JP5611503B2 - パターン状の絶縁性微粒子膜およびその製造方法ならびにそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品 - Google Patents

パターン状の絶縁性微粒子膜およびその製造方法ならびにそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品 Download PDF

Info

Publication number
JP5611503B2
JP5611503B2 JP2007060363A JP2007060363A JP5611503B2 JP 5611503 B2 JP5611503 B2 JP 5611503B2 JP 2007060363 A JP2007060363 A JP 2007060363A JP 2007060363 A JP2007060363 A JP 2007060363A JP 5611503 B2 JP5611503 B2 JP 5611503B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fine particle
film
group
fine particles
patterned insulating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007060363A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008226990A (ja
Inventor
小川 一文
小川  一文
渡辺 好章
好章 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kagawa University NUC
Doshisha
Original Assignee
Kagawa University NUC
Doshisha
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kagawa University NUC, Doshisha filed Critical Kagawa University NUC
Priority to JP2007060363A priority Critical patent/JP5611503B2/ja
Priority to PCT/JP2008/054211 priority patent/WO2008111533A1/ja
Publication of JP2008226990A publication Critical patent/JP2008226990A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5611503B2 publication Critical patent/JP5611503B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02225Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
    • H01L21/0226Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
    • H01L21/02282Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process liquid deposition, e.g. spin-coating, sol-gel techniques, spray coating
    • H01L21/02285Langmuir-Blodgett techniques
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)
  • Insulating Bodies (AREA)

Description

本発明は、パターン状の絶縁性微粒子膜およびそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品、ならびに表面に熱反応性を付与した基材および微粒子を用いたパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法に関する。より具体的には、本発明は、電子部品やマイクロマシン、光学部品に用いる、パターン形成されたパシベーション用の単層絶縁性微粒子膜や積層絶縁性微粒子およびそれらの製造方法に関するものである。
従来から、電子デバイスやマイクロマシン、光学部品に用いるパシベーション用の高精度の有機絶縁膜の製造方法として、気液界面に配列させた両親媒性の有機分子を基板表面に転写して得られる単分子膜を累積するラングミュアー・ブロジェット(LB)法が知られている。
また、界面活性剤を溶かした溶液中で化学吸着法を用いて単分子膜を累積する化学吸着(CA)法が知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、無機絶縁膜の製造方法として、CVD法やゾル−ゲル法がよく知られている。
特開2001−279471号公報
しかしながら、単分子膜や単分子膜を累積した有機絶縁膜では、膜厚の制御性には優れているが、電子デバイスに用いようとすると耐電圧性が悪く、未だ実用になる絶縁膜は提供されていない。また、このような被膜を電子部品やマイクロマシン、光学部品に用いるにしても、耐久性が不足していた。
一方、電気絶縁性の無機微粒子も数々開発製造されているが、それら絶縁性微粒子が持つ本来の機能を有効に利用するには、絶縁性微粒子を均一な膜厚の被膜にする必要がある。しかしながら、それら絶縁性微粒子を用いて大面積に亘り均一厚みの被膜を製膜できる方法はなかった。また、CVD法やゾル−ゲル法でも、大面積の基材表面の全体に亘り膜厚が均一な保護膜の製造は極めて難しかった。
本発明は、絶縁性微粒子本来の機能を損なうことなく、任意の基材表面にパターン状に絶縁性微粒子を1層のみ並べた、粒子サイズレベルで均一な厚みを有するパターン状の単層絶縁性微粒子膜、および複数層累積したパターン状の絶縁性微粒子累積膜、ならびにそれらの製造方法を提供することを目的とする。
前記目的に沿う第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜は、基材の表面の金属パターン部分にのみ絶縁性の微粒子が配列した微粒子層が1層結合固定されたパターン状の絶縁性微粒子膜であって、前記基材の表面の少なくとも前記パターン部分は、第1の官能基を有する第1の膜化合物の形成する被膜で被覆されており、前記微粒子の表面は、第2の官能基を有する第2の膜化合物の形成する被膜で被覆されており、前記微粒子は、前記第1の官能基とカップリング反応して結合を形成する少なくとも1の第1のカップリング反応基と、前記第2の官能基とカップリング反応して結合を形成する少なくとも1の第2のカップリング反応基とを有する第1のカップリング剤と、前記第1および前記第2の官能基とのカップリング反応により形成された結合を介して前記基材上に固定されている。
なお、「カップリング反応」とは、官能基間の付加反応、または縮合反応により生成する任意の反応をいい、熱反応、および光反応のいずれであってもよい。
第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記基材の表面に前記第1の膜化合物の形成する被膜の表面の少なくとも前記パターン部分は、前記第1の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応により結合した前記第1のカップリング剤の形成する被膜でさらに被覆されていてもよい。
第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1の膜化合物の形成する被膜は前記基材の表面の前記パターン部分のみを被覆しており、前記微粒子の表面に前記第2の膜化合物の形成する被膜の表面は、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により結合した前記第1のカップリング剤の形成する被膜でさらに被覆されていてもよい。
第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1の膜化合物と前記第2の膜化合物とが同一の化合物であることが好ましい。
第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1および第2の膜化合物の形成する被膜の一方または双方が単分子膜であることが好ましい。
第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記基材上には、前記微粒子層が前記基材側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数)まで順次積層しており、奇数番目の前記微粒子層を形成している前記微粒子の表面は、前記第2の膜化合物の形成する被膜で被覆されており、偶数番目の前記微粒子層を形成している前記微粒子の表面は、第3の官能基を有する第3の膜化合物の形成する被膜で被覆され、少なくとも1の前記第2のカップリング反応基と、前記第3の官能基とカップリング反応して結合を形成する少なくとも1の第3のカップリング反応基とを有する第2のカップリング剤の形成する被膜によりさらにその表面が被覆されており、前記各微粒子層は、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により形成された結合、および前記第3の官能基と前記第3のカップリング反応基とのカップリング反応により形成された結合を介して互いに固定されていてもよい。
この場合において、第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1〜第3の膜化合物、ならびに前記第1および第2のカップリング剤がそれぞれ同一の化合物であることが好ましい。また、前記第1〜第3の膜化合物が形成する被膜が全て単分子膜であることが好ましい。
第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記基材上には、前記微粒子層が前記基材側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数)まで順次積層しており、奇数番目の前記微粒子層を形成している前記微粒子の表面は、前記第2の膜化合物の形成する被膜で被覆され、前記第1のカップリング剤の形成する被膜によりさらにその表面が被覆されており、偶数番目の前記微粒子層を形成している前記微粒子の表面は、前記第1のカップリング反応基と反応する第3の官能基を有する第3の膜化合物の形成する被膜によりその表面が被覆されており、各微粒子層は、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により形成された結合、および前記第3の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応により形成された結合を介して互いに固定されていてもよい。
この場合において、第1および第2の膜化合物が同一の膜化合物であることが好ましい。また、前記第1および第2の膜化合物が形成する被膜がいずれも単分子膜であることが好ましい。
第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とエポキシ基との反応により形成されたN−CHCH(OH)結合であってもよい。
第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とイソシアネート基との反応により形成されたNH−CONH結合であってもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法は、基材の表面の金属パターン部分にのみ絶縁性の微粒子が配列した微粒子層が1層結合固定されたパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法であって、分子の両端にそれぞれ第1の官能基および第1の結合基を有する第1の膜化合物を含む溶液を前記基材の表面に接触させ、前記第1の結合基と前記基材の表面との間で結合を形成させ、前記第1の膜化合物の形成する被膜で前記基材の表面が被覆された被覆基材を調製する工程Aと、前記パターン部分を覆うマスクを通して、触媒を接触させた状態で前記被覆基材の表面にエネルギー線の照射を行い、前記パターン部分以外の前記第1の官能基を他の官能基に変換することにより、前記パターン部分にのみ前記第1の膜化合物の形成する被膜を残すパターン形成処理を行う工程Bと、分子の両端にそれぞれ第2の官能基および第2の結合基を有する第2の膜化合物を含む溶液を絶縁性の微粒子の表面に接触させ、前記第2の結合基と前記微粒子の表面との間で結合を形成させ、前記第2の膜化合物の形成する被膜で前記微粒子の表面が被覆された第1の被覆微粒子を調製する工程Cと、前記第1の官能基とカップリング反応して結合を形成する1または2以上の第1のカップリング反応基と、前記第2の官能基とカップリング反応して結合を形成する1または2以上の第2のカップリング反応基とを有する第1のカップリング剤を、前記被覆基材および前記第1の被覆微粒子の表面にそれぞれ接触させ、前記第1の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応、および前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第1の被覆微粒子からなる1層の前記微粒子層を、前記被覆基材の表面に結合固定し、次いで、前記被覆基材の表面に固定されなかった前記第1の被覆微粒子を除去する工程Dとを有する。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記工程Bにおける前記パターン形成処理は、レーザーアブレーション法を用いて前記第1の膜化合物の被膜を除去することにより行われてもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、工程Bにおける前記パターン形成処理は、前記エネルギー線の照射により前記第1の官能基を他の官能基に変換することにより行われてもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記工程Dでは、前記第1のカップリング剤を、まず、前記被覆基材の表面に接触させ、該第1のカップリング剤の被膜を有する反応性基材を調製し、次いで、該反応性基材の表面に前記第1の被覆微粒子を接触させ、該反応性基材の表面に前記第1の被覆微粒子を固定してもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記工程Dでは、まず、前記第1の被覆微粒子の表面に前記第1のカップリング剤を接触させ、前記第1のカップリング剤の被膜を有する第1の反応性微粒子を調製し、次いで、該第1の反応性微粒子の表面を前記被覆基材と接触させ、該被覆基材の表面に前記第1の反応性微粒子を固定してもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1の膜化合物と前記第2の膜化合物とが同一の化合物であることが好ましい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記工程Aおよび前記工程Cにおいて、未反応の前記第1および第2の膜化合物は洗浄除去され、前記基材および前記第1の微粒子の表面上で前記第1および第2の膜化合物がそれぞれ形成する被膜は、単分子膜であることが好ましい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記基材上には、前記微粒子層が前記基材側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数)まで順次積層したパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法であって、分子の両端にそれぞれ第3の官能基および第3の結合基を有する第3の膜化合物を含む溶液を前記微粒子の表面に接触させ、前記第3の結合基と前記微粒子の表面との間で結合を形成させ、前記第3の膜化合物の形成する被膜で表面が被覆された第2の被覆微粒子を被覆し、次いで、前記第2の被覆微粒子の表面に、前記第2のカップリング反応基と、前記第3の官能基とカップリング反応して結合を形成する1または2以上の第3のカップリング反応基とを有する第2のカップリング剤を接触させ、前記第3の官能基と前記第3のカップリング反応基とのカップリング反応により形成させた結合を介して固定された前記第2のカップリング剤の形成する被膜を表面に有する第2の反応性微粒子を調製する工程Eと、前記絶縁性微粒子膜の表層に位置する前記第1の被覆微粒子の微粒子層の表面に前記第2の反応性微粒子を接触させ、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第2の反応性微粒子を前記第1の被覆微粒子の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった前記第2の反応性微粒子を除去する工程Fと、前記絶縁性微粒子膜の表層に位置する前記第2の反応微粒子の微粒子層の表面に前記第1の被覆微粒子を接触させ、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第1の被覆微粒子を前記第2の反応性微粒子の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった前記第1の被覆微粒子を除去する工程Gと、前記工程FおよびGをこの順序で繰り返し行い、n層の前記微粒子層からなる絶縁性微粒子膜を形成する工程Hとをさらに有していてもよい。なお、工程Hは、nの値に応じて、工程Fおよび工程Gのいずれで終えてもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記基材上には、前記微粒子層が前記基材側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数)まで順次積層したパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法であって、前記第3の膜化合物を含む溶液を前記微粒子の表面に接触させ、前記第3の結合基と前記微粒子の表面との間で結合を形成させ、前記第3の膜化合物の形成する被膜で前記微粒子の表面が被覆された第2の被膜微粒子を調製する工程Eと、前記第1の反応性微粒子の微粒子層の表面に前記第2の被覆微粒子を接触させ、前記第3の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第2の被覆微粒子を前記第1の反応性微粒子の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった前記第2の被覆微粒子を除去する工程Fと、前記第2の被覆微粒子の微粒子層の表面に前記第1の反応性微粒子を接触させ、前記第1の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第1の反応性微粒子を前記第2の被覆微粒子の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった前記第1の反応性微粒子を除去する工程Gと、前記工程FおよびGをこの順序で繰り返し行い、n層の前記微粒子層からなる絶縁性微粒子膜を形成する工程Hとをさらに有していてもよい。なお、工程Hは、nの値に応じて、工程Fおよび工程Gのいずれで終えてもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1および第2の膜化合物が同一の化合物であることが好ましい。
また、前記工程Eにおいて、未反応の前記第1の膜化合物は洗浄除去され、前記第2の微粒子の表面上で前記第1の膜化合物が形成する被膜は、単分子膜であることが好ましい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1および第2の膜化合物、あるいは前記第1〜第3の化合物は全てアルコキシシラン化合物であり、前記第1および第2の膜化合物、あるいは前記第1〜第3の化合物を含む溶液は、さらに縮合触媒として、カルボン酸金属塩、カルボン酸エステル金属塩、カルボン酸金属塩ポリマー、カルボン酸金属塩キレート、チタン酸エステル、およびチタン酸エステルキレートからなる群から選択される1または2以上の化合物を含んでいてもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1および第2の膜化合物、あるいは前記第1〜第3の化合物は全てアルコキシシラン化合物であり、前記第1および第2の膜化合物、あるいは前記第1〜第3の化合物を含む溶液は、さらに縮合触媒として、ケチミン化合物、有機酸、アルジミン化合物、エナミン化合物、オキサゾリジン化合物、およびアミノアルキルアルコキシシラン化合物からなる群より選択される1または2以上の化合物をさらに含んでいてもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、さらに助触媒として、ケチミン化合物、有機酸、アルジミン化合物、エナミン化合物、オキサゾリジン化合物、およびアミノアルキルアルコキシシラン化合物からなる群より選択される1または2以上の化合物をさらに含んでいてもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とエポキシ基との反応により形成されたN−CHCH(OH)結合であってもよい。
第2の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とイソシアネート基との反応により形成されたNH−CONH結合であってもよい。
第3の発明に係る電子部品は、第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜を電極および配線の保護膜として用いている。
なお、「電子部品」には、半導体装置やプリント配線基板等が含まれる。
第4の発明に係るマイクロマシンは、第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜を摺動部に用いている。
第5の発明に係る光学部品は、第1の発明に係るパターン状の絶縁性微粒子膜を保護膜および反射防止膜のいずれか一方または双方として用いている。
なお、「光学部品」には、レンズや回折格子等が含まれる。
請求項1〜13に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜および請求項14〜27に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、パシベーション膜やコンデンサーの誘電性薄膜として応用可能な絶縁性微粒子膜、および製造に特殊な真空チャンバーや高温を必要とせず、品質にばらつきの少ない大面積のパターン状の絶縁性微粒子膜を低コストで製造できる方法を提供できる。
また、基材の表面に絶縁性の微粒子が配列した微粒子層が1層結合固定されているので、絶縁性微粒子膜の剥離強度を高めることができる。
さらに、カップリング反応により形成された結合を介して微粒子層を1層ずつ積層固定するので、微粒子膜の膜厚を容易に制御できる。
特に、請求項2に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、第1の膜化合物の形成する被膜の表面の少なくともパターン部分が、第1のカップリング剤の形成する被膜でさらに被覆されているので、第2の官能基と第2のカップリング反応基とのカップリング反応により、基材の表面のうち第1のカップリング剤の形成する被膜で覆われた部分にのみ第2の膜化合物の形成する被膜で覆われた微粒子を結合固定することができる。
請求項3に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、第1の膜化合物の形成する被膜は基材の表面のパターン部分のみを被覆しているので、第1の官能基と第1のカップリング反応基とのカップリング反応により、基材の表面のうち第1の膜化合物の形成するパターン状の被膜で覆われた部分にのみ第2の膜化合物の形成する被膜で覆われた微粒子を結合固定することができる。
請求項4に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、第1の膜化合物と第2の膜化合物とが同一の化合物であるので、製造コストを低減できる。
請求項5に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、第1および第2の膜化合物の形成する被膜の一方または双方が単分子膜であるので、基材および微粒子のいずれか一方または双方の本来の物性や機能を損なうことがない。
請求項6に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、3種類の膜化合物、および2種類のカップリング剤を用いて任意の膜厚の微粒子膜を製造できるので、製造コストを低減できる。
請求項7記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、第1〜第3の膜化合物ならびに第1および第2のカップリング剤がそれぞれ同一の化合物であるので、製造コストをさらに低減できる。
請求項8記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、第1〜第3の膜化合物の形成する被膜が全て単分子膜であるので、基材および微粒子の本来の物性や機能を損なうことがない。
請求項9に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、3種類の膜化合物、および1種類のカップリング剤を用いて任意の膜厚の微粒子膜を製造できるので、製造コストを低減できる。
請求項10に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、第1〜第3の膜化合物が同一の化合物であるので、製造コストをさらに低減できる。
請求項11に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、第1〜第3の膜化合物の形成する被膜が全て単分子膜であるので、基材および微粒子の本来の物性や機能を損なうことがない。
請求項12に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とエポキシ基との反応により形成されたN−CHCH(OH)結合であるので、加熱により強固な結合を形成できる。
請求項13に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とイソシアネート基との反応により形成されたNH−CONH結合であるので、加熱により強固な結合を形成できる。
請求項17に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、工程Dにおいて、まず、被覆基材の表面に、第1のカップリング剤を接触させ、第1のカップリング剤の被膜を有する反応性基材を調製するので、第2の膜化合物の形成する被膜で覆われた微粒子に対して前処理を行うことなく、第2の官能基と第2のカップリング反応基とのカップリング反応により、第2の膜化合物の形成する被膜で覆われた微粒子を表面に結合固定することができる。
請求項18に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜においては、工程Dにおいて、まず、第1の被覆微粒子の表面に第1のカップリング剤を接触させ、第1のカップリング剤の被膜をさらに有する第1の反応性微粒子を調製するので、第1の膜化合物の形成する被膜で覆われた基材に対して前処理を行うことなく、第1の官能基と第1のカップリング反応基とのカップリング反応により、第1の膜化合物の形成する被膜で覆われた基材の表面に第2の膜化合物の形成する被膜で覆われた微粒子を表面に結合固定することができる。
請求項19に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、第1の膜化合物と第2の膜化合物とが同一の化合物であるので、製造コストを低減できる。
請求項20に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、第1および第2の膜化合物がそれぞれ形成する被膜が単分子膜であるので、基材および微粒子の本来の物性や機能を損なうことがない。
請求項21に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、3種類の膜化合物、および2種類のカップリング剤を用いて任意の膜厚の微粒子膜を製造できるので、製造コストを低減できる。
請求項22に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、3種類の膜化合物、および1種類のカップリング剤を用いて任意の膜厚の微粒子膜を製造できるので、製造コストを低減できる。
請求項23に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、第1〜第3の膜化合物が同一の化合物であるので、製造コストをさらに低減できる。
請求項24に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、第1〜第3の膜化合物の形成する被膜が全て単分子膜であるので、基材および微粒子の本来の物性や機能を損なうことがない。
請求項25および27に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、膜化合物を含む溶液が、さらに縮合触媒として、カルボン酸金属塩、カルボン酸エステル金属塩、カルボン酸金属塩ポリマー、カルボン酸金属塩キレート、チタン酸エステル、およびチタン酸エステルキレートからなる群から選択される1または2以上の化合物を含むので、反応性微粒子の調製時間を短縮し、パターン状の絶縁性微粒子膜の製造をより高効率に行うことができる。
請求項26、28および29に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、膜化合物を含む溶液が、ケチミン化合物、有機酸、アルジミン化合物、エナミン化合物、オキサゾリジン化合物、アミノアルキルアルコキシシラン化合物からからなる群より選択される1または2以上の化合物をさらに含むので、反応性微粒子の調製時間を短縮し、パターン状の絶縁性微粒子膜の製造をより高効率に行うことができる。特に、これらの化合物と上述の縮合触媒の両者をともに含む場合には、調製時間をさらに短縮できる。
請求項30に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とエポキシ基との反応により形成されたN−CHCH(OH)結合であるので、加熱により強固な結合を形成できる。
請求項31に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法においては、カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とイソシアネート基との反応により形成されたNH−CONH結合であるので、加熱により強固な結合を形成できる。
請求項32に記載の電子部品は、請求項1〜13のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜を電極および配線の保護膜として用いているので、耐候性、耐磨耗性等に優れている。
請求項33に記載のマイクロマシンは、請求項1〜13のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜を摺動部に用いているので、摺動部の耐久性や自己潤滑性に優れている。
請求項34に記載の光学部品は、請求項1〜13のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜を保護膜および反射防止膜のいずれか一方または双方としているので、耐候性や耐磨耗性等に優れ、優れた光学的特性を有する。
続いて、添付した図面を参照しつつ、本発明を具体化した実施の形態につき説明し、本発明の理解に供する。
ここで、図1(a)は本発明の第1の実施の形態に係るパターン状の絶縁性単層微粒子膜の断面構造を模式的に表した説明図、図1(b)は同実施の形態に係るパターン状の絶縁性積層微粒子膜の断面構造を模式的に表した説明図、図2(a)は本発明の第2の実施の形態に係るパターン状の絶縁性単層微粒子膜の断面構造を模式的に表した説明図、図2(b)は同実施の形態に係るパターン状の絶縁性積層微粒子膜の断面構造を模式的に表した説明図、図3は、同パターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、エポキシ化ガラス板を製造する工程を説明するために分子レベルまで拡大した概念図であり、図3(a)は反応前のガラス板の断面構造、図3(b)はエポキシ基を有する膜化合物の単分子膜が形成されたガラス板の断面構造をそれぞれ表し、図4(a)は、同パターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法におけるパターン形成処理を行う工程を説明するために分子レベルまで拡大した概念図であり、図4(b)は、変形例に係るパターン形成処理を行う工程を説明するために分子レベルまで拡大した概念図、図5は、同パターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、エポキシ化シリカ微粒子を製造する工程を説明するために分子レベルまで拡大した概念図であり、図5(a)は反応前のシリカ微粒子の断面構造、図5(b)はエポキシ基を有する膜化合物の単分子膜が形成されたシリカ微粒子の断面構造をそれぞれ表す。
次に、本発明の第1の実施の形態に係るパターン状の絶縁性単層微粒子膜1、およびパターン状の絶縁性積層微粒子膜3について説明する。
図1(a)、(b)に示すように、パターン状の絶縁性単層微粒子膜1およびパターン状の絶縁性積層微粒子膜3は、反応性ガラス板(反応性基材の一例)41の表面に、エポキシ化シリカ微粒子(第1の被覆微粒子の一例)34が配列した微粒子層が1層結合固定されている。図1(b)に示すように、パターン状の絶縁性積層微粒子膜3においては、微粒子層は、反応性ガラス板41側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数で、本実施の形態においてはn=2)まで順次積層している。
反応性ガラス板41の表面は、エポキシ基を有する膜化合物(第1の膜化合物の一例)の単分子膜13で被覆され、さらにその表面は、2−メチルイミダゾール(第1のカップリング剤の一例)のアミノ基(第1のカップリング反応基の一例)とエポキシ基とのカップリング反応により形成された結合を介して固定された2-メチルイミダゾールの被膜で被覆されている。
第2層目の微粒子層を形成している反応性シリカ微粒子42の表面は、2−メチルイミダゾール(第3のカップリング剤の一例)のアミノ基(第3のカップリング反応基の一例)とエポキシ基とのカップリング反応により形成された結合を介して固定された2-メチルイミダゾールの被膜でさらに被覆されている。
反応性ガラス板41と第1層目の微粒子層を形成するエポキシ化シリカ微粒子34、および第1層目の微粒子層を形成するエポキシ化シリカ微粒子34と第2層目の微粒子層を形成する反応性シリカ微粒子42との間は、エポキシ基と2−メチルイミダゾールのアミノ基またはイミノ基とのカップリング反応により形成された結合を介して互いに結合固定されている。
なお、図1(b)に示すように、反応性シリカ微粒子42は、第1層目のエポキシ化シリカ微粒子34の側面にも結合することができるが、図1(b)では、説明のために、実際のパターンの大きさに対して微粒子の大きさを誇張して描写しているので、実際にはそれによりパターン形状が損なわれることは殆どない。
パターン状の絶縁性単層微粒子膜1およびパターン状の絶縁性積層微粒子膜3の製造方法は、図3(a)、(b)、図4(a)、および図5(a)、(b)に示すように、エポキシ基を有するアルコキシシラン化合物(第1の膜化合物の一例)を含む溶液をガラス板(基材の一例)11の表面に接触させ、アルコキシシリル基(第1の結合基の一例)とガラス板11の表面のヒドロキシル基12との間で結合を形成させ、エポキシ化ガラス板14(被覆基材の一例)を調製する工程A(図3参照)と、パターン部分を覆うマスク21を通して、エポキシ化ガラス板14の表面に光照射(エネルギー照射の一例)するパターン形成処理を行い、パターン部分にのみエポキシ基を残したパターン形成されたエポキシ化ガラス板22を調製する工程B(図4参照)と、エポキシ基を有するアルコキシシラン化合物(第2の膜化合物の一例)をシリカ微粒子(微粒子の一例)31の表面に接触させ、アルコキシシリル基(第2の結合基の一例)とシリカ微粒子31の表面のヒドロキシル基31との間で結合を形成させ、エポキシ化シリカ微粒子34を調製する工程C(図5参照)と、まず、パターン形成されたエポキシ化ガラス板22の表面に、2−メチルイミダゾールを接触させ、エポキシ基とアミノ基とをカップリング反応させて反応性ガラス板41を調製し、次いで、反応性ガラス板41の表面にエポキシ化シリカ微粒子34を接触させ、エポキシ基とイミノ基(第2のカップリング反応基の一例)とのカップリング反応により結合を形成させ、反応性ガラス板41の表面にエポキシ化シリカ微粒子34を固定し、次いで、固定されなかったエポキシ化シリカ微粒子34を除去する工程Dと、エポキシ化アルコキシシラン化合物(第3の膜化合物の一例)を含む溶液をシリカ微粒子31の表面に接触させ、アルコキシシリル基(第3の結合基の一例)とシリカ微粒子31の表面のヒドロキシル基32との間で結合を形成させ、エポキシ化シリカ微粒子(第2の被覆微粒子の一例)34を調製し、次いで、エポキシ化シリカ微粒子34の表面に、2−メチルイミダゾール(第2のカップリング剤の一例)を接触させ、エポキシ基(第3の官能基の一例)とアミノ基とのカップリング反応により形成させた結合を介して固定された2−メチルイミダゾールの形成する被膜を表面に有する反応性シリカ微粒子(第2の反応性微粒子の一例)42を調製する工程Eと、エポキシ化シリカ微粒子34の微粒子層を有するパターン状の絶縁性単層微粒子膜1またはパターン状の絶縁性積層微粒子膜3の表面に反応性シリカ微粒子42を接触させ、エポキシ基とイミノ基とのカップリング反応により結合を形成させ、反応性シリカ微粒子42をエポキシ化シリカ微粒子34の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった反応性シリカ微粒子42を除去する工程Fと、反応性シリカ微粒子42の微粒子層を有するパターン状の絶縁性積層微粒子膜3の表面にエポキシ化シリカ微粒子34を接触させ、エポキシ基とイミノ基とのカップリング反応により結合を形成させ、エポキシ化シリカ微粒子34を反応性シリカ微粒子42の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかったエポキシ化シリカ微粒子34を除去する工程Gとを有する。
以下、工程A〜Gについてより詳細に説明する。
工程Aでは、エポキシ基を有する膜化合物をガラス板11に接触させ、エポキシ基を有する膜化合物の単分子膜13で表面が覆われたエポキシ化ガラス板14を製造する(図3参照)。
なお、ガラス板11の大きさには特に制限はない。
エポキシ基を有する膜化合物としては、ガラス板11の表面に吸着または結合し、自己組織化により単分子膜を形成することのできる任意の化合物を用いることができるが、直鎖状アルキレン基の一方の末端にエポキシ基(オキシラン環)を含む官能基を、他方の末端にアルコキシシリル基(第1の結合基の一例)をそれぞれ有し、下記の一般式(化1)で表されるアルコキシシラン化合物が好ましい。
Figure 0005611503
上式において、Eはエポキシ基を有する官能基を、mは3〜20の整数を、Rは炭素数1〜4のアルキル基をそれぞれ表す。
用いることのできるエポキシ基を有する膜化合物の具体例としては、下記(1)〜(12)に示したアルコキシシラン化合物が挙げられる。
(1) (CHOCH)CH2O(CH2)Si(OCH)3
(2) (CHOCH)CH2O(CH2)Si(OCH)3
(3) (CHOCH)CH2O(CH2)11Si(OCH)3
(4) (CHCHOCH(CH)CH(CH2)Si(OCH)3
(5) (CHCHOCH(CH)CH(CH2)Si(OCH)3
(6) (CHCHOCH(CH)CH(CH2)Si(OCH)3
(7) (CHOCH)CH2O(CH2)Si(OC)3
(8) (CHOCH)CH2O(CH2)Si(OC)3
(9) (CHOCH)CH2O(CH2)11Si(OC)3
(10) (CHCHOCH(CH)CH(CH2)Si(OC)3
(11) (CHCHOCH(CH)CH(CH2)Si(OC)3
(12) (CHCHOCH(CH)CH(CH2)Si(OC)3
ここで、(CHOCH)CHO−基は、化2で表される官能基(グリシジル基)を表し、(CHCHOCH(CH)CH−基は、化3で表される官能基(3,4−エポキシシクロヘキシル基)を表す。
Figure 0005611503
Figure 0005611503
エポキシ化ガラス板14の製造は、エポキシ基およびアルコキシシリル基(第2の結合基の一例)を含むアルコキシシラン化合物と、アルコキシシリル基とガラス板11の表面のヒドロキシル基12との縮合反応を促進するための縮合触媒と、非水系の有機溶媒とを混合した反応液をガラス板11の表面に塗布し、室温の空気中で反応させることにより行われる。塗布は、ドクターブレード法、ディップコート法、スピンコート法、スプレー法、スクリーン印刷法等の任意の方法により行うことができる。
縮合触媒としては、カルボン酸金属塩、カルボン酸エステル金属塩、カルボン酸金属塩ポリマー、カルボン酸金属塩キレート、チタン酸エステルおよびチタン酸エステルキレート等の金属塩が利用可能である。
縮合触媒の添加量は、好ましくはアルコキシシラン化合物の0.2〜5質量%であり、より好ましくは0.5〜1質量%である。
カルボン酸金属塩の具体例としては、酢酸第1スズ、ジブチルスズジラウレート、ジブチルスズジオクテート、ジブチルスズジアセテート、ジオクチルスズジラウレート、ジオクチルスズジオクテート、ジオクチルスズジアセテート、ジオクタン酸第1スズ、ナフテン酸鉛、ナフテン酸コバルト、2−エチルヘキセン酸鉄が挙げられる。
カルボン酸エステル金属塩の具体例としては、ジオクチルスズビスオクチリチオグリコール酸エステル塩、ジオクチルスズマレイン酸エステル塩が挙げられる。
カルボン酸金属塩ポリマーの具体例としては、ジブチルスズマレイン酸塩ポリマー、ジメチルスズメルカプトプロピオン酸塩ポリマーが挙げられる。
カルボン酸金属塩キレートの具体例としては、ジブチルスズビスアセチルアセテート、ジオクチルスズビスアセチルラウレートが挙げられる。
チタン酸エステルの具体例としては、テトラブチルチタネート、テトラノニルチタネートが挙げられる。
チタン酸エステルキレート類の具体例としては、ビス(アセチルアセトニル)ジ−プロピルチタネートが挙げられる。
アルコキシシリル基とガラス板11の表面のヒドロキシル基12とが縮合反応を起こし、下記の化4で示されるような構造を有するエポキシ基を有する膜化合物の単分子膜13を生成する。なお、酸素原子から延びた3本の単結合はガラス板11の表面または隣接するシラン化合物のケイ素(Si)原子と結合しており、そのうち少なくとも1本はガラス板11の表面のケイ素原子と結合している。
Figure 0005611503
アルコキシシリル基は、水分の存在下で分解するので、反応は相対湿度45%以下の空気中で行うことが好ましい。なお、縮合反応は、ガラス板11の表面に付着した油脂分や水分により阻害されるので、ガラス板11をよく洗浄して乾燥することにより、これらの不純物を予め除去しておくことが好ましい。
縮合触媒として上述の金属塩のいずれかを用いた場合、縮合反応の完了までに要する時間は2時間程度である。
上述の金属塩の代わりに、ケチミン化合物、有機酸、アルジミン化合物、エナミン化合物、オキサゾリジン化合物、アミノアルキルアルコキシシラン化合物からなる群より選択される1または2以上の化合物を縮合触媒として用いた場合、反応時間を1/2〜2/3程度まで短縮できる。
あるいは、これらの化合物を助触媒として、上述の金属塩と混合(質量比1:9〜9:1の範囲で使用可能だが、1:1前後が好ましい)して用いると、反応時間をさらに短縮できる。
例えば、縮合触媒として、ジブチルスズオキサイドの代わりにケチミン化合物であるジャパンエポキシレジン社のH3を用い、その他の条件は同一にしてエポキシ化シリカ微粒子21の製造を行うと、エポキシ化シリカ微粒子21の品質を損なうことなく反応時間を1時間程度にまで短縮できる。
さらに、縮合触媒として、ジャパンエポキシレジン社のH3とジブチルスズビスアセチルアセトネートとの混合物(混合比は1:1)を用い、その他の条件は同一にしてエポキシ化シリカ微粒子21の製造を行うと、反応時間を20分程度に短縮できる。
なお、ここで用いることができるケチミン化合物は特に限定されるものではないが、例えば、2,5,8−トリアザ−1,8−ノナジエン、3,11−ジメチル−4,7,10−トリアザ−3,10−トリデカジエン、2,10−ジメチル−3,6,9−トリアザ−2,9−ウンデカジエン、2,4,12,14−テトラメチル−5,8,11−トリアザ−4,11−ペンタデカジエン、2,4,15,17−テトラメチル−5,8,11,14−テトラアザ−4,14−オクタデカジエン、2,4,20,22−テトラメチル−5,12,19−トリアザ−4,19−トリエイコサジエン等が挙げられる。
また、用いることができる有機酸としても特に限定されるものではないが、例えば、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、マロン酸等が挙げられる。
反応液の製造には、有機塩素系溶媒、炭化水素系溶媒、フッ化炭素系溶媒、シリコーン系溶媒、およびこれらの混合溶媒を用いることができる。アルコキシシラン化合物の加水分解を防止するために、乾燥剤または蒸留により使用する溶媒から水分を除去しておくことが好ましい。また、溶媒の沸点は50〜250℃であることが好ましい。
具体的に使用可能な溶媒としては、非水系の石油ナフサ、ソルベントナフサ、石油エーテル、石油ベンジン、イソパラフィン、ノルマルパラフィン、デカリン、工業ガソリン、ノナン、デカン、灯油、ジメチルシリコーン、フェニルシリコーン、アルキル変性シリコーン、ポリエーテルシリコーン、ジメチルホルムアミド等を挙げることができる。
さらに、メタノール、エタノール、プロパノール等のアルコール系溶媒、あるいはそれらの混合物を用いることもできる。
また、用いることができるフッ化炭素系溶媒としては、フロン系溶媒、フロリナート(米国3M社製)、アフルード(旭硝子株式会社製)等がある。なお、これらは1種単独で用いても良いし、良く混ざるものなら2種以上を組み合わせてもよい。さらに、ジクロロメタン、クロロホルム等の有機塩素系溶媒を添加してもよい。
反応液におけるアルコキシシラン化合物の好ましい濃度は、0.5〜3質量%である。
反応後、溶媒で洗浄し、未反応物として表面に残った余分なアルコキシシラン化合物および縮合触媒を除去すると、エポキシ基を有する膜化合物の単分子膜13で表面が覆われたエポキシ化ガラス板14が得られる。このようにして製造されるエポキシ化ガラス板14の断面構造の模式図を図3(b)に示す。
洗浄溶媒としては、アルコキシシラン化合物を溶解できる任意の溶媒を用いることができるが、安価であり、溶解性が高く、風乾により容易に除去することのできるジクロロメタン、クロロホルム、N−メチルピロリドン等が好ましい。
反応後、生成したエポキシ化ガラス板14を溶媒で洗浄せずに空気中に放置すると、表面に残ったアルコキシシラン化合物の一部が空気中の水分により加水分解を受け、生成したシラノール基がアルコキシシリル基と縮合反応を起こす。その結果、エポキシ化ガラス板14の表面にポリシロキサンよりなる極薄のポリマー膜が形成される。このポリマー膜は、エポキシ化ガラス板14の表面に必ずしも共有結合により固定されていないが、エポキシ基を含んでいるため、エポキシ化ガラス板14に対してエポキシ基を有する膜化合物の単分子膜13と同様の反応性を有している。そのため、洗浄を行わなくても、工程C以降の製造工程に特に支障をきたすことはない。
なお、本実施の形態においては、エポキシ基を有するアルコキシシラン化合物を用いたが、直鎖状アルキレン基の一方の末端にアミノ基を、他方の末端にアルコキシシリル基をそれぞれ有し、下記の一般式(化5)で表されるアルコキシシラン化合物を用いてもよい。なお、イミノ基やアミノ基と反応するカップリング剤としては、両端にグリシジル基を有するものが使用できる。
Figure 0005611503
上式において、mは3〜20の整数を、Rは炭素数1〜4のアルキル基をそれぞれ表す。
用いることのできるアミノ基を有する膜化合物の具体例としては、下記(21)〜(28)に示したアルコキシシラン化合物が挙げられる。
(21) H2N(CH2)Si(OCH)3
(22) H2N(CH2)Si(OCH)3
(23) H2N(CH2)Si(OCH)3
(24) H2N(CH2)Si(OCH)3
(25) H2N(CH2)Si(OC)3
(26) H2N(CH2)Si(OC)3
(27) H2N(CH2)Si(OC)3
(28) H2N(CH2)Si(OC)3
ただし、この場合には、反応液において用いることのできる縮合触媒のうち、スズ(Sn)塩を含む化合物は、アミノ基と反応して沈殿を生成するため、アミノ基を有するアルコキシシラン化合物に対しては縮合触媒として用いることができない。
したがって、アミノ基を有するアルコキシシラン化合物を用いる場合には、カルボン酸スズ塩、カルボン酸エステルスズ塩、カルボン酸スズ塩ポリマー、カルボン酸スズ塩キレートを除き、エポキシ基を有するアルコキシシラン化合物の場合と同様の化合物を単独でまたは2種類以上を混合して縮合触媒として用いることができる。
用いることのできる助触媒の種類およびそれらの組み合わせ、溶媒の種類、アルコキシシラン化合物、縮合触媒、および助触媒の濃度、反応条件ならびに反応時間についてはエポキシ基を有するアルコキシシラン化合物の場合と同様であるので、説明を省略する。
本実施の形態においては、ガラス板を基材として用いたが、レンズ、回折格子等の光学部品を基材として用いることも勿論可能である。
その表面にヒドロキシル基、アミノ基等の活性水素基を有する場合には、膜化合物としてアルコキシシラン化合物を用いることができる。この様な基材の具体例としては、銅板、アルミニウム板、シリコンウェーハ等の金属箔または金属板等が挙げられる。したがって、これらを構成部材として含む、半導体ウェーハ、プリント基板等の電子部品、マイクロマシンを含む各種機械部品等の部材も、基材として用いることができる。
本実施の形態においては、膜化合物として基材の表面の活性水素基と縮合反応するシラン化合物を用いたが、工程Aと同様、例えば、金メッキ層を有する基材の場合には、膜化合物として金原子と強い結合を形成するチオール誘導体またはトリアジンチオール誘導体を用いることができる。
本実施の形態においては、膜化合物として微粒子の表面の活性水素基と縮合反応するシラン化合物を用いたが、例えば、金微粒子や金メッキ層を有する基材の場合には、膜化合物として金原子と強い結合を形成するチオール誘導体またはトリアジンチオール誘導体を用いることができる。
(以上工程A)
工程Bでは、パターン部分を覆うマスク21を通して、エポキシ化ガラス板14の表面を露光するパターン形成処理を行い、パターン部分にのみ選択的にエポキシ基を残した、パターン形成されたエポキシ化ガラス板22を調製する(図4参照)。
露光に用いるマスクとしては、半導体素子の製造等におけるフォトリソグラフィに用いられるレチクル用材料等の、光を透過せず、少なくとも露光の間は照射光による損傷を受けない任意の材質のものを用いることができる。また、露光は等倍露光でもよく、微細なパターンを形成する場合等には縮小投影露光を用いてもよい。
光源としては、XeF(353nm)、XeCl(308nm)、KrF(248nm)、ArF(193nm)等のエキシマレーザー等のレーザー光が好ましく用いられる。図4(a)に示すように、レーザー光の照射により、照射した部位の温度が上昇し、その部分を被覆しているエポキシ基を有する膜化合物が除去され(23)、パターン形成されたエポキシ化ガラス板22が得られる(図4(a)参照)。
照射した部分以外への入熱を抑制するため、パルスレーザーを用いるパルスレーザーアブレーション法により、エポキシ化された膜化合物を除去することが好ましい。
レーザー光の強度は、0.1〜0.3J・cm−2であることが好ましい。レーザー光の強度が0.1J・cm−2未満である場合には、十分にエポキシ基を有する膜化合物を除去することができず、0.3J・cm−2を上回る場合には、エポキシ化ガラス板14のガラス部材が除去されるため、いずれも好ましくない。
また、レーザー光の強度が上記範囲内である場合、パルス幅としては5〜50nsが好ましい。
上記の実施の形態においては、パルスレーザーアブレーション法によりエポキシ化された膜化合物を除去したが、電子線、X線等の他のエネルギー照射を用いてもよい。また、マスクを通して露光する代わりに、直接エポキシ化ガラス板14上に電子ビーム等で選択的にパターンを描画することにより、パターン以外の部分のエポキシ化された膜化合物を除去してもよい。
変形例に係るパターン形成処理を行う工程においては、図4(b)に示すように、エポキシ化ガラス板14の表面に光重合開始剤を塗布した後、パターン部分を覆うマスク21を通して、エポキシ化ガラス板14の表面を露光することにより、露光した部分のエポキシ基を開環重合させ、パターン部分にのみエポキシ基を有するパターン形成されたエポキシ化ガラス板24を調製する。
用いることができる光重合開始剤としては、ジアリールヨードニウム塩等のカチオン性光重合開始剤が挙げられる。光源としては、高圧水銀灯、キセノンランプ等が挙げられる。
(以上工程B)
工程Cでは、工程Aにおいて用いたものと同様のエポキシ基を有する膜化合物をシリカ微粒子31と接触させ、エポキシ基を有する膜化合物の単分子膜33で表面が覆われたエポキシ化シリカ微粒子34を製造する。
用いることのできるシリカ微粒子31の粒径に特に制限はないが、10nm〜0.1mmの範囲内であることが好ましい。シリカ微粒子31の粒径が10nm未満である場合には、膜化合物の分子サイズの影響が無視できなくなり、粒径が0.1mmを上回る場合には、シリカ微粒子31の表面積に対する質量の割合が大きくなるため、架橋反応によりその質量を支持できなくなる。
エポキシ化シリカ微粒子34の製造は、エポキシ基を含むアルコキシシラン化合物と、アルコキシシリル基とシリカ微粒子31の表面のヒドロキシル基32との縮合反応を促進するための縮合触媒と、非水系の有機溶媒とを混合した反応液中にシリカ微粒子31を分散させ、室温の空気中で反応させることにより行われる。
工程Cにおいて用いることのできるエポキシ基を有するアルコキシシラン化合物の種類、縮合触媒、助触媒の種類およびそれらの組み合わせ、溶媒の種類、アルコキシシラン化合物、縮合触媒、および助触媒の濃度、反応条件ならびに反応時間については工程Aと同様であるので、説明を省略する。
反応後、溶媒で洗浄し、未反応物として表面に残った余分なアルコキシシラン化合物および縮合触媒を除去すると、エポキシ基を有する膜化合物の単分子膜33で表面が覆われたエポキシ化シリカ微粒子34が得られる。このようにして製造されるエポキシ化シリカ微粒子24の断面構造の模式図を図5(b)に示す。
洗浄溶媒としては、工程Aと同様の洗浄溶媒を用いることができる。
反応後、生成したエポキシ化シリカ微粒子34を溶媒で洗浄せずに空気中に放置すると、表面に残ったアルコキシシラン化合物の一部が空気中の水分により加水分解を受け、生成したシラノール基がアルコキシシリル基と縮合反応を起こす。その結果、エポキシ化シリカ微粒子34の表面にポリシロキサンよりなる極薄のポリマー膜が形成される。このポリマー膜は、エポキシ化シリカ微粒子34の表面に共有結合により固定されていないが、エポキシ基を含んでいるため、エポキシ化シリカ微粒子34に対してエポキシ基を有する膜化合物の単分子膜33と同様の反応性を有している。そのため、洗浄を行わなくても、工程D以降の製造工程に特に支障をきたすことはない。
なお、本実施の形態においてはエポキシ基を有するアルコキシシラン化合物を用いたが、工程Aと同様、直鎖状アルキレン基の一方の末端にアミノ基を、他方の末端にアルコキシシリル基をそれぞれ有するアルコキシシラン化合物を用いてもよい。
また、本実施の形態においては工程Aと同一のアルコキシシラン化合物を用いているが、異なるアルコキシシラン化合物を用いてもよい。ただし、工程Dにおいて用いるカップリング剤のカップリング反応基と反応して結合を形成する官能基を有するものでなければならない。
また、本実施の形態においては、微粒子としてシリカ微粒子を用いたが、他に、アルミナ、酸化チタン、酸化タンタル等の無機絶縁性微粒子、または有機絶縁性微粒子を用いることができる。あるいは、有機−無機微粒子層を交互に積層してもよい。
シリカ微粒子以外の微粒子であっても、その表面に水酸基、アミノ基等の活性水素基を有する場合には、膜化合物としてアルコキシシラン化合物を用いることができる。この様な微粒子の具体例としては、アルミナ、酸化鉛等の金属酸化物の微粒子等が挙げられる。
本実施の形態においては、第1および第2の膜化合物として、ともにエポキシ基を有する膜化合物を用いているが、両者は同一の化合物であってもよく、また異なる化合物であってもよい。さらに、第1および第2の膜化合物が異なる官能基(例えば、一方がエポキシ基で他方がイソシアネート基)を有していてもよい。
(以上工程C)
工程Dでは、まず、エポキシ化ガラス板14の表面に、2−メチルイミダゾールを接触させ、エポキシ基とアミノ基とをカップリング反応させて反応性ガラス板41を調製し、次いで、反応性ガラス板32の表面にエポキシ化シリカ微粒子24を接触させ、エポキシ基とイミノ基とのカップリング反応により結合を形成させ、反応性ガラス板41の表面にエポキシ化シリカ微粒子24を固定し、次いで、固定されなかったエポキシ化シリカ微粒子24を除去する
2−メチルイミダゾールはエポキシ基と反応するアミノ基およびイミノ基をそれぞれ1−位および3−位に有しており、下記の化6に示すような架橋反応により結合を形成する。
Figure 0005611503
反応性ガラス板32の製造は、2−メチルイミダゾールと溶媒とを混合した反応液をエポキシ化ガラス板14の表面に塗布し、加熱して反応させることにより行われる。塗布は、ドクターブレード法、ディップコート法、スピンコート法、スプレー法、スクリーン印刷法等の任意の方法により行うことができる。
膜前駆体の製造には、2−メチルイミダゾールが可溶な任意の溶媒を用いることができるが、価格、室温での揮発性、および毒性等を考慮すると、イソプロピルアルコール、エタノール等の低級アルコール系溶媒が好ましい。
2−メチルイミダゾールの添加量、塗布する溶液の濃度、反応温度および反応時間は、用いる基材および微粒子の種類、形成する絶縁性微粒子膜の膜厚等に応じて適宜調節される。
反応後、溶媒で洗浄し、未反応物として表面に残った余分な2−メチルイミダゾールを除去すると、反応性ガラス板41が得られる。
このようにして得られた反応性ガラス板41の表面にエポキシ化シリカ微粒子34の分散液を塗布後加熱し、エポキシ化シリカ微粒子34上のエポキシ基と、反応性ガラス板41上の2−メチルイミダゾールに由来するイミノ基とのカップリング反応によりエポキシ化シリカ微粒子34を反応性ガラス板41の表面に結合固定し、単層の微粒子層を有するパターン状の絶縁性単層微粒子膜1を製造する。
加熱温度は、100〜200℃が好ましい。加熱温度が100℃未満だと、カップリング反応の進行に長時間を要し、200℃を上回ると、エポキシ基を有する単分子膜23や反応性単分子膜31の分解反応が起こり、均一なパターン状の絶縁性単層微粒子膜1が得られない。
反応後、水やアルコール等の溶媒で洗浄することにより、余分のエポキシ化シリカ微粒子34を除去する。
本実施の形態においては、カップリング剤として2−メチルイミダゾールを用いたが、下記化7で表される任意のイミダゾール誘導体を用いることができる。
Figure 0005611503
化7で表されるイミダゾール誘導体の具体例としては、下記(31)〜(38)に示すものが挙げられる。
(31) 2−メチルイミダゾール(R=Me、R=R=H)
(32) 2−ウンデシルイミダゾール(R=C1123、R=R=H)
(33) 2−ペンタデシルイミダゾール(R=C1531、R=R=H)
(34) 2−メチル−4−エチルイミダゾール(R=Me、R=Et、R=H)
(35) 2−フェニルイミダゾール(R=Ph、R=R=H)
(36) 2−フェニル−4−エチルイミダゾール(R=Ph、R=Et、R=H)
(37) 2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール(R=Ph、R=Me、R=CHOH)
(38) 2−フェニル−4,5−ビス(ヒドロキシメチル)イミダゾール(R=Ph、R=R=CHOH)
なお、Me、Et、およびPhは、それぞれメチル基、エチル基、およびフェニル基を表す。
また、エポキシ樹脂の硬化剤として用いられる無水フタル酸、無水マレイン酸等の酸無水物、ジシアンジアミド、ノボラック等のフェノール誘導体等の化合物をカップリング剤として用いてもよい。この場合、カップリング反応を促進するためにイミダゾール誘導体を触媒として用いてもよい。
なお、本実施の形態においては官能基としてエポキシ基を有する膜化合物を用いた場合について説明しているが、官能基としてアミノ基またはイミノ基を有する膜化合物を用いる場合には、カップリング反応基として2もしくは3以上のエポキシ基または2もしくは3以上のイソシアネート基を有するカップリング剤を用いる。イソシアネート基を有する化合物の具体例としては、ヘキサメチレン−1,6−ジイソシアネート、トルエン−2,6−ジイソシアネート、トルエン−2,4−ジイソシアネート等が挙げられる。
これらのジイソシアネート化合物の添加量は、2−メチルイミダゾールの場合と同様、エポキシ化シリカ微粒子の5〜15重量%が好ましい。この場合、膜前駆体の製造に用いることのできる溶媒としては、キシレン等の芳香族有機溶媒が挙げられる。
また、イミノ基やアミノ基を有する膜化合物を用いる場合、架橋剤としては、エチレングリコールジグリシジルエーテル等の2または3以上のエポキシ基を有する化合物を用いることもできる。
(以上工程D)
工程Eでは、エポキシ化アルコキシシラン化合物を含む溶液をシリカ微粒子31の表面に接触させ、アルコキシシリル基とシリカ微粒子31の表面のヒドロキシル基32との間で結合を形成させ、エポキシ化シリカ微粒子34を調製し、次いで、エポキシ化シリカ微粒子34の表面に、2−メチルイミダゾールを接触させ、エポキシ基と2−メチルイミダゾールに由来するアミノ基とのカップリング反応により形成させた結合を介して固定された2−メチルイミダゾールの形成する被膜を表面に有する反応性シリカ微粒子42を調製する。
用いられる2−メチルイミダゾール溶液の濃度、反応条件等は、溶液を塗布するのではなく、エポキシ化シリカ微粒子34を溶液中に分散させて加熱することを除くと、工程Dにおける反応性ガラス板41の調製の場合と同様であるので、詳しい説明を省略する。他に用いることのできるカップリング剤についても、工程Dにおける反応性ガラス板41の調製の場合と同様である。
本実施の形態においては、第3の膜化合物として、ともにエポキシ基を有する膜化合物を用いているが、第1および第2の膜化合物の一方または双方と同一の化合物であってもよく、また異なる化合物であってもよい。さらに、第1および第2の膜化合物と異なる官能基(例えば、アミノ基)を有していてもよい。
(以上工程E)
工程Fでは、エポキシ化シリカ微粒子24の微粒子層を有するパターン状の絶縁性単層微粒子膜1またはパターン状の絶縁性積層微粒子膜3の表面に反応性シリカ微粒子42を接触させ、エポキシ基とイミノ基とのカップリング反応により結合を形成させ、反応性シリカ微粒子42をエポキシ化シリカ微粒子24の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった反応性シリカ微粒子42を除去する。
また、工程Gでは、反応性シリカ微粒子42の微粒子層を有するパターン状の絶縁性積層微粒子膜3の表面にエポキシ化シリカ微粒子24を接触させ、エポキシ基とイミノ基とのカップリング反応により結合を形成させ、エポキシ化シリカ微粒子24を反応性シリカ微粒子42の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかったエポキシ化シリカ微粒子24を除去する。
工程F、Gにおける反応条件については、工程Eと同様であるので、詳しい説明を省略する。
(以上工程FおよびG)
本実施の形態においては、微粒子層を2層有する絶縁性微粒子膜の調製について説明したが、工程FおよびGを反復して、n(nは2以上の整数)層の微粒子層からなる絶縁性微粒子膜を形成する工程Hをさらに行ってもよい。なお、工程Hは、工程Fおよび工程Gのいずれで終えてもよい。
次に、本発明の第2の実施の形態に係るパターン状の絶縁性単層微粒子膜2およびパターン状の絶縁性積層微粒子膜4について説明する。
図2(a)に示すように、パターン状の絶縁性単層微粒子膜2およびパターン状の絶縁性積層微粒子膜4は、エポキシ化ガラス板14の表面に、反応性シリカ微粒子42が配列した微粒子層が1層結合固定されている。図2(b)に示すように、パターン状の絶縁性積層微粒子膜4においては、微粒子層は、エポキシ化ガラス板14側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数で、本実施の形態においてはn=2)まで順次積層している。
エポキシ化ガラス板14の表面は、エポキシ基を有する膜化合物の単分子膜13で被覆されている。
1層目の微粒子層を形成している反応性シリカ微粒子42の表面は、2−メチルイミダゾールのアミノ基とエポキシ基とのカップリング反応により形成された結合を介して固定された2-メチルイミダゾールの被膜でさらに被覆されている。
エポキシ化ガラス板14と第1層目の微粒子層を形成する反応性シリカ微粒子42、および奇数層目の微粒子層を形成する反応性シリカ微粒子42と偶数層目の微粒子層を形成するエポキシ化シリカ微粒子34との間は、エポキシ基と2−メチルイミダゾールのアミノ基またはイミノ基とのカップリング反応により形成された結合を介して互いに結合固定されている。
なお、図2(b)に示すように、エポキシ化シリカ微粒子34は、奇数層目の反応性シリカ微粒子42の側面にも結合することができるが、図2(b)では、説明のために、実際のパターンの大きさに対して微粒子の大きさを誇張して描写しているので、それによりパターン形状が損なわれることはない。
パターン状の絶縁性単層微粒子膜2およびパターン状の絶縁性積層微粒子膜4の製造方法は、図3(a)、(b)、図4(a)、および図5(a)、(b)に示すように、エポキシ基を有するアルコキシシラン化合物を含む溶液をガラス板11の表面に接触させ、アルコキシシリル基とガラス板11の表面のヒドロキシル基12との間で結合を形成させ、エポキシ化ガラス板14を調製する工程Aと、パターン部分を覆うマスク21を通して、エポキシ化ガラス板14の表面に選択的に光照射するパターン形成処理を行い、パターン部分にのみ選択的にエポキシ基を残した、パターン形成されたエポキシ化ガラス板22を調製する工程Bと、エポキシ基を有するアルコキシシラン化合物をシリカ微粒子31の表面に接触させ、アルコキシシリル基とシリカ微粒子31の表面のヒドロキシル基32との間で結合を形成させ、エポキシ化シリカ微粒子34を調製する工程Cと、まず、エポキシ化シリカ微粒子34の表面に、2−メチルイミダゾールを接触させ、エポキシ基とアミノ基とをカップリング反応させて反応性シリカ微粒子42を調製し、次いで、エポキシ化ガラス板14の表面に反応性シリカ微粒子42を接触させ、エポキシ基とイミノ基(第2のカップリング反応基の一例)とのカップリング反応により結合を形成させ、エポキシ化ガラス板14の表面に反応性シリカ微粒子42を固定し、次いで、固定されなかった反応性シリカ微粒子42を除去する工程Dと、エポキシ化アルコキシシラン化合物を含む溶液をシリカ微粒子31の表面に接触させ、アルコキシシリル基とシリカ微粒子31の表面のヒドロキシル基32との間で結合を形成させ、エポキシ化シリカ微粒子34を調製する工程Eと、最上層に反応性シリカ微粒子42の微粒子層を有するパターン状の絶縁性単層微粒子膜2またはパターン状の絶縁性積層微粒子膜4の表面にエポキシ化シリカ微粒子34を接触させ、エポキシ基とイミノ基とのカップリング反応により結合を形成させ、エポキシ化シリカ微粒子34を反応性シリカ微粒子42の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかったエポキシ化シリカ微粒子34を除去する工程Fと、最上層にエポキシ化シリカ微粒子34の微粒子層を有するパターン状の絶縁性積層微粒子膜4の表面に反応性シリカ微粒子42を接触させ、エポキシ基とイミノ基とのカップリング反応により結合を形成させ、反応性シリカ微粒子42をエポキシ化シリカ微粒子34の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった反応性シリカ微粒子42を除去する工程Gとを有する。
工程A〜Gにおける、エポキシ化ガラス板14、エポキシ化シリカ微粒子34、反応性ガラス板41、および反応性シリカ微粒子42の調製、ならびにこれらの反応については、第1の実施の形態に係るパターン状の絶縁性単層微粒子膜1およびパターン状の絶縁性積層微粒子膜3の場合と同様であるので、詳しい説明は省略する。
次に、本発明の作用効果を確認するために行った実施例について説明する。
実施例1:エポキシ化ガラス板の調製
ガラス板を用意し、洗浄後よく乾燥した。
3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(化8、信越化学工業株式会社製)0.99重量部、およびジブチルスズビスアセチルアセトナート(縮合触媒)0.01重量部を秤量し、これを100重量部のヘキサメチルジシロキサン溶媒に溶解し、反応液を調製した。
Figure 0005611503
このようにして得られた反応液をガラス板に塗布し、空気中(相対湿度45%)で2時間程度反応させた。
その後、クロロホルムで洗浄し、余分なアルコキシシラン化合物およびジブチルスズビスアセチルアセトナートを除去した。この方法により、エポキシ化ガラス板を調製できた。
実施例2:パターン形成されたエポキシ化ガラス板の調製
実施例1で調製したエポキシ化ガラス板に、形成されるパターン部分を覆うマスクを介してKrFエキシマレーザー(波長248nm、パルス幅10ns、レーザー強度0.15J/cm)を照射し、パターン部分以外の部分を被覆するエポキシ基を有する単分子膜を、レーザーアブレーションにより除去した。この方法によりパターン形成されたエポキシ化ガラス板を調製できた。
あるいは、カチオン性光重合開始剤であるイルガキュア(登録商標)250((4−メチルフェニル)[4−(2−メチルプロピル)フェニル]ヨードニウムヘキサフルオロホスフェート)と炭酸プロピレンとの3:1混合物、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製)をMEKで希釈してエポキシ化ガラス板の表面に塗布した後、形成されるパターン部分を覆うマスクを介して遠紫外線を照射し、パターン部分以外の部分を被覆するエポキシ基を有する単分子膜のエポキシ基を開環重合させることによっても、パターン形成されたエポキシ化ガラス板を調製できた。
実施例3:エポキシ化シリカ微粒子の調製
粒径が100nm程度の無水のシリカ微粒子を用意し、よく乾燥した。
3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(化8)0.99重量部、およびジブチルスズビスアセチルアセトナート(縮合触媒)0.01重量部を秤量し、これを100重量部のヘキサメチルジシロキサン溶媒に溶解し、反応液を調製した。
このようにして得られた反応液中にシリカ微粒子を混合し、撹拌しながら空気中(相対湿度45%)で2時間程度反応させた。
その後、トリクレンで洗浄し、余分なアルコキシシラン化合物およびジブチルスズビスアセチルアセトナートを除去した。この方法により、エポキシ化シリカ微粒子を調製できた。
実施例4:パターン状の反応性ガラス板の調製
実施例2で調製したパターン形成されたエポキシ化ガラス板の表面に、2−メチルイミダゾールのエタノール溶液を塗布し、100℃で加熱すると、エポキシ基と2−メチルイミダゾールのアミノ基とが反応してパターン状の反応性ガラス板が得られた。エタノールで洗浄することにより余分な2−メチルイミダゾールを除去した。
実施例5:反応性シリカ微粒子の調製
実施例3で調製したエポキシ化シリカ微粒子を、2−メチルイミダゾールのエタノール溶液中に分散して、100℃で加熱すると、エポキシ基と2−メチルイミダゾールのアミノ基とが反応して、反応性シリカ微粒子が得られた。その後、エタノールで洗浄することにより余分な2−メチルイミダゾールを除去した。
実施例6:パターン状のシリカ微粒子膜の調製(1)
実施例4で調製した反応性ガラス板の表面に、実施例3で調製したエポキシ化シリカ微粒子のエタノール分散液を塗布し、100℃で加熱した。反応後、水で洗浄し、余分なエポキシ化シリカ微粒子を除去した。
このようにして得られた、微粒子層が1層積層したパターン状のシリカ微粒子膜の表面に、実施例5で調製した反応性シリカ微粒子のエタノール分散液をさらに塗布し、100℃で加熱した。反応後、水で洗浄し、余分な反応性シリカ微粒子を除去すると、2層の微粒子層が積層したパターン状のシリカ微粒子膜が得られた。
実施例7:絶縁性微粒子膜の調製(2)
実施例2で調製したパターン形成されたエポキシ化ガラス板の表面に、実施例5で調製した反応性シリカ微粒子のエタノール分散液を塗布し、100℃で加熱した。反応後、水で洗浄し、余分な反応性シリカ微粒子を除去した。
このようにして得られた、シリカ微粒子層が1層積層したパターン状のシリカ微粒子膜の表面に、実施例3で調製したエポキシ化シリカ微粒子のエタノール分散液をさらに塗布し、100℃で加熱した。反応後、水で洗浄し、余分なエポキシ化シリカ微粒子を除去すると、2層のシリカ微粒子層が積層したパターン状のシリカ微粒子膜が得られた。
(a)は本発明の第1の実施の形態に係るパターン状の絶縁性単層微粒子膜の断面構造を模式的に表した説明図、(b)は同実施の形態に係るパターン状の絶縁性積層微粒子膜の断面構造を模式的に表した説明図である。 (a)は本発明の第2の実施の形態に係るパターン状の絶縁性単層微粒子膜の断面構造を模式的に表した説明図、(b)は同実施の形態に係るパターン状の絶縁性積層微粒子膜の断面構造を模式的に表した説明図である。 同パターン状の微粒子膜の製造方法において、エポキシ化ガラス板を製造する工程を説明するために分子レベルまで拡大した概念図であり、(a)は反応前のガラス板の断面構造、(b)はエポキシ基を有する膜化合物の単分子膜が形成されたガラス板の断面構造をそれぞれ表す。 (a)は、同パターン状の微粒子膜の製造方法におけるパターン形成処理を行う工程を説明するために分子レベルまで拡大した概念図であり、(b)は、変形例に係るパターン形成処理を行う工程を説明するために分子レベルまで拡大した概念図である。 同パターン状の微粒子膜の製造方法において、エポキシ化シリカ微粒子を製造する工程を説明するために分子レベルまで拡大した概念図であり、(a)は反応前のシリカ微粒子の断面構造、(b)はエポキシ基を有する膜化合物の単分子膜が形成されたシリカ微粒子の断面構造をそれぞれ表す。
符号の説明
1、2:パターン状の絶縁性単層微粒子膜、3、4:パターン状の絶縁性積層微粒子膜、11:ガラス板、12、32:ヒドロキシル基、13、33:エポキシ基を有する膜化合物の単分子膜、14:エポキシ化ガラス板、21:マスク、22、24:パターン形成されたエポキシ化ガラス板、23:除去されたエポキシ基を有する膜化合物、31:シリカ微粒子、34:エポキシ化シリカ微粒子、41:反応性ガラス板、42:反応性シリカ微粒子

Claims (32)

  1. 基材の表面の金属パターン部分にのみ絶縁性の微粒子が配列した微粒子層が1層結合固定されたパターン状の絶縁性微粒子膜であって、
    前記基材の表面の少なくとも前記パターン部分は、第1の官能基を有する第1の膜化合物の形成する被膜で被覆されており、
    前記微粒子の表面は、第2の官能基を有する第2の膜化合物の形成する被膜で被覆されており、
    前記微粒子は、前記第1の官能基とカップリング反応して結合を形成する少なくとも1の第1のカップリング反応基と、前記第2の官能基とカップリング反応して結合を形成する少なくとも1の第2のカップリング反応基とを有する第1のカップリング剤と、前記第1および前記第2の官能基とのカップリング反応により形成された結合を介して前記基材上に固定されていることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  2. 請求項1記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記基材の表面に前記第1の膜化合物の形成する被膜の表面の少なくとも前記パターン部分は、前記第1の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応により結合した前記第1のカップリング剤の形成する被膜でさらに被覆されていることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  3. 請求項1記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1の膜化合物の形成する被膜は前記基材の表面の前記パターン部分のみを被覆しており、前記微粒子の表面に前記第2の膜化合物の形成する被膜の表面は、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により結合した前記第1のカップリング剤の形成する被膜でさらに被覆されていることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1の膜化合物と前記第2の膜化合物とが同一の化合物であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1および第2の膜化合物の形成する被膜の一方または双方が単分子膜であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  6. 請求項2記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記基材上には、前記微粒子層が前記基材側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数)まで順次積層しており、
    奇数番目の前記微粒子層を形成している前記微粒子の表面は、前記第2の膜化合物の形成する被膜で被覆されており、
    偶数番目の前記微粒子層を形成している前記微粒子の表面は、第3の官能基を有する第3の膜化合物の形成する被膜で被覆され、少なくとも1の前記第2のカップリング反応基と、前記第3の官能基とカップリング反応して結合を形成する少なくとも1の第3のカップリング反応基とを有する第2のカップリング剤の形成する被膜によりさらにその表面が被覆されており、
    前記各微粒子層は、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により形成された結合、および前記第3の官能基と前記第3のカップリング反応基とのカップリング反応により形成された結合を介して互いに固定されていることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  7. 請求項6記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1〜第3の膜化合物、ならびに前記第1および第2のカップリング剤がそれぞれ同一の化合物であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  8. 請求項6および7のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1〜第3の膜化合物が形成する被膜が全て単分子膜であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  9. 請求項3記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記基材上には、前記微粒子層が前記基材側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数)まで順次積層しており、
    奇数番目の前記微粒子層を形成している前記微粒子の表面は、前記第2の膜化合物の形成する被膜で被覆され、前記第1のカップリング剤の形成する被膜によりさらにその表面が被覆されており、
    偶数番目の前記微粒子層を形成している前記微粒子の表面は、前記第1のカップリング反応基と反応する第3の官能基を有する第3の膜化合物の形成する被膜によりその表面が被覆されており、
    各微粒子層は、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により形成された結合、および前記第3の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応により形成された結合を介して互いに固定されていることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  10. 請求項9記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1〜第3の膜化合物が同一の膜化合物であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  11. 請求項9および10のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記第1〜第3の膜化合物が形成する被膜がいずれも単分子膜であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  12. 請求項1〜11のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とエポキシ基との反応により形成されたN−CHCH(OH)結合であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  13. 請求項1〜11のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜において、前記カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とイソシアネート基との反応により形成されたNH−CONH結合であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜。
  14. 基材の表面のパターン部分にのみ絶縁性の微粒子が配列した微粒子層が1層結合固定されたパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法であって、
    分子の両端にそれぞれ第1の官能基および第1の結合基を有する第1の膜化合物を含む溶液を前記基材の表面に接触させ、前記第1の結合基と前記基材の表面との間で結合を形成させ、前記第1の膜化合物の形成する被膜で前記基材の表面が被覆された被覆基材を調製する工程Aと、
    前記パターン部分を覆うマスクを通して、触媒を接触させた状態で前記被覆基材の表面にエネルギー線の照射を行い、前記パターン部分以外の前記第1の官能基を他の官能基に変換することにより、前記パターン部分にのみ前記第1の膜化合物の形成する被膜を残すパターン形成処理を行う工程Bと、
    分子の両端にそれぞれ第2の官能基および第2の結合基を有する第2の膜化合物を含む溶液を絶縁性の微粒子の表面に接触させ、前記第2の結合基と前記微粒子の表面との間で結合を形成させ、前記第2の膜化合物の形成する被膜で前記微粒子の表面が被覆された第1の被覆微粒子を調製する工程Cと、
    前記第1の官能基とカップリング反応して結合を形成する1または2以上の第1のカップリング反応基と、前記第2の官能基とカップリング反応して結合を形成する1または2以上の第2のカップリング反応基とを有する第1のカップリング剤を、前記被覆基材および前記第1の被覆微粒子の表面にそれぞれ接触させ、前記第1の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応、および前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第1の被覆微粒子からなる1層の前記微粒子層を、前記被覆基材の表面に結合固定し、次いで、前記被覆基材の表面に固定されなかった前記第1の被覆微粒子を除去する工程Dとを有することを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  15. 請求項14記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記工程Dでは、前記第1のカップリング剤を、まず、前記被覆基材の表面に接触させ、該第1のカップリング剤の被膜を有する反応性基材を調製し、次いで、該反応性基材の表面に前記第1の被覆微粒子を接触させ、該反応性基材の表面に前記第1の被覆微粒子を固定することを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  16. 請求項14記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記工程Dでは、まず、前記第1の被覆微粒子の表面に前記第1のカップリング剤を接触させ、前記第1のカップリング剤の被膜を有する第1の反応性微粒子を調製し、次いで、該第1の反応性微粒子の表面を前記被覆基材と接触させ、該被覆基材の表面に前記第1の反応性微粒子を固定することを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  17. 請求項14〜16のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1の膜化合物と前記第2の膜化合物とが同一の化合物であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  18. 請求項14〜17のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記工程Aおよび前記工程Cにおいて、未反応の前記第1および第2の膜化合物は洗浄除去され、前記基材および前記第1の微粒子の表面上で前記第1および第2の膜化合物がそれぞれ形成する被膜は、単分子膜であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  19. 請求項15記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記基材上には、前記微粒子層が前記基材側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数)まで順次積層したパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法であって、
    分子の両端にそれぞれ第3の官能基および第3の結合基を有する第3の膜化合物を含む溶液を前記微粒子の表面に接触させ、前記第3の結合基と前記微粒子の表面との間で結合を形成させ、前記第3の膜化合物の形成する被膜で表面が被覆された第2の被覆微粒子を被覆し、次いで、前記第2の被覆微粒子の表面に、前記第2のカップリング反応基と、前記第3の官能基とカップリング反応して結合を形成する1または2以上の第3のカップリング反応基とを有する第2のカップリング剤を接触させ、前記第3の官能基と前記第3のカップリング反応基とのカップリング反応により形成させた結合を介して固定された前記第2のカップリング剤の形成する被膜を表面に有する第2の反応性微粒子を調製する工程Eと、
    前記絶縁性微粒子膜の表層に位置する前記第1の被覆微粒子の微粒子層の表面に前記第2の反応性微粒子を接触させ、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第2の反応性微粒子を前記第1の被覆微粒子の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった前記第2の反応性微粒子を除去する工程Fと、
    前記絶縁性微粒子膜の表層に位置する前記第2の反応微粒子の微粒子層の表面に前記第1の被覆微粒子を接触させ、前記第2の官能基と前記第2のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第1の被覆微粒子を前記第2の反応性微粒子の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった前記第1の被覆微粒子を除去する工程Gと、
    前記工程FおよびGをこの順序で繰り返し行い、n層の前記微粒子層からなる絶縁性微粒子膜を形成する工程Hとをさらに有することを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  20. 請求項16記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記基材上には、前記微粒子層が前記基材側から空気との界面側に向かって第1層から第n層(nは2以上の整数)まで順次積層したパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法であって、
    前記第3の膜化合物を含む溶液を前記微粒子の表面に接触させ、前記第3の結合基と前記微粒子の表面との間で結合を形成させ、前記第3の膜化合物の形成する被膜で前記微粒子の表面が被覆された第2の被膜微粒子を調製する工程Eと、
    前記第1の反応性微粒子の微粒子層の表面に前記第2の被覆微粒子を接触させ、前記第3の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第2の被覆微粒子を前記第1の反応性微粒子の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった前記第2の被覆微粒子を除去する工程Fと、
    前記第2の被覆微粒子の微粒子層の表面に前記第1の反応性微粒子を接触させ、前記第1の官能基と前記第1のカップリング反応基とのカップリング反応により結合を形成させ、前記第1の反応性微粒子を前記第2の被覆微粒子の微粒子層の上に結合固定し、次いで、結合固定されなかった前記第1の反応性微粒子を除去する工程Gと、
    前記工程FおよびGをこの順序で繰り返し行い、n層の前記微粒子層からなる絶縁性微粒子膜を形成する工程Hとをさらに有することを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  21. 請求項19および20のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1〜第3の膜化合物が同一の化合物であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  22. 請求項19〜21のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記工程Eにおいて、未反応の前記第3の膜化合物は洗浄除去され、前記第2の被覆微粒子の表面上で前記第3の膜化合物が形成する被膜は、単分子膜であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  23. 請求項14〜18のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1および第2の膜化合物は全てアルコキシシラン化合物であり、前記第1および第2の膜化合物を含む溶液は、さらに縮合触媒として、カルボン酸金属塩、カルボン酸エステル金属塩、カルボン酸金属塩ポリマー、カルボン酸金属塩キレート、チタン酸エステル、およびチタン酸エステルキレートからなる群から選択される1または2以上の化合物を含むことを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  24. 請求項14〜18のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1および第2の膜化合物は全てアルコキシシラン化合物であり、前記第1および第2の膜化合物を含む溶液は、さらに縮合触媒として、ケチミン化合物、有機酸、アルジミン化合物、エナミン化合物、オキサゾリジン化合物、およびアミノアルキルアルコキシシラン化合物からなる群より選択される1または2以上の化合物をさらに含むことを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  25. 請求項19〜22のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1〜第3の膜化合物は全てアルコキシシラン化合物であり、前記第1〜第3の膜化合物を含む溶液は、さらに縮合触媒として、カルボン酸金属塩、カルボン酸エステル金属塩、カルボン酸金属塩ポリマー、カルボン酸金属塩キレート、チタン酸エステル、およびチタン酸エステルキレートからなる群から選択される1または2以上の化合物を含むことを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  26. 請求項19〜22のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記第1〜第3の膜化合物は全てアルコキシシラン化合物であり、前記第1〜第3の膜化合物を含む溶液は、さらに縮合触媒として、ケチミン化合物、有機酸、アルジミン化合物、エナミン化合物、オキサゾリジン化合物、およびアミノアルキルアルコキシシラン化合物からなる群より選択される1または2以上の化合物をさらに含むことを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  27. 請求項23および25のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、さらに助触媒として、ケチミン化合物、有機酸、アルジミン化合物、エナミン化合物、オキサゾリジン化合物、およびアミノアルキルアルコキシシラン化合物からなる群より選択される1または2以上の化合物をさらに含むことを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  28. 請求項14〜27のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とエポキシ基との反応により形成されたN−CHCH(OH)結合であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  29. 請求項14〜27のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法において、前記カップリング反応により形成された結合が、アミノ基またはイミノ基とイソシアネート基との反応により形成されたNH−CONH結合であることを特徴とするパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法。
  30. 請求項1〜13のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜を電極および配線の保護膜として用いたことを特徴とする電子部品。
  31. 請求項1〜13のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜を、金属表面を有する摺動部に用いたことを特徴とするマイクロマシン。
  32. 請求項1〜13のいずれか1項に記載のパターン状の絶縁性微粒子膜を保護膜および反射防止膜のいずれか一方または双方として用いたことを特徴とする光学部品。
JP2007060363A 2007-03-09 2007-03-09 パターン状の絶縁性微粒子膜およびその製造方法ならびにそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品 Expired - Fee Related JP5611503B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007060363A JP5611503B2 (ja) 2007-03-09 2007-03-09 パターン状の絶縁性微粒子膜およびその製造方法ならびにそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品
PCT/JP2008/054211 WO2008111533A1 (ja) 2007-03-09 2008-03-07 パターン状の絶縁性微粒子膜およびそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品ならびにパターン状の絶縁性微粒子膜の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007060363A JP5611503B2 (ja) 2007-03-09 2007-03-09 パターン状の絶縁性微粒子膜およびその製造方法ならびにそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008226990A JP2008226990A (ja) 2008-09-25
JP5611503B2 true JP5611503B2 (ja) 2014-10-22

Family

ID=39759471

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007060363A Expired - Fee Related JP5611503B2 (ja) 2007-03-09 2007-03-09 パターン状の絶縁性微粒子膜およびその製造方法ならびにそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5611503B2 (ja)
WO (1) WO2008111533A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9725313B2 (en) * 2013-12-19 2017-08-08 Sk Innovation Co., Ltd. Method for fabricating NANO structure including dielectric particle supporters

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1166654A (ja) * 1997-08-18 1999-03-09 Hitachi Ltd 微細構造の作製法、微細構造、磁気センサ、磁気記録媒体および光磁気記録媒体
JP3276922B2 (ja) * 1998-06-09 2002-04-22 三ツ星ベルト株式会社 金属微粒子修飾基板の製造方法
US6207578B1 (en) * 1999-02-19 2001-03-27 Micron Technology, Inc. Methods of forming patterned constructions, methods of patterning semiconductive substrates, and methods of forming field emission displays
JP2001184620A (ja) * 1999-12-27 2001-07-06 Toshiba Corp 記録媒体および記録媒体の製造方法
IL138988A (en) * 2000-10-12 2005-09-25 Yissum Res Dev Co Dendritically amplified detection method
JP3597507B2 (ja) * 2001-01-24 2004-12-08 松下電器産業株式会社 微粒子配列体とその製造方法及びこれを用いたデバイス
AU2003300371A1 (en) * 2002-12-20 2004-07-22 Minerva Biotechnologies Corporation Optical devices and methods involving nanoparticles
JP4412052B2 (ja) * 2003-10-28 2010-02-10 富士ゼロックス株式会社 複合材およびその製造方法
JP4444713B2 (ja) * 2004-03-29 2010-03-31 株式会社アドバネクス 離型性金型とその製造方法、及び成型品の製造方法
JP2007118276A (ja) * 2005-10-26 2007-05-17 Kagawa Univ 単層微粒子膜と累積微粒子膜およびそれらの製造方法。

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008226990A (ja) 2008-09-25
WO2008111533A1 (ja) 2008-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4982640B2 (ja) 配線及びその製造方法並びに配線を用いた電子部品及び電子機器
JP2007118276A (ja) 単層微粒子膜と累積微粒子膜およびそれらの製造方法。
JP2007117827A (ja) パターン状の微粒子膜およびその製造方法。
WO2008068873A1 (en) Monolayer nanoparticle film, multilayer nanoparticle film, and manufacturing method thereof
JP5487460B2 (ja) シリコン微粒子とその製造方法およびそれらを用いた太陽電池とその製造方法
JP5028619B2 (ja) パターン状の微粒子膜およびパターン状の微粒子膜の製造方法
US9580645B2 (en) Fluorescent pastes and films
JP5235059B2 (ja) 光センサーおよびその製造方法
JP5611503B2 (ja) パターン状の絶縁性微粒子膜およびその製造方法ならびにそれを用いた電子部品、マイクロマシン、光学部品
JP2007220883A (ja) 配線およびその製造方法とそれらを用いた電子部品および電子機器
JP2007173518A (ja) 光センサとその製造方法
JP5082057B2 (ja) 導電性ペーストとその製造方法、配線とその製造方法、並びにそれらを用いた電子部品及び電子機器
JP5002799B2 (ja) 電極及びその製造方法、リード配線及びその接続方法、並びにそれらを用いた電子部品及び電子機器
JP5594806B2 (ja) 蛍光体微粒子膜及びその製造方法、並びに蛍光体微粒子膜を用いた表示装置
JP4993700B2 (ja) 保護膜およびその製造方法
JP2008297410A (ja) 接着方法並びにそれを用いて作製したバイオケミカルチップ及び光学部品
JP2008221369A (ja) 微粒子膜およびその製造方法。
JP5526331B2 (ja) 反射防止膜およびその製造方法。
JP5288432B2 (ja) 絶縁性微粒子膜およびその製造方法ならびに絶縁性微粒子膜を用いたコンデンサー
JP2007220884A (ja) 電極とその製造方法およびそれを用いたリード配線とその接続方法およびそれらを用いた電子部品と電子機器
JP5200244B2 (ja) 微粒子膜およびその製造方法
JP2008258223A (ja) 太陽電池およびその製造方法
JP2008276889A (ja) 磁気記録媒体および磁気記録媒体の製造方法ならびにそれを用いた磁気記録読取装置
JP2007290406A (ja) 単層微粒子膜と累積微粒子膜およびそれらの製造方法
WO2008136129A1 (en) Pattern-like fine particle film and manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100307

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20100711

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100723

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120717

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120915

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121023

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20121221

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20121227

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130226

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130709

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131006

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20140612

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20140707

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140812

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140903

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5611503

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees