JP5537455B2 - リソグラフィ装置および方法 - Google Patents
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Description
Claims (17)
- 照明システムを使用して放射ビームを供給することと、パターニングデバイスを使用して前記放射ビームの断面にパターンを付与することと、前記パターニングされた放射ビームを基板のターゲット部分上へ投影することと、を含む方法であって、
前記照明システムは、前記放射ビームを所望の照明モードに変換する、個別に制御可能なミラーエレメントのアレイを有し、
個別に制御可能な異なるミラーエレメントを前記照明モードの異なる部分に割り当てる割当方式が使用され、
前記割当方式は、前記個別に制御可能なミラーエレメントの反射率が均一でないことを考慮して、前記所望の照明モードまたは前記放射ビームを提供するように選択される、方法。 - 前記割当方式は、前記個別に制御可能なミラーエレメントを使用して形成された照明モードの強度の変動を排除しまたは低減させるように選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記割当方式は、前記アレイの異なる部分に位置する個別に制御可能なミラーエレメントを使用して、前記照明モードの隣接する位置に放射を誘導することを含む、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記割当方式は、前記個別に制御可能なミラーエレメントをランダムに割当てることを含む、請求項3に記載の方法。
- 前記割当方式は、一対の個別に制御可能なミラーエレメントを、前記照明モードの所与の位置に放射を誘導するように割当てることを含み、前記一対の個別に制御可能なミラーエレメントがそれぞれ、前記アレイの異なる部分に位置する、請求項3に記載の方法。
- 前記割当方式は、前記モードの所与の位置に放射を誘導する個別に制御可能ないくつかのミラーエレメントを選択することを含み、前記選択は、個別に制御可能なそれぞれのミラーエレメントから供給される放射の強度に依存し、前記選択は、更に前記個別に制御可能なミラーエレメントに入射する前記放射ビームの強度に基づく、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記割当方式は、前記パターニングされた放射ビームを前記基板上へ投影する間の前記放射ビームのアポダイゼーション効果を低減させるために、前記放射ビームの中心部分に放射を誘導するように割当てられる個別に制御可能なエレメントの数よりも多くの個別に制御可能なミラーエレメントを、前記放射ビームの外側部分に放射を誘導するように割当てることを更に含む、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記割当方式は、個別に制御可能な異なるミラーエレメントを順番に使用して、前記照明モードの所与の位置に放射を誘導することを含み、前記放射ビームの強度変動の影響を低減させるために、前記個別に制御可能なミラーエレメントが、前記アレイの異なる部分から選択される、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記割当方式は、個別に制御可能なミラーエレメントの前記アレイの異なる部分を使用して、前記照明モードの異なる領域に放射を誘導することを含み、前記アレイの前記部分が、前記放射ビームのテレセントリシティに所望の変更を与えるように選択される、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記割当方式は、複数の照明モード間の切換えの際に、前記個別に制御可能なミラーエレメントが回転する角度の平均サイズを低減させ、それによって前記個別に制御可能なミラーエレメントの寿命を改善するように更に構成される、請求項1に記載の方法。
- 前記割当方式は、個別に制御可能なミラーエレメントの前記アレイの異なる部分を使用して、前記照明モードの異なる領域に放射を誘導することを含み、前記アレイの前記部分が、前記照明モードの異なる部分に、前記放射ビームの所望の割合を誘導するように選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記割当方式は、大多数のミラーよりも少量の放射を誘導するミラーを考慮し、これらのミラーのうちの1つまたは複数のミラーを使用して、前記照明モードの異なる部分に誘導される前記放射ビームの割合の微調整を提供する、請求項11に記載の方法。
- 前記個別に制御可能なエレメントが、ピストン運動を実行する、請求項1〜12のいずれか一項に記載の方法。
- 前記割当方式は、一対の個別に制御可能なミラーエレメントを、前記照明モードの所与の位置に放射を誘導するように割当てることを含み、前記一対のうち第一の個別に制御可能なミラーエレメントは前記個別に制御可能なミラーエレメントの平均反射率より高い反射率を有し、且つ、前記一対のうち第二の個別に制御可能なミラーエレメントは前記個別に制御可能なミラーエレメントの平均反射率より低い反射率を有する、請求項1に記載の方法。
- 前記放射ビームは、パルス放射ビームであって、
前記個別に制御可能なミラーエレメントの割当ては、パルス間で変更し、または一連のパルスの途中で変更する、請求項1に記載の方法。 - 放射ビームを供給する照明システムと、前記放射ビームの断面にパターンを付与するパターニングデバイスを支持する支持構造体と、基板を保持する基板テーブルと、前記パターニングされた放射ビームを前記基板のターゲット部分上へ投影する投影システムと、を備えるリソグラフィ装置であって、
前記照明システムは、
前記放射ビームを所望の照明モードに変換する、個別に制御可能なミラーエレメントのアレイと、
前記個別に制御可能なミラーエレメントの反射率が均一でないことを考慮して前記所望の照明モードまたは前記放射ビームを提供するように選択される割当方式に従って、個別に制御可能な異なるミラーエレメントを前記照明モードの異なる部分に割当てるコントローラと、を有する、
リソグラフィ装置。 - 照明システムを使用して放射ビームを調整することと、前記放射ビームの断面がパターンを有するように前記放射ビームをパターニングしてパターニングされた放射ビームを形成することと、前記パターニングされた放射ビームを基板のターゲット部分上へ投影することと、を含むデバイス製造方法であって、
前記調整ステップが、
前記放射ビームを所望の照明モードに変換するように、前記照明システムの個別に制御可能なミラーエレメントのアレイおよび関連光学コンポーネントを制御することを含み、
前記制御ステップが、前記個別に制御可能なミラーエレメントの反射率が均一でないことを考慮して前記所望の照明モード、放射ビーム、またはその両方を提供するように選択される割当方式に従って、個別に制御可能な異なるミラーエレメントを前記照明モードの異なる部分に割当てることを含む、
デバイス製造方法。
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