JP6131480B2 - 流動床反応器に触媒を充填する方法及びニトリル化合物の製造方法 - Google Patents
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Description
本発明に係る触媒充填方法では、前記Tの値が100〜500℃であることがより好ましい。また、本発明に係る触媒充填方法では、前記Fを増加させて前記Uが増加することがより好ましい。
本発明に係る触媒充填方法は、流動床反応器の有効断面積をB[m2]、前記流動床反応器内の温度をT[℃]、前記流動床反応器へ導入するガスの総流量をF[Nm3/h]、前記流動床反応器内の塔頂圧力をP[kPa]として下記式(1)に代入して得られる、前記流動床反応器内のガス流速Uで前記流動床反応器内への触媒の充填を開始し、その後前記Uを増加させる工程を含む。
なお、以下、流動床反応器内のガス流速U[m/s]を「ガス流速U」、流動床反応器の有効断面積をB[m2]を「有効断面積B」、流動床反応器内の温度T[℃]を「温度T」、流動床反応器へ導入するガスを「導入ガス」、導入ガスの総流量F[Nm3/h]を「導入ガスの総流量F」、流動床反応器内の塔頂圧力P[kPa]を「塔頂圧力P」ということもある。
本発明に係る触媒充填方法は、前記式(1)で示されるガス流速Uを増加させる工程を含む。
有効断面積Bは、流動床反応器を水平方向に切断してみたときの断面積から内装物の断面積を減じた面積をいう。具体的には、有効断面積とは、例えば、後述する原料ガスを導入する位置(高さ)よりも上の、原料ガスと触媒との反応が起こる部分(反応部又は濃厚層)における断面積であり、ディップレグなどの内装物の断面積を減じた断面積をいう。
温度Tは、流動床反応器内の温度を測定することによって求められる。測定箇所は、例えば、後述する原料ガスを導入する位置(高さ)よりも上の、触媒との反応が起こる部分(反応部又は濃厚層)とすればよい。温度Tは、ガス流速Uを増加させる工程を行なうことによって温度が変化することがあれば、その変化後の温度である。前記式(1)は、導入ガスの総流量Fを有効断面積Bで除することで求められる、単位有効断面積あたりの導入ガスの流量(F/B)に、(273+T)/273を乗ずることによって、温度の変化による影響を補正している。温度の変化による影響とは、例えば、温度が変化することによるガスの体積の変化、ひいては流速の変化等が考えられる。従って、温度Tを変えることによっても、ガス流速Uを増加させることが可能である。例えば、温度Tを増加させることでガス流速Uを増加させることが可能である。なお、「273」はセルシウス温度(℃)を熱力学温度(K)で計算するための値の近似値である。
塔頂圧力Pは、流動床反応器の塔頂で圧力を測定することによって求められる。塔頂圧力Pは、ガス流速Uを増加させる工程を行なうことによって温度が変化することがあれば、その変化後の塔頂圧力である。前記式(1)は、単位有効断面積あたりの導入ガスの流量(F/B)を(101+P)/101で除することによって、圧力の変化による影響を補正している。圧力の変化による影響とは、例えば、圧力が変化することによるガスの体積の変化、ひいては流速の変化等が考えられる。従って、塔頂圧力Pを変えることによっても、ガス流速Uを増加させることが可能である。例えば、塔頂圧力Pを減少させることでガス流速Uを増加させることが可能である。なお、「101」は単位がパスカルである値を標準大気圧で計算するための値の近似値である。
流動床反応器へ導入するガスとしては、例えば、流動床反応器10内に充填された触媒を流動させるための流動用ガス、触媒を流動床反応器まで運ぶための触媒搬送用ガスが挙げられる。これらのガスの流量は使用者が設定するものであるので、導入ガスの総流量Fは使用者が設定したガスの流量を合計することで求められる。
温度T、塔頂圧力P及び導入ガスの総流量Fの値は、流動床反応器の大きさ、構造等によって異なるので特に限定されない。ガス流速Uは、有効断面積Bを定めたうえで、温度T、塔頂圧力P及び導入ガスの総流量Fの3つの値の組み合わせが決定されることによって算出される。
ガス流速Uを増加させる時期については、目的とする充填時間、どれくらいの触媒の飛散を抑制するかなどに応じて適宜設定することができ、触媒の充填を開始して、充填する触媒の一部が流動床反応器内に入った後であればよい。
ガス流速Uを増加させる量については、目的とする充填時間、どれくらいの触媒の飛散を抑制するかなどに応じて適宜設定することができる。
ガス流速Uを増加させる方法としては特に限定されないが、導入ガスの総流量Fを増加させる操作を行なうことがより好ましい。容易にガス流速Uを増加させることができるからである。
本発明に係る触媒充填方法に用いる流動床反応器は、流動床反応に用いる従来公知の流動床反応器を任意に選択して採用することができる。ここで、本発明に係る触媒充填方法に用いる流動床反応器の一実施形態について図1を用いて説明する。図1は流動床反応器10を備える流動床反応装置1の概略構成を示す図である。
触媒ホッパー2は、流動床反応器に充填するための触媒を貯留するためのものである。触媒ホッパー2から供出される触媒x1は触媒搬送用ガスx2によって運ばれる。つまり、触媒x1と触媒搬送用ガスx2とが合流した触媒含有ガスXが流動床反応器10内に供給される。
本発明に係る触媒充填方法を適用する触媒としては特に限定されないが、当該方法は、炭素数が1〜6である炭化水素のアンモ酸化反応及び/又は酸化反応に使用される触媒等に好適に適用することができる。このような触媒としては、例えば、モリブデン、ビスマスを含有する金属酸化物触媒、鉄、アンチモンを含有する金属酸化物触媒、モリブデン、バナジウムを含有する金属酸化物触媒、ウラン、アンチモンを含有する金属酸化物触媒等を挙げることができる。中でも、ニトリル化合物の製造用触媒により好適に適用することができる。
ガス供給導管16は、触媒を充填した後に目的生成物を製造する反応を行なうときに、原料ガスZを流動床反応器10に供給するためのものである。原料ガスZは、ガス状炭化水素化合物、ガス状アンモニア及び水蒸気を含む。流動床反応器10の下方に設けられ、複数の枝管部17に分岐している。各枝管部17の先には、流動床反応器10の底面に向って開口したニップル部(原料散布ノズル)18が接続されている。
原料ガスZとしては、炭素数1〜6である炭化水素、例えば、メタン、エタン、エチレン、プロパン、プロピレン、n−ブタン、イソブタン等のブタン類、n−ブチレン、イソブチレン等のブチレン類、n−ペンタン、イソペンタン等のペンタン類、n−ペンテン、イソペンテン等のペンテン類、n−ヘキサン、イソヘキサン等のヘキサン類、n−ヘキセン、イソヘキセン等のヘキセン類等を挙げることができる。
サイクロン12は、ガスと触媒とを分離するためのものである。サイクロン12には、ガスと触媒とをサイクロン12内に取り込む流入口13と、分離したガスを流動床反応器10の外に導出するガス流出管15と、分離した触媒を反応器内の触媒流動床11に返送するディップレグ14とが設けられている。
ガス分散板19は、ガス供給口20から供給された酸素含有ガスYを流動床反応器10内に分散させるためのものである。ガス分散板19は、ガス供給口20とガス供給導管16との間に設けられている。
ガス供給口20は、酸素含有ガスYを流動床反応器10に供給するためのものである。ガス供給口20は、流動床反応器10の底部に設けられている。
酸素含有ガスYは、触媒充填時では触媒を流動床反応器10内で流動させるための流動ガスであり、反応時では反応に供させる酸素を供給するガスである。
本発明に係るニトリル化合物の製造方法は、上述した本発明に係る触媒充填方法を行なう工程を含む。本発明に係る触媒充填方法を採用していることにより、流動床反応器内の触媒の流動状態が良好であり、微小な触媒粒子も飛散せずに流動床反応器内に多く存在している。よって、高い収率でニトリル化合物を得ることができる。
(反応器への流動床用触媒の充填)
流動床用触媒(触媒組成、Fe10Sb20Mo0.5W0.4Te1.4Cu3Ni1P0.5B1.8Cr0.3Mn0.1K0.1Ox(SiO2)60;ここで、xは、シリカを除く前記各成分の原子価を満足するのに必要な酸素の原子数)110トンを触媒ホッパーから内径8.0m(有効断面積B47m2)の縦型円筒型流動床反応器内への充填を開始した。
触媒の充填が完了した流動床反応器を用いてアンモ酸化反応を行なった。酸素源として空気を用い、組成がプロピレン:アンモニア:酸素=1:1.1:2.3(モル比)である原料ガスを反応塔内に送入した。反応圧力は180〜220kPa、反応温度は455〜465℃、反応器内のガス流速は50〜70cm/secとした。
(反応器への流動床用触媒の充填)
実施例1と同様の操作により、図1に示す流動床反応器内へ流動床用触媒の充填を開始した。流動床反応器への流動用ガス及び触媒搬送用ガスとして空気を用い、それらのガスの総流量Fを23×103Nm3/hとした。充填開始時(充填時間0時間)の反応器内のガス流速Uは0.30m/sであった。流動床反応器内の温度T420℃、流動床反応器内の塔頂圧力P15kPaの条件で、流動床反応器への触媒の充填を開始した。
流動床用触媒充填後の流動床反応器(図1参照)を用いて、実施例1と同様の条件にてアンモ酸化反応を行なった。反応中、複数個所に設置した熱電対温度計で反応温度を検知したが、反応中の温度斑(ホットスポット)は見られず、触媒は良好な流動状態であった。尚、アクリロニトリルの平均収率は77.1%であった。
(反応器への流動床用触媒の充填)
実施例1と同様の操作により流動床用触媒の流動床反応器(図1参照)内への充填を開始した。流動床反応器への流動用ガス及び触媒搬送用ガスとして空気を用い、それらのガスの総流量Fを40×103Nm3/hとした。充填開始時(充填時間0時間)の反応器内のガス流速Uは0.48m/sであった。流動床反応器内温度T420℃、流動床反応器内塔頂圧力P26kPaの条件で流動床反応器への触媒の充填を開始した。
流動床用触媒充填後の流動床反応器(図1参照)を用いて、実施例1と同様の条件にてアンモ酸化反応を行なった。反応中、複数個所に設置した熱電対温度計で反応温度を検知したところ、反応器内に温度斑(ホットスポット)が見られ、触媒の流動状態が悪化していることが判明した。尚、アクリロニトリルの平均収率は73.4%であり、反応後停止した反応器からは還元劣化(変色)した触媒が観察された。
(反応器への流動床用触媒の充填)
実施例1と同様の操作により流動床用触媒の流動床反応器(図1参照)内への充填を開始した。流動床反応器への流動用ガス及び触媒搬送用ガスとして空気を用い、それらのガスの総流量Fを3×103Nm3/hとした。充填開始時(充填時間0時間)の反応器内のガス流速Uは0.04m/sであった。流動床反応器内温度T420℃、流動床反応器内塔頂圧力P2kPaの条件で流動床反応器への触媒の充填を開始した。
流動床用触媒充填後の流動床反応器(図1参照)を用いて、実施例1と同様の条件にてアンモ酸化反応を行なった。反応中、複数個所に設置した熱電対温度計で反応温度を検知したが、反応中の温度斑(ホットスポット)は見られず、触媒は良好な流動状態であった。尚、アクリロニトリルの平均収率は77.3%であったが、前記のとおり充填時間を要したためにその間、アクリロニトリル製造における機会損失を生じた。
2 触媒ホッパー
10 流動床反応器
11 触媒流動床
12 サイクロン
13 流入口
14 ディップレグ
15 ガス流出管
16 ガス供給導管
17 枝管部
18 ニップル部
19 ガス分散板
20 ガス供給口
X 触媒含有ガス
Y 酸素含有ガス
Z 原料ガス
x1 触媒
x2 触媒搬送用ガス
Claims (12)
- 流動床反応器に触媒を充填する方法であって、前記流動床反応器の有効断面積をB[m2]、前記流動床反応器内の温度をT[℃]、前記流動床反応器へ導入するガスの総流量をF[Nm3/h]、前記流動床反応器内の塔頂圧力をP[kPa]として下記式(1)に代入して得られる、前記流動床反応器内のガス流速U[m/s]について、前記流動床反応器内への前記触媒の充填を開始した後、触媒を充填する途中に、前記Uを増加させる工程を含む方法。
U=(F/B×((273+T)/273)/((101+P)/101))/3600・・・式(1) - 前記Tの値が100〜500℃である請求項1に記載の方法。
- 前記Fを増加させることにより前記Uを増加させる請求項1又は請求項2に記載の方法。
- 前記T及び前記Pのうち少なくとも一方を変化させることにより前記Uを増加させる請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
- 流動床反応器に触媒を充填する方法であって、前記流動床反応器の有効断面積をB[m 2 ]、前記流動床反応器内の温度をT[℃]、前記流動床反応器へ導入するガスの総流量をF[Nm 3 /h]、前記流動床反応器内の塔頂圧力をP[kPa]として下記式(1)に代入して得られる、前記流動床反応器内のガス流速U[m/s]について、前記流動床反応器内への前記触媒の充填を開始した後、前記Uを増加させる工程を含み、
前記流動床反応器内に触媒返送部が設けられており、
前記触媒返送部は、前記流動床反応器内にて回収した前記触媒を、回収した位置より鉛直下側の位置から、前記流動床反応器内に返送するものであり、
前記触媒返送部内部の、鉛直方向の位置が異なる少なくとも2カ所の圧力の差から触媒量を算出し、前記触媒量が予め定められた値となったときに、前記Uを増加させる方法。
U=(F/B×((273+T)/273)/((101+P)/101))/3600・・・式(1) - 前記ガスが前記触媒を流動させるための流動用ガス及び触媒を流動床反応器まで運ぶための触媒搬送用ガスの内の少なくとも一つである請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。
- 前記Uを増加させる工程において充填開始時の前記Uに対して2%以上、200%以下増加させる請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
- 前記Uを増加させる工程において充填開始時の前記Uに対して4%以上、150%以下増加させる請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
- 前記触媒がニトリル化合物の製造用触媒である請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。
- 前記流動床反応器は原料ガス供給口を備え、前記原料ガス供給口よりも下側から触媒を流動させるためのガスを導入する、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法を行なう工程を含むことを特徴とするニトリル化合物の製造方法。
- 請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法を行った後、引き続きニトリル化合物の製造を行うことを特徴とするニトリル化合物の製造方法。
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