JP6089920B2 - 基板移載システム及び基板移載方法 - Google Patents

基板移載システム及び基板移載方法 Download PDF

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Description

本発明は、サンプルホルダに基板を移載する基板移載システム及び基板移載方法に関する。
成膜やエッチングなどの処理工程で、基板はサンプルホルダに搭載されてプロセス処理装置に搬入される。サンプルホルダには、基板を水平に搭載するカートタイプや、基板を垂直に搭載するボートタイプなどがある。処理効率を向上させるために、ボートタイプのサンプルホルダを用いて同時に処理できる基板の数を増やすことが有効である(例えば、特許文献1参照。)。基板が搭載される基板プレートを複数有するボートタイプのサンプルホルダを使用することにより、多数の基板を同時に処理するプロセス処理装置のフットプリントを小さくすることができる。なお、サンプルホルダへの基板の搭載及びサンプルホルダからの基板の回収を、「基板の移載」という。
特開2002−75884号公報
ボートタイプのサンプルホルダでの基板の移載において、基板の主面の面法線方向を回転軸として基板を基板プレート上で所定の角度だけ回転させる方法がある。即ち、基板回収時においては、基板プレートに搭載された基板にロボットハンドを保持させた後、ロボットハンドを回転させて、基板を例えば3度傾ける。その後、ロボットハンドを移動させて、基板プレートから基板を回収する。また、基板搭載時においては、ロボットハンドによって基板を3度傾けた状態で基板プレートに接触させる。そして、基板の傾きを解消するようにロボットハンドを回転させた後にロボットハンドが基板を離して、基板プレートに基板が搭載される。
基板を基板プレート上で保持する場合、固定ピンによって基板を下方や左右から支える方法が採用される。このとき、基板が基板プレートからすべり落ちないように、固定ピンの先端に基板を主面側から支える突起部が形成されている。例えば平型タイプのピンを固定ピンに使用する場合には、固定ピンの軸部分で基板を側面及び下面から支持すると共に、固定ピンの頭部によって基板を主面側から支持する。
したがって、サンプルホルダでの基板の移載においては、基板が固定ピンの突起部に接触しないよう基板を傾けた状態で基板プレートの直上に配置した後、基板が突起部と基板プレートとの間に位置するように基板を回転させる。このとき、基板の移載に要する時間の増大を抑制するために、基板を回転させる角度は小さい方が好ましい。基板が固定ピンの頭部に接触せず、且つ基板の回転角をできるだけ小さくするように、基板を例えば3度程度傾ける。
上記の基板の移載時に、基板プレート上で基板が回転することによって、基板プレートの表面と接触して基板の裏面に傷が発生することがある。
本発明は、ボートタイプのサンプルホルダでの基板の移載において、基板プレート上での基板の回転によって生じる基板裏面の傷の発生を抑制できる基板移載システム及び基板移載方法を提供することを目的とする。
本発明の一態様によれば、(イ)基板が搭載される基板搭載領域が定義された基板搭載面を有し、垂直方向に延伸する基板プレートと、(ロ)基板の裏面が基板搭載面と平行に対向した状態で基板を回転させながら、裏面が基板搭載領域と接触する位置と離間した位置との間で基板と基板搭載面との距離を変化させて、基板プレート上で基板の移載を行う移載装置とを備える基板移載システムが提供される。
本発明の他の態様によれば、(イ)基板が搭載される基板搭載領域が定義された基板搭載面を有し、垂直方向に延伸する基板プレートを用意するステップと、(ロ)基板の裏面が基板搭載面と平行に対向した状態で基板を回転させながら、裏面が基板搭載領域と接触する位置と離間した位置との間で基板と基板搭載面との距離を変化させて、基板プレート上で基板の移載を行うステップとを含み、基板の基板搭載領域への搭載及び基板の基板搭載領域からの回収の少なくともいずれかを行う基板移載方法が提供される。
本発明によれば、ボートタイプのサンプルホルダでの基板の移載において、基板プレート上での基板の回転によって生じる基板裏面の傷の発生を抑制できる基板移載システム及び基板移載方法を提供できる。
本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムの構成を示す模式図である。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムの動作を示す模式図である(その1)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムの動作を示す模式図である(その2)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムの動作を示す模式図である(その3)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板の回転を示す模式図である(その1)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板の回転を示す模式図である(その2)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムの基板プレートに配置される固定ピンの構造を示す模式図である。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板移載方法の例を説明するための模式図である(その1)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板移載方法の例を説明するための模式図である(その2)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板移載方法の例を説明するための模式図である(その3)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板移載方法の例を説明するための模式図である(その4)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板移載方法の例を説明するための模式図である(その5)。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板搭載方法を説明するための模式図であり、図13(a)は正面図、図13(b)は側面図である。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムによる基板回収方法を説明するための模式図であり、図14(a)は正面図、図14(b)は側面図である。 基板プレート上に膜が形成される状態を示す写真であり、図15(b)は図15(a)の領域Sを拡大した写真である。 比較例の基板移載方法を説明するための模式図である。 比較例の基板移載方法によって基板の裏面に発生する傷の例を示す写真であり、図17(b)は図17(a)の領域Rを拡大した写真である。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載方法によって基板の裏面に発生する傷の例を示す写真であり、図18(b)は図18(a)の一部を拡大した写真である。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムにより複数の基板プレートで基板を移載する例を示す模式図である。 本発明の第1の実施形態に係る基板移載システムを適用可能なインライン式製造装置の構成を示す模式図である。 本発明の第2の実施形態に係る基板移載システムの構成を示す模式図である。 本発明の第2の実施形態に係る基板移載システムにより複数の基板プレートで基板を移載する例を示す模式図である。
図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであることに留意すべきである。又、以下に示す実施形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の実施形態は、構成部品の構造、配置などを下記のものに特定するものでない。この発明の実施形態は、特許請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。
(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態に係る基板移載システム1は、図1に示すように、基板100が搭載される基板搭載面210を有し、垂直方向に延伸する基板プレート21と、基板プレート21での基板100の移載を行う移載装置10とを備える。
基板プレート21の基板搭載面210には、図2に示すように、矩形状の基板100が搭載される基板搭載領域211、及び基板搭載領域211の周囲の非搭載領域212が定義されている。図2に示した基板プレート21の基板搭載面210には、4つの基板搭載領域211が水平方向に配列して定義されている。1つの基板搭載領域211に1枚の基板100が搭載される。移載装置10は、複数の基板100を基板搭載面210に同時に搭載することが可能である。
ここでは、1つの基板搭載面210に複数の基板搭載領域211が定義されている例を示した。しかし、1つの基板搭載面210に定義される基板搭載領域211が1つでもよい。
図1及び図2に示すように、基板搭載領域211それぞれの外周の左辺、右辺及び下辺に左辺固定ピンP1、右辺固定ピンP2及び下辺固定ピンP3がそれぞれ配置されている。以下において、左辺固定ピンP1、右辺固定ピンP2及び下辺固定ピンP3を総称して「固定ピン」という。
なお、基板搭載領域211それぞれに対する左辺固定ピンP1、右辺固定ピンP2及び下辺固定ピンP3の相対位置は、複数の基板搭載領域211において共通である。このため、基板プレート21に搭載された複数の基板100にプロセス処理を施した場合に、固定ピンによる各基板100への影響を同一にできる。例えば成膜処理が行われた場合には、固定ピンの影になって成膜されない領域をすべての基板100で共通にできる。
基板プレート21上で基板100の移載を行う場合に、移載装置10は、基板100の裏面が基板搭載面210と平行に対向した状態で基板100を回転させながら、裏面が基板搭載領域211と接触する位置と離間した位置との間で基板100と基板搭載面210との距離を変化させる。基板100は、基板搭載面210の面法線方向を中心軸方向として回転する。
基板100を回転させるのは、基板100が固定ピンに接触しないように基板100を基板搭載面210に近づけたり基板搭載面210から遠ざけたりするためである。このとき、基板100と基板搭載面210との距離の変化の操作と基板100の回転操作とを別々に行うよりも、基板100を回転させながら基板100と基板搭載面210との距離を変化させることによって、基板100の移載に要する時間を短縮することができる。
図1に示すように、移載装置10は、基板移動機構11、基板回転機構13、及び基板保持機構15を有する。移載装置10によって、基板100の左辺、右辺及び下辺が左辺固定ピンP1、右辺固定ピンP2及び下辺固定ピンP3にそれぞれ支持されるように、複数の基板100が同時に基板搭載領域211に搭載される。また、移載装置10によって、複数の基板100が同時に基板搭載領域211から回収される。以下に、移載装置10の動作について説明する。
基板保持機構15は、吸着部151とアーム部152を有し、1枚の基板100に基板保持機構15が1つずつ用意されている。基板100の主面に接触させた吸着部151によって基板100が吸着され、基板保持機構15は、それぞれの主面が同一平面レベルに配置された状態で複数の基板100を保持する。吸着部151は、例えば真空吸着によって基板100を保持する。
基板移動機構11は、基板100を基板搭載領域211に接近又は離間させる。図1に示した基板移動機構11は、支柱部111と、支柱部111の延伸する垂直方向を回転軸として支柱部111を回転させる支柱回転部112と、その回転の半径方向に支柱部111から延伸する梁部113と、基板100の裏面を基板搭載面210と平行に対向させた状態で基板保持機構15を水平方向に移動させる平行移動部114を有する。基板移動機構11は、固定部17によって固定されている。
梁部113の延伸する方向に沿って、複数の基板保持機構15が梁部113に取り付けられている。具体的には、基板保持機構15のアーム部152が梁部113に取り付けられており、梁部113におけるアーム部152の配置ピッチは基板搭載面210上の基板搭載領域211の配置ピッチに等しい。
基板移動機構11は、基板保持機構15によって保持された複数の基板100を、基板100の主面が基板搭載面210と対向するように基板搭載面210上に移動する。このとき、図2に示したように、基板搭載領域211の斜め上方に、主面が基板搭載面210と平行で、且つ基板搭載面210の面法線方向から見て基板搭載領域211に対して斜めの姿勢で基板100が配置される。その後、梁部113が支柱部111に沿って下方に移動する。これにより、図3に示すように、所定の位置まで基板100が垂直方向に基板搭載面210に沿って下方に移動される。このとき、基板100は基板搭載領域211に対して斜めの姿勢のままである。
平行移動部114は、図1に示すように、一方の端部が支柱回転部112に接続し、他方の端部が固定部17に接続している。そして、図4に示すように、固定部17との接続点を中心とし、垂直方向を回転軸方向として回転する。このとき、基板100の裏面を基板搭載面120と平行に対向させた状態で基板保持機構15を水平方向に移動させるために、固定部17との接続点を中心とする回転を打ち消すように支柱回転部112と平行移動部114の接続点が回転する。
図2及び図3に示したように、基板搭載面210の面法線方向から見て基板搭載領域211に対して斜めの姿勢で基板100が配置される。具体的には、図5に示すように、斜めの姿勢の基板100の下辺と平行な直線と、基板搭載領域211の下辺と平行な直線とが、回転中心点Cにおいて角度θをなして交差するように基板100が保持される。
基板回転機構13は、裏面が基板搭載面210と平行の状態で基板100を回転させる。具体的には、図5に示したように基板搭載領域211に対して斜めに保持されていた複数の基板100を、基板搭載面210の面法線方向と平行で、且つ回転中心点Cを通過する直線を回転軸として角度θだけ同時に回転させる。その結果、図6に示すように、複数の基板100が基板搭載領域211に同時に搭載される。つまり、1つの回転軸を中心にして複数の基板100を同時に回転させることにより、基板搭載面210の面法線方向と垂直な方向に沿って複数の基板100が同時に移動する。これにより、複数の基板100を同時に移載することができる。
更に、基板回転機構13が基板100を回転させる動作と平行して、図4に示したように、平行移動部114が、基板100の裏面を基板搭載面210と平行に対向させたまま基板保持機構15を水平方向に移動させる。これにより、基板100の裏面が基板搭載面210と平行に対向した状態で、基板100を回転させながら基板100と基板搭載面210との距離を変化させることができる。この動作の詳細は後述する。
固定ピンには、例えば図7に示すような平型タイプのピン30を採用可能である。ピン30の軸部分32の先端が基板搭載面210に埋め込まれる。これにより生じるピン30の頭部31と基板搭載面210との隙間に露出する軸部分32の一部によって、基板100が基板搭載面210で支持される。基板搭載面210上に露出する軸部分32の長さtは基板100の厚さと同等に設定され、例えば200μm程度である。
基板搭載領域211間の間隔は、ピン30の頭部31の直径が最小値である。つまり、ピン30の頭部31の直径が小さいほど基板搭載領域211間の間隔を小さくできるが、基板100を安定して保持するために、ピン30の頭部31の直径は2〜5mm程度、例えば3.6mm程度であることが好ましい。基板搭載領域211間の間隔は狭いほど好ましく、最大値は例えば10mm程度である。
以下に、主面を水平にして基板トレイに配列された基板100を基板プレート21に搭載する場合について、移載装置10の動作を説明する。
先ず、移載装置10が処理対象の基板100を吸着する。基板100は、例えば図8に示すように、基板トレイ40の基板配置面400に主面を上下方向に向けて配列された状態で平らに置かれている。この場合、図8、図9に示すように、移載装置10は、基板保持機構15の吸着部151を基板100の主面に接触させる。図8は水平方向から見た側面図であり、図9は垂直方向から見た平面図である。このとき、図10に示すように基板保持機構15のアーム部152は水平方向に延伸する。図10は、梁部113の先端から見た側面図である。
その後、基板移動機構11が、基板100を基板プレート21の基板搭載面210上に移動する。即ち、垂直方向から見た図11に示すように、支柱回転部112によって支柱部111を回転軸として梁部113が回転して、基板100が基板トレイ40から基板プレート21に移動される。このとき、梁部113の延伸する方向を回転軸として梁部113が回転し、図12に示すように基板100の主面が垂直方向と平行になる。図12は、梁部113の先端から見た側面図である。つまり、移載装置10は基板100を移動させながら、基板100の主面が基板プレート21の基板搭載面210と平行になるように基板100の主面を垂直にする。
そして、基板移動機構11は、図3に示したように、基板プレート21の基板搭載面210上に基板100を配置する。このとき、既に述べたように、基板100は、所定の角度θをなすように基板搭載領域211に対して斜めに保持される。また、基板100の裏面と基板搭載面210との間に一定の距離が保持される。
次いで、図5〜図6を参照して説明したように、基板回転機構13が、1つの回転軸を中心にして基板搭載面210に沿って複数の基板100を同時に回転させる。このとき、図13(a)に矢印で示すように基板回転機構13が基板100を回転させると同時に、平行移動部114によって基板100と基板搭載面210との距離を変化させて、図13(b)に矢印で示すように、基板100を基板プレート21に近づける。即ち、移載装置10は、裏面が基板搭載領域211に離間して対向する位置まで基板100を移動させた後、裏面が基板搭載領域211に接触するまで基板100を回転させながら基板搭載面210に接近させて、基板100を基板搭載領域211に搭載する。
以上により、基板100の各辺と基板搭載領域211の各辺とがそれぞれ平行に調整されて、基板100が基板搭載領域211に配置される。つまり、基板100の左辺、右辺及び下辺が固定ピンにそれぞれ支持されて、複数の基板100が同時に複数の基板搭載領域211に搭載される。基板保持機構15が基板100を離した後、基板移動機構11を基板プレート21から退避させる。
なお、移載装置10によって、基板搭載領域211と基板100とが完全に重なる位置まで基板100を回転させてもよいし、或いは完全に重なる直前まで回転させてもよい。例えば、角度θが3度である場合に、基板回転機構13が基板100を3度回転させる。或いは、基板回転機構13が基板100を2.5度回転させながら基板100の裏面を基板搭載領域211に接触させた後に、基板保持機構15が基板100を離す。その後、自重によって基板100が更に回転しながら基板搭載領域211と完全に重なる状態で基板搭載領域211に配置される。そして、基板100を離した後、基板回転機構13によって梁部113を更に0.5度回転させ、基板移動機構11を退避させる。
図2、図3を参照して説明したように、移載装置10は、水平方向から見て基板搭載領域211に対して斜めの姿勢の基板100を、垂直方向に基板搭載面210に沿って下方に移動させる。このため、左辺固定ピンP1と右辺固定ピンP2の基板搭載領域211の下辺からの垂直方向距離は互いに異なるように設定される。基板搭載面210の上方から見て反時計方向に基板100を回転させる場合は、図5、図6などに示したように、基板搭載領域211の下辺から左辺固定ピンP1までの垂直方向距離よりも、基板搭載領域211の下辺から右辺固定ピンP2までの垂直方向距離が短く設定される。
移載装置10は、上記のように設定された左辺固定ピンP1と右辺固定ピンP2との間を通過するように、傾けた姿勢で基板100を移動させる。
なお、基板100を回転させる角度θが大きいほど、基板100と基板搭載領域211との摺り量が増大する。このため、基板100を回転させる角度θは小さいことが好ましい。例えば、基板100を回転させる角度を3度以内に設定する。
次に、基板プレート21に搭載された基板100を回収する場合について、移載装置10の動作を説明する。
先ず、図1に示すように、移載装置10が、基板保持機構15の吸着部151を基板100の主面に接触させる。そして、吸着部151によって基板100が吸着され、基板保持機構15が基板100を保持する。
次いで、基板回転機構13が、1つの回転軸を中心にして基板搭載面210と平行に基板100を回転させる。これにより、基板100は、所定の角度をなすように基板搭載領域211に対して斜めに保持される(図3参照。)。基板100を回転させる角度は、例えば3度程度である。基板回転機構13は、基板100の裏面が基板搭載領域211と接触した状態から、基板100を回転させ始める。このとき、図14(a)に矢印で示すように基板回転機構13が基板100を回転させると同時に、平行移動部114によって基板100と基板搭載面210との距離を変化させ、図14(b)に矢印で示すように基板100と基板プレート21とを離間させる。
即ち、移載装置10は、裏面が基板搭載領域211と接触する位置から基板搭載面210に離間して対向する位置まで、基板100を回転させながら基板搭載面210から離間させる。したがって、基板回転機構13による基板100の回転が終了した時点では、基板100の裏面と基板搭載面210とは一定の距離で離間している。
そして、基板移動機構11は、基板100の裏面と基板搭載面210との間に一定の距離を保持したまま、所定の位置まで基板100を垂直方向に基板搭載面210に沿って上方に移動させる。このとき、基板100は基板搭載領域211に対して斜めの姿勢のままである。その結果、図2に示したように、基板100は移載装置10によって保持される。
その後、基板トレイ40から基板100を基板プレート21上に移動する搭載時の動作と逆の動作によって、基板100を基板トレイ40に移載する。つまり、基板移動機構11が、基板保持機構15に保持された基板100を、基板トレイ40の基板配置面400上に移動する。このとき、梁部113の延伸する方向を回転軸として梁部113が回転し、基板100を移動させながら基板100の主面を基板配置面400と平行にする。そして、基板移動機構11は、基板トレイ40の基板配置面400に基板100を配置する(図8及び図9参照。)。以上のように基板100が基板搭載面210上から移動されて、基板100が基板搭載領域211から回収される。
ところで、基板プレート21に搭載された基板100に成膜処理を施す場合には、基板プレート21の基板100周囲の領域、即ち非搭載領域212にも、膜が形成される。このため、成膜処理が繰り返されるに従って、図15(a)、図15(b)に示すように、基板プレート21の基板搭載領域211の非搭載領域212に厚く膜が形成されていく。
このため、図16に示す比較例のように基板100の裏面が基板搭載面210に接した状態で基板100を回転させると、基板100の裏面と非搭載領域212に形成された膜とが擦れ合う。その結果、基板100の裏面に図17(a)及び図17(b)に黒く示すように、回転方向に沿った擦り傷が発生する。
これに対し、第1の実施形態に係る基板移載システム1では、基板100を回転させながら、基板100と基板搭載面210との距離を変化させる。このため、基板100の回転時に基板100の裏面と非搭載領域212上の膜とが擦れ合うことが抑制される。したがって、図18(a)及び図18(b)に示すように、基板100の裏面での傷の発生が抑制される。例えば、傷の位置を示すためのマーカーMの上方に、数本の線状の傷が発生しているのみである。
基板搭載時における基板100の回転直前での基板100と基板搭載面210との距離(以下において「搭載時の距離」という)、及び、基板回収時における基板100の回転直後での基板100と基板搭載面210との距離(以下において「回収時の距離」という)は、基板プレート21の洗浄サイクルや成膜時間などによって最適値が変化する。即ち、基板プレート21の洗浄直前における非搭載領域212に形成された膜に接触しないように、搭載時の距離及び回収時の距離が設定される。例えば、非搭載領域212の着膜量が0.2mmの時点で基板プレート21を洗浄する場合には、搭載時の距離及び回収時の距離の距離を0.2mmよりも広くする。例えば、搭載時の距離を0.3mm程度に設定し、回収時の距離を0.4mm程度に設定する。これらの数値は、本発明者らの実験によって得られた。
基板移載システム1では、複数の基板プレート21を有するボートタイプのサンプルホルダを採用可能である。このボートタイプのサンプルホルダでは、図19に示すように複数の基板プレート21が基板搭載面210の面法線方向に沿って、互いに離間し且つ平行に配置されている。図1に示した基板移載システム1では、基板プレート21毎に複数の基板100を同時に搭載可能である。
以上に説明したように、本発明の第1の実施形態に係る基板移載システム1では、基板搭載時及び基板回収時に、基板100を回転させるのと同時に基板100と基板搭載面210との距離を変化させる。したがって、非搭載領域212に膜が形成された状態で基板搭載面210上で基板100を回転させても、基板プレート21上に形成された膜との接触によって生じる基板裏面の傷の発生を抑制できる。特に、基板100の両面を太陽電池セルに使用する場合には、基板100の表面に傷が発生していると変換効率が低下する。したがって、基板移載システム1は、太陽電池セルの製造に好適に使用される。
基板移載システム1は、例えば図20に示すインライン式製造装置300に使用可能である。図20は、基板取込室301、処理室302、基板取出室303からなるインライン式製造装置である。処理室302において成膜処理などが行われる。
図20に示したサンプルホルダ20は、複数の基板プレート21がそれぞれの底部を固定板22によって固定されて、基板搭載面210の面法線方向に沿って並列に並べられたボートタイプである。図20では基板プレート21が5枚である例を示したが、基板プレート21の枚数は5枚に限られない。ボートタイプのサンプルホルダ20により、1回の成膜処理工程で処理できる基板100の枚数を増やすことができ、その結果、全体の処理時間を短縮することができる。
インライン式製造装置300では、図1に示した基板移載システム1によって基板100が搭載されたサンプルホルダ20が、基板取込室301に取り込まれる。そして、サンプルホルダ20が基板取込室301から処理室302に搬送され、処理室302において所定の処理が行われる。例えば処理室302において基板100に薄膜が形成された後、サンプルホルダ20は処理室302から基板取出室303に搬送される。その後、基板取出室303からサンプルホルダ20が取り出される。そして、基板移載システム1によって基板100がサンプルホルダ20から回収される。
サンプルホルダ20は、図示を省略した搬送装置によってインライン式製造装置300の各室間を搬送される。例えば、基板取込室301と処理室302間、及び処理室302と基板取出室303間に開閉式のゲート(図示略)が配置され、これらのゲートを介してサンプルホルダ20が移動する。なお、インライン式製造装置が、基板取出室303を備えない、基板取込室301と処理室302からなる構造であってもよい。
例えば図20に示すインライン式製造装置300がプラズマ化学気相成長(CVD)成膜装置である場合には、サンプルホルダ20はアノード電極として使用される。処理室302内に原料ガスを導入後、サンプルホルダ20とカソード電極間に交流電力を供給して原料ガスをプラズマ状態にする。形成されたプラズマに基板100を曝すことにより、原料ガスに含まれる原料を主成分とする所望の薄膜が基板100の露出した表面に形成される。原料ガスを適宜選択することによって、シリコン半導体薄膜、シリコン窒化薄膜、シリコン酸化薄膜、シリコン酸窒化薄膜、カーボン薄膜などの所望の薄膜を基板100上に形成することができる。例えば、基板100が太陽電池セルである場合に、アンモニア(NH3)ガスとシラン(SiH4)ガスの混合ガスを用いて、基板100上に反射防止膜や絶縁膜として窒化シリコン(SiN)膜を形成できる。
太陽電池反射防止膜の成膜処理などでは、処理対象の基板100の温度を予め決められた設定温度にした状態で、基板100に膜を形成する。このため、インライン式製造装置300で成膜処理する場合には、処理室302に搬入される前に、基板取込室301において基板100は予備加熱される。つまり、基板取込室301は予備加熱室を兼ねる。そして、設定温度に達した基板100が処理室302に搬入され、成膜処理が行われる。
(第2の実施形態)
図21及び図22に、本発明の第2の実施形態に係る基板移載システム1の構成を示す。図21は、上方から見た平面図である。第2の実施形態に係る基板移載システム1では、移載装置10の基板保持機構15が基板100の主面と平行な方向だけでなく、基板100の主面の法線方向にも配置されていることが第1の実施形態と異なる点である。つまり、第1の実施形態で説明した基板保持機構15が、保持された基板100の主面の法線方向に沿って複数配列されている。したがって、複数の基板100が上方から見てマトリクス状に基板保持機構15によってそれぞれ保持される。その他の構成については、第1の実施形態と同様である。
なお、配列される基板保持機構15は3列に限られないのはもちろんである。図21に示した基板移載システムでは、基板保持機構15が基板100の主面と平行な方向にのみ配置されている場合と比べて、同時に保持される基板100の枚数が多い。
基板100の主面の法線方向に沿ったアーム部152間の距離は、基板プレート21間の距離に対応させて固定でもよいし、或いは可変でもよい。例えば、基板トレイ40から基板100を取得する時において間隔を可変にするために、アクチュエータでアーム部152間の距離を可変にする。
第2の実施形態に係る基板移載システム1では、図22に示すように、基板搭載面210の面法線方向に複数の基板プレート21が配列されている。なお、図22では3枚の基板プレート21が配列されている例を示したが、配列される基板プレート21の枚数は3枚に限られない。基板保持機構15は連結アーム15Aによって接続されている。
移載装置10は、それぞれの主面が同一平面レベルに配置された複数の基板100からなる基板列を、基板100の主面の面法線方向に沿って複数配列した状態で保持する。そして、基板搭載面210の面法線方向に沿って配列された複数の基板プレート21に、第1の実施形態で説明した方法と同様にして、複数の基板100を同時に搭載する。その結果、上方から見て複数の基板100がマトリクス状に配置される。
第2の実施形態に係る基板移載システム1を用いることにより、複数の基板100を複数の基板プレート21に同時に搭載することができる。したがって、ボートタイプのサンプルホルダに同時に搭載する基板100の枚数を増加させることができる。同様に、複数の基板プレート21から複数の基板100を同時に回収することができる。これにより、サンプルホルダでの基板100の移載作業に要する時間を短縮できる。そして、基板搭載時及び基板回収時に基板100を回転させながら基板100と基板搭載面210との距離を変化させることによって、基板プレート21上に形成された膜との接触によって生じる基板裏面の傷の発生を抑制できる。他は、第1の実施形態と実質的に同様であり、重複した記載を省略する。
なお、図22に示したように複数の基板プレート21のそれぞれに基板100を同時に搭載するには、基板搭載面210が所定の場所に安定して位置していることが重要である。このため、基板プレート21間の距離やサンプルホルダ20の位置を所定の位置に高精度に固定する矯正装置などを使用することが好ましい。
(その他の実施形態)
上記のように、本発明は実施形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
例えば、基板プレート21の基板搭載面210に4つの基板搭載領域211が定義されている例を示したが、1つの基板搭載面210に定義される基板搭載領域211の数は4つに限られない。また、複数の基板100を基板搭載面210上で反時計方向に回転させる例を示したが、時計方向に回転させてもよい。
このように、本発明はここでは記載していない様々な実施形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
1…基板移載システム
10…移載装置
11…基板移動機構
13…基板回転機構
15…基板保持機構
17…固定部
20…サンプルホルダ
21…基板プレート
30…ピン
40…基板トレイ
100…基板
111…支柱部
112…支柱回転部
113…梁部
114…平行移動部
120…基板搭載面
151…吸着部
152…アーム部
210…基板搭載面
211…基板搭載領域
212…非搭載領域
300…インライン式製造装置
301…基板取込室
302…処理室
303…基板取出室
400…基板配置面

Claims (16)

  1. 基板が搭載される基板搭載領域が定義された基板搭載面を有し、垂直方向に延伸する基板プレートと、
    前記基板の裏面が前記基板搭載面と平行に対向した状態で前記基板を回転させながら、前記裏面が前記基板搭載領域と接触する位置と離間した位置との間で前記基板と前記基板搭載面との距離を変化させて、前記基板プレート上で前記基板の移載を行う移載装置と
    を備えることを特徴とする基板移載システム。
  2. 前記移載装置が、前記裏面が前記基板搭載領域に離間して対向する位置まで前記基板を移動させた後、前記裏面が前記基板搭載領域に接触するまで前記基板を回転させながら前記基板搭載面に接近させて、前記基板を前記基板搭載領域に搭載することを特徴とする請求項1に記載の基板移載システム。
  3. 前記移載装置が、前記裏面が前記基板搭載領域と接触する位置から前記基板搭載面に離間して対向する位置まで前記基板を回転させながら前記基板搭載面から離間させた後、前記基板を前記基板搭載面上から移動させて、前記基板を前記基板搭載領域から回収することを特徴とする請求項1又は2に記載の基板移載システム。
  4. 前記移載装置が、
    前記基板を保持する基板保持機構と、
    前記基板の前記裏面を前記基板搭載面と平行に対向させた状態で、前記基板保持機構を水平方向に移動させる基板移動機構と、
    前記裏面が前記基板搭載面と平行の状態で前記基板を回転させる基板回転機構と
    を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の基板移載システム。
  5. 前記基板搭載面に複数の前記基板搭載領域が定義され、
    前記移載装置が、1つの回転軸を中心にして複数の前記基板を同時に回転させることによって、複数の前記基板のそれぞれを複数の前記基板搭載領域で同時に移載することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の基板移載システム。
  6. 前記基板搭載領域の外周の左辺、右辺及び下辺に左辺固定ピン、右辺固定ピン及び下辺固定ピンがそれぞれ配置され、
    前記移載装置が、前記裏面が前記基板搭載面と平行に対向し且つ前記基板搭載面の面法線方向から見て前記基板が前記基板搭載領域に対して傾いた姿勢で、前記基板を前記左辺固定ピンと前記右辺固定ピンとの間を通過するように移動させることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の基板移載システム。
  7. 前記基板を回転させる角度が3度以内であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の基板移載システム。
  8. 前記プレートの互いに対向する2つの主面がそれぞれ前記基板搭載面であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の基板移載システム。
  9. 前記基板プレートを複数有することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の基板移載システム。
  10. 基板が搭載される基板搭載領域が定義された基板搭載面を有し、垂直方向に延伸する基板プレートを用意するステップと、
    前記基板の裏面が前記基板搭載面と平行に対向した状態で前記基板を回転させながら、前記裏面が前記基板搭載領域と接触する位置と離間した位置との間で前記基板と前記基板搭載面との距離を変化させて、前記基板プレート上で前記基板の移載を行うステップと
    を含み、前記基板の前記基板搭載領域への搭載及び前記基板の前記基板搭載領域からの回収の少なくともいずれかを行うことを特徴とする基板移載方法。
  11. 前記基板を前記基板搭載領域に搭載するステップが、
    前記裏面が前記基板搭載領域に離間して対向する位置まで前記基板を移動する段階と、
    前記裏面が前記基板搭載領域に接触するまで、前記基板を回転させながら前記基板を前記基板搭載面に接近させる段階と
    を含むことを特徴とする請求項10に記載の基板移載方法。
  12. 前記基板を前記基板搭載領域から回収するステップが、
    前記裏面が前記基板搭載領域と接触する位置から前記基板搭載面に離間して対向する位置まで、前記基板を回転させながら前記基板搭載面から離間させる段階と、
    前記基板を前記基板搭載面上から移動させる段階と
    を含むことを特徴とする請求項10又は11に記載の基板移載方法。
  13. 前記基板搭載面に複数の前記基板搭載領域を定義し、
    1つの回転軸を中心にして複数の前記基板を同時に回転させることによって、複数の前記基板のそれぞれを複数の前記基板搭載領域で同時に移載することを特徴とする請求項10乃至12のいずれか1項に記載の基板移載方法。
  14. 前記基板搭載領域の外周の左辺、右辺及び下辺に左辺固定ピン、右辺固定ピン及び下辺固定ピンをそれぞれ配置し、
    前記裏面が前記基板搭載面と平行に対向し且つ前記基板搭載面の面法線方向から見て前記基板が前記基板搭載領域に対して傾いた姿勢で、前記基板を前記左辺固定ピンと前記右辺固定ピンとの間を通過するように移動させる
    ことを特徴とする請求項10乃至13のいずれか1項に記載の基板移載方法。
  15. 前記基板を回転させる角度が3度以内であることを特徴とする請求項10乃至14のいずれか1項に記載の基板移載方法。
  16. 前記プレートの互いに対向する2つの主面がそれぞれ前記基板搭載面であることを特徴とする請求項10乃至15のいずれか1項に記載の基板移載方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2601829B2 (ja) * 1987-07-15 1997-04-16 株式会社日立製作所 ウエット処理装置
JPH0250419A (ja) * 1988-08-12 1990-02-20 Hitachi Ltd プラズマcvd成膜装置
JPH0598449A (ja) * 1991-10-02 1993-04-20 Ibiden Co Ltd プラズマcvd装置のサセプタに使用されるウエハ保持ピン
JPH05218181A (ja) * 1992-01-31 1993-08-27 Canon Inc 半導体基体の位置決め機構
JPH07307374A (ja) * 1994-05-10 1995-11-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板保持チャック、基板保持ユニット及び基板処理装置
JP3357239B2 (ja) * 1996-04-08 2002-12-16 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
JPH10194450A (ja) * 1997-01-06 1998-07-28 Nikon Corp 基板搬送方法及び基板搬送装置
JPH10256340A (ja) * 1997-03-17 1998-09-25 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板搬送装置、基板処理装置および基板処理方法
JPH1197514A (ja) * 1997-09-24 1999-04-09 Rohm Co Ltd ウエハー用表面処理装置におけるウエハー支持板の構造
JP2001185502A (ja) * 1999-12-22 2001-07-06 Mitsubishi Electric Corp 半導体素子製造工程における不純物拡散方法、同方法に用いる不純物拡散装置および同方法から製造された半導体素子
JP2005272113A (ja) * 2004-03-25 2005-10-06 Sharp Corp 基板搬送装置および基板搬送方法
JP5077459B2 (ja) * 2011-04-25 2012-11-21 株式会社Ihi 基板搭載方法および基板取出方法

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