図1は、本発明の第1の実施の形態に係る基板処理装置1の正面図である。図2は、基板処理装置1の平面図である。図2では、基板処理装置1の向きを図1から変更している。基板処理装置1は、半導体基板9(以下、単に「基板9」という。)を1枚ずつ処理する枚葉式の装置である。基板処理装置1では、基板9に対して液体が吐出されて所定の処理が行われる。本実施の形態では、基板9上に洗浄液の液滴を吐出することにより、基板9上からパーティクル等を除去する洗浄処理が行われる。
図1および図2に示すように、基板処理装置1は、基板保持部21と、カップ部22と、基板回転機構23と、処理液供給部3と、ヘッド移動機構35と、待機ポッド4と、吐出検査部5と、チャンバ6と、制御ユニットとを備える。チャンバ6は、基板保持部21、カップ部22、基板回転機構23、処理液供給部3、ヘッド移動機構35、待機ポッド4および吐出検査部5等の構成を内部空間60に収容する。チャンバ6は、外部から内部空間60への光の入射を遮る遮光チャンバである。図1および図2では、チャンバ6を破線にて示し、チャンバ6の内部を図示している(図18においても同様)。
基板保持部21は、チャンバ6内において基板9の一方の主面91(以下、「上面91」という。)を上側に向けた状態で基板9を保持する。基板9の上面91には、回路パターン等の微細パターンが形成されている。カップ部22は、基板9および基板保持部21の周囲を囲む略円筒状の部材である。基板回転機構23は、基板保持部21の下方に配置される。基板回転機構23は、基板9の中心を通るとともに基板9の上面91に垂直な回転軸を中心として、基板9を基板保持部21と共に水平面内にて回転する。
処理液供給部3は、外部混合型の二流体ノズルである吐出部34と、吐出部34に処理液を供給する処理液配管32と、吐出部34に圧縮空気等の気体を供給する気体配管33とを備える。図2では、処理液配管32および気体配管33の図示を省略する。処理液としては、純水(好ましくは、脱イオン水(DIW:deionized water))、炭酸水、アンモニア水と過酸化水素水との混合液等の液体が利用される。
吐出部34は、上下方向に延びる中心軸J3を中心とする略円柱状である。吐出部34は、カップ部22の内側において基板保持部21の上方に配置される。吐出部34の下面は、カップ部22の上部開口220と、基板9の上面91との間に位置する。吐出部34の下面からは、下方の基板9に向けて処理液が吐出され、基板9に上述の洗浄処理が行われる。
図3は、吐出部34の下面341を示す底面図である。吐出部34の下面341には、液体吐出口342と、気体吐出口343とが設けられる。液体吐出口342は、中心軸J3を中心とする略円環状かつスリット状である。気体吐出口343も、中心軸J3を中心とする略円環状かつスリット状である。液体吐出口342は、気体吐出口343の径方向内側(すなわち、中心軸J3に近い側)に位置する。
処理液供給部3では、処理液配管32(図1参照)から吐出部34に供給された処理液が、液体吐出口342から吐出される。また、気体配管33(図1参照)から吐出部34に供給された気体が、液体吐出口342の周囲の気体吐出口343から噴射される。気体吐出口343から噴射された気体が、液体吐出口342から吐出された処理液に衝突することにより、多数の処理液の液滴が生成される。当該液滴は、吐出部34から基板9に向けてスプレー状に噴射される。吐出部34から下方に向けて噴射される液滴の分布領域は、中心軸J3に垂直な平面(すなわち、水平面)において、中心軸J3を中心とする略円環状である。当該液滴の分布領域の内径および外径は、吐出部34から下方に離れるに従って大きくなる。
図1および図2に示すように、ヘッド移動機構35は、アーム351と、回転軸352と、ヘッド回転機構353と、ヘッド昇降機構354とを備える。アーム351は、回転軸352から水平方向に延びる。アーム351の先端部には、吐出部34が取り付けられる。ヘッド回転機構353は、吐出部34をアーム351と共に回転軸352を中心として水平方向に回転移動する。ヘッド昇降機構354は、吐出部34をアーム351と共に上下方向に移動する。ヘッド回転機構353は、例えば、電動モータを備える。ヘッド昇降機構354は、ボールねじ機構および電動モータを備えており、吐出部34を精密に位置決めすることができる。ヘッド昇降機構354は、エアシリンダを備えるものであってもよい。
図4は、制御ユニット7の機能を示すブロック図である。図4では、制御ユニット7以外の構成も併せて描いてる。制御ユニット7は、処理制御部71と、検査制御部72と、検査演算部73とを備える。処理制御部71により、基板回転機構23、処理液供給部3およびヘッド移動機構35等が制御されることにより、基板9の処理が行われる。検査制御部72により、処理液供給部3、ヘッド移動機構35および吐出検査部5等が制御されることにより、吐出部34からの処理液の吐出動作の検査が行われる。検査演算部73は、吐出検査部5の一部であり、輪郭抽出部76と、判定枠設定部74と、判定部75とを備える。輪郭抽出部76、判定枠設定部74および判定部75は、上述の吐出動作の検査に利用される。
図1および図2に示す基板処理装置1において基板9の処理が行われる際には、まず、基板9がチャンバ6内に搬入されて基板保持部21により保持される。基板9の搬入時には、吐出部34は、図2に二点鎖線にて示すように、カップ部22の外側に設けられた待機ポッド4上の待機位置にて待機している。図5は、待機位置に位置する吐出部34を待機ポッド4と共に拡大して示す側面図である。待機ポッド4は、略直方体の容器であり、上部に開口が設けられる。待機位置では、吐出部34の一部が、上記開口を介して待機ポッド4内に挿入される。また、後述する検査位置に位置する吐出部34を二点鎖線にて示す。図1および図2に示すように、基板9が基板保持部21により保持されると、処理制御部71(図4参照)により基板回転機構23が駆動され、基板9の回転が開始される。
続いて、処理制御部71により、ヘッド回転機構353およびヘッド昇降機構354が駆動され、吐出部34が待機位置から上昇し、カップ部22の上方へと移動した後に下降する。これにより、吐出部34が、カップ部22の上部開口220を介してカップ部22の内側かつ基板保持部21の上方へと移動する。次に、吐出部34から基板9の上面91に向けて処理液の吐出(すなわち、液滴の噴射)が開始される。
吐出部34から基板9に向けて噴射された多数の液滴は、基板9の上面91に衝突する。そして、基板9の上面91に付着しているパーティクル等の異物が、処理液の液滴の衝突による衝撃により基板9上から除去される。
基板処理装置1では、処理液の吐出と並行して、ヘッド回転機構353による吐出部34の回転移動が行われる。吐出部34は、回転中の基板9の中央部の上方と基板9の外縁部の上方との間にて、水平に往復移動を繰り返す。これにより、基板9の上面91全体に対して洗浄処理が行われる。基板9の上面91に供給された処理液は、基板9の回転により、除去された異物と共に基板9のエッジへと移動し、基板9のエッジから外側へと飛散する。基板9から飛散した処理液は、カップ部22により受けられて廃棄または回収される。
吐出部34からの処理液による所定の処理(すなわち、基板9の洗浄処理)が終了すると、処理液の吐出が停止される。吐出部34は、ヘッド昇降機構354によりカップ部22の上部開口220よりも上側まで上昇し、ヘッド回転機構353により、基板9の上方から待機ポッド4の上方の検査位置へと回転移動する。検査位置は、上述の待機位置の上方の位置である。当該検査位置において、吐出検査部5により、定期的に、または、必要に応じて、吐出部34からの処理液の吐出動作の検査が行われる。
図6は、検査位置における吐出部34、および、吐出部34の周囲に配置される吐出検査部5を示す斜視図である。吐出検査部5は、光出射部51と、撮像部52とを備える。光出射部51および撮像部52は、吐出部34の真下を避けて、吐出部34の斜め下方に配置される。光出射部51および撮像部52は、図4に示すように、制御ユニット7の検査制御部72により制御される。
図6に示す光出射部51は、光源と、当該光源からの光を略水平方向に延びる線状光に変換する光学系とを備える。光源としては、例えば、レーザダイオードやLED(light emitting diode)素子が利用される。光出射部51は、予め定められた仮想面である光存在面に沿って、吐出部34の下方に向けて光を出射する。図6では、光出射部51の光軸J1を一点鎖線にて描き、光出射部51から出射される面状の光の輪郭を、符号510を付す二点鎖線にて示す。
光出射部51からの面状光510は、吐出部34の下面341近傍にて、吐出部34の真下を通過する。基板処理装置1では、検査制御部72から処理液供給部3に所定の駆動信号が送出され、吐出部34から待機ポッド4(図5参照)の内部に向けて処理液が吐出される。そして、検査位置に位置する吐出部34から吐出される処理液の複数の液滴である複数の飛翔体が、上述の光存在面を通過する(すなわち、面状光510を通過する)際に、光出射部51から処理液(すなわち、上記複数の飛翔体)に光が照射される。面状光510は、吐出部34からの処理液の設計上の吐出方向(すなわち、上下方向)におよそ垂直である。厳密には、面状光510(すなわち、光存在面)は、処理液の設計上の吐出方向に垂直な平面に対して、僅かな角度(例えば、5°〜10°)だけ傾斜していることが好ましい。
撮像部52は、上記光存在面よりも下方にて、撮像軸J2を吐出部34の下方に位置する面状光510に向けて配置される。撮像部52における撮像方向(すなわち、撮像軸J2が向く方向)は、処理液の設計上の吐出方向に垂直な平面に対して傾斜している。撮像部52としては、例えば、CCD(charge-coupled device)カメラが利用される。撮像部52は、面状光510を通過する処理液を撮像することにより、処理液(すなわち、複数の飛翔体)上に現れる複数の輝点が分布する輝点分布領域を含む検査画像を取得する。吐出検査部5では、撮像部52による撮像結果から、1フレームの静止画であるフレーム画像が検査画像として抽出される。
図7は、検査画像8を示す図である。検査画像8では、略楕円環状の輝点分布領域83に図示省略の複数の輝点が分布する。図7では、輝点分布領域83の輪郭831,832を太実線にて示し、輝点分布領域83に平行斜線を付す(図8ないし図17においても同様)。以下の説明では、輝点分布領域83の外側の輪郭831を「外輪郭831」と呼び、内側の輪郭832を「内輪郭832」と呼ぶ。外輪郭831および内輪郭832はそれぞれ、略楕円状である。内輪郭832は外輪郭831の内側に位置する。
外輪郭831および内輪郭832は、上述のフレーム画像から輪郭抽出部76(図4参照)により抽出される。輪郭抽出部76では、上述のフレーム画像に対してラプラシアン処理を行って輪郭成分(すなわち、輪郭の候補)を抽出し、所定の閾値にて2値化処理を行うことにより、外輪郭831および内輪郭832が取得される。この場合、上記閾値として、背景のノイズ等を検知することなく、外輪郭831および内輪郭832を確実に抽出できる値を予め設定しておく。
輪郭抽出部76では、輪郭抽出時におけるノイズ等の影響を低減または防止するために、輪郭成分の抽出よりも前に、フレーム画像に対して平均化処理やメディアンフィルタ処理を行うことにより、フレーム画像からノイズを除去しておくことが好ましい。さらには、フレーム画像において輝点分布領域83を含む監視領域を設定し、監視領域外を輪郭抽出の対象領域から除外することも好ましい。これにより、輪郭抽出部76による外輪郭831および内輪郭832の抽出に要する時間が短縮される。その結果、吐出検査部5による吐出動作の良否判定に要する時間を短縮することができる。
輪郭抽出部76による外輪郭831および内輪郭832の抽出は、他の様々な方法により行われてもよい。例えば、上記輪郭成分は、フレーム画像に対して微分処理やソーベルフィルタ処理を行うことにより抽出されてもよい。また、外輪郭831および内輪郭832の抽出は、フレーム画像上における輝点分布領域83の輪郭上の複数の点を、作業者が画面上等にてクリックして指示し、当該複数の点を結ぶことにより行われてもよい。換言すれば、外輪郭831および内輪郭832は、作業者により入力されてもよい。
続いて、図8に示すように、検査画像8上において輝点分布領域83の外輪郭831に対応する正常吐出判定枠851と、内輪郭832に対応する正常吐出判定枠852とが、判定枠設定部74(図4参照)により検査画像8上に設定される。以下の説明では、正常吐出判定枠851,852をそれぞれ「第1正常吐出判定枠851」および「第2正常吐出判定枠852」という。
第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852はそれぞれ、略楕円環状である。第2正常吐出判定枠852は、第1正常吐出判定枠851の径方向内側に、第1正常吐出判定枠851から離間して配置される。第2正常吐出判定枠852の外縁は、第1正常吐出判定枠851の内縁よりも径方向内側に位置する。第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852はそれぞれ、吐出部34から設計上の吐出方向へと、あるいは、当該吐出方向から許容範囲内のずれ量で僅かにずれた方向へと処理液が吐出された場合に、筒状のスプレー状の処理液の外側面および内側面が通過する面状光510上の領域を示す。
検査画像8上における第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の位置は、例えば、外輪郭831および内輪郭832の設計上の位置(以下、「設計輪郭位置」という。)に基づいて求められる。設計輪郭位置は、検査位置における吐出部34の設計位置および向き、吐出部34の下面341における液体吐出口342および気体吐出口343の形状および位置、設計上の処理液の吐出方向およびスプレー状の処理液の広がり、面状光510の位置、並びに、撮像部52の位置および向きに基づいて、基板処理装置1において設定された3次元座標系における位置として求められる。換言すれば、吐出部34、光出射部51および撮像部52の相対位置に基づいて、設計輪郭位置の座標が求められる。
続いて、設計輪郭位置の座標を、ビュー変換行列を用いてビュー変換することにより、撮像部52を原点とした3次元座標系における設計輪郭位置の座標が求められる。次に、ビュー変換された設計輪郭位置の座標を、透視投影変換することにより、検査画像8上の2次元座標系における設計輪郭位置の座標が取得される。なお、基板処理装置1では、撮像部52に非テレセントリック光学系が利用されているため、上述のように、透視投影変換が行われるが、撮像部52にテレセントリック光学系が利用される場合、ビュー変換された設計輪郭位置の座標を正射影(平行射影または平行投影ともいう。)することにより、検査画像8上における設計輪郭位置の座標が取得される。
第1正常吐出判定枠851は、外輪郭831に対応する設計輪郭位置の内側および外側に広がる略楕円環状の領域として設定される。第1正常吐出判定枠851のうち、外輪郭831に対応する設計輪郭位置よりも内側の部位の幅(すなわち、径方向の幅)は、当該設計輪郭位置よりも外側の部位の幅におよそ等しい。第2正常吐出判定枠852は、内輪郭832に対応する設計輪郭位置の内側および外側に広がる略楕円環状の領域として設定される。第2正常吐出判定枠852のうち、内輪郭832に対応する設計輪郭位置よりも内側の部位の幅は、当該設計輪郭位置よりも外側の部位の幅におよそ等しい。
図8に示すように、第1正常吐出判定枠851と第2正常吐出判定枠852とは、互いに重なることなく検査画像8上に配置される。なお、検査画像8上において第1正常吐出判定枠851と第2正常吐出判定枠852とが重なる場合は、第1正常吐出判定枠851と第2正常吐出判定枠852とが互いに重複しなくなるまで、撮像部52の位置や向き、光出射部51からの面状光510の位置や向き等が変更され、第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の設定が繰り返される。
第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の設定が終了すると、判定部75(図4参照)により、第1正常吐出判定枠851内における輝点分布領域83の外輪郭831の存否情報、すなわち、第1正常吐出判定枠851内に外輪郭831が存在するか否かを示す情報が取得される。判定部75では、外輪郭831について、ラスタスキャン等の通常の輪郭追跡が行われ、外輪郭831と第1正常吐出判定枠851との位置関係が取得される。そして、外輪郭831の全体が第1正常吐出判定枠851内に存在する、外輪郭831の一部のみが第1正常吐出判定枠851内に存在する、あるいは、第1正常吐出判定枠851内には外輪郭831が全く存在しない等の存否情報が取得される。
また、判定部75により、第2正常吐出判定枠852内における輝点分布領域83の内輪郭832の存否情報、すなわち、第2正常吐出判定枠852内に内輪郭832が存在するか否かを示す情報が取得される。判定部75では、内輪郭832について、ラスタスキャン等の通常の輪郭追跡が行われ、内輪郭832と第2正常吐出判定枠852との位置関係が取得される。そして、内輪郭832の全体が第2正常吐出判定枠852内に存在する、内輪郭832の一部のみが第2正常吐出判定枠852内に存在する、あるいは、第2正常吐出判定枠852内には内輪郭832が全く存在しない等の存否情報が取得される。
検査演算部73では、第1正常吐出判定枠851内における外輪郭831の存否情報、および、第2正常吐出判定枠852内における内輪郭832の存否情報に基づいて、吐出部34における吐出動作の良否が、判定部75により判定される。判定部75による検査画像8に基づく当該吐出動作の良否判定の具体例については、図8ないし図17を参照しつつ以下に説明する。
図8に示すように、輝点分布領域83の外輪郭831全体が第1正常吐出判定枠851内に存在し、内輪郭832全体が第2正常吐出判定枠852内に存在する場合、吐出部34における処理液の吐出動作は良好であると判定される。一方、図9に示すように、第1正常吐出判定枠851内および第2正常吐出判定枠852内に外輪郭831および内輪郭832が存在しておらず、かつ、検査画像8上の他の領域にも外輪郭831および内輪郭832が存在しない場合、すなわち、検査画像8上に輝点分布領域83が存在しない場合、吐出部34から処理液が吐出されない不吐出の吐出不良が発生していると判定される。吐出不良の発生は、報知部79(図4参照)を通じて作業者等に通知される。以下の様々な吐出不良の場合においても同様に、吐出不良の発生は報知部79を通じて作業者等に通知される。
図10の場合、輝点分布領域83の外輪郭831全体は、第1正常吐出判定枠851内に存在する。しかしながら、輝点分布領域83の内輪郭832の一部は、第2正常吐出判定枠852よりも径方向外側の領域に存在し、内輪郭832の他の一部は、第2正常吐出判定枠852よりも径方向内側の領域に存在する。したがって、処理液の複数の液滴の分布が周方向において許容できる程度よりも大きく偏る吐出不良が発生していると判定される。当該吐出不良は、例えば、液体吐出口342からの処理液の吐出、または、気体吐出口343からの気体の噴出が、周方向において不均一である場合に発生する(図11の場合も同様)。
図11の場合、輝点分布領域83の内輪郭832全体は、第2正常吐出判定枠852内に存在する。しかしながら、輝点分布領域83の外輪郭831の一部は、第1正常吐出判定枠851よりも径方向外側の領域に存在し、外輪郭831の他の一部は、第1正常吐出判定枠851よりも径方向内側の領域に存在する。したがって、処理液の複数の液滴の分布が周方向において許容できる程度よりも大きく偏る吐出不良が発生していると判定される。
図12の場合、輝点分布領域83の外輪郭831全体は、第1正常吐出判定枠851内に存在する。しかしながら、輝点分布領域83の内輪郭832の一部が径方向内側に突出し、第2正常吐出判定枠852よりも径方向内側の領域に存在する。したがって、吐出部34から噴出された一部の液滴が、他の液滴とは大きく異なる方向へと飛翔する吐出不良が発生していると判定される。当該吐出不良は、例えば、液体吐出口342からの処理液の吐出、または、気体吐出口343からの気体の噴出が、周方向の一部において径方向内側に大きく傾いて行われる場合に発生する(図14の場合も同様)。
図13の場合、輝点分布領域83の内輪郭832全体は、第2正常吐出判定枠852内に存在する。しかしながら、輝点分布領域83の外輪郭831の一部が径方向外側に突出し、第1正常吐出判定枠851よりも径方向外側の領域に存在する。したがって、吐出部34から噴出された一部の液滴が、他の液滴とは大きく異なる方向へと飛翔する吐出不良が発生していると判定される。当該吐出不良は、例えば、液体吐出口342からの処理液の吐出、または、気体吐出口343からの気体の噴出が、周方向の一部において径方向外側に大きく傾いて行われる場合に発生する(図15の場合も同様)。
図14の場合、輝点分布領域83の外輪郭831全体が第1正常吐出判定枠851内に存在し、内輪郭832全体が第2正常吐出判定枠852内に存在する。しかしながら、当該輝点分布領域83と離間する略円形のもう1つの輝点分布領域830が存在し、輝点分布領域830の輪郭833が、内輪郭832および第2正常吐出判定枠852よりも径方向内側に存在する。したがって、吐出部34から噴出された一部の液滴が、他の液滴とは大きく異なる方向へと飛翔する吐出不良が発生していると判定される。
図15の場合、輝点分布領域83の外輪郭831全体が第1正常吐出判定枠851内に存在し、内輪郭832全体が第2正常吐出判定枠852内に存在する。しかしながら、当該輝点分布領域83と離間する略円形のもう1つの輝点分布領域830が存在し、輝点分布領域830の輪郭833が、外輪郭831および第1正常吐出判定枠851よりも径方向外側に存在する。したがって、吐出部34から噴出された一部の液滴が、他の液滴とは大きく異なる方向へと飛翔する吐出不良が発生していると判定される。
図16の場合、輝点分布領域83の外輪郭831全体が第1正常吐出判定枠851内に存在し、内輪郭832全体が第2正常吐出判定枠852内に存在する。しかしながら、輝点分布領域83内に、輝点が存在しないある程度の大きさの領域である非分布領域84が存在する。非分布領域84は略円形の領域であり、非分布領域84の輪郭841は、第1正常吐出判定枠851と第2正常吐出判定枠852との間の領域に存在する。したがって、液体吐出口342の一部が詰まる等して、処理液の液滴が飛翔すべき領域の一部において液滴が存在しない吐出不良が発生していると判定される。
なお、非分布領域84の輪郭841全体が、第1正常吐出判定枠851内または第2正常吐出判定枠852内に存在する場合であっても、判定部75では吐出不良と判定されることが好ましい。この場合、吐出検査部5では、輪郭抽出部76により外輪郭831および内輪郭832の双方から離間した他の輪郭が検出されると、判定部75により吐出不良と判断される。
図17の場合、輝点分布領域83の周方向の一部が欠けているため、外輪郭831および内輪郭832も略楕円環状ではなく、略楕円弧状である。外輪郭831の両端と内輪郭832の両端とはそれぞれ、略径方向に延びる他の輪郭835により接続される。このように、外輪郭831および内輪郭832が非環状である場合、判定部75では、液体吐出口342の一部が詰まる等して、周方向の一部において液滴が噴出されない吐出不良が発生していると判定される。図17において、輪郭835を外輪郭831の一部と捉えると、外輪郭831の一部が第1正常吐出判定枠851よりも径方向内側に位置する。また、輪郭835を内輪郭832の一部と捉えると、内輪郭832の一部が第2正常吐出判定枠852よりも径方向外側に位置する。
ところで、吐出部における吐出動作の良否を判定する吐出検査部として、上記と同様の検査画像を取得し、検査画像上の輝点分布領域の面積を測定するものが考えられる。このような吐出検査部(以下、「比較例の吐出検査部」という。)では、輝点分布領域の面積が所定の面積におよそ等しければ吐出部における吐出動作が良好と判定される。一方、輝点分布領域の面積が所定の面積よりもある程度以上大きい場合、または、ある程度以上小さい場合、吐出部における吐出不良が発生していると判定される。
しかしながら、比較例の吐出検査部では、輝点分布領域83の径方向の幅が周方向において不均一である吐出不良(図10および図11参照)や、輝点分布領域83の一部が変形する吐出不良(図12および図13参照)等については、輝点分布領域83の面積が大きく変化しない限り検出することはできない。また、図14および図15のようにもう1つの輝点分布領域830が存在する場合であっても、当該もう1つの輝点分布領域830の面積が小さいと、吐出不良を検出することはできない。さらに、図16のように輝点分布領域83内に非分布領域84が存在する場合であっても、非分布領域84の面積が小さいと、吐出不良を検出することはできない。
これに対し、基板処理装置1の吐出検査部5では、判定枠設定部74により、輝点分布領域83の外輪郭831および内輪郭832にそれぞれ対応する第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852が、検査画像8上に設定される。そして、判定部75により、第1正常吐出判定枠851内における外輪郭831の存否情報、および、第2正常吐出判定枠852内における内輪郭832の存否情報が取得され、これらの存否情報に基づいて吐出部34における吐出動作の良否が判定される。これにより、吐出部34における吐出動作の良否を精度良く判定することができる。その結果、吐出不良による基板9に対する処理への悪影響を抑制または防止することができる。当該悪影響としては、例えば、処理液の部分的な不吐出による基板9に対する処理の質の低下や、処理液の斜め吐出による基板9上のパターンの損傷が考えられる。
また、吐出検査部5では、上述のように、外輪郭831および内輪郭832以外の輪郭が検査画像8上に存在する場合、吐出不良が発生していると判定される。これにより、吐出部34における吐出動作の良否をさらに精度良く判定することができる。
吐出検査部5では、撮像部52における撮像方向が、吐出部34からの処理液の設計上の吐出方向に垂直な平面に対して傾斜している。これにより、撮像部52を吐出口直下に配置することなく、全ての吐出口314a〜314dからの液滴に対応する輝点81を含む検査画像8を、撮像部52により確実に取得することができる。さらに、検査画像8上において、第1正常吐出判定枠851と第2正常吐出判定枠852とが互いに重なることを抑制することができる。その結果、吐出部34における吐出動作の良否判定精度を向上することができる。このような吐出検査部5の構造は、輝点分布領域83内に多数の輝点が分布する二流体ノズルである吐出部34における吐出動作の良否判定に適している。特に、液体吐出口342が略円環状であり、輝点分布領域83が環状となる二流体ノズルである吐出部34における吐出動作の良否判定に適している。
上述のように、吐出検査部5では、光存在面が吐出部34からの処理液の吐出方向に垂直な平面に対して傾斜している。これにより、検査画像8上において輝点分布領域83内の複数の輝点が互いに重なることを抑制することができる。また、検査画像8上において、第1正常吐出判定枠851と第2正常吐出判定枠852とが互いに重なることを抑制することができる。その結果、吐出部34における吐出動作の良否判定精度を向上することができる。このような吐出検査部5の構造は、輝点分布領域83内に多数の輝点が分布する二流体ノズルである吐出部34における吐出動作の良否判定に適している。特に、液体吐出口342が略円環状であり、輝点分布領域83が環状となる二流体ノズルである吐出部34における吐出動作の良否判定に適している。
基板処理装置1では、吐出部34が検査位置へと移動した際に、設計上の検査位置から少しずれて配置される可能性がある。吐出部34の検査位置がずれると、吐出部34に対する光出射部51および撮像部52の相対位置もずれる。検査画像8上における第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の位置は、吐出部34が設計上の検査位置に位置することを前提に設定される。このため、吐出部34の検査位置がずれると、吐出部34から噴射された処理液の液滴による輝点分布領域83と、第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852との検査画像8上における位置関係も変化する。その結果、処理液が設計上の吐出方向に正常に吐出されているにも拘わらず、輝点分布領域83の外輪郭831および内輪郭832が、第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の外部に位置し、吐出異常と判定される可能性がある。
そこで、基板処理装置1では、吐出部34の検査位置のずれが懸念される場合等、判定枠設定部74による第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の設定の際に、検査画像8上の輝点分布領域83の実際の位置に基づいて、第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の位置が設定されてもよい。具体的には、例えば、第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の中心が、検査画像8上における輝点分布領域83の内輪郭832の中心、または、外輪郭831の中心と一致するように、第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の位置が設定される。
このように、第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852の位置が、輝点分布領域83の検査画像8上の位置に基づいて設定されることにより、吐出部34の検査位置が設計上の検査位置からずれた場合であっても、吐出部34における吐出動作の良否判定を高精度に行うことができる。
図18は、本発明の第2の実施の形態に係る基板処理装置1aの正面図である。基板処理装置1aでは、図1に示す吐出部34に代えて、吐出部34とは構造が異なる吐出部34aが設けられる。基板処理装置1aのその他の構成は図1に示す基板処理装置1と同様であり、以下の説明では、対応する構成に同符号を付す。
図19は、吐出部34aの下面341を示す底面図である。吐出部34aの下面341には、略円形の吐出口346が設けられる。吐出部34aでは、処理液配管32(図18参照)から吐出部34aに供給された処理液が、吐出口346から下方の基板9に向けて柱状に吐出される。吐出部34aからの処理液の設計上の吐出方向は、上下方向に平行である。
図20は、吐出検査部5の撮像部52(図6参照)により取得される検査画像8aを示す図である。検査画像8aでは、略楕円状の輝点分布領域83aに図示省略の複数の輝点が分布する。図20では、輝点分布領域83aの輪郭836を太実線にて示し、輝点分布領域83aに平行斜線を付す(図21ないし図28においても同様)。輝点分布領域83a内の複数の輝点は、吐出部34aから吐出された柱状の処理液に含まれる多数の気泡にて、光出射部51(図6参照)からの光が乱反射することにより生じる。輪郭836は、輪郭抽出部76(図4参照)により、上述の外輪郭831および内輪郭832と同様の手法により抽出される。
続いて、図21に示すように、判定枠設定部74(図4参照)により、輝点分布領域83aの輪郭836に対応する正常吐出判定枠853が検査画像8a上に設定される。正常吐出判定枠853は、略楕円環状である。正常吐出判定枠853は、吐出部34aから設計上の吐出方向へと、あるいは、当該吐出方向から許容範囲内のずれ量で僅かにずれた方向へと処理液が吐出された場合に、柱状の処理液が通過する面状光510上の領域を示す。
検査画像8a上における正常吐出判定枠853の位置は、例えば、輪郭836の設計上の位置(以下、「設計輪郭位置」という。)に基づいて求められる。設計輪郭位置は、検査位置における吐出部34aの設計位置および向き、吐出部34aの下面341における吐出口346の形状および位置、設計上の処理液の吐出方向、面状光510の位置、並びに、撮像部52の位置および向きに基づいて、基板処理装置1aにおいて設定された3次元座標系における位置として求められる。換言すれば、吐出部34a、光出射部51および撮像部52の相対位置に基づいて、設計輪郭位置の座標が求められる。
続いて、設計輪郭位置の座標を、ビュー変換行列を用いてビュー変換することにより、撮像部52を原点とした3次元座標系における設計輪郭位置の座標が求められる。次に、ビュー変換された設計輪郭位置の座標を、透視投影変換することにより、検査画像8a上の2次元座標系における設計輪郭位置の座標が取得される。なお、基板処理装置1aでは、撮像部52に非テレセントリック光学系が利用されているため、上述のように、透視投影変換が行われるが、撮像部52にテレセントリック光学系が利用される場合、ビュー変換された設計輪郭位置の座標を正射影(平行射影または平行投影ともいう。)することにより、検査画像8a上における設計輪郭位置の座標が取得される。
正常吐出判定枠853は、輪郭836に対応する設計輪郭位置の内側および外側に広がる略楕円環状の領域として設定される。正常吐出判定枠853のうち、輪郭836に対応する設計輪郭位置よりも内側の部位の幅(すなわち、径方向の幅)は、当該設計輪郭位置よりも外側の部位の幅におよそ等しい。
正常吐出判定枠853の設定が終了すると、判定部75(図4参照)により、正常吐出判定枠853内における輝点分布領域83aの輪郭836の存否情報、すなわち、正常吐出判定枠853内に輪郭836が存在するか否かを示す情報が取得される。判定部75では、輪郭836について、ラスタスキャン等の通常の輪郭追跡が行われ、輪郭836と正常吐出判定枠853との位置関係が取得される。そして、輪郭836の全体が正常吐出判定枠853内に存在する、輪郭836の一部のみが正常吐出判定枠853内に存在する、あるいは、正常吐出判定枠853内には輪郭836が全く存在しない等の存否情報が取得される。
検査演算部73では、正常吐出判定枠853内における輪郭836の存否情報に基づいて、吐出部34aにおける吐出動作の良否が、判定部75により判定される。判定部75による検査画像8aに基づく当該吐出動作の良否判定の具体例については、図21ないし図28を参照しつつ以下に説明する。
図21に示すように、輝点分布領域83aの輪郭836全体が正常吐出判定枠853内に存在する場合、吐出部34aにおける処理液の吐出動作は良好であると判定される。一方、図22に示すように、正常吐出判定枠853内に輪郭836が存在しない場合、すなわち、検査画像8a上に輝点分布領域83aが存在しない場合、吐出部34aから処理液が吐出されない不吐出の吐出不良が発生していると判定される。吐出不良の発生は、報知部79(図4参照)を通じて作業者等に通知される。以下の様々な吐出不良の場合においても同様に、吐出不良の発生は報知部79を通じて作業者等に通知される。
図23の場合、輝点分布領域83aの輪郭836の一部は、正常吐出判定枠853よりも径方向外側の領域に存在し、輪郭836の他の一部は、正常吐出判定枠853よりも径方向内側の領域に存在する。したがって、処理液の吐出方向が、設計上の吐出方向から許容できる程度よりも大きく離れる斜め吐出の吐出不良が発生していると判定される。当該吐出不良は、例えば、吐出口346に異物が付着して吐出方向が変化した場合に発生する。
図24の場合、輝点分布領域83aの輪郭836全体が、正常吐出判定枠853よりも径方向内側の領域に位置する。したがって、液柱状の処理液が、設計上の処理液よりも細くなる吐出不良が発生していると判定される。また、図25の場合、輝点分布領域83aの輪郭836全体が、正常吐出判定枠853よりも径方向外側の領域に位置する。したがって、液柱状の処理液が、設計上の処理液よりも太くなる吐出不良が発生していると判定される。
図26の場合、輝点分布領域83aの輪郭836の一部が径方向外側に突出し、正常吐出判定枠853よりも径方向外側の領域に存在する。また、図27の場合、輝点分布領域83aの輪郭836全体は正常吐出判定枠853内に存在するが、輝点分布領域83aと離間する略円形のもう1つの輝点分布領域830が存在する。輝点分布領域830の輪郭833は、輪郭836および正常吐出判定枠853よりも径方向外側に存在する。図26および図27の場合、吐出部34aから吐出された処理液の一部が、他の処理液とは異なる方向へと向かう吐出不良が発生していると判定される。
図28の場合、輝点分布領域83aの輪郭836全体は正常吐出判定枠853内に存在するが、輝点分布領域83a内に、輝点が存在しないある程度の大きさの領域である非分布領域84が存在する。非分布領域84は略円形の領域であり、非分布領域84の輪郭841は、正常吐出判定枠853よりも径方向内側の領域に存在する。したがって、吐出口346の一部が詰まる等して、処理液が吐出される領域の一部において処理液が存在しない吐出不良が発生していると判定される。
なお、非分布領域84の輪郭841全体が、正常吐出判定枠853内に存在する場合であっても、判定部75では吐出不良と判定されることが好ましい。この場合、吐出検査部5では、輪郭抽出部76により輪郭836から離間した他の輪郭が検出されると、判定部75により吐出不良と判断される。
ところで、上述の比較例の吐出検査部では、斜め吐出により輝点分布領域83aの位置が変化する吐出不良(図23参照)、輝点分布領域83aの一部が変形する吐出不良(図26参照)等については、輝点分布領域83aの面積が大きく変化しない限り検出することはできない。また、図27のようにもう1つの輝点分布領域830が存在する場合であっても、当該もう1つの輝点分布領域830の面積が小さいと、吐出不良を検出することはできない。さらに、図28のように輝点分布領域83a内に非分布領域84が存在する場合であっても、非分布領域84の面積が小さいと、吐出不良を検出することはできない。
これに対し、基板処理装置1aの吐出検査部5では、判定枠設定部74により、輝点分布領域83aの輪郭836に対応する正常吐出判定枠853が、検査画像8上に設定される。そして、判定部75により、正常吐出判定枠853内における輪郭836の存否情報が取得され、これらの存否情報に基づいて吐出部34aにおける吐出動作の良否が判定される。これにより、吐出部34aにおける吐出動作の良否を精度良く判定することができる。その結果、吐出不良による基板9に対する処理への上述のような悪影響を抑制または防止することができる。
また、吐出検査部5では、上述のように、輪郭836以外の輪郭が検査画像8a上に存在する場合、吐出不良が発生していると判定される。これにより、吐出部34aにおける吐出動作の良否をさらに精度良く判定することができる。
吐出検査部5では、撮像部52における撮像方向が、吐出部34aからの処理液の設計上の吐出方向に垂直な平面に対して傾斜している。これにより、撮像部52を吐出口直下に配置しなくても、撮像部52は輪郭836を含む検査画像8aを確実に取得することができる。さらに、検査画像8a上において輝点分布領域83a内の複数の輝点が互いに重なることを抑制することができる。その結果、吐出部34aにおける吐出動作の良否判定精度を向上することができる。
また、吐出検査部5では、光存在面が吐出部34aからの処理液の吐出方向に垂直な平面に対して傾斜している。これにより、検査画像8a上において輝点分布領域83a内の複数の輝点が互いに重なることを抑制することができる。その結果、吐出部34aにおける吐出動作の良否判定精度を向上することができる。
基板処理装置1aでは、基板処理装置1と同様に、吐出部34aの検査位置のずれが懸念される場合等、判定枠設定部74による正常吐出判定枠853の設定の際に、検査画像8a上の輝点分布領域83aの実際の位置に基づいて、正常吐出判定枠853の位置が設定されてもよい。具体的には、例えば、正常吐出判定枠853の中心が、検査画像8a上における輝点分布領域83aの輪郭836の中心と一致するように、正常吐出判定枠853の位置が設定される。
このように、正常吐出判定枠853の位置が、輝点分布領域83aの検査画像8a上の位置に基づいて設定されることにより、吐出部34aの検査位置が設計上の検査位置からずれた場合であっても、吐出部34aにおける吐出動作の良否判定を高精度に行うことができる。ただし、先に図23を用いて説明した斜め吐出検出を行う場合はこの限りではない。
上記基板処理装置1,1aでは、様々な変更が可能である。
図1に示す基板処理装置1では、第1正常吐出判定枠851および第2正常吐出判定枠852を利用することなく、吐出部34における吐出動作の検査が行われてもよい。例えば、上述の検査画像8と正常な吐出状態に対応する参照画像とを重ね合わせて比較し、検査画像8と参照画像との差に基づいて、吐出部34における吐出動作の良否が判定されてもよい。なお、参照画像は、基板処理装置1において、吐出部34から処理液が正常に吐出されている状態で、光出射部51から面状光510を出射しつつ撮像部52により取得された画像である。比較の結果、検査画像8と参照画像との差が大きい(すなわち、両画像間で一部の領域が重なり合わない)ことが判明した場合、吐出部34の吐出動作は不良であると判定される。
図18に示す基板処理装置1aでも同様に、正常吐出判定枠853を利用することなく、吐出部34aにおける吐出動作の検査が行われてもよい。例えば、上述の検査画像8aと正常な吐出状態に対応する参照画像とを重ね合わせて比較し、検査画像8aと参照画像との差に基づいて、吐出部34aにおける吐出動作の良否が判定されてもよい。
図1に示す基板処理装置1では、様々な構造の二流体ノズルが吐出部34として利用されてよい。例えば、図3に示す吐出部34の下面341において、液体吐出口342は略円形であってもよい。あるいは、略円環状の液体吐出口342の径方向外側だけでなく径方向内側にも気体吐出口が設けられてもよい。この場合、液体吐出口342の径方向内側に設けられる気体吐出口は、略円形であってもよく、略円環状かつスリット状であってもよい。吐出部34として利用される二流体ノズルは、内部混合型の二流体ノズルであってもよい。
基板処理装置1,1aでは、光出射部51により必ずしも面状に光が出射される必要はなく、光存在面に沿って光出射部51から前方に直線状に延びる光が出射され、当該光が光存在面に沿ってポリゴンミラー等の光走査手段により走査されてもよい。これにより、吐出部34,34aから吐出された処理液が光存在面を通過する際に、処理液に光が照射される。また、光存在面は、吐出部34,34aからの処理液の設計上の吐出方向に垂直であってもよく、撮像部52における撮像方向は、当該設計上の吐出方向に垂直な平面に平行であってもよい。
光出射部51および撮像部52は、吐出部34,34aの斜め下方以外の位置、例えば、吐出部34,34aの斜め上方に配置されてもよい。上述の検査位置は、待機ポッド4の上方以外の領域に設定されてもよい。この場合、光出射部51および撮像部52は、当該検査位置の近傍に配置される。
基板処理装置1,1aは、基板9の洗浄以外の様々な処理に利用されてよい。また、基板処理装置1,1aでは、半導体基板以外に、液晶表示装置、プラズマディスプレイ、FED(field emission display)等の表示装置に使用されるガラス基板の処理に利用されてもよい。あるいは、基板処理装置1は、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、セラミック基板および太陽電池用基板等の処理に利用されてもよい。
上述の光出射部51、撮像部52および判定部75を備える装置は、基板処理装置1,1aの他の構成から独立する吐出検査装置として使用されてもよい。当該吐出検査装置は、例えば、上述の様々な基板に対して吐出部から液体を吐出する装置において、吐出部からの液体の吐出動作の検査に利用される。
上記実施の形態および各変形例における構成は、相互に矛盾しない限り適宜組み合わされてよい。