JP5581453B2 - 電子機器、電子機器用筐体および表面保護板 - Google Patents
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Description
なお硬化型樹脂は、熱、光、電離放射線などのエネルギーによって不可逆的に硬化する樹脂の総称である。
なお本発明でいう平均粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置(例えば、島津製作所社:SALD−7000など)で測定されるメディアン径(D50)を指すものである。
第二の硬化層は、JIS−K5600−5−1(1999)に準拠した円筒形マンドレル法で測定した耐屈曲試験の値が16mm以下であることが好ましく、さらに好ましくは、13mm以下である。なお、本発明では耐屈曲試験の値は、188μmのポリエチレンテレフタレートを基材としたサンプル片を測定した値である。耐屈曲試験の値を16mm以下とすることにより、耐衝撃性をよりよくすることができる。
上述した耐屈曲性及び鉛筆硬度は、第二の硬化層の厚みや樹脂の種類及び無機系微粒子の含有量を調整することにより好適な範囲に調整することができる。
[実施例1]
厚み188μmの透明ポリエステルフィルムA(コスモシャインA4300:東洋紡績社)の一方の面に、下記の組成からなる第一の硬化層塗布液を、厚みが26μmとなるようにバーコーティング法により塗布、紫外線照射して、第一の硬化層を有する透明ポリエステルフィルムを作製した。
・電離放射線硬化型樹脂 60部
(ダイヤビームMH-7363:三菱レイヨン社、固形分40%)
・シリカ微粒子溶液 80部
(MIBK-ST:日産化学工業社、平均粒子径:10〜20nm、固形分30%)
・光重合開始剤 1.2部
(イルガキュア651:チバ・ジャパン社)
・希釈溶媒 22部
・電離放射線硬化型樹脂 10部
(ビームセット575:荒川化学工業社、固形分100%)
・電離放射線硬化型樹脂 5部
(NKエステルA-1000:新中村化学工業社、固形分100%)
・光重合開始剤 0.75部
(イルガキュア651:チバ・ジャパン社)
・希釈溶媒 23部
・熱硬化型樹脂 35部
(タケラック A975:三井化学社、固形分65%)
・硬化剤 5部
(タケネート A-3:三井化学社、固形分75%)
・希釈溶剤 66部
第一の硬化層塗布液、第二の硬化層塗布液を表1記載の塗布液に代えた以外は、実施例1と同様にして実施例2〜6の表面保護板を作製した。
第一の硬化層塗布液、第二の硬化層塗布液を表2記載の塗布液に代えた以外は、実施例1と同様にして比較例1〜3の表面保護板を作製した。
実施例1で用いた透明ポリエステルフィルムAおよびBの厚みを125μmに代えた以外は、実施例1と同様にして実施例7の表面保護板を作製した。
厚み250μmの透明ポリエステルフィルム(コスモシャインA4300:東洋紡績社)の一方の面に、実施例1と同様に第一の硬化層を作製し、次いで、第一の硬化層とは反対面に、実施例1と同様に第二の硬化層を作製し、実施例8の表面保護板を作製した。
第二の硬化層塗布液を下記記載の塗布液に代えた以外は、実施例1と同様にして実施例9の表面保護板を作製した。
<第二の硬化層塗布液>
・電離放射線硬化型樹脂 37.5部
(ダイヤビームMH-7363:三菱レイヨン社、固形分40%)
・光重合開始剤 0.75部
(イルガキュア651:チバ・ジャパン社)
・希釈溶媒 0.5部
第一の硬化層塗布液、第二の硬化層塗布液を表2記載の塗布液に代え、第二の硬化層の厚みを26μmに代えた以外は、実施例1と同様にして比較例4の表面保護板を作製した。
第二の硬化層の厚みを26μmに代えた以外は、実施例1と同様にして比較例5の表面保護板を作製した。
実施例1で用いた透明ポリエステルフィルムAおよびBの厚みを125μmに代え、第一の硬化層塗布液、第二の硬化層塗布液を表2記載の塗布液に代え、第一の層の厚みを6μmに代えた以外は、実施例1と同様にして比較例6の表面保護板を作製した。
厚み250μmの透明ポリエステルフィルム(コスモシャインA4300:東洋紡績社)の両面に、表2記載の塗布液を、厚みが6μmとなるようにバーコーティング法により塗布、紫外線照射して、比較例7の表面保護板を作製した。
実施例1〜9、比較例1〜7の表面保護板の第二の硬化層に、枠や文字などの加飾印刷を施し、所定の大きさに裁断した。そして、携帯電話用筐体に、表示装置やスピーカなどの必要な電子部品を組み込み、表示部分となる開口部に、実施例1〜9、比較例1〜7の表面保護板を第二の硬化層が筐体の内側になるように配置して、電子機器(携帯電話)を作製した。
実施例1〜9、比較例1〜7の第一・第二の硬化層のJIS K5600−5−4(1999)における鉛筆硬度を測定した。結果を表3に示す。
実施例1〜9、比較例1〜7の第二の硬化層を、188μmの透明ポリエステルフィルムに設け、厚みを各実験例と同じにしたサンプル片を用いて、JIS−K5600−5−1(1999)に準拠した円筒形マンドレル法で測定した耐屈曲試験の値を測定した。結果を表3に示す。
直径60mmの円筒上に、10cm×10cmに切断した実施例1〜9、比較例1〜7の表面保護板を円筒の中心とサンプル片の中心が重なるようにして、第一の硬化層を表面側として設置して、130gの鋼球(クロム球、直径:1.25インチ)を落下させた。第一の硬化層にクラックが発生する高さを測定した。50cm以上の高さでクラックを生じないものを「○」、50cm未満の高さでクラックを生じるものを「×」とした。
また実施例1及び比較例1の表面保護板について、上記の鋼球を50cmの高さから落下させた場合、落下点を含む第一の硬化層表面の顕微鏡写真を図4に示す。
実施例1〜9、比較例1〜7の表面保護板を縦横10cm×10cmに裁断し、平らな面を持つ台の上に静置した。表面保護板の4つの端部について、台面から浮き上がった高さ(反り量)を測定し、反り量の四隅の合計が、0mm以上〜5mm未満であったものを「○」とし、5mm以上であったものを「×」とした。測定結果を表3に示す。
10・・第一の硬化層
11・・プラスチックフィルム
12・・接着層
13・・第二の硬化層
15・・基材
2・・・筐体
3・・・加飾印刷
Claims (13)
- 筐体と、筐体内に組み込まれる電子部品とを備えた電子機器であって、
筐体が表面保護板を有するものであり、
表面保護板は、プラスチックフィルムを含む基材の一方の面に第一の硬化層、他方の面に第二の硬化層が設けられ、前記第一の硬化層は、硬化型樹脂100重量部に対して無機系微粒子を50〜200重量部含み、前記第一の硬化層の厚みが前記第二の硬化層より厚く、前記表面保護板の第二の硬化層は筐体の内側向きに配置されることを特徴とする電子機器。 - 前記第二の硬化層のJIS−K5600−5−1(1999)に準拠した円筒形マンドレル法で測定した耐屈曲試験の値が16mm以下であることを特徴とする請求項1記載の電子機器。
- 前記第一の硬化層のJIS K5600−5−4(1999)における鉛筆硬度が4H以上であり、第二の硬化層のJIS K5600−5−4(1999)における鉛筆硬度がB以上2H以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載の電子機器。
- 前記基材は、2枚以上のプラスチックフィルムが接着層を介して積層されたものであることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の電子機器。
- 前記第一の硬化層に含まれる無機系微粒子の平均粒子径が3nm以上第一の硬化層の厚みの2/3以下であることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の電子機器。
- 前記第二の硬化層は、無機系微粒子を含まないか、硬化型樹脂100重量部に対する無機系微粒子の含有量が、第一の硬化層に含まれる硬化型樹脂100重量部に対する無機系微粒子の含有量の75%以下であることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の電子機器。
- プラスチックフィルムを含む基材の一方の面に第一の硬化層、他方の面に第二の硬化層が設けられ、前記第一の硬化層は、硬化型樹脂100重量部に対して無機系微粒子を50〜200重量部含み、前記第一の硬化層の厚みが第二の硬化層より厚いことを特徴とする表面保護板。
- 前記第二の硬化層のJIS−K5600−5−1(1999)に準拠した円筒形マンドレル法で測定した耐屈曲試験の値が16mm以下であることを特徴とする請求項7記載の表面保護板。
- 前記第一の硬化層のJIS K5600−5−4(1999)における鉛筆硬度が4H以上であり、第二の硬化層のJIS K5600−5−4(1999)における鉛筆硬度がB以上2H以下であることを特徴とする請求項7又は8に記載の表面保護板。
- 前記基材は、2枚以上のプラスチックフィルムが接着層を介して積層されたものであることを特徴とする請求項7から9のいずれか一項に記載の表面保護板。
- 前記第一の硬化層に含まれる無機系微粒子の平均粒子径が3nm以上第一の硬化層の厚みの2/3以下であることを特徴とする請求項7から10のいずれか一項に記載の表面保護板。
- 前記第二の硬化層は、無機系微粒子を含まないか、硬化型樹脂100重量部に対する無機系微粒子の含有量が、第一の硬化層に含まれる硬化型樹脂100重量部に対する無機系微粒子の含有量の75%以下であることを特徴とする請求項7から11のいずれか一項に記載の表面保護板。
- 電子部品を内蔵し、少なくとも一つの面に表面保護板を備えた電子機器用筐体であって、前記表面保護板が請求項7ないし12のいずれか一項記載の表面保護板である電子機器用筐体。
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