JP5954160B2 - クロック・データリカバリィ方法および回路 - Google Patents

クロック・データリカバリィ方法および回路 Download PDF

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Description

本発明は、クロック・データリカバリィ(Clock Data Recovery: CDR)方法およびCDR回路に関する。
通信基幹向け装置や、サーバーなどの情報処理機器では、装置に使用される集積回路チップ内およびチップ間(装置内、装置間)において、高いビットレートで信号を送受信する高速I/O用データ受信回路が使用される。
上記の情報処理機器の性能向上に伴い、装置内外での信号送受信のデータレートの向上や電力効率の向上が求められている。また、データレートの増加に伴い、高精度なアナログ回路である位相補間回路の設計や、後段のデジタル回路を含めたフィードバック系全体のシミュレーションの困難さが増している。位相補間回路の動作速度を低減する方策として、ボーレート(Baud-rate)サンプリングを用いた手法や、ブラインドサンプリングを用いた手法が提案されている。ボーレートサンプリングを用いる方法は、広く用いられる2×方式に比べて使用するクロック周波数が半分になるため、電力効率や動作速度の点で有利である。
また、ボーレートサンプリングではないが、オーバーサンプリングを行ってその中で最も確からしい値を選択するという手法が提案されている。この手法によれば、高精度な位相補間回路を不要とし、デジタル回路からアナログ回路へのフィードバックを無くすことができる。
さらに、フロントエンド部にアナログ・デジタル変換器を用いた、ブラインドサンプリング型(データ補間型)のCDR回路が提案されている。このCDR回路でも、高精度なPLLなどの位相補間回路が不要である。
特開2007−174023号公報
O. Tyshchenko, A. Sheikholeslami, H. Tamura, M. Kibune, H. Yamaguchi, and J. Ogawa, "A 5Gb/s ADC-Based Feed-Forward CDR in 65nm CMOS," IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 45, No. 6, pp. 1091-1098, June. 2010. O. Tyshchenko, A. Sheikholeslami, H. Tamura, Y. Tomita, H. Yamaguchi, M. Kibune, T. Yamamoto, "A Fractional-Sampling-Rate ADC-Based CDR with Feed-Forward Architecture in 65nm CMOS," IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), Digest of Tech. Papers, pp. 166-167, Feb. 2010. Mueller, K. & Muller, M. "Timing Recovery in Digital Synchronous Data Receivers" Communications, IEEE Transactions on, 1976, 24, 516 - 531 Spagna, F.; Chen, L.; Deshpande, M.; Fan, Y.; Gambetta, D.; Gowder, S.; Iyer, S.; Kumar, R.; Kwok, P.; Krishnamurthy, R.; chun Lin, C.; Mohanavelu, R.; Nicholson, R.; Ou, J.; Pasquarella, M.; Prasad, K.; Rustam, H.; Tong, L.; Tran, A.; Wu, J. & Zhang, X. "A 78mW 11.8Gb/s serial link transceiver with adaptive RX equalization and baud-rate CDR in 32nm," CMOS Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC), 2010 IEEE International, 2010, 366 - 367
上記のように、ボーレートサンプリングの手法およびブラインドサンプリングの手法をCDR回路に適用することにより、データレートの向上および電力効率の向上を実現できる。しかしながら、両者を同時に適用すると、ブラインドサンプリングの手法では、データの補間を伴うため、サンプリングレートの低いボーレートサンプリングの手法を用いると、データが欠落してしまうというという課題がある。
実施形態では、ボーレートサンプリングおよびブラインドサンプリングの両方を行い、フィードバックループがデジタル回路で実現され、高精度のクロック・データ再生が行えるCDR回路が実現される。
第1の態様によれば、クロック・データリカバリィ回路は、積分回路と、アナログ・デジタル変換器と、データ補間回路と、位相比較回路と、フィルタと、判定帰還等化回路と、判定回路と、を有する。積分回路は、入力データ信号を、サンプルクロックの2周期に渡って積分する。アナログ・デジタル変換器は、積分回路の出力信号を、サンプルクロックに応じてデジタル信号に変換する。データ補間回路は、アナログ・デジタル変換器の出力を、位相情報に応じて補間して補間データを生成する。位相比較回路は、補間データのサンプルクロックに対する位相を比較する。フィルタは、位相比較回路の比較結果をフィルタリング処理して位相情報を生成する。判定帰還等化回路は、決定した出力データに応じて補間データに対して等化処理を行う。判定回路は、判定帰還等化回路の出力を2値判定して出力データを生成する。
第2の態様によれば、クロック・データリカバリィ回路は、積分回路と、アナログ・デジタル変換器と、デジタル積分器と、データ補間回路と、位相比較回路と、フィルタと、判定帰還等化回路と、判定回路と、を有する。積分回路は、入力データ信号を、サンプルクロックの1周期に渡って積分する。アナログ・デジタル変換器は、積分回路の出力信号を、サンプルクロックに応じてデジタル信号に変換する。デジタル積分器は、アナログ・デジタル変換器の出力に、1周期前のアナログ・デジタル変換器の出力を加算する。データ補間回路は、デジタル積分器の出力を、位相情報に応じて補間して補間データを生成する。位相比較回路は、補間データのサンプルクロックに対する位相を比較する。フィルタは、位相比較回路の比較結果をフィルタリング処理して位相情報を生成する。判定帰還等化回路は、決定した出力データに応じてデータ補間回路の出力に対して等化処理を行う。判定回路は、判定帰還等化回路の出力を2値判定して出力データを生成する。
実施形態のクロック・データリカバリィ回路は、フロントエンド部で2データユニット(2UI)積分を行うことで、ボーレートサンプリング方式とブラインドサンプリング方式を同時に使用することができるため、それぞれの利点を享受する。
ボーレート(Baud-rate)サンプリング方式の利点としては、2×オーバーサンプリング方式に比べて用いるクロックの周波数が1/2となり、電力効率や最大動作周波数の向上が見込まれる。
また、ブラインド方式の利点としては、アナログ・デジタル変換器(ADC)をフロントエンドに持った構成にすることで、デジタル回路からアナログ回路へのフィードバックパスを無くし、設計効率の向上が図られる。また、設計の難しい高精度な位相補間回路が不要となる。
さらに、フロントエンドにADCを設けることで、2次以上の高次の補間を容易に行えるようになり、高次の補間を用いることにより、補間誤差を軽減することができる。さらに、非特許文献3に記載されたMueller-Muller Phase Detectorを用いた位相検出といった、アナログ回路では困難な複雑な演算を十分に用いることが可能となり、サンプリングタイミングの誤差を低減できる。
図1は、ADCをフロントエンドに有する一般的なブラインドサンプリング型CDR回路の概略構成を示すブロック図である。 図2は、図1のCDR回路で、データレートに対して2倍の速度のサンプルクロックでサンプリングを行う2×オーバーサンプリングを行う場合に、1次補間方法で補間データを生成する処理を説明する図である。 図3は、図1のCDR回路で、ボーレートに等しい周期のサンプルクロックでサンプリングを行う場合に、1次補間方法で補間データを生成する処理を説明する図であり、(A)はある位相差の場合を、(B)は大きな補間誤差が発生する位相差の場合を、示す。 図4は、第1実施形態のボーレートサンプリングを行うブラインドサンプリング型CDR回路の概略構成を示すブロック図である。 図5は、2UI積分回路に使用される積分回路の構成および動作を示す図であり、(A)が回路図を、(B)が動作タイムチャートを示す。 図6は、2UI積分回路の構成および動作を示す図であり、(A)が構成を、(B)が動作タイムチャートを示す。 図7は、第1実施形態において、ボーレートと同じ周期のサンプルクロックでサンプリングを行う場合の2UI積分波形を示し、1次補間方法で補間データを生成する処理を説明する図であり、(A)と(B)は補間係数が異なる場合を示す。 図8は、 2UI積分後の波形から受信データを再生する方法を説明する図である。 図9は、データ補間回路で行う2次補間を説明する図である。 図10は、ユニットパルスを2UI積分した場合の応答例を示す図である。 図11は、フィルタの構成例であり、(A)および(B)は異なる構成例を示す。 図12は、第2実施形態のボーレートサンプリングを行うブラインドサンプリング型CDR回路の概略構成を示すブロック図である。 図13は、第3実施形態のボーレートサンプリングを行うブラインドサンプリング型CDR回路の概略構成を示すブロック図である。
実施形態を説明する前に、一般的なブラインドサンプリング型(データ補間型)のCDR回路、およびそれにボーレート(Baud-rate)サンプリングを適用した場合の問題を説明する。
図1は、ADCをフロントエンドに有する一般的なブラインドサンプリング型CDR回路の概略構成を示すブロック図である。
図1のブラインドサンプリング型CDR回路は、PLL回路11と、等化回路(EQ)12と、アナログ・デジタル変換器(ADC)13と、デジタルCDR処理回路14と、を有する。デジタルCDR処理回路14は、データ補間回路(Data Interpolator: DI)15と、判定回路16と、位相検出回路(Phase Detector: PD)17と、フィルタ(Filter)18と、を有する。
PLL回路11は、水晶発振器等から与えられる低速のクロックRef.clkの周波数を入力データ信号Data inのデータレートまで逓倍し、サンプルクロックSamp.CLKを生成する。サンプルクロックSamp.CLKと入力データ信号Data inは非同期な信号である。EQ12は、入力データ信号Data inの以前の周期のシンボル値の影響を補正するアナログ等化処理を行う。等化処理を行う箇所は、図1の例に限定されず、送信側で行うことも、デジタル変換された入力データに対してデジタル等化処理を行う場合もある。
ADC13は、EQ12の出力を所定ビット数のデジタルデータに変換する。上記のように、サンプルクロックSamp.CLKと入力データ信号Data inは非同期な信号であるため、ADC13は必ずしも入力データ信号の1データ区間(1UI)の中心部のタイミングでA/D変換しているわけではない。そこで、デジタルCDR処理回路14は、ADC13の出力する複数のサンプルされたデジタル値に対して、1UIの中心部に相当するような値を作り出すようにデータ補間処理を行い、補間データを1/0判定して1ビットのデータを生成する。
DI15は、所定の補間方法に基づいて、1UIの中心部に相当する値を作り出す補間係数でADC13の出力するデータの補間処理を行う。
判定回路16は、DI15の出力する補間処理されたデータを所定に閾値レベルと比較する1/0判定を行い、1ビットの出力データData outを生成する。PD17は、出力データData outから、入力データ信号Data inとサンプルクロックSamp.CLKとの位相差を検出する。フィルタ18は、PD17の出力する位相差のデータをフィルタ処理(ローパスフィルタ処理)し、位相情報を生成する。
DI15は、フィルタ18の出力する位相情報に基づいて、1UIの中心部に相当する値を作り出す補間係数を決定し、補間処理を行う。DI15で行うもっとも簡単な補間方法は、1次補間方法である。
図2は、図1のCDR回路で、データレートに対して2倍の速度のSamp.CLKでサンプリングを行う2×オーバーサンプリングを行う場合に、1次補間方法で補間データを生成する処理を説明する図である。
図2に示すサンプリングおよびデータ補間方法は、一般的に用いられるCDR方式の位相比較回路が、データの中央とデータの遷移点の情報を利用する方式であることに起因する。図2に示すように、データは1データ区間(1UI)単位で変化する。図2において、実線がデータの変化を示し、丸印が非同期に行ったサンプル値を示し、点線は隣接する二つのサンプル値の間を1次補間する補間直線を示し、三角印が隣接する二つのサンプル値の間を1次補間した補間値を示す。補間データは、Samp.CLKとData inの位相差に応じて補間係数を設定することで、この点線上を自由に動くことができるので、データ区間のちょうど中心に三角印の補間データが位置するように、補間係数を設定する。図2では、補間係数を0.5、すなわち隣接する二つのサンプル値の中間値を補間値とする場合を示している。
ここで、図1のブラインドサンプリング型CDR回路で、サンプルクロックSamp.CLKをボーレート(Baud-Rate)、つまり、1データ区間につき1度のサンプリングを行うようにした場合を考える。
図3は、図1のCDR回路で、ボーレートに等しい周期のSamp.CLKでサンプリングを行う場合に、1次補間方法で補間データを生成する処理を説明する図であり、(A)はある位相差の場合を、(B)は大きな補間誤差が発生する位相差の場合を、示す。
図3の(A)に示すように、図2の場合に比べて大きな補間誤差が生じる。最悪の場合には、図3の(B)に示すように、データを全く再現できず、データが失われてしまうという問題が発生する。
図4は、第1実施形態のボーレートサンプリングを行うブラインドサンプリング型CDR回路の概略構成を示すブロック図である。
第1実施形態のCDR回路は、PLL回路21と、等化回路(EQ)22と、2UI積分回路31と、アナログ・デジタル変換器(ADC)23と、デジタルCDR処理回路24と、を有する。デジタルCDR処理回路24は、データ補間回路(Data Interpolator: DI)25と、位相比較回路27と、フィルタ(Filter)28と、判定帰還等化回路(Decision Feedback Equalizer: DFE)32と、判定回路26と、を有する。
PLL回路21は、水晶発振器等から与えられる低速のクロックRef.clkの周波数を入力データ信号Data inのデータレートまで逓倍し、サンプルクロックSamp.CLKを生成する。サンプルクロックSamp.CLKと入力データ信号Data inは非同期な信号である。EQ22は、入力データ信号Data inの以前の周期のシンボル値の影響を補正するアナログ等化処理を行う。2UI積分回路31は、EQ22の出力を、サンプルクロックSamp.CLKの2周期、すなわち2UIの期間積分した信号を生成する。ADC23は、2UI積分回路31の出力を所定ビット数のデジタルデータに変換する。
デジタルCDR処理回路24は、ADC23の出力する複数のサンプルされたデジタル値に対して、1UIの中心部に相当するような値を作り出すデータ補間処理を行い、補間データを1/0判定して1ビットの出力Data outデータを生成する。
データ補間回路25は、所定の補間方法に基づいて、1UIの中心部に相当する値を作り出す補間係数でADC23の出力するデータの補間処理を行う。位相比較回路27は、データ補間回路25の出力xkおよび判定回路26の判定結果Akに基づいて、データ補間回路25の出力xkのサンプルクロックSamp.CLKに対する位相を示す位相差データ(xk-xk-1)Ak-1を生成する。フィルタ28は、位相比較回路27の出力する位相差データ(xk-xk-1)Ak-1をフィルタ処理し、位相情報phを生成する。
データ補間回路25は、フィルタ28の出力する位相情報phに基づいて、1UIの中心部に相当する値を作り出す補間係数を決定し、補間処理を行う。
判定帰還等化回路32は、判定回路26の判定結果Akに基づいて、データ補間回路25の出力xkに対する等化処理を行う。判定回路26は、判定帰還等化回路32の出力する補間処理おより判定帰還等化処理が施されたデータを所定に閾値レベルと比較する1/0判定を行い、判定結果Akを生成する。判定結果Akが、出力データData outである。
以上のように、第1実施形態のCDR回路は、図1のCDR回路に類似した構成を有し、2UI積分回路31および判定帰還等化回路32が設けられていることが異なる。以下、2UI積分回路31および判定帰還等化回路32について説明する。
図5は、2UI積分回路31に使用される積分回路33の構成および動作を示す図であり、(A)が回路図を、(B)が動作タイムチャートを示す。
積分回路33は、増幅器34と、2個のスイッチSW1およびSW2と、容量Cと、を有する。SW2をオン(接続)することにより、容量Cは初期値にリセット(reset)される。SW2をオフ(遮断)した後、SW1をオンすると、入力信号を増幅した増幅器34の出力により容量Cが充電(または放電)され、入力信号の積分(integration)が行われる。SW1をオフすると積分が終了され、積分値が保持(hold)されて出力される。SW1がオンの期間を積分期間、SW1およびS2がオフの期間を出力期間、SW2がオンの期間をリセット期間とする。図5の積分回路は、広く知られているのでこれ以上の説明は省略する。
図6は、2UI積分回路31の構成および動作を示す図であり、(A)が構成を、(B)が動作タイムチャートを示す。
2UI積分回路31は、4個の積分回路33A−33Dと、スイッチSW3と、を有する。積分回路33A−33Dは、図5に示した積分回路であるが、これに限定されるものではない。積分回路33A−33Dは、積分期間を2UI、出力期間を1UI、リセット期間を1UI、とするサイクルを繰り返し、積分回路33A−33Dは、動作サイクルが1UIずつずれている。
積分回路33Aが積分期間の前半の1UIの期間の時、積分回路33Bはリセット期間で、積分回路33Cは出力期間で、積分回路33Dは積分期間の後半の1UIの期間である。次の1UIの期間では、積分回路33Aは積分期間の後半の1UIの期間、積分回路33Bは積分期間の前半の1UIの期間で、積分回路33Cはリセット期間で、積分回路33Dは出力期間である。さらに次の1UIの期間では、積分回路33Aは2UIの間積分した値を出力する出力期間となり、積分回路33Bは積分期間の後半の1UIの期間で、積分回路33Cは積分期間の前半の1UIの期間、積分回路33Dはリセット期間である。
以下このような動作を繰り返すことにより、積分回路33A−33Dで、1UIずつずれながら2UI積分が行われる。
上記のように、第1実施形態では、フロントエンド部分にてデータ区間の2倍の区間積分をする2UI積分を行う。
図7は、第1実施形態において、2UI積分した信号をボーレートと同じ周期のSamp.CLKでサンプリングを行う場合を示し、1次補間方法で補間データを生成する処理を説明する図であり、(A)と(B)は補間係数が異なる場合を示す。
図7において、実線は積分する前の入力データ信号Datainを示す。さらに、図7において、丸印がADC23が非同期に行ったサンプル値を示し、点線は隣接する二つのサンプル値の間を1次補間する補間直線を示し、三角印が隣接する二つのサンプル値の間を1次補間した補間値を示す。
2UI積分することにより、サンプリングレート以上の高周波成分が無くなるので補間誤差が軽減され、ボーレート(Baud-rate)のサンプリングでも元のデータ変化のトレースの再現性が向上していることがわかる。これは、補間係数が異なる図7の(A)および(B)の両方で、向上している。
図8は、 2UI積分後の波形から受信データを再生する方法を説明する図である。
図8に示すように1UI前のデータを用いて、1/0の閾値を変更する。第1実施形態では、判定帰還等化回路32が、判定回路26の判定結果に応じて等化処理を行うことにより、実質的に閾値の変更を行なう。具体的には、1UI前のデータが“1”の時には補間データxkを減少させ、 “0”の時にはxkを増加するように等化処理を行う。
PLL回路21、EQ22、ADC23、データ補間回路25、位相比較回路27、フィルタ(Filter)28および判定回路26は、図1のものと同様のものが使用可能であるが、第1実施形態に適したものを使用することが望ましい。以下、第1実施形態に適したデータ補間回路25、位相比較回路27、フィルタ(Filter)28について説明する。
データ補間回路25および位相比較回路27で行うもっとも簡単な補間方法は、1次補間方法である。非特許文献1から4などは、補間誤差の軽減のため、2次以上の高次の補間、およびMueller-Muller Phase Detector(MMPD)を用いた位相検出といった高精度の補間および位相差検出方法を提案している。このような方法は、複雑な処理を行う必要があり、アナログ処理によるCDR処理回路では実現が難しかった。これに対して、第1実施形態のCDR回路は、フロントエンドにADCを有し、後の処理をデジタル処理により実行できるので、上記のようなアナログ回路では困難な複雑な演算を十分に行うことができる。
データ補間回路25は、後述するMueller-Muller方式の位相検出回路の利用や、判定帰還等化回路32での判定を確実にするために2次以上の補間や、外挿を用いて補間誤差を軽減することが望ましい。
図9は、データ補間回路25で行う2次補間を説明する図である。
高次の補間を用いる場合、乗算器等のデジタル回路の回路規模の増加や計算時間の増加を伴うため、適宜簡略化した近似式を用いる場合が多い。図9はその一例を示す。
図9の(A)において、便宜上、連続した非同期サンプルをxk-1, xk, xk+1, xk+2をa,b,c,dで表す。y(p)は、bとcの間に生成される補間データで、補間係数はpである。
補間データy(p)は、y(p)=y1(p)+y2(p)で近似的に求めることができる。ここで、y1(p)は1次の補間項であり、図9の(B)に示すように、y1(p)=b(1−p)+cPと定義される。y2(p)は、2次の補間項であり、図9の(C)に示すように、y2(p)=0.5((b−a)−(d−c))*z(p)と定義される。ここで、z(p)はz(p)=p(1−p)で、図9の(D)に示すような原点を通る2次関数で、y2(p)は、このz(p)を、y(p)を挟む二組の点、a,bとc,dの傾きを平均したものでスケーリングしたものとなる。
位相比較回路27で実行するボーレート(Baud-rate)方式の位相検出方法としては、非特許文献3に記載されたMueller−Muller方式の位相検出器(Phase Detector)の使用が考えられる。非特許文献1および2は、Mueller−Muller方式の位相検出器を利用したCDR回路を開示している。Mueller−Muller方式の位相検出器については、非特許文献1から3に記載されているので、説明は省略する。
図10は、ユニットパルス(…00100…)を2UI積分した場合の応答例を示す図である。図10において、丸印は、サンプリング間隔Tで非同期に行ったサンプル値であり、三角印は、補間によって生成されたサ補間データ値hiで、補間データの時刻をkT+τと表す。τは、理想的なサンプルタイミングと、現在の非同期サンプルの時間差を表している。図10に示すように、理想的な場合の2UI積分のユニットパルス応答波形は台形であるため、h0=h1となるように補間係数phを定めれば良い。非特許文献3および4に記載されるように、hnはE[xk+n・Ak](E[xk]はxkの期待値)で表すことができる。丸印は非同期サンプリングであるため、時間とともに移動していくが、それに追随してh0=h1となるように補間係数phを制御することで、正しいタイミングτでの判定が可能となる。例えばh0-h1<0であるならば補間係数phが小さすぎて、補間サンプルのサンプルタイミングがτより早くなっていると考えられるため、phを大きくする。h0-h1>0の時は逆である。
図11は、フィルタ28の構成例であり、(A)および(B)は異なる構成例を示す。図11に示したフィルタ28は、一般的なものであり、詳しい説明は省略するが、いずれの場合も、ローパスフィルタの機能を有する。フィルタ28は、デジタルフィルタであり、図11に示したものに制限されず、各種の構成が可能であり、たとえば非特許文献1等に記載されたフィルタを使用することができる。
図12は、第2実施形態のボーレートサンプリングを行うブラインドサンプリング型CDR回路の概略構成を示すブロック図である。
第2実施形態のCDR回路は、位相比較回路27AがMMPD(Mueller−Muller Phase Detector)によって求めた図9で説明したhnを判定等化回路32Aの係数として用いる。そのため、図4の第1実施形態と比べて、位相比較回路27Aおよび2−tap判定等化回路32Aが異なり、さらに3個のフィルタ28A〜28Cが設けられていることが異なり、他は同じである。
判定帰還等化処理は、符号間干渉を打ち消す手法であるため、位相比較回路27AのMMPDで求めたhnを2−tap判定等化回路32Aの係数として用いることができる。図12の第2実施形態は、2−tap判定等化回路32Aのタップ数を2とした場合であり、h1で2UI積分による、1タップ前の残渣を打消し、h2でチャネルの帯域不足などに起因する符号間干渉を取り除く。h1およびh2は、それぞれE[xkAk-1]、E[xkAk-2]などで計算することが可能で、これらの計算はMMPDでの位相検出で必要な計算と同種であるため、ハードウェアを共通化することが可能である。
位相比較回路27Aは、位相差データ(xk-xk-1)Ak-1をフィルタ28Aに出力し、フィルタ28Aは位相差データ(xk-xk-1)Ak-1から位相情報phを生成し、データ補間回路25に出力する。これは、第1実施形態と同じである。位相比較回路27Aは、さらにh2に対応する位相差データxkAk-1をフィルタ28Bに、h1に対応する位相差データxkAk-2をフィルタ28Cに、それぞれ出力する。フィルタ28Bおよび28Cは、フィルタ28Aと同じまたは異なるフィルタ処理を行い、処理結果h1およびh2を2−tap判定等化回路32Aに出力する。2−tap判定等化回路32Aは、h1およびh2に加えて判定結果Akを用いて、上記の等化処理を行う。
図13は、第3実施形態のボーレートサンプリングを行うブラインドサンプリング型CDR回路の概略構成を示すブロック図である。
第3実施形態のCDR回路は、2UI積分回路31の代わりに1UI積分回路41を有し、ADC23の後に1UI遅延する遅延回路(Z-1)43と加算回路42からなる1UI積分回路を設けたことが第1実施形態と異なり、他は同じである。
2UI積分については、図4に示すように、アナログ処理部分の2UI積分回路31で2UI積分を行う方法と、第3実施形態のようにアナログ処理部分では1UI積分のみを行い、デジタル処理部分で2UI積分に拡張する方法が考えられる。アナログ処理部分で積分を行う際、クロックジッタなどの原因により積分時間が変化してしまうと、正しい積分結果が得られないという問題がある。そのため、図4の第1実施形態の2UI積分回路31では、積分パルス幅を長くすることでクロックに対する制約を軽減する。一方、同じ分解能のADCを用いる場合、第3実施形態の方が最終的に得られるデジタル信号xkの分解能は大きくすることができる。逆に、同じ分解能の処理を行うのであれば、第3実施形態のADC23のビット数は、第1実施形態のADC23のビット数より1ビット少なくできる。
以上、実施形態を説明したが、ここに記載したすべての例や条件は、発明および技術に適用する発明の概念の理解を助ける目的で記載されたものである。特に記載された例や条件は発明の範囲を制限することを意図するものではなく、明細書のそのような例の構成は発明の利点および欠点を示すものではない。発明の実施形態を詳細に記載したが、各種の変更、置き換え、変形が発明の精神および範囲を逸脱することなく行えることが理解されるべきである。
21 PLL回路
22 等化(EQ)回路
23 アナログ・デジタル変換回路(ADC)
24 CDR処理回路
25 データ補間回路
26 判定回路
27 位相比較回路
28 フィルタ
31 2UI積分回路
32 判定帰還等化回路(DFE)

Claims (8)

  1. 入力データ信号を、サンプルクロックの2周期に渡って積分し、
    積分した信号を、前記サンプルクロックに応じてデジタル信号に変換し、
    変換した前記デジタル信号を、位相情報に応じて補間して、補間データを生成し、
    前記補間データの前記サンプルクロックに対する位相を比較し、
    前記比較結果をフィルタリング処理して前記位相情報を生成し、
    決定した出力データに応じて前記補間データに対して等化処理を行い、
    前記等化処理結果を2値判定して前記出力データを生成する、ことを特徴とするクロック・データリカバリィ方法。
  2. 入力データ信号を、サンプルクロックの1周期に渡って積分し、
    積分した信号を、前記サンプルクロックに応じてデジタル信号に変換し、
    変換した前記デジタル信号に、1周期前の前記デジタル信号を加算してデジタル信号を生成し、
    前記デジタル積分信号を、位相情報に応じて補間して、補間データを生成し、
    前記補間データの前記サンプルクロックに対する位相を比較し、
    前記比較結果をフィルタリング処理して前記位相情報を生成し、
    決定した出力データに応じて前記補間データに対して等化処理を行い、
    前記等化処理結果を2値判定して前記出力データを生成する、ことを特徴とするクロック・データリカバリィ方法。
  3. 入力データ信号を、サンプルクロックの2周期に渡って積分する積分回路と、
    前記積分回路の出力信号を、前記サンプルクロックに応じてデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換器と、
    前記アナログ・デジタル変換器の出力を、位相情報に応じて補間して補間データを生成するデータ補間回路と、
    前記補間データの前記サンプルクロックに対する位相を比較する位相比較回路と、
    前記位相比較回路の比較結果をフィルタリング処理して前記位相情報を生成するフィルタと、
    決定した出力データに応じて前記補間データに対して等化処理を行う判定帰還等化回路と、
    前記判定帰還等化回路の出力を2値判定して前記出力データを生成する判定回路と、を備えることを特徴とするクロック・データリカバリィ回路。
  4. 入力データ信号を、サンプルクロックの1周期に渡って積分する積分回路と、
    前記積分回路の出力信号を、前記サンプルクロックに応じてデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換器と、
    前記アナログ・デジタル変換器の出力に、1周期前の前記アナログ・デジタル変換器の出力を加算するデジタル積分器と、
    前記デジタル積分器の出力を、位相情報に応じて補間して補間データを生成するデータ補間回路と、
    前記補間データの前記サンプルクロックに対する位相を比較する位相比較回路と、
    前記位相比較回路の比較結果をフィルタリング処理して前記位相情報を生成するフィルタと、
    決定した出力データに応じて前記データ補間回路の出力に対して等化処理を行う判定帰還等化回路と、
    前記判定帰還等化回路の出力を2値判定して前記出力データを生成する判定回路と、を備えることを特徴とするクロック・データリカバリィ回路。
  5. 前記サンプルクロックを発生するクロック発生回路を備え、
    前記サンプルクロックは、前記入力データ信号と非同期であり、かつ前記入力データ信号の1ユニットインターバルに類似の周期を有することを特徴とする請求項3または4記載のクロック・データリカバリィ回路。
  6. 前記位相比較回路は、前記アナログ・デジタル変換器の任意のサンプルタイミング離れた出力値と前記決定した出力データを乗算した値を積算することで、ユニットパルス応答を取得し、前記ユニットパルス応答の形状から位相検出を行う請求項3または4記載のクロック・データリカバリィ回路。
  7. 前記判定帰還等化回路は、2タップ以上の判定帰還を行う請求項6記載のクロック・データリカバリィ回路。
  8. 前記判定帰還等化回路は、前記位相比較回路にて計算された前記ユニットパルス応答を、等化係数として用いる請求項7記載のクロック・データリカバリィ回路。
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