JP5700532B2

JP5700532B2 - インタフェース障害処理方式、情報処理装置及びインタフェース障害処理方法

Info

Publication number: JP5700532B2
Application number: JP2011029666A
Authority: JP
Inventors: 望月　聡; 聡望月
Original assignee: NEC Platforms Ltd
Current assignee: NEC Platforms Ltd
Priority date: 2011-02-15
Filing date: 2011-02-15
Publication date: 2015-04-15
Anticipated expiration: 2031-02-15
Also published as: JP2012168769A

Description

本発明は、インタフェース障害処理方式、情報処理装置及びインタフェース障害処理方法に関する。

従来、情報処理装置に故障が発生した場合には、障害発生を契機として情報処理装置が該当装置の障害情報を採取し、その採取した障害情報の内容を解析することで故障箇所を特定することが行われていた。故障特定方法に関する技術は、例えば特許文献１及び２に開示されている。

特開平０７−１４３０３８号公報特開平０７−２０２８２６号公報特開平０８−２７８９２４号公報特開２００５−０１８７６２号公報

情報処理装置のインタフェース障害が発生した場合には、インタフェースを介して互いに接続された両端の装置についての障害情報を解析することで、故障箇所の特定が行われる。しかし、故障箇所の特定に有効な情報が無い場合には、両端の装置を交換しなければならなかった。

上記した問題を改善するために、障害の発生を契機として両端の装置に対して自動で診断試験を実施する方法がある。具体的には、障害の発生後に、装置間の接続を論理的に切り離した状態で、各装置に対しインタフェース部の折り返し試験を行い、障害が再現したときには該当装置の交換を行うものである。

しかしながら、診断試験を実施したにもかかわらず障害が再現しなかった場合には、故障箇所の特定が困難となるため、これまでと同様に、両端の装置を交換しなければならないという課題があった。

なお、本発明に関連する他の技術として、特許文献３には、入出力制御装置（ＩＯＣ１）６、入出力装置（ＩＯ１）７を対象として障害発生時における診断試験を可能とする技術が開示されている。また、特許文献４には、動作状況の極端な場合における電子システムのコンポーネントの信頼性を評価するために、これらのマージンにおいてコンポーネントを試験（マージン試験）し、マージン試験の信頼性を高めて実行することを可能とするシステムおよび方法が開示されている。特許文献４では、例えば、コンポーネントの印加電圧や駆動周波数などを、選択された範囲にわたって変化させることで、コンポーネントを試験している。特許文献４に開示される電子システムでは、割り込み信号のマスクに基づいて、システムの通常動作中における電圧障害の発生に対応すると共に、電圧マージン試験における障害からの影響を回避する構成となっている。

本発明の第１の態様に係る障害処理方式は、情報処理装置が有するインタフェースの障害を処理する障害処理方式であって、前記情報処理装置は、前記インタフェースの診断試験の実行を含む前記インタフェースの制御を行うインタフェース制御手段と、前記インタフェースに障害が発生した場合に、前記診断試験の実施を通知すると共に、前記診断試験の実行の指示を前記インタフェース制御手段に行う障害処理制御手段と、前記障害処理制御手段からの前記診断試験の実施通知を受けて、前記診断試験実行時の動作環境の変更を指示する変更指示手段と、前記変更指示手段からの変更指示を受けて、前記診断試験実行時における動作電源電圧及び動作周波数を選択し、当該選択した設定値を通知する動作環境選択手段と、前記動作環境選択手段からの設定値の通知を受けて、前記動作電源電圧の設定値を前記インタフェース制御手段に設定する電源制御手段と、前記動作環境選択手段からの設定値の通知を受けて、前記動作周波数の設定値を前記インタフェース制御手段に設定するＣＬＫ制御手段と、を含むものである。

本発明の第２の態様に係る情報処理装置は、インタフェースを有する情報処理装置であって、前記インタフェースの診断試験の実行を含む前記インタフェースの制御を行うインタフェース制御手段と、前記インタフェースに障害が発生した場合に、前記診断試験の実施を通知すると共に、前記診断試験の実行の指示を前記インタフェース制御手段に行う障害処理制御手段と、前記障害処理制御手段からの前記診断試験の実施通知を受けて、前記診断試験実行時の動作環境の変更を指示する変更指示手段と、前記変更指示手段からの変更指示を受けて、前記診断試験実行時における動作電源電圧及び動作周波数を選択し、当該選択した設定値を通知する動作環境選択手段と、前記動作環境選択手段からの設定値の通知を受けて、前記動作電源電圧の設定値を前記インタフェース制御手段に設定する電源制御手段と、前記動作環境選択手段からの設定値の通知を受けて、前記動作周波数の設定値を前記インタフェース制御手段に設定するＣＬＫ制御手段と、を備えるものである。

本発明の第３の態様に係る障害処理方法は、情報処理装置が有するインタフェースの障害を処理する障害処理方法であって、前記情報処理装置が、前記インタフェースの診断試験の実行を含む前記インタフェースの制御を行うステップと、前記情報処理装置が、前記インタフェースに障害が発生した場合に、前記診断試験の実施を通知すると共に、前記診断試験の実行の指示を行うステップと、前記情報処理装置が、前記診断試験の実施通知を受けて、前記診断試験実行時の動作環境の変更を指示するステップと、前記情報処理装置が、前記変更指示を受けて、前記診断試験実行時における動作電源電圧及び動作周波数を選択し、当該選択した設定値を通知するステップと、前記情報処理装置が、前記設定値の通知を受けて、前記動作電源電圧の設定値として設定するステップと、前記情報処理装置が、前記設定値の通知を受けて、前記動作周波数の設定値として設定するステップと、を含むものである。

本発明によれば、障害発生を契機として診断試験を実施する際に、情報処理装置が自ら動作電圧やクロック周波数などの動作環境を変更可能として、障害の再現性を加速させることが可能なインタフェース障害処理方式、情報処理装置及びインタフェース障害処理方法を提供することができる。

本発明の概要を説明するための図である。実施の形態１にかかるシステムの概要構成図である。実施の形態１にかかる情報処理装置の詳細構成図である。実施の形態１にかかるインタフェース障害処理方式の動作のフローチャートである。本発明に関連する技術の動作のフローチャートである。

本発明は、情報処理装置間でインタフェース障害が発生した際に、その故障箇所を特定するため、障害を契機として自動で診断試験を実施する装置に関する。本発明は、前記診断試験を実施する際に、ハードウェア制御に従って動作環境（動作電圧やクロック周波数）を自動で変更する機能を備えていることを特徴としている。動作環境を変更することで障害の再現性を加速させることができ、再現時には故障箇所の特定が可能となるため、交換装置の個数を削減することが可能となる。

ここで、本発明の実施の形態について説明する前に、図１を参照して本発明の原理及び特徴について説明する。
図１に示すように、情報処理装置２０１は、インタフェース２０２と、インタフェース制御手段２０３と、障害処理制御手段２０４と、変更指示手段２０５と、動作環境選択手段２０６と、電源制御手段２０７と、ＣＬＫ制御手段２０８と、を備えている。

インタフェース制御手段２０３は、インタフェース２０２の診断試験の実行を含むインタフェース２０２の制御を行う。障害処理制御手段２０４は、インタフェース２０２に障害が発生した場合に、診断試験の実施を通知すると共に、診断試験の実行の指示を３インタフェース制御手段２０３に行う。変更指示手段２０５は、障害処理制御手段２０４からの診断試験の実施通知を受けて、診断試験実行時の動作環境の変更を指示する。

動作環境選択手段２０６は、変更指示手段２０５からの変更指示を受けて、診断試験実行時における動作電源電圧及び動作周波数を選択し、当該選択した設定値を通知する。電源制御手段２０７は、動作環境選択手段２０６からの設定値の通知を受けて、動作電源電圧の設定値をインタフェース制御手段２０３に設定する。ＣＬＫ制御手段２０８は、動作環境選択手段２０６からの設定値の通知を受けて、動作周波数の設定値をインタフェース制御手段２０３に設定する。

実施の形態１．
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
図２は、本実施の形態に係るインタフェース障害処理方式が適用されるシステムの概要構成を例示する図である。
システム１００は、情報処理装置Ａ（以下、符号１０を用いて、単に情報処理装置１０と称する場合がある。）と、情報処理装置Ｂ（以下、符号２０を用いて、単に情報処理装置２０と称する場合がある。）と、を含んでいる。情報処理装置Ａはインタフェース部Ａ−１（以下、符号１１０を用いて、単にインタフェース部１１０と称する場合がある。）を有しており、情報処理装置Ｂはインタフェース部Ｂ−１（符号１２０）を有している。

図３は、図２に示した情報処理装置の詳細な構成を例示する図である。
情報処理装置１０は、インタフェース部１１０と、インタフェース制御手段１１と、障害処理制御手段１２と、変更指示手段１３と、動作環境選択手段１４と、電源制御手段１５と、ＣＬＫ制御手段１６と、を備えている。

インタフェース制御手段１１は、情報処理装置間のインタフェース（インタフェース部１１０）を制御する。また、インタフェース制御手段１１は、信号１を用いて、障害発生の通知と診断試験の結果の通知とを、障害処理制御手段１２に対して行う。

障害処理制御手段１２は、障害発生時において診断試験の実行を指示するなどの障害処理を制御する。障害処理制御手段１２は、信号２１を用いて、診断試験の実行の指示を、インタフェース制御手段１１に対して行う。また、障害処理制御手段１２は、信号２２を用いて、診断試験の実施の通知を変更指示手段１３に対して行う。

変更指示手段１３は、情報処理装置１０の動作電源電圧（以下、単に動作電圧と称する場合がある。）や動作周波数（以下、単にＣＬＫ周波数と称する場合がある。）の変更の指示と、診断の実施回数のカウントを行う。変更指示手段１３は、診断の実施回数をカウントする診断実施回数カウンタ１３１を備えている。変更指示手段１３は、信号３を用いて、動作電圧及びＣＬＫ周波数の変更の指示の通知と、変更指示回数の通知と、を動作環境選択手段１４に対して行う。

動作環境選択手段１４は、動作電圧やＣＬＫ周波数の設定値の選択と、選択した設定値の通知を行う。動作環境選択手段１４は、ＣＬＫ設定値選択部１４１と、電圧設定値選択部１４２と、設定値通知部１４３と、を備えている。動作環境選択手段１４は、信号４１を用いて、選択した電圧設定値の通知を、電源制御手段１５に対して行う。動作環境選択手段１４は、信号４２を用いて、選択したＣＬＫ設定値の通知を、ＣＬＫ制御手段１６に対して行う。動作環境選択手段１４は、信号４３を用いて、選択パターンが無いことの通知を、障害処理制御手段１２に対して行う。

電源制御手段１５は、インタフェース制御手段１１に電源電圧の設定値を設定する。電源制御手段１５は、信号５１を用いて、電圧変更をインタフェース制御手段１１に行い、これに対して、インタフェース制御手段１１からは、信号５２を用いての変更完了が応答される。

ＣＬＫ制御手段１６は、インタフェース制御手段１１に周波数の設定値を設定する。ＣＬＫ制御手段１６は、信号６１を用いて、周波数変更をインタフェース制御手段１１に行い、これに対して、インタフェース制御手段１１からは、信号６２を用いての変更完了が応答される。また、電源制御手段１５及びＣＬＫ制御手段１６は、それぞれ信号５を用いて、変更完了の通知を、障害処理制御手段１２に対して行う。

上記した構成に基づき、診断試験実施時には情報処理装置１０の動作電圧やＣＬＫ周波数を変更することで、障害の再現性を加速させることができる。

次に、図４を参照して、本実施の形態にかかるインタフェース障害処理方式の動作を説明する。図４は、図２及び図３に示したシステム１００に適用されたインタフェース障害処理方式の動作フローを示している。また、本実施の形態による動作フローと比較するため、図５には、本発明に関連する技術の動作フローを示している。

なお、以下の説明では、情報処理装置１０及び情報処理装置２０の間でインタフェース障害が発生した場合における、情報処理装置１０についての動作を説明する。情報処理装置２０についても情報処理装置１０と同様の動作を行うため、情報処理装置２０の動作についてはその説明を省略する。

インタフェース制御手段１１は、障害処理制御手段１２に障害発生を通知する（Ｓ１０１）。障害処理制御手段１２は、障害情報を解析し、故障箇所を特定するための有効な情報が有るか否かを確認する（Ｓ１０２）。なお、確認の結果、有効な情報が有る場合には、障害処理制御手段１２は、保守員に対してインタフェース部１１０の交換を通知し、本障害処理を終了する。

確認の結果、有効な情報が無い場合には、障害処理制御手段１２は、変更指示手段１３に診断試験の実施を通知する（Ｓ１０３）。変更指示手段１３は、動作環境選択手段１４に動作電圧やＣＬＫ周波数の変更を指示するとともに、診断実施回数を指示回数としてカウントして、その指示回数を動作環境選択手段１４に通知する（Ｓ１０４）。なお、指示回数のカウンタは、例えば診断試験によって障害が再現した場合など、本障害処理が終了したときにリセットされる。

動作環境選択手段１４は、指示回数に基づいて、動作電圧やＣＬＫ周波数の設定値を選択する（Ｓ１０５）。設定値の選択は、指示回数（診断実施回数）に基づき、予め定めたパターンから選択する。または、インタフェース制御手段１１が動作可能な範囲内で、設定値を自由に選択できるようにしてもよい。

動作環境選択手段１４は、選択パターンの有無を確認し（Ｓ１０６）、選択パターンが残っている場合には（Ｓ１０６で「Ｎ」の場合）、選択した設定値を電源制御手段１５やＣＬＫ制御手段１６に通知する（Ｓ１０７）。なお、選択パターンが尽きた場合には（Ｓ１０６で「Ｙ」の場合）、保守作業にて両端の装置を交換し、処理を終了する（Ｓ１１３）。

電源制御手段１５及びＣＬＫ制御手段１６は、それぞれインタフェース制御手段１１に選択された電圧及び周波数を設定する（Ｓ１０８）。インタフェース制御手段１１は、電源制御手段１５及びＣＬＫ制御手段１６からの設定に対して、設定完了をリプライする（Ｓ１０９）。これにより、インタフェース制御手段１１の動作環境が変更される。

電源制御手段１５及びＣＬＫ制御手段１６は、障害処理制御手段に設定完了を通知する（Ｓ１１０）。障害処理制御手段１２は、インタフェース制御手段１１に対して診断試験の実行を指示する（Ｓ１１１）。

インタフェース制御手段１１がインタフェース部１１０について診断試験を実行した結果、診断試験において障害が再現した場合には（Ｓ１１１で「Ｙ」の場合）、障害処理制御手段１２は、保守員に対してインタフェース部１１０の交換を通知し（Ｓ１１２）、本障害処理を終了する。

障害が不再現だった場合には（Ｓ１１１で「Ｎ」の場合）、障害処理制御手段１２は、変更指示手段１３に診断試験の再実施を通知する（Ｓ１１４）。そして、障害処理はＳ１０４へと戻り、変更指示手段１３は、診断実施回数をカウントアップし、変更指示と合わせて動作環境選択手段１４に通知する。動作環境選択手段１４は、別の設定パターンを選択するなど、以降同様の処理により診断試験を実施する。障害が再現するか選択パターンが尽きるまで上記処理を繰り返す。

以上説明したように、本実施の形態に係るインタフェース障害処理方式では、インタフェース障害発生を契機として両端の装置に対して自動で診断試験を実施する際に、ハードウェア制御に従って動作電圧やＣＬＫ周波数を変更する機能を備えている。これにより障害の再現性を加速させることができ、障害の再現時には故障箇所の特定が可能となるため、必要とする交換装置の個数を削減することができる。

なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。

１００システム、
１０情報処理装置Ａ、
１１インタフェース制御手段、
１２障害処理制御手段、
１３変更指示手段、
１３１診断実施回数カウンタ、
１４動作環境選択手段、
１４１ＣＬＫ設定値選択部、
１４２電圧設定値選択部、
１４３設定値通知部、
１５電源制御手段、
１６ＣＬＫ制御手段、
１１０インタフェース部Ａ−１、
２０情報処理装置Ｂ、
１２０インタフェース部Ｂ−１
２０１情報処理装置、
２０２インタフェース部、
２０３インタフェース制御手段、
２０４障害処理制御手段、
２０５変更指示手段、
２０６動作環境選択手段、
２０７電源制御手段、
２０８ＣＬＫ制御手段、

Claims

情報処理装置が有するインタフェースの障害を処理する障害処理方式であって、
前記情報処理装置は、
前記インタフェースの診断試験の実行を含む前記インタフェースの制御を行うインタフェース制御手段と、
前記インタフェースに障害が発生した場合に、前記診断試験の実施を通知すると共に、前記診断試験の実行の指示を前記インタフェース制御手段に行う障害処理制御手段と、
前記障害処理制御手段からの前記診断試験の実施通知を受けて、前記診断試験実行時の動作環境の変更を指示する変更指示手段と、
前記変更指示手段からの変更指示を受けて、前記診断試験実行時における動作電源電圧及び動作周波数を選択し、当該選択した設定値を通知する動作環境選択手段と、
前記動作環境選択手段からの設定値の通知を受けて、前記動作電源電圧の設定値を前記インタフェース制御手段に設定する電源制御手段と、
前記動作環境選択手段からの設定値の通知を受けて、前記動作周波数の設定値を前記インタフェース制御手段に設定するＣＬＫ制御手段と、
を含み、
障害が不再現だった場合に、前記障害処理制御手段は、前記変更指示手段に前記診断試験の再実施を通知し、前記変更指示手段は、前記障害処理制御手段からの前記診断試験の再実施の通知を受けて、前記診断試験実行時の動作環境の変更を再び指示し、前記動作環境選択手段は、前記変更指示手段からの再度の変更指示を受けて、前記設定値に関する別の設定パターンを選択する
ことを特徴とするインタフェース障害処理方式。
前記動作環境選択手段は、
前記変更指示手段からの変更指示の指示回数に基づいて、前記診断試験実行時における動作電源電圧及び動作周波数を選択する
ことを特徴とする請求項１に記載のインタフェース障害処理方式。
前記変更指示手段は、
前記障害処理制御手段からの前記診断試験の実施通知をカウントする診断実施回数カウンタを含み、当該診断実施回数カウンタのカウント値を前記指示回数として前記動作環境選択手段に通知する
ことを特徴とする請求項２に記載のインタフェース障害処理方式。
前記動作環境選択手段は、
前記変更指示手段からの変更指示を受けて、前記診断試験実行時における動作電源電圧を選択する電圧設定値選択部と、
前記変更指示手段からの変更指示を受けて、前記診断試験実行時における動作周波数を選択するＣＬＫ設定値選択部と、
前記電圧設定値選択部で選択した設定値を前記電源制御手段に通知し、また、前記ＣＬＫ設定値選択部で選択した設定値を前記ＣＬＫ制御手段に通知する設定値通知部と、
を含むことを特徴とする請求項１乃至３いずれか１項に記載のインタフェース障害処理方式。
インタフェースを有する情報処理装置であって、
前記インタフェースの診断試験の実行を含む前記インタフェースの制御を行うインタフェース制御手段と、
前記インタフェースに障害が発生した場合に、前記診断試験の実施を通知すると共に、前記診断試験の実行の指示を前記インタフェース制御手段に行う障害処理制御手段と、
前記障害処理制御手段からの前記診断試験の実施通知を受けて、前記診断試験実行時の動作環境の変更を指示する変更指示手段と、
前記変更指示手段からの変更指示を受けて、前記診断試験実行時における動作電源電圧及び動作周波数を選択し、当該選択した設定値を通知する動作環境選択手段と、
前記動作環境選択手段からの設定値の通知を受けて、前記動作電源電圧の設定値を前記インタフェース制御手段に設定する電源制御手段と、
前記動作環境選択手段からの設定値の通知を受けて、前記動作周波数の設定値を前記インタフェース制御手段に設定するＣＬＫ制御手段と、
を備え、
障害が不再現だった場合に、前記障害処理制御手段は、前記変更指示手段に前記診断試験の再実施を通知し、前記変更指示手段は、前記障害処理制御手段からの前記診断試験の再実施の通知を受けて、前記診断試験実行時の動作環境の変更を再び指示し、前記動作環境選択手段は、前記変更指示手段からの再度の変更指示を受けて、前記設定値に関する別の設定パターンを選択する
ことを特徴とする情報処理装置。
情報処理装置が有するインタフェースの障害を処理する障害処理方法であって、
前記情報処理装置が、前記インタフェースの診断試験の実行を含む前記インタフェースの制御を行うステップと、
前記情報処理装置が、前記インタフェースに障害が発生した場合に、前記診断試験の実施を通知すると共に、前記診断試験の実行の指示を行うステップと、
前記情報処理装置が、前記診断試験の実施通知を受けて、前記診断試験実行時の動作環境の変更を指示するステップと、
前記情報処理装置が、前記変更指示を受けて、前記診断試験実行時における動作電源電圧及び動作周波数を選択し、当該選択した設定値を通知するステップと、
前記情報処理装置が、前記設定値の通知を受けて、前記動作電源電圧の設定値として設定するステップと、
前記情報処理装置が、前記設定値の通知を受けて、前記動作周波数の設定値として設定するステップと、
を含み、
障害が不再現だった場合に、前記情報処理装置が、前記診断試験実行時の動作環境の変更を再び指示し、
前記情報処理装置が、再度の変更指示を受けて、前記設定値に関する別の設定パターンを選択する
ことを特徴とするインタフェース障害処理方法。