JP6006344B2 - 自動試験装置における同期用インターフェースを有する機器 - Google Patents

自動試験装置における同期用インターフェースを有する機器 Download PDF

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Description

本発明は概括的には自動試験装置に関し、より詳細には、試験システム内の機器の制御に関する。
関連出願
本願は、米国特許法第119条(e)項に基づいて、参照によりその全体が本明細書に援用される、2004年11月22日に出願の「INSTRUMENT SYNCHRONIZATION FOR AUTOMATIC TEST EQUIPMENT」と題する米国仮特許出願第60/630,111号に基づく優先権を主張する。本件は、参照によりその全体が本明細書に援用される、2005年2月22日に出願の「AUTOMATIC TEST SYSTEM WITH SYNCHRONIZED INSTRUMENTS」と題する米国特許出願に関連する。
半導体デバイスは、その製造中に、多くの場合に何度も試験される。「テスタ」とも呼ばれる、1台の自動試験装置を用いて、被試験デバイス(DUT)を刺激する試験信号が生成され、且つその応答が測定される。テスタは、注意深く制御された試験パターンによって引き起こされる応答と、予想される応答とを比較することによって、DUTが適切に動作しているか否かを判定する。
デバイスを十分に試験するために、テスタは、それらのデバイスの動作環境において見られることがあるような信号を生成し、測定しなければならない。半導体チップが複雑になるにつれて、自動試験装置もさらに複雑な信号を生成し、測定することを要求される。大部分の半導体デバイスは、高速のデジタル信号を生成するか、又は高速のデジタル信号に応答する。ディスクドライブコントローラ及びビデオ信号用プロセッサのような多くのデバイスは、アナログ信号も生成するか、又はアナログ信号にも応答する。現在では、アナログ電子回路及びデジタル電子回路の両方を含むシステム全体が、ただ1つの半導体デバイス上に実装されるのが一般的である。
現在、自動試験装置は、アナログ信号及びデジタル信号の両方を生成しなければならない。したがって、試験装置は典型的には、複数の機器(計器)を含むように形成される。各機器は、高速のデジタル信号を生成すること、又は所定の特性を有するアナログ波形を生成すること等の特定の機能を実行する。特定のデバイスを試験するために必要とされるアナログ信号及びデジタル信号の組み合わせを与えるために、テスタ内に複数の機器が設置される。別個の試験機能を提供する機器を作り出すことによって、実質的にいかなる半導体デバイスをも試験するために必要とされる1組の試験信号を生成し、測定することができる試験システムを作り出すための自由度のある方法が提供される。
しかしながら、別個の機器から試験システムを組み立てることは、種々の機器の動作を連携させなければならないので、試験システム設計者にとって、さらに別の問題をもたらす。試験システムが半導体デバイス上の試験結果を適切に評価するために、多くの場合に、テスタは、特定の信号が検出されたことを判定する必要があり、同時に、その信号が、特定の刺激に関連して、特定の時間(時刻)に生じたことを判定する必要がある。機器の動作が連携するには、信号が特定の時間関係で生成され、測定される必要がある。
機器を連携させるための1つの方法は、全ての機器に基準クロック及びコマンドを与える集中制御用回路を設けることである。試験信号の生成及び測定を制御するための一連のコマンドを与えるテスタ内の回路は、「パターン発生器」と呼ばれる。
試験システム内の多数の機器に対して確実にファンアウトすることができる基準クロックの周波数には、多くの場合に実用上の制限があり、望ましくないことがある。クロックのエッジにタイミングを合わせて開始されるイベントは、或る分解能で指定することができるが、その分解能はクロックの周期によって制限される。クロックの周波数が低いほど、周期が長くなるので、タイミング分解能が低くなる。
タイミング分解能を高くすることが望ましい場合、「補間器」を用いることが知られている。補間器は、クロック周期の分数である時間間隔を追跡(探知)することができる回路である。しかしながら、補間器は正確で、且つ安定していなければならない。それゆえ、試験システムにおいて補間器を設計して、組み込むことによって、時間がデジタルクロックに対して測定されるときよりも構成が複雑になる。
集中制御式のクロック供給アーキテクチャを用いる手法を変形したものが、マサチューセッツ州ボストン所在のテラダイン社(Teradyne, Inc.)によって製造される、カタリスト/Catalyst(商標)信号混在半導体試験システムにおいて用いられる。そのアーキテクチャは図1に概括的に示されており、複数のデジタルチャネルカード10及びアナログチャネルカード12にそれぞれ分散供給(分配)される、すなわちファンアウトされるクロックを生成する基準クロック発生器8を備える。各アナログカード又はデジタルカードは、別個の機器と見なすことができるが、機器は論理的な概念であり、1つの機器が複数の回路カード上に実装されることがあるか、又は別法では、他の回路とともに1つの回路カード上に実装されることがあることは理解される。
集中制御式のパターン発生器14によって生成される信号は、基準クロックとともにチャネルカードにファンアウトされる。パターン発生器14は、各機器によって実行されるべきコマンドを送出する。機器毎に、基準クロックのサイクル当たり1つのコマンドを生成することができる。
デジタルカードのためのクロック信号はタイミング回路16に供給され、タイミング回路16は、波形フォーマッティング回路18を駆動して、被試験デバイス(DUT、図示せず)に加えるためのデジタル信号を生成する。一方、アナログカード12は、遠隔で生成されたデジタル基準クロック信号を受信して、アナログクロックモジュール(ACM)19を介して、アナログクロックを合成する。ローカルアナログクロックAは、1つ又は複数のアナログ機器上の機能回路を駆動する。
アナログクロックの1つの形式が、本発明の譲受人に譲渡され、参照によりその全体が本明細書に明確に援用される、「Analog Clock Module」と題する米国特許第6,188,253号に記述される。各アナログ機器は、自らのクロックを有し、それゆえ、自らの周波数において動作することができ、その周波数は基準クロックの周波数よりも高くすることができる。
図1に示される設計の変形形態では、各機器がパターン発生器を備える。パターン発生器は、基準クロック信号に基づいて、同期して動作する。各パターン発生器は、要求される時間において、その特定の機器のためのコマンド又は「イベント」を出力する。
さらなる変形形態では、各機器がローカルクロック発生器を備えており、自らのパターン発生器を駆動する。ローカルクロック発生器は、異なる周波数のクロックを生成することができる。しかしながら、そのパターン発生器は、連携するように始動する必要がある。
「CLOCK ARCHITECTURE FOR A FREQUENCY BASED TESTER」と題する国際特許出願公開第WO/03042710号(参照により、その全体が本明細書に援用される)は、異なる周波数において動作するパターン発生器の動作を連携させるためのシステムを記述している。その公開特許出願の手法は、基準クロックとともに、DSYNCと呼ばれる同期信号を用いて、特定の時間においてローカルクロックの全てを「位置合わせ」する。
当該技術分野において、複数の機器の動作が容易に同期するような試験システムが必要とされている。
一側面では、本発明は、通信リンクがメッセージを搬送する自動試験システムのための機器に関する。機器は、基準クロック入力、及び通信リンクに接続するためのポートを備えるインターフェースを有する。機器は、基準クロック入力に結合され、基準クロック入力からローカルクロックを受信するように適応しており、ローカルクロックを出力する、クロック発生器と、ローカルクロックによってクロック供給され、時間を表す値を受信するための入力、及び出力を有するタイミング回路であって、入力において受信される値によって表される時間において出力をアサートする、タイミング回路と、ポートに結合される入力、及びタイミング回路の入力に結合される出力を有するメッセージ処理回路とを備える。
別の側面では、本発明は、コマンドに応答して機能を実行する機能回路を有する自動試験装置のための機器において用いるように適応されたインターフェースを備える集積回路に関する。集積回路は、基準クロック入力と、通信リンク入力と、コマンド出力と、基準クロック入力を受信し、ローカルクロックを出力する、クロック発生器と、ローカルクロックによってクロック供給され、時間を表す値を受信するための入力、及びコマンド出力に結合される出力を有するタイミング回路であって、入力に加えられる値によって表される時間において、出力をアサートする、タイミング回路と、通信リンク入力に結合される入力、及びタイミング回路の入力に結合される出力を有するメッセージ処理回路とを備える。
添付の図面は一定縮尺どおりに描くことは意図していない。図面では、種々の図において示される同じ、又は概ね同じ構成要素は同様の符号によって表される。明確にするために、全ての図面において、全ての構成要素が参照符号を付されるとは限らない。
半導体テスタのための従来のクロックアーキテクチャのブロック図である。 本発明の1つの形態によるクロックアーキテクチャのブロック図である。 図2のクロックアーキテクチャの簡略化されたブロック図である。 ローカルクロックの位置合わせを示すタイミング図である。 時計の同期を示す図である。 2つの機器のインターフェースを構成する回路のブロック図である。 2つの機器間の通信過程を示す流れ図である。
本発明は、それを応用する際に、以下の説明において述べられるか、又は図面において示される構成の細部及び構成要素の配列には限定されない。本発明は、他の実施形態も可能であり、種々の態様で実行又は実施することができる。また、本明細書において用いられる表現及び用語は、説明を目的としており、限定するものと見なされるべきではない。本明細書における「含む」、「備える」又は「有する」、「包含する」、「伴う」及びそれらの活用形の使用は、その前に列挙される要素及びその均等物並びに付加的な要素とを包含することを意図している。
さらに具体的には、図2を参照すると、本発明の一実施形態が、全体として20で示される半導体テスタとの関連で説明され、その半導体テスタは、コンピュータワークステーション22と、テストヘッド24(破線で囲まれる)とを備える。テストヘッドは、中央カード26、分散供給カード28及び複数の機器(計器)カード30を含む、試験信号を生成し、測定するための複数の電子ボードアセンブリを収容する。
図2に示されるように、中央カード26は分散供給カード28に信号を供給し、分散供給カード28が機器カード30のアレイに対して信号を分散供給する。中央カード26は、ワークステーション22をテストヘッドボードアセンブリに接続するコンピュータインターフェース32と、RCLKで表される基準クロックを生成する基準クロック発生器34とを備える。基準クロック発生器は、たとえば、100MHz水晶発振器を含んでもよい。コンピュータインターフェース32によって、テスタは、コンピュータワークステーション22にインターフェースされることができるようになり、コンピュータワークステーション22を通じて、テスタ20にロードすることができる試験プログラムをユーザが開発することができる。コンピュータワークステーション22は、既に開発されている試験プログラムの実行を開始すること、又は試験結果を解析すること等の他の能力もユーザに与える。
中央カード26は、ワークステーションからのコマンドに応答して制御信号を生成する制御回路を備える。制御信号のうちの1つは「DSYNC」信号を含む。基準クロック信号及びDSYNC信号はそれぞれ、分散供給(分配)カード28上に配置される、DSYNCファンアウト回路36及びRCLKファンアウト回路38に沿ってファンアウト、すなわち分散供給される。これらの信号を分散供給することによって、多数の機器上にあるパターン発生器が、上記で参照された特許出願WO/03042710号と同じように始動できるようになる。
機器カード30上にある機器は、デジタル機器若しくはアナログ機器であってもよく、又はデジタル信号及びアナログ信号を伴う機能を実行してもよい。機器30Aは、「チャネルカード」と呼ばれることもある、デジタル機器を表す。チャネルカードは、複数のテスタチャネルのための電子的情報源を含んでもよい。試験システムは、複数のチャネルカードを含む場合がある。
さらに図2を参照すると、各チャネルカード30Aはクロックモジュール42を備える。クロックモジュール42は、RCLKから所望の周波数の1つ又は複数のクロックを生成するようにプログラミングすることができる。説明する実施形態では、クロックモジュール42によって生成される各クロックは、「ローカルで」、すなわちクロック発生器を含む機器又はボード内で使用されることを意図している。クロック発生器は、いくつかの異なる周波数のクロックを生成することができる。全てのクロックが同じ供給源から生成されるので、それらのクロックは互いに同期していると見なすことができる。クロックモジュールは、上記で参照により本明細書に援用された、米国特許第6,188,253号に記述されるアナログクロックモジュールと同じように構成することができる。
ローカルクロックは、参照によりその全体が本明細書に援用される、2003年12月29日に出願の「MULTI-STAGE NUMERIC COUNTER OSCILLATOR」と題する、現在係属中の米国特許出願第10/748,488号に記述されるような数値カウンタ発振器(NCO:numeric counter oscillator)によって駆動される位相同期ループを用いて、直接デジタル合成を通じて導出することができる。その特許出願は、基準クロックからプログラム可能な周波数の1つ又は複数のローカルクロックを導出するために、直接デジタル合成回路において用いることができる数値カウンタ発振器を説明している。
各機器カードは、その機器の所望の機能を実行するための回路を含む。30Aのようなデジタル機器の場合、機能回路は、タイミング回路47、及びフォーマッティング/ピンエレクトロニクス回路48を含む。この回路は、DUT90を試験するためのデジタル信号を生成し、測定することができる。
さらに、デジタル機器30Aはパターン発生器46を含む。パターン発生器46は、機器30Aの複数の機能的な部分を制御する一連のコマンドを与える。パターン発生器46は、試験システムのステータス(状態)に基づいて、特定の条件に応答して分岐動作を実施してもよいか、又は他の条件付き機能を実行してもよい。パターン発生器46は、ローカルクロックモジュール42からのクロックによってクロック供給され、それゆえ、プログラム可能な速度で命令を与えることができ、その速度は基準クロックの周波数よりも高くすることができる。
さらに、機器30Aは、後にさらに詳細に説明されるような機器同期リンク(ISL)インターフェース320Aを含む。ISLインターフェース320Aによって、パターン発生器46は、他の機器と通信できるようになる。パターン発生器46は、他の機器の機能回路によって実行されるべきコマンドを送出することができるか、又は、たとえば、条件付き分岐を制御するために用いられることがある、他の機器からのステータス情報を受信することができる。
他の機器は、その機器によって実施されるべき特定の機能に応じて、異なる機能回路を有してもよい。説明される実施形態では、各機器カードはクロックモジュール42を備える。
説明する実施形態における各機器は、ISLとのインターフェースも含む。いくつかの機器は、ISLを通じて送信されるメッセージの発信源であってもよい。他の機器は、ISLを通じて送信されるメッセージの宛先であってもよい。ISLを通じてメッセージを送信するだけ、又は受信するだけのISLインターフェースを備える機器もあれば、ISLを通じてメッセージを送信し、且つ受信するISLインターフェースを備える機器もある。別法では、全てのISL機能を実行するただ1つの集積回路を構成し、ISL機能のうちのいずれかを必要とする全ての機器において、その集積回路を使用することが望ましいこともある。ISL機能を使用しない機器の場合、ISLインターフェースは完全に省いてもよい。
機器によっては、パターン発生器46と同じ形態を有するパターン発生器を含んでもよい。一実施形態では、各パターン発生器は、その機器が試験中に実行する必要が特定のコマンドをプログラミングされる。しかしながら、全ての機器がパターン発生器を備えるとは限らない。パターン発生器を備えない機器は、他の機器のパターン発生器に格納されるプログラムに基づいて、ISLを介してコマンドを受信することができる。したがって、各パターン発生器は、システム内の複数の機器が実行するためのコマンドをプログラミングされることがある。
一実施形態では、デジタル機器はパターン発生器を備え、アナログ機器はパターン発生器を備えない。そのように分けることは、設計されるデジタル機器の動作速度が高くなる度に、アナログ機器において変更を必要とすることなく、デジタル機器のためのパターン発生器を設計し直すことができるので望ましい。しかしながら、設計をそのように分けることは必要ではない。
より一般的には、いくつかの機器は、他の機器にコマンドを送出するコントローラとしての役割を果たす。他の機器は、他の供給源からコマンドを受信する、制御される機器として動作する。一般的に、制御される機器は、パターン発生器を有しないか、又はデジタル機器内のパターン発生器と同じ速度で動作するパターン発生器を有しない。
多くの場合、全ての機器は連携して動作することが望ましい。複数の機器の中のローカルクロックは、上記で述べられた特許出願WO/03042710号に記述されるように同期させることができる。図3に示されるように、基準クロックRCLK及び同期信号DSYNCは、30A、30B及び30Cのような複数の機器に分散供給される。DSYNC信号は、各機器によって基準時間と見なされるRCLK信号の特定のエッジを特定する。ローカルクロックが共通の基準時間に位置合わせされると、各機器は、ローカルクロックのパルスをカウントすることによって時間を追跡する「時計」を有することができる。
異なる機器において生じるテスタ内のイベントは、ローカル時計によって追跡されるような時間を参照することによって連携することができる。たとえば、第1の機器が第2の機器にコマンドを送出することができる。そのコマンドの実行の時間は、第1の機器のローカル時計に対して指定することができる。第2の機器上のローカル時計が第1の機器上のローカル時計に同期している場合には、第2の機器上にあるイベントコントローラ回路320が、第2の機器上にあるローカル時計を監視することによって、適切な時間においてコマンドの実行を開始することができる。適切な時間は、機器が異なる周波数のローカルクロックを生成するクロックモジュールを含む場合であっても確定することができる。
共通の基準クロックを確立することによって、コマンド又は他のメッセージを搬送する信号を、同期して送信する必要がなくなる。イベントのタイミングを制御するために、特定の信号の到着時間ではなく、メッセージ上の時間値に基づく、相対的に低コストで、簡単な非同期通信リンクを用いてもよい。
図3は、図2に示される機器同期リンク(ISL)が通信ネットワークによって形成されることを示す。ここで、そのネットワークは、30A、30B及び30Cのような機器のそれぞれに接続される、310A、310B及び310Cのようなリンクを有する。そのネットワークへの接続は、任意の適切な態様で行ってもよい。たとえば、各ISLインターフェースは、1つのポート又は他の接続点を有してもよい。ポートは、ISL上で信号を搬送するラインを機器に容易に接続することができるように、機器に取り付けられるコネクタによって物理的に形成してもよい。ISLラインがテスタ内のバックプレーン又は他のプリント回路基板内のトレースとして物理的に実装される場合、ポートはバックプレーンコネクタとして実装することができる。ISLのラインが個別のケーブルとして実装される場合、ポートは、RJ−45レセプタクルのような個別のコネクタとして実装することができる。機器間の通信は、メッセージの発信源としての役割を果たす機器に接続されるラインから、メッセージの宛先になるように意図される機器に接続されるラインに信号を渡すルータ300によって促進される。
通信ライン及びルータの種々の実施態様が知られている。伝送媒体の特性によって同期を与える必要がないので、通信ライン及びルータの具体的な実施態様は本発明にとって重要ではない。たとえば、各通信ライン310A...310Cは、SerDesラインと呼ばれることもあるような、高速のシリアルラインであってもよい。ファイアワイヤ及びUSB2が標準的なSerDes通信プロトコルの例である。ライン310A〜310Cを介しての通信は、そのような標準的なプロトコルを用いることができる。しかし、メッセージ伝送のためのレイテンシ(待ち時間)を少なくするために、説明される実施形態では、必要とされるオーバーヘッドビットが少ないプロトコルが用いられる。
ここでは、通信ラインは、1Gbpsを超える速度で動作し、メッセージはパケットに基づく。各パケットは、通信を促進するための種々のフィールドを含んでもよい。たとえば、パケットは、発信元ID及び宛先IDを有するヘッダを含んでもよい。各機器は、自らのID値を有してもよく、そのID値を用いて、特定のメッセージの発信元及び宛先を指定することができる。
パケットは、コマンド値のためのフィールドも含むことがある。そのコマンド値は、宛先フィールドにおいて特定される機器が実行する動作を指定することができる。一実施形態では、各機器は、機器が実行することがある種々の動作に対応する複数のマイクロコードシーケンスを含むマイクロコード記憶装置を有する。コマンドは、特定のマイクロコードシーケンスを指定する。機器は、記憶装置からの指定されたマイクロコードシーケンスを実行することによって、コマンドを実行する。
コマンドフィールドは、別の機器にステータスを通知することもできる。たとえば、機器は、障害を検出したこと、又は測定を完了したことを指示する値をコマンドフィールドに入れることができる。その後、そのコマンド値を受信する機器は、プロセッサに測定結果を転送すること、又は障害を反映するように試験パターンの実行を変更すること等によって、適切に応答することができる。
例示される実施形態では、パケットは、「タイムスタンプ」と呼ばれることもある、時間(時刻)値も含む。コマンドフィールドが実行されるべきイベントを指示するとき、タイムスタンプは、このイベントが発生すべき時間を指示する。コマンドフィールドが、或るステータスを指示するとき、タイムスタンプは、そのステータスに応答して行われるべき分岐のような、条件付き動作が実行されるべき時間を指示することができる。上記のように、全ての機器内にあるローカル時計が同期して、各機器が同じDSYNCイベントに対する時間値を通信できるようにする。
パケットはさらに多くのフィールドを含むことがある。たとえば、誤差検出又は誤差訂正のためにチェックサムフィールド又は他のフィールドが追加されることがある。それぞれがコマンド又はステータスイベントを通信する多数のメッセージが、1つのパケットに含まれることがある。そのような各メッセージは、自らのタイムスタンプを有することができる。
例示される実施形態では、ISLはルータ300を備える。ルータ300は、任意の都合の良いアルゴリズムに従って動作するように実現することができる。たとえば、ルータ300は、上りメッセージをそれぞれ受信して、パケットヘッダ内の宛先値に基づいて、特定のライン上で下りメッセージを送信することができる。
図3の実施形態では、機器30A及び30Bは、デジタルチャネルカードとして例示される。各デジタルチャネルカードはそれぞれ、パターン発生器46A及び46Bを備える。機器30Cはアナログ機器を表す。図3に例示されるようなアナログ機器30Cは、別個のパターン発生器を備えない。アナログ機器30Cは、ローカルクロックモジュール42Cに接続されるイベントコントローラを備え、イベントコントローラは、コマンドを受信して、そのコマンドに応答し、且つ/又はステータスメッセージを送信するのに十分な回路を含む。イベントコントローラ320は、後に図5に関連してさらに詳細に説明する。
デジタル機器内のパターン発生器は、デバイスの試験中に実行されるべき動作のシーケンスを指定するプログラムを含む。例示される実施形態では、これらのプログラムは、アナログ機器及びデジタル機器の両方によって実行されるべき動作を指定する。それらのプログラムは、たとえば、特定のアナログ信号源がデジタルチャネル内のイベントに応答して、特定の時間において所望の周波数の正弦波を生成すべきであることを、又は受信機が、デジタルチャネル内のイベントに応答して、特定の時間においてDUTの出力を収集し始めるべきであることを指定することができる。
図4A及び図4Bは、2つの機器内のローカル時計が同期する過程を示す。上記のように、各機器は、1つ又は複数のローカルクロックを生成するためのクロックモジュールを備えてもよい。説明される実施形態では、各クロックモジュールは、基準クロックRCLK及び同期信号DSYNCを受信する。
図4Aは、DSYNC信号が、時間Eにおいて、基準クロック信号の特定のエッジを特定することを示す。各機器内のクロックモジュールが基準時間として時間Eを特定することができるように、RCLK及びDSYNC信号は、各クロックモジュールに分散供給されることが好ましい。
また図4Aは信号LCLKAも示す。LCLKAは、クロックモジュールによって生成されるローカルクロックを表す。LCLKAは、RCLKよりも短い周期を有するように示される。したがって、LCLKAのパルスをカウントすることによって、時計が、相対的に高い分解能で時間を追跡できるようになる。
LCLKAは基準クロックに位置合わせされる。上記で参照された特許及び特許出願において説明されるように、DSYNC信号の発生時に、ローカルクロック信号を基準クロック信号と位置合わせすることが知られている。本明細書において用いられる例では、LCLKAは、NCOを備えるDDS回路で生成される。時間Eにおいて、NCOは所定の値に設定され、RCLKに対するLCLKAのための位相を確立する。時間Eの前に、LCLKAはRCLKと位置合わせされないことがあり、それは、LCLKAのエッジとRCLKのエッジとの間に決定的な関係が存在しないこと、又はその関係がわかっていないことを意味する。しかしながら、E後の或る整定時間(セトリング・タイム:settling time)を経て、信号LCLKAは、RCLKと位置合わせされるようになる。図に示されるように、LCLKAは、RCLKとは異なる周期を有する。したがって、クロックが位置合わせされても、全てのエッジが一致する必要はない。むしろ、本明細書において用いられるときには、その用語は、エッジ間に、試験プログラムが実行される度に再現可能である関係があることを意味する。
この整定時間後に、信号LCLKAのエッジを用いて、ローカル時計が設定される。ここでは、そのエッジは時間Eにおいて示される。時間Eは、時間E後の遅延DATにおいて生じる。説明される実施形態では、クロックモジュールは、位相同期ループ回路を用いてローカルクロックを生成する。位相同期ループの入力又は設定値に何らかの変化があると、位相同期ループの出力は、ジッタを含むことがあるか、そうでなくても予測不可能になることがある。遅延DATによって、位相同期ループは、予測可能な値に落ち着くことができるようになる。
クロック発生回路はNCO部を含み、NCO部はデジタル回路で実装され、それゆえ、整定時間中であっても決定的な出力を有するので、遅延DATを求めることができる。それゆえ、時間DATは、位相同期ループの出力がその時間中に安定していない場合であっても、NCOのサイクルをカウントすることによって測定することができる。整定時間内のサイクルの具体的な数は、クロックモジュールの具体的な設計によって決まる。
例示される実施形態では、NCO内のアキュムレータが、時間Eにおいて0にリセットされ、位相同期ループの出力が安定するのに十分な時間が経過するまで、NCOのサイクルがカウントされる。整定時間の終了時に、ローカル時計は、整定時間DATに等しい値をロードされる。このようにして、時計は時間を追跡し、DSYNC信号によって特定される時間Eが0時間基準としての役割を果たす。
本明細書において記述される実施形態では、図4Aの過程を用いて、コントローラ機器としての役割を果たすことができる各機器内の時計が設定される。WATCHAは、コントローラ機器内の時計を表す。時間Eにおいて、WATCHAは値402を有する。WATCHAはその時間では設定されていないので、値402は不確定である。図4Aは、時間Eにおいて、WATCHAが、遅延DATを表す値404をロードされることを示す。その後、WATCHAは、LCLKAのパルス毎にインクリメントし、各インクリメントの量は、LCLKAの周期の長さを反映している。たとえば、値406は、値404からLCLKAの1パルスだけ経過した後のWATCHAを示す。
制御される機器は、それらの機器上にある時計をクロック供給するローカルクロックも備えてもよい。しかしながら、それらの時計が時間を特定するのに有用であるためには、それらの時計はコントローラ機器内の時計に同期しなければならない。図4Aは、制御される機器LCLKB内のローカルクロックLCLKBを示す。ローカルクロックLCLKBは、LCLKAと同じ周波数を有してもよいが、そうである必要はない。試験システム内の時間を最も正確に、且つ再現可能に追跡するために、LCLKBはLCLKAと位置合わせされることが好ましい。また、制御される機器上のWATCHBは、コントローラ機器上のWATCHAの値に対応する時間値をロードされるべきである。
図4Aは、WATCHBがWATCHAと同期していないので、時間E及びEにおけるWATCHBの値412及び414が不確定であることを示す。また、図4Aは、ローカルクロックLCLKA及びLCLKBが位置合わせされないことがあることも示しており、それは、LCLKAのエッジとLCLKBのエッジとの間に必ずしも既知の関係がないことを意味する。
WATCHBが最初に不確定な値を有するという事実にもかかわらず、制御される機器は、LOW_RES時計を用いて、時間を追跡することができる。LOW_RES時計は、コントローラ機器内のWATCHAよりも低い分解能を有する。しかしながら、LOW_RES時計は、WATCHAに容易に同期することができ、WATCHAをWATCHBに同期させるために用いることができる。図4Aは、この低分解能の時計を、LOW_RESとして示す。時間Eでは、LOW_RES時計は、値408をとる。時間Eは、WATCHAのための基準点と見なされる。したがって、LOW_RES時計は、時間Eにおいて、0の値を与えられる。全ての機器がRCLK及びDSYNC信号を受信するので、説明される実施形態では、制御される機器は時間Eを容易に特定することができる。
LOW_RES時計は、RCLKのサイクル当たり1カウントだけインクリメントする。例示される実施形態では、LOW_RES時計は、WATCHAの最上位ビットを表すフィールド416と同じ分解能で時間を追跡するフィールド418を含む。したがって、図4Aは、時間Eにおいて、WATCHAが設定された後に、フィールド418内の値がWATCHAのフィールド416内の値を近似することを示す。その差は、WATCHAがLOW_RES時計よりも高い分解能を有する時間を表すこと、及びLCLKエッジ及びRCLKエッジが異なる時間において生じることに関連して丸め演算が行われることに起因すると考えることができる。
図4Aでは、フィールド420及び422が不確定な値を有するLOW_RES時計が示される。これらのフィールドは、LOW_RESの最下位フィールドを表しており、LOW_RES時計が生成することができるよりも多い、分解能のビットを表す。したがって、それらの値は図示されず、WATCHA及びLOW_RES時計内の値を容易に比較できるようにするために、0であると仮定することができる。フィールド420及び422は、LOW_RES時計の実施態様に含まれる必要はない。
図4Bは、コントローラ機器が、ここではWATCHAで示されるローカル時計と、ここではWATCHABで示される、制御される機器上のローカル時計とを同期させることができる過程を示す。その過程は、コントローラ機器が、制御される機器に、WATCHBがWATCHAと同期すべきであることを指示するコマンドを送出することを含む。そのコマンドはタイムスタンプ450を含み、タイムスタンプ450は、同期が行われるべき時間及び同期値を特定する。
図4BにおいてEで示される或る時点で、コントローラ機器は、或るコマンドにおいて制御される機器に送出されるタイムスタンプ450を計算する。時間Eでは、WATCHAは、値430を有するように示される。時間Eでは、WATCHB内の値434は依然として不確定である。制御される機器上にあるLOW_RES時計は値432を有する。値432は、LOW_RES時計の分解能の限界まで、値430を近似する。
時間EにおけるWATCHA内の値を用いて、タイムスタンプ450が計算される。タイムスタンプ450は、そのタイムスタンプ450が計算される時間におけるWATCHA内の値に、或るオフセットを加えることによって計算される。オフセットの量は、タイムスタンプを含むメッセージを、コントローラ機器から制御される機器に送信できるようにするほど十分に長いことが好ましい。このようにして、タイムスタンプ450は、制御される機器が同期コマンドを受信した後に生じる時間を表す。
図4Bに示される実施形態では、タイムスタンプ450は、フィールド452及び454を含む。WATCHAはフィールド416及び456を含み、それらのフィールドはそれぞれ、フィールド452及び454と同じビット数を有する。WATCHAは、フィールド458内に付加ビットを含む。フィールド458内の付加ビットは、WATCHAが時間を追跡する付加的な分解能を表すが、その分解能を有するビットは、図示される実施形態では、タイムスタンプ450の値を計算する際に打ち切られる。
タイムスタンプ450内の値を用いて、時計再同期コマンドが実行されるべき時間を特定することができる。フィールド452内のタイムスタンプ450の最上位ビットは、LOW_RES時計と同じ分解能を有する時間を表す。図4BにおいてEで示される或る時点において、LOW_RES時計は、タイムスタンプ450のフィールド452内のビットに一致する値456をとる。LOW_RES時計内の値を、タイムスタンプ450のフィールド452内の値と比較することによって、制御される機器は、時間Eを特定することができる。
タイムスタンプ450によって表される値は、時間E後の時間Rにおいて生じる。この時間は図4BにおいてEとして表される。時間Eにおいて基準エッジを有するローカルクロックを生成するために、ローカルクロックは、時間Eにおいてローカルクロックのエッジと一致するのと同じ効果を生み出すことになる値と、時間Eにおいて位置合わせされなければならない。LCLKBは、LCLKBを生成するために用いられるDDS回路のNCO内の値をRに基づく値に設定することによって、時間Eにおいて位置合わせされる。概念的には、時間E4後の時間R(たとえば、時間E5)において、NCOは「0」になり、LCLKBのエッジが生じるべきであることを指示しなければならない。時間E4において、E5のLCLKBが入手できない場合であっても、回路が整定され、LCLKBが生成されるときに、LCLKBが、時間E5においてエッジを有するような位相を有するように、制御される機器のタイミング回路内の値が設定される。
その後、或る整定時間が必要とされる。その整定時間は図4BにおいてDAT2として示される。 整定時間の終了は時間Eにおいて示される。時間Eでは、WATCHBは初期値をロードされ、LCLKBでクロック供給される。WATCHBは、同期コマンド内のタイムスタンプ450の値に、遅延DAT2を加えた値を表す時間をロードされる。このようにして、WATCHBは、WATCHA内の値に対して決定的な関係を有する値をロードされ、その後、LCLKBによってクロック供給され、それは、WATCHAをクロック供給するローカルクロックに対して再現可能な関係を有する。このようにして、WATCHBはWATCHAに同期する。
図4Bの例では、変動が起こり得る1つの原因は、タイムスタンプ450を生成するために用いられる値を打ち切る(切り捨てる)ことに起因する。上記のように、送信される前に、量Rがタイムスタンプから打ち切られる。こうして、WATCHBがWATCHAに同期するとき、WATCHBは、量RだけWATCHA内の値よりも小さい値をロードされる。Rの値は、試験プログラムが繰り返される度に異なることがある。コマンドを繰返し実行することができる精度は、残余Rを格納し、それを用いて、コントローラ機器から制御される機器へのコマンド内にある、図4Bに示される過程に従って時計が同期する任意のタイムスタンプ値を調整することによって高めることができる。
ここで図5を参照すると、発信元ボード510と宛先ボード540との間でコマンドを通信するために用いることができるインターフェース回路のブロック図が示される。発信元ボード510は機能回路590を備え、宛先ボード540は機能回路592を備える。発信元ボード510及び宛先ボード540が機器である実施形態では、機能回路は、その機器のために必要とされる機能を実行し、半導体デバイスを試験するために用いられる機能を実行するために現時点で当該技術分野において知られているような回路、又は後に開発されるような回路であってもよい。たとえば、発信元ボード510はデジタル機器30Aであってもよく、宛先ボード540はアナログ機器30Cであってもよく、それぞれはデジタル信号又はアナログ信号をそれぞれ生成し、測定するのに適した機能回路を含んでもよい。
ここで、発信元ボード510は、機能回路590を制御するためのコマンドを生成するパターン発生器46Aを有するように示される。宛先ボード540は、パターン発生器を有せずに示される。パターン発生器46Aは、宛先ボード540のためのコマンドを生成する。それらのコマンドは、ISLを介して、宛先ボード540に通信される。
ボード間の通信経路はルータ330を通じて設けられ、ルータ330はISLの一部である。発信元ボード510は、インターフェース回路320Aを備え、ISLを介して通信するのを容易にする。宛先ボード540は、インターフェース回路320Bを備える。各インターフェース回路320A及び320Bは、1つ又は複数のASICとして、又は他の集積回路チップとして実装することができる。
インターフェース320AはPHY530を備え、インターフェース320BはPHY550を備える。PHY530及びPHY550は、ISLの選択されたプロトコルに従って通信を管理するために必要とされる回路である。この回路は、メッセージをパケットとして形成すること、パリティを検査すること、物理的なネットワーク接続を介してデータを送出及び受信すること、誤差に基づいてパケットを再送すること、並びに受信された有効なパケットをさらに処理するために、ネットワークの次に高い階層に渡すこと等の、ネットワークインターフェースのハードウエア構成要素において従来から実行されている機能を実行する。PHY530及び550は、メッセージが選択されたプロトコルのフォーマットに準拠することを検証することもできる。たとえば、それらのPHYは、発信元ID又は宛先IDが、テスタ内の有効な発信元ID及び宛先IDに対応することを検査することができる。又は、それらのPHYは、メッセージのタイムスタンプフィールド内の値が有効な将来の時間を表すことを検査することができる。
この例におけるパケットの伝送は、パターン発生器46Aによって開始され、パターン発生器46Aは「イベント」が生じるべきであることを指示する。そのイベントは、宛先ボード540上にある機器がコマンドを実行すべきであることを指示する。生じるべきイベントを指定することに加えて、パターン発生器46Aは、そのイベントが生じるべき時間も指示する。例示される実施形態では、イベントの時間は、現在の時間からのオフセットである。
そのオフセットは、タイムスタンパ回路516に与えられる。タイムスタンパ回路516は、宛先ボード540がコマンドを実行すべき時間を指示するタイムスタンプを計算し、このタイムスタンプを、イベントの指示とともに伝送するために、PHY530に渡す。インターフェース320Aのための現在の時間は、WATCHA514内に保持される。
「時計」は、任意の都合の良い態様で実装してもよいが、クロック信号に基づいて、時間の経過を記録する回路を含むことが好ましい。時計は、パターン発生器46Aを駆動するクロックと同期しているクロックによってクロック供給されることが好ましい。時計は、単にカウンタとして実装してもよく、その場合、カウンタは、本明細書に記述される機能を実行するためにカウンタをリセットし、ロードするための小規模な制御回路を備える。例示される実施形態では、WATCHA514は、ローカルクロックモジュール42Aによって生成されるローカルクロックLCLKAによってクロック供給される。各時計が時間を追跡する分解能のビット数は、本発明にとって重要ではない。各時計は、その時計を駆動するクロックの周期以下の分解能で時間を追跡できるようにするビット数を有することが好ましい。全てのクロックは、機器間でやりとりされるメッセージ内のタイムスタンプと少なくとも同じビット数の分解能を有することが好ましい。しかしながら、個々の機器は、それよりも高い精度、又は低い精度で時間を追跡することもできる。
宛先ボード540はWATCHB552を備える。WATCHB552は、ローカルクロックLCLKBに対する時間を保持する。LCLKA及びLCLKBは同じ周波数のクロックである必要はない。むしろ、WATCHA514及びWATCHB552が同じフォーマットで時間を出力すること、又は一方の時計に対して生成されたタイムスタンプが他方の時計によって保持される時間と比較される前に、WATCHA514及びWATCHB552によって生成されるフォーマットの時間値が、或る共通の時間フォーマットに変換されることで十分である。ここで、WATCHA及びWATCHBは、図4A及び図4Bに示される過程に従って同期する。
例示される実施形態では、WATCHA514に格納される値は、時計の最後の同期時に格納された残余値Rだけ増やされる。この値は、レジスタ518内に格納される。図4Bに関連して上記で説明されたように、残余Rは、WATCHAにおいて追跡される時間と、WATCHBにおいて追跡される時間との間の差を表しており、それは、時計同期コマンドのためのタイムスタンプを生成するために用いられる値を打ち切ることに起因して導入される。この残余値を、時計同期コマンド後の全てのコマンドのためのタイムスタンプを生成するために用いられる時間に加算することによって、打ち切りが、宛先ボード540がコマンドに応答する時間に影響を及ぼさなくなる。
図5は、残余レジスタ518の入力及び出力における連動スイッチ519を示す。スイッチ519は、数サイクルで、残余値RがWATCHA514内の値から導出されることを表す。Rが格納されているサイクルでは、レジスタ518内の値は、WATCHA514内の時間を調整するために用いられない。ここでは、スイッチ519は、所望の機能を実行する任意の回路を表す。
タイムスタンプを計算する際に、WATCHA内の値も、レジスタ512内に格納されるレイテンシ(待ち時間)の値だけ増やされる。その待ち時間の値は、発信元ボード510から任意の他の宛先ボード540へのメッセージのための最大伝送遅延よりも長くなるように選択される。待ち時間は一定であることが好ましい。試験システムは一般的に、機器間の一定の遅延に対して較正される。したがって、一定の遅延が導入されてもタイミングに誤差が導入されることはなく、一定の遅延の導入は、メッセージがISLを介して伝送されている間に経過した時間中に、宛先ボードがコマンドの実行を指定するメッセージを必ず受信しないようにするのを助ける。
1つのパケットが、発信元ボード510によって宛先ボード540に対して送出されるとき、そのパケットはPHY550を通る。上記のように、PHY550は、ネットワーク機能を管理するための専用のハードウエアである。PHY550が有効なパケットを受信するとき、そのパケットの内容は、より高い階層の回路に通信される。上記のように、実行されるべきイベントを指示するメッセージを含むパケットは、タイムアンスタンパ(time un-stamper)556に渡される。
タイムアンスタンパ556は、コマンドにおいて指定されるイベントが実行されるべきであるときに、宛先ボード540上の回路の残りの部分に制御信号を出力する。機能回路592が1つのイベントを実行できるようにする制御信号を搬送するラインが図示される。宛先ボード540は、宛先ボード540上の他の回路に制御信号が送信される必要がある、多数のタイプのコマンドに対応できることは理解されたい。たとえば、上記で説明されたように、制御される機器は、時計同期コマンドを受信することがある。そのようなコマンドは、クロックモジュール42C内のクロックの位置合わせ、及びWATCHBへの値のロードをトリガする。それゆえ、制御信号は、タイムアンスタンパ556から、クロックモジュール42C及びWATCHB552にも出力されることがある。他の制御信号を搬送するラインが存在することもあるが、明確にするために図示しない。
図4Bの同期過程に基づいて、マルチプレクサ560が、タイムアンスタンパに値を与えるように制御される。タイムアンスタンパ556は、時間入力をモニタし、タイムスタンプにおいて指定された時間に達した時点を特定する。この時点で、タイムアンスタンパ556は、適切な制御信号をアサートする。
タイムアンスタンパ556は、マルチプレクサ560を通じて、現在の時間値を受信する。マルチプレクサ560への入力は、実行されるべきコマンドに基づいて選択される。時計同期コマンドの場合、時間値は、LOW_RES時計558から導出される。全ての他のコマンドの場合、時間値は、WATCHB552から与えられることがある。マルチプレクサ560は、WATCHBが同期する前に、LOW_RES時計448の値をタイムアンスタンパ556に与え、同期した後にWATCHB552内の値を与える任意の回路を表す。
低分解能の時計558はRCLKのパルスをカウントし、図4Aに示されるように、DSYNC信号のアサート時にリセットされる。低分解能の時計558は、ローカル時計552とは別個のハードウエア素子であってもよい。別法では、低分解能の時計550は、ローカル時計552の高位のビットだけを用いることによって実現される論理構成体であってもよい。
ISLを介して伝送されるパケットが、機能回路592によって実行されるべきイベントを指定するとき、タイムアンスタンパ556は、タイムスタンプにおいて指定される時間に、機器内の機能回路592に対して、そのパケットのコマンド部分を出力する。その機器は、従来技術の機器がパターン発生器によって出力されるコマンドに応答したのと同じようにして、タイムアンスタンパ556によって出力されるコマンドを処理することができる。一実施形態では、イベント信号は、コマンド値に基づいて、マイクロコードメモリの索引を探索して、シーケンサを起動し、シーケンサが連続して、メモリからマイクロコード命令を検索し、実行する。
タイムアンスタンパ556の種々の実施態様が可能である。タイムアンスタンパ556は、メッセージからのタイムスタンプを格納し、且つコマンド値を一時的に格納するためのレジスタを備える単一のユニットを含むことができる。そのユニットは、タイムスタンプと、ローカル時計からの適切にオフセットされた値とを比較するデジタルコンパレータを備えることができる。制御回路が、コンパレータの出力をモニタし、時間値が一致するときに、コマンド値を出力に渡すことができる。機器内にある回路の残りの部分に信号を伝達し、コマンドを実行するために、他のインターフェース回路が含まれることもある。
しかしながら、さらに複雑な実施態様も可能である。たとえば、タイムアンスタンパは、その機器のために複数のコマンドを予定することができるように、複数のユニットを含むことができる。その際、タイムアンスタンパは、その対応するタイムスタンプによって指示される時間において、実行されるべき各コマンドを出力するであろう。複数のタイムアンスタンパユニットによって、受信される順序とは異なる順序で、コマンドを処理することもできるようになる。
図6は、図2又は図3に示されるような自動試験システム等のシステムが動作することができる過程(プロセス)を示す流れ図である。
そのプロセスは、サブプロセス620及びサブプロセス650として示される2つの並行したサブプロセスを含む。図6の例では、サブプロセス620は、コントローラ機器のISLインターフェース320A(図5)において実行される。サブプロセス650は、制御される機器のISLインターフェース320B(図5)において実施される。
ステップ610では、コントローラ機器内のローカルクロックがRCLKと位置合わせされる。図4Aに関連して先に例示されたような過程を実行して、クロックを位置合わせすることができる。制御される機器の中では、同時にステップ652が実行されることがある。ステップ652では、LOW_RES時計がリセットされ、RCLKのパルスをカウントし始めるように制御される。
その後、ステップ656では、制御される機器が、ISLを介してコマンドを受信するのを待つ。ステップ622では、コントローラ機器が、図4Aに示されるように、位置合わせ遅延時間だけ待つ。
ステップ624では、コントローラ機器内の時計が、位置合わせ遅延時間をロードされ、その時計は動き始める。
ステップ626では、コントローラ機器が、ISLを介して、制御される機器に対して「時計同期」コマンドを送出する。このコマンドは、コントローラ機器上のパターン発生器においてプログラミングされるコマンドに応答して送出されることがある。同期コマンドは、図4Bにおいて416で示されるように、タイムスタンプを含む。
ステップ658では、制御される機器が、ISLを介してコマンドを受信し、低分解能の時計が時計同期コマンド内のタイムスタンプの最上位ビットに一致する時間(時刻)を示すまで待つ。
ステップ660では、LCLKBを生成するために用いられるNCOの中にロードされるべき値が計算される。その値は、その値が時間EにおいてNCOの中にロードされる場合に、LCLKBが最終的に生成されるときに、時間Eにおいてエッジを有するかのような位相を有するように計算される。図4Bによって示されるように、この値はRの値によって決まるであろう。また、その値は、そのNCOをクロック供給するために用いられるクロックの周波数にも依存し、クロック発生回路の設計に関連する他の要因にも依存することがある。
LOW_RES時計によって位置合わせ時間が示されるとき、ステップ662において、制御される機器は、そのローカルクロックを位置合わせする。ステップ662におけるクロックの位置合わせは、計算された値をNCOの中にロードすることによって実行される。
ステップ664では、制御される機器が、図4BにおいてDAT2によって示されるような位置合わせ遅延時間だけ待つ。位置合わせ遅延時間後に、その過程はステップ666に続く。このステップでは、WATCHBが、再同期される時計コマンド内のタイムスタンプと、ステップ664において用いられた位置合わせ遅延時間との和を表す値をロードされる。その後、WATCHBは、制御される機器内のローカルクロックによってクロック供給されることができる。
サブプロセス650はステップ668において続けられ、ステップ668では、制御される機器が、コントローラ機器からのさらなるコマンドを待つ。
コントローラ機器では、過程はステップ626からステップ632に進む。ステップ632では、図4Bに示される打ち切られた部分Rを表す残余が格納される。その残余は、たとえば、518(図5)のようなレジスタ内に格納されることがある。
コントローラ機器では、サブプロセス620は、ステップ634において続けられる。ステップ634では、インターフェース回路が、別の機器に送信するためのコマンドを待つ。図5に示される実施形態では、インターフェース回路320Aが、パターン発生器46Aからコマンドを受信することができる。インターフェース回路320Aがコマンドを受信するとき、過程はステップ636に進む。
ステップ636では、インターフェース回路が、コマンドとともに送信されるべきタイムスタンプを計算する。図5の実施形態において示されるインターフェース回路の場合、タイムスタンプは、ローカル時計に格納されている現在の時間に、ステップ632において格納された残余値と、パターン発生器においてプログラミングされるオフセットに対する所定の待ち時間とを加えることによって計算される。
ステップ638では、インターフェース回路320Aが、ステップ636において計算されたタイムスタンプを含むパケットを形成し、ISLを介してそのパケットを送信する。
ステップ668では、制御される機器上にあるインターフェース回路320Bが、コマンドが受信されるまで待つ。ISLを介してコマンドが受信されるとき、過程はステップ670において続けられる。このステップでは、ISLを介して受信されたパケットからのタイムスタンプが、556(図5)のようなタイムアンスタンパにロードされる。
ステップ672では、タイムアンスタンパが、タイムアンスタンパに与えられるローカル時計に格納されている時間が、ステップ670において格納されているタイムスタンプと一致する時間(時刻)値を有するまで待つ。格納されているタイムスタンプが、ローカル時計上の時間と一致するとき、過程はステップ674において続けられる。
ステップ674では、タイムアンスタンパ556が、機能回路592のための制御信号をアサートし、それにより、ステップ638において送信されたパケットにおいて指定されたコマンドが、機能回路592によって実行される。
このようにして、コントローラ機器がさらなるコマンドを生成し、制御される機器がそれらのコマンドに応答して、過程を続けることができる。実行される具体的なコマンドは、機器内の機能回路のタイプによって決まり得る。実行されるさらなるコマンドは、時計同期コマンドを含むことができ、そのコマンドは、テスタの動作中に2回以上行われ得る。
説明された実施形態は、いくつかの利点を提供する。上記のアーキテクチャによれば、機器間でコマンドを非同期で通信できるようになり、それは、コマンドを実行する時間が、コマンドが受信される時間に直には依存しないことを意味する。正確な同期が、10ピコ秒未満の分解能で、好ましくは1ピコ秒未満の分解能で提供される。さらに、試験システムの全体を通じて分散供給される唯一のクロックは、比較的低い周波数である。基準クロックは、200MHz未満であることが好ましく、125MHz以下であることが好ましい。現在検討されている実施形態は、100MHzの基準クロックを有する。正確で低い周波数のクロックは、高い周波数のクロックよりも安価な回路で生成することができ、且つ試験システム全体にルーティングするのが容易である。
さらに、図3に示されるアーキテクチャは、アナログ機器30Cのための設計を、試験システム20において用いられるパターン発生器の設計から切り離す。図3のアーキテクチャを用いるシステムのために開発されたアナログ機器は、同じアーキテクチャで設計される任意の試験システムにおいて用いることができるので好都合である。そのような能力は、より高いクロック速度において動作できるようにするために、デジタル機器の設計を頻繁に変更する必要がある場合に重要である。機器設計が、1つの世代の試験装置から次の世代の試験装置に進められることがある場合に、自動試験装置の製造業者及び利用者の両者にとって、大幅にコストが削減される。機器へのインターフェースが世代間で保持できる場合には、さらなる利点が得られる。設計及びインターフェースが同じままである場合には、機器を含む同じ物理的なボードを、試験システム間でそのまま流用することができる。
さらに、サードパーティの機器をさらに容易に使用することができる。サードパーティの機器を、図5に示されるようなイベントコントローラを含む比較的コンパクトなインターフェースを用いて、試験システムに組み込むことができる。そのようなインターフェースは、単一の集積回路チップ上で、又は少数のチップ上で構成することができるか、又は別の方法で回路モジュールとして都合良くパッケージ化することができる。任意選択的に、そのインターフェースは、ローカルクロックモジュールを含むことができる。テスタ製造業者が、サードパーティ機器供給業者にインターフェースを提供し、それらの供給業者が、機器にインターフェースを組み込むことができる。その際、規定されたインターフェースを用いる機器は、試験システムに容易に組み込むことができる。
さらに、上記のアーキテクチャによれば、多数の他の望ましい機構を容易に実現できるようになる。たとえば、機器間の通信リンク上のメッセージは一度にただ1つの機器に向けられる必要はない。パケット内に含むことができる宛先IDを、システム内の全ての機器がそのパケットを受信し、処理すべきであることを示すように規定することによって、同報メッセージの伝送を実施することができる。各機器は、そのメッセージの宛先フィールド内に自らのID、又は同報IDのいずれかを有するメッセージを受信し、それに応答することができる。制御される機器のグループが1つのコマンドを受信するとき、そのグループ内の全ての機器が、コマンドを送信する機器内の時計に同期した時計を有することが好ましい。
さらに、限定された形式の同報メッセージ伝送を用いて、「パターングループ」を形成することができる。宛先フィールド内に「パターングループ」IDを有するメッセージは、そのIDを割り当てられたグループ内の全ての機器によって応答されるであろう。たとえば、特定のパターン発生器からのコマンドを受信する全ての機器が1つのパターングループを割り当てられ得る。このようにして、パターングループに対して包括的にアドレス指定されるただ1つのメッセージが、そのグループ内の全ての機器の中にある時計を同期させるであろう。
パターングループアドレス指定の利点は、それにより、ユーザが複数の「論理パターン発生器」を用いてテスタをプログラミングできるようになることである。各論理パターン発生器は、独立した試験フローを有するようにプログラミングすることができる。たとえば、高速バス及び低速バスを備える半導体デバイスを試験する際に、高速バスを試験するための信号を生成し、測定するための回路は、1つのパターングループを割り当てられた機器上に存在することができる。低速バスを試験するための信号を生成し、測定するための回路は、第2のパターングループを割り当てられた機器上に存在することができる。両方のバスを同時に試験することができるが、各バスを試験するためのプログラムは、別々に作成することができ、独立して実行するために別個のパターン発生器に格納することができる。
或る機器が2つ以上のパターングループに属することもあるが、1つの機器が矛盾するコマンド、又は処理することができるコマンドよりも多くのコマンドを同時に受信しないことを保障するために、そのようなシナリオにおいて調停を用いることができる。たとえば、複数のパターングループ内の機器にメッセージを送信できるようにする宛先IDによって、それらのパターングループが同期できるようになるであろう。
本発明を、その好ましい実施形態を参照しながら詳細に図示及び説明したが、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、形態及び細部を様々に変更できることが、当業者には理解されよう。
たとえば、通信リンクの種々の物理的な実施態様が可能である。単一のラインとして、SerDesラインが示される。使用されるそのようなラインは、ツイストペア線、同軸ケーブル、光ファイバ、又は任意の他の適切な物理媒体で実装することもできる。さらに、パターン発生器とイベントコントローラとの間で双方向通信できるようにするために、2つのラインを用いることもできる。又は、単一の二重回線が用いられることもある。代替的には、パターン発生器からイベントコントローラまでの一方向通信だけを提供すれば十分である場合がある。さらに、通信リンクはシリアルである必要はない。他の形態の通信ネットワークが用いられてもよい。パケット切換ネットワークが用いられることが記述されるが、他のタイプのネットワークを用いて実施形態を構成することもできる。
各機器は1つのクロックモジュールを有するように示される。1つの機器が、2つ以上のクロックモジュールを有することもできる。さらに、説明した実施形態は、各デジタル機器が1つのパターン発生器を含むことを示す。本発明の利益を享受するために、全てのデジタル機器が1つのパターン発生器を有する必要はない。デジタル機器によっては、他のデジタル機器上のパターン発生器からコマンドを受信することもある。たとえば、デジタル機器によっては、比較的低い周波数のパターンを生成するものもあれば、高い周波数のパターンを生成するものもある。低い周波数の機器は、それよりも高い周波数の機器からコマンドを受信することができる。代替的には、デジタル機器のうちのいくつか、又は全てが、1つの中央パターン発生器からコマンドを受信することもできる。全てのデジタル機器がパターン発生器を備えるときであっても、いくつかのデジタル機器が、他の機器にコマンド又はステータスメッセージを送信することが依然として望ましいことがある。
図4Bでは、時計が同期する前に、低分解能の時計が用いられる。同期後に、WATCHBが、LCLKBの周期に等しい分解能、すなわち高い分解能の時計で時間を追跡する。WATCHB及びLOW_RES時計を実現するための代替の実施形態もある。別個のハードウエアを用いて、低分解能及び高分解能の時計を実現することができる。代替的には、低分解能の時計及び高分解能の時計の低分解能の部分の両方のために同じハードウエアを用いることができる。
さらに、機器を互いに接続するためにISLが示される。ISLを通じて、システムの他の部品を機器に接続することもできる。たとえば、機器と通信できるようにするために、又はコンピュータワークステーション22からのコマンドを、ISLを介して通信できるようにするために、マスター領域ボードをISLに接続することができる。
ルータで実現されるISLが示される。ルータは必須ではない。類似の機能は、任意のパケット切換回路又は回線切換回路で提供することができる。代替的には、全ての機器が全てのパケットを受信して、自らにアドレス指定されたパケットだけを選択することができる。しかしながら、ルータ又は類似の切換回路を有することによって、各機器がパケットを処理しなければならない速度が下がる。また、ルータ又は類似の切換回路は、切換回路内のアドレス変換テーブルをプログラミングすることによって実現することができ、各機器上にあるロジックをプログラミングし直す必要がないので、同報アドレス指定及びパターングループを容易にする。
2つのクロックのエッジを位置合わせすることによって同期が達成される場合、そのエッジのうちの一方が他方のクロックのエッジと所望の時間関係を有するまで、いずれかのクロックを遅延させることができる。同様に、カウントアップ又はカウントダウンする回路によって、クロック及び他のタイミング回路を実装することもできる。したがって、時間がいかに追跡されるかに応じて、時間値を加える結果として、数が大きくなることもあれば、小さくなることもある。
また、試験システム内の全てのタイムアンスタンパが同じ精度で時間を測定する必要はなく、又は各タイムアンスタンパが、メッセージ内のタイムスタンプと同じ精度で時間を測定する必要はない。ローカルクロックが、メッセージのタイムスタンプ内の最上位ビットのうちの或る数だけに等しい時間に達するとき、タイムアンスタンパはイベント指示を出力することができる。タイムアンスタンパは、イベントが実行されるべきであるという指示とともに、機能回路に、タイムスタンプの残りの最下位ビットを与えることができる。機器の機能的な部分は、残りの最下位ビットをオフセットとして用いることができ、その量だけイベント信号からオフセットされた時間においてコマンドを実行することができる。
複数の値だけオフセットされたいくつかの時間値が示される。また、別の機器に同期している1つの機器上の時間値のうちの1つにオフセットが加算される種々の動作が説明される。連携した動作は、他方の値から同じ量を減算することによって達成することができる。オフセットが結合される順序も場所も重要ではない。たとえば、図5は、ローカル時計の出力に加算される残余及び待ち時間値を示す。これらの値は、ローカル時計内に導入することができる。又は、これらの値は、ローカルクロックを生成する回路内に導入することもできる。
また、機器が「同期している」ことが上述されている。本明細書において用いられるときに、機器の動作間に決定的な時間関係が存在するときに、それらの機器は同期している。同期した機器を用いる場合、テスタは、そのテスタのタイミング精度内で、試験が繰り
返される度に動作すべきである。対照的に、機器が同期していない場合には、異なる機器によって実行される試験機能間の間隔は、テスタのタイミング精度よりも大きな量だけ、試験間で異なることがある。しかしながら、「同期している」ことは、動作が一致していること、又は同時であることを必要としない。たとえば、1つの機器において実行されるコマンドと、そのコマンドに応答して別の機器において行われる動作との間に、或る遅延が存在する場合であっても、機器は同期しているものと見なすことができる。
同様に、クロックが「位置合わせされている」ことが説明されている。クロックは、位置合わせされているときに、立ち上がりエッジが一致しているものとして示される。そのような表現は、例示を明確にすることを目的としている。2つのクロックは、1つのクロック信号の或る部分が、他のクロック信号の或る部分に対して決定的な時間関係で生じる限り、位置合わせされているものと見なすことができる。さらに、この関係はクロックのサイクル毎に繰り返される必要はない。2つのクロックが異なる周期を有する場合、2つの信号のエッジの相対的な位置はサイクル毎に変化することがある。しかしながら、クロックが或る時点において位置合わせされている場合には、エッジ間の関係は、信号の安定性によって課せられる限度内で決定的である。
さらに、図4Bは、同期するときに、同じ最上位ビットを有するWATCHA及びWATCHBを示す。このような値は簡単にするために示される。時計は、その間に或る一定のオフセットが存在する場合であっても、同期していると見なすことができる。上記のように、試験システムの異なるチャネル内のイベントのタイミング間の一定のオフセットは容易に較正することができ、誤差の原因とはならない。さらに、時計は、常に最下位ビットに差がある場合であっても、同期していると見なすことができる。WATCHA及びWATCHBが異なる周波数のローカルクロックによってクロック供給される場合には、それらの時計は異なる時間にインクリメントすることになり、その時計をクロック供給する個々のローカルクロックの周期に比例する異なる量だけインクリメントすることになる。しかしながら、イベントのタイミングが試験毎に再現可能である限り、それらの時計は、同期しているものと見なすことができる。
さらに、図4A及び図4Bは、WATCHAにおいて表すことができる任意の時間が、WATCHBによって送信又は処理することができない分解能で指定される場合であっても、時計同期コマンドを、この時間において実行することができることを示す。試験システムの動作に制約が課せられる場合には、回路のうちのいくつかの回路の設計を簡単にすることができる。たとえば、同期コマンドが、タイムスタンプ内の値によって表すことができる時間においてのみ実行されることが許される場合には、残余を格納する必要はなくなるであろう。しかしながら、時計同期コマンド時間に制約を加えることは、望ましくないことがある。
さらに代替の実施形態として、時計の同期は、残余値Rを格納することなく達成することができ、時計再同期コマンドが実行されるときに、コントローラ機器上の時計の最下位ビットを0に設定することによって達成することができる。そのような手法は、全ての時計が同時に再同期するシステムにおいて最も有用である。
図3は、ルータ300を通じて接続される3つの機器を示す。この接続の数は、動作の原理を例示するにすぎない。おそらく、テスタは、4つ以上の機器を含むであろう。
さらに、機器がアナログ機器及びデジタル機器として示される。多数の機器がアナログ信号及びデジタル信号の両方を処理するので、本発明は、特定のタイプの機器には限定されない。
このような改変、変更及び改善は、本開示の一部であることを意図しており、本発明の
精神及び範囲内にあることを意図している。したがって、上記の説明及び図面は例示にすぎない。

Claims (16)

  1. 準クロック(RCLK)の周期によって制限されるタイミング分解能を与える基準クロック(RCLK)を受信するように適応されたインターフェース回路(320B)を含む機器であり、
    前記インターフェース回路(320B)は、
    前記基準クロックを受信し、ローカルクロック(LCLKB)を出力するように適応されたクロック発生器(42C)と、
    前記ローカルクロック(LCLKB)に基づいて時間を追跡し、入力と出力を有するタイミング回路(WATCHB552)と、を備え、
    記ローカルクロック(LCLKB)は前記基準クロック(RCLK)よりも高いタイミング分解能を与え、
    前記機器は、更に、
    i)メッセージを搬送する通信リンク(ISL)に接続するための前記インターフェース回路(320B)におけるポートと、
    ii)第2の機器(510)から前記通信リンク(ISL)を介したメッセージを受信して前記クロック発生器(42C)と前記タイミング回路(WATCHB552)へ信号を出力するために適用されたメッセージ処理回路(556)と、を備え、
    前記受信されたメッセージは、前記ローカルクロック(LCLKB)を前記第2の機器内の第2のローカルクロック(LCLKA)に位置合わせするための前記基準クロック(RCLK)に対する時間を指定する値を含み
    記受信されたメッセージにおける前記値に基づいて求められた初期値を前記タイミング回路(WATCHB552)に入力し、前記初期値に基づいて、前記タイミング回路(WATCHB552)は時間値を出力する、
    機器。
  2. 前記クロック発生器(42C)はDDS回路を含む、請求項1に記載の機器。
  3. 前記メッセージ処理回路(556)は、前記通信リンク(ISL)を介して非同期でパケットを受信する、請求項1又は2に記載の機器。
  4. 前記ポートはシリアルポートを含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の機器。
  5. 前記インターフェース回路(320B)、前記クロック発生器(42C)、前記タイミング回路(WATCHB552)及び前記メッセージ処理回路(556)は、1つの集積回路チップとして実装される、請求項1〜4のいずれか一項に記載の機器。
  6. コマンド入力を有し、前記タイミング回路(WATCHB552)の前記出力に結合される機能回路(592)をさらに備え、該機能回路(592)は、前記タイミング回路(WATCHB552)の前記出力に応答して試験機能を実行する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の機器。
  7. 前記インターフェース回路(320B)は同期入力をさらに備え、前記クロック発生器(42C)は、前記同期入力によって指示される時間において開始する前記基準クロック(RCLK)の周期を追跡するための回路を備える、請求項に記載の機器。
  8. ASICとして実装される、請求項1〜7のいずれか一項に記載の機器。
  9. 器内のイベントのタイミングを制御する方法であって、
    a)基準クロック(RCLK)の周期によって制限されるタイミング分解能を与える基準クロック(RCLK)を受信し、
    b)前記基準クロック(RCLK)を用いて第1のタイミング分解能で時間を追跡し、
    c)ネットワーク(ISL)を介して、位置合わせ時間を指定する第1のデジタル値を第2の機器から受信し、前記位置合わせ時間は、前記基準クロック(RCLK)で追跡される時間と前記第1のデジタル値に関係して指定され、前記第2の機器内の第2のローカルクロック(LCLKA)は前記基準クロック(RCLK)と位置合わせされており
    d)前記位置合わせ時間に達したときに、前記機器に含まれるDDS回路の数値カウンタ発振器(NCO)における値を設定することによりローカルクロック(LCLKB)を前記基準クロックと位置合わせし、
    e)前記ローカルクロック(LCLKB)を用いて、前記第1のタイミング分解能よりも高い第2のタイミング分解能で時間を追跡し、
    f)第2の機器内の回路において追跡される時間に基づいて生成されるイベントの時間を指定する第2のデジタル値を受信し、
    g)前記第2のデジタル値と前記第2のタイミング分解能で追跡される時間に基づいて前記イベントの前記時間を特定する、
    ことを含む方法。
  10. 前記第1のタイミング分解能で時間を追跡することは、同期信号を受信し、及び前記同期信号に応答して、時間を追跡し始めることを含む、請求項に記載の方法。
  11. 前記第2のタイミング分解能で時間を追跡することは、前記位置合わせ時間を指定する前記第2のデジタル値に基づき初期値でカウンタをロードし、及び前記ローカルクロック(LCLKB)で前記カウンタにクロック供給することを含む、請求項10に記載の方法。
  12. 前記第2のタイミング分解能で時間を追跡することは、前記ローカルクロック(LCLKB)のパルスをカウントすることを含む、請求項9〜11のいずれか一項に記載の方法。
  13. 前記第1のタイミング分解能で時間を追跡することは、前記基準クロック(RCLK)のパルスをカウントすることを含む、請求項12に記載の方法。
  14. 前記ネットワークを介して受信することは、前記ネットワーク内のシリアルラインを介してデータを受信することを含む、請求項9〜13のいずれか一項に記載の方法。
  15. 請求項9〜14のいずれか一項に記載の方法を実行するためのプログラム。
  16. 請求項9〜14のいずれか一項に記載の方法を実行するためのプログラムを記録した記録媒体。
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