JP6119218B2 - 画像形成装置、プログラム、画像形成システム - Google Patents
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Description
まず、受光素子の出力電圧に寄与する要因を説明する。受光素子が受光する光の多くは発光素子がシート材に対し発光した光の反射光であるが、反射光にはシート材の反射分とシート下の板状部材(以下、プラテンという)の反射分が含まれる。また、反射光以外に、空中散乱光や背景放射などの光も受光素子に受光される。これらを以下のように定義する。
Vsg:受光素子が受光した光の全ての出力電圧
Vp:テストパターンが形成された部分でも吸収し切れない光による反射光、空中散乱光、暗出力による出力電圧
Vs:検出したい出力電圧
ところで、本実施例はテストパターンが形成された部分の反射光と、テストパターンが形成されていない部分の反射光からテストパターンの位置を検出することを目的としている。このため、テストパターンの形成によって変動しない反射光の部分を削除することで、目的とするテストパターンによって変動する信号を取り出すことが出来る。テストパターンが形成された部分でも吸収されなかった光や暗出力からなる出力電圧Vpは、テストパターンが形成されているときも形成されていないときも出力される電圧であるため、Vpによる出力電圧は、テストパターンの形成によって変動しない出力電圧であると考える。なお、「テストパターンが形成された部分でも吸収されなかった光による反射光」にはテストパターンが吸収しなかった光をシートが反射したもの、シートを透過してプラテンが反射したものが含まれるがここでは言及しない。また、実際には後述するように様々な変動要因により変動が発生する。
図3(a)はx´(Vs1)とy´(Vs2)を重ねたグラフの一例を示す。後述する同期処理によりx´とy´は同じ走査位置の出力電圧データになるので、スポット光が、テストパターンがない場所を走査するとx´とy´が等しくなり、テストパターンがある場所を走査するとx´が略ゼロとなる。なお、前述した非パターン依存分除外処理により、テストパターンがある場所でも生じてしまう反射光による出力電圧は除外されている。つまりこれは、x´が、ある位置においてy´を基準(最大)としてテストパターンによる吸収が行われた残りの反射光によって出力される出力電圧であることを意味する。すなわち、シート材の透過率などがもたらす変動が位置毎に異なっても、変動が出力電圧を大きくする位置(y´が大きい位置)ではx´も大きくなり、変動が出力電圧を小さくする位置(y´が小さい位置)ではx´も小さくなる。そして、パターンが形成される部分では略ゼロになる。
z=固定値×(x´/y´)
で表すことができる。
図4は、シリアル方式の画像形成装置100の概略斜視図の一例を示す。画像形成装置100は、本体フレーム70により支持されている。画像形成装置100の長手方向にはガイドロッド1及び幅ガイド2が掛け渡され、ガイドロッド1及び副ガイド2にキャリッジ5が矢印A方向(主走査方向)に往復移動可能なように保持されている。
図9は、印字位置ずれセンサ30がテストパターンのエッジ位置を検出するための構成を模式的に示す図の一例である。図9は、図5の記録ヘッド21と印字位置ずれセンサ30を右側面板4から見た図になっている。
続いて、図11を用いてスポット光とエッジ位置の関係について説明する。
図11は、スポット光とテストパターンの一例を示す図である。スポット光はテストパターンを構成する複数のライン(図では1本)を一定速度(等速)で横切るように移動する(以下、テストパターンとラインを厳密には区別せずに説明する。)。横切る際の速度は可変でもよいが、横断中は等速である。用紙などのシート材は紙送りによりラインの長手方向に移動しているため、スポット光はラインを斜めに横切るように移動するが、シート材が停止してもエッジ位置の特定方法は同じである。一般的な波長のスポット光とシート材ではテストパターンの重複面積が大きいほど、スポット光の反射光が低下するとしてよい。
時刻I:スポット光とテストパターンは重複していない。
時刻II:スポット光の半分がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の減少率が最も大きくなる(重畳している面積が単位時間に最も大きく正に変化する)。
時刻III:スポット光の全体がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の強度が最も小さくなる。
時刻IV:スポット光の半分がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の増加率が最も大きくなる(重畳している面積が単位時間に最も大きく負に変化する)。
図13は、エッジ位置(ラインセンター)の特定方法を説明する図の一例である。図13(a)は、出力電圧の概略図を、図13(b)は出力電圧の拡大図をそれぞれ示す。変曲点のおよその値は、補正処理実行部526又は開発者が実験的に求めることができる。上述したように、例えば、出力電圧や吸収面積を微分して傾きがゼロに最も近い位置が変曲点となる。
このように、上限閾値と下限閾値の間の出力電圧データを用いてエッジを検出する場合、上限閾値と下限閾値の間に少なくとも変曲点が含まれていなければ、エッジを検出できない。上限閾値と下限閾値(2つのスレッシュホールド)が形成する幅を、以下、「スレッシュ領域」という。スレッシュ領域は出力電圧を単位とするが、出力電圧に対応する吸収面積でも定義できる。
本実施例では、図4,5のシリアル方式の画像形成装置100を例にして説明したが、ライン方式の画像形成装置100においても同様の方法で着弾位置ずれ量を補正できる。ライン方式の画像形成装置100について簡単に説明する。
以下、本実施例の出力電圧の信号補正について説明する。
図17(a)は、補正前の受光素子の出力電圧の一例を、図17(b)は信号補正された出力電圧の一例をそれぞれ示す。
・パターン非依存分除外処理
・振幅補正処理
の2つの補正を有している。
(1)前処理
(2)信号補正
(2-1)パターン非依存分除外処理、(2-2)振幅補正処理
<前処理>
以下、前処理について説明する。前処理は前処理Aと前処理Bに分けることができる。前処理Aは、テストパターン形成前の白紙状態(バックグラウンド)の出力電圧データに対する以下の処理により構成される。
・前処理A
(i) n回スキャン
(ii) 同期処理
(iii) 平均化
(iv) フィルタ処理
前処理Bは、テストパターン形成後の出力電圧データに対する以下の処理により構成される。
・前処理B
(i) n回スキャン
(ii) 同期処理
(iii) 平均化
<前処理A>
・前処理A-(i)
図18は、A-(i)のn回スキャンの測定結果の一例を示す図である。n回スキャンに先立ち、n回スキャン部はシート材(ex、普通紙、トレーシングペーパー)に対するセンサキャリブレーションを行う。n回スキャン部は、受光素子が検出し最終的にA/D変換回路523が変換した反射光の出力電圧が、ある一定値になるようにCPU301に要求する。CPU301は、出力電圧がある範囲に入るようにフィードバック制御する。例えば、出力電圧が4.4〔V〕より大きければ発光制御手段511の発光量を低減し、出力電圧が4.0〔V〕未満であれば発光制御手段511の発光量を増大する。図18(a)(b)に示すように、センサキャリブレーションにより、出力電圧は4.0〜4.4〔V〕の範囲に入るようになる。なお、目標値を4.0〜4.4Vに設定したPI制御やPID制御によりセンサキャリブレーションしてもよい。
図19はA-(ii)の同期処理を説明する図の一例である。平均化部はn回スキャン部が取得したn個の出力電圧データの平均を算出する。出力電圧データはスポット光がシート材150以外を走査しても検出されるが、必要なのはシート材150から得られた出力電圧のみである。このため、同期化部は、n個の出力電圧データの始まりをシート材150の紙端に揃える。
次に、n個の出力電圧データはシート材150の紙端を走査方向の基準位置(位置がゼロ)として、位置毎にn個の出力電圧データを有する。この位置は、エンコーダセンサが検出するキャリッジ5の位置であるが、スポット光の重心位置と1対1に対応するので、以下、スポット光の重心位置として説明する。すなわち、平均化部は重心位置毎にn個の出力電圧データの平均を算出する。
図20は、フィルタ処理を説明する図の一例である。フィルタ処理部は、平均化部が平均した重心位置毎の出力電圧データの平均値をフィルタ処理する。具体的には、着目している出力電圧データの前後m個(着目しているデータを含めm個とする)のデータを抽出して、平均を算出する。これにより、測定ノイズが低減され、同期処理で同期しきれなかった出力電圧データのズレを低減することができる。
・前処理B-(i)
図21は、B-(i)のn回スキャンを説明する図の一例である。図21では、A-(i)のn回スキャンが行われたシート材150にテストパターンが形成されている。図21(b)はテストパターンが形成されたシート材150からの反射光を受光素子が受光した際の出力電圧データの波形を示す。n回スキャン部はこのようなデータをn回取得する。
・前処理B-(ii)
図22はB-(ii)の同期処理を説明する図の一例である。上段は同期前の出力電圧データを、下段は同期後の出力電圧データをそれぞれ模式的に示す。テストデータの形成前と異なりテストデータの形成後は、n回の出力電圧データの極大値同士、及び、極小値同士を一致させることで、エッジ位置を揃えることができる。図21のような波形データの極大値同士、及び、極小値同士を一致させる(完全に一致させることは困難であるが)には、いくつか方法がある。
平均化部は同期化したn個の出力電圧データの平均を算出する。n個の出力電圧データは、位置毎にn個の出力電圧データが存在するので、平均化部は重心位置毎にn個の出力電圧データの平均を算出する。
信号補正の前に同期処理部613が同期処理を行う。同期処理部613は、A-(i)〜(iv)の前処理が施されたテストパターン印字前の出力電圧データと、B-(i)〜(iii)の前処理が施されたテストパターン印字後の出力電圧データの紙端を揃える。
非シート反射除外処理は、出力電圧Vsgからシート以外の反射分を低減する処理を行う。具体的には、VsgからVpminを減じる。これにより、シート材150以外に起因する出力電圧を排除することができる。
x´=Vsg1−Vpmin
y´=Vsg2−Vpmin
図24(a)はパターン測定データの出力波形の一例を、図24(b)はパターン測定データからVpminを減じた出力波形の一例を、それぞれ示す。図24(a)と(b)を比較すると分かるように、非シート反射除外処理により約1〔V〕ほど全体的にパターン測定データが小さくなっていることが分かる。
同期処理によりx´とy´は同じ走査位置の出力電圧データになるので、スポット光が、テストパターンがない場所を走査するとx´とy´が等しくなり、テストパターンがある場所を走査するとx´が略ゼロとなる。これは、x´が、ある位置においてy´を基準(最大)としてテストパターンにより吸収しきれずに検出された反射光による出力電圧であることを意味する。すなわち、シート材の透過率などがもたらす変動が位置毎に異なっても、変動が出力電圧を大きくする位置(y´が大きい位置)ではx´も大きくなり、変動が出力電圧を小さくする位置(y´が小さい位置)ではx´も小さくなる。
z=固定値×(x´/y´)
で表すことができる。
図26は、補正処理実行部526が信号補正する手順の一例を示すフローチャート図である。
図28は、図26のステップS2において実行されるキャリブレーション処理の手順を示すフローチャート図の一例である。キャリブレーション部620はキャリッジ5を移動させて(S110)、シート材上に移動し記録媒体上の特定の箇所にて、キャリッジ5に搭載されている印字位置ずれセンサ30で受光素子403,406をキャリブレーションする(S120)。キャリブレーションとは、フォトトランジスタ(Ptr)で検知する無地(白紙)表面の電位(つまりセンサ出力値)が、目標値4V±0.2Vの出力電圧範囲内になるようLED等のセンサ光源の光量を調整しPWM値を決定することである。PWM値はデューティを指示するものであるが、周期や周波数を指示してもよい。なお、受光素子403が拡散反射光を、受光素子406が正反射光を受光するとする。
(i)PWM設定値、(ii)倍率値、(iii)拡散反射センサの出力値、(iv)正反射センサの出力値
しかしOHPシートなどの鏡面反射率の高い記録媒体の場合は、倍率上昇動作をしても拡散反射出力はほとんど増えない。このことに対応するため、PWM最適値を目指すループ動作を10回繰り返し、S190で倍率上昇動作を実施してもPWM値が飽和せず、出力が4V±0.2Vにならない場合(S200のNo)、キャリブレーション部620はキャリブレーション対象が鏡面反射率の高い記録媒体と推定し、正反射光受光に切り替える「切替え動作」を実施する(S230)。つまり、再調整回数は10回より大きいが30回は超えないのでステップS220でNoと判定され、S120,130,140,170,180,を経由してS230の正反射光の受光への切り替えが行われる。
(i)普通紙や再生紙、光沢紙など信号補正処理を必要としないシート材
(ii)トレーシングペーパーやマットフィルム紙など信号補正処理を必要とするシート材
(iii)OHPやフィルムのように 吐出タイミングの補正そのものが不要なシート材
図28にて説明したように、キャリブレーション情報が保存された場合、拡散反射光で目標値4V±0.2Vに収束した場合である。補正判断部621は、この状態で倍率上昇動作が行われていなかった場合、信号補正処理は不要と判断する。このため、信号補正処理なしで吐出タイミングの補正処理が行われる((i)の場合)。この場合、シート材は普通紙、再生紙又は光沢紙のいずれかであると判断することができる。吐出タイミング補正部616は共有メモリから直接、出力電圧データを読み出しラインセンタから求めた着弾位置ずれ量に基づき液滴吐出タイミングを補正する。
2 副ガイド
5 キャリッジ
7 駆動プーリ
8 主走査モータ
9 タイミングベルト
21〜24 記録ヘッド
30 印字位置ずれセンサ
41 エンコーダシート
42 エンコーダセンサ
100 画像形成装置
301 CPU
310 主制御部
312 ヘッド駆動制御部
313 主走査駆動部
314 副走査駆動部
402 発光素子
403 受光素子
525 共有メモリ
526 補正処理実行部
611 印字前前処理部
612 印字後前処理部
613 同期処理部
614 パターン非依存分除外処理部
615 振幅補正処理部
616 吐出タイミング補正部
620 キャリブレーション部
621 補正判断部
Claims (9)
- 記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、
前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段を有する読み取り手段と、
前記テストパターンが形成される前に、前記受光手段の出力が所定の範囲内に入るように前記受光手段の感度を調整する感度調整手段と、
前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動手段と、
前記テストパターンを形成した後に前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の検出データに位置決定処理を施して前記テストパターンの位置を検出する第1の補正手段と、
前記テストパターンを形成した後に前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の検出データに現れる、前記テストパターンの間隔周期の振幅を略一定に揃えてから前記テストパターンに位置決定処理を施して前記テストパターンの位置を検出する第2の補正手段と、
前記感度調整手段により調整された感度の調整結果に基づき、前記第1の補正手段又は前記第2の補正手段を選択する補正方法選択手段と、
を有することを特徴とする画像形成装置。 - 前記調整結果は、前記記録媒体の光の反射強度情報を含み、
前記補正方法選択手段は、反射強度が所定値以上の前記記録媒体の場合、前記第1の補正手段を選択し、反射強度が所定値未満の前記記録媒体の場合、前記第2の補正手段を選択する、ことを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。 - 前記調整結果は、前記受光手段の感度倍率情報を含み、
前記補正方法選択手段は、感度倍率情報に応じて前記第1の補正手段又は前記第2の補正手段を選択する、ことを特徴とする請求項1又は2記載の画像形成装置。 - 前記受光手段は、拡散反射光を受光する第1の受光手段と、正反射光を受光する第2の受光手段を有し、
前記感度調整手段は、前記第1の受光手段により所定値以上の検出データが得られない場合に前記第2の受光手段に切り替えて検出データを取得し、
前記調整結果に、前記第2の受光手段が受光した検出データが閾値より大きいという情報が含まれる場合、前記補正方法選択手段は、前記第1の補正手段又は前記第2の補正手段のいずれも選択せず、当該画像形成装置は液滴の吐出タイミングを調整しない、
ことを特徴とする請求項1〜3いずれか1項記載の画像形成装置。 - 前記調整結果に、前記第2の受光手段が受光した検出データが閾値以下であるという情報が含まれる場合、前記補正方法選択手段は、前記発光手段が故障していると判定する、
ことを特徴とする請求項4記載の画像形成装置。 - 前記調整結果は、前記受光手段の感度倍率情報を含み、
前記補正方法選択手段は、前記感度倍率情報に応じて前記記録媒体の種類を推定し、
前記第2の受光手段が受光した検出データが閾値より大きいか否かに応じて、前記記録媒体の種類を推定する、ことを特徴とする請求項4記載の画像形成装置。 - 前記第2の補正手段は、前記テストパターンが形成される前に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の第2の検出データを取得する第2の検出データ取得手段と、
前記テストパターンが形成された後に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記走査位置と略同じ走査位置の前記テストパターンを前記光が移動する際に前記受光手段が受光した前記反射光の第1の検出データを取得する第1の検出データ取得手段と、
前記第1の検出データと前記第2の検出データのそれぞれから前記第1の検出データの極小値と同程度の値を減じる減算処理手段と、
減算処理された前記第2の検出データに対する前記第1の検出データの割合を算出して、前記第1の検出データの極大値を略一定に揃える振幅補正手段と、
を有することを特徴とする請求項1〜6いずれか1項記載の画像形成装置。 - 記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段を有する読み取り手段を有し、記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置に、
前記テストパターンが形成される前に、前記受光手段の出力が所定の範囲内に入るように前記受光手段の感度を調整する感度調整ステップと、
前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動ステップと、
前記感度調整ステップにより調整された感度の調整結果に基づき、第1の補正ステップ又は第2の補正ステップを選択する補正方法選択ステップと、
前記補正方法選択ステップの選択結果に応じて、前記テストパターンを形成した後に前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の検出データに位置決定処理を施して前記テストパターンの位置を検出する前記第1の補正ステップ、又は、
前記テストパターンを形成した後に前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の検出データに現れる、前記テストパターンの間隔周期の振幅を略一定に揃えてから前記テストパターンに位置決定処理を施して前記テストパターンの位置を検出する前記第2の補正ステップ、のいずれか、
を実行させることを特徴とするプログラム。 - 記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成システムであって、
前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段を有する読み取り手段と、
前記テストパターンが形成される前に、前記受光手段の出力が所定の範囲内に入るように前記受光手段の感度を調整する感度調整手段と、
前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動手段と、
前記テストパターンを形成した後に前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の検出データに位置決定処理を施して前記テストパターンの位置を検出する第1の補正手段と、
前記テストパターンを形成した後に前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の検出データに現れる、前記テストパターンの間隔周期の振幅を略一定に揃えてから前記テストパターンに位置決定処理を施して前記テストパターンの位置を検出する第2の補正手段と、
前記感度調整手段により調整された感度の調整結果に基づき、前記第1の補正手段又は前記第2の補正手段を選択する補正方法選択手段と、
を有することを特徴とする画像形成システム。
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