JP5674195B2 - 露光装置及び露光方法 - Google Patents
露光装置及び露光方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5674195B2 JP5674195B2 JP2010292195A JP2010292195A JP5674195B2 JP 5674195 B2 JP5674195 B2 JP 5674195B2 JP 2010292195 A JP2010292195 A JP 2010292195A JP 2010292195 A JP2010292195 A JP 2010292195A JP 5674195 B2 JP5674195 B2 JP 5674195B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- mask
- alignment
- exposure
- work
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 18
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 5
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 66
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 10
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 3
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
(1) 露光すべきパターンを有するマスクを保持するマスク保持部と、
前記マスク保持部を駆動するマスク駆動部と、
被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、
前記ワーク保持部を駆動するワーク駆動部と、
前記マスクに形成されたマスク側アライメントマーク及び前記ワークに形成されたワーク側アライメントマークを検出可能なアライメントカメラと、
前記アライメントカメラによって検出された前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部を駆動制御してアライメント動作を実行するための制御部と、
を備え、前記ワーク上に前記マスクのパターンを露光転写する露光装置であって、
前記制御部には、前記両アライメントマークのずれ量が前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部の駆動によって露光転写時の所望のアライメント精度範囲以内となる、アライメント動作実施許容範囲が設定されており、
前記制御部は、前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるかどうか判断し、
前記両アライメントマークのずれ量が前記アライメント動作実施許容範囲より大きい場合には、前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行し、前記アライメント動作実施許容範囲以内となるまで、前記アライメント動作を繰り返し、
前記両アライメントマークのずれ量が前記アライメント動作実施許容範囲以内であるとき、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行し、該アライメント動作実行後の前記両アライメントマークのずれ量を確認せずに該アライメント動作を完了することを特徴とする露光装置。
(2) 前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるとき、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行するとともに、前記アライメントカメラを露光領域から退避させることを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(3) 前記ワークには、前記マスクのパターンが複数回露光転写され、
前記ワークに前記マスクのパターンを1ショット目に露光転写するときには、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行した後、前記両アライメントマークのずれ量が前記所望のアライメント精度範囲以内であるとき、該アライメント動作を完了し、
前記ワークに前記マスクのパターンを2ショット目以降露光転写するときには、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行して該アライメント動作を完了することを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(4) 露光すべきパターンを有するマスクを保持するマスク保持部と、前記マスク保持部を駆動するマスク駆動部と、被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、前記ワーク保持部を駆動するワーク駆動部と、前記マスクに形成されたマスク側アライメントマーク及び前記ワークに形成されたワーク側アライメントマークを検出可能なアライメントカメラと、前記アライメントカメラによって検出された前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部を駆動制御してアライメント動作を実行するための制御部と、を備え、前記ワーク上に前記マスクのパターンを露光転写する露光方法であって、
前記両アライメントマークのずれ量が前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部の駆動によって露光転写時の所望のアライメント精度範囲以内となる、アライメント動作実施許容範囲を前記制御部に予め設定する工程と、
前記アライメントカメラによって前記両アライメントマークのずれ量を検出する工程と、
前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるかどうか判断する工程と、
前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲より大きい場合には、前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行する工程と、
前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるとき、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行し、該アライメント動作実行後の前記両アライメントマークのずれ量を確認せずに該アライメント動作を完了する工程と、
を備え、
前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲より大きい場合には、前記アライメント動作を実行した後、前記検出工程に戻ることを特徴とする露光方法。
(5) 露光すべきパターンを有するマスクを保持するマスク保持部と、
被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、
前記ワーク保持部を駆動するワーク駆動部と、
前記マスクの上方に配置され、シャッターを駆動することで、光源から照射された露光用光を前記マスクに向けて照射する照射部と、
少なくとも前記ワーク駆動部を制御可能な駆動部用制御部と、
該照射部の前記光源及び前記シャッターを制御する照射部用制御部と、
前記駆動部用制御部と前記照射部用制御部にそれぞれ設けられ、前記両制御部間で信号の送受信を行う通信手段と、
を備え、露光位置に保持された前記ワーク上に前記マスクのパターンを露光転写する露光装置であって、
前記駆動部用制御部は、前記照射部用制御部に露光開始信号を送信してから、前記照射部用制御部からの露光完了信号を受信するまでの時間をカウントするタイマーを備え、
前記タイマーが前記時間をカウントした以降の露光動作において、前記駆動部用制御部は、前記露光開始信号を送信してから前記タイマーがカウントした前記時間よりも短く、且つ、前記照射部用制御部が前記シャッターを駆動して前記露光用光の照射を遮断した後の所定時間が経過した時点で、前記ワーク駆動部を駆動制御することを特徴とする露光装置。
(6) 前記駆動用制御部は、前記照射部用制御部が前記露光完了信号を送信した後のタイミングで、前記ワーク駆動部を駆動制御することを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(7) 前記タイマーは、複数の露光動作における各露光時間をそれぞれカウントし、前記ワーク駆動部を制御する前記所定時間は、複数の前記露光時間を平均化した平均時間に更新されることを特徴とする(5)に記載の露光装置。
(8) 前記マスク保持部を駆動するマスク駆動部と、
前記マスクに形成されたマスク側アライメントマーク及び前記ワークに形成されたワーク側アライメントマークを検出可能なアライメントカメラと、
をさらに備え、
前記駆動用制御部は、前記アライメントカメラによって検出された前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部を駆動制御してアライメント動作を実行し、
前記駆動用制御部には、前記両アライメントマークのずれ量が前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部の駆動によって露光転写時の所望のアライメント精度範囲以内となる、アライメント動作実施許容範囲が設定されており、
前記両アライメントマークのずれ量が前記アライメント動作実施許容範囲以内であるとき、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行して該アライメント動作を完了することを特徴とする(5)に記載の露光装置。
(9) 露光すべきパターンを有するマスクを保持するマスク保持部と、被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、前記ワーク保持部を駆動するワーク駆動部と、前記マスクの上方に配置され、シャッターを駆動することで、光源から照射された露光用光を前記マスクに向けて照射する照射部と、少なくとも前記ワーク駆動部を制御可能な駆動部用制御部と、該照射部の前記光源及び前記シャッターを制御する照射部用制御部と、前記駆動部用制御部と前記照射部用制御部にそれぞれ設けられ、前記両制御部間で信号の送受信を行う通信手段と、を備え、露光位置に保持された前記ワーク上に前記マスクのパターンを露光転写する露光方法であって、
前記駆動部用制御部に設けられたタイマーによって、前記照射部用制御部に露光開始信号を送信してから、前記照射部用制御部から露光完了信号を受信するまでの時間をカウントする工程と、
前記タイマーが前記時間をカウントした以降の露光動作において、前記駆動部用制御部は、前記露光開始信号を送信してから前記タイマーがカウントした前記時間よりも短く、且つ、前記照射部用制御部が前記シャッターを駆動して前記露光用光の照射を遮断した後の所定時間が経過した時点で、前記ワーク駆動部を駆動する工程と、
を備えることを特徴とする露光方法。
図1に示すように、近接露光装置1は、マスクMを保持するマスクステージ10と、ガラス基板(被露光材としてのワーク)Wを保持するワークステージ(ワーク保持部)20と、パターン露光用の光を照射する照射手段としての照明光学系30と、ワークステージ20をX軸,Y軸,Z軸方向に移動し、且つワークステージ20のチルト調整を行うワークステージ移動機構(ワーク駆動部)40と、マスクステージ10及びワークステージ移動機構40を支持する装置ベース50と、を備える。
この状態で、Z−チルト調整機構43及びギャップセンサ17によってマスクMの下面とワークWの上面とのすきま量が目標値となるように制御して、ワークステージ20を上下微動させるギャップ制御を行う。
そして、必要に応じてマスキングアパーチャ38を駆動した後、照明光学系30では、露光制御用シャッター34を開制御し、高圧水銀ランプ31から照射された光が、図1に示す光路Lを経て、マスクステージ10に保持されるマスクM、さらにはワークステージ20に保持されるワークWの表面に対して垂直にパターン露光用の平行光として照射される。これにより、マスクMのマスクパターンがワークW上に1ショット目の露光転写が行われる。
なお、中心位置ずれ量は、通常、1μm以下に設定されると共に、アライメント動作実施許容範囲は、そのずれ量の10〜1000倍の範囲で設定される。
これにより、アライメント実施許容範囲以内でアライメント動作を実施した際に所望のアライメント精度範囲が得られることを定期的に確認することができ、機械精度の劣化に備えることができる。
次に、本発明の第2実施形態に係る露光装置及び露光方法について、図7〜図10を参照して説明する。なお、第1実施形態と同一または同等部分については、同一符号を付して、説明を省略或いは簡略化する。 本実施形態では、近接露光装置1の基本構成は、第1実施形態と実質的に同一であり、第1実施形態と同様な露光動作が行われる。また、第1実施形態では、1層目のパターン(ブラックマトリクス)が形成されたワークWに2層目のパターンを露光する場合について説明しているが、本実施形態では、1層目のパターンを露光する場合にも適用される。
この照射部用制御部72が露光完了信号を送信したタイミング、又は、露光制御用シャッター34の閉制御が完了したタイミングは、照射部用制御部72のタイマー73によってカウントされる。
さらに、露光精度に影響しないのであれば、ワークステージ駆動機構40の駆動開始を、露光制御用シャッター34を閉じる制御を開始する時点としてもよい。
本発明は、近接露光装置に限定されるものでなく、密着露光や投影露光等、他の露光装置にも適用可能である。
10 マスクステージ
12 マスク保持枠(マスク保持部)
14 チャック部
16 マスク位置調整機構(マスク駆動部)
18 アライメントカメラ
20 ワークステージ
21 ワークチャック
22 吸着面
70 駆動部用制御部
70A 制御部
71,73 タイマー
72 照射部用制御部
M マスク
Ma 四角形アライメントマーク(マスク側アライメントマーク)
W ガラス基板(被露光材としてのワーク)
Wa 十字状アライメントマーク(ワーク側アライメントマーク)
Claims (9)
- 露光すべきパターンを有するマスクを保持するマスク保持部と、
前記マスク保持部を駆動するマスク駆動部と、
被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、
前記ワーク保持部を駆動するワーク駆動部と、
前記マスクに形成されたマスク側アライメントマーク及び前記ワークに形成されたワーク側アライメントマークを検出可能なアライメントカメラと、
前記アライメントカメラによって検出された前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部を駆動制御してアライメント動作を実行するための制御部と、
を備え、前記ワーク上に前記マスクのパターンを露光転写する露光装置であって、
前記制御部には、前記両アライメントマークのずれ量が前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部の駆動によって露光転写時の所望のアライメント精度範囲以内となる、アライメント動作実施許容範囲が設定されており、
前記制御部は、前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるかどうか判断し、
前記両アライメントマークのずれ量が前記アライメント動作実施許容範囲より大きい場合には、前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行し、前記アライメント動作実施許容範囲以内となるまで、前記アライメント動作を繰り返し、
前記両アライメントマークのずれ量が前記アライメント動作実施許容範囲以内であるとき、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行し、該アライメント動作実行後の前記両アライメントマークのずれ量を確認せずに該アライメント動作を完了することを特徴とする露光装置。 - 前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるとき、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行するとともに、前記アライメントカメラを露光領域から退避させることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記ワークには、前記マスクのパターンが複数回露光転写され、
前記ワークに前記マスクのパターンを1ショット目に露光転写するときには、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行した後、前記両アライメントマークのずれ量が前記所望のアライメント精度範囲以内であるとき、該アライメント動作を完了し、
前記ワークに前記マスクのパターンを2ショット目以降露光転写するときには、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行して該アライメント動作を完了することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 露光すべきパターンを有するマスクを保持するマスク保持部と、前記マスク保持部を駆動するマスク駆動部と、被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、前記ワーク保持部を駆動するワーク駆動部と、前記マスクに形成されたマスク側アライメントマーク及び前記ワークに形成されたワーク側アライメントマークを検出可能なアライメントカメラと、前記アライメントカメラによって検出された前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部を駆動制御してアライメント動作を実行するための制御部と、を備え、前記ワーク上に前記マスクのパターンを露光転写する露光方法であって、
前記両アライメントマークのずれ量が前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部の駆動によって露光転写時の所望のアライメント精度範囲以内となる、アライメント動作実施許容範囲を前記制御部に予め設定する工程と、
前記アライメントカメラによって前記両アライメントマークのずれ量を検出する工程と、
前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるかどうか判断する工程と、
前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲より大きい場合には、前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行する工程と、
前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるとき、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行し、該アライメント動作実行後の前記両アライメントマークのずれ量を確認せずに該アライメント動作を完了する工程と、
を備え、
前記両アライメントマークのずれ量がアライメント動作実施許容範囲より大きい場合には、前記アライメント動作を実行した後、前記検出工程に戻ることを特徴とする露光方法。 - 露光すべきパターンを有するマスクを保持するマスク保持部と、
被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、
前記ワーク保持部を駆動するワーク駆動部と、
前記マスクの上方に配置され、シャッターを駆動することで、光源から照射された露光用光を前記マスクに向けて照射する照射部と、
少なくとも前記ワーク駆動部を制御可能な駆動部用制御部と、
該照射部の前記光源及び前記シャッターを制御する照射部用制御部と、
前記駆動部用制御部と前記照射部用制御部にそれぞれ設けられ、前記両制御部間で信号の送受信を行う通信手段と、
を備え、露光位置に保持された前記ワーク上に前記マスクのパターンを露光転写する露光装置であって、
前記駆動部用制御部は、前記照射部用制御部に露光開始信号を送信してから、前記照射部用制御部からの露光完了信号を受信するまでの時間をカウントするタイマーを備え、
前記タイマーが前記時間をカウントした以降の露光動作において、前記駆動部用制御部は、前記露光開始信号を送信してから前記タイマーがカウントした前記時間よりも短く、且つ、前記照射部用制御部が前記シャッターを駆動して前記露光用光の照射を遮断した後の所定時間が経過した時点で、前記ワーク駆動部を駆動制御することを特徴とする露光装置。 - 前記駆動用制御部は、前記照射部用制御部が前記露光完了信号を送信した後のタイミングで、前記ワーク駆動部を駆動制御することを特徴とする請求項5に記載の露光装置。
- 前記タイマーは、複数の露光動作における各露光時間をそれぞれカウントし、前記ワーク駆動部を制御する前記所定時間は、複数の前記露光時間を平均化した平均時間に更新されることを特徴とする請求項5に記載の露光装置。
- 前記マスク保持部を駆動するマスク駆動部と、
前記マスクに形成されたマスク側アライメントマーク及び前記ワークに形成されたワーク側アライメントマークを検出可能なアライメントカメラと、
をさらに備え、
前記駆動用制御部は、前記アライメントカメラによって検出された前記両アライメントマークのずれ量に基づいて、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部を駆動制御してアライメント動作を実行し、
前記駆動用制御部には、前記両アライメントマークのずれ量が前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部の駆動によって露光転写時の所望のアライメント精度範囲以内となる、アライメント動作実施許容範囲が設定されており、
前記両アライメントマークのずれ量が前記アライメント動作実施許容範囲以内であるとき、前記マスク駆動部又は前記ワーク駆動部によるアライメント動作を実行して該アライメント動作を完了することを特徴とする請求項5に記載の露光装置。 - 露光すべきパターンを有するマスクを保持するマスク保持部と、被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、前記ワーク保持部を駆動するワーク駆動部と、前記マスクの上方に配置され、シャッターを駆動することで、光源から照射された露光用光を前記マスクに向けて照射する照射部と、少なくとも前記ワーク駆動部を制御可能な駆動部用制御部と、該照射部の前記光源及び前記シャッターを制御する照射部用制御部と、前記駆動部用制御部と前記照射部用制御部にそれぞれ設けられ、前記両制御部間で信号の送受信を行う通信手段と、を備え、露光位置に保持された前記ワーク上に前記マスクのパターンを露光転写する露光方法であって、
前記駆動部用制御部に設けられたタイマーによって、前記照射部用制御部に露光開始信号を送信してから、前記照射部用制御部から露光完了信号を受信するまでの時間をカウントする工程と、
前記タイマーが前記時間をカウントした以降の露光動作において、前記駆動部用制御部は、前記露光開始信号を送信してから前記タイマーがカウントした前記時間よりも短く、且つ、前記照射部用制御部が前記シャッターを駆動して前記露光用光の照射を遮断した後の所定時間が経過した時点で、前記ワーク駆動部を駆動する工程と、
を備えることを特徴とする露光方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010292195A JP5674195B2 (ja) | 2010-01-14 | 2010-12-28 | 露光装置及び露光方法 |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010005373 | 2010-01-14 | ||
JP2010005372 | 2010-01-14 | ||
JP2010005373 | 2010-01-14 | ||
JP2010005372 | 2010-01-14 | ||
JP2010292195A JP5674195B2 (ja) | 2010-01-14 | 2010-12-28 | 露光装置及び露光方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011164590A JP2011164590A (ja) | 2011-08-25 |
JP5674195B2 true JP5674195B2 (ja) | 2015-02-25 |
Family
ID=44595279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010292195A Expired - Fee Related JP5674195B2 (ja) | 2010-01-14 | 2010-12-28 | 露光装置及び露光方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5674195B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014026041A (ja) * | 2012-07-25 | 2014-02-06 | Ulvac Japan Ltd | 露光装置及び露光方法 |
CN103292709B (zh) * | 2013-05-24 | 2015-09-09 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测长机日常检测与自动补正方法 |
JP6861463B2 (ja) * | 2015-06-16 | 2021-04-21 | キヤノン株式会社 | 露光装置及び物品の製造方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3636330B2 (ja) * | 1994-02-03 | 2005-04-06 | 株式会社ニコン | 露光方法及び装置 |
JP2000021769A (ja) * | 1998-07-06 | 2000-01-21 | Canon Inc | 位置合わせ方法及び位置合わせ装置 |
JP2003092248A (ja) * | 2001-09-17 | 2003-03-28 | Canon Inc | 位置検出装置、位置決め装置及びそれらの方法並びに露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2003133208A (ja) * | 2001-10-25 | 2003-05-09 | Canon Inc | 複数ユニットを有する装置、露光装置、半導体製造装置およびデバイス製造方法 |
JP2003142366A (ja) * | 2001-10-31 | 2003-05-16 | Canon Inc | 投影露光装置および該装置に用いるガス状態監視方法 |
JP2004072076A (ja) * | 2002-06-10 | 2004-03-04 | Nikon Corp | 露光装置及びステージ装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2006078673A (ja) * | 2004-09-08 | 2006-03-23 | Nsk Ltd | 近接露光装置 |
JP4937808B2 (ja) * | 2007-03-26 | 2012-05-23 | フェニックス電機株式会社 | 光源装置ならびにこれを用いた露光装置 |
JP4863939B2 (ja) * | 2007-07-02 | 2012-01-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
-
2010
- 2010-12-28 JP JP2010292195A patent/JP5674195B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011164590A (ja) | 2011-08-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI722389B (zh) | 圖案形成裝置、對齊標記檢測方法和圖案形成方法 | |
KR20010032714A (ko) | 기판 반송방법 및 기판 반송장치, 이것을 구비한 노광장치및 이 노광장치를 이용한 디바이스 제조방법 | |
TWI412902B (zh) | Exposure drawing device | |
CN106483773B (zh) | 投影曝光装置、投影曝光方法以及掩模版 | |
US20110292362A1 (en) | Exposure apparatus | |
JP4932352B2 (ja) | 露光装置及び露光方法 | |
JP2001274080A (ja) | 走査型投影露光装置及びその位置合わせ方法 | |
WO2019155886A1 (ja) | 近接露光装置、近接露光方法、及び近接露光装置用光照射装置 | |
KR20060113703A (ko) | 계측방법, 전사특성 계측방법, 노광장치의 조정방법 및디바이스 제조방법 | |
JP5674195B2 (ja) | 露光装置及び露光方法 | |
JP5674197B2 (ja) | 近接露光装置及び近接露光方法 | |
JP2002365810A (ja) | 分割逐次近接露光装置 | |
JP4760019B2 (ja) | 露光装置及びデバイスの製造方法 | |
JP2001176785A (ja) | 周辺露光装置 | |
JP2007184328A (ja) | 露光装置 | |
KR101660090B1 (ko) | 노광 방법, 노광 장치, 및 디바이스의 제조 방법 | |
JP4196411B2 (ja) | 露光装置及びデバイス製造方法 | |
JP2008026475A (ja) | 露光装置 | |
KR102406914B1 (ko) | 투영 노광 장치 및 그 투영 노광 방법 | |
JP2006234647A (ja) | 位置計測方法、位置計測装置、露光方法及び露光装置 | |
JP2008209632A (ja) | マスク装着方法及び露光装置ユニット | |
JP2007248636A (ja) | 位置測定装置のミラー固定構造 | |
JP2008209631A (ja) | 露光装置及びそのマスク装着方法 | |
JP2007086684A (ja) | 露光装置 | |
US8179518B2 (en) | Exposure apparatus to correct position between reticle and substrate according to propagation time and shifting rate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20110815 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131226 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20140210 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140811 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140826 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141022 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141219 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5674195 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20150126 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |