JP6182909B2 - 有機el発光装置の製造方法 - Google Patents

有機el発光装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6182909B2
JP6182909B2 JP2013043518A JP2013043518A JP6182909B2 JP 6182909 B2 JP6182909 B2 JP 6182909B2 JP 2013043518 A JP2013043518 A JP 2013043518A JP 2013043518 A JP2013043518 A JP 2013043518A JP 6182909 B2 JP6182909 B2 JP 6182909B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
organic
sealing layer
substrate
base material
emitting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013043518A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014175053A (ja
Inventor
恭彦 高松
恭彦 高松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2013043518A priority Critical patent/JP6182909B2/ja
Priority to CN201410064437.1A priority patent/CN104037356B/zh
Priority to US14/196,025 priority patent/US9196854B2/en
Publication of JP2014175053A publication Critical patent/JP2014175053A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6182909B2 publication Critical patent/JP6182909B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/841Self-supporting sealing arrangements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

本発明は、有機EL発光装置の製造方法に関するものである。
有機EL素子は、低消費電力、高輝度、自己発光素子という優れた特徴を有している。有機EL素子を備えた発光装置は、薄型テレビ等の表示装置として注目されている。有機EL発光装置は、照明やプリンター用の発光ヘッドとしての応用も開発されている。
発光した光を基板とは反対側へ照射するトップエミッション型の有機EL素子が知られている。トップエミッション型の有機EL素子を備えた有機EL発光装置において、有機EL素子は光を透過するガラス基板で封止される(例えば特許文献1から4を参照。)。該ガラス基板は耐水分透過性及び耐酸素透過性を兼ねている。
しかし、ガラス基板はコストが高いという問題があった。また、ガラス基板は加工精度が良くないので、接合用ののり代を大きくとる必要があり、微細化に向かないという問題があった。
本発明は、封止層としてガラス基板を用いることなく有機EL素子を封止することを目的とするものである。
本発明にかかる有機EL発光装置の製造方法は、化学気相成長法もしくは物理気相成長法又はその両方によって封止層ベース材に封止層を形成する工程と、有機EL素子を有する有機EL基板に、上記有機EL素子を覆うように上記封止層を接合する工程と、上記封止層ベース材を除去して上記封止層を残存させる工程と、を含み、封止層ベース材はシリコンで形成されており、前記封止層ベース材を除去する際に、前記封止層ベース材をエッチングによって除去する。
本発明の有機EL発光装置の製造方法は、封止層としてカバーガラスを用いることなく有機EL素子を封止することができる。
有機EL発光装置の一実施例を説明するための概略的な断面図である。 同実施例の有機EL基板の有機EL素子形成領域を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の製造方法の一実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の製造方法の他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 有機EL光源装置の一実施例を説明するための概略的な平面図である。 同実施例の有機EL光源装置を用いた露光装置を説明するための概略的な斜視図である。 有機EL発光装置の寸法例を説明するための図である。
本発明の有機EL発光装置の製造方法において、例えば、封止層ベース材はシリコンで形成されており、上記封止層ベース材を除去する際に、上記封止層ベース材をエッチング技術によって除去する例を挙げることができる。これにより、封止層ベース材として他の材料を用いる場合に比べて、封止層ベース材を容易に除去できる。なお、封止層ベース材と接する封止層の面は、その面とシリコンとを選択的にエッチング可能な材料で形成されていることが好ましい。また、エッチング技術は、ドライエッチング技術であってもよいし、ウエットエッチング技術であってもよい。
本発明の有機EL発光装置の製造方法において、上記有機EL素子の形成位置に応じた位置に凹部をもつ上記封止層を上記封止層ベース材に形成し、上記有機EL基板の上記有機EL素子の形成位置とは異なる位置に上記封止層を接合して、上記有機EL基板と上記封止層との間に上記凹部に起因した空隙を形成する例を挙げることができる。これにより、有機EL基板と封止層の接合部の面積を小さくすることができる。ただし、封止層は、有機EL素子の形成位置に応じた位置に凹部をもたないもの、例えば平坦なものであってもよい。また、有機EL基板と封止層との間に空隙が形成されていなくてもよい。
さらに、上記有機EL基板と上記封止層とを直接接合によって接合する例を挙げることができる。これにより、有機EL基板と封止層との間に接着剤などの接着層が存在しないので、接着層を介する水分の浸入をなくすことができるとともに、接合面積を小さくすることができる。ただし、有機EL基板と封止層を、例えば、接着剤などの接着層を用いた間接接合によって接合してもよい。
また、上記有機EL基板と上記封止層とを接合する前に、上記封止層の上記凹部内に水分を吸着する乾燥材を配置するようにしてもよい。これにより、有機EL基板と封止層との間の空隙に乾燥材を配置することができ、水分に起因する有機EL素子の劣化を防止し、有機EL発光装置の耐湿性を向上させることができる。
本発明の有機EL発光装置の製造方法において、上記封止層は、シリコン窒化膜(SiN)/シリコン酸化膜(SiO2)の2層構造を備えている例を挙げることができる。耐水分透過特性に優れたシリコン窒化膜を封止層が備えていることにより、有機EL発光装置の耐湿性を向上させることができる。
本発明の有機EL発光装置の製造方法において、上記封止層は、シリコン酸化膜(SiO2)/シリコン窒化膜(SiN)/シリコン酸化膜(SiO2)の3層構造を備えている例を挙げることができる。耐水分透過特性に優れたシリコン窒化膜を封止層が備えていることにより、有機EL発光装置の耐湿性を向上させることができる。さらに、この局面によれば、有機EL基板において封止層との接合面がシリコン酸化膜で形成されている場合に、有機EL基板と封止層の接合部がシリコン酸化膜同士の接合になる。これにより、直接接合による有機EL基板と封止層の接合強度を向上させることができ、有機EL基板と封止層の接合部ののり代が小さい有機EL発光装置を提供できる。
本発明の有機EL発光装置の製造方法において、複数の上記有機EL基板の領域が形成された有機EL基板ベース材と、上記有機EL基板ベース材と同じサイズの上記封止層ベース材を用いて、複数の上記有機EL基板の領域に対して一括で上記封止層の接合及び上記封止層ベース材の除去を実施するようにしてもよい。複数の有機EL基板の領域に対して一括で封止層を形成することにより、生産性が高い有機EL発光装置を提供することができる。
また、複数の上記有機EL基板の領域に対して一括で上記封止層の接合を実施した後、ドライエッチング技術を用いて、上記封止層ベース材及び上記有機EL基板ベース材に対してエッチング処理を実施し、上記封止層ベース材の除去と、複数の上記有機EL基板の領域の個片化とを連続的に実施するようにしてもよい。これにより、寸法が高精度で、生産性が高い有機EL発光装置を提供することができる。
本発明にかかる有機EL発光装置は、有機EL素子を有する有機EL基板と、上記有機EL素子を覆うように上記有機EL基板に接合された封止層と、を備え、上記封止層は化学気相成長法もしくは物理気相成長法又はその両方によって形成されたものであることを特徴とする。本発明の有機EL発光装置は、封止層としてガラス基板を用いることなく有機EL素子を封止することができる。
本発明の有機EL発光装置において、例えば、上記有機EL基板と上記封止層との間に空隙が形成されており、上記有機EL基板と上記封止層との接合部は上記有機EL素子の形成位置とは異なる位置に設けられているようにしてもよい。これにより、有機EL基板と封止層の接合部の面積を小さくすることができる。
さらに、上記空隙内に、水分を吸着する乾燥材が配置されている例を挙げることができる。これにより、水分に起因する有機EL素子の劣化を防止し、有機EL発光装置の耐湿性を向上させることができる。
本発明の有機EL発光装置において、上記有機EL基板と上記封止層は直接接合によって接合されている例を挙げることができる。これにより、有機EL基板と封止層との間に接着剤などの接着層が存在しないので、接着層を介する水分の浸入をなくすことができるとともに、接合面積を小さくすることができる。ただし、有機EL基板と封止層は、例えば、接着剤などの接着層を用いた間接接合によって接合されていてもよい。
本発明の有機EL発光装置において、上記封止層は、シリコン窒化膜(SiN)/シリコン酸化膜(SiO2)の2層構造を備えている例を挙げることができる。耐水分透過特性に優れたシリコン窒化膜を封止層が備えていることにより、有機EL発光装置の耐湿性を向上させることができる。
本発明の有機EL発光装置において、上記封止層は、シリコン酸化膜(SiO2)/シリコン窒化膜(SiN)/シリコン酸化膜(SiO2)の3層構造を備えている例を挙げることができる。この態様によれば、有機EL基板において封止層との接合面がシリコン酸化膜で形成されている場合に、有機EL基板と封止層の接合部がシリコン酸化膜同士の接合になる。これにより、直接接合による有機EL基板と封止層の接合強度を向上させることができ、有機EL基板と封止層の接合部ののり代が小さい有機EL発光装置を提供できる。
本発明にかかる有機EL光源装置は、本発明の有機EL発光装置が複数配列されたものである。ただし、本発明の有機EL発光装置が適用される装置はこれに限定されない。本発明の有機EL発光装置は、封止層としてガラス基板を用いることなく、低コストで加工精度が高く、生産性が高い有機EL発光装置を提供できる。したがって、本発明の有機EL発光装置が複数配列された本発明の有機EL光源装置は、高精度で生産性が高い有機EL光源装置を提供できる。
以下に、図面を用いて本発明の実施例を説明する。
図1は、有機EL発光装置の一実施例を説明するための概略的な断面図である。図2は、この実施例の有機EL基板の有機EL素子形成領域を説明するための概略的な断面図である。
有機EL基板1において、例えば半導体基板からなる有機EL基板ベース材3に、半導体素子5が形成されている。半導体素子5は例えばトランジスタである。半導体素子5は有機EL素子の駆動回路を構成する。有機EL基板ベース材3上に半導体素子5を覆って絶縁膜7が形成されている。
絶縁膜7上に電極配線9が形成されている。電極配線9は絶縁膜7に設けられた接続孔を介して半導体素子5と電気的に接続されている。絶縁膜7上に電極配線9を覆って絶縁膜11が形成されている。
絶縁膜11上に有機EL素子13が形成されている。有機EL素子13は、例えば、陽極13a、ホール輸送層13b、発光層13c、電子輸送層13d、陰極13eが絶縁膜11側から順に積層されて形成されている。有機EL素子13は、有機EL基板ベース材3(絶縁膜11)とは反対側に光を出射するトップエミッション型のものである。
有機EL素子13の製造工程の一例について説明する。
絶縁膜11上に陽極13aのパターンを形成する。陽極13aの材料としては、例えば、ITO/AgPdCuの2層構造が用いられている。例えば感光性ポリイミド膜を用い、ホール輸送層13b、発光層13c、電子輸送層13dの形成位置を画定するための絶縁層15を形成する。
例えば蒸着法により、同一マスクを用いて、ホール輸送層13b、発光層13c、電子輸送層13dをその順に形成する。その後、マスクを変更し、例えば蒸着法により、陰極13eを形成する。陰極13eの材料は、例えば、MgAg合金である。
なお、本発明において、有機EL素子は、例えば、有機EL基板ベース材とは反対側に光を出射するトップエミッション型のものであってもよいし、有機EL基板ベース材側へ光を出射するボトムエミッション型のものであってもよい。また、本発明において、有機EL素子は、陽極と陰極の間に配置された発光層が発光する構成であれば、どのような構成であってもよい。
図1及び図2に戻って有機EL基板1の説明を続ける。
絶縁膜11には、有機EL素子13の陽極13aと電極配線9を電気的に接続するための接続孔が形成されている。陽極13aは、電極配線9を介して、半導体素子5に電気的に接続されている。
絶縁膜11上に、一部分が電極パッド17を構成する金属配線が形成されている。該金属配線、有機EL素子13及び絶縁層15を覆って、絶縁膜11上に保護膜19が形成されている。保護膜19は光透過性を有する。保護膜19は、例えば、低温マスクCVD(化学気相成長)法で形成されたシリコン窒化膜、又はマスク蒸着法で形成された有機封止層材料である。
有機EL基板1はこれらの部材を備えている。
保護膜19の品質が良ければ、そのままで耐水分透過性と耐酸素透過性を満たせる。しかし、有機EL素子13の上に膜を成膜する際、成膜温度を上げられないという有機EL素子特有の課題がある。したがって、通常、保護膜19だけでは、要求される耐水分透過性及び耐酸素透過性の特性を満たすことができない。
そこで、有機EL発光装置には、有機EL素子13を覆うように有機EL基板1に接合された封止層21が設けられている。封止層21は、CVD法又はスパッタリング法によって形成されたシリコン酸化膜によって形成されている。封止層21は接着剤23によって有機EL基板1に接合されている。有機EL基板1と封止層21との間には空隙24が形成されている。
この実施例の有機EL発光装置では、封止層21はCVD法又はスパッタリング法によって形成されたシリコン酸化膜で形成されているので、封止層としてガラス基板を用いることなく有機EL素子を封止することができる。これにより、封止層としてガラス基板を用いる場合に比べて、低コストで加工精度が高く、生産性が高い有機EL発光装置を形成できる。
図3は、有機EL発光装置の製造方法の一実施例を説明するための概略的な断面図である。この実施例は、図3に示された有機EL発光装置を製造するための製造方法の一例である。図3を参照して、この製造方法の実施例を説明する。以下に説明する各工程のかっこ数字は図3の中のかっこ数字に対応している。
(1)封止層ベース材25の上に封止層21を形成する。封止層ベース材25は例えばシリコン基板である。封止層21はCVD法又はスパッタリング法によって形成されたものである。封止層ベース材25は高温に耐えられるので、高品質(高密度)のシリコン酸化膜からなる封止層21を成膜することができる。
写真製版技術及びエッチング技術を用いて、必要な部分のみに封止層21を残す。写真製版技術及びエッチング技術を使って封止層21をパターニングしているので、封止層21のパターンに関し、高精度のパターンを作ることができる。
(2)封止層21の上に、有機EL基板1の有機EL素子13の周囲に対応する部分に接着剤23を塗布する。封止層21と有機EL基板1とを対向させて、有機EL基板1の上に封止層ベース材25を配置する。
(3)有機EL基板1と封止層21を接合する。封止層21は接着剤23を介して有機EL基板1の保護膜19に接合される。
(4)封止層ベース材25を除去して封止層21を残存させる。封止層ベース材25の除去は、例えば、材質がシリコンの場合はフッ素系のガスでドライエッチング処理によって容易に除去できる。該ドライエッチング処理でシリコン酸化膜からなる封止層21はエッチングされないので、封止層21は残存している。
光を遮断する封止層ベース材25が除去され、有機EL素子13上には、光透過性の保護膜19と、光透過性のシリコン酸化膜からなる封止層21だけになる。これにより、トップエミッション型の有機EL素子13が発光する光を封止層21の外部に取り出すことができる。
このように、有機EL素子13は、高品質のシリコン酸化膜からなる封止層21で保護されているので、高信頼性の有機EL発光装置を封止層としてのガラス基板を使わずに実現できる。
図4は、有機EL発光装置の他の実施例を説明するための概略的な断面図である。図4において図1と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付されている。
この実施例は、有機EL基板1と封止層21の接着が面接着でなされたものである。有機EL素子13の上方において、有機EL基板1と封止層21との間に接着剤23が存在している。この実施例は、有機EL基板1と封止層21との間に空隙がないので、図1に示された実施例と比較して、機械強度が強くなる。
この実施例は、例えば、図3を参照して説明した上記工程(2)において、接着剤23を塗布する領域を、図5に示されるように変更する。これにより、この実施例は、図3を参照して説明した上記工程(1)から上記工程(4)と同様にして製造され得る。
図6は、有機EL発光装置のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。図6において図1と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付されている。
この実施例は、有機EL基板1と封止層21との接合が接着剤を用いずになされたものである。封止層21は凸形状に形成されており、有機EL基板1と封止層21との間に空隙が形成されている。
有機EL基板1と封止層21との接合部は有機EL素子13の形成位置とは異なる位置に設けられている。封止層21は有機EL基板1の絶縁膜11に接合されている。封止層21と絶縁膜11は、直接接合、例えば常温接合によって接合されている。
この実施例では、有機EL基板1と封止層21との接合が、接着剤を用いずに、直接接合によってなされているので、図1に示された実施例と比較して、有機EL素子13への接着剤を介する水分の浸入をなくすことができる。
図7は、有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。この実施例は、図6に示された有機EL発光装置を製造するための製造方法の一例である。図7を参照して、この製造方法の実施例を説明する。以下に説明する各工程のかっこ数字は図7の中のかっこ数字に対応している。
(1)例えば、写真製版技術及びエッチング技術により、シリコンからなる封止層ベース材25に対して、有機EL基板1の有機EL素子13の形成位置に応じた位置に凹部を形成する。該凹部を形成するためのエッチング方法は、例えば、ドライエッチング技術や、KOHを使ったウエットエッチング技術を用いることができる。ただし、エッチング技術はこれに限定されない。
CVD法又はスパッタリング法によって、封止層ベース材25の上に封止層21を形成する。封止層21には、封止層ベース材25の凹部に起因して、有機EL基板1の有機EL素子13の形成位置に応じた位置に凹部が形成される。
写真製版技術及びエッチング技術を用いて、必要な部分のみに封止層21を残す。写真製版技術及びエッチング技術を使って封止層21をパターニングしているので、封止層21のパターンに関し、高精度のパターンを作ることができる。
(2)封止層21と有機EL基板1とを対向させて、有機EL基板1の上に封止層ベース材25を配置する。
(3)有機EL基板1と封止層21を接合する。封止層21は、有機EL基板1の有機EL素子13の形成位置とは異なる位置で、保護膜19に接合される。これにより、封止層21の凹部に起因して、有機EL基板1と封止層21との間に空隙27が形成される。
有機EL基板1の有機EL基板ベース材3も、封止層21が形成された封止層ベース材25も、シリコン基板を使っているので、封止層21の表面及び保護膜19の表面は平坦性がよい。したがって、常温接合技術を使って、有機EL基板1と封止層21を直接接合によって接合することができる。
(4)封止層ベース材25を除去して封止層21を残存させる。封止層ベース材25の除去は、例えば、材質がシリコンの場合はフッ素系のガスでドライエッチング処理によって容易に除去できる。該ドライエッチング処理でシリコン酸化膜からなる封止層21はエッチングされないので、封止層21は残存している。
このように、有機EL素子13は、高品質のシリコン酸化膜からなる封止層21で保護されているので、高信頼性の有機EL発光装置を封止層としてのガラス基板を使わずに実現できる。
さらに、例えば有機材料からなる接着剤を使用せずに、直接接合によって有機EL基板1と封止層21を接合しているので、有機EL基板1と封止層21との接合部の横からの水分浸入を抑えることができる。また、該接合部からの水分浸入を抑えることができるので、有機EL基板1と封止層21の接合部の面積(のり代)を小さくすることができ、有機EL発光装置の小型化を図ることができる。
図8は、有機EL発光装置のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。図8において図1及び図6と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付されている。
この実施例は、図6に示された有機EL発光装置と比較して、保護膜19が形成されておらず、封止層21が接着剤23を介して絶縁膜11に接合されている。さらに、この実施例は、空隙27内に配置された、水分を吸着する乾燥材29を備えている。乾燥材29は封止層21に設けられている。乾燥材29は、例えば、酸化カルシウムや塩化銅である。
この実施例では、空隙27内に乾燥材29が配置されているので、有機EL基板1と封止層21との接合部からの微小な水分の浸入が有っても、有機EL素子13の品質が保護される。これにより、この実施例の有機EL発光装置は、より高品質な有機EL発光装置を実現できる。
この実施例では、有機EL基板1と封止層21は接着剤23によって接合されているが、有機EL基板1と封止層21は直接接合によって接合されていてもよい。また、有機EL基板1は、図1に示された有機EL発光装置及び図6に示された有機EL発光装置と同様に、保護膜19を備えていてもよい。
また、空隙27内に乾燥材29が配置されている構成は、この実施例以外のいずれの実施例にも適用可能である。また、図1に示された実施例において、空隙24内に乾燥材が配置されていてもよい。空隙24内に乾燥材を配置する方法は、例えば、封止層ベース材25に封止層21を形成した後、封止層21を有機EL基板1に接合する前に、封止層21の上に乾燥材を配置することにより実現できる。
図9は、有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。この実施例は、図8に示された有機EL発光装置を製造するための製造方法の一例である。図9を参照して、この製造方法の実施例を説明する。以下に説明する各工程のかっこ数字は図9の中のかっこ数字に対応している。
(1)図7を参照して説明した上記工程(1)と同様にして、封止層ベース材25に、有機EL基板1の有機EL素子13の形成位置に応じた位置に凹部をもつ封止層21を形成する。例えば、インクジェット技術を用いて、封止層21の凹部内に乾燥材29を形成する。なお、乾燥材29の形成方法は、インクジェット技術を用いた方法に限定されず、どのような方法であってもよい。
(2)封止層21の上に、有機EL基板1の有機EL素子13の周囲に対応する部分に接着剤23を塗布する。封止層21と有機EL基板1とを対向させて、有機EL基板1の上に封止層ベース材25を配置する。
(3)有機EL基板1と封止層21を接合する。封止層21は、有機EL基板1の有機EL素子13の形成位置とは異なる位置で、接着剤23を介して絶縁膜11に接合される。これにより、有機EL基板1と封止層21との間の空隙27内に、乾燥材29が配置される。
(4)封止層ベース材25を除去して封止層21を残存させる。封止層ベース材25の除去は、例えば、材質がシリコンの場合はフッ素系のガスでドライエッチング処理によって容易に除去できる。該ドライエッチング処理でシリコン酸化膜からなる封止層21はエッチングされないので、封止層21は残存している。
図10は、有機EL発光装置のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。図10において図1及び図6と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付されている。
この実施例は、図6に示された有機EL発光装置と比較して、封止層21として、シリコン酸化膜(SiO2)21aとシリコン窒化膜(SiN)21bとの2層構造を備えている点で異なる。シリコン酸化膜21a及びシリコン窒化膜21bは、CVD法やスパッタリング法で成膜されたものである。
有機EL基板1と封止層21との接合部において、保護膜19とシリコン窒化膜21bが直接接合によって接合されている。ここで、保護膜19の最上層は、低温CVD又は低温スパッタリングで形成されたシリコン窒化膜あることが好ましい。常温接合は、同一材料同士の接合の方が、互いに異なる材料同士の接合よりも、接合強度が強いからである。
なお、封止層21において、シリコン酸化膜21aとシリコン窒化膜21bが逆に積層されて、シリコン酸化膜21aが保護膜19に接合されるようにしてもよい。
半導体技術で成膜したシリコン酸化膜21aは高品質では有るが、水分透過の観点から見るとシリコン窒化膜21bの方が水分遮断能力は高い。したがって、この実施例は、有機EL素子13の水分に起因する劣化を防止し、より高品質な有機EL発光装置を実現できる。
この実施例は、例えば、図7を参照して説明した上記工程(1)において、シリコン酸化膜21aを形成した後で、封止層21をパターニングする前に、シリコン窒化膜21bを形成する工程を追加することにより製造され得る(図11を参照。)。これにより、この実施例は、図7を参照して説明した上記工程(1)から上記工程(4)と同様にして製造され得る。
図12は、有機EL発光装置のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。図12において図1、図6及び図10と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付されている。
この実施例は、図10に示された有機EL発光装置と比較して、封止層21として、シリコン酸化膜(SiO2)21cをさらに備えている点で異なる。封止層21は、シリコン酸化膜21a/シリコン窒化膜21b/シリコン酸化膜21cの3層構造を備えている。シリコン酸化膜21a、シリコン窒化膜21b及びシリコン酸化膜21cは、CVD法やスパッタリング法で成膜されたものである。
有機EL基板1と封止層21との接合部において、保護膜19とシリコン酸化膜21cが直接接合によって接合されている。ここで、保護膜19の最上層は、低温CVD又は低温スパッタリングで形成されたシリコン酸化膜あることが好ましい。シリコン酸化膜同士の常温接合は接合強度が強いので、より高品質な有機EL発光装置を実現できる。
この実施例は、例えば、図7を参照して説明した上記工程(1)において、シリコン窒化膜21bを形成する工程と、シリコン酸化膜21cを形成する工程とを追加することにより製造され得る(図13を参照。)。シリコン窒化膜21bを形成する工程とシリコン酸化膜21cを形成する工程は、シリコン酸化膜21aを形成した後で、封止層21をパターニングする前に実施される。これにより、この実施例は、図7を参照して説明した上記工程(1)から上記工程(4)と同様にして製造され得る。
図14は、有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。この実施例は、複数の有機EL発光装置の領域に対して一括で封止層の接合及び封止層ベース材の除去を実施する。例えば、図6に示された有機EL発光装置を製造するための製造方法の一例である。
ただし、複数の有機EL発光装置の領域に対して一括で封止層の接合及び封止層ベース材の除去を実施する製造方法は、図6に示された有機EL発光装置の製造に限らず、他の実施例の有機EL発光装置及び本発明の有機EL発光装置の製造に適用できる。
図14を参照して、この製造方法の実施例を説明する。以下に説明する各工程のかっこ数字は図14の中のかっこ数字に対応している。
(1)1つの有機EL基板ベース材3に複数の有機EL基板1の領域を形成する。有機EL基板ベース材3は、例えば8インチのシリコンウエハである。保護膜19は、シリコンに対するエッチング処理時に選択的に残存させることができる材料、例えば、シリコン酸化膜やシリコン窒化膜、シリコン酸化膜及びシリコン窒化膜の積層膜などによって形成されている。
(2)封止層ベース材25に複数の封止層21を形成する。封止層ベース材25は、有機EL基板ベース材3と同じサイズであり、例えば8インチのシリコンウエハである。封止層21は、封止層ベース材25において、有機EL基板ベース材3の有機EL基板1の領域の位置に対応して、有機EL基板1の領域ごとに配置されている。
複数の封止層21が配置された封止層ベース材25を、封止層21と保護膜19とを対向させて、有機EL基板ベース材3の上に配置する。封止層ベース材25と有機EL基板ベース材3は同じサイズなので、封止層ベース材25と有機EL基板ベース材3の位置合せは容易である。
(3)複数の有機EL基板1の領域に対して一括で封止層21を接合する。封止層21は、有機EL基板1の領域ごとに、例えば常温接合によって保護膜19に接合される。複数の有機EL基板1の領域に対して一括で封止層21が接合されるので、有機EL基板1の領域ごとに封止層21が接合される場合に比べて、複数の有機EL基板1の領域に対する封止層21の接合に要する時間が短縮される。
(4)封止層ベース材25を除去して封止層21を残存させる。この状態になれば、通常のダイシング装置やレーザーダイシング装置を用いて、シリコンウエハからなる有機EL基板ベース材3を切断できる。
その後、ダイシング技術により、有機EL基板ベース材3を個片化し、封止層21と個片化された有機EL基板1を有する有機EL発光装置を得る。このように、複数の有機EL基板1の領域に対して一括で封止層21を形成することにより、生産性が高い有機EL発光装置を提供することができる。
図15は、有機EL発光装置の製造方法のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。この実施例は、複数の有機EL発光装置の領域に対して一括で封止層の接合及び封止層ベース材の除去を実施する。例えば、図6に示された有機EL発光装置を製造するための製造方法の一例である。
(1)図14を参照して説明した上記工程(1)〜(3)と同様にして、複数の有機EL基板1の領域に対して一括で封止層21を接合する。その後、有機EL基板ベース材3の裏面(有機EL素子13の形成面とは反対側の面)にサポート基板31を貼り付ける。サポート基板31は、通常のダイシング処理時に使用されるものであればよく、例えば樹脂フィルムである。
(2)ドライエッチング技術を用いて、シリコンからなる封止層ベース材25及び有機EL基板ベース材3に対してエッチング処理を実施する。このエッチング処理において、例えばICPエッチング装置が用いられる。図14(2)の状態は、封止層ベース材25が除去された状態を示している。
(3)封止層ベース材25が除去された後もドライエッチング処理を継続し、有機EL基板ベース材3に対してエッチング処理を施す。絶縁膜11で覆われていない有機EL基板ベース材3の部分は、ICPエッチング装置により、ほぼ垂直にエッチングされる。
有機EL基板1の領域の周囲部分の有機EL基板ベース材3が除去され、有機EL基板1が個片化される。これにより、個片化された有機EL基板1と封止層21とを有する、複数の有機EL発光装置が得られる。
ドライエッチング技術による有機EL基板ベース材3の個片化は、絶縁膜11の加工精度、言い換えるとステッパーを使用した写真製版技術の加工精度で実現される。したがって、ドライエッチング技術によって有機EL基板1を個片化することにより、ダイシング装置等を用いて有機EL基板1を個片化する場合に比べて、個片化された有機EL基板1の寸法精度に関して精密な加工ができる。これにより、寸法が高精度な有機EL発光装置を提供することができる。
さらに、封止層ベース材25の除去処理と、複数の有機EL基板1の個片化処理とをドライエッチング技術によって連続的に実施することにより、これらの処理を連続的に実施しない場合に比べて、これらの処理に要する時間が短縮される。これにより、生産性が高い有機EL発光装置を提供することができる。
図16は、有機EL光源装置の一実施例を説明するための概略的な平面図である。図17は、この実施例の有機EL光源装置を用いた露光装置を説明するための概略的な斜視図である。
有機EL光源装置33は、光源基板35と、光源基板35上に搭載された複数の有機EL発光装置37を備えている。光源基板35は、外部電気信号や電源を有機EL発光装置37に入力するためのコネクタ39を備えている。
有機EL発光装置37は、本発明の有機EL発光装置によって構成されている。有機EL発光装置37の端子は、例えばボンディングワイヤによって光源基板35の端子に電気的に接続されている。有機EL発光装置37は、複数の有機EL素子が配列された発光部37aと、発光部37aの駆動を制御するための駆動回路37bを備えている。
露光装置において、有機EL発光装置37上にスペーサガラス41が配置されている。スペーサガラス41上にセルフォック(登録商標)レンズアレイ43が配置されている。有機EL発光装置37の発光部37aに配列された各有機EL素子が発光した光は、スペーサガラス41及びセルフォックレンズアレイ43を介して結像スポット45に結像される。このような露光装置は例えば特許文献5,6に開示されている。
図17に示されるように、等倍光学系が用いられている場合、発光部37aの長さは画像を形成する幅と同一の長さが必要である。例えば、A3サイズ(297mm)に画像を形成するための有機EL光源装置33であれば、発光部分37aもA3サイズになる。A3サイズの有機EL発光装置37を作るのは容易では無いので、図16に示されるように、複数の有機EL発光装置37を並べて作る方が低コストで実現できる。
ただし、有機EL発光装置37を複数配列する場合、隣り合う有機EL発光装置37間の繋ぎ目の精度が問題となる。該繋ぎ目の精度が悪いと、印字に隙間が出たり、段ズレが出たりする。
図18は、有機EL発光装置の寸法例を説明するための図である。
有機EL発光装置37が例えば1200dpi(ドットパーインチ)の露光装置に適用される場合、有機EL発光装置37の端部(ダイシングライン)と発光部37a(有機EL素子)の端部との間の寸法は2±1μm(マイクロメートル)の寸法精度が要求される。該寸法精度は、複数の有機EL発光装置37が配列されたときの繋ぎ目の精度に影響する。
従来技術のように封止層としてガラス基板が用いられている場合、通常のガラス加工では、この精度は達成できない。これに対し、本発明の有機EL発光装置は、封止層として化学気相成長法もしくは物理気相成長法又はその両方によって形成されたものを用いるので、この精度を達成できる高精度の加工が実現できる。
以上、本発明の実施例を説明したが、上記実施例での数値、材料、配置、個数等は一例であり、本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の範囲内で種々の変更が可能である。
例えば、上記実施例では、有機EL基板ベース材3としてシリコン基板が例示されているが、本発明において、有機EL基板ベース材は、他の材料、例えばガラスや樹脂であってもよい。
また、上記実施例では、有機EL基板1に半導体素子5が形成されているが、本発明において、有機EL基板には、素子として有機EL素子のみが形成されていてもよいし、半導体素子以外の素子が形成されていてもよい。
また、封止層21はCVD法又はスパッタリング法で形成されているが、本発明において、封止層はスパッタリング法以外の物理気相成長法で形成されたものであってもよい。
また、有機EL基板1と封止層21は接着剤23又は常温接合によって接合されているが、本発明において、有機EL基板と封止層は、常温接合以外の直接接合や、接着剤以外の接着層を用いた間接接合であってもよい。
また、封止層21は、シリコン酸化膜の単層膜、シリコン酸化膜21aとシリコン窒化膜21bの積層膜、又は、シリコン酸化膜21aとシリコン窒化膜21bとシリコン酸化膜21cの積層膜によって形成されているが、本発明において封止層はこれに限定されない。本発明において、封止層は、化学気相成長法もしくは物理気相成長法又はその両方によって形成された、光透過性を有する材料で形成されていればよい。
また、本発明の有機EL発光装置が適用される装置は、露光装置に限定されない。
本発明の有機EL発光装置の製造方法において、封止層ベース材を除去する方法は、ドライエッチング技術に限定されず、封止層ベース材を除去して封止層を残存させることができる方法であれば、どのような技術を用いてもよい。
1 有機EL基板
3 有機ELベース材
13 有機EL素子
21 封止層
21a,21c シリコン酸化膜
21b シリコン窒化膜
25 封止層ベース材
27 空隙
29 乾燥材
37 有機EL発光装置
特開2008−181828号公報 特開2005−178363号公報 特開2004−342515号公報 特開2007−287660号公報 特開2000−158704号公報 特開2006−130713号公報

Claims (5)

  1. 化学気相成長法もしくは物理気相成長法又はその両方によって封止層ベース材に封止層を形成する工程と、
    有機EL素子を有する有機EL基板に、前記有機EL素子を覆うように前記封止層を接合する工程と、
    前記封止層ベース材を除去して前記封止層を残存させる工程と、を含み、
    封止層ベース材はシリコンで形成されており、
    前記封止層ベース材を除去する際に、前記封止層ベース材をエッチングによって除去する、
    有機EL発光装置の製造方法。
  2. 化学気相成長法もしくは物理気相成長法又はその両方によって封止層ベース材に封止層を形成する工程と、
    有機EL素子を有する有機EL基板に、前記有機EL素子を覆うように前記封止層を接合する工程と、
    前記封止層ベース材を除去して前記封止層を残存させる工程と、を含み、
    複数の前記有機EL基板の領域が形成された有機EL基板ベース材と、前記有機EL基板ベース材と同じサイズの前記封止層ベース材を用いて、複数の前記有機EL発光装置の領域に対して一括で前記封止層の接合及び前記封止層ベース材の除去を実施する、
    有機EL発光装置の製造方法。
  3. 前記封止層の接合を実施した後、ドライエッチングを用いて、前記封止層ベース材及び前記有機EL基板ベース材に対してエッチング処理を実施し、前記封止層ベース材の除去と、複数の前記有機EL基板の領域の個片化とを連続的に実施する、請求項に記載の有機EL発光装置の製造方法。
  4. 前記有機EL素子の形成位置に応じた位置に凹部をもつ前記封止層を前記封止層ベース材に形成し、
    前記有機EL基板の前記有機EL素子の形成位置とは異なる位置に前記封止層を接合して、前記有機EL基板と前記封止層との間に前記凹部に起因した空隙を形成する、請求項1から3のいずれか一項に記載の有機EL発光装置の製造方法。
  5. 前記有機EL基板と前記封止層とを直接接合によって接合する、請求項に記載の有機EL発光装置の製造方法。
JP2013043518A 2013-03-05 2013-03-05 有機el発光装置の製造方法 Expired - Fee Related JP6182909B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013043518A JP6182909B2 (ja) 2013-03-05 2013-03-05 有機el発光装置の製造方法
CN201410064437.1A CN104037356B (zh) 2013-03-05 2014-02-25 有机电致发光装置和制造方法以及有机电致光源装置
US14/196,025 US9196854B2 (en) 2013-03-05 2014-03-04 Organic EL lighting emitting device, method of manufacturing the same, and organic EL light source device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013043518A JP6182909B2 (ja) 2013-03-05 2013-03-05 有機el発光装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014175053A JP2014175053A (ja) 2014-09-22
JP6182909B2 true JP6182909B2 (ja) 2017-08-23

Family

ID=51468049

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013043518A Expired - Fee Related JP6182909B2 (ja) 2013-03-05 2013-03-05 有機el発光装置の製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9196854B2 (ja)
JP (1) JP6182909B2 (ja)
CN (1) CN104037356B (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6232277B2 (ja) * 2013-12-18 2017-11-15 東京エレクトロン株式会社 有機el素子構造、その製造方法及び発光パネル
KR102554963B1 (ko) * 2015-10-29 2023-07-11 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
CN105549278B (zh) * 2016-01-11 2018-03-06 深圳市华星光电技术有限公司 Ips型tft‑lcd阵列基板的制作方法及ips型tft‑lcd阵列基板
CN105514032A (zh) * 2016-01-11 2016-04-20 深圳市华星光电技术有限公司 Ips型tft-lcd阵列基板的制作方法及ips型tft-lcd阵列基板

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6969635B2 (en) * 2000-12-07 2005-11-29 Reflectivity, Inc. Methods for depositing, releasing and packaging micro-electromechanical devices on wafer substrates
JP3692249B2 (ja) 1998-11-27 2005-09-07 京セラ株式会社 光プリンタヘッド
US6798133B1 (en) * 1999-09-09 2004-09-28 Siemens Aktiengesellschaft Glass cover and process for producing a glass cover
JP3881888B2 (ja) * 2001-12-27 2007-02-14 セイコーエプソン株式会社 光デバイスの製造方法
JP3800098B2 (ja) * 2002-01-28 2006-07-19 株式会社豊田自動織機 有機elパネル及びその製造方法
JP2003288026A (ja) * 2002-03-28 2003-10-10 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
JP2004152663A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Seiko Epson Corp 表示パネル及びその表示パネルを備えた電子機器並びに表示パネルの製造方法
JP4325249B2 (ja) * 2003-03-31 2009-09-02 凸版印刷株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
JP4449341B2 (ja) 2003-05-16 2010-04-14 カシオ計算機株式会社 封止構造
JP4974452B2 (ja) 2003-10-28 2012-07-11 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
WO2005122262A1 (en) * 2004-06-09 2005-12-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of manufacturing an image sensor and image sensor
JP4552601B2 (ja) 2004-11-04 2010-09-29 セイコーエプソン株式会社 露光装置及び画像形成装置
JP4592473B2 (ja) * 2005-03-31 2010-12-01 三洋電機株式会社 発光パネルの製造方法、表示パネルの製造方法及び表示パネル
JP2007118564A (ja) * 2005-09-28 2007-05-17 Fujifilm Corp ガスバリア材料およびその製造方法、並びに、ガスバリア層の設置方法
JP4533392B2 (ja) 2006-03-22 2010-09-01 キヤノン株式会社 有機発光装置
JP2007288024A (ja) * 2006-04-19 2007-11-01 Dainippon Printing Co Ltd センサーチップおよびその製造方法
JP4776556B2 (ja) 2007-01-26 2011-09-21 株式会社アルバック 有機el素子、有機el素子の製造方法
JP2009037811A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Sumitomo Chemical Co Ltd 有機el装置の製造方法
JP2009188461A (ja) 2008-02-01 2009-08-20 Ricoh Co Ltd 撮像装置
US20100283056A1 (en) * 2008-03-06 2010-11-11 Takuto Yasumatsu Display apparatus, liquid crystal display apparatus, organic el display apparatus, thin-film substrate, and method for manufacturing display apparatus
JP5217844B2 (ja) * 2008-09-26 2013-06-19 コニカミノルタホールディングス株式会社 照明用面発光パネル
KR101783781B1 (ko) * 2010-07-05 2017-10-11 삼성디스플레이 주식회사 평판 표시 장치 및 그 제조방법
JP4976595B1 (ja) * 2011-03-11 2012-07-18 パイオニア株式会社 有機エレクトロルミネッセンスデバイス
KR101897743B1 (ko) * 2011-06-01 2018-09-13 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법
CN102569678A (zh) * 2012-03-07 2012-07-11 上海大学 一种顶发射oled的复合薄膜封装方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104037356B (zh) 2017-04-12
US20140252328A1 (en) 2014-09-11
US9196854B2 (en) 2015-11-24
CN104037356A (zh) 2014-09-10
JP2014175053A (ja) 2014-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8716109B2 (en) Chip package and fabrication method thereof
JP6114670B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
JP4416731B2 (ja) 発光ダイオードパッケージ及びその製造方法
US9691948B2 (en) Method for manufacturing light emitting device with preferable alignment precision when transferring substrates
TWI473224B (zh) 晶片封裝體
JP6182909B2 (ja) 有機el発光装置の製造方法
US9142486B2 (en) Chip package and fabrication method thereof
TWI512811B (zh) 晶片封裝體及其製作方法
JP2013033786A5 (ja) 半導体装置、半導体装置の製造方法、および電子機器
TWI584491B (zh) 發光裝置與其製作方法
JP2009238963A (ja) 発光ダイオードチップおよびその製造方法
TWI755792B (zh) 顯示器件及其製造方法
JP2017147044A (ja) 表示装置、および表示装置の作製方法
JP2013247301A (ja) 半導体発光装置及びその製造方法
JP2019102619A (ja) 半導体装置および機器
US8309433B2 (en) Method of manufacturing optical sensor
JPWO2021065918A5 (ja)
JP6409287B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス発光装置および有機エレクトロルミネッセンス発光装置の製造方法、並びに画像形成装置
JP2007179913A (ja) El装置及びその製造方法
JP5313769B2 (ja) 積層基板および発光素子の製造方法
JP2008010275A (ja) 画像表示装置
JP5328261B2 (ja) 有機el素子
JPWO2021020393A5 (ja)
JP7091598B2 (ja) 発光装置の製造方法
JP2011023544A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス素子、有機エレクトロルミネッセンス表示装置およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20150522

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160212

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20161020

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161129

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170127

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170627

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170710

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6182909

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees