JP5930740B2 - インクジェット記録装置およびインクジェット記録方法 - Google Patents

Description

本発明は、シリアル型のインクジェット記録装置におけるマルチパス記録方法に関する。特に、カラムごとにデータを間引きながら記録走査を行うカラム間引き記録を併用しながら実行するマルチパス記録に関する。

インクを吐出する記録ヘッドを記録媒体に対して移動する記録走査と、この記録走査とは交差する方向に記録媒体を搬送する搬送動作とを交互に行いながら画像を記録するシリアル型のインクジェット記録装置では、いわゆるマルチパス記録を採用することが多い。マルチパス記録では、記録ヘッドの記録幅よりも短い搬送動作を介在させながら、記録ヘッドの複数回の記録走査によって同一画像領域の画像を完成させるので、記録素子夫々のばらつきや搬送動作のばらつきを一箇所に集中させることがない。よって、マルチパス記録を行えば、一様で高品位な画像を出力することが期待できる。しかしその一方で、このマルチパス記録を行うと、通常よりも多くの記録走査が必要となるので、記録時間が大幅に増えるという難点も有している。

これに対し、例えば特許文献１あるいは特許文献２には、カラム間引きという記録方法が開示されている。カラム間引きとは、記録ヘッドの主走査方向に配列する画素列（カラム）に対し、周期的に間引いた画素列（カラム）だけ吐出動作を行いながら記録ヘッドを移動させる記録方法である。よって、カラム間引きを行った場合、各記録走査では、実際に配列する画素密度よりも低い画素密度で吐出動作を行うことになる。

このようなカラム間引きを行うと、個々の記録走査で記録可能な解像度よりも高い解像度の画像を記録することが出来る。また、記録ヘッドの移動速度が記録素子の吐出周波数の上限で決まっている場合には、記録ヘッドの吐出周波数を上限値に設定した状態で、主走査方向への移動速度を高めることが出来る。すなわち、カラム間引きを併用したマルチパス記録は、カラム間引きを併用しないマルチパス記録よりも短時間に画像を出力することが可能となる。

図１７（ａ）および（ｂ）は、２カラム間引きを併用した４パスのマルチパス記録の記録状態を説明する図である。ここでは説明を簡単にするため、記録ヘッドが１６個の記録素子を備えている場合について説明する。図１７（ａ）を参照するに、用意されるマスクパターン１０は、縦方向に記録ヘッドの記録素子数と等しい１６画素、横方向に８画素を有している。ここで、黒で示した画素がドットの記録を許容する記録許容画素、白で示した画素がドットの記録を許容しない非記録許容画素である。４パスのマルチパス記録の場合、マスクパターン１０は、４つずつの記録素子に対応する４つのブロック１〜４に分割され、記録許容画素と非記録許容画素の配置において、これらは互いに補完関係を有している。各ブロックの記録許容率はそれぞれ５０％となっている。

２カラム間引きを行う場合、奇数カラム１１ａを記録する走査と、偶数カラム１１ｂを記録する走査とが交互に繰り返される。よって、実際には、マスクパターン１０によって記録が許容された画素のうち、奇数カラム１１ａに該当する画素パターン１２ａが奇数走査で記録され、偶数カラム１１ｂに該当する画素パターン１２ｂが偶数走査で記録される。

図１７（ｂ）は、上記４パスのマルチパス記録によって、記録媒体に画像が記録される様子を示した図である。記録走査は、画素パターン１１ａおよび１１ｂに従った記録が交互に行われ、各記録走査の間には、４（＝１６画素／４パス）画素分の搬送動作が行われる。ここで記録媒体の領域Ａに着目すると、当該領域は、画素パターン１１ａによる奇数カラム走査→画素パターン１１ｂによる偶数カラム走査→画素パターン１１ａによる奇数カラム走査→画素パターン１１ｂによる偶数カラム走査の順に、記録が行われる。また、領域Ａに隣接する領域Ｂでは、画素パターン１１ｂによる偶数カラム走査→画素パターン１１ａによる奇数カラム走査→画素パターン１１ｂによる偶数カラム走査→画素パターン１１ａによる奇数カラム走査の順に、記録が行われる。これら領域ＡとＢは、奇数走査と偶数走査の順番は異なるが、画素パターン１１ａによる２回の奇数カラム走査と画素パターン１１ｂによる２回の偶数カラム走査によって画像が記録されることについては共通している。そして、記録媒体のいずれの領域も、領域Ａあるいは領域Ｂのどちらかと同じ順番で画像が記録される。

このように、２カラム間引きを併用した４パスのマルチパス記録においては、奇数カラムと偶数カラムのそれぞれについて、２パス記録を行うことが出来るような、記録許容率が５０（＝１００／２）％のマスクパターンが用意される。そして、このようなマスクパターンを用意すれば、奇数カラムと偶数カラムのそれぞれについて２パスのマルチパス記録を行うことにより、全ての領域において４パスのマルチパス記録を行うことが出来る。

より一般的に説明すると、従来のＭカラム間引きを併用したマルチパス記録においては、夫々のカラムでＮパス記録を行うことが出来るような、記録許容率が（１００／Ｎ）％のマスクパターンが用意された。そして、ＭカラムそれぞれについてＮパスのマルチパス記録を行うことにより、全ての画像領域に対し、Ｍ×Ｎパスのマルチパス記録を行うことが出来た。

特開２００２−２９０９７号公報 特開２００４−１５６０号公報 特開平６−１３５００８号公報 特許第４５０２３６２号公報

しかしながら、上述したような従来の方法では、同一画像領域に対するマルチパス数はカラム間引き数Ｍの倍数でなくてはならず、その値が制限されてしまう。例えば、カラム間引き数Ｍが図１７のようにＭ＝２の場合、同一画像領域に対するマルチパス数は偶数（２×Ｎ）でなくてはならず、奇数パスのマルチパス記録を実現することは出来ない。また、カラム間引き数がＭ＝４の場合、同一画像領域に対するマルチパス数は４の倍数でなくてはならず、その他のマルチパス数で記録することは出来ない。

インクジェット記録装置においてマルチパス数を適切な値に設定することは、画像品位と記録速度のバランスを保つ上で重要であり、上述のようにマルチパス数に制限が存在することは、好ましくない。

本発明は上記問題点を解決するためになされたものである。よってその目的とするところは、カラム間引きを併用したマルチパス記録であっても、マルチパス数がカラム間引き数の倍数に限定されない記録方法を提供することである。

そのために本発明は、複数の記録素子が副走査方向に配列して成る記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら前記記録素子列によって記録媒体へインクを吐出する記録走査を複数回行って画像の記録を行い、それぞれが前記副走査方向に並ぶ複数の画素で構成された前記主走査方向に並ぶ複数のカラムを、前記記録走査によって順番に記録するインクジェット記録装置であって、前記記録素子列を前記副走査方向にＰ（Ｐは３以上の整数）分割して得られる１〜Ｐブロックに対し、ドットの記録を許容する記録許容画素とドットの記録を許容しない非記録許容画素とを定めているマスクパターンを格納する格納手段と、前記記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら、前記格納手段に格納された前記マスクパターンに従って、連続するＭ（Ｍは２ ≦ Ｍ ＜Ｐを満たすＰの約数ではない整数）カラムのうちの１つのカラムを記録する前記記録走査をＭカラムのそれぞれについて順番に行う記録走査手段と、前記記録走査の間に前記ブロックの１つに相当する距離だけ記録媒体を前記副走査方向に搬送する搬送手段とを備え、１≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記１〜Ｐのブロックに対応するマスクパターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックのマスクパターンの組み合わせは、前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とする。

また、複数の記録素子が副走査方向に配列して成る記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら前記記録素子列によって記録媒体へインクを吐出する記録走査を複数回行って画像の記録を行い、それぞれが前記副走査方向に並ぶ複数の画素で構成された前記主走査方向に並ぶ複数のカラムを、前記記録走査によって順番に記録するインクジェット記録方法であって、前記副走査方向にＰ（Ｐは３以上の整数）分割して得られる１〜Ｐブロックに対し、ドットの記録を許容する記録許容画素とドットの記録を許容しない非記録許容画素とを定めているマスクパターンを格納する格納工程と、前記記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら、前記格納工程で格納された前記マスクパターンに従って、連続するＭ（Ｍは２ ≦ Ｍ ＜Ｐを満たすＰの約数ではない整数）カラムのうちの１つのカラムを記録する前記記録走査をＭカラムのそれぞれについて順番に行う記録走査工程と、前記記録走査の間に前記ブロックの１つに相当する距離だけ記録媒体を前記副走査方向に搬送する搬送工程とを有し、１≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記１〜Ｐのブロックに対応するマスクパターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックのマスクパターンの組み合わせは、前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とする。
さらに、複数の記録素子が副走査方向に配列して成る記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら前記記録素子列によって記録媒体へインクを吐出する記録走査を複数回行って画像の記録を行い、それぞれが前記副走査方向に並ぶ複数の画素で構成された前記主走査方向に並ぶ複数のカラムを、前記記録走査によって順番に記録するインクジェット記録装置であって、前記記録素子列を前記副走査方向に等分にＰ（Ｐは３以上の整数）分割して得られる１〜Ｐブロックに対し、ドットの記録を許容する記録許容画素とドットの記録を許容しない非記録許容画素とを定めている第１〜第Ｍ（Ｍは２≦Ｍ＜Ｐを満たすＰの約数ではない整数）の記録画素パターンを取得する取得手段と、前記記録走査を、前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づいて順番に行う記録手段と、前記記録走査の間に前記等分にＰ分割して得られる前記１〜Ｐブロックの１つに相当する距離だけ記録媒体を前記副走査方向に搬送する搬送手段とを備え、前記記録画素パターンに基づく前記記録走査のそれぞれでは、連続するＭカラムのうちの１つのカラムが記録が許容される記録許容カラムとなり、前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づくＭ回の前記記録走査によって、連続するＭカラムのそれぞれが順番に前記記録許容カラムとなり、１≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記１〜Ｐのブロックに対応する前記記録画素パターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックの記録画素パターンの組み合わせは、それぞれの記録許容カラムについて前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とする。
さらにまた、複数の記録素子が副走査方向に配列して成る記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら前記記録素子列によって記録媒体へインクを吐出する記録走査を複数回行って画像の記録を行い、それぞれが前記副走査方向に並ぶ複数の画素で構成された前記主走査方向に並ぶ複数のカラムを、前記記録走査によって順番に記録するインクジェット記録方法であって、前記記録素子列を前記副走査方向に等分にＰ（Ｐは３以上の整数）分割して得られる１〜Ｐブロックに対し、ドットの記録を許容する記録許容画素とドットの記録を許容しない非記録許容画素とを定めている第１〜第Ｍの記録画素パターンを取得する取得工程と、前記記録走査を、前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づいて順番に行う記録工程と、前記記録走査の間に前記等分にＰ分割して得られる前記１〜Ｐブロックの１つに相当する距離だけ記録媒体を前記副走査方向に搬送する搬送工程とを有し、前記記録画素パターンに基づく前記記録走査のそれぞれでは、連続するＭカラムのうちの１つのカラムが記録が許容される記録許容カラムとなり、前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づくＭ回の前記記録走査によって、連続するＭカラムのそれぞれが順番に前記記録許容カラムとなり、１≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記１〜Ｐのブロックに対応する前記記録画素パターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックの記録画素パターンの組み合わせは、それぞれの記録許容カラムについて前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とする。

本発明によれば、同じカラムを記録するブロックマスクパターン同士は互いに補完の関係を有するので、いずれのカラムについても１００％の記録を行うことができ、マルチパス数がカラム間引き数の倍数に限定されないマルチパス記録を行うことが出来る。

シリアル型のインクジェット記録装置記録部の構成を示す概要斜視図である。 インクジェット記録装置における制御の構成を説明するブロック図である。 画像処理システムの機能ブロック図である。 （ａ）および（ｂ）は、実施例１におけるマルチパス記録状態を示す図である。 （ａ）〜（ｃ）は、マスクパターンの記録許容率の分布例を示した図である。 つなぎスジの発生状態を説明するための模式図である。 （ａ）および（ｂ）は、実施例２におけるマルチパス記録状態を示す図である。 （ａ）〜（ｃ）は、マスクパターンの記録許容率の分布例を示した図である。 （ａ）および（ｂ）は、実施例３におけるマルチパス記録状態を示す図である。 （ａ）および（ｂ）は、マスクパターンの記録許容率の分布例を示した図である。 （ａ）および（ｂ）は、マスクパターンと記録許容率分布の別例を示す図である。 Ｙずれ補正方法を説明するための模式図である。 記録制御部がＹすれ補正を実行する際のフローチャートである。 （ａ）および（ｂ）は、実施例４におけるマルチパス記録状態を示す図である。 （ａ）〜（ｃ）は、Ｙずれ補正のために生成したマスクパターンを示す図である。 （ａ）および（ｂ）は、実施例４の別例を示す図である。 （ａ）および（ｂ）は、２カラム間引きのマルチパス記録状態を示す図である。

図１は、本発明で使用可能なシリアル型のインクジェット記録装置６００の記録部の構成を示す概要斜視図である。キャリッジ１０６に取り付けられている記録ヘッド１００には、異なる種類のインクに対応した複数の記録素子列がＸ方向（主走査方向）に並列配置されている。個々の記録素子列には、インクを吐出するための記録素子がＹ方向に複数配列されている。それぞれの記録素子列にインクを供給するためのインクタンク２０５〜２０８はキャリッジ１０６に搭載され、この状態でキャリッジ１０６はＸ方向に移動可能になっている。キャリッジ１０６が所定の速度で移動する最中、記録ヘッド１００がインクを記録媒体１０７に向けて所定の周波数で吐出することにより、１回分の記録走査が行われる。

搬送ローラ１０４および補助ローラ１０３で構成されるローラ対と、搬送ローラ１０５および補助ローラ１０８で構成されるローラ対は、Ｙ方向（副走査方向）においてキャリッジ１０６の上流側および下流側にて、記録媒体１０７を挟持している。これら２組のローラ対に支持されることにより、記録媒体１０７の記録ヘッド１００に対向する面は平滑に保たれる。

記録ヘッド１００による１回分の記録走査が完了すると、搬送ローラ１０４および１０５は回転し、記録媒体１０７は主走査方向とは交差する副走査方向（Ｙ方向）に所定の距離だけ搬送される。更に、この搬送動作が終了すると、キャリッジ１０６は再びＸ方向に移動し、記録ヘッド１００による次の記録走査が行われる。以上のような記録走査と搬送動作とを交互に繰り返すことにより、記録媒体１０７に徐々に画像が記録されていく。

記録媒体に対する記録動作を行っていないとき、キャリッジ１０６は記録領域外のホームポジションｈにて待機する。

図２は、本実施形態のインクジェット記録装置６００における制御の構成を説明するブロック図である。記録制御部５００は、モータドライバ４０３を制御することにより、搬送ローラ１０４および１０５を回転するための搬送モータ４０１を駆動する。また、モータドライバ４０４を制御することにより、キャリッジ１０６をＸ方向に移動させるためのキャリッジモータ４０２を駆動する。更に、ヘッドドライバ４０５を制御することにより、記録ヘッド１００からインクを吐出して記録媒体にドットを形成する。インクを吐出するために必要な画像データは、外部に接続されたホストＰＣ１２００からインターフェイス４００を介して記録制御部５００に入力される。記録制御部５００は、ＣＰＵやメモリなどを備え、受信した画像データに所定の画像処理を施し、記録ヘッド１００が各記録走査で吐出するための吐出データを生成する。

ヘッド種別信号発生回路４０６は、記録ヘッド１００に関わる種類や数などの情報を取得し、これを記録制御部５００に供給する。

図３は、ホストＰＣ１２００にインストールされたプリンタドライバとインクジェット記録装置６００の記録制御部５００とで構成される画像処理システムの機能ブロック図である。

ホストＰＣ１２００では、アプリケーションが生成した画像データに対し、レンダリング処理１００１を実行し、１２００ｄｐｉのＲＧＢ多値データを生成する。その後、このＲＧＢデータは、インターフェイス４００を介して記録制御部５００に転送される。

記録制御部５００では、入力されたＲＧＢデータに対し色変換処理１００７を施し、多値ＲＧＢデータを、記録装置が用いるインク色に対応した多値ＣＭＹＫデータに変換する。その後、量子化処理１００９によって、１２００ｄｐｉの多値ＣＭＹＫデータを１２００ｄｐｉの２値ＣＭＹＫデータに変換する。このときの量子化の手法としては、周知の誤差拡散法やディザ法などを用いることが出来る。

ＣＭＹＫの２値データは、その後マスク処理１０２０が施され、予めメモリに記録されているマスクパターンとの間で論理積が取られ、次の記録走査における記録許容画素が決定される。その後、更にカラム間引き処理１０３０が施されて所定のカラムデータに間引かれた後、次の記録走査での記録データとしてヘッドドライバ４０５に転送される。

記録ヘッド１００は、このような記録データに従って１回分の記録走査を実行する。カラム間引き処理１０３０は、記録走査のたびに異なるカラムデータが順番に抽出されるように、記録データの生成を行う。

以上説明したような、インクジェット記録装置を用い、本発明ではＭカラムの周期でドットを記録するＭカラム間引きを行いながら、マスクパターンに従ってＰパスのマルチパス記録を行う。この際、Ｍは２以上の整数であり、ＰはＭより大きくＭの倍数ではない整数である。以下、マスク処理１０２０やカラム間引き処理１０３０で実行する本発明の特徴な画像処理、および記録方法について説明する。

本実施例では、カラム間引き数Ｍ＝２、マルチパス数Ｐ＝５、のマルチパス記録について説明する。

図４（ａ）および（ｂ）は、本実施例におけるマルチパス記録の記録状態を図１７（ａ）および（ｂ）と比較しながら説明する図である。ここでは、記録ヘッドが２０個の記録素子を備えている場合を示し、マスクパターン２０は縦方向に２０画素、横方向に８画素の領域を有している。マスクパターン２０において、黒で示した画素がドットの記録を許容する記録許容画素、白で示した画素がドットの記録を許容しない非記録許容画素である。５パスのマルチパス記録の場合、マスクパターン２０は、４つずつの記録素子に対応する５つのブロックに分割される。ここで夫々のブロックにおける記録許容率は、第１ブロックが２５％、第２ブロック〜第４ブロックが５０％、第５ブロックが２５％となっている。

２カラム間引きを行う場合、図１７（ａ）および（ｂ）で述べたように、記録すべき画素列は、奇数画素列（奇数カラム）２１ａと偶数画素列（偶数カラム）２１ｂに分けて記録される。このため、記録走査は、奇数カラム２１ａを記録する走査と、偶数カラム２１ｂを記録する走査とが交互に繰り返される。よって、実際には、マスクパターン２０によって記録が許容された画素のうち、奇数カラム２１ａに該当する画素パターン２２ａが奇数走査で記録され、偶数カラム２１ｂに該当する画素パターン２２ｂが偶数走査で記録される。

図４（ｂ）は、５パスのマルチパス記録によって、記録媒体に画像が記録される様子を示した図である。記録走査は、画素パターン２２ａあるいは２２ｂに従って、交互に行われ、ここの記録走査の間には、４（＝２０画素／５パス）画素分の搬送動作が行われる。

ここで、記録媒体の領域Ａに着目すると、当該領域は、画素パターン２２ａのブロック５→画素パターン２２ｂのブロック４→画素パターン２２ａのブロック３→画素パターン２２ｂのブロック２→画素パターン２２ａのブロック１の順に、記録が行われる。すなわち、領域Ａはブロック１、３、５による３回の奇数カラム走査と、ブロック２、４による２回の偶数カラム走査によって画像が記録される。これに対し、領域Ａに隣接する領域Ｂでは、画素パターン２２ｂのブロック５→画素パターン２２ａのブロック４→画素パターン２２ｂのブロック３→画素パターン２２ａのブロック２→画素パターン２２ｂのブロック１の順に、記録が行われる。すなわち、領域Ｂはブロック２、４による２回の奇数カラム走査と、ブロック１、３、５による３回の偶数カラム走査によって画像が記録される。このように、領域ＡとＢでは、奇数カラムのデータが記録される走査数と偶数カラムのデータが記録される走査数が異なっているが、どちらも、１００％の奇数カラムデータと１００％の偶数カラムデータを記録することが出来ている。このように、本実施例によれば、マルチパス数（Ｐ＝５）がカラム間引き数（Ｍ＝２）の倍数でないような場合でも、正常なマルチパス記録を実現することが出来る。

なお、図４（ａ）および（ｂ）の例では、ブロック１〜ブロック５の記録許容率を２５％、５０％、５０％、５０％、２５％としたが、マスクパターンにおける記録許容率の分布はこのような値に限定されるものではない。３つのブロック１、３、５によって補完関係（記録許容率１００％）が得られ、且つ２つのブロック２、４によって補完関係（記録許容率１００％）が得られれば、記録許容画素の分布がどのようなマスクパターンであっても構わない。

図５（ａ）〜（ｃ）は、本実施例で使用可能なマスクパターンの記録許容率の分布例を示した図である。図５（ａ）は、図４（ａ）で説明したマスクパターン２０の記録許容率の分布を示し、ブロック１〜ブロック５の記録許容率が２５％、５０％、５０％、５０％、２５％となっている。これに対し、図５（ｂ）や（ｃ）では、ブロック１やブロック５のような端部ブロックにおいて、両端部近傍の記録許容率が最も低く中央部に進むにつれて徐々に高くなる例が示されている。このように記録許容率を設定することは、シリアル型の記録装置において、特につなぎスジという画像弊害を緩和することに効果がある。

図６はつなぎスジの発生状態を説明するための模式図である。ここでは、本実施例のように５パスのマルチパス記録を双方向で行う例が示されている。このような５パスのマルチパス記録を行う場合、画像領域９００〜９０３はそれぞれ５回ずつの記録走査によって画像が完成される。具体的には、例えば画像領域９００は記録走査９０４〜９０８によって画像が記録され、画像領域９０１は記録走査９０５〜９０９によって画像が記録される。各記録走査９０４〜９１１の間には、画像領域の幅に相当する量の搬送動作が行われるが、この搬送動作に誤差が生じた場合、各画像領域のつなぎ部には白スジあるいは黒スジが現れ、これが画像弊害となりかねない。よって、従来のマルチパス記録では、このようなつなぎスジを目立たせないようにするために、つなぎ部に相当する領域の記録許容率を低く保つマスクパターンが提案されている。

図５（ｂ）は、図５（ａ）よりもつなぎスジを改善するために作成されたマスクパターンの記録許容率の分布を示した図である。図５（ｂ）のような記録許容率の分布であっても、３つのブロック１、３、５によって補完関係（記録許容率１００％）が得られ、且つ２つのブロック２、４によって補完関係（記録許容率１００％）が得られる。つまり、２カラム間引きにおいて、５パスのマルチパス記録を実現することが出来る。

但し、図５（ｂ）のように、記録許容率が１つのブロックの中で急激に変化すると、特に顔料インクを使用する場合には、画像上に光沢むらが確認されることがある。これを回避するためには、端部ブロックの記録許容率の変化をやや緩やかにする必要がある。

図５（ｃ）は、図５（ａ）よりもつなぎスジを改善しながら、図５（ｂ）よりも光沢むらを改善するために作成されたマスクパターンの記録許容率の分布を示した図である。図５（ｃ）のような記録許容率の分布であっても、３つのブロック１、３、５によって補完関係（記録許容率１００％）が得られ、且つ２つのブロック２、４によって補完関係（記録許容率１００％）が得られる。つまり、２カラム間引きにおいて、５パスのマルチパス記録を実現することが出来る。

表１は、図５（ａ）〜（ｃ）に記録許容率を示したマスクパターンをそれぞれ使用しながら、２カラム間引きの５パス記録を行った場合の、つなぎスジと光沢むらの程度を評価した結果を示す。なお当該評価は、ブラックの顔料インクを用い、フォト光沢紙に１００％画像を記録して行ったものである。
表１
（ａ） （ｂ） （ｃ）
つなぎスジ ○ ◎ ◎
光沢むら ◎ ○ ◎

これによると、図５（ｃ）の記録許容率を有するマスクパターンを用いれば、２カラム間引きを併用した５パスのマルチパス記録を行うことにより、つなぎスジも光沢むらも改善された高品位な画像を出力することが可能となる。

以上説明したように、本実施例によれば、ブロック１、３、５によって補完関係が得られ、且つブロック２、４によって補完関係が得られるマスクパターンを使用することにより、２カラム間引きを行いながら５パスのマルチパス記録を実現することが可能となった。

本実施例では、カラム間引き数Ｍ＝２、マルチパス数Ｐ＝７、のマルチパス記録について説明する。

図７（ａ）および（ｂ）は、本実施例におけるマルチパス記録の記録状態を図４（ａ）および（ｂ）と同様に説明する図である。ここでは、記録ヘッドが２８個の記録素子を備えている場合を示し、マスクパターン３０は縦方向に２８画素、横方向に８画素の領域を有している。７パスのマルチパス記録の場合、マスクパターン３０は、４つずつの記録素子に対応する７つのブロックに分割され、これらは互いに補完関係を有している。ここで夫々のブロックにおける記録許容率は、第１、３、５、７ブロックが２５％、第２、４、６ブロックが３３．３％となっている。

２カラム間引きを行う場合、マスクパターン３０によって記録が許容された画素のうち、奇数カラム３１ａに該当する画素パターン３２ａが奇数走査で記録され、偶数カラム３１ｂに該当する画素パターン３２ｂが偶数走査で記録される。

図７（ｂ）は、上記マスクパターン３０を用い７パスのマルチパス記録によって、記録媒体に画像が記録される様子を示した図である。記録走査は、画素パターン３２ａあるいは３２ｂに従って交互に行われ、個々の記録走査の間には、４（＝２８画素／７パス）画素分の搬送動作が行われる。

ここで、領域Ａはブロック１、３、５、７による４回の奇数カラム走査と、ブロック２、４、６による３回の偶数カラム走査によって画像が記録される。これに対し、領域Ａに隣接する領域Ｂは、ブロック２、４、６による３回の奇数カラム走査と、ブロック１、３、５、７による４回の偶数カラム走査によって画像が記録される。このように、領域ＡとＢでは、奇数カラムのデータが記録される走査数と偶数カラムのデータが記録される走査数が異なっているが、どちらも、１００％の奇数カラムデータと１００％の偶数カラムデータを記録することが出来ている。すなわち、本実施例によれば、マルチパス数（Ｐ＝７）がカラム間引き数（Ｍ＝２）の倍数でないようなマルチパス記録を実現することが出来る。

なお、本実施例においても、実施例１と同様、マスクパターンにおける記録許容率の分布は様々に変化させることが出来る。

図８（ａ）〜（ｃ）は、本実施例で使用可能なマスクパターンの記録許容率の分布例を示した図である。図８（ａ）は、図７（ａ）で説明したマスクパターン３０を示している。これに対し、図８（ｂ）や（ｃ）では、実施例１と同様に、特につなぎスジという画像弊害を緩和するために、最端部近傍の記録許容率が低く抑えられた例を示している。

実施例１と同様、図８（ｂ）は、図８（ａ）よりもつなぎスジを改善するために作成されたマスクパターンの記録許容率の分布を示した図である。また、図８（ｃ）は、図８（ａ）よりもつなぎスジを改善しながら、図８（ｂ）よりも光沢むらを改善するために作成されたマスクパターンの記録許容率の分布を示した図である。そして、図８（ａ）〜（ｃ）に示したマスクパターンをそれぞれ使用しながら、２カラム間引きの７パス記録を行った場合、つなぎスジと光沢むらの程度の評価結果は、実施例１の表１と同様になる。

以上説明したように本実施例によれば、ブロック１、３、５、７によって補完関係が得られ、且つブロック２、４、６によって補完関係が得られるマスクパターン３０を用意することにより、２カラム間引きを行いながら７パスのマルチパス記録を行うことが出来た。

本実施例では、カラム間引き数Ｍ＝４、マルチパス数Ｐ＝１０、のマルチパス記録について説明する。

図９（ａ）および（ｂ）は、本実施例におけるマルチパス記録の記録状態を図４（ａ）および（ｂ）と同様に説明する図である。ここでは、記録ヘッドが２０個の記録素子を備えている場合を示し、マスクパターン４０は縦方向に２０画素、横方向に８画素の領域を有している。１０パスのマルチパス記録の場合、マスクパターン４０は、２つずつの記録素子に対応する１０個のブロックに分割される。ここで夫々のブロックにおける記録許容率は、第１、２、５、６、９、１０ブロックが３３％、第３、４、７、８ブロックが５０％となっている。

４カラム間引きを行う場合、マスクパターン４０によって記録が許容された画素のうち、第１カラム４１ａに該当する画素パターン４２ａが第１カラム走査で記録され、第２カラム４１ｂに該当する画素パターン４２ｂが第２カラム走査で記録される。また、第３カラム４１ｃに該当する画素パターン４２ｃが第３カラム走査で記録され、第４カラム４１ｄに該当する画素パターン４２ｄが第４カラム走査で記録される。

図９（ｂ）は、上記マスクパターン４０を用い、１０パスのマルチパス記録によって記録媒体に画像が記録される様子を示した図である。記録走査は、画素パターン４２ａ、４２ｂ、４２ｃ、４２ｄに従って順番に行われ、個々の記録走査の間には、２（＝２０画素／１０パス）画素分の搬送動作が行われる。

ここで、領域Ａはブロック１、５、９による３回の第１カラム走査、ブロック２、６、１０による３回の第２カラム走査、ブロック３、７による２回の第３カラム走査、ブロック４、８による２回の第４カラム走査によって画像が記録される。これに対し、領域Ａに隣接する領域Ｂは、ブロック１、５、９による３回の第２カラム走査、ブロック２、６、１０による３回の第３カラム走査、ブロック３、７による２回の第４カラム走査、ブロック４、８による２回の第１カラム走査によって画像が記録される。また、領域Ｂに隣接する領域Ｃは、ブロック１、５、９による３回の第３カラム走査、ブロック２、６、１０による３回の第４カラム走査、ブロック３、７による２回の第１カラム走査、ブロック４、８による２回の第２カラム走査によって画像が記録される。更に、領域Ｃに隣接する領域Ｄは、ブロック１、５、９による３回の第４カラム走査、ブロック２、６、１０による３回の第１カラム走査、ブロック３、７による２回の第２カラム走査、ブロック４、８による２回の第３カラム走査によって画像が記録される。

このように、領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄでは、第１カラム〜第４カラム夫々のデータが記録される走査数が互いに異なっている。しかし、いずれも、１００％の第１カラムデータ、１００％の第２カラムデータ、１００％の第３カラムデータ、１００％の第４カラムデータを記録することが出来ている。すなわち、本実施例によれば、マルチパス数（Ｐ＝１０）がカラム間引き数（Ｍ＝４）の倍数でないようなマルチパス記録を実現することが出来る。

なお、本実施例においても、上記実施例と同様、マスクパターンにおける記録許容率の分布は様々に変化させることが出来る。

図１０（ａ）および（ｂ）は、本実施例で使用可能なマスクパターンの記録許容率の分布例を示した図である。図１０（ａ）は、図９（ａ）で説明したマスクパターン４０を示している。これに対し、図１０（ｂ）は、上記実施例と同様、最端部近傍の記録許容率を低く抑えながら、その変化率をなるべく緩やかに抑えた例を示している。

以上説明したように本実施例によれば、それぞれブロック１、５、９と、ブロック２、６、１０と、ブロック３、７と、ブロック４、８とによって補完関係が得られるマスクパターン４０を用意した。そして、これらを使用することにより、４カラム間引きを行いながら１０パスのマルチパス記録を実現することが可能となった。

（その他の展開例）
以上説明した実施例１〜３は、マルチパス数Ｐがカラム間引き数Ｍの倍数に限定されない記録方法の一例である。以下、これら実施例に共通する特徴をより一般的に説明する。Ｍカラム間引きを併用したＰパスのマルチパス記録においては、使用する記録素子数に相当する大きさをＹ方向に有するマスクパターンを用意し、これをブロック１〜ブロックＰにＰ分割する。そして、ブロックｘ（ｘ＝１〜Ｐ）に該当する領域のマスクパターンをＲ（ｘ）とすると、これらＰ個のブロックマスクパターンは以下の条件を満たしていることが条件となる。すなわち、１〜Ｍの値をとり得る整数ｓのいずれについても、マスクパターンＲ（ｓ）、Ｒ（ｓ＋Ｍ）、Ｒ（ｓ＋２Ｍ）・・・Ｒ（ｓ＋Ｎ×Ｍ）の組み合わせは、記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることである。但し、いずれのｓについても、Ｎは、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす最大の整数とする。

以上の条件を満たす例を、更にいくつか例示する。

例えばカラム間引き数Ｍ＝２、マルチパス数Ｐ＝３とするとき、使用記録素子列は第１〜第３ブロックに３分割され、ブロックマスクパターンＲ（１）、Ｒ（２）、Ｒ（３）が得られる。本例を上記条件に当てはめた場合、ｓは１、２の値をとりうるので、ｓ＝１のときの、マスクパターンＲ（１）、Ｒ（３）が補完の関係にあり、マスクパターンＲ（２）が単独で１００％の記録許容率になっていればよい。このようなマスクパターン５０およびその記録許容率の分布を、図１１（ａ）に示す。

また、カラム間引き数Ｍ＝８、マルチパス数Ｐ＝１４とするとき、使用記録素子列は第１〜第１４ブロックに１４分割され、ブロックマスクパターンＲ（１）〜Ｒ（１４）が得られる。本例を上記条件に当てはめた場合、ｓは１〜８の値をとりうる。よって、Ｓ＝１の場合のＲ（１）とＲ（９）、ｓ＝２の場合のＲ（２）とＲ（１０）、ｓ＝３の場合のＲ（３）とＲ（１１）、ｓ＝４の場合のＲ（４）とＲ（１２）、ｓ＝５の場合のＲ（５）とＲ（１３）、ｓ＝６の場合のＲ（６）とＲ（１４）、ｓ＝７の場合のＲ（７）とＲ（１４）、がそれぞれ互いに補間の関係にあり、Ｒ（８）が単独で１００％の記録許容率になっていればよい。このようなマスクパターン６０およびその記録許容率の分布を、図１１（ｂ）に示す。

以下、上述した特徴を有するマスクパターンを用いながら、記録素子列のＹ方向のずれに対する補正（Ｙずれ補正）を行う方法について説明する。

図１のように記録ヘッド１００の４色分の記録素子列が配列している場合や、キャリッジ１０６に複数の記録ヘッドを搭載する場合、製造上の誤差やキャリッジへの取り付け時の誤差によって、各記録素子列のＹ方向の位置にずれが生じることがある。この際、各色の記録素子列を用い、データ上で等しい位置にドットを記録しても、これらドットはＹ方向にずれてしまい、所望の画像が得られなくない。

このような課題に対し例えば特許文献３には、記録素子列の個々の記録素子に記録させるべきデータを、記録素子列のずれ量に応じてシフトさせる方法が開示されている。

図１２は、上記方法を簡単に説明するための模式図である。記録素子列１と記録素子列２が記録ヘッド上に並列しており、これらが図のようにＹ方向に１画素分（１記録素子分）ずれている場合を示している。このままの状態で記録を行うと、記録素子列１と記録素子列２夫々の先頭の記録素子が記録するドットは、Ｙ方向に１画素分ずれて記録され、所望の色相が得られない。

このような記録状態を回避するため、特許文献３では、記録素子列１の記録素子列の夫々の記録素子に対応させるデータを−Ｙ方向に１画素分ずらす。これにより、先頭の記録素子が記録すべきデータは２番目の記録素子によって記録され、記録素子列１と記録素子列２とのＹ方向における記録位置を一致させることができる。

しかしながら、例えば特許文献４の様に、使用するマスクパターンが２値の画像データの記録位置に対応づけられている場合、特許文献３のようなＹずれ補正を行うと、画像データとマスクパターンの位置関係が崩れ、所望の画像が得られなくなってしまう。よって、特許文献４のような画像処理を行いながら特許文献３のＹずれ補正を行う場合には、マスクパターンも画像データと共に記録素子に対してシフトする必要が生じる。この場合、マスクパターンの補完関係を保ちながら、マスクパターンと画像データの位置関係を保つことが必要となる。

図１３は、記録制御部５００がＹすれ補正を実行する際の処理工程を説明するフローチャートである。本実施例では、このようなＹずれ補正を、再度図３を参照するに、記録装置の記録制御部５００において、量子化処理１００９とマスク処理１０２０の間で行う。また、図１４（ａ）および（ｂ）は、図１３の処理工程に従って画像データおよびマスクパターンが補正される状態を示す図である。

図１３において、本処理が開始されると、まずステップＳ１において、記録制御部５００は、ヘッド種別信号発生回路４０６を制御し、複数の記録素子列のうち、注目する記録素子列ｉのＹ方向の記録位置ずれ量ｄ（ｉ）を取得する。個々の記録素子列の記録位置ずれ量ｄ（ｉ）は、記録ヘッドの出荷前に測定され記録ヘッドの記憶手段に格納されていてもよいし、記録装置に装着した際に、所定のモードによって取得される形態であってもよい。この際記録位置ずれ量ｄ（ｉ）は、±１画素単位に量子化された値となっている。ここでは、ｄ（ｉ）＝＋１であった場合について説明する。

次にステップＳ２において、記録位置ずれ量ｄ（ｉ）＝０であるか否かを判断する。ｄ（ｉ）＝０である場合、記録素子列ｉに対するＹずれ補正は必要ないのでステップ６にジャンプする。一方、ｄ（ｉ）＝０でない場合はステップＳ３に進む。

ステップＳ３では、記録素子列ｉに対応して格納されたデータを−ｄ（ｉ）だけＹ方向にシフトさせる。図１４（ａ）においては、−１画素だけデータシフトされた記録データ１６１が生成されているのが分かる。

続くステップＳ４では、ブロックマスクパターンＲ（１）〜Ｒ（Ｐ）それぞれについて、−ｄ（ｉ）画素ずつのシフトローテーションを行い、新たなブロックマスクパターンＲ´（１）〜Ｒ´（Ｐ）を生成する。図１４（ａ）においては、ｄ（ｉ）＝１であるので、５個のブロックマスクパターンそれぞれにおいて、１〜３ラスタ目が２〜４ラスタ目となるように１ラスタずつシフトし、４ラスタ目を１ラスタ目に移動している。このようなマスクパターンの再生成を行うことにより、新たなマスクパターン１８０についても、記録許容画素の分布こそ異なるが、各ブロックにおける記録許容率はオリジナルのマスクパターン２０と等しく、補完関係も保たれている。すなわち、新たに生成されたマスクパターン１８０においても、ブロック１〜ブロック５の記録許容率は、２５％、５０％、５０％、５０％、２５％となり、ブロック１、３、５およびブロック２、４は夫々補完関係を有している。

本実施例の記録制御部は、このように新たに生成されたマスクパターン１８０を用いてマスク処理１０２０を行い、更にカラム間引き処理１０３０を実行する。カラム間引き処理１０３０を行う際には、奇数カラム２１ａを記録する走査と、偶数カラム２１ｂを記録する走査とが交互に繰り返し生成される。これにより、実際に奇数走査で記録されるパターンは画素パターン１８１ａとなり、偶数走査で記録されるパターンは画素パターン１８１ｂとなる。

図１４（ｂ）は、新たに生成されたマスクパターン１８０を用い、５パスのマルチパス記録によって、記録媒体に画像が記録される様子を示した図である。記録走査は、画素パターン１８１ａあるいは１８１ｂに従って交互に行われ、個々の記録走査の間には、４画素分の搬送動作が行われる。そして、本実施例においても、互いに隣接する領域ＡとＢでは、奇数カラムのデータが記録される走査数と偶数カラムのデータが記録される走査数は異なっているが、どちらも１００％の奇数カラムデータと１００％の偶数カラムデータが記録されている。このように、本実施例によれば、Ｙずれ補正を行いながらも、マルチパス数（Ｐ＝５）がカラム間引き数（Ｍ＝２）の倍数でないようなマルチパス記録を実現することが出来る。

なお、以上では、各ブロック内において記録位置ずれ量ｄ（ｉ）に応じたシフトローテーションをかける方法について説明したが、新たなマスクパターンを生成する方法はこの方法に限定されるものではない。既に述べたように、同じカラムを記録するブロックマスクパターンの組み合わせにおいて補完関係が保たれていれば本発明は有効である。

図１５（ａ）〜（ｃ）は、上記例とは異なる方法で生成したマスクパターンを説明する図である。ここで、図１５（ａ）は、図５（ｃ）と等しいマスクパターンを示しており、２カラム間引きを併用しながら５パスのマルチパス記録を実現するマスクパターンである。このマスクパターンに対し、上述した様に各ブロックマスクパターン内でシフトローテーションをかけると、記録許容率の分布は図１５（ｂ）のようになる。図によれば、ブロック１やブロック５において、記録許容率が急激に変化している箇所が生じている。

一般に、記録許容率を変化させるマスクパターンにおいては、その変化が記録素子配列方向に対しなるべく滑らかであることが好ましい。記録許容率が急激に変化するマスクパターンを用いて記録すると、記録許容率が急激に変化する位置でスジやむらが目立つ恐れがあるからである。

図１６（ａ）および（ｂ）は、図１３の処理工程に従って画像データおよびマスクパターンが補正される別の例を示す図である。

本例では、新たなマスクパターンを生成する際、オリジナルのマスクパターンの記録許容比率分布における対称性を利用して、マスクデータのシフトを行う。具体的に説明すると、ｄ（ｉ）＝１である場合、ブロックマスクパターンそれぞれにおいて、１〜３ラスタ目が２〜４ラスタ目となるように１ラスタずつシフトする。そして、４ラスタ目については、マスクパターンの、Ｙ方向において対称となる位置のラスタデータにシフトさせる。すなわち、ブロック１の４ラスタ目はブロック５の１ラスタ目にシフトさせ、ブロック２の４ラスタ目はブロック４の１ラスタ目にシフトさせる。また、ブロック３の４ラスタ目はブロック３の１ラスタ目にシフトさせ、ブロック４の４ラスタ目はブロック２の１ラスタ目にシフトさせ、ブロック５の４ラスタ目はブロック１の１ラスタ目にシフトさせる。

このような方法で新たなマスクパターンを生成しても、ブロック１、３、５の補完関係およびブロック２、４の補完関係は維持される。そして、図１６（ｂ）に示すように、領域ＡおよびＹにおいて、１００％の奇数カラムデータと１００％の偶数カラムデータを記録することが出来る。この例の記録許容率分布を図１５（ｃ）に示す。

既に説明した様に、本発明において使用するオリジナルのマスクパターンでは、同じカラムを記録するブロックマスクパターンの組み合わせが補完関係を有している。そして、このようなマスクパターンでは、互いに補完関係にあるブロック同士で、対応するラスタのマスクデータを交換しても補完関係は保たれる。例えば、図１４（ａ）や図１６（ａ）で示したマスクパターン２０において、ブロック１、３、５は補完関係にあるので、これらのｎラスタ目同士をいかように交換しても補完関係は保たれる。同様に、ブロック２、４は補完関係にあるので、これらのｎラスタ目同士を交換しても補完関係は保たれる。すなわち、本実施例では、このような関係を利用することにより、なるべく記録許容率の変動が緩やかになるように、マスクパターンにおける各ラスタの入れ替えを行うことが出来る。

１００ 記録ヘッド
２１０ 搬送ローラ
２１２ 搬送ローラ
２１３ キャリッジ
２１４ 記録媒体
３００ 記録装置
３０１ 記録制御部
３０６ ヘッドドライバ
４０１ 記録バッファ
４０２ 記録データ
４０３ マスクバッファ
４０４ マスクデータ
４０５ ＡＮＤ処理部
５０１〜５０８ 記録位置

Claims (50)

1. 複数の記録素子が副走査方向に配列して成る記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら前記記録素子列によって記録媒体へインクを吐出する記録走査を複数回行って画像の記録を行い、それぞれが前記副走査方向に並ぶ複数の画素で構成された前記主走査方向に並ぶ複数のカラムを、前記記録走査によって順番に記録するインクジェット記録装置であって、
   前記記録素子列を前記副走査方向にＰ（Ｐは３以上の整数）分割して得られる１〜Ｐブロックに対し、ドットの記録を許容する記録許容画素とドットの記録を許容しない非記録許容画素とを定めているマスクパターンを格納する格納手段と、
   前記記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら、前記格納手段に格納された前記マスクパターンに従って、連続するＭ（Ｍは２ ≦ Ｍ ＜Ｐを満たすＰの約数ではない整数）カラムのうちの１つのカラムを記録する前記記録走査をＭカラムのそれぞれについて順番に行う記録走査手段と、
   前記記録走査の間に前記ブロックの１つに相当する距離だけ記録媒体を前記副走査方向に搬送する搬送手段と
   を備え、
   １≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記１〜Ｐのブロックに対応するマスクパターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックのマスクパターンの組み合わせは、前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とするインクジェット記録装置。
2. 前記Ｐは５、且つ前記Ｍは２であることを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
3. 前記Ｐは７、且つ前記Ｍは２であることを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
4. 前記Ｐは１０、且つ前記Ｍは４であることを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
5. 前記Ｍは２、４または８であることを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
6. 前記記録素子列の前記副走査方向に対する記録位置ずれ量を取得する手段と、
   前記記録素子列に含まれる前記記録素子のそれぞれが記録すべき画像データを、前記記録位置ずれ量に応じてシフトするデータシフト手段と、
   前記マスクパターンの前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じてシフトして新たなマスクパターンを生成する生成手段と、
   を更に備えることを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
7. 前記生成手段は、前記１〜Ｐのブロックに対応するマスクパターンのそれぞれについて、前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じてシフトすることにより前記Ｐ個のブロックに対応する新たなマスクパターンを生成することを特徴とする請求項６に記載のインクジェット記録装置。
8. 前記生成手段は、前記１〜Ｐのブロックに対応するマスクパターンのそれぞれについて、前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じて、前記記録素子の夫々の記録許容率の変動が少なくなるようにシフトすることにより前記Ｐ個のブロックに対応する新たなマスクパターンを生成することを特徴とする請求項６に記載のインクジェット記録装置。
9. 前記マスクパターンは、前記記録素子の配列方向において両端部の記録許容率が中央部の記録許容率よりも低く抑えられていることを特徴とする請求項１ないし８のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
10. 前記マスクパターンは、前記記録素子の配列方向における中央部から両端部に向けて記録許容率が段階的に低くなるように変化していることを特徴とする請求項１ないし８のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
11. 前記記録走査手段は、前記マスクパターンと入力画像データの論理積を実行することによって記録データを生成し、当該記録データに従って連続するＭカラムを異なるＭ回の前記記録走査によって順番に記録することを特徴とする請求項１ないし１０のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
12. 複数の記録素子が副走査方向に配列して成る記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら前記記録素子列によって記録媒体へインクを吐出する記録走査を複数回行って画像の記録を行い、それぞれが前記副走査方向に並ぶ複数の画素で構成された前記主走査方向に並ぶ複数のカラムを、前記記録走査によって順番に記録するインクジェット記録方法であって、
    前記副走査方向にＰ（Ｐは３以上の整数）分割して得られる１〜Ｐブロックに対し、ドットの記録を許容する記録許容画素とドットの記録を許容しない非記録許容画素とを定めているマスクパターンを格納する格納工程と、
    前記記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら、前記格納工程で格納された前記マスクパターンに従って、連続するＭ（Ｍは２ ≦ Ｍ ＜Ｐを満たすＰの約数ではない整数）カラムのうちの１つのカラムを記録する前記記録走査をＭカラムのそれぞれについて順番に行う記録走査工程と、
    前記記録走査の間に前記ブロックの１つに相当する距離だけ記録媒体を前記副走査方向に搬送する搬送工程と
    を有し、
    １≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記１〜Ｐのブロックに対応するマスクパターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックのマスクパターンの組み合わせは、前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とするインクジェット記録方法。
13. 前記Ｐは５、且つ前記Ｍは２であることを特徴とする請求項１２に記載のインクジェット記録方法。
14. 前記Ｐは７、且つ前記Ｍは２であることを特徴とする請求項１２に記載のインクジェット記録方法。
15. 前記Ｐは１０、且つ前記Ｍは４であることを特徴とする請求項１２に記載のインクジェット記録方法。
16. 前記Ｍは２、４または８であることを特徴とする請求項１２に記載のインクジェット記録方法。
17. 前記記録素子列の前記副走査方向に対する記録位置ずれ量を取得する工程と、
    前記記録素子列に含まれる前記記録素子のそれぞれが記録すべき画像データを、前記記録位置ずれ量に応じてシフトするデータシフト工程と、
    前記マスクパターンの前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じてシフトして新たなマスクパターンを生成する生成工程と、
    を更に有することを特徴とする請求項１２に記載のインクジェット記録方法。
18. 前記生成工程は、前記１〜Ｐのブロックに対応するマスクパターンのそれぞれについて、前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じてシフトすることにより前記Ｐ個のブロックに対応する新たなマスクパターンを生成することを特徴とする請求項１７に記載のインクジェット記録方法。
19. 前記生成工程は、前記１〜Ｐのブロックに対応するマスクパターンのそれぞれについて、前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じて、前記記録素子の夫々の記録許容率の変動が少なくなるようにシフトすることにより前記Ｐ個のブロックに対応する新たなマスクパターンを生成することを特徴とする請求項１７に記載のインクジェット記録方法。
20. 前記マスクパターンは、前記記録素子の配列方向において両端部の記録許容率が中央部の記録許容率よりも低く抑えられていることを特徴とする請求項１２ないし１９のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
21. 前記マスクパターンは、前記記録素子の配列方向における中央部から両端部に向けて記録許容率が段階的に低くなるように変化していることを特徴とする請求項１２ないし１９のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
22. 前記記録走査工程では、前記マスクパターンと入力画像データの論理積を実行することによって記録データを生成し、当該記録データに従って連続するＭカラムを異なるＭ回の前記記録走査によって順番に記録することを特徴とする請求項１２ないし２１のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
23. 複数の記録素子が副走査方向に配列して成る記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら前記記録素子列によって記録媒体へインクを吐出する記録走査を複数回行って画像の記録を行い、それぞれが前記副走査方向に並ぶ複数の画素で構成された前記主走査方向に並ぶ複数のカラムを、前記記録走査によって順番に記録するインクジェット記録装置であって、
    前記記録素子列を前記副走査方向に等分にＰ（Ｐは３以上の整数）分割して得られる１〜Ｐブロックに対し、ドットの記録を許容する記録許容画素とドットの記録を許容しない非記録許容画素とを定めている第１〜第Ｍ（Ｍは２≦Ｍ＜Ｐを満たすＰの約数ではない整数）の記録画素パターンを取得する取得手段と、
    前記記録走査を、前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づいて順番に行う記録手段と、
    前記記録走査の間に前記等分にＰ分割して得られる前記１〜Ｐブロックの１つに相当する距離だけ記録媒体を前記副走査方向に搬送する搬送手段と
    を備え、
    前記記録画素パターンに基づく前記記録走査のそれぞれでは、連続するＭカラムのうちの１つのカラムが記録が許容される記録許容カラムとなり、前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づくＭ回の前記記録走査によって、連続するＭカラムのそれぞれが順番に前記記録許容カラムとなり、
    １≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記１〜Ｐのブロックに対応する前記記録画素パターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックの記録画素パターンの組み合わせは、それぞれの記録許容カラムについて前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とするインクジェット記録装置。
24. 前記記録許容カラムは（Ｍ−１）カラム置きに配置され、前記記録手段は前記記録許容カラムごとに用意された前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づいて記録することを特徴とする請求項２３に記載のインクジェット記録装置。
25. 前記第１〜第Ｍの記録画素パターンは前記連続するＭカラムのうちの前記記録許容カラムごとに用意され、当該第１〜第Ｍの記録画素パターンのそれぞれは、１≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記Ｐ個のブロックに対応する記録画素パターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックの記録画素パターンの組み合わせは、該当する記録許容カラムについて前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とする請求項２３または２４に記載のインクジェット記録装置。
26. 前記Ｐは５、且つ前記Ｍは２であることを特徴とする請求項２３ないし２５のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
27. 前記Ｐは７、且つ前記Ｍは２であることを特徴とする請求項２３ないし２５のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
28. 前記Ｐは１０、且つ前記Ｍは４であることを特徴とする請求項２３ないし２５のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
29. 前記Ｍは２、４または８であることを特徴とする請求項２３ないし２５のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
30. 前記記録素子列の前記副走査方向に対する記録位置ずれ量を取得する手段と、
    前記記録素子列に含まれる前記記録素子のそれぞれが記録すべき画像データを、前記記録位置ずれ量に応じてシフトするデータシフト手段と、
    前記記録画素パターンの前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じてシフトして新たな記録画素パターンを生成する生成手段と、
    を更に備えることを特徴とする請求項２３ないし２５のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
31. 前記生成手段は、前記１〜Ｐのブロックに対応する記録画素パターンのそれぞれについて、前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じてシフトすることにより前記１〜Ｐのブロックに対応する新たな記録画素パターンを生成することを特徴とする請求項３０に記載のインクジェット記録装置。
32. 前記生成手段は、前記１〜Ｐのブロックに対応する記録画素パターンのそれぞれについて、前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じて、前記記録素子の夫々の記録許容率の変動が少なくなるようにシフトすることにより前記１〜Ｐのブロックに対応する新たな記録画素パターンを生成することを特徴とする請求項３０に記載のインクジェット記録装置。
33. 前記記録画素パターンは、前記記録素子の配列方向において両端部の記録許容率が中央部の記録許容率よりも低く抑えられていることを特徴とする請求項２３ないし３２のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
34. 前記記録画素パターンは、前記記録素子の配列方向における中央部から両端部に向けて記録許容率が段階的に低くなるように変化していることを特徴とする請求項２３ないし３２のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
35. 記録走査手段は、前記記録画素パターンと入力画像データの論理積を実行することによって記録データを生成し、当該記録データに従って連続するＭカラムを異なるＭ回の前記記録走査によって順番に記録することを特徴とする請求項２３ないし３４のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
36. 前記記録素子列において前記複数の記録素子が前記副走査方向に配列する密度と、前記画像において複数の画素が前記副走査方向に配列する密度は等しいことを特徴とする請求項２３ないし３５のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
37. 複数の記録素子が副走査方向に配列して成る記録素子列を前記副走査方向と交差する主走査方向に移動させながら前記記録素子列によって記録媒体へインクを吐出する記録走査を複数回行って画像の記録を行い、それぞれが前記副走査方向に並ぶ複数の画素で構成された前記主走査方向に並ぶ複数のカラムを、前記記録走査によって順番に記録するインクジェット記録方法であって、
    前記記録素子列を前記副走査方向に等分にＰ（Ｐは３以上の整数）分割して得られる１〜Ｐブロックに対し、ドットの記録を許容する記録許容画素とドットの記録を許容しない非記録許容画素とを定めている第１〜第Ｍの記録画素パターンを取得する取得工程と、
    前記記録走査を、前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づいて順番に行う記録工程と、
    前記記録走査の間に前記等分にＰ分割して得られる前記１〜Ｐブロックの１つに相当する距離だけ記録媒体を前記副走査方向に搬送する搬送工程と
    を有し、
    前記記録画素パターンに基づく前記記録走査のそれぞれでは、連続するＭカラムのうちの１つのカラムが記録が許容される記録許容カラムとなり、前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づくＭ回の前記記録走査によって、連続するＭカラムのそれぞれが順番に前記記録許容カラムとなり、
    １≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記１〜Ｐのブロックに対応する前記記録画素パターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックの記録画素パターンの組み合わせは、それぞれの記録許容カラムについて前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とするインクジェット記録方法。
38. 前記記録許容カラムは（Ｍ−１）カラム置きに配置され、前記記録工程は前記記録許容カラムごとに用意された前記第１〜第Ｍの記録画素パターンに基づいて記録することを特徴とする請求項３７に記載のインクジェット記録方法。
39. 前記第１〜第Ｍの記録画素パターンは前記連続するＭカラムのうちの前記記録許容カラムごとに用意され、当該第１〜第Ｍの記録画素パターンのそれぞれは、１≦ｓ≦Ｍを満たすいずれの整数ｓについても、前記Ｐ個のブロックに対応する記録画素パターンのうち、ｓ＋Ｎ×Ｍ≦Ｐを満たす全ての０以上の整数Ｎに対応する（ｓ＋Ｎ×Ｍ）ブロックの記録画素パターンの組み合わせは、該当する記録許容カラムについて前記記録許容画素の配置が互いに補完関係を有していることを特徴とする請求項３７または３８に記載のインクジェット記録方法。
40. 前記Ｐは５、且つ前記Ｍは２であることを特徴とする請求項３７ないし３９のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
41. 前記Ｐは７、且つ前記Ｍは２であることを特徴とする請求項３７ないし３９のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
42. 前記Ｐは１０、且つ前記Ｍは４であることを特徴とする請求項３７ないし３９のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
43. 前記Ｍは２、４または８であることを特徴とする請求項３７ないし３９のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
44. 前記記録素子列の前記副走査方向に対する記録位置ずれ量を取得する工程と、
    前記記録素子列に含まれる前記記録素子のそれぞれが記録すべき画像データを、前記記録位置ずれ量に応じてシフトするデータシフト工程と、
    前記記録画素パターンの前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じてシフトして新たな記録画素パターンを生成する生成工程と、
    を更に有することを特徴とする請求項３７ないし３９のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
45. 前記生成工程は、前記１〜Ｐのブロックに対応する記録画素パターンのそれぞれについて、前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じてシフトすることにより前記１〜Ｐのブロックに対応する新たな記録画素パターンを生成することを特徴とする請求項４４に記載のインクジェット記録方法。
46. 前記生成工程は、前記１〜Ｐのブロックに対応する記録画素パターンのそれぞれについて、前記記録許容画素と前記非記録許容画素の配置を、前記記録位置ずれ量に応じて、前記記録素子の夫々の記録許容率の変動が少なくなるようにシフトすることにより前記１〜Ｐのブロックに対応する新たな記録画素パターンを生成することを特徴とする請求項４４に記載のインクジェット記録方法。
47. 前記記録画素パターンは、前記記録素子の配列方向において両端部の記録許容率が中央部の記録許容率よりも低く抑えられていることを特徴とする請求項３７ないし４６のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
48. 前記記録画素パターンは、前記記録素子の配列方向における中央部から両端部に向けて記録許容率が段階的に低くなるように変化していることを特徴とする請求項３７ないし４６のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
49. 前記記録工程は、前記記録画素パターンと入力画像データの論理積を実行することによって記録データを生成し、当該記録データに従って連続するＭカラムを異なるＭ回の前記記録走査によって順番に記録することを特徴とする請求項３７ないし４８のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
50. 前記記録素子列において前記複数の記録素子が前記副走査方向に配列する密度と、前記画像において複数の画素が前記副走査方向に配列する密度は等しいことを特徴とする請求項３７ないし４９のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。

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