JP6207057B2 - ラッチプレデコーダ回路を有するクロック制御メモリ - Google Patents
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Description
以上、複数のワード線を有するメモリアレイを備えるメモリが提供されたことが認められる。 以上、複数のワード線を有するメモリアレイを備えるメモリが提供されたことが認められる。このメモリは、複数のラッチプリデコーダであって、各ラッチプリデコーダはクロック信号および複数のアドレス信号を受信し、前記クロック信号のクロックサイクルの第1のエッジに応答して前記複数のアドレス信号の論理関数の結果をラッチし、前記クロック信号の前記クロックサイクルの第2のエッジに応答して所定の値を提供し、前記複数のラッチプリデコーダのすべてのラッチプリデコーダは、前記第2のエッジに応答して、同じ所定の値を提供する、複数のラッチプリデコーダを備える。このメモリは、前記複数のラッチプリデコーダに結合されるワード線ドライバロジックであって、前記ラッチされた結果に応答して前記複数のワード線のうちの選択されたワード線を選択的に活性化させる、ワード線ドライバロジックと、を備えることをさらなる特徴として有してもよい。このメモリは、前記ワード線ドライバロジックが、論理関数の結果がラッチプリデコーダによってラッチされている間には該論理関数の結果に基づいて前記複数のワード線のうちの選択されたワード線を活性化させ、前記ラッチプリデコーダによって前記同じ所定の値が提供されている間には前記複数のワード線を活性化させないことをさらなる特徴として有してもよい。このメモリは、前記クロックサイクルの前記第1のエッジが前記クロックサイクルの立ち上がりエッジに対応し、前記クロックサイクルの前記第2のエッジが前記クロックサイクルの立ち下がりエッジに対応することをさらなる特徴として有してもよい。このメモリは、各ラッチプリデコーダが前記複数のアドレス信号として第1のアドレスビット信号および第2のアドレスビット信号を受信し、前記論理関数の結果が前記第1のアドレスビット信号および前記第2のアドレスビット信号の論理積関数の結果に対応することをさらなる特徴として有してもよい。このメモリは、前記同じ所定の値が論理レベル0であることをさらなる特徴として有してもよい。このメモリは、前記複数のラッチプリデコーダがN個のアドレスビット信号を受信し、前記第1のアドレスビット信号が前記N個のアドレスビット信号のうちの1つであるか、その補数信号であり、前記第2のアドレスビット信号が前記N個のアドレスビット信号のうちの別の1つの信号であるか、その補数であることをさらなる特徴として有してもよい。このメモリは、前記複数のラッチプリデコーダの各ラッチプリデコーダが、電源電圧に結合される第1の電流電極と、ラッチに結合される第2の電流電極と、前記クロック信号に結合される制御電極とを有する第1の導電型の第1のトランジスタを備えることをさらなる特徴として有してもよい。各ラッチプリデコーダは、前記第1のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、第2の電流電極と、前記第1のアドレスビット信号に結合される制御電極とを有する、前記第1の導電型の反対の導電型である第2の導電型の第2のトランジスタをさらに備えてもよい。各ラッチプリデコーダは、前記第2のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、第2の電流電極と、前記第2のアドレスビット信号に結合される制御電極とを有する、前記第2の導電型の第3のトランジスタをさらに備えてもよい。各ラッチプリデコーダは、前記第3のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、前記クロック信号が遅延され反転された信号に結合される制御電極と、第2の電流電極とを有する、前記第2の導電型の第4のトランジスタをさらに備えてもよい。各ラッチプリデコーダは、前記第4のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、前記クロック信号に結合される制御電極と、グランドに結合される第2の電流電極とを有する、前記第2の導電型の第5のトランジスタをさらに備えてもよい。各ラッチプリデコーダは、前記第2の電流電極に結合される入力と、前記論理関数のラッチされた結果または前記所定の値を提供する出力とを有するインバータをさらに備えてもよい。メモリは、前記クロック信号を受信して遅延クロック信号を前記複数のラッチプリデコーダの各々に提供するクロックドライバ回路をさらに備え、各プリデコーダが前記第1のエッジの発生から所定の遅延の後において前記論理関数の結果をラッチし、該所定の遅延の少なくとも一部は前記クロックドライバ回路によって提供されてもよい。このメモリは、前記クロックドライバ回路が、前記クロック信号を受信して各ラッチプリデコーダにおける前記論理関数を実行する回路のタイミングをトラッキングするトラッキングインバータと、各ラッチプリデコーダにおける前記ラッチを実行する回路のタイミングをトラッキングするトラッキングラッチとを備えることをさらなる特徴として有してもよい。
本明細書において、具体的な実施形態を参照して本発明を説明したが、添付の特許請求の範囲に明記されているような本発明の範囲から逸脱することなくさまざまな改変および変更を為すことができる。たとえば、ワード線またはアドレス信号の数は異なることができる。したがって、本明細書および図面は限定的な意味ではなく例示とみなされるべきであり、すべてのこのような改変が本発明の範囲内に含まれることが意図されている。本明細書において具体的な実施形態に関して記載されているいかなる利益、利点、または問題に対する解決策も、任意のまたはすべての請求項の重要な、必要とされる、または基本的な特徴または要素として解釈されるようには意図されていない。
別途記載されない限り、「第1の」および「第2の」のような用語は、そのような用語が説明する要素間で適宜区別するように使用される。したがって、これらの用語は必ずしも、このような要素の時間的なまたは他の優先順位付けを示すようには意図されていない。
Claims (18)
- メモリであって、
複数のワード線を有するメモリアレイと、
複数のラッチプリデコーダであって、各ラッチプリデコーダはクロック信号および複数のアドレス信号を受信し、前記クロック信号のクロックサイクルの第1のエッジに応答して前記複数のアドレス信号の論理関数の結果をラッチし、前記クロック信号の前記クロックサイクルの第2のエッジに応答して所定の値を提供し、
前記複数のラッチプリデコーダのすべてのラッチプリデコーダは、前記第2のエッジに応答して、同じ所定の値を提供する、複数のラッチプリデコーダと、
前記複数のラッチプリデコーダに結合されるワード線ドライバロジックであって、前記ラッチされた結果に応答して前記複数のワード線のうちの選択されたワード線を選択的に活性化させる、ワード線ドライバロジックと、
前記クロック信号を受信して遅延クロック信号を前記複数のラッチプリデコーダの各々に提供するクロックドライバ回路と、を備え、
各プリデコーダは前記第1のエッジの発生から所定の遅延の後において前記論理関数の結果をラッチし、該所定の遅延の少なくとも一部は前記クロックドライバ回路によって提供される、メモリ。 - 前記ワード線ドライバロジックは、論理関数の結果がラッチプリデコーダによってラッチされている間には該論理関数の結果に基づいて前記複数のワード線のうちの選択されたワード線を活性化させ、前記ラッチプリデコーダによって前記同じ所定の値が提供されている間には前記複数のワード線を活性化させない、請求項1に記載のメモリ。
- 前記クロックサイクルの前記第1のエッジは前記クロックサイクルの立ち上がりエッジに対応し、前記クロックサイクルの前記第2のエッジは前記クロックサイクルの立ち下がりエッジに対応する、請求項1に記載のメモリ。
- 各ラッチプリデコーダは前記複数のアドレス信号として第1のアドレスビット信号および第2のアドレスビット信号を受信し、前記論理関数の結果は、前記第1のアドレスビット信号および前記第2のアドレスビット信号の論理積関数の結果に対応する、請求項1に記載のメモリ。
- 前記同じ所定の値は論理レベル0である、請求項4に記載のメモリ。
- 前記複数のラッチプリデコーダはN個のアドレスビット信号を受信し、前記第1のアドレスビット信号は前記N個のアドレスビット信号のうちの1つであるか、その補数信号であり、前記第2のアドレスビット信号は前記N個のアドレスビット信号のうちの別の1つの信号であるか、その補数である、請求項4に記載のメモリ。
- 前記複数のラッチプリデコーダの各ラッチプリデコーダは、
電源電圧に結合される第1の電流電極と、ラッチに結合される第2の電流電極と、前記クロック信号に結合される制御電極とを有する第1の導電型の第1のトランジスタと、
前記第1のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、第2の電流電極と、前記第1のアドレスビット信号に結合される制御電極とを有する、前記第1の導電型の反対の導電型である第2の導電型の第2のトランジスタと、
前記第2のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、第2の電流電極と、前記第2のアドレスビット信号に結合される制御電極とを有する、前記第2の導電型の第3のトランジスタと、
前記第3のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、前記クロック信号が遅延され反転された信号に結合される制御電極と、第2の電流電極とを有する、前記第2の導電型の第4のトランジスタと、
前記第4のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、前記クロック信号に結合される制御電極と、グランドに結合される第2の電流電極とを有する、前記第2の導電型の第5のトランジスタと、
前記第1のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される入力と、前記論理関数のラッチされた結果または前記所定の値を提供する出力とを有するインバータと、を備える、請求項4に記載のメモリ。 - 前記クロックドライバ回路は、
前記クロック信号を受信して各ラッチプリデコーダにおける前記論理関数を実行する回路のタイミングをトラッキングするトラッキングインバータと、
各ラッチプリデコーダにおける前記ラッチを実行する回路のタイミングをトラッキングするトラッキングラッチと、を備える、請求項1に記載のメモリ。 - メモリであって、
複数のワード線を有するメモリアレイと、
複数のラッチプリデコーダであって、該ラッチプリデコーダの各々は、
ラッチと、
電源電圧に結合される第1の電流電極と、前記ラッチに結合される第2の電流電極と、クロック信号に結合される制御電極とを有する第1の導電型の第1のトランジスタと、
前記第1のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、第2の電流電極と、第1のアドレスビット信号に結合される制御電極とを有する、前記第1の導電型の反対の導電型である第2の導電型の第2のトランジスタと、
前記第2のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、第2の電流電極と、第2のアドレスビット信号に結合される制御電極とを有する、前記第2の導電型の第3のトランジスタと、
前記第3のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、前記クロック信号が遅延され反転された信号に結合される制御電極と、第2の電流電極とを有する、前記第2の導電型の第4のトランジスタと、
前記第4のトランジスタの前記第2の電流電極に結合される第1の電流電極と、前記クロック信号に結合される制御電極と、グランドに結合される第2の電流電極とを有する、前記第2の導電型の第5のトランジスタと、
出力であって、前記クロック信号のクロックサイクルの第1の部分では前記ラッチにおいてラッチされた値に対応する事前復号値を提供し、前記クロック信号の前記クロックサイクルの第2の部分では所定の論理レベルを提供する、出力と、
前記ラッチに結合される第1の電流電極と、グランドに結合される第2の電流電極と、前記クロック信号が遅延された信号に結合される制御電極とを有する、前記第2の導電型の第6のトランジスタと、
前記クロック信号が前記遅延された信号に結合される入力と、前記第4のトランジスタの前記制御電極に結合される出力とを有するインバータと、を備える複数のラッチプリデコーダと、
前記複数のラッチプリデコーダと前記メモリアレイとの間に結合されているワード線ドライバロジックであって、該ワード線ドライバロジックは、前記クロックサイクルの前記第1の部分に提供される前記事前復号値に基づいて、前記複数のワード線のうちの選択されるワード線を活性化させる、ワード線ドライバロジックと、を備えるメモリ。 - 前記メモリが、前記メモリアレイ内のロケーションにアクセスするためにN個のアドレスビット信号を受信するように構成されており、前記ラッチプリデコーダの各々について、前記第1のアドレスビット信号は前記N個のアドレスビット信号のうちの1つであるか、その補数信号であり、前記第2のアドレスビット信号は前記N個のアドレスビット信号のうちの別の1つの信号であるか、その補数信号である、請求項9に記載のメモリ。
- 前記ラッチプリデコーダの各々は、前記第1のアドレスビット信号および前記第2のアドレスビット信号について、アドレスビット信号の一意の組み合わせを用いる、請求項10に記載のメモリ。
- 前記複数のラッチプリデコーダの各々について、前記クロックサイクルの前記第1の部分に提供される前記事前復号値は、前記第1のアドレスビット信号および前記第2のアドレスビット信号の論理積に対応する、請求項11に記載のメモリ。
- 前記所定の論理レベルは論理レベル0であり、前記クロックサイクルの前記第2の部分では、前記複数のラッチプリデコーダのすべてのラッチプリデコーダは同時に論理レベル0を提供する、請求項11に記載のメモリ。
- 前記ラッチプリデコーダの各々について、前記クロック信号の立ち上がりエッジに応答して前記ラッチが前記ラッチ値をラッチし、前記クロック信号の立ち下がりエッジに応答して論理レベル0が提供される、請求項9に記載のメモリ。
- 前記クロック信号を受信して前記クロック信号が遅延された信号を前記複数のラッチプリデコーダの各々に提供するクロックドライバ回路をさらに備え、前記ラッチプリデコーダの各々は、前記クロック信号の立ち上がりエッジの発生から所定の遅延の後に前記ラッチ値をラッチし、前記所定の遅延の少なくとも一部は前記クロックドライバ回路によって提供される、請求項14に記載のメモリ。
- 前記クロックドライバ回路は、
前記クロック信号を受信して各ラッチプリデコーダにおける前記第1のトランジスタ、前記第2のトランジスタ、前記第3のトランジスタ、前記第4のトランジスタ、および前記第5のトランジスタのタイミングをトラッキングするトラッキングインバータと、
各ラッチプリデコーダにおけるラッチのタイミングをトラッキングするトラッキングラッチと、を備える、請求項15に記載のメモリ。 - 複数のラッチプリデコーダと、クロック信号を受信して遅延クロック信号を前記複数のラッチプリデコーダの各々に提供するクロックドライバ回路と、該複数のラッチプリデコーダに結合されるワード線ドライバ回路と、該ワード線ドライバ回路に結合される複数のワード線を有するメモリアレイと、を備えるメモリにおいて、
各ラッチプリデコーダによって、前記クロック信号のクロックサイクルの第1のエッジに応答して複数のアドレス信号の論理関数の結果をラッチし、該結果を前記ワード線ドライバ回路に提供する工程と、
前記ワード線ドライバ回路に対し各ラッチプリデコーダによって、前記クロック信号の前記クロックサイクルの第2のエッジに応答して同じ所定の値を提供する工程と、
前記ワード線ドライバ回路によって、前記クロック信号の前記クロックサイクルの第1の部分に前記ラッチプリデコーダの各々からの前記結果の受信に応答して前記複数のワード線のうちの選択されるワード線を活性化させる工程と、
前記クロック信号の前記クロックサイクルの第2の部分に前記同じ所定の値の受信に応答して前記複数のワード線を活性化させない工程と、を備え、
各プリデコーダは前記第1のエッジの発生から所定の遅延の後において前記論理関数の結果をラッチし、該所定の遅延の少なくとも一部は前記クロックドライバ回路によって提供される、方法。 - 前記クロックサイクルの前記第1のエッジは前記クロックサイクルの立ち上がりエッジに対応し、前記クロックサイクルの前記第2のエッジは前記クロックサイクルの立ち下がりエッジに対応し、
各ラッチプリデコーダによって前記ワード線ドライバ回路に提供される前記論理関数の結果は、第1のアドレスビット信号および第2のアドレスビット信号の論理積関数の結果に対応する、請求項17に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/491,712 US8861301B2 (en) | 2012-06-08 | 2012-06-08 | Clocked memory with latching predecoder circuitry |
US13/491,712 | 2012-06-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013257936A JP2013257936A (ja) | 2013-12-26 |
JP6207057B2 true JP6207057B2 (ja) | 2017-10-04 |
Family
ID=48537816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013115493A Active JP6207057B2 (ja) | 2012-06-08 | 2013-05-31 | ラッチプレデコーダ回路を有するクロック制御メモリ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8861301B2 (ja) |
EP (1) | EP2672485A3 (ja) |
JP (1) | JP6207057B2 (ja) |
CN (1) | CN103489472B (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8743651B2 (en) * | 2012-06-08 | 2014-06-03 | Freescale Semiconductor, Inc. | Clocked memory with word line activation during a first portion of the clock cycle |
CN106462502B (zh) * | 2014-06-05 | 2020-12-25 | Gsi科技公司 | 涉及多组双管道存储器电路的系统和方法 |
JP6682367B2 (ja) * | 2016-06-08 | 2020-04-15 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | マルチポートメモリ、メモリマクロおよび半導体装置 |
US10658026B2 (en) | 2017-05-26 | 2020-05-19 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Word line pulse width control circuit in static random access memory |
KR20190102930A (ko) * | 2018-02-27 | 2019-09-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 |
CN110910923A (zh) * | 2018-09-14 | 2020-03-24 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 一种字线译码方法及非易失存储器系统 |
DE102020123265A1 (de) | 2019-09-30 | 2021-04-01 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Speichervorrichtung mit globalen und lokalen Latches |
US11386942B2 (en) * | 2020-08-27 | 2022-07-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Systems and methods for controlling power assertion in a memory device |
US11250895B1 (en) * | 2020-11-04 | 2022-02-15 | Qualcomm Incorporated | Systems and methods for driving wordlines using set-reset latches |
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---|---|---|---|---|
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JP2848314B2 (ja) * | 1996-02-28 | 1999-01-20 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
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JP4156781B2 (ja) | 2000-05-30 | 2008-09-24 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ集積回路 |
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-
2012
- 2012-06-08 US US13/491,712 patent/US8861301B2/en active Active
-
2013
- 2013-05-28 EP EP13169562.9A patent/EP2672485A3/en not_active Ceased
- 2013-05-31 JP JP2013115493A patent/JP6207057B2/ja active Active
- 2013-06-08 CN CN201310228537.9A patent/CN103489472B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103489472A (zh) | 2014-01-01 |
US20130329511A1 (en) | 2013-12-12 |
US8861301B2 (en) | 2014-10-14 |
JP2013257936A (ja) | 2013-12-26 |
EP2672485A3 (en) | 2017-11-01 |
EP2672485A2 (en) | 2013-12-11 |
CN103489472B (zh) | 2018-07-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160524 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170118 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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