JP5572913B2 - 導電性粒子粉末 - Google Patents

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Description

本発明は、導電層とコア粒子との密着性に優れると共に、導電性及び経時安定性に優れた導電性粒子粉末に関するものである。
導電性フィラーは、バインダー樹脂や粘接着剤等に分散・混合することにより、電子機器等の静電防止、電波吸収あるいは電磁波シールド等の部材や、異方性導電ペースト、異方性導電インク、異方性導電フィルム、異方性導電シート、異方性導電接着剤及び異方性導電粘着剤等の異方性導電材料として広く使用されている。
殊に、近年、異方性導電材料は、液晶表示ディスプレイやパーソナルコンピュータ、携帯電話等の電子機器において、基板同士を電気的に接続したり、半導体素子等の小型部品を基板に電気的に接続したりするための導電材料として用いられている。
従来、このような導電材料に用いられる導電性フィラーとしては、金、銀、銅、鉄、ニッケル、ハンダ等の金属粒子が用いられてきたが、比重が大きく形状も不定形であるため、基板同士を一定の間隔で保持することが困難であり、また、バインダー樹脂中で不均一に存在しやすく、導電ムラが生じたりする問題を有していた。
このため、近年では金属粒子の代わりに粒径が均一な樹脂粒子の表面に無電解ニッケルメッキ等の無電解金属メッキを施した金属被覆樹脂粒子が広く用いられてきている(特許文献1及び2)。
しかしながら、ニッケルメッキ層は容易に酸化被膜を作りやすく、変質した金属被覆層はメッキ割れが生じやすくなると共に、樹脂粒子への密着性が低下し、ちょっとした衝撃や振動によっても金属メッキ層にクラックを生じるため、導電材料として使用した場合には導通性不良の原因となる。
一方、樹脂粒子の表面に乾式コーティング法で金を付着させ、更に無電解金メッキで金を被覆する方法が開示されている(特許文献3)。
また、高分子微球体の全表面を接着性樹脂と導電性微粉の混合物により被覆する方法が開示されている(特許文献4)。
特開平1−242782号公報 特開2006−302716号公報 特開平9−171714号公報 特開平6−267328号公報
導電層とコア粒子との密着性に優れると共に、導電性及び経時安定性に優れた導電性粒子粉末は、現在最も要求されているところであるが、未だ得られていない。
即ち、前出特許文献1及び2には、樹脂粒子の表面に無電解ニッケルメッキ等の無電解金属メッキを施した金属被覆樹脂粒子を導電性粒子として用いることが記載されているが、前述の通り、ニッケルメッキ層は容易に酸化被膜を作りやすく、変質した金属被覆層はメッキ割れが生じやすくなると共に、樹脂粒子への密着性が低下する等の問題を有している。
前出特許文献3には、樹脂粒子の表面に乾式コーティング法で金を付着させ、更に無電解金メッキで金を被覆する方法が記載されているが、樹脂粒子の表面に単に気相堆積法によって金を処理しただけではその密着性は十分であるとは言えず、ちょっとした衝撃や振動によってもクラックを生じるため、長期に亘って経時安定性を得ることが困難となる。
前出特許文献4には、高分子微球体の全表面を接着性樹脂と導電性微粉の混合物により被覆する方法が記載されているが、接着性樹脂が導電性を有さないため、回路基板や電極端子の間に挟みこんで使用する場合など、圧縮することにより接着樹脂同士が接触してしまった場合、接続抵抗が高くなるなどして導電ムラを起こしやすい。
そこで、本発明は、導電層とコア粒子との密着性に優れると共に、導電性及び経時安定性に優れた導電性粒子粉末を提供することを技術的課題とする。
前記技術的課題は、次の通りの本発明によって達成できる。
即ち、本発明は、コア粒子と、該コア粒子の表面に形成された導電層とからなる導電性粒子粉末であって、前記導電層が前記コア粒子の表面を被覆している表面改質剤を介して形成されていることを特徴とする導電性粒子粉末である(本発明1)。
また、本発明は、本発明1のコア粒子が有機系粒子からなることを特徴とする導電性粒子粉末である(本発明2)。
また、本発明は、本発明1のコア粒子が無機系粒子からなることを特徴とする導電性粒子粉末である(本発明3)。
また、本発明は、本発明1乃至3のいずれかに記載の導電層が、金属、金属の酸化物または合金から選ばれる1種または2種以上の導電性フィラーからなることを特徴とする導電性粒子粉末である(本発明4)。
本発明に係る導電性粒子粉末は、導電層とコア粒子との密着性に優れると共に、導電性及び経時安定性に優れているので、異方性導電材料の導電性フィラーとして好適である。
本発明の構成をより詳しく説明すれば次の通りである。
先ず、本発明に係る導電性粒子粉末について述べる。
本発明に係る導電性粒子粉末は、コア粒子と、該コア粒子の表面に形成された導電層とからなる導電性粒子粉末であって、前記導電層が前記コア粒子の表面を被覆している表面改質剤を介して形成されている。
本発明におけるコア粒子としては、特に制限されるものではなく、有機系粒子及び無機系粒子のいずれをも用いることができるが、弾性変形性及び復元性に優れていることから、有機系粒子であることが好ましい。
無機系粒子としては、例えば、アルミナ、二酸化チタン、チタン酸バリウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸カルシウム、チタン酸ストロンチウム、酸化亜鉛、ケイ砂、クレー、雲母、ケイ灰石、ケイソウ土、酸化クロム、酸化セリウム、酸化鉄、三酸化アンチモン、酸化マグネシウム、酸化ジルコニウム、硫酸バリウム、炭酸バリウム、炭酸カルシウム、シリカ微粉体、炭化ケイ素、窒化ケイ素、炭化ホウ素、炭化タングステン、炭化チタン及びカーボンブラック等のガラス、セラミックス、金属酸化物、金属ケイ酸塩、金属炭化物、金属窒化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属リン酸塩、金属硫化物、金属酸塩、金属ハロゲン化物及び炭素等、金、白金、パラジウム、銀、ルテニウム、ロジウム、オスミウム、イリジウム、鉄、ニッケル、コバルト、銅、亜鉛、鉛、アルミニウム、チタン、バナジウム、クロム、マンガン、ジルコニウム、モリブデン、インジウム、アンチモン及びタングステン等の金属及びこれらの合金等が挙げられる。
有機系粒子としては、熱可塑性樹脂及び熱硬化性樹脂のいずれをも用いることができ、例えば、オレフィン系樹脂(ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリイソブチレン等)、アクリル系樹脂(ポリメチルメタクリレート、ポリメチルアクリレート等)、スチレン系樹脂、ビニル系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、フッ化アルキリデン系樹脂、フッ素系樹脂、繊維素系樹脂、シリコーン系樹脂、フェノール系樹脂、尿素系樹脂、メラミン系樹脂、アリル系樹脂、フラン系樹脂、不飽和ポリエステル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ロジン系樹脂、テルペン系樹脂、グアナミン系樹脂、ポリビニルアセタール系樹脂、ジビニルベンゼン系重合体(スチレン−ジビニルベンゼン共重合体、(メタ)アクリル酸エステル−ジビニルベンゼン共重合体)等を用いることができる。これらの有機系粒子は、単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
コア粒子の形状は、球状、粒状、針状、紡錘状、米粒状、フレーク状、板状、繊維状、中空状及び不定形等のいずれの形状であってもよいが、異方性導電材料として用いることを考慮すれば、良好な電気的接続を得るためにコア粒子の形状は球状が好ましい。
コア粒子の平均粒子径としては特に制限はなく、得られる導電性粒子粉末の用途に応じて適宜選べばよいが、下限値としては、好ましくは0.05μm以上であり、より好ましくは0.075μm、更により好ましくは0.10μmである。コア粒子の平均粒子径が0.05μm未満の場合には、コア粒子が微粒子であるために凝集が生じやすく、コア粒子の粒子表面への表面改質剤及び導電性フィラーによる均一な処理が困難になり、得られる導電性粒子粉末を用いて製造される導電材料は、導電ムラを生じやすい。また、コア粒子の平均粒子径の上限値は、得られる導電性粒子粉末を異方性導電材料に用いる場合には1000μm以下であることが好ましく、より好ましくは750μm以下であり、更により好ましくは500μm以下である。コア粒子の平均粒子径が1000μmを超える場合には、得られる導電性粒子粉末を異方導電性材料として使用すると、電極当たりの導電性粒子の個数が少なくなるため接続信頼性が低下し、基板間の導電接続が不良となるため好ましくない。
本発明における表面改質剤としては、コア粒子の粒子表面へ導電層を形成・密着できるものであれば何を用いてもよく、好ましくはアルコキシシラン、フルオロアルキルシラン及びオルガノポリシロキサン等の有機ケイ素化合物、シラン系、チタネート系、アルミネート系及びジルコネート系などのカップリング剤であり、より好ましくはアルコキシシラン、オルガノポリシロキサン等の有機ケイ素化合物、シラン系、チタネート系、アルミネート系及びジルコネート系の各種カップリング剤であり、更により好ましくはアルコキシシラン、オルガノポリシロキサン等の有機ケイ素化合物である。
有機ケイ素化合物としては、具体的には、メチルトリエトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、プロピルトリエトキシシラン、ブチルトリエトキシシラン、イソブチルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、オクチルトリエトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラメトキシシラン及びデシルトリエトキシシラン等のアルコキシシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、トリデカフルオロオクチルトリメトキシシラン、ヘプタデカフルオロデシルトリメトキシシラン、トルフルオロプロピルトリエトキシシラン、ヘプタデカフルオロデシルトリエトキシシラン及びトリデカフルオロオクチルトリエトキシシラン等のフルオロアルキルシラン、ポリシロキサン、メチルハイドロジェンポリシロキサン、変性ポリシロキサン等のオルガノポリシロキサン等が挙げられる。
シラン系カップリング剤としては、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリエキシシラン、γ−メタクロイルオキシプロピルトリメトキシシラン、N−(β−アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、γ−クロロプロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。
チタネート系カップリング剤としては、イソプロピルトリステアロイルチタネート、イソプロピルトリス(ジオクチルパイロホスフェート)チタネート、イソプロピルトリ(N−アミノエチル・アミノエチル)チタネート、テトラオクチルビス(ジトリデシルホスフェイト)チタネート、テトラ(2−2−ジアリルオキシメチル−1−ブチル)ビス(ジトリデシル)ホスフェイトチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)オキシアセテートチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)エチレンチタネート等が挙げられる。
アルミネート系カップリング剤としては、アセトアルコキシアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウムジイソプロボキシモノエチルアセトアセテート、アルミニウムトリスエチルアセトアセテート、アルミニウムトリスアセチルアセトネート等が挙げられる。
ジルコネート系カップリング剤としては、ジルコニウムテトラキスアセチルアセトネート、ジルコニウムジブトキシビスアセチルアセトネート、ジルコニウムテトラキスエチルアセトアセテート、ジルコニウムトリブトキシモノエチルアセトアセテート、ジルコニウムトリブトキシアセチルアセトネート等が挙げられる。
表面改質剤の被覆量は、表面改質剤被覆コア粒子粉末に対して各表面改質剤が含有する金属の元素換算で0.02〜5.0重量%が好ましく、より好ましくは0.03〜4.0重量%、最も好ましくは0.05〜3.0重量%である。0.02重量%未満の場合には、コア粒子粉末100重量部に対して0.01重量部以上の導電性フィラーを付着させることが困難である。表面改質剤を5.0重量%まで用いることによって、コア粒子粉末100重量部に対して導電性フィラーを0.01〜500重量部付着させることができるため、必要以上に被覆する意味がない。
本発明における導電層は、金属、金属の酸化物または合金から選ばれる1種または2種以上の導電性フィラーからなる。具体的には、金、銀、銅、白金、亜鉛、鉄、錫、鉛、アルミニウム、コバルト、インジウム、ニッケル、クロム、チタン、アンチモン、ビスマス、ガリウム、ゲルマニウム、カドミウム、ルテニウム、ロジウム、パラジウム、珪素等の金属及びこれらの合金等が挙げられる。また、金属酸化物としては、酸化亜鉛、酸化チタン、酸化スズ、スズ−アンチモン系酸化物(ATO)、インジウム−スズ系酸化物(ITO)、ガリウム−亜鉛系酸化物(GZO)、インジウム−亜鉛系酸化物(IZO)、カルシウム−アルミニウム系酸化物(C12A7)及びこれらを組み合わせたものが挙げられる。得られる導電性粒子粉末の導電性及び経時安定性を考慮すれば、化学的に安定である金、銀、白金等の貴金属及びスズ−アンチモン系酸化物(ATO)、インジウム−スズ系酸化物(ITO)、ガリウム−亜鉛系酸化物(GZO)、インジウム−亜鉛系酸化物(IZO)等の金属酸化物が好ましい。
コア粒子粉末の平均粒子径と導電性フィラーの平均粒子径との比は2以上であることが好ましい。2よりも小さくなると、導電性フィラーの粒子サイズがコア粒子粉末の粒子サイズに対して大きくなりすぎるため、コア粒子と導電性フィラーとの密着強度が低下するため好ましくない。より好ましくは3以上であり、更により好ましくは5以上である。
導電層を形成する導電性フィラーの付着量は、コア粒子粉末の平均粒子径によっても異なるが、コア粒子粉末100重量部に対して0.01〜500重量部が好ましく、より好ましくは0.05〜400重量部、更により好ましくは0.1〜300重量部である。0.01重量部未満の場合には、導電層としての十分な効果が得られず好ましくない。また、500重量部を超える場合には、電気抵抗の低減効果が十分に得られるので、500重量部を超えて必要以上に付着させる意味がない。
本発明に係る導電性粒子粉末の粒子形状や粒子サイズは、コア粒子の粒子形状や粒子サイズ大きく依存し、コア粒子に相似する粒子形態を有している。
本発明に係る導電性粒子粉末の粒子形状は、球状、粒状、針状、紡錘状、米粒状、フレーク状、板状、繊維状及び不定形等のいずれの形状であってもよいが、異方性導電材料として用いることを考慮すれば、良好な電気的接続を得るために粒子形状は球状が好ましい。
本発明に係る導電性粒子粉末の粒子サイズは、特に制限はなく、用途に応じて適宜選べばよいが、平均粒子径の下限値としては、好ましくは0.05μm以上であり、より好ましくは0.75μm、更により好ましくは0.10μmである。導電性粒子粉末の平均粒子径が0.05μm未満の場合には、粒子の微細化による分子間力の増大により凝集を起こしやすくなるため、これを用いて製造される導電材料は、導電ムラを生じやすい。また、導電性粒子粉末の平均粒子径の上限値は、異方性導電材料に用いる場合には1000μm以下であることが好ましく、より好ましくは750μm以下であり、更により好ましくは500μm以下である。導電性粒子粉末の平均粒子径が1000μmを超える場合には、異方導電性材料として使用すると、電極当たりの導電性粒子の個数が少なくなりすぎ接続信頼性が低下し、基板間の導電接続が不良となるため好ましくない。
本発明に係る導電性粒子粉末の導電性フィラーからなる導電層とコア粒子との密着性は、後出評価方法における導電性フィラーの脱離率において、20%以下が好ましい。導電性フィラーの脱離率が20%を超える場合には、脱離した導電性フィラー同士または導電性フィラーが脱離してむき出しとなったコア粒子の表面同士が接触することにより、導電ムラが生じるため好ましくない。より好ましくは15%以下であり、更により好ましくは10%以下である。
本発明に係る導電性粒子粉末の経時安定性は、後出評価方法における高温高湿試験後の体積固有抵抗値の変化率において、500%以下が好ましい。高温高湿試験後の体積固有抵抗値の変化率が500%を超える場合には、長期間の使用により導電層が腐食し、導電性が低下するため好ましくない。より好ましくは400%以下であり、更により好ましくは300%以下である。
本発明に係る導電性粒子粉末は、例えば、バインダー樹脂や粘接着剤等に分散・混合させて、異方性導電フィルムや異方性導電ペースト等に使用できる。また、上記導電性粒子粉末は、これのみを用いて異方性導電性材料とすることも可能である。
次に、本発明に係る導電性粒子粉末の製造法について述べる。
本発明に係る導電性粒子粉末は、コア粒子粉末と表面改質剤とを混合し、コア粒子粉末の粒子表面を表面改質剤によって被覆し、次いで、表面改質剤によって被覆されたコア粒子粉末と導電性フィラーとを混合することによって得ることができる。
コア粒子粉末と表面改質剤の混合攪拌、導電性フィラーと粒子表面に表面改質剤が被覆されているコア粒子粉末とを混合攪拌するための機器としては、粉体層にせん断力を加えることのできる装置が好ましく、殊に、せん断、へらなで及び圧縮が同時に行える装置、例えば、ホイール型混錬機、高速せん断ミル、ボール型混錬機、ブレード型混錬機、ロール型混錬機、遊星ミルを用いることができる。本発明の実施にあたっては、ホイール型混錬機及び高速せん断ミルがより効果的に使用できる。
前記ホイール型混練機としては、エッジランナー(「ミックスマラー」、「シンプソンミル」、「サンドミル」と同義語である)、マルチマル、ストッツミル、ウエットパンミル、コナーミル、リングマラー等があり、好ましくはエッジランナー、マルチマル、ストッツミル、ウエットパンミル、リングマラー、であり、より好ましくはエッジランナーである。前記高速せん断ミルとしては、ハイブリダイザー(奈良機械製作所製)、ノビルタ(ホソカワミクロン製)等があり、前記ボール型混練機としては、振動ミル等がある。前記ブレード型混練機としては、ヘンシェルミキサー、プラネタリーミキサー、ナウターミキサー等がある。前記ロール型混練機としては、エクストルーダー等がある。
コア粒子の粒子表面を表面改質剤で被覆した後、導電性フィラーを添加し、混合攪拌して導電性フィラーを表面改質剤被覆コア粒子の粒子表面に付着させる。
表面改質剤被覆コア粒子の粒子表面に導電性フィラーによる導電層を形成した後、加熱処理を行ってもよい。加熱処理を行うことにより、導電層とコア粒子との密着性が向上する。
加熱処理を行う場合の加熱温度は、60℃以上で行うことが好ましく、より好ましくは80℃以上である。加熱温度の上限は、コア粒子もしくは導電層を形成している導電性フィラーの融点である。加熱時間は、10分〜12時間が好ましく、30分〜3時間がより好ましい。
以下、本発明における実施例を示し、本発明を具体的に説明する。
コア粒子粉末、導電性フィラー及び導電性粒子粉末の平均粒子径は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡もしくは光学顕微鏡を用いて写真撮影を行い、そこに示された粒子50〜350個の粒子径をそれぞれ測定し、その平均値で示した。
コア粒子粉末の粒子表面に被覆されている表面改質剤の被覆量は、各表面改質剤に含有されている金属について、「蛍光X線分析装置3063M型」(理学電機工業株式会社製)を使用し、JIS K0119の「けい光X線分析通則」に従って測定した。
導電性粒子粉末表面に形成されている導電性フィラーからなる導電層の被覆量は、各導電性フィラーに含有されている金属について、「蛍光X線分析装置3063M型」(理学電機工業株式会社製)を使用し、JIS K0119の「けい光X線分析通則」に従って測定した。
導電性粒子粉末表面に形成されている導電性フィラーからなる導電層の脱離率(%)は、下記の方法により求めた値で示した。導電性フィラーの脱離率が0%に近いほど、粒子表面からの導電性フィラーの脱離量が少なく、コア粒子と導電層との密着性が高いことを示す。
被測定粒子粉末3gとエタノール40mlを50mlの沈降管に入れ、20分間超音波分散を行った後、120分静置し、比重差によって被測定粒子粉末と脱離した導電性フィラーを分離した。得られた被測定粒子粉末を60℃で3時間乾燥させ、前述の「蛍光X線分析装置3063M型」(理学電機工業株式会社製)を用いて各導電性フィラーに含有されている金属量を測定し、下記数1に従って求めた値を導電性フィラーの脱離率(%)とした。
<数1>
導電性フィラーの脱離率(%)={(Wa−We)/Wa}×100
Wa:導電性粒子粉末の導電性フィラー付着量
We:脱離テスト後の導電性粒子粉末の導電性フィラー付着量
コア粒子及び導電性粒子粉末の体積固有抵抗値は、まず、被測定粒子粉末0.5gを測り取り、成形器の中に入れて電極の間にセットし、低抵抗の粉体は「抵抗器 3541」(日置電機株式会社製)を用いて、高抵抗の粉体は「ハイレジスタンスメータ 4339B」(ヒューレット・パッカード株式会社製)を用いて、2.94×10Pa(30Kg/cm2)まで加圧しながら抵抗値R(Ω)を測定した。
次いで、被測定(円柱状)試料の上面の面積A(cm2)と厚みt0(cm)を測定し、下記数2にそれぞれの測定値を挿入して、体積固有抵抗値(Ω・cm)を求めた。
<数2>
体積固有抵抗値(Ω・cm)=R×(A/t0
導電性粒子粉末の経時変化は、被測定粒子粉末を85℃、相対湿度90%の雰囲気下で1週間放置した後、上記体積固有抵抗値の測定と同様にして試料の作成し、体積固有抵抗値の測定を行い、下記数3に従って求めた値を高温高湿試験後の体積固有抵抗値の変化率(%)として示した。体積固有抵抗値の変化率が小さいほど、経時安定性に優れた導電性粒子粉末であることを示す。
<数3>
体積固有抵抗値の変化率(%)={(Ra−Re)/Ra}×100
Ra:導電性粒子粉末の体積固有抵抗値
Re:高温高湿試験後の導電性粒子粉末の体積固有抵抗値
<実施例1:導電性粒子粉末の製造>
コア粒子粉末1(種類:ポリメチルメタクリレート(PMMA)、粒子形状:球状、平均粒子径:5.07μm、体積固有抵抗値:6.8×1010Ω・cm)800gをエッジランナー「MPUV−2型」(製品名、株式会社松本鋳造鉄工所製)に投入し、次いで、メチルトリエトキシシラン(商品名:TSL8123:GE東芝シリコーン株式会社製)8gを、エッジランナーを稼動させながらコア粒子粉末1に添加し、294N/cmの線荷重で20分間混合攪拌を行った。
次に、得られた粒子表面が表面改質剤によって被覆されているコア粒子粉末170gと導電性フィラーA(種類:Ag、平均粒子径:0.03μm、体積固有抵抗値:4.03×10−3Ω・cm)68gを高速せん断ミルに入れ、3050rpmの回転数で10分間高速せん断処理を行った後、乾燥機を用いて80℃で30分間加熱処理を行い、導電性粒子粉末を得た。
得られた導電性粒子粉末は、平均粒子径が5.15μmの球状粒子粉末であった。体積固有抵抗値は2.5Ω・cm、導電層とコア粒子との密着性を示す導電性フィラーの脱離率は3.5%であり、経時安定性を示す高温高湿試験後の体積固有抵抗値の変化率は74%であった。
電子顕微鏡写真観察の結果、導電性フィラーAがほとんど認められないことから、導電性フィラーAのほぼ全量がメチルトリエトキシシランによって被覆されているコア粒子に付着していることが認められた。
前記実施例1に従って導電性粒子粉末を作製した。各製造条件及び得られた導電性粒子粉末の諸特性を示す。
コア粒子1〜8:
コア粒子粉末として表1に示す特性を有する粒子粉末を用意した。
Figure 0005572913
導電性フィラーA〜G:
導電性フィラーとして表2に示す諸特性を有する導電性フィラーを用意した。
Figure 0005572913
実施例2〜、比較例1:
コア粒子の種類、表面改質剤による被覆工程における添加物の種類、添加量、導電性フィラーの付着工程における導電性フィラーの種類、添加量、加熱処理温度及び時間を種々変化させた以外は、前記実施例1と同様にして導電性粒子粉末を得た。
このときの製造条件を表3に、得られた導電性粒子粉末の諸特性を表4に示す。
Figure 0005572913
Figure 0005572913
参考例1:導電性粒子粉末の製造>
コア粒子粉末6(種類:アルミナ、粒子形状:球状、平均粒子径:0.30μm、体積固有抵抗値:9.9×10Ω・cm)1.0kgをエッジランナー「MPUV−2型」(製品名、株式会社松本鋳造鉄工所製)に投入し、次いで、メチルハイドロジェンポリシロキサン(商品名:TSF484:GE東芝シリコーン株式会社製)50gを、エッジランナーを稼動させながらコア粒子粉末6に添加し、294N/cmの線荷重で20分間混合攪拌を行った。
次に、導電性フィラーF(種類:ATO(スズ−アンチモン系酸化物)、平均粒子径:0.02μm、体積固有抵抗値:2.2Ω・cm)100gを、エッジランナーを稼動させながら添加し、294N/cmの線荷重で30分間混合攪拌を行い、メチルハイドロジェンポリシロキサン被覆の上に導電性フィラーFからなる導電層を形成した後、乾燥機を用いて120℃で60分間加熱処理を行い、導電性粒子粉末を得た。
得られた導電性粒子粉末の諸特性を表4に示す。
参考例2及び3
コア粒子の種類、表面改質剤による被覆工程における添加物の種類、添加量、導電性フィラーの付着工程における導電性フィラーの種類、添加量、加熱処理温度及び時間を種々変化させた以外は、前記参考例1と同様にして導電性粒子粉末を得た。
このときの製造条件を表3に、得られた導電性粒子粉末の諸特性を表4に示す。
実施例2〜、参考例1〜3の各実施例で得られた導電性粒子粉末は、電子顕微鏡観察の結果、導電性フィラーがほとんど認められないことから、導電性フィラーのほぼ全量が表面改質剤によって被覆されているコア粒子に付着していることが確認された。
本発明に係る導電性粒子粉末は、導電層とコア粒子との密着性に優れると共に、導電性及び経時安定性に優れているので、異方性導電材料の導電性フィラーとして好適である。

Claims (3)

  1. 平均粒子径が0.1〜1000μmである有機系粒子からなるコア粒子と、該コア粒子の表面に形成された導電層とからなる導電性粒子粉末であって、前記有機系粒子は熱可塑性樹脂又は熱硬化性樹脂からなり、前記導電層が金、銀、白金、スズ−アンチモン系酸化物(ATO)、インジウム−スズ系酸化物(ITO)、ガリウム−亜鉛系酸化物(GZO)、インジウム−亜鉛系酸化物(IZO)から選ばれる1種または2種以上の導電性フィラーからなり、前記導電層は前記コア粒子の表面を被覆している表面改質剤を介して形成されており、前記表面改質剤が有機ケイ素化合物またはカップリング剤から選ばれる1種または2種以上であり、導電性粒子粉末はコア粒子粉末と表面改質剤とをせん断、へらなで及び圧縮が同時に行える装置を用いて混合してコア粒子粉末の粒子表面を表面改質剤によって被覆し、次いで、表面改質剤によって被覆されたコア粒子粉末と導電性フィラーとを混合することによって得られるものであり、当該導電性粒子粉末の経時安定性が92%以下であることを特徴とする導電性粒子粉末。
  2. 請求項1記載の導電性粒子粉末において、導電性フィラーの付着量が、コア粒子粉末100重量部に対して0.01〜500重量部である導電性粒子粉末。
  3. 請求項1記載の導電性粒子粉末において、表面改質剤の被覆量が、表面改質剤被覆コア粒子粉末に対して表面改質剤が含有する金属の元素換算で0.02〜5.0重量%である導電性粒子粉末。
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