JP5941634B2 - マイクロおよびマクロ対物レンズを含む顕微鏡 - Google Patents
マイクロおよびマクロ対物レンズを含む顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5941634B2 JP5941634B2 JP2011184658A JP2011184658A JP5941634B2 JP 5941634 B2 JP5941634 B2 JP 5941634B2 JP 2011184658 A JP2011184658 A JP 2011184658A JP 2011184658 A JP2011184658 A JP 2011184658A JP 5941634 B2 JP5941634 B2 JP 5941634B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- macro
- objective lens
- objective
- microscope
- illumination
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 117
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 110
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 57
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 33
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 9
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 9
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 9
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 3
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000000799 fluorescence microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/02—Objectives
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/248—Base structure objective (or ocular) turrets
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/28—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
2 瞳調整光学装置
3 光軸
4 入射光タレット
5 マクロ対物レンズ
5a マクロ対物レンズの第1の光学サブシステム
5b マクロ対物レンズの第2の光学サブシステム
6 対象物
7 入射光照明軸
8 光源
9 観察光学装置
10 マクロモジュール
11 反射キューブ
12 ビームスプリッタ
13 入射光タレットの回転軸
14 対物レンズタレット
15 マイクロ対物レンズ
16 デポラライザ
17 顕微鏡ステージ
18 顕微鏡
19 対物レンズタレットの回転軸
20 入射光照明装置
21、22 照明光学装置
23 開口絞り
24 対物レンズの射出瞳
25 標準マイクロ対物レンズ
26 照明瞳
27 後部射出瞳
28 照明ビーム経路
29 結像ビーム経路
30 スプリッタモジュール
31 偏光子
32 検光子
35 前部レンズ
Claims (13)
- 少なくとも1つのマイクロ対物レンズ(15)および/またはマクロ対物レンズ(5)を保持するための対物レンズタレット(14)であって、光軸(3)上の動作位置へと回転可能な対物レンズタレット(14)と、
結像ビーム経路(29)における観察光学装置(9)と、
複数の光学サブシステム(5a、5b)で構成されたマクロ対物レンズ(5)と、
を備えて構成される顕微鏡(18)であって、
第1の光学サブシステム(5a)が、前記対物レンズタレット(14)に取り付け可能であり、第2の光学サブシステム(5b)が、前記第1の光学サブシステムが前記光軸(3)上のその動作位置へと回転された場合に、前記対物レンズタレット(14)と前記観察光学装置(9)との間の結像ビーム経路に挿入可能である、顕微鏡において、
さらに、
照明ビーム経路(28)を生成するための入射照明装置(20)であって、かつ前記照明ビーム経路(28)を前記結像ビーム経路(29)に結合するためのビームスプリッタ(12)を含む入射照明装置(20)と、前記マクロ対物レンズ(5)がその動作位置へ回転された場合に前記照明ビーム経路(28)に挿入可能な、正の屈折力を有する調整光学装置(2)とを備えて構成され、
前記入射照明装置(20)は、動作位置にあるマイクロ対物レンズ(15)および代替として動作位置にある前記マクロ対物レンズ(5)の前記第1の光学サブシステムの両方によって、前記対物レンズ側に照明瞳(26)があるテレセントリック照明ビーム経路(28)を生成できるようになっていて、
前記調整光学装置(2)は、前記照明瞳(26)を前記マクロ対物レンズ(5)の後部射出瞳(27)へシフトさせ、前記射出瞳が、前記第1の光学サブシステム(5a)と前記ビームスプリッタ(12)との間に位置している、
顕微鏡(18)。 - 反射を抑制するために、偏光子(31)が、前記照明ビーム経路(28)に挿入可能であり、検光子(32)が、前記マクロ対物レンズ(5)の前記結像ビーム経路(29)に挿入可能である、請求項1に記載の顕微鏡(18)。
- 前記偏光子(31)、前記検光子(32)および前記ビームスプリッタ(12)が、偏光プリズム(1)として組み合わせて実現される、請求項2に記載の顕微鏡。
- 前記マクロ対物レンズ(5)の前記第1の光学サブシステム(5a)においてか、または前記マクロ対物レンズ(5)の前記第1の光学サブシステム(5a)と前記顕微鏡(18)によって結像される対象物(6)との間にデポラライザ(16)が配置される、請求項2または3に記載の顕微鏡。
- 前記デポラライザ(16)が、λ/4プレートおよび/または水晶板の形態をしている、請求項4に記載の顕微鏡。
- 前記デポラライザ(16)が、それを、前記マクロ対物レンズ(5)の前記対象物側前部レンズに接合することによって、前記マクロ対物レンズ(5)の前記第1の光学サブシステム(5a)に統合される、請求項4または5に記載の顕微鏡。
- 前記デポラライザ(16)が、前記マクロ対物レンズ(5)の前記第1の光学サブシステム(5a)内に配置される、請求項4または5に記載の顕微鏡。
- 前記調整光学装置(2)が、前記照明ビーム経路の前記対物レンズ側における前記照明瞳(26)を、動作位置における前記マクロ対物レンズ(5)の前記後部射出瞳(27)へシフトさせるように、およびこの射出瞳(27)を完全に照明するように構成される、請求項1〜7のいずれか一項に記載の顕微鏡。
- 要素である偏光プリズム(1)、マクロ対物レンズ(5)の第2の光学サブシステム(5b)および瞳調整光学装置(2)を含む群のうち、前記要素(1、5b、2)の少なくとも2つがマクロモジュール(10)に統合される、請求項3に記載の顕微鏡。
- 前記入射照明装置(20)が、前記マクロモジュール(10)を配置した入射光タレット(4)を含む、請求項9に記載の顕微鏡。
- 少なくとも前記マクロ対物レンズ(5)の前記第2の光学サブシステム(5b)および前記瞳調整光学装置(2)が、前記マクロモジュール(10)に統合され、かつ前記マクロモジュール(10)と前記マクロ対物レンズ(5)の前記第1の光学サブシステム(5a)との間の確動結合をもたらす、請求項9または10に記載の顕微鏡。
- 前記マクロ対物レンズ(5)が、2つの光学サブシステム(5a、5b)から構成される、請求項1〜11のいずれか一項に記載の顕微鏡。
- 前記第2の光学システム(5b)が、前記対物レンズタレット(14)と前記顕微鏡(18)の鏡筒との間に配置される、請求項12に記載の顕微鏡。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102010039950.7A DE102010039950B4 (de) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | Mikroskop mit Mikro- und Makro-Objektiven |
DE102010039950.7 | 2010-08-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012048242A JP2012048242A (ja) | 2012-03-08 |
JP5941634B2 true JP5941634B2 (ja) | 2016-06-29 |
Family
ID=45566185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011184658A Active JP5941634B2 (ja) | 2010-08-30 | 2011-08-26 | マイクロおよびマクロ対物レンズを含む顕微鏡 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8964289B2 (ja) |
JP (1) | JP5941634B2 (ja) |
CN (1) | CN102385151B (ja) |
DE (1) | DE102010039950B4 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102809431B (zh) * | 2012-07-18 | 2014-08-20 | 西北工业大学 | 一种小型自动滤光片转轮多波段偏振成像系统 |
JP6014537B2 (ja) * | 2013-04-05 | 2016-10-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光学モジュールおよび観察装置 |
JP6014538B2 (ja) | 2013-04-05 | 2016-10-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光学モジュール、光観察装置、及び光照射装置 |
JP6043228B2 (ja) | 2013-04-05 | 2016-12-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光学モジュールおよび光照射装置 |
DE102014114469A1 (de) * | 2014-10-06 | 2016-04-07 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Mikroskop |
JP2017009905A (ja) * | 2015-06-25 | 2017-01-12 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡用照明装置および顕微鏡 |
JP2017146496A (ja) * | 2016-02-18 | 2017-08-24 | 三菱電機株式会社 | 照明用光源 |
CN105704384B (zh) * | 2016-03-23 | 2019-02-05 | 浙江东方光学眼镜有限公司 | 一种电子放大镜系统 |
DE102016115140B4 (de) | 2016-08-16 | 2022-07-28 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Wechselsystem für ein Mikroskop sowie Mikroskop |
US20220283422A1 (en) * | 2019-08-27 | 2022-09-08 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Device and method for imaging an object |
US11614109B2 (en) | 2020-02-26 | 2023-03-28 | Innovative Door Systems, Inc. | Automatic disengaging linkage system and method |
CN115128788B (zh) * | 2022-05-30 | 2023-11-28 | 中国人民解放军国防科技大学 | 与观测物平行的水平放置显微装置 |
CN115598103B (zh) * | 2022-11-16 | 2023-03-24 | 上海芯像生物科技有限公司 | 光学组件以及荧光显微检测系统 |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2766655A (en) * | 1952-11-03 | 1956-10-16 | Leitz Ernst Gmbh | Phase contrast microscope |
DD159220A1 (de) * | 1981-05-27 | 1983-02-23 | Horst Riesenberg | Uebersichtsobjektiv |
DD237915A1 (de) | 1985-06-03 | 1986-07-30 | Zeiss Jena Veb Carl | Auflichtbeleuchtungseinrichtung vorzugsweise fuer interferenzmikroskope |
DE4231440A1 (de) * | 1992-09-19 | 1994-03-24 | Leica Mikroskopie & Syst | Universal-Klappkondensor für Mikroskope |
DE4231406A1 (de) * | 1992-09-19 | 1994-03-24 | Leica Mikroskopie & Syst | Hellfeld-Durchlicht-Beleuchtungseinrichtung für Mikroskope |
US6366398B1 (en) | 1995-08-17 | 2002-04-02 | Nikon Corporation | Observation apparatus |
JP3039388B2 (ja) * | 1996-03-22 | 2000-05-08 | 株式会社ニコン | 極低倍用第1対物レンズを備えた顕微鏡 |
US6226118B1 (en) * | 1997-06-18 | 2001-05-01 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical microscope |
JPH1130753A (ja) * | 1997-07-10 | 1999-02-02 | Olympus Optical Co Ltd | 光学顕微鏡 |
US6069734A (en) * | 1997-11-19 | 2000-05-30 | Olympus America, Inc. | High resolution macroscope |
JP2001066516A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Nikon Corp | 倒立顕微鏡 |
JP2002040330A (ja) * | 2000-07-25 | 2002-02-06 | Olympus Optical Co Ltd | 光学素子切換え制御装置 |
DE50107742D1 (de) * | 2000-12-11 | 2006-03-02 | Leica Microsystems | Mikroskop |
JP2002269805A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-09-20 | Hitachi Ltd | 光ヘッドおよびそれを用いた光ディスク装置 |
JP4792163B2 (ja) * | 2001-03-21 | 2011-10-12 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置 |
DE10227119A1 (de) * | 2002-06-15 | 2004-01-15 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Optische Anordnung zur Gewinnung von Informationen von einer Probe oder einem Beobachtungsobjekt |
JP2004086148A (ja) * | 2002-07-01 | 2004-03-18 | Fuji Photo Optical Co Ltd | ミロー型顕微干渉計用照明光学系およびこれを備えたミロー型顕微干渉計装置 |
DE102004032556A1 (de) * | 2004-07-06 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Wechseleinrichtung für Mikroskope |
DE102004034957A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung und/oder Detektion und Verwendung |
JP2007310264A (ja) | 2006-05-22 | 2007-11-29 | Nikon Corp | ズーム顕微鏡 |
JP4997834B2 (ja) * | 2006-06-09 | 2012-08-08 | 株式会社ニコン | 顕微鏡 |
JP2009008701A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Nikon Corp | 照明装置及びこの照明装置を備えたズーム顕微鏡 |
DE102007047464B4 (de) * | 2007-09-28 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optische Anordnung zur Photomanipulation |
DE102008032337A1 (de) | 2008-07-09 | 2010-01-14 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Objektiv mit einer kleinen Vergrößerung für Mikroskope |
CN201345033Y (zh) * | 2009-01-21 | 2009-11-11 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 高速多光束并行激光直写装置 |
-
2010
- 2010-08-30 DE DE102010039950.7A patent/DE102010039950B4/de active Active
-
2011
- 2011-08-11 US US13/207,921 patent/US8964289B2/en active Active
- 2011-08-26 JP JP2011184658A patent/JP5941634B2/ja active Active
- 2011-08-29 CN CN201110251739.6A patent/CN102385151B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120050851A1 (en) | 2012-03-01 |
DE102010039950B4 (de) | 2021-07-22 |
US8964289B2 (en) | 2015-02-24 |
CN102385151A (zh) | 2012-03-21 |
CN102385151B (zh) | 2016-05-04 |
DE102010039950A1 (de) | 2012-03-01 |
JP2012048242A (ja) | 2012-03-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5941634B2 (ja) | マイクロおよびマクロ対物レンズを含む顕微鏡 | |
US11067783B2 (en) | Light sheet microscope and method for imaging a sample by light sheet microscopy | |
US7551351B2 (en) | Microscope with evanescent sample illumination | |
JP5371694B2 (ja) | 顕微鏡接続ユニットおよび顕微鏡システム | |
US7405874B2 (en) | Microscope for epi fluorescence and total internal reflection microscopy | |
US7554726B2 (en) | Objective for evanescent illumination and microscope | |
US8018651B2 (en) | Microscope | |
JP2007334319A (ja) | 照明装置 | |
KR20200096238A (ko) | 기능 모듈 및 기능 모듈이 장착된 현미경 | |
JP2011118264A (ja) | 顕微鏡装置 | |
US10146037B2 (en) | Microscope | |
JP5209186B2 (ja) | 顕微鏡用落射照明光学系 | |
US20120140057A1 (en) | Microscope for Measuring Total Reflection Fluorescence | |
JP4370404B2 (ja) | Dlp式エバネッセンス顕微鏡 | |
JP6945557B2 (ja) | 光学走査顕微鏡および検査方法 | |
JP7362904B2 (ja) | 対象物のイメージング装置およびイメージング方法 | |
JP4434612B2 (ja) | 顕微鏡およびズーム対物レンズ | |
JP7086057B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
JP2007219319A (ja) | 位相差顕微鏡 | |
EP3893039B1 (en) | Oblique plane microscope for imaging a sample | |
JP2004361645A (ja) | 実体顕微鏡 | |
JP2022016412A (ja) | サンプルの概観像を生成するための顕微鏡および方法 | |
JP2007256414A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP3584300B2 (ja) | マクロ観察可能な顕微鏡 | |
JP2009216944A (ja) | 顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140804 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150513 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150602 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20150901 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20151001 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20151030 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160517 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160523 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5941634 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |