JP2002312164A

JP2002312164A - 試験用命令列生成装置

Info

Publication number: JP2002312164A
Application number: JP2001117977A
Authority: JP
Inventors: Sachihiro Iga; 祥博伊賀
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2001-04-17
Filing date: 2001-04-17
Publication date: 2002-10-25

Abstract

(57)【要約】【課題】情報処理装置を構成する各構成機構を試験する
ため、自動的に意図した負荷を複数の機構に与える試験
命令列を作成する命令生成装置を提供すること。【解決手段】このため、本発明では、情報処理装置が実
装している機構の種類と、この機構を同時に並列実行可
能な数を示す並列実行可能数と、前記各機構を同時に並
列実行可能な最小数から最大数までの試験パターンを指
定する試験機構選択表示手段３０と、試験命令列選択手
段に保持された試験パターンにより試験命令列を選択
し、この試験命令列を構成する各機構用命令を個々の命
令に分解し、試験パターンにしたがって分解した命令列
を順番に並べて新命令列を作成する新命令列作成手段５
０と、情報処理装置に実装されている前記機構のいくつ
かを並列動作する低負荷状態から高負荷状態までを前記
新命令列により発生させ、各種の負荷状態で情報処理装
置の機構の試験を行うことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばパイプライ
ン、スーパースケーラ、スーパーパイプラインなどの複
数の演算器機能を有するプロセッサの動作を検証するた
めの試験用命令列を生成する試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】情報処理装置の機能または機構上の設計
が仕様の通りに設計されているか否かを検証するための
論理シミュレーション、あるいは製造された情報処理装
置が仕様の通りに動作するか否かを検証するための動作
試験を行うためには、情報処理装置上で試験命令を動作
させて機能または機構の試験を行う試験プログラム即ち
試験用命令列の作成が必要である。

【０００３】情報処理装置は、一般に記憶部、演算部、
命令順序制御部などで構成されており、ソフトウェアプ
ログラムがメモリに記憶されていて、プログラムの実行
順序に従って記憶部からデータを取り出して演算器で実
行して、記憶部に演算データを書き戻す処理を高速で行
うように設計され、複数の演算の同時実行、スーパース
ケーラ機構では演算器での実行順序をソフトウェアプロ
グラムの指示とは別に実行データが準備できた順番に演
算器で実行して内部に蓄積しておいて、プログラムシー
ケンスの通りに命令を実際に終了させるような複雑な制
御を行っている。従ってこの機構や機能の動作に間違い
が無いことを検証することが重要である。

【０００４】これを検証するための従来の試験プログラ
ムは次のようにして作成されている。

【０００５】（方法１）試験命令列を人が考えて、人手
により作成する。

【０００６】（方法２）情報処理装置自身でランダム
（無作為）に試験命令列を作成する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、前記（方法
１）では、人手により試験命令列を作成するために、個
々の条件に基づいて条件が発生するように命令列を作成
すると、条件の要素数と同時実行可能な条件、前後の試
験の条件など、それらの組合せの増加にしたがって、級
数的に作成時間が増加する。さらに試験命令列が正しく
作成されたかをチェックするため、個々について試験が
必要である。

【０００８】また（方法２）では命令作成に時間がかか
り、時間が限られている論理シミュレーションでは命令
列の生成ができない。またランダムに命令列が作成され
るために連続した負荷を発生させる命令列、負荷の変動
や意図した負荷を起こす命令列の作成が難しく、意図的
に命令列の作成を行わせるとランダムではなくなってし
まう。

【０００９】したがって本発明の目的は、このような問
題点を解決した試験用命令列を生成する試験装置を提供
することである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の原理を図１に示
す。図１において、２０は命令列、２１ａ、２１ｂ・・
・はロード・ストア命令列、２２ａ、２２ｂ・・・は浮
動小数点演算命令列、２３ａ、２３ｂ・・・は固定小数
点演算命令列、３０は試験機構選択表、３１は試験機
構、３２は並列実行可能数、３３は試験パターン選択カ
ウンタ、４０は試験命令列選択表、４１は試験命令列、
４２は命令列番号、４３は試験パターン、４４はストー
ル試験パターン、５０は新命令列作成手段、５２は初期
化命令列、５３は動作命令列、５６は比較命令列であ
る。

【００１１】試験機構３１は、図１（Ｃ）に示す如く、
ロード・ストア機構、浮動小数点演算器、固定小数点演
算器、論理演算部・・・等であり、選択対象は、各試験
機構毎に設けられた試験パターン選択カウンタ３３が０
以外の数を表示することで示される。図１（Ｃ）の場合
はロード・ストア機構、浮動小数点演算器、固定小数点
演算器が試験に選択されたことが示され、論理演算部や
制御演算部は、それぞれ０表示のため選択されなかった
ことを示している。

【００１２】図１（Ｃ）の試験パターン選択カウンタ３
３の指示により、ロード・ストア機構では、同図（Ｂ）
の試験パターン４３のうちの太枠で示される番号１のパ
ターン、つまり丸印の付与された２１ａが選択されるこ
とが指示される。浮動小数点演算器では試験パターン選
択カウンタ３３の「２」という指示により、同図（Ｂ）
の試験パターン４３のうち太枠で示される番号２のパタ
ーン、つまり丸印の付与された２２ｂが選択されること
が指示され、同様にして固定小数点演算器では、同図
（Ｂ）の番号３の太枠内の丸印の付与された２３ａ、２
３ｂが選択されたことが示される。

【００１３】この選択された命令列が新命令列作成手段
５０に伝達され、各命令列が最初から順次横方向に抽出
されて、初期化命令列５２、動作命令列５３、比較命令
列５６が作成され、各命令が順次動作され、動作結果が
比較命令列５６により、あらかじめ用意された期待値と
比較され、動作結果の正否が判定される。

【００１４】このような動作が、試験パターン選択カウ
ンタ３３をそれぞれ動作させることにより試験パターン
を変更して各種の試験パターンを実行することができ
る。また試験機構を選択することにより各試験機構を選
択しながら、その全体を試験することができる。

【００１５】本発明の前記目的は、下記（１）〜（５）
により達成することができる。

【００１６】（１）情報処理装置が実装している機構の
種類と、この機構を同時に並列実行可能な数を示す並列
実行可能数と、前記各機構を同時に並列実行可能な最小
数から最大数までの試験パターンを指定する試験機構選
択表示手段と、試験命令列選択手段に保持された試験パ
ターンにより試験命令列を選択し、この試験命令列を構
成する各機構用命令を個々の命令に分解し、試験パター
ンにしたがって分解した命令列を順番に並べて新命令列
を作成する新命令列作成手段と、情報処理装置に実装さ
れている前記機構のいくつかを同時に並列動作する低負
荷状態から全機構が同時に並列動作する高負荷状態まで
を前記新命令列により発生させ、各種の負荷状態で情報
処理装置の機構の試験を行うことを可能にしたことを特
徴とする試験用命令列生成装置。

【００１７】（２）前記試験命令列選択手段に設けた試
験パターンに、試験機構の並列実行可能な命令数を超え
る数の命令を実行するストール試験パターンを設けてお
き、試験を実行することにより情報処理装置の動作に異
常がないか否かを試験することを可能としたことを特徴
とする前記（１）記載の試験用命令列生成装置。

【００１８】（３）前記試験命令列に、被試験装置自身
の動作不良を検出するための命令を設けて新命令列とし
たことを特徴とする前記（１）記載の試験用命令列生成
装置。

【００１９】（４）１つまたは複数の分岐命令、分岐条
件、分岐先に配置する命令列の位置と数を示す分岐情報
表示手段を備え、１つまたは複数の分岐機構を試験し、
さらに分岐機構と他の演算器の並列実行試験を可能とし
たことを特徴とする前記（１）記載の試験用命令列生成
装置。

【００２０】（５）１つまたは複数の分岐命令、ループ
数、分岐条件、分岐先に配置する命令列の位置と数、分
岐失敗側に配置する投機実行試験命令の位置表示する投
機実行分岐試験情報表示手段と、投機実行試験命令を表
示する投機実行試験命令表示手段を備え、１つまたは複
数の分岐予測機構と投機実行機構を試験し、さらに分岐
予測、投機実行機構と他の演算器の並列実行試験を可能
としたことを特徴とする前記（１）記載の試験用命令列
生成装置。

【００２１】これにより下記の作用効果を奏するもので
ある。

【００２２】（１）各機構を試験するために作成した命
令列から並列動作させる命令列を選択し、各命令列の命
令を分離して並べ替えて新しい命令列を作りこれを実行
するので、情報処理装置の機構をきわめて簡単に並列動
作させることができる。

【００２３】（２）試験パターンに試験機構の並列実行
可能な命令数を超える数の命令を実行するストール試験
パターンを設けて試験を行うので、試験機構のストール
試験を簡単に行うことができる。

【００２４】（３）個々の機構試験用命令列内に被試験
装置で実行する命令自身の実行結果の良否を判定する命
令または命令列を入れておき、判定の結果が否なら使用
者に通知するようにしたので、特別に動作不良検出手段
を付加することなく、単に命令列を実行することにより
被試験装置自身の動作不良を検出することができる。

【００２５】（４）１つまたは複数の分岐命令、分岐条
件、分岐先に配置する命令列の位置と数を示す分岐情報
表示手段を有することにより、１つまたは複数の分岐機
構を試験し、さらに分岐機構と他の演算器の並列実行試
験を可能とすることができる。

【００２６】（５）１つまたは複数の分岐予測機構と投
機実行機構を試験し、さらに分岐予測、投機実行機構と
他の演算器の並列実行試験を可能とすることができる。

【００２７】

【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態を図１
〜図４により説明する。図１は本発明の第一の実施の形
態の動作状態説明図、図２は情報処理装置の計画段階や
初期の設計時に提示される性能諸元、図３は本発明にお
いて使用する情報処理装置のうちスーパースケーラ方式
のプロセッサの構成図、図４は本発明の試験用命令列生
成装置の動作フローである。

【００２８】図２において、１１は計画段階や初期の設
計時に提示される情報処理装置の諸元であり、どのよう
な情報処理装置を開発するものかを示しており、情報処
理装置を構成する要素や数で性能を満たすために動作す
る機構や機能を示しているものである。

【００２９】図２の例では、同時命令発行数１１ａ、分
岐予測機能１１ｂ、固定小数点演算器数１１ｃ、浮動小
数点演算器数１１ｄ、命令キャッシュサイズ１１ｅ、デ
ータキャッシュサイズ１１ｆ、外部キャッシュ１１ｇ等
が提示されている。

【００３０】そしてこれにより同時命令発行数１１ａが
８であること、分岐予測機能１１ｂは１／τつまり１ク
ロックに１回予測するものであること、固定小数点演算
器の数１１ｃは２であること、浮動小数点演算器の数１
１ｄは２であり、その１つにグラフィックス演算器が存
在していること、命令キャッシュ１１ｅは３２ＫＢ、４
ＷＡＹであること、データキャッシュ１１ｆは３２Ｋ
Ｂ、４ＷＡＹであること、外部キャッシュ１１ｇは８ま
たは１６ＭＢであり、１または２ＷＡＹであることを示
している。

【００３１】図３において、プロセッサ１２は、命令キ
ャッシュ機構１２ａ、命令フエッチ・分岐予測機構１２
ｂ、命令実行機構１２ｃ、リネーミングレジスタファイ
ル機構１２ｄ、リザベーションステーション１２ｅ、固
定小数点演算器１２ｆ、浮動小数点演算器１２ｇ、ロー
ド・ストア機構１２ｈ、データキャッシュ１２ｉ等を具
備し、外部キャッシュ１２ｊとメモリ１２ｋとともに、
情報処理装置を構成している。

【００３２】本発明の試験用命令列生成装置の構成を図
１により説明する。

【００３３】命令列２０は、試験機構選択表３０に記載
された試験機構３１に対応した試験用の命令列であり、
２１ａはロード・ストア機構１２ｈを試験するための命
令列であり、２１ｂはロード・ストア機構１２ｈを試験
するための命令列である。同様に２２ａは浮動小数点演
算器１２ｇを試験するための命令列、２２ｂは浮動小数
点演算器１２ｇを試験するための命令列、２３ａは固定
小数点演算器１２ｆを試験するための命令列、２３ｂは
固定小数点演算器１２ｆを試験するための命令列であ
る。

【００３４】命令列２１ａから２３ｂのＩＮＩＴ１、２
・・・は各機構試験の命令列において、試験に必要なレ
ジスタやメモリなどの初期化を行うものである。

【００３５】命令列２１ａ、２１ｂ内のＬＯＡＤ１、
２、ＬＯＡＤ３、４はロード命令で指定したアドレスの
メモリからレジスタにロードし、ＳＴＯＲＥ１、２、Ｓ
ＴＯＲＥ３、４はストア命令で指定したアドレスのメモ
リへレジスタをストアする。

【００３６】浮動小数点演算命令列２２ａ内のＦＭＵＬ
１、２は浮動小数点の乗算を行い、ＦＤＩＶ１、２は浮
動小数点の割算を行い、浮動小数点演算命令列２２ｂ内
のＦＡＤＤ１、２は浮動小数点の加算を行い、ＦＳＵＢ
１、２は浮動小数点の減算を行う。

【００３７】固定小数点演算命令列２３ａ内のＡＤＤ
１、２は固定小数点の加算を行い、ＳＵＢ１、２は固定
小数点の減算を行い、固定小数点演算命令列２３ｂ内の
ＭＵＬ１、２は固定小数点の乗算を行い、ＤＩＶ１、２
は固定小数点の割算を行う。

【００３８】そしてロード・ストア機構の命令列２１
ａ、２１ｂにはロード・ストアのメモリをアクセスする
命令が連続し、浮動小数点演算命令列２２ａ、２２ｂに
は浮動小数点演算を行う命令が連続し、固定小数点演算
命令列２３ａ、２３ｂには固定小数点演算を行う命令が
連続している。

【００３９】また命令列２１ａから２３ｂのＣＭＰ１、
２・・・は、各機構試験の命令列であり、試験結果の判
定に必要な比較処理とエラー時に通知するために必要な
処理を行うものである。

【００４０】ロード・ストア命令列２１ａでは、ＬＯＡ
Ｄ１、ＬＯＡＤ２、ＳＴＯＲＥ１、ＳＴＯＲＥ２と、ロ
ード命令とストア命令を繰り返してロード・ストア機構
を動作させる。

【００４１】各命令列には、ロード・ストア命令列２１
ａにおいて２４でＩＮＴ１と代表的に示す如く、初期化
命令を設け、レジスタまたはメモリなど試験対象の初期
設定を行う。ロード・ストア機構ではロードするアドレ
スの設定とロードするレジスタの初期化、ストアではス
トアするデータをレジスタに設定しストアするメモリア
ドレスの設定を行う。他の機構の場合はその機構が必要
とする初期化の処理が行われる。

【００４２】また各命令列には、ロード・ストア命令列
２１ａにおいて２５でＣＭＰ１と代表的に示す如く、比
較命令を設け、レジスタまたはメモリなど試験対象の実
行結果を別に保持した正解値と比較してロード・ストア
機構の試験結果を判定する。他の機構の場合はその機構
が必要とする試験結果判定を行う。

【００４３】同様に浮動小数点演算命令列２２ａ、２２
ｂ・・・では浮動小数点命令の連続により浮動小数点演
算機構を動作させて結果を比較することにより浮動小数
点演算機構の試験を行い、固定小数点演算命令列２３
ａ、２３ｂ・・・では固定小数点命令の連続により固定
小数点演算機構の試験を行う。

【００４４】試験機構選択表３０は、図２に示す性能諸
元１１から抽出した試験機構３１、試験機構が複数実装
されているとき並列に動作可能な数を示す並列実行可能
数３２、各試験機構に対応した試験命令列選択表４０に
おける試験パターンを選択指定する試験パターン選択カ
ウンタ指定値３３等が指示されている。試験パターン選
択カウンタは試験機構３１の数だけ用意され、図１
（Ｃ）の例では、試験機構であるロード・ストア機構、
浮動小数点演算器、固定小数点演算器、論理演算器、制
御演算器用にそれぞれ１個ずつ、合計５個用意されてい
る（図示省略）。試験パターン選択カウンタによる試験
パターンの選択については後述する。

【００４５】試験命令列選択表４０は、試験命令列４１
に指定された試験機構を試験するときに使用する命令列
番号４２を選択する試験パターン４３を指定するもので
ある。試験命令列４１には、試験機構の分類としてロー
ド・ストア機構、浮動小数点演算器、固定小数点演算器
・・・が記載され、これらを試験するための命令列番号
４２と、試験に際して、命令列を選択するための試験パ
ターン４３、ストール試験パターン４４が記載されてい
る。

【００４６】命令列番号４２は、図１（Ａ）に示す命令
列２０のロード・ストア命令列２１ａ、２１ｂ・・・、
浮動小数点演算命令列２２ａ、２２ｂ・・・、固定小数
点演算命令列２３ａ、２３ｂ・・・に対応するものであ
る。そして試験パターン４３は１から６までの番号で、
各機構において○がついている命令列を使用することを
示す。ストール試験パターン４４も、同様であり、スト
ール試験に際して各機構において、７・・・ｍまでの番
号で○がついている命令列を使用することを示す。

【００４７】図１においては、試験機構選択表３０よ
り、ロード・ストア機構に対しては試験パターン選択カ
ウンタの値１より、試験命令列選択表の試験パターン４
３の番号１をよみ、その○印よりロード・ストア機構で
は命令列２１ａを使用すること、浮動小数点演算器に対
しては命令列２２ｂを使用すること、固定小数点演算器
に対しては命令列２３ａ、２３ｂを使用するものである
ことがわかる。

【００４８】新命令列作成手段５０は、試験機構選択表
３０、試験命令列選択表４０を参照して、命令列から命
令を分離・結合して複数機構を同時に並列実行させるた
めの命令列５２、５３、５６を作成するものである。

【００４９】図１に示す例では、前記の如く、ロード・
ストア命令列から２１ａが、浮動小数点演算命令列から
２２ｂが、固定小数点演算命令列から２３ａ、２３ｂが
選択されるので、新命令列作成手段５０は、先ず初期化
命令を結合して、ＩＮＩＴ１、ＩＮＩＴ４、ＩＮＩＴ
５、ＩＮＩＴ６を結合した命令列５２を作る。

【００５０】次に新命令列作成手段５０は、ロード・ス
トア命令列２１ａから初期化命令の次の先頭のＬＯＡ
Ｄ１、浮動小数点演算命令列２２ｂから初期化命令の次
の先頭のＦＡＤＤ１、固定小数点演算命令列２３ａ、
２３ｂから初期化命令の次の先頭のＡＤＤ１、ＭＵ
Ｌ１の順に命令を取り出す。同様に各命令列からＬＤ
ＡＤ２、ＦＡＤＤ２、ＳＵＢ２、ＤＩＶ１、Ｓ
ＴＯＲＥ１、ＦＳＵＢ１、ＡＤＤ２、ＭＵＬ２・・・の
順番に取り出し命令列５３を作成する。そして最後に個
々の機構試験用命令列内に被試験装置で実行する命令自
身の実行結果の良否を判定するための命令、例えば比較
命令ＣＭＰ１、ＣＭＰ４、ＣＭＰ５、ＣＭＰ６を取出し
て、あらかじめ用意した正確な試験結果と比較し、結果
判定を行うために、これらを結合した命令列５６を作成
する。

【００５１】この結果判定は、否なら使用者に通知し、
良なら試験を継続するようにしておくことができる。ま
た比較命令の代わりに比較命令列を使用することもでき
る。

【００５２】本発明の動作を図４に示すフローチャート
にもとづき説明する。

【００５３】Ｓ１．プロセッサ１２は、試験機構選択表
３０から試験機構３１を、初めに同時に動作可能な数
（この例ではロード・ストア機構×４、浮動小数点演算
器×２、固定小数点演算器×２の８）を選択する。これ
により試験機構３１は、ロード・ストア機構、浮動小数
点演算器、固定小数点演算器の３つが選択される。

【００５４】Ｓ２．このように選択された各試験機構の
試験パターン選択カウンタ３３は、試験機構選択表３０
に示す如く、ロード・ストア機構用の試験パターン選択
カウンタが初期値１に、浮動小数点演算器用の試験パタ
ーン選択カウンタが初期値２に、固定小数点演算用の試
験パターン選択カウンタが初期値３にセットし、それぞ
れ初期化する。

【００５５】Ｓ３．試験機構３１と一致する試験命令列
４１を選ぶ。これによりロード・ストア機構、浮動小数
点演算器、固定小数点演算器の各命令列が選択される。

【００５６】Ｓ４．試験パターン４３のうちから試験パ
ターン選択カウンタ３３の値と一致する番号のものが選
択される。これによりロード・ストア機構については試
験パターン選択カウンタの示す値１の試験パターンの○
印で選択された命令列２１ａが選択され、浮動小数点演
算器については試験パターン選択カウンタの示す値２の
試験パターンの○印で選択された命令列２２ｂが選択さ
れる。そして固定小数点演算器については試験パターン
選択カウンタの示す値３の試験パターンの○印で選択さ
れた命令列２３ａ、２３ｂが選択される。

【００５７】Ｓ５．このようにして選択された命令列２
１ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂから順次命令を取り出
し、ＩＮＩＴ１、ＩＮＩＴ４、ＩＮＩＴ５、ＩＮＩＴ６
を結合した命令列５２、ＬＯＡＤ１、ＦＡＤＤ１、ＡＤ
Ｄ１、ＭＵＬ１、・・・を結合した命令列５３、ＣＭＰ
１、ＣＭＰ４、ＣＭＰ５、ＣＭＰ６を結合した命令列５
６等よりなる新命令列を作成する。

【００５８】Ｓ６．それからこのようにして作成された
新命令列が実行される。

【００５９】Ｓ７．実行結果は正しいか否かがＣＭＰ
１、ＣＭＰ４、ＣＭＰ５、ＣＭＰ６の命令列で検出され
る。そして正しくなければオペレータに通知され終了す
る。

【００６０】Ｓ８．正しければ試験パターン選択カウン
タは更新される。例えばそれぞれ＋１され、ロード・ス
トア機構の試験パターン選択カウンタは２を、浮動小数
点演算器の試験パターン選択カウンタは３を、固定小数
点演算器の試験パターン選択カウンタは４をそれぞれ計
数する。そしてこれらにより各試験機構に対する試験パ
ターンが変わり、同様に新しい命令列が作成され、試験
される。

【００６１】Ｓ９．このような試験パターン選択カウン
タの更新が規定回数実行されるまで前記Ｓ３〜Ｓ８が順
次実行される。

【００６２】Ｓ１０．試験パターン選択カウンタの更新
が規定回数実行されると、試験機構選択表３０の試験機
構３１の最終のものまで試験されたか否かチェックされ
る。この例では、論理演算器と制御演算器に対する試験
が行われていないので、これらに対する試験パターン選
択カウンタの値を初期値に設定し、またすでに試験が終
了したロード・ストア機構、浮動小数点演算器、固定小
数点演算器に対する試験パターン選択カウンタの値をゼ
ロにする。そして前記と同様に、命令列２０にあらかじ
め作成ずみの、これら論理演算器、制御演算器に対する
試験用の命令列（図示省略）を選択的に読み出し、試験
を行い、その結果を判定する。このようなことを全試験
機構に対して実行したとき試験終了となる。

【００６３】このようにして、各機構を試験するために
作成した命令列から並列動作させる命令列を選択し、各
命令列の命令を分離して順番に並べ替えて結合し、この
命令列を実行することにより情報処理装置の機構を並列
動作させることができる。

【００６４】また本発明では、図１（Ｂ）に示す如く、
ストール試験パターン４４を用意する。ストール試験パ
ターンは、並列実行可能な命令数以上の命令が入力され
たとき、これを受付停止状態とする機能を試験するもの
である。

【００６５】例えばロード・ストア機構に対しては並列
実行可能数は４であり、浮動小数点演算器に対しては並
列実行可能な数は２であるが、ストール試験パターン４
４の番号７、８・・・に示す如く、ロード・ストア機構
に対しては５個の、浮動小数点演算器に対しては３個の
実行入力を与える試験パターンを用意する。

【００６６】すなわち、試験命令選択表４０に、機構の
並列実行可能数を超える命令列を選択するパターンを用
意しておき、このストール試験パターン４４を実行する
ときにストール状態すなわち情報処理装置の機構が同時
に並列実行可能な数以上の命令が来たことによる命令の
受付停止状態または新たな処理要求の実行待ち状態を発
生させる。

【００６７】試験命令選択表４０のストール試験パター
ン４４からロード・ストア機構の番号７を選び○がつい
ている命令列２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｅ、２１ｆ
から命令が入力されたとき、最初の４個の命令はロード
・ストア要求が実行されるが、次の命令はロード・スト
ア機構が空くまでストールされる。同じく浮動小数点演
算の番号７を選び、○が付与されている命令列２２ａ、
２２ｂ、２２ｃから命令を並べ替えて命令列として実行
することで、最初の２個の命令は浮動小数点演算器に入
って実行され、次の命令は浮動小数点演算器が空くまで
ストールする。

【００６８】このようにしてストール試験パターンをス
トール試験パターンでないものと一緒に試験することが
できる。

【００６９】本発明の第２の実施の形態を図５〜図９に
基づき説明する。第２の実施の形態は分岐命令に対する
試験用命令列生成装置であり、図５は本発明の第２の実
施の形態における分岐試験テーブル説明図、図６と図７
は１つの連続図面をＡ〜Ｋで分割したものであり第２の
実施の形態の動作説明図、図８と図９はこれまた１つの
連続図面をＡ〜Ｅで分割したものであり、分岐試験フロ
ー図である。

【００７０】図中他図と同記号は同一部を示し、６５０
は分岐予測試験ひな型、６６０は分岐試験テーブル、６
６１は分岐試験カウンターである。

【００７１】分岐予測試験ひな型６５０は、分岐予測試
験において必要なデータ及びその設定位置を模擬的に示
すものであり、ループカウントの初期値ｍが記入される
ループカウント初期値領域６５１、初期化命令領域６５
２、分岐条件作成命令領域（１）６５３−１、分岐命令
領域（１）６５４−１、命令領域６５６−１、分岐条件
作成命令領域（２）６５３−２、分岐命令（３）領域６
５４−２、命令領域６５２−２、分岐命令（２）領域６
５４−３、命令領域６５６−３、比較命令領域６５６、
ループ制御命令領域６５７等が示されている。

【００７２】分岐試験テーブル６６０は、分岐試験に際
して必要な命令やデータが記入されているものであり項
１には分岐数が３、ループ数がｍ、分岐条件作成命令が
ＮＯＰ（ＮｏＯｐｅｒａｔｉｏｎ）（なし、つまり無
条件分岐）、ＣＭＰ（比較）命令、ＡＤＤ（加算）命令
等により設定され、分岐命令がそれぞれＢＡ（Ｂｒａｎ
ｃｈＡｌｌｗａｙｓ）命令、ＢＥ（ＢｒａｎｃｈＥ
ｑｕａｌ）命令、ＢＮＥ（ＢｒａｎｃｈＮｏｔＥｑ
ｕａｌ）命令であること、命令位置がａ１、ｂ１、ｃ１
であること及びそのサイズ等が記入されている。例えば
命令位置ａ１に指示される領域にはＬＯＡＤ１、ＦＡＤ
Ｄ１、ＡＤＤ１の３命令が格納されるので３が記入され
ている。項２、３・・・ｎにも同様なことが記入されて
いるが、項２以降については図示省略している。

【００７３】分岐試験カウンター６６１は、分岐試験テ
ーブル６６０の項を選択するカウンタであり、最初は項
１を示すように初期化されているため１が設定される。

【００７４】分岐試験について説明する。

【００７５】先ず、分岐試験カウンター６６１を初期値
１に設定し、分岐試験テーブル６６０の項１を示すよう
に初期化する。

【００７６】分岐予測試験ひな型６５０の項１に示すよ
うに、新命令の領域に前記分岐試験カウンター６６１の
値の項番、つまり項１から、分岐数分（この場合は３）
の３ケの分岐時条件作成命令ＮＯＰ．ＣＭＰ．ＡＤＤ
を、命令位置ａ１、ｂ１、ｃ１で指示された領域５３−
１、５３−２、５３−３に格納し、分岐命令ＢＡ、Ｂ
Ｅ、ＢＮＥをそれらの次の領域５４−１、５４−２、５
４−３に格納する。このとき、命令位置とサイズａ１、
ｂ１、ｃ１で指定される分の命令を格納する領域を空け
て命令列を作る。さらにループカウントを領域５１に示
す如く、初期化してｍに設定し、またループカウント更
新処理を行うループ制御命令を読み出しループカウント
更新領域５７に配置する。

【００７７】また分岐試験テーブル６６０の命令位置ａ
１、ｂ１、ｃ１から指定サイズ分の領域には、下記のよ
うに命令列が配置される。、前記図１及び図４に説明し
た手法により、図６に示す命令列２０から、例えば試験
命令列２１ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂが選択され、先
ず初期化命令ＩＮＩＴ１、ＩＮＩＴ４、ＩＮＩＴ５、Ｉ
ＮＩＴ６列が初期化命令領域５２に作成される。それか
ら初めの分岐条件作成命令ＮＯＰと分岐命令ＢＡであ
る、前記命令位置ａ１で指示された領域５３−１に連続
して配置される。

【００７８】それからこの分岐命令ＢＡで指示されてい
る分岐先領域５６−１に、サイズで前記指定された３個
の命令ＬＯＡＤ１、ＦＡＤＤ１、ＡＤＤ１が記入
される。

【００７９】次に分岐試験テーブル６６０の２番目の分
岐条件作成命令ＣＭＰ、ＧＲＸ、ＧＲＹと、分岐命令Ｂ
Ｅが命令位置ｂ１により指示された領域５３−２より連
続して記入され、分岐命令ＢＥで指示されている分岐先
領域５６−２に、サイズで前記指定された３個の、前記
命令に続く命令ＭＵＬ１、ＬＯＡＤ２、ＦＡＤＤ
２が記入される。

【００８０】それから分岐試験テーブル６６０の３番目
の分岐条件作成命令ＡＤＤ、ＧＲ２、１、ＧＲ３と分岐
命令ＢＮＥが命令位置ｃ１により指示された領域５３−
３より連続して記入され、分岐命令ＢＮＥで指示されて
いる分岐先領域５６−３に、サイズで前記指定された１
０個の、前記命令に続く命令ＳＵＢ１、ＤＩＶ１、
・・・ＤＩＶ２が記入される。

【００８１】それからこの命令列の後に比較命令列が領
域５６に配置され、その次の領域５７にループカウント
更新命令が配置される。

【００８２】本発明の第２の実施の形態の動作を図８、
図９の分岐試験フロー図（その１）、（その２）にもと
づき他図を参照して説明する。

【００８３】Ｓ１．プロセッサ１２は、分岐試験カウン
タ６６１を初期値１に初期化し、分岐試験テーブル６６
０から項１を選択する。

【００８４】Ｓ２．分岐試験テーブル６６０から項１の
分岐条件作成命令ＮＯＰと分岐命令ＢＡを、命令位置ａ
１に指示されている試験領域に格納する。これにより、
図６に示す如く、試験領域５３−１に分岐条件作成命令
ＮＯＰが格納され、これに続く試験領域５４−１に分岐
命令ＢＡが連続して格納される。

【００８５】Ｓ３．図１（Ｃ）に示す試験機構選択表３
０から、前記第１の実施の形態と同様に、試験機構３１
を、初めに同時に動作可能な数を試験機構３１の記載順
に選択する。これにより、前記と同様に、ロード・スト
ア機構、浮動小数点演算器、固定小数点演算器の３つが
順次選択される。

【００８６】Ｓ４．前記Ｓ３で選択した試験パターンの
選択カウンタ３３（図示省略）を試験機構選択表３０に
示す如く、初期化する。これによりロード・ストア機構
用の試験パターン選択カウンタが初期値１に、浮動小数
点演算器用の試験パターン選択カウンタが初期値２に、
固定小数点演算器用の試験パターン選択カウンタが初期
値３にセットされる。

【００８７】Ｓ５．試験機構３１と一致する試験命令列
４１を選ぶ。これによりロード・ストア機構、浮動小数
点演算器、固定小数点演算器の各命令列が選択される。

【００８８】Ｓ６．試験パターン４３のうちから試験パ
ターン選択カウンタ３３の値と一致する番号のものが選
択される。これによりロード・ストア機構については試
験パターン選択カウンタの示す値１の試験パターンの○
印で選択された命令列２１ａが選択され、浮動小数点演
算器については試験パターン選択カウンタの示す値２の
試験パターンの○印で選択された命令列２２ｂが選択さ
れる。そして固定小数点演算器については試験パターン
選択カウンタの示す値３の試験パターンの○印で選択さ
れた命令列２３ａ、２３ｂが選択される。

【００８９】Ｓ７．このようにして選択された命令列２
１ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂから順次命令を取り出
し、ＩＮＩＴ１、ＩＮＩＴ４、ＩＮＩＴ５、ＩＮＩＴ６
を順次結合した命令列を領域５２に格納し、次に分岐試
験テーブル６６０の命令位置ａ１及びサイズ３にもとづ
き初めの分岐命令ＢＡに示される分岐先の領域５６−１
に、３個の命令ＬＯＡＤ１、ＦＡＤＤ１、ＡＤＤ
１が記入される。それから分岐試験テーブル６６０の２
番目の命令位置ｂ１及びサイズ３にもとづき２番目の分
岐命令ＢＥに示される分岐先の領域５６−２に前記に
続く３個の命令、ＭＵＬ１、ＬＯＡＤ２、ＦＡＤ
Ｄ２が記入される。そして分岐試験テーブル６６０の３
番目の命令位置ｃ１及びサイズ１０にもとづき、３番目
の分岐命令ＢＮＥに示される分岐先の領域５６−３に、
前記に続く残りの命令、ＳＵＢ２、ＤＩＶ１、
ＳＴＯＲＥ１・・・ＳＵＢ２、ＤＩＶ２が記入される。
それから個々の機構試験用命令列内に被試験装置で実行
する命令自身の実行結果の良否を判定するための命令で
ある比較命令ＣＭＰ１、ＣＭＰ４、ＣＭＰ５、ＣＭＰ６
を取り出してこれらを結合した命令列を領域５６に格納
する。そして最後にループ制御のために、ループカウン
ト更新用のループカウント更新命令を領域５７に記入
し、試験用の新命令列を作る。

【００９０】Ｓ８．それからこのようにして作成された
新命令列が実行される。

【００９１】Ｓ９．実行結果の正否がＣＭＰ１、ＣＭＰ
４、ＣＭＰ５、ＣＭＰ６の命令列で検出される。正しく
なければオペレータに通知され、終了する。正しければ
領域５７に記入されたループカウント更新命令が図示省
略したループカウンタを＋１し、前記試験動作を繰り返
す、そして分岐試験テーブル６６０に記入されたループ
数ｍだけこれを繰り返し、正であれば次のステップＳ１
０に移行する。

【００９２】Ｓ１０．上記Ｓ９において動作結果が正で
あれば、試験機構選択表３０に記載された試験パターン
選択カウンター３３は更新される。例えばそれぞれ＋１
され、ロード・ストア機構の試験パターン選択カウンタ
ーは２を、浮動小数点演算器の試験パターン選択カウン
ターは３を、固定小数点演算器の試験パターン選択カウ
ンターは４をそれぞれ計数する。

【００９３】Ｓ１１．前記更新の結果試験パターン選択
カウンターが最終の値までカウントしていなければ、上
記Ｓ５に戻り、同様の試験を行う。そして最終の値に達
すれば次のＳ１２に移行する。

【００９４】Ｓ１２．すなわち試験パターン選択カウン
ターが最終値をカウントすれば、試験機構選択表３０の
試験機構３１の最終のものまで試験されたか否かチェッ
クする。この例では論理演算器と制御演算器に対する試
験が行われていないので上記Ｓ３に戻り、同様の試験を
行う。このようにして最終の試験機構までの試験を行
う。

【００９５】Ｓ１３．それから、図５に示す分岐試験カ
ウンター６６１を例えば＋１して更新する。

【００９６】Ｓ１４．そして分岐試験テーブル６６０の
項２について、上記Ｓ２以下の分岐試験を行う。このよ
うな試験を分岐試験カウンター６６１の最終値について
実行してこの試験が終了する。

【００９７】なお図６，図７における分岐予測試験ひな
型６５０は、分岐予測試験に際して、各項毎に各命令が
どのような領域に存在しているのかを模擬的にわかり易
く説明したものであり、実際の試験のときに実在するも
のではない。

【００９８】本発明の第３の実施の形態を図１０〜図１
５にもとづき説明する。本発明の第３の実施の形態は分
岐に伴う投機実行すなわち分岐予測が失敗した場合に実
行する投機命令の試験に対するものであり、図１０は投
機実行試験命令テーブル説明図、図１１は第３の実施の
形態に使用する分岐試験テーブル説明図、図１２と図１
３は１つの連続図面をＡ〜Ｊで分割したものであり、第
３の実施の形態の動作説明図、図１４と１５は１つの連
続図面をＡ〜Ｅで分割したものであり、第３の実施の形
態の投機実行試験フロー図である。

【００９９】図中他図と同記号は同一部を示し、８０は
投機実行試験命令テーブル、８０１は投機試験カウンタ
ー、８６０は分岐試験テーブル、８６１は分岐試験カウ
ンターである。

【０１００】投機実行試験命令テーブル８０は、投機実
行試験のときに実行すべき命令と命令数が記入されるも
のであり、項１ではトラップ命令（ＴＡ：ＴｒａｐＡ
ｌｌｗａｙｓ）を、項２では同期命令を、項３では２つ
の制御命令が実行されることをそれぞれ示している。

【０１０１】投機試験カウンター８０１は投機実行試験
命令を選択するものであり、投機試験カウンター８０１
が１をカウントしているとき（初期状態のとき）は項１
を選択し、２をカウントしているときは項２を選択す
る。

【０１０２】分岐試験テーブル８６０は、投機実行試験
に際して実行する分岐試験用のデータと、それに対する
投機実行試験命令の位置とサイズ等が記入されているも
のであり、前記第２の実施の形態における分岐試験テー
ブル６６０と同様の、項、分岐数、ループ数、分岐条件
作成命令、分岐命令、位置とサイズ等よりなる分岐試験
テーブル部分と、投機実行試験命令の位置とサイズを示
す部分等を備えている。

【０１０３】分岐試験カウンター８６１は、分岐試験テ
ーブルの項を選択するものでありカウント値が１（初期
状態）のときは項１に示された条件で試験を行い、ｎの
ときは、項ｎに示された条件（図１１では省略）で試験
を行うものである。

【０１０４】投機試験カウンター８０１は投機実行試験
命令テーブル８０の項を指定するものであって、まず先
頭を指定するように初期化する。

【０１０５】投機実行試験ひな型８５０に、投機実行命
令を格納する投機実行命令領域８５５をもとに新命令列
の領域に分岐試験テーブル８６０に投機試験位置とサイ
ズを付加して投機試験用の命令列を指定可能にしてお
く。

【０１０６】前記第２の実施の形態の図６、図７と同様
に、分岐条件作成命令を試験領域５３に、また分岐命令
を試験領域５４にそれぞれ格納する。また命令位置ａ
１、ｂ１、ｃ１とサイズ３、３、１０で指定される分の
命令を格納する試験領域を空けて命令列を作成する。

【０１０７】投機試験カウンター８０１で指定する投機
実行試験命令テーブル８０の項１の命令ＴＡ命令（列）
を分岐試験カウンター８６１で指定する分岐試験テーブ
ル８６０の項１の投機試験位置とサイズａ２で指定する
投機実行命令領域１である試験領域５５に格納する。

【０１０８】前記図６、図７と同様に作成した命令列を
実行して結果を比較して、結果から間違って投機実行命
令領域に格納した命令が実行されていないことを確認す
る。

【０１０９】投機実行試験命令が間違って実行された場
合は、ＴＡ命令により期待していないトラップが発生し
て投機実行処理の間違いを検出する。

【０１１０】本発明の第３の実施の形態の動作を、図１
４、図１５の投機実行試験フロー図（その１）、（その
２）にもとづき、他図を参照して説明する。

【０１１１】Ｓ１．プロセッサ１２は、投機試験カウン
ター８０１を初期値１に初期化し、投機実行試験命令テ
ーブル８０から項１を選択する。

【０１１２】Ｓ２．次に分岐試験カウンター８６１を初
期値１に初期化し、分岐試験テーブル８６０から項１を
選択する。

【０１１３】Ｓ３．分岐試験テーブル８６０から項１の
分岐条件作成命令ＮＯＰと分岐命令ＢＡを、命令位置ａ
１に指示されている試験領域に格納する。これにより、
図１２に示す如く、ａ１で指示された試験領域５３−１
に分岐条件作成命令ＮＯＰが格納され、こに続く試験領
域５４−１に分岐命令ＢＡが連続して格納される。

【０１１４】Ｓ４．投機実行試験命令テーブル８０か
ら、投機試験カウンター８０１の値により選択した命令
列、この場合は初期値１であるのでトラップ命令（Ｔ
Ａ）が選択され、これを分岐試験テーブル８６０に記入
された、投機実行試験位置ａ２、ｂ２、ｃ2 に、すなわ
ち試験領域５５−１、５５−２、５５−３へ格納する。

【０１１５】Ｓ５．図１（Ｃ）に示す試験機構選択表３
０から、前記第１の実施の形態、第２の実施の形態と同
様に、試験機構３１を初めに同時に動作可能な数を試験
機構３１の記載順に選択する。これにより、前記と同様
に、ロード・ストア機構、浮動小数点演算器、固定小数
点演算器の３つが順次選択される。

【０１１６】Ｓ６．前記Ｓ５で選択した試験パターンの
選択カウンタ３３（図示省略）を、試験機構選択表３０
に示す如く、初期化する。これによりロード・ストア機
構用の試験パターン選択カウンタが初期値１に、浮動小
数点演算器用の試験パターン選択カウンタが初期値２
に、固定小数点演算器用の試験パターン選択カウンタが
初期値３にセットされる。

【０１１７】Ｓ７．試験機構３１と一致する試験命令列
４１を選ぶ。これによりロード・ストア機構、浮動小数
点演算器、固定小数点演算器の各命令列が選択される。

【０１１８】Ｓ８．試験パターン４３のうちから試験パ
ターン選択カウンタ３３の値と一致する番号のものが選
択される。これによりロード・ストア機構については試
験パターン選択カウンタの示す値１の試験パターンの○
印で選択された命令列２１ａが選択され、浮動小数点演
算器については試験パターン選択カウンタの示す値２の
試験パターンの○印で選択された命令列２２ｂが選択さ
れる。そして固定小数点演算器については試験パターン
選択カウンタの示す値３の試験パターンの○印で選択さ
れた命令列２３ａ、２３ｂが選択される。

【０１１９】Ｓ９．このようにして選択された命令列２
１ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂから順次命令を取り出
し、ＩＮＩＴ１、ＩＮＩＴ４、ＩＮＩＴ５、ＩＮＩＴ６
を順次結合した命令列を試験領域５２に格納し、次に分
岐試験テーブル８６０の命令位置ａ１及びサイズ３にも
とづき、初めの分岐命令ＢＡに示される分岐先の試験領
域５６−１に、３個の命令ＬＯＡＤ１、ＦＡＤＤ
１、ＡＤＤ１が記入される。それから分岐試験テーブ
ル８６０の２番目の命令位置ｂ１及びサイズ３にもとづ
き、２番目の分岐命令ＢＥに示される分岐先の試験領域
５６−２に、前記に続く３個の命令、ＭＵＬ１、
ＬＯＡＤ２、ＦＡＤＤ２が記入される。そして分岐試
験テーブル８６０の３番目の命令位置ｃ１及びサイズ１
０にもとづき、３番目の分岐命令ＢＮＥに示される分岐
先の試験領域５６−３に、前記に続く残りの命令、
ＳＵＢ２、ＤＩＶ１、ＳＴＯＲＥ１・・・ＳＵＢ
２、ＤＩＶ２が記入される。それから個々の機構試験用
命令列内に被試験装置で実行する命令自身の実行結果の
良否を判定するための命令である比較命令ＣＭＰ１、Ｃ
ＭＰ４、ＣＭＰ５、ＣＭＰ６を取り出してこれらを結合
した命令列を試験領域５６に格納する。そして最後にル
ープ制御のために、ループカウント更新用のループカウ
ント更新命令を試験領域５７に記入し、試験用の新命令
列を作る。

【０１２０】Ｓ１０．それからこのようにして作成され
た新命令列が実行される。

【０１２１】Ｓ１１．実行結果の正否がＣＭＰ１、ＣＭ
Ｐ４、ＣＭＰ５、ＣＭＰ６の命令列で検出される。正し
くなければオペレータに通知されて終了する。正しけれ
ば試験領域５７に記入されたループカウント更新命令が
図示省略したループカウンタを＋１し、前記試験動作を
繰り返す。そして分岐試験テーブル８６０に記入された
ループ数ｍだけこれを繰り返し、正であれば次のステッ
プＳ１２に移行する。

【０１２２】Ｓ１２．上記Ｓ１１において動作結果が正
であれば、試験機構選択表３０に記載された試験パター
ン選択カウンター３３は更新される。例えばそれぞれ＋
１され、ロード・ストア機構の試験パターン選択カウン
ターは２を、浮動小数点演算器の試験パターン選択カウ
ンターは３を、固定小数点演算器の試験パターン選択カ
ウンターは４をそれぞれ計数する。

【０１２３】Ｓ１３．上記更新の結果、試験パターン選
択カウンターが最終の値までカウントしていなければ、
上記Ｓ７に戻り、同様の試験を行う。そして最終の値に
達すれば次のＳ１４に移行する。

【０１２４】Ｓ１４．すなわち試験パターン選択カウン
ターが最終値をカウントすれば、試験機構選択表３０の
試験機構３１の最終のものまで試験されたか否かチェッ
クする。この例では論理演算器と制御演算器に対する試
験が行われていないので上記Ｓ５に戻り、同様の試験を
行う。このようにして最終の試験機構までの試験を行
う。Ｓ１５．それから図１１に示す分岐試験カウンタ
ー８６１を例えば＋１して更新する。

【０１２５】Ｓ１６．そして分岐試験テーブル８６０の
項２（図示省略）について、上記Ｓ３に戻り、同様の試
験を行う。このような試験を分岐試験カウンター８６１
の最終値まで実行すれば次のＳ１７に移行する。

【０１２６】Ｓ１７．分岐試験カウンター８６１が最終
値であれば、図１０に示す投機試験カウンター８０１を
例えば＋１して更新する。

【０１２７】Ｓ１８．そして投機実行試験命令テーブル
８０の項２について、上記Ｓ２に戻り同様の試験を行
う。このような試験を投機試験カウンター８０１の最終
値まで実行して試験を終了する。

【０１２８】なお、図１２、図１３における投機実行試
験ひな型８５０は、投機実行試験に際して、各命令がど
のような領域に存在しているのかを模擬的にわかり易く
説明したものであり、実際の試験のときに実在するもの
ではない。

【０１２９】また前記説明において、被試験のプロセッ
サ１２が新命令列を作成して前記各試験を実行する場合
について説明したが、本発明はこれに限定されるもので
はなく、別のプロセッサで新命令列を作成し、これを被
試験のプロセッサで実行してもよい。

【０１３０】本発明によれば、性能諸元などの簡単なマ
イクロアーキテクチャと論理仕様書からシステム全体を
動作させながら、演算器試験、分岐予測・命令フェッチ
試験を行うことができる。

【０１３１】マイクロアーキテクチャの変更があっても
性能諸元をパラメータとして簡単な変更で試験可能とな
る。

【０１３２】個々の演算器を試験する命令列から複数演
算器の並列実行試験を行うことが可能となる。

【０１３３】同時に並列実行可能な数以上の演算器試験
を行って演算器のストール試験を行うことが可能とな
る。

【０１３４】演算器、分岐機構の試験から命令実行制御
試験を行うことが可能となる。

【０１３５】

【発明の効果】本発明により下記の効果を奏することが
できる。

【０１３６】（１）各機構を試験するために作成した命
令列から並列動作させる命令列を選択し、各命令列の命
令を分離して並べ替えて新しい命令列を作りこれを実行
するので、情報処理装置の機構をきわめて簡単に並列動
作させることができる。

【０１３７】（２）試験パターンに試験機構の並列実行
可能な命令数を超える数の命令を実行するストール試験
パターンを設けて試験を行うので、試験機構のストール
試験を簡単に行うことができる。

【０１３８】（３）個々の機構試験用命令列内に被試験
装置で実行する命令自身の実行結果の良否を判定する命
令または命令列を入れておき、判定の結果が否なら使用
者に通知するようにしたので、特別に動作不良検出手段
を付加することなく、単に命令列を実行することにより
被試験装置自身の動作不良を検出することができる。

【０１３９】（４）１つまたは複数の分岐命令、分岐条
件、分岐先に配置する命令列の位置と数を示す分岐情報
表示手段を有することにより、１つまたは複数の分岐機
構を試験し、さらに分岐機構と他の演算器の並列実行試
験を可能とすることができる。

【０１４０】（５）１つまたは複数の分岐予測機構と投
機実行機構を試験し、さらに分岐予測、投機実行機構と
他の演算器の並列実行試験を可能とすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施の形態の動作状態説明図で
ある。

【図２】情報処理装置の性能諸元である。

【図３】本発明において使用する情報処理装置のうちス
ーパースケーラ方式のプロセッサの構成図である。

【図４】本発明の試験用命令列生成装置の動作フローで
ある。

【図５】本発明の第２の実施の形態における分岐試験テ
ーブル説明図である。

【図６】第２の実施の形態の動作説明図（その１）であ
る。

【図７】第２の実施の形態の動作説明図（その２）であ
る。

【図８】第２の実施の形態の分岐試験フロー図（その
１）である。

【図９】第２の実施の形態の分岐試験フロー図（その
２）である。

【図１０】本発明の第３の実施の形態における投機実行
試験命令テーブル説明図である。

【図１１】本発明の第３の実施の形態に使用する分岐試
験テーブル説明図である。

【図１２】第３の実施の形態の動作説明図（その１）で
ある。

【図１３】第３の実施の形態の動作説明図（その２）で
ある。

【図１４】第３の実施の形態の投機実行試験フロー図
（その１）である。

【図１５】第３の実施の形態の投機実行試験フロー図
（その２）である。

【符号の説明】

１１性能諸元１２プロセッサ１２ａ命令キャッシュ機構１２ｂ命令フェッチ・分岐予測機構１２ｃ命令実行機構１２ｄリネーミングレジスタファイル機構１２ｅリザベーションステーション１２ｆ固定小数点演算器１２ｇ浮動小数点演算器１２ｈロード・ストア機構１２ｉデータキャッシュ１２ｊ外部キャッシュ１２ｋメモリ２０命令列３０試験機構選択表３１試験機構３２並列実行可能数３３試験パターン選択カウンタ４０試験命令列選択表４１試験命令列４２命令列番号４３試験パターン４４ストール試験パターン５０新命令列作成手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】情報処理装置が実装している機構の種類
と、この機構を同時に並列実行可能な数を示す並列実行
可能数と、前記各機構を同時に並列実行可能な最小数か
ら最大数までの試験パターンを指定する試験機構選択表
示手段と、試験命令列選択手段に保持された試験パターンにより試
験命令列を選択し、この試験命令列を構成する各機構用
命令を個々の命令に分解し、試験パターンにしたがって
分解した命令列を順番に並べて新命令列を作成する新命
令列作成手段と、情報処理装置に実装されている前記機構のいくつかを同
時に並列動作する低負荷状態から全機構が同時に並列動
作する高負荷状態までを前記新命令列により発生させ、
各種の負荷状態で情報処理装置の機構の試験を行うこと
を可能にしたことを特徴とする試験用命令列生成装置。
【請求項２】前記試験命令列選択手段に設けた試験パタ
ーンに、試験機構の並列実行可能な命令数を超える数の
命令を実行するストール試験パターンを設けておき、試
験を実行することにより情報処理装置の動作に異常がな
いか否かを試験することを可能としたことを特徴とする
請求項１記載の試験用命令列生成装置。
【請求項３】前記試験命令列に、被試験装置自身の動作
不良を検出するための命令を設けて新命令列としたこと
を特徴とする請求項１記載の試験用命令列生成装置。
【請求項４】１つまたは複数の分岐命令、分岐条件、分
岐先に配置する命令列の位置と数を示す分岐情報表示手
段を備え、１つまたは複数の分岐機構を試験し、さらに分岐機構と
他の演算器の並列実行試験を可能としたことを特徴とす
る請求項１記載の試験用命令列生成装置。
【請求項５】１つまたは複数の分岐命令、ループ数、分
岐条件、分岐先に配置する命令列の位置と数、分岐失敗
側に配置する投機実行試験命令の位置表示する投機実行
分岐試験情報表示手段と、投機実行試験命令を表示する投機実行試験命令表示手段
を備え、１つまたは複数の分岐予測機構と投機実行機構を試験
し、さらに分岐予測、投機実行機構と他の演算器の並列
実行試験を可能としたことを特徴とする請求項１記載の
試験用命令列生成装置。