JP5549958B2 - アルミニウム部材と銅部材との接合構造 - Google Patents
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Description
ここで、銅部材は、電気伝導性、熱伝導性に特に優れ、機械的強度が高く、変形抵抗が大きいといった特性を有している。一方、アルミニウム部材は、銅に比べて電気伝導性、熱伝導性には若干劣るものの、軽量であるとともに変形抵抗が小さいといった特性を有している。
このため、上述の電子電気部品や放熱部品等においては、要求される性能に応じて、銅部材及びアルミニウム部材が選択して使用されている。最近では、上述の電子電気部品や放熱部品等を小型化及び軽量化する観点から、銅部材とアルミニウム部材とを接合した接合体が求められている。
拡散接合法は、銅部材とアルミニウム部材とを合わせ抽伸又は重ね圧延して予め銅部材とアルミニウム部材とを接合した後に、溶融温度以下の温度で熱処理を実施するものである。
また、摩擦圧接法は、銅部材とアルミニウム部材とを押圧しながら摩擦させ、摩擦熱と押圧力とによって接合するものである。
また、特許文献2には、銅部材に、純アルミニウム等からなるインサート材を冷間圧延によって接合し、インサート材側にアルミニウム部材を熱間又は冷間圧延によって接合すること、及び、銅部材にインサート材を接合した後に熱処理を実施することが開示されている。
さらに、特許文献3には、銅部材の接合面にAgからなる金属層を形成し、金属層とアルミニウム部材とをろう付けする方法が提案されている。
また、銅部材とアルミニウム部材との接合界面に大きなせん断力を作用させていることから、接合界面近傍が不安定な性状となりやすく、接合界面近傍の特性を安定させることはできなかった。さらに、アルミニウム部材の表面には酸化膜が形成されているが、大きなせん断力によって酸化膜が接合界面近傍にランダムに分散してしまうことになり、接合界面近傍の特性が不安定となるおそれがあった。
また、前記銅部材と前記金属間化合物層との界面において、酸化物が前記界面に沿って層状に分散していることから、アルミニウム部材の表面に形成された酸化膜が破壊されて固相拡散接合が十分に進行している。
この場合、脆い金属間化合物層が大きく成長してしまうことを抑制できる。また、銅部材中のCuとアルミニウム部材中のAlとが相互拡散することにより、銅部材側からアルミニウム部材側に向けてそれぞれの組成に適した金属間化合物が層状に形成されることから、接合界面近傍の特性を安定させることができる。
また、前記金属間化合物層は、アルミニウム部材側から銅部材側に向けて順に、前記接合界面に沿って、θ相、η2相が積層し、さらにζ2相、δ相、及びγ2相のうち少なくとも一つの相が積層した構造とされていても良い。
この場合、銅部材中のCuとアルミニウム部材中のAlとが相互拡散することにより、銅部材側からアルミニウム部材側に向けてそれぞれの組成に適した金属間化合物が層状に形成されているので、金属間化合物層内部における体積変動が小さくなり、内部歪みが抑えられ、接合強度を十分に確保することができる。
この積層板10は、例えば電子電気部品や放熱部品等に幅広く使用されるものであり、本実施形態においては、アルミニウム板11の他方の面にフィン加工が施され、伝熱部品の一種であるヒートシンクとして使用されるものである。アルミニウム板11の他方の面とは、アルミニウム板11が銅板12と接合される面(アルミニウム板11の一方の面)の反対の面である。
これら3種の金属間化合物22、23、24は、アルミニウム板11側から銅板12側に向けて順に、θ相22、η2相23、ζ2相24とされている。
図4に示すCuのライン分析結果及び図5に示すAlのライン分析結果では、Cu及びAlの分析値がステップ上に変化していることが確認されており、複数の金属間化合物が積層していることが確認される。なお、η2相23、ζ2相24は、CuとAlの構成比率が近似していることから、図4及び図5のライン分析結果では明確に区別できない。
図8に、接合部20近傍のAsB像(極低角度散乱反射電子像)を示す。なお、図8(a)においては、アルミニウム部材11を観察するために条件を設定していることから、銅板12が白くなっている。また、図8(b)、(c)においては、銅板12を観察するために条件を設定していることから、アルミニウム部材11が黒くなっている。また、図8(a)、(b)においては、イオンエッチングを実施した部分の結晶組織を観察している。
これらのAsB像(極低角度散乱反射電子像)から、アルミニウム部材11の平均結晶粒径及び銅板12の平均結晶粒径を測定することができる。
なお、AsB像は走査型電子顕微鏡(カール ツァイスNTS社製ULTRA55)を用いて、加速電圧:17kV、WD:2.4mmで撮影した。
まず、銅板12の一方の面にアルミニウム板11を積層する。このとき、アルミニウム板11及び銅板12の接合面においては、傷等の凹凸が生じていると積層した際に隙間が生じてしまうため、あらかじめ研磨等によって平滑な面とされていることが好ましい。
この加圧装置30は、ベース板31と、このベース板31の上面の四隅に垂直に取り付けられたガイドポスト32と、これらガイドポスト32の上端部に配置された固定板33と、これらベース板31と固定板33との間で上下移動自在にガイドポスト32に支持された押圧板34と、固定板33と押圧板34との間に設けられて押圧板34を下方に付勢するばね等の付勢手段35と、固定板33を上下させる調整ネジ36と、を備えている。
そして、調整ネジ36の位置を調節することによって固定板33を上下させて、付勢手段35により押圧板を34ベース板31側に押し込むことにより、アルミニウム板11及び銅板12が積層方向に押圧される。
このようにして、複数の金属間化合物が前記接合界面に沿って積層した構造とされた接合部20を有する積層板10が製造される。
具体的には、金属間化合物層21は、アルミニウム板11側から銅板12側に向けて順に、θ相22、η2相23、ζ2相24の3種の金属間化合物が積層しているので、金属間化合物層21内部における体積変動が小さくなり、内部歪みが抑えられる。
すなわち、固相拡散しなかった場合、例えば、液相が形成された場合には、金属間化合物が必要以上に発生し、金属間化合物層はその体積の変動が大きくなり、金属間化合物層に内部歪みが生じる。しかし、固相拡散した場合には、脆い金属間化合物層が大きく成長せずに、金属間化合物が層状に形成されるため、その内部歪みが抑えられる。
よって、アルミニウム部材11及び銅板12に過剰な歪み等が蓄積されておらず、この積層板10の疲労特性が向上することになる。
さらに、真空加熱炉40で加熱する際の保持時間を5分以上としているので、AlとCuの相互拡散を十分に進行させることができる。また、真空加熱炉40で加熱する際の保持時間を240分以下としているので、アルミニウム板11及び銅板12が熱劣化することを抑制できるとともに、この積層板10の製造コストを抑えることが可能となる。
例えば、伝熱部品の一種であるヒートシンクとして使用される積層板を例にあげて説明したが、これに限定されることはなく、電子電気部品等の他の用途に使用されるものであってもよい。
例えば、アルミニウム管と銅管とを接合したものであってもよい。この場合には、内側の管体の内周側と外側の管体の外周側から押圧した状態(アルミニウム部材と銅部材との積層方向に押圧した状態)で加熱することが好ましい。
ここで、ダイパッド132の厚さは、0.1mm以上6.0mm以下の範囲とされている。また、アルミニウム板111の厚さは、0.1mm以上1.0mm以下の範囲とされている。
例えば、図11に示すように、アルミニウム板211と銅板212との接合部220は、アルミニウム板211側から銅板212側に向けて順に、アルミニウム板211と銅板212との接合界面に沿って、θ相222、η2相223が積層し、さらにζ2相224、δ相225、及びγ2相226のうち少なくとも一つの相が積層して構成されていても良い。
本発明例として、純度99.99%以上のアルミニウム板(10mm×10mm、厚さ0.6mm)の一方の面に、無酸素銅からなる銅板(2mm×2mm、厚さ0.3mm)を、上述の実施形態に記載した方法によって固相拡散接合した。このとき、アルミニウム板と銅板とを積層方向に12kgf/cm2の荷重で押圧し、真空加熱炉で540℃の条件で加熱を実施した。真空加熱炉での加熱時間は表1記載の保持時間とした。
また、従来例として、Al板とCu板を熱間でロール圧延して作製したクラッド材を準備した。
得られた積層板の断面をクロスセクションポリッシャ(日本電子株式会社製SM−09010)を用いて、イオン加速電圧:5kV、加工時間:14時間、遮蔽板からの突出量:100μmでイオンエッチングした後に観察し、接合界面近傍における銅板及びアルミニウム板の平均結晶粒径を測定した。なお、この平均結晶粒径の測定は、JIS H 0501記載の切断法に準拠して実施した。
クロスセクションポリッシャ(日本電子株式会社製SM−09010)を用いて、イオン加速電圧:5kV、加工時間:14時間、遮蔽板からの突出量:100μmでイオンエッチングした断面を走査型電子顕微鏡(カール ツァイスNTS社製ULTRA55)を用いて、加速電圧:1kV、WD:2.5mmでIn−Lens像を撮影すると、Cuと金属間化合物層の界面に沿って層状に分散した白いコンラストが得られた。また同条件にてESB像を撮影すると、前記箇所はAlより暗いコントラストになっていた。さらにEDS分析から前記箇所に酸素が濃集していた。以上のことからCuと金属間化合物層との界面には、酸化物が、前記界面に沿って層状に分散していることを確認した。
上記の方法により酸化物が確認できたものを表1では「あり」とし、確認できなかったものを「なし」と記載した。
この試験片を用いて、シェアテストを実施した。なお、このシェアテストは、国際電気標準会議の規格IEC 60749−19に準拠して実施した。
また、本発明例及び従来例の試験片を用いて冷熱サイクル試験を実施した。本発明例の試験片としては、上述した試験片の作製方法と同様の方法で作製し、サイズを40mm×40mmとした試験片を使用し、従来例としては40mm×40mmのサイズのクラッド材を使用した。冷熱サイクル負荷後の接合率は、冷熱サイクル(−45℃←→200℃)を4000回繰り返した後の試験片を用いて、以下の式で算出した。ここで、初期接合面積とは、接合前における接合すべき面積、すなわち本実施例では試験片の面積とした。
接合率 = (初期接合面積−剥離面積)/初期接合面積
評価結果を表1に示す。
一方、従来例においては、酸化物が銅部材と金属間化合物の界面に沿って分散していなかった。さらに、銅板及びアルミニウム板は、圧延による加工組織となっており、平均結晶粒径が非常に細かくなっていた。
12、130、212、312 銅板(銅部材)
20、220 接合部(アルミニウム部材と銅部材との接合構造)
21、321 金属間化合物層
22、222 θ相
23、223 η2相
24、224、324 ζ2相
27、327 酸化物
325 δ相
326 γ2相
Claims (4)
- アルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム部材と銅又は銅合金からなる銅部材とが固相拡散接合によって接合され、
前記アルミニウム部材と前記銅部材との接合界面には、CuとAlからなる金属間化合物層が形成されており、
前記銅部材と前記金属間化合物層との界面には、酸化物が、前記界面に沿って層状に分散しており、
前記銅部材の平均結晶粒径が50μm以上200μm以下の範囲内とされ、前記アルミニウム部材の平均結晶粒径が500μm以上とされていることを特徴とするアルミニウム部材と銅部材との接合構造。 - 前記金属間化合物層は、複数の金属間化合物が前記接合界面に沿って積層した構造とされていることを特徴とする請求項1に記載のアルミニウム部材と銅部材との接合構造。
- 前記金属間化合物層は、少なくとも、η2相、ζ2相、θ相が、前記接合界面に沿って積層した構造とされていることを特徴とする請求項2に記載のアルミニウム部材と銅部材との接合構造。
- 前記金属間化合物層は、アルミニウム部材側から銅部材側に向けて順に、前記接合界面に沿って、θ相、η2相が積層し、さらにζ2相、δ相、及びγ2相のうち少なくとも一つの相が積層した構造とされていることを特徴とする請求項2に記載のアルミニウム部材と銅部材との接合構造。
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