーを前記表示画面に表示させることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の屈折率測定装置。
- 前記表示処理部は、前記走査処理部による走査を停止させるための中止キーを前記表示画面に表示させることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の屈折率測定装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2013/067270 WO2014207809A1 (ja) | 2013-06-24 | 2013-06-24 | 屈折率測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2014207809A1 JPWO2014207809A1 (ja) | 2017-02-23 |
JP6217748B2 true JP6217748B2 (ja) | 2017-10-25 |
Family
ID=52141216
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015523687A Active JP6217748B2 (ja) | 2013-06-24 | 2013-06-24 | 屈折率測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9940740B2 (ja) |
JP (1) | JP6217748B2 (ja) |
WO (1) | WO2014207809A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10416077B2 (en) | 2016-02-08 | 2019-09-17 | Shimadzu Corporation | V-block refractometer |
DE102016203891B4 (de) * | 2016-03-09 | 2019-07-11 | Numares Ag | Verfahren zur Durchführung einer NMR-Messung und NMR-Spektrometer-Anordnung |
JP6791081B2 (ja) | 2017-09-26 | 2020-11-25 | 株式会社島津製作所 | 屈折率測定装置及び屈折率測定方法 |
JP2019060714A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社島津製作所 | 液体試料測定用アタッチメント、屈折率測定装置及び屈折率測定方法 |
EP3729058B1 (en) * | 2018-10-18 | 2021-09-22 | Polymer Characterization, S.A. | Deflection-type refractometer with extended measurement range |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58200209A (ja) * | 1982-05-19 | 1983-11-21 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型分光分析顕微鏡 |
JPS63188744A (ja) | 1987-01-31 | 1988-08-04 | Hoya Corp | 光学屈折率の示差型自動測定装置 |
JPH1048056A (ja) * | 1996-08-05 | 1998-02-20 | Seitai Hikari Joho Kenkyusho:Kk | 屈折率計 |
EP1155294A1 (en) * | 1999-02-23 | 2001-11-21 | Teraprobe Limited | Method and apparatus for terahertz imaging |
JP2000356558A (ja) | 1999-06-11 | 2000-12-26 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 残留応力のその場観察装置 |
US6172746B1 (en) | 1999-10-27 | 2001-01-09 | Leica Microsystems Inc. | Transmitted light refractometer |
JP2002207004A (ja) | 2001-01-09 | 2002-07-26 | Mitsutoyo Corp | 画像測定機 |
FR2902307B1 (fr) * | 2006-06-14 | 2008-08-29 | Quidd Sas | Dispositif d'imagerie optique |
JP5168168B2 (ja) * | 2009-01-22 | 2013-03-21 | パナソニック株式会社 | 屈折率測定装置 |
JP5333158B2 (ja) | 2009-11-09 | 2013-11-06 | 株式会社島津製作所 | 液体試料配置機構、それを用いた屈折率測定装置及び屈折率測定方法 |
JP5316387B2 (ja) * | 2009-12-04 | 2013-10-16 | ソニー株式会社 | 情報処理装置、表示方法及びプログラム |
JP2011193752A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Hiroshima Univ | 細胞活性分析装置及び細胞活性分析方法、並びに細胞同定方法 |
JP2011220903A (ja) * | 2010-04-13 | 2011-11-04 | Panasonic Corp | 屈折率測定方法および屈折率測定装置 |
KR101141099B1 (ko) * | 2010-09-08 | 2012-05-02 | 광주과학기술원 | 초점 이탈 이미징을 이용한 미세 굴절계 |
CN103119420B (zh) * | 2010-09-16 | 2015-05-27 | 夏普株式会社 | 折射率测定装置和折射率测定方法 |
JP5806540B2 (ja) | 2011-07-26 | 2015-11-10 | オリンパス株式会社 | 波長分布測定装置 |
US9494410B2 (en) * | 2013-12-05 | 2016-11-15 | National Taiwan University | Method for measuring characteristics of sample |
CN107110778B (zh) * | 2014-10-31 | 2020-01-07 | 康宁股份有限公司 | 对圆柱形玻璃体的折射率分布进行高精度测量 |
JP6552041B2 (ja) * | 2015-07-16 | 2019-07-31 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、屈折率算出方法、及び、プログラム |
-
2013
- 2013-06-24 WO PCT/JP2013/067270 patent/WO2014207809A1/ja active Application Filing
- 2013-06-24 US US14/900,371 patent/US9940740B2/en active Active
- 2013-06-24 JP JP2015523687A patent/JP6217748B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2014207809A1 (ja) | 2017-02-23 |
WO2014207809A1 (ja) | 2014-12-31 |
US9940740B2 (en) | 2018-04-10 |
US20160163077A1 (en) | 2016-06-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100923059B1 (ko) | 편심량 측정 방법 | |
JP6217748B2 (ja) | 屈折率測定装置 | |
US8823926B2 (en) | Method and apparatus for visualizing a signature mark on a spectacle lens | |
JP4943946B2 (ja) | 偏芯量測定装置 | |
US10754139B2 (en) | Three-dimensional position information acquiring method and three-dimensional position information acquiring apparatus | |
CN1168971C (zh) | 双折射测定方法及其装置 | |
JP7023677B2 (ja) | 実質的に水平な側方視で、走査型プローブ顕微鏡の試料とプローブとの間のギャップを撮像する走査型プローブ顕微鏡及び方法 | |
JP2006171024A (ja) | 多点蛍光分光測光顕微鏡および多点蛍光分光測光方法 | |
JP6759869B2 (ja) | 検査装置 | |
JP2008139062A (ja) | 分光測定装置よび分光測定方法 | |
US10416077B2 (en) | V-block refractometer | |
CN103299231A (zh) | 光扫描系统 | |
JP7150867B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
JP5983880B2 (ja) | Vブロック方式の屈折率測定装置 | |
WO2015064098A1 (ja) | 全反射顕微鏡 | |
JP6791081B2 (ja) | 屈折率測定装置及び屈折率測定方法 | |
JP2010091468A (ja) | 収差測定装置 | |
JP2010145313A (ja) | オートコリメータ装置 | |
JP5983881B2 (ja) | Vブロック方式の屈折率測定装置並びにこれに用いられる屈折率算出装置及び屈折率算出方法 | |
JP2006162462A (ja) | 画像測定装置 | |
JP2006030070A (ja) | 膜厚検査装置 | |
KR102336453B1 (ko) | 복수의 fov 구현이 가능한 결함 판별장치 | |
JPWO2019244275A1 (ja) | 観察装置 | |
JP2019190851A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP5941824B2 (ja) | 測光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20151110 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161108 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170105 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170530 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170725 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170829 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170911 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6217748 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |