JP5526592B2 - 固体撮像装置、撮像装置および固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents
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Description
これらの固体撮像装置では、半導体基板の一面に複数の光電変換部が並べて形成される。これにより、半導体基板に受光部が形成される。
また、受光部の上には、隣り合う2つの光電変換部の間に複数の配線部が形成される。
そして、各光電変換部は、その両側に形成された配線部の間を通過した光を受光する。
たとえば、配線部の電位によっては、その電位により光電変換特性が変化し、固体撮像装置が生成する出力信号中の暗信号成分が増化することがある。
また、固体撮像装置を用いて撮像した画像中に、白キズなどの画像欠陥が生じることがある。
そして、受光部に形成した配線部による光電変換特性への影響の程度は、配線部およびゲートなどの電位に応じて異なる。
このように光学特性を改善するために形成されるダミー配線部は、たとえば各光電変換部について配線部の反対側の位置に形成される。
たとえば1個の光電変換部の右側に配線部が形成されている場合、ダミー配線部は、当該光電変換部の左側に形成される。
これにより、当該光電変換部に対して上から入射する光は、光学的に対称性を有する光として光電変換部に入射できる。
そのため、ダミー配線部は、ビアコンタクトなどにより他の配線部に接続されない。
そして、ダミー配線部の電位は不定になる。
それゆえ、ダミー配線部が光電変換部の光電変換特性に与える影響の程度は、予測し難い。
また、ダミー配線部が光電変換部の光電変換特性に実際に与えた影響は、信号処理などで取り除くことが難しい。
または、本発明では、ダミー配線部が光電変換部の光電変換特性に実際に与える影響を他の配線部と同程度に予測可能なものにできる。
1.第1の実施形態(ダミー配線部に光学的に対称な位置の配線部と同じ電位を与える例)
2.第2の実施形態(ダミー配線部に光学的に対称な位置の配線部と異なる電位を与える例)
[撮像装置1の構成]
図1は、本発明の第1の実施形態に係る撮像装置1のブロック図である。
撮像装置1は、光学部10、固体撮像デバイス(CMOS)11、信号処理回路(DSP)12、操作部(KEY)13、表示部(DISP)14を有する。
また、撮像装置1は、CPU(Central Processing Unit)15、メモリ(MEM)17、シリアルインタフェース部(S_IF)18、およびこれらを接続するシステムバス19を有する。
このような撮像装置1は、たとえば携帯端末機器、デジタルスチルカメラ、デジタル一眼レフカメラ、デジタルビデオカメラなどとして用いられる。
光学部10は、被写体の光を集光する。
固体撮像デバイス11は、被写体の光を受光する受光部21を有する。
受光部21には、複数の画素回路22が二次元に配列される。
そして、受光部21には、光学部10により被写体の光が集光する。
そのため、光学部10により集光される光は、受光部21の中心部では真上方向から入射し、受光部21の周縁部では斜め方向から入射する。
そして、固体撮像デバイス11は、複数の画素回路22の受光光量値をシリアルデータとして含む出力信号を出力する。
信号処理回路12は、固体撮像デバイス11に接続される。
信号処理回路12には、固体撮像デバイス11の出力信号が入力される。
そして、信号処理回路12は、出力信号に含まれる複数の画素回路22の受光光量値から、たとえばRGBの三色のフルカラーの画像を得る。
これにより、信号処理回路12は、フルカラーの画像データを含む画像信号を生成する。
そして、信号処理回路12は、生成した画像信号を、システムバス19へ出力する。
操作キーには、たとえば電源キー、撮像キーなどが含まれる。
操作部13は、操作されたキーに応じた値を含む信号を生成する。
そして、操作部13は、生成した信号を、システムバス19を通じてCPU15へ出力する。
表示部14には、たとえばシステムバス19から画像信号が入力される。
そして、表示部14は、入力された画像信号に含まれる画像データに基づく画像を表示する。
半導体メモリカード20は、たとえばフラッシュメモリであればよい。
シリアルインタフェース部18は、装着されている半導体メモリカード20にアクセスする。
また、シリアルインタフェース部18には、たとえばシステムバス19から画像信号などが入力される。
そして、シリアルインタフェース部18は、たとえば入力された画像信号に含まれる画像データを半導体メモリカード20に保存する。
メモリ17には、システムバス19から画像信号などが入力される。
そして、メモリ17は、入力された画像信号に含まれる画像データを記憶する。
なお、メモリ17に記憶されるプログラムは、撮像装置1の出荷前に予めメモリ17に記憶されたものであってもよいが、出荷後にメモリ17に記憶されたものであってもよい。
また、出荷後にメモリ17に記憶されるプログラムは、たとえばコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されたものをインストールしたものであればよい。
また、出荷後にメモリ17に記憶されるプログラムは、インターネットなどの伝送媒体を通じてダウンロードしたプログラムをインストールしたものであってもよい。
これにより、CPU15には、制御部(CTRL:Controller)16が実現される。
制御部16は、撮像装置1の動作を制御する。
CPU15には、たとえば操作部13から撮像キーが操作された場合の信号が入力される。
そして、撮像キーが押下操作された場合、制御部16は、固体撮像デバイス11へ撮像の開始信号を出力する。
また、撮像キーが押下状態から押下されない状態になった場合、制御部16は、固体撮像デバイス11へ撮像の終了信号を出力する。
図3は、図1の固体撮像デバイス11のブロックレイアウトの一例を示すレイアウト図である。
図3の固体撮像デバイス11は、CMOSイメージセンサの例である。
この固体撮像デバイス11は、複数の画素回路22からの信号の読み出しを行単位で行うことができる。
なお、図3では、各ブロックのサイズは、図示のために適宜拡大または縮小して描画されている。
半導体基板110には、画素部(SNS)111、行選択回路(VSCN)112、シャッタ行選択回路(SHT)113、相関2重サンプリング回路(CDS)114、列選択回路(HSCN)115などが形成される。
また、半導体基板110には、AGC回路(AGC)117、アナログ・デジタル変換回路(ADC)118、デジタルアンプ回路(DAMP)119、タイミングジェネレータ(TG)116が形成される。
これらの回路は、たとえば半導体基板110の上面に形成された配線により相互に接続される。
複数の画素回路22が配列された範囲が、半導体基板110の受光部21となる。
また、図3のブロック図において画素部111の上下方向を垂直方向という。
そして、図3の受光部21は、垂直方向より水平方向が長い長方形の領域となる。
図4のブロック図は、画素回路22の機能のブロック図であり、画素回路22の実際の配線は、後述する図6に一部を示すように、図4での配線と若干異なっている。
図4には、2行×3列の複数の画素回路22と、各種の周辺回路とが図示されている。
複数の画素回路22には、各種の信号線および電源線が接続される。
各種の信号線は、周辺回路に接続される。
このような各種の信号線および電源線としては、たとえばグランド線41、電源線42、転送信号線43、選択信号線44、リセット信号線45、画素出力線46がある。
複数の画素回路22は、半導体基板110の受光部21に2次元に配列される。
そして、画素回路22は、光電変換部31、転送トランジスタ32、増幅トランジスタ33、選択トランジスタ34、リセットトランジスタ35を有する。
フォトダイオードは、受光光量に応じた電荷を蓄積する。
フォトダイオードのアノードは、グランド線41に接続される。
フォトダイオードのカソードは、転送トランジスタ32のソース電極に接続される。
そして、複数の光電変換部31は、受光部21に二次元に配列される。
また、複数の光電変換部31は、等ピッチに形成される。
これにより、複数の光電変換部31は、受光部21に均一に配列される。
転送トランジスタ32のドレイン電極は、増幅トランジスタ33のゲート電極に接続される。転送トランジスタ32のソース電極は、転送信号線43に接続される。
なお、転送トランジスタ32のドレイン電極と増幅トランジスタ33のゲート電極とを接続する信号線は、フローティングディフュージョン36と呼ばれる。
そして、転送信号線43がハイレベルである場合、転送トランジスタ32は、ソース電極とドレイン電極の間にチャネルを形成する。
これにより、フローティングディフュージョン36は、光電変換部31に接続される。
増幅トランジスタ33のソース電極は、電源線42に接続される。増幅トランジスタ33のドレイン電極は、選択トランジスタ34のソース電極に接続される。
選択トランジスタ34のゲート電極は、選択信号線44に接続される。選択トランジスタ34のドレイン電極は、画素出力線46に接続される。
そして、選択信号線44がハイレベルである場合、選択トランジスタ34がオン状態に制御され、増幅トランジスタ33が画素出力線46に接続される。
また、増幅トランジスタ33のゲート電極に光電変換部31が接続されている場合、画素出力線46は、光電変換部31に蓄積された電荷量に応じた電圧レベルになる。
リセットトランジスタ35のゲート電極は、リセット信号線45に接続される。リセットトランジスタ35のソース電極は、電源線42に接続される。リセットトランジスタ35のドレイン電極は、フローティングディフュージョン36に接続される。
そして、リセット信号線45がハイレベルになると、リセットトランジスタ35は、フローティングディフュージョン36を電源線42に接続する。
これによりフローティングディフュージョン36は、電源電圧レベルにリセットされる。
たとえば、二次元に配列される複数の画素回路22は、1行毎に共通する転送信号線43、選択信号線44、およびリセット信号線45に接続される。
また、二次元に配列される複数の画素回路22は、1列毎に共通する画素出力線46に接続される。
たとえば複数の転送信号線43、複数の選択信号線44、および複数のリセット信号線45は、所定の論理回路により行選択回路112およびシャッタ行選択回路113に接続される。
行選択回路112およびシャッタ行選択回路113は、水平方向に長い横長の受光部21の水平方向一端側に配置される。
このため、複数の転送信号線43、複数の選択信号線44、および複数のリセット信号線45は、横長の受光部21の上を、受光部21の全幅にわたって横断する。
相関2重サンプリング回路114は、受光部21の垂直方向一端側に配置される。
このため、複数の画素出力線46は、横長の受光部21の上を、受光部21の全幅にわたって縦断する。
次に、受光部21に形成される各種の配線と光電変換部31とのレイアウトについて、説明する。
図5は、図2の固体撮像デバイス11の画素部111の模式的な部分断面図である。
図5(A)は、画素部111の中央部分の部分断面図である。
図5(B)は、画素部111の中央部と周縁部との間の中間部分の部分断面図である。
図5(C)は、画素部111の周縁部分の部分断面図である。
図5において、複数の光電変換部31は、等間隔に並べて形成される。
また、各画素回路22の各種のMOSトランジスタ32〜35は、複数の光電変換部31の間に形成される。
図5では、図示された各組の光電変換部31およびMOSトランジスタ37が、各画素回路22に相当する。図5に図示されたMOSトランジスタ37は、たとえば転送トランジスタ32である。
また、絶縁膜71の上側の表層部は、パッシベーション膜により平坦化されている。
複数のフィルタ部72Aは、RGBの三色から選択された1つの色に着色されている。
また、フィルタ部72Aは、画素回路22と1対1に対応するように、受光部21において二次元に配列される。
レンズ部73Aは、凸レンズ形状を有する。
レンズ部73Aは、画素回路22と1対1に対応に対応するように、受光部21において二次元に配列される。そのため、各レンズ部73Aは、各フィルタ部72Aと重なる。
具体的には、図5(A)に示すように受光部21の中央部分では光が真上から画素回路22へ入射することから、フィルタ部72Aおよびレンズ部73Aは、画素回路22の真上に形成される。
これに対して、図5(C)に示すように受光部21の周縁部分では光が斜め方向から画素回路22へ入射することから、フィルタ部72Aおよびレンズ部73Aは、画素回路22の斜め上方にずれて形成される。
この複数の配線体51〜53により、受光部21を縦断または横断する各種の信号線および電源線が形成される。
そして、図5では、3層の配線層は、紙面に垂直な方向に延在する。
また、3層の配線層は、図示外のビアコンタクトにより相互に電気的に接続される。
そして、この3層の配線体51〜53により1つの配線部50が形成される。
また、配線部50は、たとえばグランド線41、電源線42、転送信号線43、選択信号線44、リセット信号線45、または画素出力線46として用いられる。
また、後述するように、図5の複数本の配線部50において、それぞれの最下配線体51に対するそれぞれの中間配線体52のずれ量は、上述した一方の配列方向において同じ(ここでは共にずれが0)である。
また、二次元の配列方向の他方の配列方向(図5の紙面内の方向)においての各中間配線体52は、最下配線体51の真上からずらして重ねられている。
複数の最上配線体53も、最下配線体51の真上からずらして重ねられている。
具体的にはたとえば、図5(A)の受光部21の中心部分では、中間配線体52および最上配線体53は、最下配線体51の真上の位置に重ねられる。
図5(B)の受光部21の中間部分では、中間配線体52および最上配線体53は、最下配線体51の真上の位置から、若干中心寄りにずらして重ねられる。
図5(C)の受光部21の周縁部分では、中間配線体52および最上配線体53は、最下配線体51の真上の位置から、中心寄りにずらして重ねられる。
周縁部分での中心方向へのずれ量は、中間部分での中心方向へのずれ量より大きい。
図6は、1組の光電変換部31および周囲の配線部50の部分平面図である。
図6は、受光部21を光の入射方向から見た図である。
図6の光電変換部31は、略四角形の受光領域を有する。
また、複数の光電変換部31の受光領域は、等ピッチに配列される。
そして、図6において、横並びの2つの光電変換部31のゲート電極61は、1つのフローティングディフュージョン36に共通に接続される。
また、図6の右側において縦に延在する配線体は、電源線42の最下配線体51である。
図6の左側において縦に延在する配線体は、グランド線41の最下配線体51である。
このようにフローティングディフュージョン36、電源線42およびグランド線41は、2列の光電変換部31の単位で設けられる。
そのため、受光部21に等ピッチで二次元的に配列される複数の光電変換部31は、受光部21に均一に配列される。
これに対して、フローティングディフュージョン36、電源線42およびグランド線41は、受光部21に不均一に配列される。
これに対して、図6の右側の光電変換部31は、入射光が遮蔽されることなく入射する。
よって、図6の左側の光電変換部31と右側の光電変換部31とが同一の光電変換特性を有していても、左側の光電変換部31の感度は、右側の光電変換部31に比べて低下する。
ダミー配線体62とは、光電変換部31と周辺回路とを接続するための配線部として機能しない配線部をいう。
これにより、第1の光電変換部31−1は、その水平方向の両端辺と重ねて1対の配線部分が形成される。
また、この1対の配線部分は、第1の光電変換部31−1の中心について光学的に対称な位置に配置される。
これにより、第2の光電変換部31−2は、その水平方向の両端辺と重ねて1対の配線部分が形成される。
また、この1対の配線部分は、第2の光電変換部31−2の中心について光学的に対称な位置に配置される。
これにより、第3の光電変換部31−3は、その水平方向の両端辺と重ねて1対の配線部分が形成される。
また、この1対の配線部分は、第3の光電変換部31−3の中心について光学的に対称な位置に配置される。
これにより、第4の光電変換部31−4は、その水平方向の両端辺と重ねて1対の配線部分が形成される。
また、この1対の配線部分は、第4の光電変換部31−4の中心について光学的に対称な位置に配置される。
具体的には、図6左上の第1のダミー配線体62−1は、第1の中間配線体52−1により、電源線42の最下配線体51と電気的に接続する。
図6右上の第2のダミー配線体62−2は、第2の中間配線体52−2により、グランド線41の最下配線体51と電気的に接続する。
図6左下の第3のダミー配線体62−3は、第3の中間配線体52−3により、電源線42の最下配線体51と電気的に接続する。
図6右下の第4のダミー配線体62−4は、第4の中間配線体52−4により、グランド線41の最下配線体51と電気的に接続する。
このように各ダミー配線体62は、一か所において電源線42またはグランド線41に接続される。
そのため、ダミー配線体62は、電位が与えられても、電源線42またはグランド線41として機能しない。
次に、図1の撮像装置1の動作を説明する。
以下の説明では、数十秒シャッタまたはバルブシャッタなどによる長時間露光の場合の動作を例に説明する。
図7は、図1の撮像装置1での長時間露光処理のフローチャートである。
長時間露光の動作では、操作部13において撮像キーが押下されると、制御部16は、レリーズ操作があったと判断する(ステップST1)。
そして、制御部16は、固体撮像デバイス11に撮像の開始信号を出力する。
これにより、固体撮像デバイス11は、撮像処理を開始する(ステップST2)。
固体撮像デバイス11は、複数の光電変換部31をリセットする。また、固体撮像デバイス11は、リセット後の複数の光電変換部31に光を受光させる。
制御部16は、撮像キーが押下された状態であるか否かを繰り返し判断する(ステップST3)。
撮像キーが押下された状態である場合、制御部16は、レリーズ操作中であると判断する。
制御部16は、固体撮像デバイス11に撮像の終了信号を出力する。
撮像の終了信号が入力されると、固体撮像デバイス11は、受光を終了する(ステップST4)。
読出処理において、固体撮像デバイス11は、たとえば行選択回路112およびシャッタ行選択回路113により、複数の画素回路22を1行毎に動作させる。
行選択回路112およびシャッタ行選択回路113は、たとえば複数行の転送信号線43および選択信号線44を、1行毎に順番にローレベルからハイレベルへ制御する。
これにより、制御された1行の画素回路22により、複数の画素出力線46は、当該1行の光電変換部31の受光光量に応じたレベルに制御される。
相関2重サンプリング回路114は、事前に測定したリセット時の各画素回路22の出力レベルと、撮像時に読み出した各画素回路22の出力レベルとの相関に基づいて、複数の画素回路22の受光光量に応じた信号を、1行ずつ順番に生成する。
また、相関2重サンプリング回路114は、行選択回路112からの同期信号に同期して、複数の画素回路22の受光光量信号を1行ずつ順番に出力する。
AGC回路117は、受光光量信号を増幅する。
アナログ・デジタル変換回路118は、受光光量信号をサンプリングし、複数の画素回路22の受光光量データを得る。
デジタルアンプ回路119は、複数の画素回路22の受光光量データを読み出した行の順番で含む出力信号を生成する。
なお、これらの回路の一連の動作は、タイミングジェネレータ116からの同期信号により同期して実行される。
信号処理回路12は、信号処理により、固体撮像デバイス11の出力信号から、RGBのフルカラーの画像データを生成する(ステップST6)。
また、信号処理回路12は、たとえばフルカラーの画像データを含む画像信号を、システムバス19へ出力する。
また、シリアルインタフェース部18は、システムバス19の画像信号を取り込み、画像信号に含まれる画像データを半導体メモリカード20に記憶する。
また、表示部14は、システムバス19の画像信号を取り込み、画像信号に含まれる画像データの画像を表示する。
これにより、撮像装置1で撮像した画像が、半導体メモリカード20などに保存される(ステップST7)。
また、ユーザは、表示部14の表示により、撮像装置1で撮像した画像を確認することができる。
よって、各光電変換部31の入射光は、光学的に対称な光となる。
複数の光電変換部31の受光光量は揃う。
そして、複数の光電変換部31の光電変換特性は、均一な特性に改善される。
具体的には、光電変換部31について電源線42と対称な反対側の位置に形成されたダミー配線体62は、電源線42に接続する。
また、光電変換部31についてグランド線41と対称な反対側の位置に形成されたダミー配線体62は、グランド線41に接続する。
よって、各ダミー配線体62の電位は、グランド電位または電源電位に安定する。また、ダミー配線体62に電位を与えた状態で光を受光する。
それゆえ、ダミー配線体62による暗信号成分は、グランド線41または電源線42による暗信号成分と同等になる。
また、ダミー配線体62が光電変換部31の光電変換特性に実際に与える影響の程度は、抑えられる。
そのため、第1の実施形態では、たとえば、ダミー配線体62による暗信号成分の増化を抑えることができる。
また、第1の実施形態では、撮像した画像中に、白キズなどの画像欠陥が生じ難くなる。
また、第1の実施形態では、画像中の色のつき方のムラを抑えることができる。
この実施形態とは異なり、ダミー配線体62に電位が与えない場合、ダミー配線体62の電位が他の配線部50の電位と大きく異なることがある。
この電位差による光電変換部31の特性への影響は大きい。
第1の実施形態では、そのような電位差が生じ得ないので、光電変換部31の特性への影響を抑えることができる。
よって、第1の実施形態では、この電源線42に沿って列方向に並べられる複数の光電変換部31の光電変換特性の特性差を揃えることができる。
よって、第1の実施形態では、このグランド線41に沿って列方向に並べられる複数の光電変換部31の光電変換特性の特性差を揃えることができる。
なお、この信号処理による画素毎の色付き差は、一眼レフカメラの数十秒シャッタまたはバルブシャッタなどのように、長時間の電荷蓄積時に生じることがある。
図8は、本発明の第2の実施形態に係る1組の光電変換部31および周囲の配線部50の部分平面図である。
第2の実施形態に係る撮像装置1は、図8に示す構成以外は、第1の実施形態に係る撮像装置1の構成と共通する。
これにより、図8左上の第1の光電変換部31−1の左端辺には、電源線42の最下配線体51が重なる。
また、第1の光電変換部31−1の右端辺には、グランド線41の最下配線体51が重なる。
これにより、図8右上の第2の光電変換部31−2の左端辺には、電源線42の最下配線体51が重なる。
また第1の光電変換部31−1の右端辺には、グランド線41の最下配線体51が重なる。
また、図6右下の第4のダミー配線体62−4は、第4の中間配線体52−4Aにより、電源線42の最下配線体51と電気的に接続する。
また、各光電変換部31の右端辺には、グランド電位の配線体が重なる。
そのため、第2の実施形態は、複数の配線部50が受光部21において不均一に配列されているにもかかわらず、複数の光電変換部31に対する配線部分の電位を揃えることができる。
具体的には、第2の実施形態では、複数の光電変換部31に対して、電源電位の配線体とグランド電位の配線体とを同じ配置にすることができる。
よって、第2の実施形態では、複数の光電変換部31の特性を、複数の光電変換部31が本来持つ特性に揃えることが可能である。
また、第2の実施形態では、これら電源電位の配線体およびグランド電位の配線体による、複数の光電変換部31の特性ばらつきを抑えることが可能である。
この他にも例えば、ダミー配線部の電位は、電源電位またはグランド電位に近い電位に固定されてもよい。
また、ダミー配線部の電位は、ダミー配線部の周囲にある信号線と同じ電位とされてもよい。
さらに他にも例えば、ダミー配線部の電位は、任意の電位に制御されてもよい。
たとえば、複数のダミー配線部の電位は、ダミー配線部以外の構造を要因として発生する複数の画素回路22の特性差を相殺または減じるように、個別に任意の電位に制御することもできる。
これにより、複数の画素回路22の特性を揃えることができる。
また、ダミー配線部の電位は、固体撮像デバイス11の状態に応じてダイナミックに変化するように制御されてもよい。
この他にも例えば、複数の画素回路22は、隣接する2つの画素回路22で、増幅トランジスタ33、選択トランジスタ34、およびリセットトランジスタ35を供用してもよい。
さらに他にも例えば、複数の画素回路22は、それぞれ独立した回路として形成されてもよい。
この他にも例えば、ダミー配線部は、積層された複数のダミー配線体により形成されてもよい。
この他にも例えば、CCD(Charge Coupled Device)センサによる固体撮像デバイス11に配線部50およびダミー配線部が形成されてもよい。
この他にも例えば、画素回路22には、グランド電位とサブストレート電位VSSが給電されてもよい。
Claims (10)
- 半導体基板と、
前記半導体基板内で入射光を電荷に変換する光電変換部をそれぞれ有する複数の画素回路と、
前記半導体基板の光入射側に配置され、対応する行または列の画素回路にそれぞれが接続され複数の配線部と、
前記半導体基板の光入射側に配置され、前記複数の画素回路内の各光電変換部について、配線部が配置されていない側に画素回路ごとに配置され、所定の一定電位が供給されるダミー配線部と、
を有し、
一定電位が供給される配線部が各光電変換部の一辺の側に配置され、
前記ダミー配線部は、前記一定電位が供給される配線部が配置された側と反対の各光電変換部の他辺の側に配置された、
固体撮像装置。 - 前記ダミー配線部は、前記各光電変換部に対して前記一定電位が供給される配線部と光学的に対称な位置に配置された、
請求項1記載の固体撮像装置。 - 前記固体撮像装置は、前記複数の配線部および複数の前記ダミー配線部を含み、
前記複数の画素回路内の複数の前記光電変換部は、前記半導体基板内で等ピッチで均一に配列され、
前記複数の配線部は、前記複数の光電変換部に対し不均一に配列され、
前記複数のダミー配線部は、前記複数の光電変換部のそれぞれについて前記一定電位が供給される配線部が配置された側と反対の側に配置され、
各光電変換部の両側の前記一定電位が供給される配線部と前記ダミー配線部が光学的に対称に配置された、
請求項1または2記載の固体撮像装置。 - 前記画素回路は、隣接する複数の光電変換部が共通に使用するフローティングディフュージョンを含み、
前記ダミー配線部は、前記フローティングディフュージョンを共通に使用する複数の光電変換部の組毎に、当該組の複数の光電変換部の周囲に形成される前記一定電位が供給される配線部に対して光学的に対称な位置に配置された、
請求項1から3のいずれか一項記載の固体撮像装置。 - 前記ダミー配線部に、前記一定電位が供給される配線部と同じ一定電位が供給される、
請求項1から4のいずれか一項記載の固体撮像装置。 - 前記光電変換部は、前記半導体基板に略四角形の領域として形成され、
前記配線部は、前記略四角形の領域の一辺と重ねられた電源用の配線部であり、
前記ダミー配線部は、前記略四角形の領域の四辺のうち、前記電源用の配線部が重ねられた一辺と対向する辺に重ねられて、前記電源用の配線部と電気的に接続された、
請求項5記載の固体撮像装置。 - 前記ダミー配線部に、前記一定電位が供給される配線部と異なる一定電位が供給される、
請求項1から4のいずれか一項記載の固体撮像装置。 - 光を集光する光学部と、
前記光学部で集光された光を受光する固体撮像装置と
を有し、
前記固体撮像装置は、
半導体基板と、
前記半導体基板内で入射光を電荷に変換する光電変換部をそれぞれ有する複数の画素回路と、
前記半導体基板の光入射側に配置され、対応する行または列の画素回路にそれぞれが接続された複数の配線部と、
前記半導体基板の光入射側に配置され、前記複数の画素回路内の各光電変換部について、前記配線部が配置されていない側に画素回路ごとに配置され、所定の一定電位が供給されるダミー配線部と、
を有し、
一定電位が供給される配線部が各光電変換部の一辺の側に配置され、
前記ダミー配線部は、前記一定電位が供給される配線部が配置された側と反対の各光電変換部の他辺の側に配置された、
撮像装置。 - 前記固体撮像装置は、
前記複数の画素回路内の複数の前記光電変換部の受光に応じた出力信号を出力し、
前記撮像装置は、
前記固体撮像装置の前記出力信号を処理し、撮像した画像のデータを生成する信号処理回路と、
前記複数の光電変換部による電荷蓄積時間を制御する制御部と
を有し、
前記制御部は、
前記複数の光電変換部に、数秒以上にわたって電荷を蓄積させる
請求項8記載の撮像装置。 - 半導体基板と、前記半導体基板内で入射光を電荷に変換する光電変換部をそれぞれ有する複数の画素回路と、前記半導体基板の光入射側に配置され、対応する行または列の画素回路にそれぞれが接続された複数の配線部と、前記半導体基板の光入射側に配置され、前記複数の画素回路内の各光電変換部について、配線部が配置されていない側に画素回路ごとに配置され、所定の一定電位が供給されるダミー配線部と、を有し、一定電位が供給される配線部が各光電変換部の一辺の側に配置され、前記ダミー配線部は、前記一定電位が供給される配線部が配置された側と反対の各光電変換部の他辺の側に配置された固体撮像装置を用いて光を受光する受光ステップと、
前記固体撮像装置の前記複数の画素回路内の複数の光電変換部の受光に応じた出力信号を生成する生成ステップと、
を有し、
前記受光ステップでは、
前記ダミー配線部に所定の一定電位を供給した状態で光を受光する、
固体撮像装置の駆動方法。
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