JP5914582B2 - スパークプラグ - Google Patents
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Description
この形態のスパークプラグによれば、貴金属チップの側面上の全周に所定形状の溶融ダレを形成するため、貴金属チップと溶融部との界面内への空気の進入を抑制し、貴金属チップと溶融部との界面に酸化スケールが形成されることを抑制できる。その結果、スパークプラグにおいて冷熱サイクルが繰り返されたときに、貴金属チップと溶融部との界面において、貴金属チップと電極母材との熱膨張率差に起因するクラックの発生を抑制し、貴金属チップと電極母材との接合の信頼性を高めることができる。
この形態のスパークプラグによれば、貴金属チップと溶融部との界面における酸化スケールの進展をより抑制し、貴金属チップと電極母材との接合の信頼性をさらに高めることができる。
図1は、本発明の実施形態としてのスパークプラグ100の部分断面図である。スパークプラグ100は、図1に示すように、軸線Ax(スパークプラグ100の中心軸)に沿って伸長する細長形状を有している。図1において、一点破線で示す軸線Axの右側は、外観正面図を示し、軸線Axの左側は、軸線Axを通る断面でスパークプラグ100を切断した断面図を示している。以下の説明では、軸線Axに平行な方向において、図1の下方側(図1中、矢印Xで示す)を先端側と呼び、図1の上方側を後端側と呼ぶ。
図2は、中心電極20の先端部の構造を拡大して示す説明図である。図2(A)は、中心電極20の先端部の外観を表わす側面図であり、図2(B)は、中心電極20が備える貴金属チップ27の中心軸Oを含む断面の様子を表わす断面図である。図2(A)では、スパークプラグ100における既述した先端側を、矢印Xで示している。なお、本実施形態のスパークプラグ100では、貴金属チップ27の中心軸Oは、スパークプラグ100の中心軸である軸線Axと一致している。
・変形例1(溶融部26の形状の変形):
上記実施形態では、貴金属チップ27の溶接時において、貴金属チップ27の全周に対して均等にレーザを照射しており、溶融ダレ28の中心軸O方向の長さは、貴金属チップ27の側面の全周でほぼ均等としたが、異なる構成としてもよい。溶融ダレ28の中心軸O方向の長さは不均一であってもよく、例えば、図3に示す断面において、距離X1と距離X2とが異なっていてもよい。貴金属チップ27における中心軸Oを含む全ての断面において、図3に基づいて説明した溶融ダレ28の長さ(図3の距離X1,X2)が、0.092mm以上であればよい。また、中心電極120は、貴金属チップ27と電極母材25とが、溶融部126を介することなく直接接する部位を有していてもよい。このような構成であっても、溶融部126が備える溶融ダレ28が、中心軸O方向の長さとして、実施形態と同様の長さを有するならば、実施例と同様の効果を奏することができる。
貴金属チップ27と電極母材25との間の溶接は、既述したレーザ溶接の他、例えば電子ビーム溶接により行なってもよい。貴金属チップ27の外周側から内部側に向かってエネルギを照射することによって、貴金属チップ27と電極母材25とを溶融させ、溶融ダレ28を有する溶融部26を形成して溶接可能であるならば、実施形態と同様に本願発明を適用できる。
上記実施形態では、中心電極20の電極母材25に貴金属チップ27を溶接することで形成される溶融ダレ28の中心軸O方向の長さについて規定したが、異なる構成としてもよい。中心電極20に代えて、あるいは中心電極20に加えて、接地電極30において本願を適用してもよい。
図4は、冷熱試験に供した各電極の仕様を示す説明図である。仕様1および仕様4の電極では、白金の含有割合が10wt%であるイリジウム−白金(Ir−Pt)合金から成る貴金属チップ27を用いた。仕様2および仕様5の電極では、ロジウムの含有割合が10wt%であるイリジウム−ロジウム(Ir−Rh)合金から成る貴金属チップ27を用いた。仕様3および仕様6の電極では、ルテニウムの含有割合が8wt%であるイリジウム−ルテニウム(Ir−Ru)合金から成る貴金属チップ27を用いた。また、仕様1〜仕様3の電極では、端面の直径が0.6mm、高さが0.75mmの円柱状の貴金属チップ27を用い、仕様4〜仕様6の電極では、端面の直径が0.8mm、高さが0.5mmの円柱状の貴金属チップ27を用いた。
仕様1〜仕様6の仕様ごとに、上記のようにして6つずつ選択した全ての電極について、第1の冷熱試験を行なった。第1の冷熱試験は、貴金属チップ27をバーナで加熱する動作と、加熱を停止する動作とを1サイクルとして、1000サイクル行なった。上記加熱の動作は、貴金属チップ27の温度を放射温度計にて計測しながら、貴金属チップ27の温度が950℃となるように加熱した。1サイクル当たりの加熱時間は2分とした。また、加熱を停止する動作は、1サイクル当たり1分とした。
仕様1〜仕様6の仕様ごとに、上記のようにして6つずつ選択した全ての電極について、第2の冷熱試験を行なった。第2の冷熱試験は、上記した第1の冷熱試験に比べて、加熱時の温度を1000℃とした点のみが異なっている。すなわち、第2の冷熱試験は、第1の冷熱試験に比べて、加熱の条件をより厳しくした試験である。
上記した第1および第2の冷熱試験をそれぞれ1000サイクル実施した後に、各々の電極について、貴金属チップ27の中心軸を含む断面を露出させた。そして、露出させた断面において、図3に示したように溶融ダレ28の中心軸O方向の長さX1,X2を実測したところ、X線CT観察により非破壊内部観察で測定した数値とよく一致した。また、上記露出させた断面を70倍に拡大して観察し、貴金属チップ27と溶融部26との界面に形成された酸化スケールの長さを測定した。そして、貴金属チップ27と溶融部26との界面(図3におけるP9−P10間)の長さに対する、P9−P10間に形成された酸化スケールの長さの合計の割合を、酸化スケールの形成割合として算出した。なお、電極断面において露出する貴金属チップ27と溶融部26との界面において、酸化スケールは、他の部位とは色が異なるため容易に判別可能である。
4…シール体
5…ガスケット
6…リング部材
8…板パッキン
9…タルク
10…絶縁碍子
12…軸孔
13…脚長部
15…碍子段部
17…先端側胴部
18…後端側胴部
19…中央胴部
20,120…中心電極
25…電極母材
26,126…溶融部
27…貴金属チップ
28…溶融ダレ
30…接地電極
40…端子金具
50…主体金具
51…工具係合部
52…取付ネジ部
53…加締部
54…ガスケット受け部
56…金具内段部
57…先端面
58…圧縮変形部
100…スパークプラグ
200…エンジンヘッド
201…取付ネジ孔
600…インコネル
Claims (2)
- 貴金属を含有する柱状の貴金属チップであって、自身の中心軸についての一方の端部側の端面で放電を許容する貴金属チップと、前記貴金属チップに対して前記中心軸方向についての他方の端部側に配置された電極母材と、が溶接された電極であって、前記貴金属チップの前記他方の端部と前記電極母材との間に、前記貴金属チップと前記電極母材とが溶融した溶融部が形成された電極を備えるスパークプラグにおいて、
前記溶融部は、前記貴金属チップの側面上の全周にわたって溶融ダレを備え、
前記電極における前記中心軸を含む任意の断面において、
前記貴金属チップにおける前記一方の端部側の端面に相当する線分Sの長さをDとし、
前記中心軸から「9D/20」の距離だけ離間する2本の直線を、仮想直線L1,L2とし、
前記仮想直線L1,L2の各々と、前記貴金属チップと前記溶融部との界面と、の交点をそれぞれ交点P1,P2とし、
前記交点P1,P2を結んだ直線を、仮想直線L3とし、
前記線分Sの両端点のうち、前記中心軸に対して前記仮想直線L1と同じ側に位置する端点を端点P3、前記中心軸に対して前記仮想直線L2と同じ側に位置する端点を端点P4とし、
前記端点P3,P4の各々を通り、前記中心軸に平行な直線を、それぞれ仮想直線L4,L5とし、
前記仮想直線L4,L5上における前記溶融ダレの前記一方の端部側の端点のうち、前記仮想直線L4上の端点を端点P5、前記仮想直線L5上の端点を端点P6とし、
前記仮想直線L4,L5の各々と、前記仮想直線L3との交点を、それぞれ、交点P7,P8とすると、
前記交点P7と前記端点P5の距離である距離X1、および、前記交点P8と前記端点P6との距離である距離X2は、いずれも、0.092mm以上であることを特徴とする
スパークプラグ。 - 請求項1に記載のスパークプラグであって、
前記距離X1,X2は、いずれも、0.110mm以上であることを特徴とする
スパークプラグ。
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