以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。
まず、本実施例に関わる固体撮像装置の構成について説明し、その後、固体撮像装置の動作について説明する。尚、以下の説明では、画素をNチャネルトランジスタで構成した例を説明する。画素をPチャネルトランジスタで構成する場合にも、Nチャネルトランジスタで構成する場合に対して電圧の極性を反対にすることによって本発明を適用することができる。
図1は、本実施例の一例を示したブロック図である。100は光電変換により、入射光に基づく信号を出力する有効画素、101は光電変換を行わずに信号を出力するリファレンス画素である。有効画素100が複数行、複数列設けられている。また、リファレンス画素101は有効画素100が設けられた各列に配列されている。有効画素100、リファレンス画素101が複数行、複数列配列されることによって画素領域130が形成されている。以下、有効画素100とリファレンス画素101とが配列された領域を画素領域130、有効画素100のみが配列された領域を有効画素領域120と区別して表記する。
リファレンス画素101は、同じ列に属する有効画素100の全てよりも、後述する差動増幅器112に近接して設けられており、画素領域130の差動増幅器112側の端部に設けられている。この近接とは、有効画素100とリファレンス画素101それぞれの差動増幅器112側の端部を比較し、リファレンス画素101の差動増幅器112側の端部の方が差動増幅器112に近いことを意味している。102は、列に沿った方向に配列された複数の有効画素100が電気的に接続された第1の垂直信号線である。103は、リファレンス画素101が電気的に接続された第2の垂直信号線である。以下、第2の垂直信号線103が伝送するリファレンス画素101からの信号をリファレンス信号と表記する。
104、105はそれぞれ第1の垂直信号線102、第2の垂直信号線103にドレインが電気的に接続された負荷MOSトランジスタであり、第1の垂直信号線102、第2の垂直信号線103に定電流を流す定電流源である。負荷MOSトランジスタ104は第1のトランジスタ、負荷MOSトランジスタ105は第2のトランジスタである。負荷MOSトランジスタ104、105は、制御電極であるゲートに共通ゲート配線116が、ソースにGND配線117が電気的に接続されている。共通ゲート配線116は制御信号線であり、第1の垂直信号線102、第2の垂直信号線103に供給する電流値を決める制御信号を印加する。
C0s、C0r、Cfs、Cfrは容量であり、110、111はスイッチである。差動増幅器112は差分信号出力部140の一例であり、第1の垂直信号線102が伝送する有効画素100からの信号と、第2の垂直信号線103が伝送するリファレンス信号とを差動増幅して出力する。
複数列設けられた差動増幅器112は、画素領域130を挟んで交互に配列されている。容量C0sと容量C0rは同じ容量値を有していることが好ましい。さらに、容量Cfsと容量Cfrとが同じ容量値を有していることが好ましい。容量C0s、C0rによって、後述する第1のCDSが行われる。
これは、有効画素100からの信号とリファレンス信号の増幅率を等しくするためである。差動増幅器112のゲインは容量比C0s/Cfsおよび容量比C0r/Cfrによって決定される。図示しないが、容量Cfs、Cfrのそれぞれを複数の容量で構成し、その容量値を可変とすることで、差動増幅器112のゲインを変更することができる。容量C0s、C0rのそれぞれに対して、容量Cfs、Cfrのそれぞれの容量値が大きいときは低ゲインとなる。逆に、容量C0s、容量C0rのそれぞれに対して、容量Cfs、容量Cfrのそれぞれの容量値が小さいときは高ゲインとなる。
118は差動増幅器112にリファレンス電圧Vrefを供給するリファレンス電圧線である。差動増幅器112と容量C0s、C0r、Cfs、Cfr、スイッチ110、111により、スイッチトキャパシタを利用した差分回路を構成している。差動増幅器112の反転入力端子(−)には有効画素100からの信号が入力され、非反転入力端子(+)にはリファレンス信号が入力される。113は、信号処理回路であり、差動増幅器112に電気的に接続されている。
有効画素100、リファレンス画素101、第1の垂直信号線102、第2の垂直信号線103、差動増幅器112は、複数列設けられている。114は水平シフトレジスタ(以下、HSRと表記する)であり、複数列設けられた信号処理回路113に電気的に接続されている。HSR114が複数列の信号処理回路113から信号を出力する信号処理回路113を選択する。HSR114によって選択された信号処理回路113から信号が出力され、出力された信号が固体撮像装置の出力する信号115となる。
図2は有効画素100、リファレンス画素101の一例を示した図である。フォトダイオード201は光電変換により入射光を電荷に変換する光電変換部である。202は転送MOSトランジスタであり、ソースはフォトダイオード201、ゲートは転送制御線207、ドレインはフローティングディフージョン領域(以下、FD領域と表記する)203にそれぞれ電気的に接続されている。FD領域203はフォトダイオード201から転送MOSトランジスタ202を介して転送された電荷を保持する領域である。固体撮像装置を半導体基板上に形成する場合には、FD領域は例えば不純物拡散領域で形成される。204はリセットMOSトランジスタであり、ソースはFD領域203、ゲートはリセット制御線208、ドレインはリセット供給線209にそれぞれ電気的に接続されている。205は増幅MOSトランジスタであり、制御電極であるゲートはFD領域203、ドレインは電圧源Vdd、ソースは第1の垂直信号線102にそれぞれ電気的に接続されている。増幅MOSトランジスタ205は第1の増幅トランジスタであり、後述するリファレンス画素101が有する増幅MOSトランジスタ215は第2の増幅トランジスタである。増幅MOSトランジスタ205は、制御電極であるゲートに印加された電圧に基づく信号を第1の垂直信号線102に出力する。つまり、FD領域203に保持された電荷に基づいた信号を第1の垂直信号線102に出力する。リセット制御線208、リセット供給線209、転送制御線207は行選択部210にそれぞれ電気的に接続されている。
リファレンス画素101は、フォトダイオード201の代わりに容量211が設けられている。リファレンス画素101は、フォトダイオードの代わりに容量が設けられている点を除いて有効画素100と同一の等価回路を有する構造とすることができる。リファレンス画素101の増幅MOSトランジスタ215のソースは、第2の垂直信号線103に電気的に接続されている。リファレンス画素101の転送MOSトランジスタ202は、有効画素100の転送MOSトランジスタ202と同じ構成としてもよい。また、図2に例示したように、リファレンス画素101の転送MOSトランジスタ202のソースとドレインをショートさせた形態とすることもできる。この形態とした時には、転送MOSトランジスタ202のソースとドレイン間を導通させたON状態としなくとも、FD領域213と容量211の電位を揃えることができる。よって、転送MOSトランジスタ202のON、OFFを切り替えることによって生じるノイズの影響を少なくできる。同様に、リファレンス画素101において転送MOSトランジスタ202を設けず、FD領域213と容量211を接続させても良い。以下、リファレンス画素101の転送MOSトランジスタ202のソースとドレイン間が、図2で例示したようにショートされている形態として説明する。
有効画素100、リファレンス画素101の転送制御線207、リセット制御線208、リセット供給線209は行選択部210に電気的に接続されている。
図3(a)は、図1および図2に例示した固体撮像装置の駆動方法を例示したタイミング図である。PRESは、リセット制御線208に印加されるパルス、PSELは転送制御線207に印加されるパルスである。PTN、PTSは例えば不図示のタイミング発生部から信号処理回路113に印加されるパルスである。PTS、PTNが信号処理回路113に印加されることにより、差動増幅器112から出力された信号が信号処理回路113にて、後述する第2のCDSが行われる。VLine1は第1の垂直信号線102の電位、VLine2は第2の垂直信号線103の電位、GNDはGND配線117の電位、Voutは差動増幅器112からの出力電位を表している。
図3(a)に例示したタイミング図においては、パルスをHighレベル(以下、Hレベルと表記する)とした時に、パルスが印加されたMOSトランジスタの、ソースとドレイン間が導通する。一方、Lowレベル(以下、Lレベルと表記する)とした時にはソースとドレイン間が電気的に遮断される。尚、Lレベルのパルスがゲートに印加されることでソースとドレイン間が導通するMOSトランジスタを用いた場合には、図3に示したパルスのHレベルとLレベルを反対にすることで、本実施例と同様の動作をすることができる。
以下、図3(a)に例示したタイミング図について、時刻t1から順を追って、本実施例の固体撮像装置の駆動方法について説明する。
時刻t1において、有効画素100とリファレンス画素101にそれぞれ印加するPRESをHレベルとし、また、リセット供給線209に信号を印加して、FD領域203、213の電位をリセットレベルとする。また、PRESをHレベルにすると共にスイッチ110、111をONにする。
時刻t2において、PRESをLレベルとし、FD領域203、213のリセットを解除する。リセットMOSトランジスタ204のソースとドレイン間が電気的に遮断される時に生じるチャージインジェクションにより、FD領域203、213の電位がリセットレベルより低下する。従って、増幅MOSトランジスタ205、215が出力する信号の電位が低下するため、VLine1、VLine2の電位も低下する。
時刻t3において、スイッチ110、111をOFFにし、増幅MOSトランジスタ205、215が出力する信号(以下、リセット信号と表記する)を容量C0s、C0rに保持する。スイッチ110、111をOFFすることによって生じるチャージインジェクションにより、差動増幅器112の出力電位Voutが上昇する。この出力電位Voutは、リファレンス電圧Vrefと差動増幅器112のオフセット電圧Voffとして、Vout=Vref+Voffの式で表される。この状態の差動増幅器112の出力電位VoutをN信号と以下表記する。
時刻t4において、PTNをHレベルとして、信号処理回路113に差動増幅器112が出力するN信号が読み出される。
時刻t5において、PTNをLレベルとして、信号処理回路113へのN信号の読み出しを終了する。
時刻t6において、有効画素100とリファレンス画素101に印加するPTXをHレベルとする。
これにより、フォトダイオード201で生じた電荷がFD領域203に転送される。FD領域203に保持された電荷に基づいて増幅MOSトランジスタ205が出力する信号(以下、光電変換信号と表記する)が第1の垂直信号線102に伝送される。FD領域203に保持された電荷に応じて、第1の垂直信号線102の電位は低下する。フォトダイオード201の光電変換は、前回の信号読み出し期間においてPTXがHレベルからLレベルとなった時刻t7から、今回の信号読み出し期間の時刻t6までの間に行われればよい。この信号読み出し期間とは、時刻t1から時刻t9までの期間を表している。リファレンス画素101は光電変換を行わないため、負荷MOSトランジスタ105から供給される電流値に変動がない限りにおいては、FD領域213の電位は時刻t5時点の電位から変化しない。よって、リファレンス信号はリセット時から変化しない。容量C0r、C0sはリセット信号を時刻t3にスイッチ110,111をオフすることで保持している。よって、時刻t6にFD領域203の電位が変化すると、差動増幅器112の、第1の垂直信号線102と接続された端子には、光電変換信号とリセット信号との差分に基づく信号が入力される。第2の垂直信号線103に接続された端子には、時刻t3で保持したリセット信号と、時刻t6で増幅MOSトランジスタ215から出力される信号との差分に基づく信号が出力される。先述したように、リファレンス画素101は光電変換を行わないため、負荷MOSトランジスタ105から供給される電流値に変動がない限りにおいては第2の垂直信号線103の電位VLine2は変化しない。よって、差動増幅器112の、第2の垂直信号線103に接続された端子には、第2の垂直信号線103の電位VLine2に変化が無い場合には、時刻t3におけるレベルが信号として入力される。上述の動作によって、容量C0s、C0rによって第1のCDSが行われる。時刻t6の差動増幅器112の出力電位Voutは、容量比C0s/Cfsに応じて増幅された光電変換信号と、容量比C0r/Cfrに応じて増幅されたリファレンス信号の差分である。この差分出力電位をS信号と以下表記する。
リファレンス画素101と、リファレンス画素101と同じ列に属するN行目の有効画素100とのそれぞれに印加するPTXを、同時にHレベルとする。ここでいうN行目のNは、1以上の自然数である。これにより、リファレンス画素101からのリファレンス信号と、N行目の有効画素100が出力する光電変換信号とが、信号処理回路113に同時に出力される。つまり、1行目の有効画素100からの入射光に基づく信号を読み出す時には、1行目の有効画素100に印加するPTXと、この有効画素100と同じ列に属するリファレンス画素101に印加するPTXとを同時にHレベルとする。この動作を有効画素100の各行からの光電変換信号を読み出す時に行い、有効画素100からの信号とリファレンス信号との同時読み出しを行う。
時刻t7において、PTXをHレベルからLレベルとして、フォトダイオード201とFD領域203とを電気的に遮断する。
時刻t8において、PTSをHレベルにすることで、信号処理回路113にS信号が読み出される。
時刻t9において、PTSをLレベルにすることによって、信号処理回路113へのS信号の読み出しが終了する。
信号処理回路113は読み出されたS信号とN信号の差分を出力する。この差分処理により、S信号に含まれる差動増幅器112のオフセット電圧Voffが差し引かれる。つまり、第2のCDSが信号処理回路113によって行われる。そして、HSR114によって選択された信号処理回路113から信号が出力され、この信号が、固体撮像装置の出力する信号115である。
本実施例の固体撮像装置は、増幅MOSトランジスタ205、215は差動増幅器112とは別に設けられた構成を有している。従って、増幅MOSトランジスタが差動対の入力段を兼ねる構成に比して、本実施例の固体撮像装置は増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータの設定の自由度が向上する効果を有する。ここでいうパラメータとは、トランジスタの動作に影響する要素を指す。たとえばゲート面積、電圧増幅率、電流増幅率、しきい値電圧、許容損失など多様な要素がある。
また、特許文献1に記載の固体撮像装置では、有効画素とリファレンス画素のそれぞれが出力する信号の差分を得て、有効画素の出力する信号に重畳されているノイズを精度よく低減するために、有効画素とリファレンス画素とで微小容量Cioと浮遊拡散容量Cfdの容量比を揃える必要があった。有効画素100のフォトダイオード201の面積を圧迫することなく1/fノイズを低減するためには、リファレンス画素101の増幅MOSトランジスタ215のゲート面積を大きくすることが考えられる。特許文献1に開示された構成の回路で、リファレンス画素の増幅MOSトランジスタのゲート面積を大きくした場合には、浮遊拡散容量Cfdも寄生容量の増大によって大きくなるため、微小容量Cioと浮遊拡散容量Cfdの容量比を調整する必要があった。これに対し、本実施例の構成では、有効画素100とリファレンス画素101の内部に微小容量Cioを設けない構成とすることができる。よって、微小容量Cio、浮遊拡散容量Cfdの容量比を調整することなく、増幅MOSトランジスタ215のゲート面積の拡大を行うことができ、1/fノイズの影響を少なくすることができる。
リファレンス画素101は有効画素領域120の外に設けられている。従って、フォトダイオード201の面積を圧迫することなく、リファレンス画素101の増幅MOSトランジスタ215の制御電極であるゲートの面積を大きくすることができるため、1/fノイズの影響を少なくすることができる。また、リファレンス画素101は有効画素100よりも差動増幅器112に近接して設けられている。これにより、第2の垂直信号線103の配線長さを短くすることができるとともに、有効画素領域120内に第2の垂直信号線103が入り込まない構成とすることができるため、フォトダイオード201の面積を圧迫しない。
増幅MOSトランジスタ205と増幅MOSトランジスタ215のゲートの面積を等しくする場合についても、本実施例の固体撮像装置は、増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータから独立して差動増幅器112を設計することができる効果を有している。
また、有効画素100、リファレンス画素101が有する電圧源Vddは、差動増幅器112が有する不図示の電源とは別に設けられている。これにより、有効画素100、リファレンス画素101に供給する電圧源Vddとは別の電圧で差動増幅器112を動作させることができる。
増幅MOSトランジスタ215を増幅MOSトランジスタ205よりも小さくする場合についても、増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータから独立して差動増幅器112を設計することができる効果を有している。さらに、増幅MOSトランジスタ215を小さくできる分、有効画素領域120の面積を広くできるため、有効画素100のフォトダイオード201の面積も拡大できる。よって、感度の悪化を低減できる。
特許文献1に記載の固体撮像装置では、垂直信号線に接続された電流源はソース電極からゲート電極、ドレイン電極を経由して信号線に電流を供給している。よって、信号を読み出す有効画素を選択した時、垂直信号線を流れる電流の電流値が一時的に変動する。この電流値の変動が安定するまでの時間は差動増幅回路が持つ電流源の電流値に律速される。このため、信号線の電流値の変動の影響を受けずに信号を読み出すためには、有効画素を選択してから垂直信号線を流れる電流の電流値が落ち着くまでの待機時間を設ける必要がある。
一方、本実施例で説明した固体撮像装置では、各画素の出力はソースフォロワ回路の電圧出力として与えられるので、垂直信号線の電位変動は電流源を流れる電流値に律速されない。そのため、複数の有効画素100を垂直走査して有効画素信号を読み出す時に、特許文献1に記載の固体撮像装置に比べて、有効画素を選択してから信号線を流れる電流の変動が落ち着くまでの待機時間を少なくすることができる。
また、特許文献1に記載の固体撮像装置では、有効画素の内部に微小容量Cio、浮遊拡散容量Cfdが設けられている。これに対して、本実施例の固体撮像装置は微小容量Cioが設けられていない。特許文献1に記載の固体撮像装置と本実施例の固体撮像装置を、同じ面積に同じ数の有効画素を設けることを考えると、本実施例の固体撮像装置の方が光電変換部の面積を大きくすることができる。よって、感度低下を抑制することができる。
次に、図3(a)に示したVLine1、VLine2、GNDに示した破線について説明しながら、固体撮像装置が出力する画像において問題となる、横スミアや横縞を本実施例の固体撮像装置が低減できることについて説明する。
強い光が、有効画素領域120の一部の有効画素100に入射した場合を想定する。強い光が入射した有効画素100からの有効画素信号により第1の垂直信号線102の電位が大きく低下する。入射した光が非常に強い場合には、負荷MOSトランジスタ104のソース・ドレイン間の電圧が0Vに近づき、特に強い光が入射した場合には負荷MOSトランジスタ104がOFFしてしまう。GND配線117に流れる電流は、OFFしている負荷MOSトランジスタ104の数によって変化する。また、GND配線117のインピーダンスとGND配線117に流れる電流でGND配線117に生じる電圧降下によって、負荷MOSトランジスタ104、105に流れる電流が変化する。よって、強い光が入射している有効画素100の数が多い行ほどOFFしている負荷MOSトランジスタ104の数が多いため、GND配線117の電圧降下が小さく、負荷MOSトランジスタ104、105に流れる電流が多くなる。これにより、増幅MOSトランジスタ205、215のゲートとソース間の電位差が大きくなる。リファレンス画素101が設けられていない構成の場合、増幅MOSトランジスタ205のゲートとソース間の電位差が大きくなることにより、強い光が入射されている有効画素100を含む行と、そうでない行との光電変換信号の出力範囲が異なってしまう。その結果、強いスポット光が入射された画像で、スポットの左右に白っぽい帯が発生する横スミアが生じることがあった。
本実施例はリファレンス画素101が設けられており、第2の垂直信号線103が負荷MOSトランジスタ105を介して共通ゲート配線116、GND配線117に電気的に接続された構成となっている。この構成を有することにより、強い入射光が有効画素100に入射した時、有効画素100の増幅MOSトランジスタ205のソースとゲート間の電位差が大きくなる。また、リファレンス画素101の増幅MOSトランジスタ215のソースとゲート間の電位差も同様に大きくなる。差動増幅器112からのS信号は、光電変換信号とリファレンス信号の差分であるため、増幅MOSトランジスタ205、215それぞれのソースとゲート間の電位差の増大の影響を差し引くことができる。従って、横スミアの発生を抑制することができる。
また本実施例が、横スミアと同様に画像の品質低下を招く、横縞についても抑制することができる点について説明する。図3(b)は共通ゲート配線116の電位が変動した場合を表した図である。図3(b)は、図3(a)に対してVLine1、VLine2の電位以外は同じである。図3(b)に破線で示した共通ゲート配線116の電位の変動は、共通ゲート配線116に電圧を供給する電源回路から発生するランダムノイズや、他回路からのキックバックノイズによって生じる。リファレンス画素101が設けられていない場合、共通ゲート配線116の電位が変動することによって負荷MOSトランジスタ104に流れる電流が変化し、読み出し動作が選択されている行全体の光電変換信号の出力範囲が変化する。これにより、共通ゲート配線116の電位の変動が生じた画像において、変動が生じなかった行と生じた行とが出力する信号の差によって画像に横縞が発生する。
本実施例の構成においては、共通ゲート配線116の電位に変動が生じた場合、負荷MOSトランジスタ104、105が受ける影響が等しい。よって、図3(b)に例示したように共通ゲート配線116の電位変動による、VLine1とVLine2の電位変動は等しい。差動増幅器112からのN信号とS信号は、有効画素100からの信号とリファレンス信号の差分であるため、共通ゲート配線116の電位変動の影響を差し引くことができる。よって、共通ゲート配線116の電位の変動が生じた場合であっても、変動が生じなかった行と生じた行とで光電変換信号の出力範囲が変わらないため、取得される画像に横縞が発生することを抑制することができる。
本実施例では、固体撮像装置が出力する画像において問題となる横スミアや横縞を低減するため、負荷MOSトランジスタ104、105が共通ゲート配線116と、共通のGND配線117に接続されている。しかし当然のことながら、本発明が有する効果である、増幅トランジスタのパラメータを差動増幅部とは独立して設定できることを鑑みれば、負荷MOSトランジスタ104,105が共通ゲート配線116、共通のGND配線117に接続されておらず、別々のゲート配線、GND配線に接続されている形態であっても良い。つまり、差動増幅器112と増幅MOSトランジスタ205、215とが別々に設けられている構成であれば良い。
時刻t1からt2までの間に行うリセット動作は、FD領域203、213の電位をリセットしていたが、この時にPTXをHレベルとしてフォトダイオード201、容量211の電位のリセットを行っても良い。この場合、フォトダイオード201の光電変換は、PRES、PTXをLレベルとする時刻t2から、次にPTXをHレベルにする時刻t6までの間で行えばよい。
リファレンス画素101のFD領域213のリセットを、時刻t2で有効画素100のFD領域203のリセットと同時に終了させていた。しかし、リファレンス画素101は光電変換を行わないため、リセットを終了させることなく、FD領域213にリセットレベルの電位を与え続ける形態であっても良い。
また、スイッチ110、111については、時刻t2から時刻t4までの期間でスイッチ110、111がONからOFFになる状態があれば良い。つまり、スイッチ110、111をONにするタイミングはPRESがHレベルとなる時刻t1に必ずしも一致している必要はなく、時刻t1以前から時刻t4までの間であれば良い。
差動増幅器112への、光電変換信号とリファレンス信号のそれぞれの伝送を同時に終了することが好ましい。負荷MOSトランジスタ104、105のそれぞれが供給する電流値が変動し、時間によって電流値の変動量が異なることがある。この場合に、光電変換信号とリファレンス信号のそれぞれの読み出しを終えるタイミングを異ならせると、信号処理回路113に保持されたそれぞれの信号に含まれる負荷MOSトランジスタ104、105の変動量が異なることがある。よって、信号処理回路113がそれぞれの信号の差分を得ても、負荷MOSトランジスタ104、105の供給する電流値の変動による影響を、差し引ききれないことがあるためである。
本実施例では、これまでリファレンス画素101が容量211、FD領域213、リセットMOSトランジスタ204を有する形態として説明した。しかし、リファレンス画素101は、少なくともそのゲートに印加された電圧に基づく信号を出力する増幅MOSトランジスタ215を有していれば良い。つまり、リセットMOSトランジスタ204を設けず、増幅MOSトランジスタ215のゲートに電圧供給線を接続し、電圧供給線から供給された電圧に基づく信号を増幅MOSトランジスタ215が出力する形態であっても良い。このように、電荷保持部であるFD領域213や、容量211、転送MOSトランジスタ202などを省略することで、増幅MOSトランジスタ215のゲート面積をより大きく設計することが可能となる。
本実施例のリファレンス画素101は容量211が電荷を保持する形態として説明した。別の形態として、例えば、図2に示した容量211に代えてFD領域213が電荷を保持する構成であってもよいし、図2のように容量211をFD領域213とは別に設けた構成であったり、有効画素100のようにフォトダイオード201を設けた構成であったりしても良い。フォトダイオードを設けた場合には、リファレンス画素101を、フォトダイオードが遮光されたオプティカルブラック画素とすることで、リファレンス画素101からリファレンス出力を得ることができる。
本実施例は有効画素100のそれぞれの増幅MOSトランジスタ205が第1の垂直信号線102に電気的に接続された形態に限定されず、リセットMOSトランジスタ204やFD領域203を、複数の有効画素100で共有する構成としても良い。即ち、複数のフォトダイオード201やFD領域203が1つの増幅MOSトランジスタ205に接続されている形態であっても良い。
各々の差動増幅器112が画素領域130を挟んで交互に設けられた構成としていたが、交互の配列は1列毎ではなく、複数列毎としても良い。また、交互に配列せず、画素領域130の片側にのみ配列されている形態であっても良い。
また、信号処理回路113から出力された信号がアナログ信号である場合には、信号処理回路113が出力するアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器を設けると良い。このA/D変換器は、アナログデジタル変換部である。
本実施例は、画素が転送MOSトランジスタ、増幅MOSトランジスタ、リセットMOSトランジスタの3つのMOSトランジスタを有する形態を基に説明した。画素が他に、選択MOSトランジスタを有する形態であっても良い。この選択MOSトランジスタとは、ゲートが行選択部210に電気的に接続されている。さらに、ドレインとソースの一方が第1の垂直信号線102あるいは第2の垂直信号線103、他方が増幅MOSトランジスタ205あるいは増幅MOSトランジスタ215にそれぞれ電気的に接続される。第1の垂直信号線102あるいは第2の垂直信号線103に信号を出力する画素の選択MOSトランジスタのゲートに、行選択部210がパルスを印加する。これにより、選択された画素から信号が第1の垂直信号線102あるいは第2の垂直信号線103に出力される。
本実施例は、画素内のトランジスタがMOSトランジスタである形態を例として説明した。本実施例はこれに限定されるものではなく、画素内のリセットトランジスタ、転送トランジスタがバイポーラトランジスタであっても良い。また、増幅トランジスタについても、接合型電界効果型トランジスタ(JFET)を用いることもできる。
図1に例示した固体撮像装置では、リファレンス画素101が、画素領域130の差動増幅器112側の端部にのみ配置されていた。しかし、本実施例はこの形態に限定されるものではなく、さらにリファレンス画素101が、画素領域130の差動増幅器112側とは有効画素領域120を挟んで反対側の端部に設けられていても良い。
本実施例では、有効画素100が複数行、複数列配列されており、またリファレンス画素101が複数列配列された形態に基づいて説明した。有効画素100は1行以上、1列以上配列されていればよく、またリファレンス画素についても同様に1行以上、1列以上設けられていれば良い。すなわち、有効画素100とリファレンス画素101のそれぞれが1つずつ設けられている形態であってもよい。この場合、差動増幅器112、第1の垂直信号線102、第2の垂直信号線103についても1列ずつ設けられていれば良い。この形態においても、有効画素100の光電変換部の面積を圧迫させずにリファレンス画素101の増幅MOSトランジスタ215の制御電極であるゲートの面積を大きくすることができる。よって、1/fノイズの少ない光電変換信号を得ることができる。
本実施例においては、各列の信号処理回路113が、各列の差動増幅器112からの信号について第2のCDSを行う形態を説明した。他の態様として、図14に例示した固体撮像装置がある。図14に例示した固体撮像装置は、PTS、PTNのパルスで読み出したそれぞれの信号がアンプ119に出力され、アンプ119が容量123、124のそれぞれに保持された信号の差分信号を出力する形態である。つまり、アンプ119が第2のCDSを行う形態である。また、本実施例では好ましい形態として、第1のCDS、第2のCDSを行う形態を基に説明したが、第1のCDS、第2のCDSを行わない形態としても良く、差動増幅器112が光電変換信号とリファレンス信号との差分を出力するという構成を有していれば良い。即ち、第1のCDS、第2のCDSを共に行わない形態や、第1のCDSと第2のCDSのいずれか一方のみを行う形態であっても良い。第1のCDSのみを行う形態とは、信号処理回路113が、差動増幅器112が出力したN信号を保持せず、差動増幅器112が出力するS信号のみを保持する形態とすれば良い。第2のCDSのみを行う形態とは、容量C0r、C0sを設けずに、増幅MOSトランジスタ205、215を差動増幅器112に電気的に接続し、差動増幅器112が出力するN信号とS信号について、信号処理回路113が第2のCDSを行う形態が考えられる。
図14に例示した固体撮像装置は、図1と同じ機能を有するものについては同一の記号を付しており説明を省略する。121はPTS、122はPTNのパルスを転送する転送線であり、MOSFET127、128のゲートに電気的に接続されている。MOSFET127、128は差動増幅器112に電気的に接続されており、PTS、PTNのパルスの印加に応じて、容量123、124に信号を伝送する。MOSFET125、126はゲートがHSR114に電気的に接続されており、HSR114からパルスが印加されると容量123、124に保持された信号がアンプ119に出力される。アンプ119は容量123、124のそれぞれから出力された信号の差分信号を出力する。この差分信号が固体撮像装置の出力する信号115である。
図14で例示した固体撮像装置は、図3(a)に例示した駆動タイミングで動作させることができる。
図1、図14で例示した固体撮像装置は、後述する実施例2や図4に例示するように、画素領域130の差動増幅器112側の端部にリファレンス画素101を複数設け、複数のリファレンス画素101を互いに並列に接続する形態とすることができる。
図14に例示した固体撮像装置についても、図1に例示した固体撮像装置と同様に、増幅MOSトランジスタが差動対の入力段を兼ねる構成に比して、増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータの設定の自由度が向上する効果を有する。また、取得される画像に横スミア、横縞が発生することを抑制することができる。さらに、リファレンス画素101が有効画素領域120の外に設けられている。従って、フォトダイオード201の面積を圧迫することなく、リファレンス画素101の増幅MOSトランジスタ215のゲート面積を大きくすることができるため、感度低下を抑制しながら1/fノイズの影響を少なくすることができる。
図4は本実施例におけるブロック図を例示したものである。図4において図1と同じ機能を有するものについては同一記号を付している。本実施例は、複数のリファレンス画素101−1、101−2が並列で電気的に接続された形態である。以下、複数のリファレンス画素を個別に指す際には、リファレンス画素101−1を第1のリファレンス画素、リファレンス画素101−2を第2のリファレンス画素と表記する。リファレンス画素101−1、101−2は第2の垂直信号線103に並列して接続されている。
図5は図4における有効画素100、複数のリファレンス画素101−1、101−2、第1の垂直信号線102、第2の垂直信号線103の回路構成の一部を示した等価回路の一例である。図5についても、図2と同じ機能を有するものについては同一記号を付している。図2と同じ機能を有するもののうち、第1のリファレンス画素101−1と第2のリファレンス画素101−2の内部に設けられた、容量211、転送MOSトランジスタ202、リセットMOSトランジスタ204、増幅MOSトランジスタ215、FD領域213については、説明を簡便にするため、図1中の符号にさらに枝番を付し、区別して表記した。つまり、増幅MOSトランジスタ215については第1のリファレンス画素101−1では215−1、第2のリファレンス画素101−2では215−2としている。以下、複数のリファレンス画素101−1、101−2が有する容量211、転送MOSトランジスタ202、リセットMOSトランジスタ204、FD領域213についても同様である。
本実施例の固体撮像装置は、増幅MOSトランジスタ205、215は差動増幅器112とは別に設けられた構成を有している。従って、増幅MOSトランジスタが差動対の入力段を兼ねる構成に比して、本実施例の固体撮像装置は増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータの設定の自由度が向上する効果を有する。
また、本実施例における固体撮像装置は、複数のリファレンス画素101−1、101−2の増幅MOSトランジスタ215−1と215−2のゲート同士がFD領域213−1、231−2を介して電気的に接続された構成を有する。これにより、リファレンス画素101の増幅MOSトランジスタ215のゲート面積を疑似的に大きくすることができる。よって、ゲート面積が擬似的に大きくなることにより、リファレンス画素の増幅MOSトランジスタで発生する1/fノイズを低減することができる。
また、リファレンス画素101−1、101−2を電気的に接続する配線は、有効画素100が配列されている領域内にはなく、複数のリファレンス画素101−1、101−2が配列されたリファレンス画素領域内に存在することが好ましい。この構成により、有効画素100のフォトダイオード201の面積をリファレンス画素101が圧迫しにくい。
尚、本実施例ではリファレンス画素を2つとして、2つの増幅MOSトランジスタのゲート同士が電気的に接続された構成としたが、構成はこれに限ったものではない。つまり、3つ以上のリファレンス画素101を配置し、それぞれの増幅MOSトランジスタ215のゲート同士が電気的に接続されていても良い。この場合、2つの増幅MOSトランジスタが電気的に接続された構成に比べて、さらにリファレンス画素101の増幅MOSトランジスタ215のゲート面積を疑似的に大きくできることから、1/fノイズをより低減することができる。
本実施例は有効画素100のそれぞれの増幅MOSトランジスタ205が第1の垂直信号線102に電気的に接続された形態に限定されず、リセットMOSトランジスタ204やFD領域203を、複数の有効画素100で共有する構成としても良い。即ち、複数のフォトダイオード201やFD領域203が1つの増幅MOSトランジスタ205に接続されている形態であっても良い。
図6に本実施例を例示したブロック図を示す。
図6に例示した固体撮像装置において、図1と同じ機能を有するものに関しては図1と同一の符号を付しており説明を省略する。
図6において601は、差動増幅器である。スイッチ602、603はそれぞれ差動増幅器601の入力端子と出力端子との間の導通と非導通を切り替える。スイッチ602、603を導通状態とすると、容量Cfr、Cfsがリセットされる。信号処理回路113の内部には差動増幅器が、差動増幅器601とは別に設けられ、差動増幅器601からの出力のそれぞれが信号処理回路113の差動増幅器に接続されている。差動増幅器601が出力した、リファレンス信号と有効画素100からの信号とに基づく信号の差分処理は、信号処理回路113内に設けられた差動増幅器によって得ることができる。また、信号処理回路113は差分処理を行うと共に補正などの処理を行っても良い。即ち、本実施例における差分信号出力部140は差動増幅器601と、信号処理回路113によって構成される。
図6に例示した固体撮像装置の本実施例における動作は、図3で例示した動作と同様とすることができる。また、スイッチ602、603の動作は、図3で例示したスイッチ110、111の動作と同様とすることができる。本実施例の固体撮像装置では、図1に例示した差動増幅器112のリファレンス電圧線118を、設けない構成とすることができる。
本実施例の固体撮像装置は、増幅MOSトランジスタ205、215は差動増幅器601とは別に設けられた構成を有している。従って、増幅MOSトランジスタが差動対の入力段を兼ねる構成に比して、本実施例の固体撮像装置は増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータの設定の自由度が向上する効果を有する。
また、図6に例示した固体撮像装置では、有効画素100とリファレンス画素101のそれぞれの出力を差動増幅器601が差動増幅出力する構成としているため、列ごとの信号処理回路113への入力が差動増幅入力と成る。差動増幅器601もしくはそれよりも信号処理回路113側で発生したノイズは、有効画素100とリファレンス画素101のそれぞれの出力に重畳される。従って、信号処理回路113で有効画素100とリファレンス画素101のそれぞれの出力の差分を得ることにより、差動増幅器601と、差動増幅器601よりも信号処理回路113側で発生したノイズも差し引くことができる。よって、固体撮像装置の出力する信号115に含まれるノイズを低減する効果が得られる。
また、信号処理回路113がリファレンス信号と有効画素100からの信号のそれぞれについて第2のCDSを行っても良い。負荷MOSトランジスタ104、105の供給する電流値が変動した場合、その変動に伴ってリファレンス信号も変動する。信号処理回路113がリファレンス信号について第2のCDSを行うことにより、負荷MOSトランジスタ104、105の供給する電流値の変動によるリファレンス信号の変動量を求めることができる。また、有効画素100からの信号についても第2のCDSを行うことで、光電変換信号から、有効画素100で生じたノイズを差し引いた信号を得ることができる。さらに、この有効画素100からの信号について第2のCDSを行って得た信号から、第2のCDSを行って得たリファレンス信号の変動量を差し引く。これにより、負荷MOSトランジスタ104、105の変動による影響を、光電変換信号から差し引くことができる。
本実施例における差分信号出力部140は、差動増幅器601と、信号処理回路113である。他の形態として、さらに差分信号出力部140として信号処理回路113に電気的に接続された差動アンプを設ける形態とすることもできる。この場合、反転増幅器701からの出力に基づいた信号と、反転増幅器702の出力に基づいて信号のそれぞれを別に信号処理回路113が差動アンプに出力する。この信号処理回路113が出力する2つの信号の差分を、差動アンプによって得るようにしても良い。この形態の場合には、差動アンプからの出力信号が固体撮像装置の出力する信号115である。
本実施例における固体撮像装置は、差動増幅器601と、差動増幅器601よりも信号処理回路113側で発生したノイズを低減することができ、ノイズの少ない良好な画像を得ることができる。
本実施例で例示した固体撮像装置は、実施例2や図4で述べたように、画素領域130の差動増幅器601側の端部にリファレンス画素101を複数設け、複数のリファレンス画素101を互いに並列に接続する形態とすることができる。
本実施例は有効画素100のそれぞれの増幅MOSトランジスタ205が第1の垂直信号線102に電気的に接続された形態に限定されず、リセットMOSトランジスタ204やFD領域203を、複数の有効画素100で共有する構成としても良い。即ち、複数のフォトダイオード201やFD領域203が1つの増幅MOSトランジスタ205に接続されている形態であっても良い。
また、差動増幅器を信号処理回路113の内部に設けずに図15に例示したように、反転増幅器701、702のそれぞれの信号を個別に信号処理し、複数列で共通に設けられた差動増幅器129に出力する形態であっても良い。この形態の場合では、差分信号出力部140は、反転増幅器701、702、信号処理回路113、差動増幅器129によって構成される。
図7に本実施例を例示したブロック図を示す。図7に例示した固体撮像装置において、図1と同じ機能を有するものには図1と同一の符号を付しており説明を省略する。
図7の701、702はそれぞれ反転増幅器であり、第1の増幅部、第2の増幅部である。それぞれの反転増幅器が共通の電圧源や電流源を用いることで増幅回路703を構成している。反転増幅器701、702は、それぞれが出力する信号レベルの範囲がなるべく等しくなるように、隣接して配置することが望ましい。反転増幅器701、702の構成としては、例えばソース接地回路が考えられる。
スイッチ704、705は反転増幅器701、702の入力端子と出力端子とをショートさせるか否かを切り替えるスイッチである。スイッチ704、705を導通状態とすると、容量Cfr、Cfsの電荷が放電されてリセットされる。
図7に例示した固体撮像装置は、リファレンス画素101からのリファレンス信号を反転増幅器701が反転増幅して信号処理回路113に出力する。また、有効画素100からの信号は反転増幅器702が反転増幅して信号処理回路113に出力する。
反転増幅器701、702のそれぞれは、有効画素100、リファレンス画素101のそれぞれからの信号を反転増幅して信号処理回路113に出力する。信号処理回路113の内部には差動増幅器が設けられ、反転増幅器701、702のそれぞれからの出力が信号処理回路113の差動増幅器に接続されている。反転増幅器701、702のそれぞれが出力する信号の差分処理は、信号処理回路113内に設けられた差動増幅器によって得ることができる。信号処理回路113は反転増幅器701、702のそれぞれが出力した信号の差分を得ると共に、補正などの処理を行っても良い。本実施例における差分信号出力部140は、反転増幅器701、702と、信号処理回路113によって構成される。
図7に例示した固体撮像装置の本実施例における動作は、図3で例示した動作と同様とすることができる。また、スイッチ704、705の動作は、図3で例示したスイッチ110、111の動作と同様とすることができる。
本実施例の固体撮像装置は、増幅MOSトランジスタ205、215は反転増幅器701、702とは別に設けられた構成を有している。従って、増幅MOSトランジスタが差動対の入力段を兼ねる構成に比して、本実施例の固体撮像装置は増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータの設定の自由度が向上する効果を有する。
また、図7に例示した固体撮像装置では、有効画素100とリファレンス画素101のそれぞれの出力を反転増幅器701、702のそれぞれが反転増幅する構成としているため、列ごとの信号処理回路113への入力が差動増幅入力と成る。反転増幅器701、702もしくはそれよりも信号処理回路113側で発生したノイズは、有効画素100とリファレンス画素101のそれぞれの出力に重畳される。従って、信号処理回路113で反転増幅器701、702のそれぞれが出力する信号の差分を得ることにより、反転増幅器701、702と、反転増幅器701、702よりも信号処理回路113側で発生したノイズも差し引くことができる。よって、固体撮像装置の出力する信号115に含まれるノイズを低減する効果が得られる。
図1に例示した差動増幅器112のリファレンス電圧線118を、本実施例では設けない構成とすることができる。
また、信号処理回路113がリファレンス信号と有効画素100からの信号のそれぞれについて第2のCDSを行っても良い。負荷MOSトランジスタ104、105の供給する電流値が変動した場合、その変動に伴ってリファレンス信号も変動する。信号処理回路113がリファレンス信号について第2のCDSを行うことにより、負荷MOSトランジスタ104、105の供給する電流値の変動によるリファレンス信号の変動量を求めることができる。また、有効画素100からの信号についても第2のCDSを行うことで、光電変換信号から、有効画素100で生じたノイズを差し引いた信号を得ることができる。さらに、この有効画素100からの信号について第2のCDSを行って得た信号から、第2のCDSを行って得たリファレンス信号の変動量を差し引く。これにより、負荷MOSトランジスタ104、105の変動による影響を、光電変換信号から差し引くことができる。
本実施例における差分信号出力部140は、反転増幅器701、702と、信号処理回路113である。他の形態として、さらに差分信号出力部140として信号処理回路113に電気的に接続された差動アンプを設ける形態とすることもできる。この場合、反転増幅器701からの出力に基づいた信号と、反転増幅器702の出力に基づいて信号のそれぞれを別に信号処理回路113が差動アンプに出力する。この信号処理回路113が出力する2つの信号の差分を、差動アンプによって得るようにしても良い。この形態の場合には、差動アンプからの出力信号が、固体撮像装置の出力する信号115である。
本実施例における固体撮像装置は、反転増幅器701、702と、反転増幅器701、702よりも信号処理回路113側で発生したノイズを低減することができ、ノイズの少ない良好な画像を得ることができる。
本実施例の固体撮像装置は、実施例2や図4で述べたように、画素領域130の反転増幅器701、702側の端部にリファレンス画素101を複数設け、複数のリファレンス画素101を並列に電気的に接続する形態とすることができる。
本実施例は有効画素100のそれぞれの増幅MOSトランジスタ205が第1の垂直信号線102に電気的に接続された形態に限定されず、リセットMOSトランジスタ204やFD領域203を、複数の有効画素100で共有する構成としても良い。即ち、複数のフォトダイオード201やFD領域203が1つの増幅MOSトランジスタ205に接続されている形態であっても良い。
また、先述した実施例3や図15に例示したように、差動増幅器を信号処理回路113の内部に設けずに、反転増幅器701、702のそれぞれの信号を個別に信号処理し、複数列で共通に設けられた差動増幅器129に出力する形態であっても良い。この形態の場合では、差分信号出力部140は、反転増幅器701、702、信号処理回路113、差動増幅器129によって構成される。
図8に本実施例を例示したブロック図を示す。また、図9は本実施例に関する一例のタイミング図である。
図8に例示した固体撮像装置において、それぞれ図1と同じ機能を有するものに関しては図1と同一の符号を付しており説明を省略する。図8において801、802は容量、803はコンパレータ、804、805はランプ配線である。806、807はスイッチであり、スイッチ806、807のそれぞれが導通することにより、比較回路808内の容量のリセットが行われる。
以下、図9に例示したタイミング図を用いて本実施例における固体撮像装置の駆動方法を説明する。図9中の符号は、図8に例示した固体撮像装置に付した符号に対応している。図9のタイミング図は、ランプ配線804、805以外については、図3に例示したタイミング図と同様である。
以下、図9に例示したタイミング図に基づいて、図8に例示した固体撮像装置の動作を説明する。
スイッチ110及び111は時刻t2でPRESがLレベルになった後にオフする。この時、コンパレータ803のオフセット電圧と第1の垂直信号線102の電位との差分が容量C0sと802に、コンパレータ803のオフセット電圧と第2の垂直信号線103の電位との差分が容量C0r、801に保持される。
時刻t3−2の時にランプ配線804、805の電位を、比較回路808をリセットするリセット電位からVrefに変化させた後に、時刻t4にPTNをHレベルにすると同時に、ランプ配線804、805の電位を経時的に変化させるランプ動作を開始する。このランプ動作により時刻t4から、ランプ配線804、805の電位がリセット電位に達したタイミングである時刻t4−2までの時間幅に基づいて得られたA/D変換結果がN変換信号である。
時刻t5に、ランプ配線804および805の電位の変動が停止し、N変換期間の動作が終了する。
次に、時刻t6に、ランプ配線804および805の電位を、時刻t3−2から時刻t4における電位にリセットする。さらに時刻t6でPTXをHレベルとした後、時刻t7でPTXをLレベルとすることにより、容量C0sを回して光電変換信号がコンパレータ803の入力端子に与えられる。
次に時刻t8からS変換期間の動作が開始する。時刻t8からランプ配線804、805の電位を変化させるランプ動作を、先のリセット時のA/D変換と同様に行う。
そして、時刻t8−2でコンパレータ803の出力が変化する。この時刻t8からコンパレータ803の出力が変化する時刻t8−2までの時間幅に基づいて得られたA/D変換結果がS変換信号である。
信号処理回路113は得られたS変換信号とN変換信号の差分を出力する。この出力が固体撮像装置の出力する信号115となる。
本実施例の固体撮像装置は、増幅MOSトランジスタ205、215はコンパレータ803とは別に設けられた構成を有している。従って、本実施例の固体撮像装置は増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータを、コンパレータ803のパラメータとは独立して設定することができる。
また、本実施例において、ランプ配線804、805同士、第1の垂直信号線102、第2の垂直信号線103同士は互いに差動の関係となっている。従って、時刻t4−2付近の破線で示すようなノイズが混入した場合でも、固体撮像装置の出力する信号115に及ぼす影響を低減させることができる。
また、本実施例において信号処理回路113はデジタル信号処理回路で構成することができる。よって、信号処理回路113がアナログ信号処理回路で構成されている場合に比べてノイズの影響が受けにくくなる。従って、本実施例の固体撮像装置は、出力した画像に横縞が発生しにくくなる効果を有している。
本実施例の固体撮像装置は、実施例2や図4で述べたように、画素領域130のコンパレータ803側の端部にリファレンス画素101を複数設け、複数のリファレンス画素101を互いに並列に電気的に接続する形態とすることができる。
本実施例は有効画素100のそれぞれの増幅MOSトランジスタ205が第1の垂直信号線102に電気的に接続された形態に限定されず、リセットMOSトランジスタ204やFD領域203を、複数の有効画素100で共有する構成としても良い。即ち、複数のフォトダイオード201やFD領域203が1つの増幅MOSトランジスタ205に接続されている形態であっても良い。
図10は本実施例を例示したブロック図である。なお、図10において図7と同じ機能を有するものに関しては図7と同一の記号を付しており、説明を省略する。以下、本実施例において図7に例示した固体撮像装置と異なる点について説明する。
図10は図7で説明したように、反転増幅器701、702を共通の電圧源、電流源を電気的に接続して用いている。また、2列の画素列の第2の垂直信号線103を共通として用いている。リファレンス信号に基づいて反転増幅器701が出力する信号は、2つの信号処理回路113に出力される。この2つの信号処理回路113とは、第2の垂直信号線103が共通となっている画素列の、有効画素100からの信号が入力される信号処理回路113を指している。本実施例は実施例4と同様に、信号処理回路113の内部には差動増幅器が設けられ、反転増幅器701、702のそれぞれからの出力が信号処理回路113の差動増幅器に接続されている。よって、差分信号出力部140は反転増幅器701、702と、信号処理回路113によって構成される。
第2の垂直信号線103を共通とする画素列は、隣り合う列でも、間に別の第2の垂直信号線103に電気的に接続された画素列を挟んでいても良い。また、固体撮像装置の一部の画素列が、図10に示したように、複数列に共通の第2の垂直信号線103に電気的に接続されている形態であっても良いし、全ての画素列に対して第2の垂直信号線103が共通に設けられても良い。図10において2列の画素列の第2の垂直信号線103を共通としたが、3列以上を共通の第2の垂直信号線103に電気的に接続して用いても構わない。ただし、入射光の強弱により負荷MOSトランジスタ104のソースとドレイン間の電圧差が変化するため、画素列によってリファレンス信号に差が生じることがある。このため、第2の垂直信号線103を共通にする画素列は近接した列同士とすることが望ましい。
本実施例はこれまで反転増幅器701、702を用いた形態について説明してきた。本実施例は反転増幅器を用いた形態のみに限定されず、反転増幅器の代わりに差動増幅器を用いても良い。また、実施例5で説明したように、比較回路808を用いる形態であっても良い。
本実施例の固体撮像装置は、増幅MOSトランジスタ205、215は反転増幅器701、702とは別に設けられた構成を有している。従って、増幅MOSトランジスタが差動対の入力段を兼ねる構成に比して、本実施例の固体撮像装置は増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータの設定の自由度が向上する効果を有する。
また、本実施例の固体撮像装置は、2列で共通の第2の垂直信号線103が設けられていることにより、反転増幅器701、容量C0r、Cfs、スイッチ110や負荷MOSトランジスタ105の個数の削減をすることができる。また、第2の垂直信号線103の負荷MOSトランジスタ105を各列に配置する必要がないため消費電流を低減することができる。
本実施例の固体撮像装置は、実施例2や図4で述べたように、画素領域130の反転増幅器701、702側の端部にリファレンス画素101を複数設け、複数のリファレンス画素101を互いに並列に電気的に接続する形態とすることができる。
本実施例は有効画素100のそれぞれの増幅MOSトランジスタ205が第1の垂直信号線102に電気的に接続された形態に限定されず、リセットMOSトランジスタ204やFD領域203を、複数の有効画素100で共有する構成としても良い。即ち、複数のフォトダイオード201やFD領域203が1つの増幅MOSトランジスタ205に接続されている形態であっても良い。
また、先述した実施例3や図15に例示したように、差動増幅器を信号処理回路113の内部に設けずに、反転増幅器701、702のそれぞれの信号を個別に信号処理し、複数列で共通に設けられた差動増幅器129に出力する形態であっても良い。この形態の場合では、差分信号出力部140は、反転増幅器701、702、信号処理回路113、差動増幅器129によって構成される。
図11は本実施例を例示したブロック図である。図11において、図1と同じ機能を有するものについては同一の記号を付しており、説明を省略する。以下、本実施例における固体撮像装置が図1に例示した固体撮像装置と異なる点について述べる。本実施例における固体撮像装置は、各画素列において、複数のリファレンス画素101が画素領域130の端部に隣接して配置されている。スイッチ901、902により、第2の垂直信号線103と負荷MOSトランジスタ105に電気的に接続されるリファレンス画素が複数のリファレンス画素101の中から選択される。
図12は、図11における有効画素100と複数のリファレンス画素101の一例の等価回路を示したものである。図12は、図2、図11と同じ機能を有するものについては、同一の記号を付しており、説明を省略する。
図12に例示したリファレンス画素101のそれぞれの増幅MOSトランジスタ215のソースがスイッチ901、902に電気的に接続されている。スイッチ901、902は不図示の制御回路に電気的に接続され、第2の垂直信号線103にリファレンス出力を出力するリファレンス画素101を選択する。スイッチ901、902の動作を制御する信号は、行選択部210から供給されるように構成されても良い。
リファレンス画素101が一つの構成の場合には、あるリファレンス画素101の出力が他の列のリファレンス画素101の出力に比べて異なっている場合に、撮像して得られた画像に線状の縞が生じる。本実施例は、複数のリファレンス画素101からリファンレンス信号を出力する画素を選択可能にする構成を有している。この構成により、1つのリファレンス画素101の出力に不具合があった場合でも、他のリファレンス画素101からの出力に切り替えることにより、画像に線状の縞が生じることを低減することができる。
また、本実施例の固体撮像装置は、増幅MOSトランジスタ205、215は差動増幅器112とは別に設けられた構成を有している。従って、増幅MOSトランジスタが差動対の入力段を兼ねる構成に比して、本実施例の固体撮像装置は増幅MOSトランジスタ205、215のパラメータの設定の自由度が向上する効果を有する。
本実施例は有効画素100のそれぞれの増幅MOSトランジスタ205が第1の垂直信号線102に電気的に接続された形態に限定されず、リセットMOSトランジスタ204やFD領域203を、複数の有効画素100で共有する構成としても良い。即ち、複数のフォトダイオード201やFD領域203が1つの増幅MOSトランジスタ205に接続されている形態であっても良い。
これまでに述べた固体撮像装置を固体撮像システムに適用した場合の実施例について述べる。固体撮像システムとして、デジタルスチルカメラやデジタルカムコーダーや監視カメラなどがあげられる。図13に、固体撮像システムの例としてデジタルスチルカメラに固体撮像装置を適用した場合のブロック図を示す。
図13において、1はレンズの保護のためのバリア、2は被写体の光学像を固体撮像装置4に結像させるレンズ、3はレンズ2を通った光量を可変にするための絞りである。5は固体撮像装置4より出力される出力信号の処理を行う出力信号処理部である。
固体撮像装置4からの出力信号がアナログ信号である場合には、出力信号処理部5は、アナログ信号処理部、A/D変換器とデジタル信号処理部とを有する形態とする。固体撮像装置4からの出力信号をアナログ信号処理部が各種の補正を行って、A/D変換器に信号を出力する。アナログ信号処理部から出力された信号をA/D変換器がデジタル信号に変換し、デジタル信号処理部に出力する。デジタル信号処理部は必要に応じて各種の補正、圧縮を行ったうえで信号を出力する。
一方、固体撮像装置4が先に示した実施例5のように、デジタル信号を出力する場合には、出力信号処理部5はデジタル信号処理部を有し、固体撮像装置4から出力されるデジタル信号に対して必要に応じて各種の補正、圧縮を行って信号を出力する。
そして、図13において、6は画像データを一時的に記憶する為のメモリ部、8は記録媒体に記録または読み出しを行うためのインターフェース部、9は撮像データの記録または読み出しを行う為の半導体メモリ等の着脱可能な記録媒体である。7は外部コンピュータ等と通信する為のインターフェース部である。10は各種演算とデジタルスチルカメラ全体を制御する全体制御・演算部、11は固体撮像装置4、出力信号処理部5に、各種タイミング信号を出力するタイミング発生部である。ここで、タイミング信号などは外部から入力されてもよく、固体撮像システムは少なくとも固体撮像装置4と、固体撮像装置4から出力された出力信号を処理する出力信号処理部5とを有すればよい。
以上のように、本実施例の固体撮像システムは、固体撮像装置4を適用して撮像動作を行うことが可能である。本実施例の固体撮像システムに、実施例1〜7に例示した固体撮像装置を適用することにより、ノイズの少ない撮影が可能となる。