JP5727625B2 - 電子デバイス及び電子デバイスの製造方法 - Google Patents

電子デバイス及び電子デバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5727625B2
JP5727625B2 JP2013546642A JP2013546642A JP5727625B2 JP 5727625 B2 JP5727625 B2 JP 5727625B2 JP 2013546642 A JP2013546642 A JP 2013546642A JP 2013546642 A JP2013546642 A JP 2013546642A JP 5727625 B2 JP5727625 B2 JP 5727625B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electronic device
electrode
package
cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013546642A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014502815A (ja
Inventor
グドラン ヘン,
グドラン ヘン,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Electronics AG
Original Assignee
Epcos AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Epcos AG filed Critical Epcos AG
Publication of JP2014502815A publication Critical patent/JP2014502815A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5727625B2 publication Critical patent/JP5727625B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0007Casings
    • H05K9/002Casings with localised screening
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0032Packages or encapsulation
    • B81B7/0064Packages or encapsulation for protecting against electromagnetic or electrostatic interferences
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0032Packages or encapsulation
    • B81B7/0077Other packages not provided for in groups B81B7/0035 - B81B7/0074
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3135Double encapsulation or coating and encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • H03H9/1007Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices
    • H03H9/105Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices the enclosure being defined by a cover cap mounted on an element forming part of the BAW device
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • H03H9/1064Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices
    • H03H9/1092Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices the enclosure being defined by a cover cap mounted on an element forming part of the surface acoustic wave [SAW] device on the side of the IDT's
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K5/00Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
    • H05K5/0091Housing specially adapted for small components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3121Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/11Methods of delaminating, per se; i.e., separating at bonding face

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Description

電子デバイス及び電子デバイスの製造方法を示す。
例えば表面波素子や体積波素子のような電子デバイス(マイクロメカニカル素子もここで言う電子デバイスに含まれる)のパッケージは、通常キャビティを必要とする。キャビティを有するパッケージは従来様々な方法で製造され、例えばスペーサとしてまた側方境界部として機能するフレーム構造を、例えばセラミック上に設け、素子をフリップチップ実装してプラスチックで覆う方法や、ウェハに凹みを設け、接続用に、また側方境界部として機能するフレーム構造を設け、完成したウェハをフリップチップ実装した後、ウェハボンディングを行って接続を確実にする方法がある。ここでウェハは例えばシリコンやニオブ酸塩/タンタル酸塩から出来ていてもよい。この後個々のチップが分離される。
本発明の少なくとも一つの実施形態の課題は、従来のパッケージに比べてサイズが小さく高い安定性をもつパッケージを含む電子デバイスを提供することである。別な実施形態の課題は、この種の電子デバイスの製造方法を提供することである。
これらの課題は請求項1に記載の電子デバイスと請求項14に記載の方法とによって解決される。
第一電極、第二電極、第一電極と第二電極とに電気的に連結された活性領域、及びパッケージを含み、該パッケージが少なくとも一部の領域に複数の単原子炭素層を含んでいる電子デバイスが示される。
この明細書において、「電気的に連結」とは導電的な接触または電磁的な接触を意味する。
こうして、少なくともパッケージの一部の領域に複数の単原子炭素層の形で合成素材を含む電子デバイスが提供される。これらの単原子炭素層により、パッケージは高い力学的・静的安定性もつ。単原子炭素層は更に導電性を有していてもよく、そのような単原子炭素層を使用することによりパッケージは高周波遮蔽機能をもつことになる。あるいは単原子炭素層は絶縁性をもつよう、例えばフッ素で改質されていてもよい。
複数の単原子炭素層は平面状であっても、複数のチューブに形成されていても、一部は平面状で一部はチューブに形成されていてもよい。平面状の単原子炭素層はグラフェン、チューブに形成された単原子炭素層はナノチューブと呼ばれ得る。
こうしてパッケージの一部の領域に、グラフェンまたはナノチューブまたはグラフェンとナノチューブとの混合体が存在していてよい。これら二種類の単原子炭素層は共に高い力学的・静的安定性もち、導電性をもつように作ることもできる。こうした特性ゆえに、これらの単原子炭素層を電子デバイスのパッケージに用いることが出来る。
グラフェンは官能化も可能な特定の多環芳香族炭化水素である。ここでは黄色またはオレンジ色の固体であってもよい。グラフェンの基礎構造は、ほとんどの溶媒に不溶のヘキサペリヘキサベンゾコロネン(HBC)に基づく。この基礎構造は例えばアルキル鎖により置換可能で、置換後のグラフェンは溶媒中に可溶となる
結晶の形でも溶液中でもグラフェンは柱状に配向され得る。その際芳香核は直接上下に重なり得る。柱状の配向は自己組織化と呼ばれ、溶液中で配向が生じる場合は、グラフェンの置換基、温度及び濃度に依存して形成される。溶液中の柱状配向により、例えば、−理想的な場合欠陥のない−良好に整列した複数の層を持ち、高い電荷キャリア移動性を持つ薄い複数の表面膜が生成され得る。
柱状に配向されたグラフェンは、いわゆるedge-on 配向で、例えば基板上に設けられていてもよい。その場合個々の柱は基板に平行に配置されている。あるいはグラフェンは、いわゆるface-on 配向の柱状配向で、基板上に設けられてもよい。その場合個々の柱は基板に垂直に配置されている。これら二種類の配向は共にグラフェン層内部の高い配列性を特徴とする。
グラフェンもナノチューブも、つまり複数の単原子炭素層は、複数の単層としてまたは積層として電子デバイスに設けられていてよい。こうして複数の炭素層は、高い配列性を持ち得る分離された複数の層あるいは上下に重なった複数の層として、電子デバイスのパッケージ中に存在し得る。
特に積層して配設した場合には、パッケージに特に高い力学的・静的安定性をもたらす。パッケージは、ひっかき傷ができにくく電子デバイスの活性領域を環境影響に対して保護するいわゆる薄膜パッケージであってもよい。薄膜パッケージとは幾つかの上下に重なった層をもつ積層体のことである。十分な安定性を達成するため、従来はこのために厚い窒化物、酸化物またはエポキシの層が使用されてきた。パッケージの少なくとも一部の領域に単原子炭素層の単層または積層を用いることにより、パッケージの厚みを減らすことができるが、これは複数の単原子炭素層全体の厚みを薄くしても、従来の材料に比べ高い安定性を示すからである。薄膜パッケージとして構成されるパッケージは、素子の分割を行う前に、電子デバイスの製造中に活性領域上に設けることができる。
ここ及び以下で「上に/上の」により、直接上下に並ぶ配向と、上下に並ぶ要素間に別の要素が配置されることがあり得る要素相互の配向とを含めた配向を言う。
電子デバイスは電気音響素子であってもよく、その場合活性領域は圧電層を含む。圧電層は例えばAlN(窒化アルミニウム)を含んでいてもよい。
前記電子デバイスにて、第一及び第二電極は圧電層の一つの面、または相対する面に配設可能である。第一変形例は表面波素子、第二変形例は体積波素子である。
電子デバイスにて、第一及び/または第二電極は、いくつかの上下に重なった層を含んでサンドイッチ構造となっていてもよい。典型的な材料は、Ti,Mo,TiとMoの混合物,Pt,Ru,W,Al,Cu及び、AlとCuの混合物を含む群から選択されている。
例えば、Ti,Al/Cu,Wを有するサンドイッチ構造が形成されていてもよい。別の可能なサンドイッチ構造としては、Mo,Ti/Mo,Ruよりなる構成があげられる。この種のサンドイッチ構造は例えば体積波素子の電極を構成することができる。体積波素子では圧電層が基板上に、第一電極が基板と圧電層の間に、第二電極が圧電層の基板とは反対側の面に配設されている。ここでサンドイッチ構造は例えば素子の第一電極を形成し得る。
サンドイッチ構造の別の例はAlまたはAl/Cu層である。この種の電極は例えば表面波素子の第一及び/または第二電極を構成することができる。表面波素子では第一、第二電極とも圧電層の一方の面に配設されている。
表面波素子の両電極がいわゆる櫛形構造を有し、第一、第二電極の櫛形の指状部分が圧電基板上に交互に前後に並んでいてもよい。その場合第一電極と第二電極との間のそれぞれの領域にて電磁波が形成され得る。
更に、別の実施形態によれば、電子デバイスは、活性領域上に配されたキャビティをもつパッケージを有していてもよい。更に、キャビティ上に、キャビティにまたがる積層部が配設されていてもよい。
こうして例えば構造は、第一電極、第一電極上の活性領域、活性領域上の第二電極、第二電極及び活性領域上のキャビティ、及び、キャビティ上のパッケージ積層部よりなるものであってもよい。あるいは、活性領域、活性領域上の第一及び第二電極、第一、第二電極及び活性領域上のキャビティ、キャビティ上のパッケージ積層部よりなるものとすることもできる。
積層部は複数の単原子炭素層を含む少なくとも一つの安定化層を有していてもよい。ここで安定化層は積層部の内部に設けられていても、キャビティを完全に取り囲む層として設けられていても、積層部を外に向かって閉ざす層として設けられていてもよい。つまり安定化層は原則としてパッケージの任意の場所に設けられていてよい。キャビティを完全に取り囲むように設けられていてもよい。積層部の内部、例えば真ん中に設けられていてもよいし、積層部全体を、つまり上からと側方で囲む、積層部の最後の層として設けられていてもよい。これらのいずれの位置にあっても、複数の単原子炭素層はパッケージの安定性を高める。
キャビティと積層部との間に更に第一安定化層が設けられていてもよい。積層部の少なくとも一つの安定化層に加え、またはその代わりに、この第一安定化層が複数の単原子炭素層を有していてもよい。この第一安定化層はキャビティに直接またがる層として配設されていてもよく、随意に構造化されていてもよい。
積層部の少なくとも一つの安定化層は更に高周波遮蔽性及び/または熱伝導性をもつように構成されていてもよい。高周波遮蔽性は、単原子炭素層の導電性によってもたらされ得る。単原子炭素層は例えば銅よりも高い導電性を有する。こうしてグラフェンは例えば108 S/mの導電性を持ち得る。添加物、例えば金属によりグラフェンやナノチューブの導電性を更に高め、高周波遮蔽性を特に高い信頼性をもって作り出すこともできる。
熱伝導性も、グラフェン及び/またはナノチューブを含む安定化層中の添加物によって調整可能である。こうして例えば単原子炭素層は無機材料と結合されてもよい。例えば単原子炭素層はフッ素で改質されて、例えばフルオログラフェンとされていてもよい。
安定化層が導電性をもつべきでない場合、例えば酸素またはフッ素の添加により、絶縁性をもつように安定化層が改質されていてもよい。
パッケージの積層部の残りの層は従来の材料を含んでいてもよいが、従来に比べて薄い層厚で構成されていてよい。これは、パッケージに必要な安定性を複数の単原子炭素層によって達成することができるからである。
電子デバイスは表面波素子として、または体積波素子として、または微小電気機械素子として構成されていてもよい。表面波素子はSAW素子(SAW:表面音響波)とも呼ばれ得る。体積波素子はBAW素子(BAW:バルク音響波)とも呼ばれ得る。
こうして例えばSAWまたはBAWフィルタ、共振器またはセンサや、電子デバイスを備えた導波路や遅延線を提供することができる。更に、電子デバイスはいわゆるガイドバルク音響波素子を構成し得る。フィルタから更にデュプレクサを構成することができ、別な複雑なモジュールを構成することもできる。この種の電気音響素子は例えば移動無線に使用できる。
上述の実施形態に従って構成され、従って少なくとも一部の領域にグラフェン及び/またはナノチューブを含むパッケージは、引っ張りや押圧に対して高い抵抗力を持つ。これはグラフェンが例えば鋼鉄の200倍の安定性をもつからである。更にグラフェン及び/またはナノチューブは他の材料を加えることにより導電性をもつようにすることができ、パッケージのそうした材料を含む層が室温で純銀よりも高い導電性をもつようにすることができる。グラフェンは100W/(mK)の熱伝導性を持つため、パッケージ内部の排熱も保証されている。
グラフェン及び/またはナノチューブは積層として上下に重ねて設けられても、こうした有利な特性を保つ。更に、こうした層は従来の半導体プロセスを用いて構造化可能である。こうしてグラフェン及び/またはナノチューブを含む安定化層は、パッケージの積層部の厚さを減らし、同時に安定性と熱伝導性を高めることができる。グラフェン及び/またはナノチューブは更に導電性により電子デバイスの高周波遮蔽性を高めることができる。こうしてより小さく、より安定性があり、より信頼性の高い電子デバイスが提供される。
更に別な実施形態によれば、以下のステップ:A)第一電極、第二電極及び活性領域を含む構造の上に仮設層を設ける、B)開口を有する第一安定化層を仮設層上に設ける、C)開口を通じて仮設層を除く、D)第一安定化層上に積層部を設ける、を含む電子デバイスの製造方法が示される。
こうして仮設層を設けることにより、活性領域上にキャビティを作り出すことができ、キャビティ上にキャビティにまたがる安定した積層部を設けることができる。
ステップB)及び/またはD)にて、更に第一安定化層及び/または積層部が、化学蒸着、物理蒸着、溶液の塗布及び表面化学反応を含む群から選ばれた一つの方法を用いて設けられてもよい。こうして多様なプロセス工学を用いてパッケージを作り出し、活性層上に配することができる。キャビティのすぐ上、または積層部中、または積層部を閉ざす層として設けられる複数の単原子炭素層を含む層も、これらの方法のいずれかを用いて設けることが出来る。
本発明を図面と実施例を用いてより詳細に説明する。
電子デバイスの一実施形態の概略側面図である。 電子デバイスの別な実施形態の概略側面図である。 図2Aによる電子デバイスの概略上面図である。 図1による電子デバイス上のパッケージの様々な実施形態の概略側面図である。 図1による電子デバイス上のパッケージの様々な実施形態の概略側面図である。 図1による電子デバイス上のパッケージの様々な実施形態の概略側面図である。 図1による電子デバイス上のパッケージの様々な実施形態の概略側面図である。
図1は体積波電気音響素子の概略側面図である。この素子は基板40、それぞれ二つずつの第一反射層51と第二反射層52、第一電極10、第二電極20及び圧電層30を含む。反射層はブラッグミラーを構成し、第一反射層51は高い音響インピーダンスを、第二反射層は低い音響インピーダンスを有している。
第一反射層51は例えばタングステンを、第二反射層52はSiO2を含んでいてもよい。このように配設された反射層は縦波に対しても横波に対しても高い反射率をもつ。こうして、これらの波は圧電層中に戻されるように反射される。
基板40は例えばSiまたはSiO2を有していてもよい。本来の共振器は反射層上にあり、第一電極10、第二電極20及び圧電層30を含む。圧電層は例えばAlNを含んでいてもよく、両電極は、Ti,Mo,TiとMoの混合物,Pt,Ru,W,Al,Cu,AlとCuの混合物のような金属を有していてもよい。電極は上下に重なった幾つかの副層を含んでいてもよく、その場合各副層は、上に挙げたものから選ばれ得る異なる材料を含む。例えば電極はサンドイッチ構造Ti,Al/Cu,Wを有していてもよい。別の可能なサンドイッチ構造はMo,Ti/Mo,Ru構造を持つ。
図1に示された構造上に、更に酸化皮膜の層が保護層として設けられていてもよい(ここでは図示せず)。
図2aは表面波素子の概略側面図である。この素子は圧電層30、第一電極10及び第二電極20を含む。図2bにはこの種の素子の概略上面図が示されている。この図により、第一電極10と第二電極20とがそれぞれ櫛形構造を有しており、各櫛形は短い指状部分と長い指状部分とを交互に有していることがわかる。異なる櫛形の指状部分は、圧電層30の長手軸に沿って交互に並ぶように、圧電層上に配されている。このことは図2aの概略側面図でも見て取れる。こうして電極10,20の個々の指状部分の間で電磁波が形成され、該電磁波は圧電層により力学的な波に変換可能で、逆もまた可能である。
更に、図1及び2に概略的に示されているような素子をそれぞれ覆って、図3a乃至dに示されているように、キャビティを有するパッケージ100を設けることができる。
図3a〜3dに、典型的な例として、図1の構造上のパッケージ100の概略側面図を示す。パッケージ100はしかしながら図2の構造や電子デバイスの別の構造上にも同様に設けられ得る。
見やすくするために図3a〜3dでは、活性層、反射層、電極及び活性領域から成る構造の参照符号は示されていない。図3aは活性領域上のキャビティ60,キャビティの上の構造化された第一安定化層70、及び積層部80を示す。この実施形態では、第一安定化層70は、単原子炭素層、つまりグラフェン及び/またはナノチューブから形成されている。こうした第一安定化層は高い力学的安定性を持つため、キャビティ60に安定してまたがり、同時に積層部80を支えることができる。
第一安定化層70を構造化することによりパッケージ100にキャビティ60を作り出すことができる。キャビティ50を作り出すために例えば活性層30または第二電極20上に仮設層(ここでは図示されていない)が蒸着され構造化されてもよい。この仮設層は例えばフォトレジストで出来ていてもよい。第一安定化層70はこの仮設層の上に設けられ構造化され、第一安定化層70には開口ができる。仮設層だけを第一安定化層70の開口を通じて除くことが出来る。こうしてキャビティが形成される。仮設層として例えば酸化物または窒化物を用いることができる。キャビティを閉ざすために、積層部80を成す別な安定化層が第一安定化層70上に設けられる。
この積層部80は更なる安定をもたらし、活性領域30を湿気に対してシールする。
ここで積層部80を成す層のうち少なくとも幾つかは導電性も持ち、従って高周波を遮蔽するように出来ていてもよい。積層部80を成す層は、印刷法により施されるエポキシ材料を有していてもよく、導電性を持たせる場合は金属で出来ていてもよい。
図3bによるパッケージ100も類似した仕方で製造可能である。ここでは典型的な例として、第一安定化層70上に設けられた、積層部80に属する安定化層81が示されている。層81はグラフェン及びまたはナノチューブを含み、第一安定化層70を安定化し、同時に積層部80を支える。層81のもう一つ別な機能は、キャビティを積層部80に対してシールすることである。
図3cによるパッケージ100も上記の方法と類似した仕方で製造可能である。ここでは典型的な例として、グラフェン及びまたはナノチューブを含み、積層部80の内部にある層82が示されている。この種の層は積層部80内の安定性を高める。
図3dによるパッケージ100も上で説明したような方法を用いて製造可能である。ここでは典型的な例として、積層部80を上から及び側縁から大気に対してシールする安定化層83が示されている。安定化層はこの実施形態にてグラフェン及びまたはナノチューブを含んでいる。
グラフェン及び/またはナノチューブを含む安定化層70,81,82及び83を幾つか組み合わせて持つパッケージ100も考えられる(図示せず)。
安定化層81及び83は、安定化機能に加え、高周波遮蔽機能及び熱伝導機能をも持つことができる。こうして、高い信頼性を有し、高圧、多湿、高温に対して安定したパッケージが提供される。電子デバイスを更に加工する間、例えばモジュールをフリップチップ実装に際して10バール以上の圧力が生じても、活性領域が高い温度及び処理圧力にさらされないようにしなければならない。これも、上述の実施形態による安定したパッケージ100によって可能である。
本発明は実施例に基づく説明によって限定されてはいない。さらに、本発明は、特に請求項に記載の特徴の組み合わせそれぞれが含むいずれの新規な特徴、及びそうした特徴のいずれの組み合わせをも、たとえそうした特徴や組み合わせがそれ自体として明示的に請求項または実施例に示されていなくとも、含む。
10 第一電極
20 第二電極
30 圧電層
40 基板
51 第一反射層
52 第二反射層
60 キャビティ
70 第一安定化層
80 積層部
81 安定化層
82 安定化層
83 安定化層
100 パッケージ

Claims (13)

  1. 第一電極(10)、第二電極(20)、前記第一電極(10)と前記第二電極(20)とに電気的に連結された活性領域(30)、及び、パッケージ(100)を有する電子デバイスにおいて、
    前記パッケージ(100)が少なくとも一部の領域に複数の平面状単原子炭素層を含み、
    前記複数の平面状単原子炭素層は、複数の単層または積層として配設されており、分離された複数の層あるいは上下に重なった複数の層として、前記パッケージ中に存在する、ことを特徴とする、電子デバイス。
  2. 電気音響素子であって、前記活性領域(30)が圧電層を含んでいることを特徴とする、請求項1に記載の電子デバイス。
  3. 第一及び第二電極(10,20)が、圧電層(30)の一つの面に配置され、または相対する面にそれぞれ配設されていることを特徴とする、請求項に記載の電子デバイス。
  4. パッケージ(100)が、活性領域(30)上に配されたキャビティ(60)を有していることを特徴とする、請求項1乃至のいずれかに記載の電子デバイス。
  5. 前記キャビティ(60)上に、キャビティにまたがる積層部(80)が配設されていることを特徴とする、請求項に記載の電子デバイス。
  6. 前記キャビティ(60)と前記積層部(80)との間に第一安定化層(70)が配設されていることを特徴とする、請求項に記載の電子デバイス。
  7. 前記積層部80が、複数の平面状単原子炭素層を含む少なくとも一つ安定化層(81,82,83)を有していることを特徴とする、請求項またはに記載の電子デバイス。
  8. 前記第一安定化層(70)が複数の平面状単原子炭素層を含んでいることを特徴とする、請求項またはに記載の電子デバイス。
  9. 前記安定化層(81,82,83)が、前記積層部(80)の内部に配設され、または前記キャビティ(60)を完全に取り囲む層(81)として、または前記積層部(80)を外に向かって閉ざす層(83)として配設されていることを特徴とする、請求項に記載の電子デバイス。
  10. 前記安定化層(81,83)が更に高周波遮蔽性及び/または熱伝導性をもつことを特徴とする、請求項またはに記載の電子デバイス。
  11. 表面波素子または体積波素子または微小電気機械素子として構成されていることを特徴とする、請求項1乃至10のいずれかに記載の電子デバイス。
  12. 請求項9または10に記載の電子デバイスの製造方法であって、
    A) 前記第一電極(10)、前記第二電極(20)及び前記活性領域(30)を含む構造部分の上に仮設層を設けるステップ、
    B) 開口を有する第一安定化層(70)を前記仮設層上に配設するステップ、
    C) 開口を通じて前記仮設層を除くステップ、及び、
    D) 第一安定化層(70)上に積層部(80)を設けるステップ
    を有し、
    前記複数の平面状単原子炭素層を含む層が、前記キャビティのすぐ上、または前記積層部中に設けられ、あるいは前記積層部を閉ざす層として設けられることを特徴とする、電子デバイスの製造方法。
  13. 前記ステップB)及び/または前記ステップD)が、化学蒸着、物理蒸着、溶液塗布、及び、表面化学反応を含む群から選ばれた方法によって実施されることを特徴とする、請求項12に記載の方法。


JP2013546642A 2010-12-30 2011-12-05 電子デバイス及び電子デバイスの製造方法 Expired - Fee Related JP5727625B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102010056562.8A DE102010056562B4 (de) 2010-12-30 2010-12-30 Elektroakustisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung des elektroakustischen Bauelements
DE102010056562.8 2010-12-30
PCT/EP2011/071761 WO2012089443A1 (de) 2010-12-30 2011-12-05 Elektronisches bauelement und verfahren zur herstellung des elektronischen bauelements

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014502815A JP2014502815A (ja) 2014-02-03
JP5727625B2 true JP5727625B2 (ja) 2015-06-03

Family

ID=45315763

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013546642A Expired - Fee Related JP5727625B2 (ja) 2010-12-30 2011-12-05 電子デバイス及び電子デバイスの製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9807917B2 (ja)
JP (1) JP5727625B2 (ja)
CN (1) CN103283146B (ja)
DE (1) DE102010056562B4 (ja)
WO (1) WO2012089443A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10303227B2 (en) * 2013-02-27 2019-05-28 Dell Products L.P. Information handling system housing heat spreader
DE102013102217B4 (de) * 2013-03-06 2015-11-12 Epcos Ag Mikroakustisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung
DE102013102223B4 (de) * 2013-03-06 2014-09-18 Epcos Ag Miniaturisiertes Mehrkomponentenbauelement und Verfahren zur Herstellung
JP6130757B2 (ja) * 2013-09-04 2017-05-17 本田技研工業株式会社 光電変換材料及びその製造方法と、それを用いた有機薄膜太陽電池
DE102014117238B4 (de) * 2014-11-25 2017-11-02 Snaptrack, Inc. BAW-Resonator mit verringerter Eigenerwärmung, HF-Filter mit BAW-Resonator, Duplexer mit HF-Filter und Verfahren zur Herstellung
DE102016111911A1 (de) * 2016-06-29 2018-01-04 Snaptrack, Inc. Bauelement mit Dünnschicht-Abdeckung und Verfahren zur Herstellung
DE102017129160B3 (de) * 2017-12-07 2019-01-31 RF360 Europe GmbH Elektroakustisches Resonatorbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
CN109474254B (zh) * 2018-10-31 2020-12-08 武汉衍熙微器件有限公司 一种声波器件及其制作方法

Family Cites Families (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4028648A (en) * 1976-03-08 1977-06-07 Texas Instruments Incorporated Tunable surface wave device resonator
DE4328794A1 (de) * 1993-08-26 1995-03-02 Siemens Ag Gehäuse für OFW-Bauelemente
DE19839422A1 (de) * 1998-08-29 2000-03-02 Asea Brown Boveri Explosionsschutz für Halbleitermodule
US6566983B2 (en) 2000-09-02 2003-05-20 Lg Electronics Inc. Saw filter using a carbon nanotube and method for manufacturing the same
JP2002290199A (ja) 2001-03-28 2002-10-04 Mitsubishi Electric Corp 弾性表面波装置
US6818464B2 (en) * 2001-10-17 2004-11-16 Hymite A/S Double-sided etching technique for providing a semiconductor structure with through-holes, and a feed-through metalization process for sealing the through-holes
US7208191B2 (en) 2002-04-23 2007-04-24 Freedman Philip D Structure with heat dissipating device and method
JP2004222244A (ja) 2002-12-27 2004-08-05 Toshiba Corp 薄膜圧電共振器およびその製造方法
US20040166603A1 (en) * 2003-02-25 2004-08-26 Carley L. Richard Micromachined assembly with a multi-layer cap defining a cavity
JP4229122B2 (ja) 2003-05-26 2009-02-25 株式会社村田製作所 圧電電子部品、およびその製造方法、通信機
DE10328373B4 (de) * 2003-06-24 2015-10-08 Continental Automotive Gmbh Piezoelektrisches Bauteil mit Temperiervorrichtung und Verwendung des Bauteils
JP2005057707A (ja) 2003-08-07 2005-03-03 Sony Corp 薄膜バルク音響共振子およびマイクロ電気機械システムデバイス
JP4575075B2 (ja) 2003-08-12 2010-11-04 パナソニック株式会社 電気機械フィルタ、これを用いた電気回路および電気機器
DE10345157B4 (de) * 2003-09-29 2009-01-08 Qimonda Ag Wärmeleitende Verpackung von elektronischen Schaltungseinheiten
JP2005137970A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Toyota Motor Corp 水素貯蔵体及びその製造方法、並びに、水素貯蔵タンク
WO2005099088A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-20 Cypress Semiconductor Corp. Integrated circuit having one or more conductive devices formed over a saw and/or mems device
JP4548088B2 (ja) 2004-10-20 2010-09-22 セイコーエプソン株式会社 弾性表面波装置
US7553695B2 (en) * 2005-03-17 2009-06-30 Hymite A/S Method of fabricating a package for a micro component
GB0507639D0 (en) 2005-04-15 2005-05-25 Caledus Ltd Downhole swivel sub
AT501760B1 (de) 2005-06-14 2006-11-15 Electrovac Anordnung zur druckmessung
US20070035364A1 (en) 2005-08-11 2007-02-15 Uppili Sridhar Titanium-tungsten alloy based mirrors and electrodes in bulk acoustic wave devices
TWI298520B (en) 2005-09-12 2008-07-01 Ind Tech Res Inst Method of making an electroplated interconnection wire of a composite of metal and carbon nanotubes
JP2007325013A (ja) 2006-06-01 2007-12-13 Alps Electric Co Ltd 表面弾性波装置の製造方法及び表面弾性波装置
JP5559542B2 (ja) 2006-11-06 2014-07-23 エージェンシー フォー サイエンス,テクノロジー アンド リサーチ ナノ粒子カプセル封入バリアスタック
JP4992908B2 (ja) * 2006-11-13 2012-08-08 株式会社村田製作所 弾性境界波素子、弾性境界波装置及び弾性境界波装置の製造方法
US20080131658A1 (en) 2006-12-05 2008-06-05 Vijay Wakharkar Electronic packages and components thereof formed by co-deposited carbon nanotubes
JP2008210895A (ja) 2007-02-23 2008-09-11 Matsushita Electric Works Ltd 圧電体薄膜の製造方法、共振装置およびそれを用いたuwb用フィルタ
DE102007016995A1 (de) 2007-04-11 2008-10-16 Beyer, André Verfahren zum Übertragen einer Nanoschicht
AU2008314512B2 (en) 2007-10-19 2014-07-24 University Of Wollongong Process for the preparation of graphene
US20090117386A1 (en) * 2007-11-07 2009-05-07 Honeywell International Inc. Composite cover
DE102008001000B4 (de) 2008-04-04 2010-02-18 Leibniz-Institut Für Festkörper- Und Werkstoffforschung Dresden E.V. Schichtsystem für Elektroden
US20100218801A1 (en) * 2008-07-08 2010-09-02 Chien-Min Sung Graphene and Hexagonal Boron Nitride Planes and Associated Methods
US20100084697A1 (en) 2008-10-02 2010-04-08 Kopp Thilo Novel capacitors and capacitor-like devices
US8222799B2 (en) 2008-11-05 2012-07-17 Bayer Materialscience Ag Surface deformation electroactive polymer transducers
US8237324B2 (en) 2008-12-10 2012-08-07 The Regents Of The University Of California Bistable electroactive polymers
US8343806B2 (en) * 2009-03-05 2013-01-01 Raytheon Company Hermetic packaging of integrated circuit components
JP5500850B2 (ja) 2009-03-31 2014-05-21 日立造船株式会社 カーボンナノチューブの製造方法
WO2010137592A1 (ja) 2009-05-26 2010-12-02 株式会社インキュベーション・アライアンス 炭素材料及びその製造方法
KR101232747B1 (ko) 2009-12-03 2013-02-14 한국전자통신연구원 그라핀이 포함된 고분자 구동기 및 그의 제조방법
JP5038452B2 (ja) 2010-03-23 2012-10-03 京セラ株式会社 弾性表面波装置および通信装置
US9153764B2 (en) 2011-03-08 2015-10-06 Nokia Technologies Oy Apparatus for transducing a surface acoustic wave
DE102012108106B4 (de) * 2012-08-31 2016-06-16 Epcos Ag MEMS Bauteil und Verfahren zur Herstellung eines mit akustischen Wellen arbeitenden MEMS Bauteils

Also Published As

Publication number Publication date
CN103283146B (zh) 2019-11-19
JP2014502815A (ja) 2014-02-03
DE102010056562A1 (de) 2012-07-05
US9807917B2 (en) 2017-10-31
CN103283146A (zh) 2013-09-04
US20130343028A1 (en) 2013-12-26
WO2012089443A1 (de) 2012-07-05
DE102010056562B4 (de) 2018-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5727625B2 (ja) 電子デバイス及び電子デバイスの製造方法
KR101856057B1 (ko) 체적 음향 공진기, 체적 음향 공진기의 제조방법 및 체적 음향 공진기를 이용한 rf 디바이스
US9929716B2 (en) Acoustic resonator and method of manufacturing the same
CN102957394B (zh) 振动元件、振子、电子装置、电子设备、移动体及振动元件的制造方法
CN106067780B (zh) 体声波谐振器及其制造方法
CN110719082B (zh) 声波谐振器封装件
US20160016790A1 (en) Miniaturized Component and Method for the Production Thereof
US8664837B2 (en) Piezoelectric device and method for fabricating the same
TW201109268A (en) Capacitive electro-mechanical transducer, and fabrication method of the same
US20150021290A1 (en) Method for fabricating acoustic wave device
US10447411B2 (en) Acoustic wave device and method of manufacturing the same
JP2007195145A (ja) 電子部品パッケージ
CN105247785A (zh) 声表面波装置
CN111010109A (zh) 释放孔位于封装空间外的mems器件的封装
US11177789B2 (en) Acoustic wave device and method of manufacturing the same
JP5585389B2 (ja) 弾性波素子及びその製造方法
JP2019103127A (ja) 弾性波装置
JP6015010B2 (ja) 振動素子、振動子、発振器および電子機器
WO2021172588A1 (ja) センサ装置およびその製造方法
US20230421132A1 (en) Resonator device
US20220200565A1 (en) Bulk-acoustic wave resonator package
JP2010177984A (ja) 圧電振動子および圧電デバイス
US20230179172A1 (en) Acoustic resonator filter and acoustic resonator package
US20220199892A1 (en) Piezoelectric vibrator and manufacturing method therefor
US20220399874A1 (en) Acoustic wave resonator package

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140930

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141008

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20150107

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150202

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150318

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150402

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5727625

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees