JP5513718B2 - 遊技機 - Google Patents

Description

本発明は、遊技球を用いて所定の遊技を行うことが可能なパチンコ遊技機等の遊技機に関する。

遊技機として、遊技媒体である遊技球を発射装置によって遊技領域に発射し、遊技領域に設けられている入賞口などの入賞領域に遊技球が入賞すると、所定個の賞球が遊技者に払い出されるものがある。さらに、識別情報を可変表示（「変動」ともいう。）可能な可変表示装置が設けられ、可変表示装置において識別情報の可変表示の表示結果が特定表示結果となった場合に、遊技状態（遊技機の状態。より具体的には、遊技機が制御されている状態。）を、所定の遊技価値を遊技者に与えるように構成されたものがある。

なお、遊技価値とは、遊技機の遊技領域に設けられた可変入賞球装置の状態が打球が入賞しやすい遊技者にとって有利な状態になることや、遊技者にとって有利な状態になるための権利を発生させたりすることや、賞球払出の条件が成立しやすくなる状態になることである。

パチンコ遊技機では、始動入賞口（始動領域）に遊技球が入賞したことにもとづいて可変表示装置において開始される特別図柄（識別情報）の可変表示の表示結果として、あらかじめ定められた特定の表示態様が導出表示された場合に、「大当り」が発生する。なお、導出表示とは、図柄を停止表示させることである（いわゆる再変動の前の停止を除く。）。大当りが発生すると、例えば、大入賞口が所定回数開放して打球が入賞しやすい大当り遊技状態に移行する。そして、各開放期間において、所定個（例えば１０個）の大入賞口への入賞があると大入賞口は閉成する。なお、各開放について開放時間（例えば２９秒）が決められ、入賞数が所定個に達しなくても開放時間が経過すると大入賞口は閉成する。以下、各々の大入賞口の開放期間をラウンドということがある。

上記のように、入賞領域に遊技球が入賞すると、所定個の賞球が遊技者に払い出される。また、遊技球が始動領域に入賞すると、所定個の賞球が遊技者に払い出されるとともに、大当り遊技状態が発生する可能性がある識別情報の可変表示が開始される。パチンコ遊技機において使用される遊技球の材質は鋼である。よって、磁石によって遊技球を入賞領域（始動領域を含む。）に誘導する不正行為が行われることがある。

磁石を用いた不正行為を検知するために、磁石検出機能が内蔵された遊技機がある（例えば、特許文献１参照）。特許文献１に記載された遊技機に内蔵された磁石検出機能は、磁石を検出するための磁気センサとしてのリードスイッチの磁気検知不能範囲をなくするために磁気センサを移動させる駆動機構を含んでいる。

特開２００８−１７８８９号公報（段落００１６−００２２）

磁気センサとして、リードスイッチを用いる場合には、磁気（磁界）の検出範囲が狭く、また、磁石の向き（磁力線の向き）によっては磁石による磁気を検出できないおそれがあることから、特許文献１に記載された遊技機のように、磁気センサを比較的広い範囲に亘って移動させる必要がある。すると、遊技機において移動範囲を確保するための空間を確保する必要があるが、遊技機には、本来の機能を実現するための回路や機構部品が多数組み込まれているので、移動範囲を確保することは容易ではない。移動範囲を確保しようとすると、本来の機能を実現するための回路や機構部品の配置等に制約が生じ、回路や機構部品の配置が不能になる可能性がある。また、リードスイッチを用いる場合には、強い磁界が印加されると接点が接触したままの状態になり、磁石検出機能が損なわれるおそれがある。

そこで、本発明は、遊技機における本来の機能を実現するための回路や機構部の配置等に制限を与えることを防止しつつ、広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる遊技機を提供することを目的とする。

本発明による遊技機は、遊技球を用いて所定の遊技を行うことが可能な遊技機であって、互いに直交する３軸に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁気センサ（例えば、磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄ）が４箇所以上に設置され（図１７参照）、それぞれの磁気センサの３軸の各々の方向の検出電圧を、磁気センサを駆動する駆動クロック信号の周期よりも長い間隔でサンプリングして平均する平均化部と、平均化部が出力するそれぞれの磁気センサの３軸の各々の方向の検出電圧にもとづいて、磁気の方向を検出する方向検出手段（例えば、制御回路１９０におけるベクトル算出部２５１および交点検出部４０１：図１８参照）と、方向検出手段が検出した磁気の方向にもとづいて、磁気発生源が遊技機の表側の特定の範囲内にあるのか否かを判定する磁気発生源判定手段（例えば、前後判定部４０２：図２０参照）と、磁気発生源判定手段によって磁気発生源が特定の範囲内にあると判定されたときに、磁石が遊技機近傍に存在すると判定する磁石判定手段（例えば、エラー判定部４０４）とを備え、平均化部は、遊技機に対する電力供給が開始されてから所定期間が経過したときに検出電圧を平均化する処理を開始することを特徴とする。

外枠に対して開閉自在に設置された遊技枠（例えば、遊技枠２Ａ）と、遊技枠に着脱可能に取り付けられ所定の板状体に複数の遊技用部品が取り付けられた遊技盤（例えば、遊技盤６）を備え、遊技用部品として演出用の画像表示装置（例えば、演出表示装置９）が遊技盤に設けられ、画像表示装置を制御する演出制御手段（例えば、演出制御用マイクロコンピュータ１００）が搭載された演出制御基板が画像表示装置の裏側に設置された遊技機であって、磁気センサを演出制御基板に搭載してもよい（図９（Ａ）参照）。

外枠に対して開閉自在に設置された遊技枠（例えば、遊技枠２Ａ）と、遊技枠に着脱可能に取り付けられ、所定の板状体に複数の遊技用部品（例えば、演出表示装置９）が取り付けられた遊技盤（例えば、遊技盤６）とを備え、磁気センサを遊技枠に設置してもよい（図９（Ｂ）参照）。

それぞれの磁気センサの３軸の各々の方向の検出電圧にもとづいて、磁気発生源の移動方向または磁気発生源の移動距離を検出する移動検出手段（例えば、移動方向／距離判定部４０３：図１９参照）を備え、磁石判定手段は、移動検出手段の検出結果にもとづいて、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するように構成されていてもよい。

請求項１記載の発明では、遊技機を、互いに直交する３軸に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁気センサが４箇所以上に設置され、それぞれの磁気センサの３軸の各々の方向の検出電圧にもとづいて、磁気の方向を検出する方向検出手段と、方向検出手段が検出した磁気の方向にもとづいて、磁気発生源が遊技機の表側の特定の範囲内にあるのか否かを判定する磁気発生源判定手段と、磁気発生源判定手段によって磁気発生源が特定の範囲内にあると判定されたときに、磁石が遊技機近傍に存在すると判定する磁石判定手段とを備えた構成にしたので、磁石の向きによらず磁界を検出することができ、また、広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる。さらに、遊技機の裏面に磁界を生じさせる可能性がある正規の部材が存在する場合にも、磁石の存在を精度よく検知できる。

請求項２記載の発明では、磁気センサを演出制御基板に搭載したので、遊技盤における遊技領域に磁気センサを設置しないことから、本来の機能を実現するための機構部品の配置等を制約しないようにすることができる。

請求項３記載の発明では、磁気センサを遊技枠に設置したので、遊技店において遊技盤が交換されても、磁気センサを継続して使用することができ、遊技機のコストを低減することができる。

請求項４記載の発明では、それぞれの磁気センサの３軸の各々の方向の検出電圧にもとづいて、磁気発生源の移動方向または磁気発生源の移動距離を検出する移動検出手段を備え、磁石判定手段が、移動検出手段の検出結果にもとづいて、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するように構成されているので、磁界を生じさせる可能性がある正規の可動部材が遊技機に設けられている場合に、可動部材を不正行為に用いられている磁石と誤って検出することを防止できる。

実施の形態１．
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。まず、遊技機の一例であるパチンコ遊技機１の全体の構成について説明する。図１はパチンコ遊技機１を正面からみた正面図である。

パチンコ遊技機１は、縦長の方形状に形成された外枠（図示せず）と、外枠の内側に開閉可能に取り付けられた遊技枠とで構成される。また、パチンコ遊技機１は、遊技枠に開閉可能に設けられている額縁状に形成されたガラス扉枠２を有する。遊技枠は、外枠に対して開閉自在に設置される前面枠（図示せず）と、機構部品等が取り付けられる機構板（図示せず）と、それらに取り付けられる種々の部品（後述する遊技盤６を除く）とを含む構造体である。

ガラス扉枠２の下部表面には打球供給皿（上皿）３がある。打球供給皿３の下部には、打球供給皿３に収容しきれない遊技球を貯留する余剰球受皿４や、打球を発射する打球操作ハンドル（操作ノブ）５が設けられている。また、ガラス扉枠２の背面には、遊技盤６が着脱可能に取り付けられている。なお、遊技盤６は、それを構成する板状体と、その板状体に取り付けられた種々の遊技用部品とを含む構造体である。また、遊技盤６の前面には、打ち込まれた遊技球が流下可能な遊技領域７が形成されている。

遊技領域７の中央付近には、液晶表示装置（ＬＣＤ）で構成された遊技用部品としての演出表示装置９が設けられている。演出表示装置９の表示画面には、特別図柄の可変表示に同期した飾り図柄の可変表示を行う飾り図柄表示領域がある。よって、演出表示装置９は、飾り図柄の可変表示を行う可変表示装置に相当する。飾り図柄表示領域には、例えば「左」、「中」、「右」の３つの装飾用（演出用）の識別情報を、例えば上から下に移動するように可変表示する。飾り図柄表示領域には「左」、「中」、「右」の各図柄表示エリア（図柄表示ライン）９Ｌ，９Ｃ，９Ｒがあるが、図柄表示エリア９Ｌ，９Ｃ，９Ｒの位置は、演出表示装置９の表示画面において固定的でなくてもよいし、図柄表示エリア９Ｌ，９Ｃ，９Ｒの３つ領域が離れてもよい。演出表示装置９は、演出制御基板に搭載されている演出制御用マイクロコンピュータによって制御される。演出制御用マイクロコンピュータが、特別図柄表示器８で特別図柄の可変表示が実行されているときに、その可変表示に伴って演出表示装置９で演出表示を実行させるので、遊技の進行状況を把握しやすくすることができる。

遊技盤６における下部の左側には、識別情報としての特別図柄を可変表示する特別図柄表示器８が設けられている。この実施の形態では、特別図柄表示器８は、０〜９の数字を可変表示可能な簡易で小型の表示器（例えば７セグメントＬＥＤ）で実現されている。すなわち、特別図柄表示器８は、０〜９の数字（または、記号）を可変表示するように構成されている。

小型の表示器は、例えば方形状に形成されている。また、この実施の形態では、特別図柄表示器８は、例えば、００〜９９の数字（または、２桁の記号）を可変表示するように構成されていてもよい。

演出表示装置９の下方には、第１始動入賞口１３を有する入賞装置が設けられている。第１始動入賞口１３に入賞した遊技球は、遊技盤６の背面に導かれ、第１始動口スイッチ１３ａによって検出される。

また、第１始動入賞口（第１始動口）１３を有する入賞装置の下方には、遊技球が入賞可能な第２始動入賞口１４を有する可変入賞球装置１５が設けられている。第２始動入賞口（第２始動口）１４に入賞した遊技球は、遊技盤６の背面に導かれ、第２始動口スイッチ１４ａによって検出される。可変入賞球装置１５は、ソレノイド１６によって開状態とされる。可変入賞球装置１５が開状態になることによって、遊技球が第２始動入賞口１４に入賞可能になり（始動入賞し易くなり）、遊技者にとって有利な状態になる。また、可変入賞球装置１５が閉状態になっている状態では、遊技球は第２始動入賞口１４に入賞しない。なお、可変入賞球装置１５が閉状態になっている状態において、入賞はしづらいものの、入賞することは可能である（すなわち、遊技球が入賞しにくい）ように構成されていてもよい。

以下、第１始動入賞口１３と第２始動入賞口１４とを総称して始動入賞口または始動口ということがある。可変入賞球装置１５が開放状態に制御されているときには可変入賞球装置１５に向かう遊技球は第２始動入賞口１４に極めて入賞しやすい。

なお、この実施の形態では、図１に示すように、第２始動入賞口１４に対してのみ開閉動作を行う可変入賞球装置１５が設けられているが、第１始動入賞口１３および第２始動入賞口１４のいずれについても開閉動作を行う可変入賞球装置が設けられている構成であってもよい。

特別図柄表示器８の側方には、始動入賞口に入った有効入賞球数すなわち保留記憶数（保留記憶を、始動記憶または始動入賞記憶ともいう。）を表示する４つの表示器からなる特別図柄保留記憶表示器１８が設けられている。特別図柄保留記憶表示器１８は、有効始動入賞がある毎に、点灯する表示器の数を１増やす。そして、特別図柄表示器８での可変表示が開始される毎に、点灯する表示器の数を１減らす。

また、演出表示装置９の表示画面には、保留記憶数を表示する領域（以下、保留記憶表示部１８ｃという。）が設けられている。

特別図柄の可変表示は、可変表示の実行条件である始動条件が成立（例えば、遊技球が第１始動入賞口１３または第２始動入賞口１４に入賞したこと）した後、可変表示の開始条件（例えば、保留記憶数が０でない場合であって、特別図柄の可変表示が実行されていない状態であり、かつ、大当り遊技が実行されていない状態）が成立したことにもとづいて開始され、可変表示時間が経過すると表示結果（停止図柄）を導出表示する。なお、入賞とは、入賞口などのあらかじめ入賞領域として定められている領域に遊技球が入ったことである。また、表示結果を導出表示するとは、図柄（識別情報の例）を最終的に停止表示（確定）させることである。

特別図柄表示器８において、特別図柄の可変表示が開始された後、所定時間（変動時間）が経過すると、特別図柄の可変表示結果である停止図柄を停止表示（導出表示）する。大当りにすることに決定されている場合には、特定の特別図柄（大当り図柄）が停止表示される。はずれにすることに決定されている場合には、大当り図柄以外の特別図柄が停止表示される。大当り図柄が導出表示された場合には、遊技状態が、特定遊技状態としての大当り遊技状態に制御される。この実施の形態では、一例として、「３」、「７」を示す数字を大当り図柄とし、「−」を示す記号をはずれ図柄にする。

特別図柄表示器８に大当り図柄が停止表示された場合には、可変入賞球装置２０における開閉板が、所定期間（例えば、２９秒間）または所定個数（例えば、１０個）の入賞球が発生するまでの期間、開放状態になって、可変入賞球装置２０を遊技者にとって有利な第１状態に変化させるラウンドが開始される。ラウンドの回数は、例えば１５である。

また、大当り遊技状態が終了した後、遊技状態が時短状態に制御される。時短状態では、通常状態（確変状態や時短状態ではない状態）に比べて特別図柄の可変表示における特別図柄の変動時間が短縮される。時短状態は、例えば、所定回数（例えば、１００回）の特別図柄の可変表示が実行されることと、可変表示結果が「大当り」となることのうち、いずれかの条件が先に成立したときに終了する。なお、大当り状態が終了した後に、時短状態にせずに通常状態になるようにしてもよい。

遊技状態を確変状態に制御することに決定されている場合には、大当り遊技状態が終了した後、遊技状態が確変状態に制御される。確変状態は、例えば、次に可変表示結果として大当り図柄が導出表示されるまで継続する。遊技状態を大当り遊技状態に制御することに決定されている場合に導出表示される特別図柄の停止図柄を、大当り図柄という。そして、遊技状態を大当り状態に制御しないことに決定されている場合に導出表示される特別図柄の停止図柄を、はずれ図柄という。

また、確変状態では、低確率状態（通常状態）に比べて、大当りに決定される確率が高くなっている。例えば、１０倍になっている。具体的には、確変状態では、大当り判定用乱数の値と一致すると大当りにすることに決定される判定値の数が、通常状態に比べて１０倍になっている。また、普通図柄表示器１０の停止図柄が当り図柄になる確率が高められている。すなわち、第２始動入賞口１４が開放しやすくなって、始動入賞が生じやすくなっている。具体的には、確変状態は、普通図柄当り判定用乱数の値と一致すると当りにすることに決定される判定値の数が、通常状態に比べて多い。また、普通図柄表示器１０の停止図柄が当り図柄になる確率を高めることに加えて、可変入賞球装置１５の開放回数または開放時間を多くしたり、可変入賞球装置１５の開放回数および開放時間を多くしたりしてもよい。また、時短状態でも、普通図柄表示器１０の停止図柄が当り図柄になる確率を高めたり、可変入賞球装置１５の開放回数または開放時間を多くしたり、可変入賞球装置１５の開放回数および開放時間を多くしたりしてもよい。

演出表示装置９は、特別図柄表示器８による特別図柄の可変表示時間中に、装飾用（演出用）の図柄としての飾り図柄の可変表示を行う。特別図柄表示器８における特別図柄の可変表示と、演出表示装置９における飾り図柄の可変表示とは同期している。同期とは、可変表示の開始時点および終了時点が同じであって、可変表示の期間が同じであることをいう。特別図柄表示器８において大当り図柄が停止表示されるときと、演出表示装置９において大当りを想起させるような飾り図柄の組み合わせが停止表示される。

演出表示装置９の表示領域では、開始条件が成立したことにもとづいて、「左」、「中」、「右」の各図柄表示エリアにおいて飾り図柄の変動が開始され、例えば、「左」→「右」→「中」の順序で飾り図柄の停止図柄が停止表示（導出表示）される。

飾り図柄の可変表示が開始されてから「左」、「中」、「右」の各図柄表示エリアにおいて停止図柄が導出表示されるまでの期間（可変表示期間＝変動時間）で、飾り図柄の可変表示状態が所定のリーチ状態となることがある。リーチ状態は、演出表示装置９の表示領域において停止表示された飾り図柄が大当り組み合わせの一部を構成しているときに未だ停止表示されていない飾り図柄の変動が継続している表示状態、または、全部もしくは一部の飾り図柄が大当り組み合わせの全部または一部を構成しながら同期して変動している表示状態である。リーチ状態における表示演出が、リーチ演出表示（リーチ演出）である。

また、図１に示すように、可変入賞球装置１５の下方には、特別可変入賞球装置２０が設けられている。特別可変入賞球装置２０は開閉板を備え、特別図柄表示器８に特定表示結果（大当り図柄）が導出表示されたときに生起する特定遊技状態（大当り遊技状態）においてソレノイド２１によって開閉板が開放状態に制御されることによって、入賞領域となる大入賞口が開放状態になる。大入賞口に入賞した遊技球はカウントスイッチ２３で検出される。

遊技領域６には、遊技球の入賞にもとづいてあらかじめ決められている所定数の景品遊技球の払出を行うための入賞口（普通入賞口）２９，３０，３３，３９も設けられている。入賞口２９，３０，３３，３９に入賞した遊技球は、入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａで検出される。

遊技盤６の右側方には、普通図柄表示器１０が設けられている。普通図柄表示器１０は、普通図柄と呼ばれる複数種類の識別情報（例えば、「○」および「×」）を可変表示する。

遊技球がゲート３２を通過しゲートスイッチ３２ａで検出されると、普通図柄表示器１０の表示の可変表示が開始される。この実施の形態では、上下のランプ（点灯時に図柄が視認可能になる）が交互に点灯することによって可変表示が行われ、例えば、可変表示の終了時に下側のランプが点灯すれば当りとなる。そして、普通図柄表示器１０における停止図柄が所定の図柄（当り図柄）である場合に、可変入賞球装置１５が所定回数、所定時間だけ開状態になる。すなわち、可変入賞球装置１５の状態は、普通図柄の停止図柄が当り図柄である場合に、遊技者にとって不利な状態から有利な状態（第２始動入賞口１４に遊技球が入賞可能な状態）に変化する。普通図柄表示器１０の近傍には、ゲート３２を通過した入賞球数を表示する４つのＬＥＤによる表示部を有する普通図柄保留記憶表示器４１が設けられている。ゲート３２への遊技球の通過がある毎に、すなわちゲートスイッチ３２ａによって遊技球が検出される毎に、普通図柄保留記憶表示器４１は点灯するＬＥＤを１増やす。そして、普通図柄表示器１０の可変表示が開始される毎に、点灯するＬＥＤを１減らす。さらに、通常状態に比べて大当りとすることに決定される確率が高い状態である確変状態では、普通図柄表示器１０における停止図柄が当り図柄になる確率が高められるとともに、可変入賞球装置１５の開放時間と開放回数が高められる。また、確変状態ではないが図柄の変動時間が短縮されている時短状態（特別図柄の可変表示時間が短縮される遊技状態）でも、可変入賞球装置１５の開放時間と開放回数が高められる。

遊技盤６の遊技領域７の左右周辺には、遊技中に点滅表示される装飾ランプ（ＬＥＤでもよい。）２５が設けられ、下部には、入賞しなかった打球が取り込まれるアウト口２６がある。また、遊技領域７の外側の左右上部には、所定の音声出力として効果音や音声を発声する２つのスピーカ２７が設けられている。遊技領域７の外周には、前面枠に設けられた枠ランプ（ＬＥＤでもよい。）２８が設けられている。

遊技機には、遊技者が打球操作ハンドル５を操作することに応じて駆動モータを駆動し、駆動モータの回転力を利用して遊技球を遊技領域７に発射する打球発射装置（図示せず）が設けられている。打球発射装置から発射された遊技球は、遊技領域７を囲むように円形状に形成された打球レールを通って遊技領域７に入り、その後、遊技領域７を下りてくる。遊技球が第１始動入賞口１３または第２始動入賞口１４に入り第１始動口スイッチ１３ａまたは第２始動口スイッチ１４ａで検出されると、特別図柄の可変表示を開始できる状態であれば（例えば、特別図柄の可変表示が終了し、開始条件が成立したこと）、演出表示装置９において飾り図柄の可変表示が開始される。すなわち、特別図柄および飾り図柄の可変表示は、始動入賞口への入賞に対応する。特別図柄の可変表示を開始できる状態でなければ、保留記憶数が上限値に達していないことを条件として、保留記憶数を１増やす。

図２は、主基板（遊技制御基板）３１における回路構成の一例を示すブロック図である。なお、図２は、払出制御基板３７および演出制御基板８０等も示されている。主基板３１には、プログラムに従ってパチンコ遊技機１を制御する遊技制御用マイクロコンピュータ（遊技制御手段に相当）５６０が搭載されている。遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、ゲーム制御（遊技進行制御）用のプログラム等を記憶するＲＯＭ５４、ワークメモリとして使用される記憶手段としてのＲＡＭ５５、プログラムに従って制御動作を行うＣＰＵ５６およびＩ／Ｏポート部５７を含む。この実施の形態では、ＲＯＭ５４およびＲＡＭ５５は遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に内蔵されている。すなわち、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、１チップマイクロコンピュータである。１チップマイクロコンピュータには、少なくともＣＰＵ５６のほかＲＡＭ５５が内蔵されていればよく、ＲＯＭ５４は外付けであっても内蔵されていてもよい。また、Ｉ／Ｏポート部５７は、外付けであってもよい。遊技制御用マイクロコンピュータ５６０には、さらに、ハードウェア乱数（ハードウェア回路が発生する乱数）を発生する乱数回路５０３が内蔵されている。

また、ＲＡＭ５５は、その一部または全部が電源基板９１０において作成されるバックアップ電源によってバックアップされている不揮発性記憶手段としてのバックアップＲＡＭである。すなわち、遊技機に対する電力供給が停止しても、所定期間（バックアップ電源としてのコンデンサが放電してバックアップ電源が電力供給不能になるまで）は、ＲＡＭ５５の一部または全部の内容は保存される。特に、少なくとも、遊技状態すなわち遊技制御手段の制御状態に応じたデータ（特別図柄プロセスフラグなど）と未払出賞球数を示すデータは、バックアップＲＡＭに保存される。遊技制御手段の制御状態に応じたデータとは、停電等が生じた後に復旧した場合に、そのデータにもとづいて、制御状態を停電等の発生前に復旧させるために必要なデータである。また、制御状態に応じたデータと未払出賞球数を示すデータとを遊技の進行状態を示すデータと定義する。なお、この実施の形態では、ＲＡＭ５５の全部が、電源バックアップされているとする。

なお、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０においてＣＰＵ５６がＲＯＭ５４に格納されているプログラムに従って制御を実行するので、以下、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０（またはＣＰＵ５６）が実行する（または、処理を行う）ということは、具体的には、ＣＰＵ５６がプログラムに従って制御を実行することである。このことは、主基板３１以外の他の基板に搭載されているマイクロコンピュータについても同様である。

乱数回路５０３は、特別図柄の可変表示の表示結果により大当りとするか否か判定するための判定用の乱数を発生するために用いられるハードウェア回路である。乱数回路５０３は、初期値（例えば、０）と上限値（例えば、６５５３５）とが設定された数値範囲内で、数値データを、設定された更新規則に従って更新し、ランダムなタイミングで発生する始動入賞時が数値データの読出（抽出）時であることにもとづいて、読出される数値データが乱数値となる乱数発生機能を有する。

また、ゲートスイッチ３２ａ、第１始動口スイッチ１３ａ、第２始動口スイッチ１４ａ、カウントスイッチ２３、入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａからの検出信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に与える入力ドライバ回路５８も主基板３１に搭載されている。また、可変入賞球装置１５を開閉するソレノイド１６、および大入賞口を形成する特別可変入賞球装置２０を開閉するソレノイド２１を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０からの指令に従って駆動する出力回路５９も主基板３１に搭載されている。

また、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、特別図柄を可変表示（変動表示）する特別図柄表示器８、普通図柄を可変表示する普通図柄表示器１０、特別図柄保留記憶表示器１８および普通図柄保留記憶表示器４１の表示制御を行う。

なお、大当り遊技状態の発生を示す大当り情報等の情報出力信号をホールコンピュータ等の外部装置に対して出力する情報出力回路（図示せず）も主基板３１に搭載されている。

この実施の形態では、演出制御基板８０に搭載されている演出制御手段（演出制御用マイクロコンピュータで構成される。）が、中継基板７７を介して遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から演出内容を指示する演出制御コマンドを受信し、飾り図柄を可変表示する演出表示装置９の表示制御を行う。

また、演出制御基板８０に搭載されている演出制御手段が、ランプドライバ基板３５を介して、遊技盤に設けられている装飾ランプ２５や枠側に設けられている枠ランプ２８等の表示制御を行うとともに、音声出力基板７０を介してスピーカ２７からの音出力の制御を行う。

図３は、中継基板７７、演出制御基板８０、ランプドライバ基板３５および音声出力基板７０の回路構成例を示すブロック図である。なお、図３に示す例では、ランプドライバ基板３５および音声出力基板７０には、マイクロコンピュータは搭載されていないが、マイクロコンピュータを搭載してもよい。また、ランプドライバ基板３５および音声出力基板７０を設けずに、演出制御に関して演出制御基板８０のみを設けてもよい。演出制御基板８０のみを設けた場合には、図３に示すランプドライバ基板３５および音声出力基板７０に搭載されている回路等も、演出制御基板８０に搭載される。

演出制御基板８０は、演出制御用ＣＰＵ１０１、および演出制御プロセスフラグ等の演出に関する情報を記憶するＲＡＭを含む演出制御用マイクロコンピュータ１００を搭載している。なお、ＲＡＭは外付けであってもよい。この実施の形態では、演出制御用マイクロコンピュータ１００におけるＲＡＭは電源バックアップされていない。演出制御基板８０において、演出制御用ＣＰＵ１０１は、内蔵または外付けのＲＯＭ（図示せず）に格納されたプログラムに従って動作し、中継基板７７を介して入力される主基板３１からの取込信号（演出制御ＩＮＴ信号）に応じて、入力ドライバ１０２および入力ポート１０３を介して演出制御コマンドを受信する。また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、演出制御コマンドにもとづいて、ＶＤＰ（ビデオディスプレイプロセッサ）１０９に演出表示装置９の表示制御を行わせる。

この実施の形態では、演出制御用マイクロコンピュータ１００と共動して演出表示装置９の表示制御を行うＶＤＰ１０９が演出制御基板８０に搭載されている。ＶＤＰ１０９は、演出制御用マイクロコンピュータ１００とは独立したアドレス空間を有し、そこにＶＲＡＭをマッピングする。ＶＲＡＭは、画像データを展開するためのバッファメモリである。そして、ＶＤＰ１０９は、ＶＲＡＭ内の画像データをフレームメモリを介して演出表示装置９に出力する。

演出制御用ＣＰＵ１０１は、受信した演出制御コマンドに従ってＣＧＲＯＭ（図示せず）から必要なデータを読み出すための指令をＶＤＰ１０９に出力する。ＣＧＲＯＭは、演出表示装置９に表示されるキャラクタ画像データや動画像データ、具体的には、人物、文字、図形や記号等（飾り図柄を含む）、および背景画像のデータをあらかじめ格納しておくためのＲＯＭである。ＶＤＰ１０９は、演出制御用ＣＰＵ１０１の指令に応じて、ＣＧＲＯＭから画像データを読み出す。そして、ＶＤＰ１０９は、読み出した画像データにもとづいて表示制御を実行する。

演出制御コマンドおよび演出制御ＩＮＴ信号は、演出制御基板８０において、まず、入力ドライバ１０２に入力する。入力ドライバ１０２は、中継基板７７から入力された信号を演出制御基板８０の内部に向かう方向にしか通過させない（演出制御基板８０の内部から中継基板７７への方向には信号を通過させない）信号方向規制手段としての単方向性回路でもある。なお、図３に示す出力ポート５７１は、図２に示されたＩ／Ｏポート部５７の一部である。

さらに、演出制御用ＣＰＵ１０１は、出力ポート１０５を介してランプドライバ基板３５に対してランプを駆動する信号を出力する。また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、出力ポート１０４を介して音声出力基板７０に対して音番号データを出力する。

ランプドライバ基板３５において、ランプを駆動する信号は、入力ドライバ３５１を介してランプドライバ３５２に入力される。ランプドライバ３５２は、ランプを駆動する信号にもとづいて枠ランプ２８などの枠側に設けられている発光体に電流を供給する。また、遊技盤側に設けられている装飾ランプ２５に電流を供給する。

音声出力基板７０において、音番号データは、入力ドライバ７０２を介して音声合成用ＩＣ７０３に入力される。音声合成用ＩＣ７０３は、音番号データに応じた音声や効果音を発生し増幅回路７０５に出力する。増幅回路７０５は、音声合成用ＩＣ７０３の出力レベルを、ボリューム７０６で設定されている音量に応じたレベルに増幅した音声信号をスピーカ２７に出力する。音声データＲＯＭ７０４には、音番号データに応じた制御データが格納されている。音番号データに応じた制御データは、所定期間（例えば飾り図柄の変動期間）における効果音または音声の出力態様を時系列的に示すデータの集まりである。

例えば、音番号データに応じた制御データとして、所定の期間内の効果音（音声および楽曲を含む。）のディジタルデータが音声データＲＯＭ７０４に格納されている。ディジタルデータとして、例えばＰＣＭデータが使用される。その場合には、１秒間の効果音が８ビット×８ｋ（８０００）＝６４ｋビットで表される。なお、ここでは、ＰＣＭデータを用いる場合を例にするが、ＡＤＰＣＭデータ等の他の形式のディジタル音声データを用いてもよい。

また、演出制御基板８０には、互いに直交する３軸に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁界検出素子（磁気センサ）１３０と、磁界検出素子１３０の検出電圧にもとづいて磁石が遊技機近傍に存在するか否か判定する磁界検出用回路１４０とが設けられている。アモルファスワイヤは、アモルファス磁性体を細線状（例えば、太さ１００μｍ）に形成したものである。

磁界検出用回路１４０は、磁石が遊技機近傍に存在すると判定した場合に、エラー信号を出力する。エラー信号は、入力ポート１０７を介して演出制御用ＣＰＵ１０１に入力される。演出制御用ＣＰＵ１０１は、エラー信号が入力されると、遊技機に設けられている演出装置（演出表示装置９、スピーカ２７、ＬＥＤ等の発光体）を用いて、異常報知（不正行為発見報知）を行う。

磁石によって遊技球を入賞領域（特に、始動入賞口）に誘導する不正行為が行われるときには、磁石が遊技機１の近傍に存在することになる。磁界検出用回路１４０が遊技機近傍に磁石が存在すると判定したときに演出制御用ＣＰＵ１０１が異常報知を行う制御を実行することによって、不正行為が行われている場合に、または不正行為が行われる可能性がある場合に、異常報知によって遊技店員等に、その旨を認識させることができる。

次に、遊技機の動作について説明する。図４は、主基板３１における遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が実行するメイン処理を示すフローチャートである。遊技機に対して電源が投入され電力供給が開始されると、リセット信号が入力されるリセット端子の入力レベルがハイレベルになり、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０（具体的には、ＣＰＵ５６）は、プログラムの内容が正当か否か確認するための処理であるセキュリティチェック処理を実行した後、ステップＳ１以降のメイン処理を開始する。メイン処理において、ＣＰＵ５６は、まず、必要な初期設定を行う。

初期設定処理において、ＣＰＵ５６は、まず、割込禁止に設定する（ステップＳ１）。次に、割込モードを割込モード２に設定し（ステップＳ２）、スタックポインタにスタックポインタ指定アドレスを設定する（ステップＳ３）。そして、内蔵デバイスの初期化（内蔵デバイス（内蔵周辺回路）であるＣＴＣ（カウンタ／タイマ）およびＰＩＯ（パラレル入出力ポート）の初期化など）を行った後（ステップＳ４）、ＲＡＭ５５をアクセス可能状態に設定する（ステップＳ５）。なお、割込モード２は、ＣＰＵ５６が内蔵する特定レジスタ（Ｉレジスタ）の値（１バイト）と内蔵デバイスが出力する割込ベクタ（１バイト：最下位ビット０）とから合成されるアドレスが、割込番地を示すモードである。

次いで、ＣＰＵ５６は、入力ポートを介して入力されるクリアスイッチ（例えば、電源基板に搭載されている。）の出力信号の状態を確認する（ステップＳ６）。その確認においてオンを検出した場合には、ＣＰＵ５６は、通常の初期化処理を実行する（ステップＳ１０〜Ｓ１５）。

クリアスイッチがオンの状態でない場合には、遊技機への電力供給が停止したときにバックアップＲＡＭ領域のデータ保護処理（例えばパリティデータの付加等の電力供給停止時処理）が行われたか否か確認する（ステップＳ７）。そのような保護処理が行われていないことを確認したら、ＣＰＵ５６は初期化処理を実行する。バックアップＲＡＭ領域にバックアップデータがあるか否かは、例えば、電力供給停止時処理においてバックアップＲＡＭ領域に設定されるバックアップフラグの状態によって確認される。

電力供給停止時処理が行われたことを確認したら、ＣＰＵ５６は、バックアップＲＡＭ領域のデータチェックを行う（ステップＳ８）。この実施の形態では、データチェックとしてパリティチェックを行う。よって、ステップＳ８では、算出したチェックサムと、電力供給停止時処理で同一の処理によって算出され保存されているチェックサムとを比較する。不測の停電等の電力供給停止が生じた後に復旧した場合には、バックアップＲＡＭ領域のデータは保存されているはずであるから、チェック結果（比較結果）は正常（一致）になる。チェック結果が正常でないということは、バックアップＲＡＭ領域のデータが、電力供給停止時のデータとは異なっていることを意味する。そのような場合には、内部状態を電力供給停止時の状態に戻すことができないので、電力供給の停止からの復旧時でない電源投入時に実行される初期化処理を実行する。

チェック結果が正常であれば、ＣＰＵ５６は、遊技制御手段の内部状態と演出制御手段等の電気部品制御手段の制御状態を電力供給停止時の状態に戻すための遊技状態復旧処理（ステップＳ４１〜Ｓ４３の処理）を行う。具体的には、ＲＯＭ５４に格納されているバックアップ時設定テーブルの先頭アドレスをポインタに設定し（ステップＳ４１）、バックアップ時設定テーブルの内容を順次作業領域（ＲＡＭ５５内の領域）に設定する（ステップＳ４２）。作業領域はバックアップ電源によって電源バックアップされている。バックアップ時設定テーブルには、作業領域のうち初期化してもよい領域についての初期化データが設定されている。ステップＳ４１およびＳ４２の処理によって、作業領域のうち初期化してはならない部分については、保存されていた内容がそのまま残る。初期化してはならない部分とは、例えば、電力供給停止前の遊技状態を示すデータ（特別図柄プロセスフラグ、確変フラグ、時短フラグなど）、出力ポートの出力状態が保存されている領域（出力ポートバッファ）、未払出賞球数を示すデータが設定されている部分などである。

また、ＣＰＵ５６は、電力供給復旧時の初期化コマンドとしての停電復旧指定コマンドを演出制御基板８０に送信する（ステップＳ４３）。そして、ステップＳ１４に移行する。

初期化処理では、ＣＰＵ５６は、まず、ＲＡＭクリア処理を行う（ステップＳ１０）。なお、ＲＡＭクリア処理によって、所定のデータ（例えば大当り判定用乱数を生成するためのカウンタのカウント値のデータ）は０に初期化されるが、任意の値またはあらかじめ決められている値に初期化するようにしてもよい。また、ＲＡＭ５５の全領域を初期化せず、所定のデータ（例えば大当り判定用乱数を生成するためのカウンタのカウント値のデータ）をそのままにしてもよい。また、ＲＯＭ５４に格納されている初期化時設定テーブルの先頭アドレスをポインタに設定し（ステップＳ１１）、初期化時設定テーブルの内容を順次ＲＡＭ５５における作業領域に設定する（ステップＳ１２）。

ステップＳ１１およびＳ１２の処理によって、特別図柄プロセスフラグなど制御状態に応じて選択的に処理を行うためのフラグに初期値が設定される。

また、ＣＰＵ５６は、サブ基板（主基板３１以外のマイクロコンピュータが搭載された基板。）を初期化するための初期化指定コマンド（遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が初期化処理を実行したことを示すコマンドでもある。）を演出制御基板８０に送信する（ステップＳ１３）。例えば、演出制御基板８０に搭載されている演出制御用マイクロコンピュータ１００は、初期化指定コマンドを受信すると、演出表示装置９において、遊技機の制御の初期化がなされたことを報知するための画面表示、すなわち初期化報知を行う。なお、初期化処理において、ＣＰＵ５６は、客待ちデモンストレーション指定（デモ指定）コマンドも送信する。

また、ＣＰＵ５６は、乱数回路５０３を初期設定する乱数回路設定処理を実行する（ステップＳ１４）。ＣＰＵ５６は、例えば、乱数回路設定プログラムに従って処理を実行することによって、乱数回路５０３にランダムＲの値を更新させるための設定を行う。

そして、ＣＰＵ５６は、所定時間（例えば２ｍｓ）毎に定期的にタイマ割込がかかるように遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に内蔵されているＣＴＣのレジスタの設定を行なう（ステップＳ１５）。すなわち、初期値として例えば２ｍｓに相当する値が所定のレジスタ（時間定数レジスタ）に設定される。この実施の形態では、２ｍｓ毎に定期的にタイマ割込がかかるとする。

初期化処理の実行（ステップＳ１０〜Ｓ１５）が完了すると、ＣＰＵ５６は、メイン処理で、表示用乱数更新処理（ステップＳ１７）および初期値用乱数更新処理（ステップＳ１８）を繰り返し実行する。表示用乱数更新処理および初期値用乱数更新処理を実行するときには割込禁止状態に設定し（ステップＳ１６）、表示用乱数更新処理および初期値用乱数更新処理の実行が終了すると割込許可状態に設定する（ステップＳ１９）。この実施の形態では、表示用乱数とは、変動パターン等を決定するための乱数であり、表示用乱数更新処理とは、表示用乱数を発生するためのカウンタのカウント値を更新する処理である。また、初期値用乱数更新処理とは、初期値用乱数を発生するためのカウンタのカウント値を更新する処理である。この実施の形態では、初期値用乱数とは、普通図柄の当りとするか否か決定するための乱数を発生するためのカウンタ（普通図柄当り判定用乱数発生カウンタ）等のカウント値の初期値を決定するための乱数である。後述する遊技の進行を制御する遊技制御処理（遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が、遊技機に設けられている可変表示装置、可変入賞球装置、球払出装置等の遊技用の装置を、自身で制御する処理、または他のマイクロコンピュータに制御させるために指令信号を送信する処理、遊技装置制御処理ともいう）において、大当り判定用乱数発生カウンタ等のカウント値が１周（乱数の取りうる値の最小値から最大値までの間の数値の個数分歩進したこと）すると、そのカウンタに初期値が設定される。

タイマ割込が発生すると、ＣＰＵ５６は、図５に示すステップＳ２０〜Ｓ３４のタイマ割込処理を実行する。タイマ割込処理において、まず、電源断信号が出力されたか否か（オン状態になったか否か）を検出する電源断検出処理を実行する（ステップＳ２０）。電源断信号は、例えば電源基板に搭載されている電源監視回路が、遊技機に供給される電源の電圧の低下を検出した場合に出力する。そして、電源断検出処理において、ＣＰＵ５６は、電源断信号が出力されたことを検出したら、必要なデータをバックアップＲＡＭ領域に保存するための電力供給停止時処理を実行する。次いで、入力ドライバ回路５８を介して、ゲートスイッチ３２ａ、第１始動口スイッチ１３ａ、第２始動口スイッチ１４ａ、カウントスイッチ２３、および入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａの検出信号を入力し、それらの状態判定を行う（スイッチ処理：ステップＳ２１）。

次に、ＣＰＵ５６は、特別図柄表示器８、普通図柄表示器１０、特別図柄保留記憶表示器１８、普通図柄保留記憶表示器４１の表示制御を行う表示制御処理を実行する（ステップＳ２２）。特別図柄表示器８および普通図柄表示器１０については、ステップＳ３２，Ｓ３３で設定される出力バッファの内容に応じて各表示器に対して駆動信号を出力する制御を実行する。

また、遊技制御に用いられる普通当り図柄決定用の乱数等の各判定用乱数を生成するための各カウンタのカウント値を更新する処理を行う（判定用乱数更新処理：ステップＳ２３）。ＣＰＵ５６は、さらに、初期値用乱数および表示用乱数を生成するためのカウンタのカウント値を更新する処理を行う（初期値用乱数更新処理，表示用乱数更新処理：ステップＳ２４，Ｓ２５）。

なお、この実施の形態では、大当り判定用乱数（ランダムＲ）は遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に内蔵されたハードウェアが生成する乱数であるが、大当り判定用乱数として、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０によってプログラムにもとづいて生成されるソフトウェア乱数を用いてもよい。

さらに、ＣＰＵ５６は、特別図柄プロセス処理を行う（ステップＳ２６）。特別図柄プロセス処理では、特別図柄表示器８および大入賞口を所定の順序で制御するための特別図柄プロセスフラグに従って該当する処理を実行する。ＣＰＵ５６は、特別図柄プロセスフラグの値を、遊技状態に応じて更新する。

次いで、普通図柄プロセス処理を行う（ステップＳ２７）。普通図柄プロセス処理では、ＣＰＵ５６は、普通図柄表示器１０の表示状態を所定の順序で制御するための普通図柄プロセスフラグに従って該当する処理を実行する。ＣＰＵ５６は、普通図柄プロセスフラグの値を、遊技状態に応じて更新する。

また、ＣＰＵ５６は、演出制御用マイクロコンピュータ１００に演出制御コマンドを送出する処理を行う（演出制御コマンド制御処理：ステップＳ２８）。

さらに、ＣＰＵ５６は、例えばホール管理用コンピュータに供給される大当り情報、始動情報、確率変動情報などのデータを出力する情報出力処理を行う（ステップＳ２９）。

また、ＣＰＵ５６は、第１始動口スイッチ１３ａ、第２始動口スイッチ１４ａ、カウントスイッチ２３および入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａの検出信号にもとづく賞球個数の設定などを行う賞球処理を実行する（ステップＳ３０）。具体的には、第１始動口スイッチ１３ａ、第２始動口スイッチ１４ａ、カウントスイッチ２３および入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａのいずれかがオンしたことにもとづく入賞検出に応じて、払出制御基板３７に搭載されている払出制御用マイクロコンピュータに賞球個数を示す払出制御コマンド（賞球個数信号）を出力する。払出制御用マイクロコンピュータは、賞球個数を示す払出制御コマンドに応じて球払出装置９７を駆動する。

この実施の形態では、出力ポートの出力状態に対応したＲＡＭ領域（出力ポートバッファ）が設けられているのであるが、ＣＰＵ５６は、出力ポートの出力状態に対応したＲＡＭ領域におけるソレノイドのオン／オフに関する内容を出力ポートに出力する（ステップＳ３１：出力処理）。

また、ＣＰＵ５６は、特別図柄プロセスフラグの値に応じて特別図柄の演出表示を行うための特別図柄表示制御データを特別図柄表示制御データ設定用の出力バッファに設定する特別図柄表示制御処理を行う（ステップＳ３２）。ＣＰＵ５６は、例えば、特別図柄プロセス処理でセットされる開始フラグがセットされると終了フラグがセットされるまで、変動速度が１コマ／０．２秒であれば、０．２秒が経過する毎に、出力バッファに設定される表示制御データの値を＋１する。また、ＣＰＵ５６は、出力バッファに設定された表示制御データに応じて、ステップＳ２２において駆動信号を出力することによって、特別図柄表示器８における特別図柄の可変表示を実行する。

さらに、ＣＰＵ５６は、普通図柄プロセスフラグの値に応じて普通図柄の演出表示を行うための普通図柄表示制御データを普通図柄表示制御データ設定用の出力バッファに設定する普通図柄表示制御処理を行う（ステップＳ３３）。ＣＰＵ５６は、例えば、普通図柄の変動に関する開始フラグがセットされると終了フラグがセットされるまで、普通図柄の変動速度が０．２秒ごとに表示状態（「○」および「×」）を切り替えるような速度であれば、０．２秒が経過する毎に、出力バッファに設定される表示制御データの値（例えば、「○」を示す１と「×」を示す０）を切り替える。また、ＣＰＵ５６は、出力バッファに設定された表示制御データに応じて、ステップＳ２２において駆動信号を出力することによって、普通図柄表示器１０における普通図柄の演出表示を実行する。

その後、割込許可状態に設定し（ステップＳ３４）、処理を終了する。

以上の制御によって、この実施の形態では、遊技制御処理は２ｍｓ毎に起動されることになる。なお、遊技制御処理は、タイマ割込処理におけるステップＳ２１〜Ｓ３３（ステップＳ２９を除く。）の処理に相当する。また、この実施の形態では、タイマ割込処理で遊技制御処理が実行されているが、タイマ割込処理では例えば割込が発生したことを示すフラグのセットのみがなされ、遊技制御処理はメイン処理において実行されるようにしてもよい。

次に、演出制御手段の動作を説明する。図６は、演出制御基板８０に搭載されている演出制御手段としての演出制御用マイクロコンピュータ１００（具体的には、演出制御用ＣＰＵ１０１）が実行するメイン処理を示すフローチャートである。演出制御用ＣＰＵ１０１は、電源が投入されると、メイン処理の実行を開始する。メイン処理では、まず、ＲＡＭ領域のクリアや各種初期値の設定、また演出制御の起動間隔（例えば、２ｍｓ）を決めるためのタイマの初期設定等を行うための初期化処理を行う（ステップＳ７０１）。その後、演出制御用ＣＰＵ１０１は、所定の乱数を生成するためのカウンタのカウンタ値を更新する乱数更新処理を実行する（ステップＳ７０２）。そして、タイマ割込フラグの監視（ステップＳ７０３）を行う。タイマ割込フラグがセットされていない場合には、ステップＳ７０２に移行する。なお、タイマ割込が発生すると、演出制御用ＣＰＵ１０１は、タイマ割込処理においてタイマ割込フラグをセットする。タイマ割込フラグがセットされていたら、演出制御用ＣＰＵ１０１は、そのフラグをクリアし（ステップＳ７０４）、ステップＳ７０５〜Ｓ７０６の演出制御処理およびステップＳ７０７の不正検出処理を実行する。

演出制御処理において、演出制御用ＣＰＵ１０１は、まず、受信した演出制御コマンドを解析し、受信した演出制御コマンドに応じたフラグをセットする処理等を行う（コマンド解析処理：ステップＳ７０５）。次いで、演出制御用ＣＰＵ１０１は、演出制御プロセス処理を行う（ステップＳ７０６）。演出制御プロセス処理では、制御状態に応じた各プロセスのうち、現在の制御状態（演出制御プロセスフラグ）に対応した処理を選択して演出表示装置９の表示制御を実行する。

また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、ステップＳ７０７の不正検出処理において、磁界検出用回路１４０からのエラー信号が異常状態（磁石を検出した状態）を示しているか否か確認し、エラー信号が異常状態を示していたら、演出装置を用いて異常報知を行う。

図７は、図６に示されたメイン処理における演出制御プロセス処理（ステップＳ７０６）を示すフローチャートである。演出制御用ＣＰＵ１０１は、演出制御プロセス処理では、演出制御プロセスフラグの値に応じてステップＳ８００〜Ｓ８０７のうちのいずれかの処理を行う。各処理において、以下のような処理が実行される。

変動パターンコマンド受信待ち処理（ステップＳ８００）：演出制御プロセスフラグの値が変動パターンコマンド受信待ち処理（ステップＳ８００）に対応した値である場合に実行される。変動パターンコマンド受信待ち処理では、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から変動パターンコマンドを受信しているか否か確認する。具体的には、コマンド解析処理でセットされる変動パターンコマンド受信フラグがセットされているか否か確認する。変動パターンコマンドを受信している場合には、そして、演出制御プロセスフラグの値を飾り図柄変動開始処理（ステップＳ８０１）に対応した値に更新する。

飾り図柄変動開始処理（ステップＳ８０１）：演出制御プロセスフラグの値が飾り図柄変動開始処理（ステップＳ８０１）に対応した値である場合に実行される。飾り図柄変動開始処理では、飾り図柄および飾り図柄の変動が開始されるように制御する。そして、演出制御プロセスフラグの値を飾り図柄変動中処理（ステップＳ８０２）に対応した値に更新する。

飾り図柄変動中処理（ステップＳ８０２）：演出制御プロセスフラグの値が飾り図柄変動中処理（ステップＳ８０２）に対応した値である場合に実行される。飾り図柄変動中処理では、変動パターンを構成する各変動状態（変動速度）の切替タイミング等を制御するとともに、変動時間の終了を監視する。そして、変動時間が終了したら、演出制御プロセスフラグの値を飾り図柄変動停止処理（ステップＳ８０３）に対応した値に更新する。

飾り図柄変動停止処理（ステップＳ８０３）：演出制御プロセスフラグの値が飾り図柄変動停止処理（ステップＳ８０３）に対応した値である場合に実行される。飾り図柄変動停止処理では、全図柄停止を指示する演出制御コマンド（図柄確定指定コマンド）を受信したことにもとづいて、飾り図柄（および飾り図柄）の変動を停止し表示結果（停止図柄）を導出表示する制御を行う。そして、演出制御プロセスフラグの値を大当り表示処理（ステップＳ８０４）または変動パターンコマンド受信待ち処理（ステップＳ８００）に対応した値に更新する。

大当り表示処理（ステップＳ８０４）：演出制御プロセスフラグの値が大当り表示処理（ステップＳ８０４）に対応した値である場合に実行される。大当り表示処理では、変動時間の終了後、演出表示装置９に大当りの発生を報知するための画面を表示する制御を行う。そして、演出制御プロセスフラグの値をラウンド中処理（ステップＳ８０５）に対応した値に更新する。

ラウンド中処理（ステップＳ８０５）：演出制御プロセスフラグの値がラウンド中処理（ステップＳ８０５）に対応した値である場合に実行される。ラウンド中処理では、ラウンド中の表示制御を行う。そして、ラウンド終了条件が成立したら、最終ラウンドが終了していなければ、演出制御プロセスフラグの値をラウンド後処理（ステップＳ８０６）に対応した値に更新する。最終ラウンドが終了している場合には、演出制御プロセスフラグの値を大当り終了演出処理（ステップＳ８０７）に対応した値に更新する。

ラウンド後処理（ステップＳ８０６）：演出制御プロセスフラグの値がラウンド後処理（ステップＳ８０６）に対応した値である場合に実行される。ラウンド後処理では、ラウンド間の表示制御を行う。そして、ラウンド開始条件が成立したら、演出制御プロセスフラグの値をラウンド中処理（ステップＳ８０５）に対応した値に更新する。

大当り終了演出処理（ステップＳ８０７）：演出制御プロセスフラグの値が大当り終了演出処理（ステップＳ８０７）に対応した値である場合に実行される。大当り終了演出処理では、演出表示装置９において、大当り遊技状態が終了したことを遊技者に報知する表示制御を行う。そして、演出制御プロセスフラグの値を変動パターンコマンド受信待ち処理（ステップＳ８００）に対応した値に更新する。

図８は、ステップＳ７０７の不正検出処理を示すフローチャートである。不正検出処理において、演出制御用ＣＰＵ１０１は、異常報知（不正検出報知）の実行中であることを示す異常報知中フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ９０１）。異常報知中フラグがセットされている場合には、処理を終了する。

異常報知中フラグがセットされていない場合には、磁界検出用回路１４０からのエラー信号が磁界検出（磁石検出）に対応する状態（例えば、ハイレベル）になっているか否か確認する（ステップＳ９０２）。なお、以下、エラー信号が磁界検出（磁石検出）に対応する状態になっていることをエラー信号が出力されているといい、エラー信号が磁界未検出（磁石未検出）に対応する状態（例えば、ローレベル）になっていることをエラー信号が出力されていないという。

エラー信号が出力されている場合には、演出表示装置９に、例えば「磁石発見」を示す画像や異常検出の旨を示す画像を表示する制御を行う（ステップＳ９０３）。また、スピーカ２７から異常報知音が出力されるように、異常報知音に対応する音番号データを音声出力基板７０に出力する（ステップＳ９０４）。そして、異常報知中フラグをセットする（ステップＳ９０５）。

以上のような処理によって、遊技球を入賞領域に不正に誘導するような不正行為に使用される可能性がある磁石、または不正行為に使用されている磁石が発見された場合には、演出表示装置９において異常報知がなされ、同時に、スピーカ２７から異常報知音が出力される。

なお、磁界検出用回路１４０からエラー信号が出力されたときに、演出表示装置９のみを用いて異常報知を行ったり、スピーカ２７のみを用いて異常報知を行ってもよい。また、他の演出装置（例えば、ＬＥＤ等の発光体）を用いて異常報知を行ったり、演出表示装置９やスピーカ２７と、他の演出装置（例えば、ＬＥＤ等の発光体）とを併用してもよい。

また、この実施の形態では、磁界検出用回路１４０からエラー信号が出力されると、遊技機に対する電力供給が停止されるまで異常報知が継続して実行される。しかし、磁界検出用回路１４０からのエラー信号の出力がなくなると（エラー信号が磁界未検出（磁石未検出）に対応する状態になると）、異常報知を終了してもよい。また、遊技機に設けられている所定のスイッチが押下されたことにもとづいて、異常報知を終了してもよい。

図９は、磁界検出素子（磁気センサ）１３０の設置位置を説明するための説明図である。この実施の形態では、図９（Ａ）に示すように、磁界検出素子１３０は、演出制御基板８０に搭載されている。すなわち、磁界検出素子１３０は、遊技盤６に設けられた演出表示装置９を制御する演出制御手段（演出制御用マイクロコンピュータ１００）が搭載された演出制御基板８０に搭載されている。なお、演出制御基板８０は、演出表示装置９の裏側（遊技者が存在する方を表側とする。）に設置されている。遊技盤６における遊技領域に磁界検出素子１３０を設置しないことから、本来の機能を実現するための機構部品の遊技盤６における配置等を制約しないようにすることができる。なお、図９（Ａ）において、破線の円形は、磁界検出素子１３０の磁界検出可能範囲を示す。磁界検出素子１３０の磁界検出可能範囲は、遊技盤６の前面に設けられている遊技球を誘導するための誘導レール６１内（遊技領域７）ほぼ全体をカバーしている。

磁界検出素子１３０は、図９（Ｂ）に示すように、遊技枠２Ａに設けられていてもよい。すなわち、磁界検出素子１３０が、遊技盤６が着脱可能に取り付けられる遊技枠２Ａに設けられていてもよい。磁界検出素子１３０が、遊技盤６が着脱可能に取り付けられる遊技枠２Ａに設置されているので、遊技店において遊技盤６が交換されても、磁界検出素子１３０を継続して使用することができ、遊技機のコストを低減することができる。なお、図９（Ｂ）に示す例では、磁界検出素子１３０は、遊技枠２Ａにおける比較的上部に設置されているが、打球供給皿３の近傍など他の箇所に設置してもよい。

また、磁界検出素子１３０の設置位置は、遊技盤６または遊技枠２Ａに限られず、遊技機に設けられている回路基板（主基板３１、演出制御基板８０、払出制御基板３７など）に設置してもよく、回路基板とは別に専用の基板を設け、その基板に、磁界検出素子１３０を設置してもよい。

図１０は、磁界検出用回路１４０の構成例を、磁界検出素子１３０とともに示すブロック図である。図１０（Ａ）に示す構成例は、第１の実施の形態に相当する。第１の実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、比較回路１５０と、制御回路１７０とを含む。比較回路１５０は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧（アナログ信号である電圧信号）を入力し、検出電圧を所定値と比較し、検出電圧が所定の範囲内に入っている場合に検出信号を出力する。検出信号は、制御回路１７０を介してエラー信号として演出制御用マイクロコンピュータ１００に対して出力される。

なお、制御回路１７０としてプログラムに従って制御動作を行うマイクロコントローラ（例えば、テキサスインスツルメント社製ＭＳＰ４３０Ｆ２００２）を使用することができる。また、比較回路１５０として、マイクロコントローラに内蔵されている比較回路を使用してもよい。

磁界検出用回路１４０は、互いに直交する３軸（Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸）に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成であり、制御回路１７０は、磁界検出用回路１４０に対してＸＹＺ選択信号を出力する機能を有する。ＸＹＺ選択信号は、Ｘ軸の検出素子（Ｘ軸センサ）、Ｙ軸の検出素子（Ｙ軸センサ）およびＺ軸の検出素子（Ｚ軸センサ）のうちのどの検出素子からの検出電圧を出力させるのかを選択するための信号である。

図１０（Ｂ）に示す構成例は、第２の実施の形態に相当する。第２の実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、制御回路１８０で構成される。制御回路１８０として、第１の実施の形態における制御回路１７０と同様に、マイクロコントローラを使用することができる。

制御回路１８０は、Ａ−Ｄ変換器１６０を内蔵している。Ａ−Ｄ変換器１６０は、磁界検出素子１３０が出力するアナログ信号である検出電圧をディジタル信号に変換する。また、制御回路１８０は、ＸＹＺ選択信号を出力する機能に加えて、初期値設定機能、検出電圧平均化機能、および初期値との比較機能を有する。制御回路１８０としてマイクロコントローラを使用する場合には、それらの機能は、プログラムで実現される。

初期値設定機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧と比較される初期値を設定する機能である。検出電圧平均化機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧を時間平均する機能である。初期値との比較機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧と初期値とを比較する機能である。制御回路１８０は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧の初期値からの変化量が所定量を越えると、エラー信号を演出制御用マイクロコンピュータ１００に対して出力する。

図１０（Ｃ）に示す構成例は、第３の実施の形態に相当する。第３の実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、制御回路１９０で構成される。制御回路１９０として、第１の実施の形態における制御回路１７０と同様に、マイクロコントローラを使用することができる。

制御回路１９０は、ＸＹＺ選択信号を出力する機能に加えて、初期値設定機能、磁力線方向検出機能、および磁石位置推定機能を有する。制御回路１９０としてマイクロコントローラを使用する場合には、それらの機能は、プログラムで実現される。

初期値設定機能は、第２の実施の形態における初期値設定機能と同様の機能である。磁力線方向検出機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧にもとづいて、磁石等の磁気発生体が存在することを検出し、磁石が存在することを検出した場合に、磁石の磁力線の向きを検出する機能である。磁石位置推定機能は、磁力線の向きにもとづいて、磁気発生体（例えば、磁石）が遊技機の前面に存在するのか裏面に存在するのかを判定し、遊技機の前面における特定の領域に磁気発生体が存在すると判定した場合に、不正行為に使用される可能性がある磁石または不正行為に使用されている磁石が存在すると判断する機能である。制御回路１９０は、磁石が存在すると判断した場合には、エラー信号を演出制御用マイクロコンピュータ１００に対して出力する。

図１１（Ａ）は、磁界検出素子１３０の構成例を示すブロック図である。図１１（Ａ）に示す例では、磁界検出素子１３０は、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚに加えて、クロック信号を出力する発振器１３１と、発振器１３１からのクロック信号を、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹまたはＺ軸センサ１３Ｚに対して出力するタイミング制御回路１３２と、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚの出力側に接続された基準電圧発生器１３３と、入力端子ＣＨ１，ＣＨ２に入力される選択信号に従って、タイミング制御回路１３２にクロック出力選択信号を出力するとともに、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹまたはＺ軸センサ１３Ｚの検出電圧を入力するサンプルホールド回路（選択回路）１３４と、サンプルホールド回路１３４が入力した検出電圧を増幅して出力する差動増幅器１３５とを有する。

Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚは、図１１（Ｂ）に示すように、軸方向が互いに直交するように（図１１（Ｃ）参照）配置されている。また、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚの軸はアモルファスワイヤであり、図１１（Ａ）に示す例では、アモルファスワイヤに巻かれたコイルが、アモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して、インピーダンスの変化に応じた電圧値の検出電圧を出力する。なお、インピーダンスの変化を検出する部材は、アモルファスワイヤに巻かれたコイルではなく、アモルファスワイヤの近傍に設置されたコイルでもよい。

実施の形態１．
図１２は、第１の実施の形態における比較回路１５０（図１０（Ａ）参照）の動作を説明するための説明図である。

図１２（Ａ）に示すように、外部磁界が存在しない場合に、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚのそれぞれ（以下、センサという。）は、１．５Ｖの検出電圧を出力する場合を例にする。また、センサは、素子のばらつき等に起因して、外部磁界が存在しない場合に、０．８〜１．９Ｖの範囲で変動する特性を有するとする。

よって、第１の実施の形態では、センサの検出電圧が０．８〜１．９Ｖの範囲である場合には、外部磁界が存在しないと判定することにする。すなわち、０．８〜１．９Ｖの範囲を磁界検出のための誤差範囲とする。

さらに、地磁気の影響を排除するために磁界検出のための誤差範囲をさらに広げることにする。日本列島における地磁気の大きさは４４０００〜５１０００ｎＴである。また、センサの感度が３．８ｍＶ（最大）／μＴであるとすると、センサの出力電圧に対して地磁気が与える影響は、５１μＴ×３．８ｍＶ＝０．１９３８Ｖである。

そこで、図１２（Ｂ）に示すように、誤差範囲を０．２Ｖ広げ、０．６〜２．１Ｖを誤差範囲とする。よって、図１２（Ｃ）に示すように、２．２Ｖを越える範囲、および０．６Ｖ未満の範囲を磁界検出範囲とする。

図１３は、磁界検出用回路の具体例を、磁界検出素子１３０とともに示すブロック図である。

図１３に示すように、磁界検出用回路における比較回路１５０は、比較器１５１を有する。比較器１５１は、比較電圧として、抵抗器１５２，１５３による分圧で作成される第１の比較電圧（２．１Ｖ）、および抵抗器１５４，１５５による分圧で作成される第２の比較電圧（０．６Ｖ）を入力するとともに、磁界検出素子１３０からの検出電圧を入力する。そして、比較器１５１は、磁界検出素子１３０からの検出電圧が第１の比較電圧（２．１Ｖ）を越えているか否かと、第２の比較電圧（０．６Ｖ）未満であるか否かとを検出する。そして、磁界検出素子１３０からの検出電圧が第１の比較電圧（２．１Ｖ）を越えている場合に、遊技機の近傍に磁石が存在すると判断して、異常信号（磁石が検出されたことを示す信号）を出力する。また、磁界検出素子１３０からの検出電圧が第２の比較電圧（０．６Ｖ）未満なったときにも、異常信号を出力する。よって、異常信号は、磁界検出素子１３０からの検出電圧が第１の比較電圧（２．１Ｖ）を越えているか、または第２の比較電圧（０．６Ｖ）未満である場合に出力され、磁界検出素子１３０からの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内である場合には異常信号は出力されない。

なお、比較電圧は、抵抗器１５２，１５３，１５４，１５５の分圧によって作成されているので、抵抗器１５２，１５３，１５４，１５５を、異なる抵抗値の抵抗器に代えることによって、容易に比較電圧を変更することができる。比較電圧を変更する場合として、例えば、遊技機の内部や裏面に磁界を生じさせる部材（不正部材ではなく、遊技機に設けられているソレノイド等の正規のもの）が存在し、その部材の磁界によって、不正部材が存在していない場合の磁界検出素子１３０の検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲を外れるような場合がある。

制御回路１７０におけるラッチ回路１７１は、比較器１５１からの信号をラッチする。なお、磁界検出素子１３０は、制御回路１７０からのＸＹＺ選択信号に応じてＸ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３Ｙ、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧を順次出力するが、ラッチ回路１７１は、ＸＹＺ選択信号と同等の選択信号を入力して、選択信号に従って、比較器１５１によるＸ軸センサ１３Ｘからの検出電圧の比較結果、比較器１５１によるＹ軸センサ１３Ｙからの検出電圧の比較結果、および比較器１５１によるＺ軸センサ１３Ｚからの検出電圧の比較結果を順次ラッチする。すなわち、Ｘ軸センサ１３Ｘが検出電圧を出力しているときには比較器１５１によるＸ軸センサ１３Ｘからの検出電圧の比較結果をラッチしてＸラッチ信号を出力し、Ｙ軸センサ１３Ｙが検出電圧を出力しているときには比較器１５１によるＹ軸センサ１３Ｙからの検出電圧の比較結果をラッチしてＹラッチ信号を出力し、Ｚ軸センサ１３Ｚが検出電圧を出力しているときには比較器１５１によるＺ軸センサ１３Ｚからの検出電圧の比較結果をラッチしてＺラッチ信号を出力する。

ドライバ１７２は、ラッチ回路１７１からのＸラッチ信号、Ｙラッチ信号およびＺラッチ信号を入力する。そして、いずれか１つ以上のラッチ信号が、異常状態を示していた場合（検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲外である場合）には、エラー信号を演出制御用マイクロコンピュータ１００に出力する。

図１４は、磁界検出用回路の動作例を示すタイミング図である。第１の実施の形態では、制御回路１７０は、Ｘ軸センサ１３ＸとＹ軸センサ１３ＹとＺ軸センサ１３Ｚとを、２ｍｓ毎に順に選択する。すなわち、２ｍｓ毎に、ＸＹＺ選択信号を、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚが順に動作するように変化させる。

比較器１５１は、Ｘ軸センサ１３Ｘからの検出電圧、Ｙ軸センサ１３Ｙからの検出電圧およびＺ軸センサ１３Ｚからの検出電圧が、順次、０．６〜２．１Ｖの範囲内であるか否か検出する。なお、図１４では、センサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることが、磁石検出信号「有」で示され、センサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内にあることが、磁石検出信号「無」で示されている。

第１の実施の形態では、ドライバ１７２は、Ｘラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合（図１４において「異常」と示されている場合）、Ｙラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合（図１４において「異常」と示されている場合）、またはＺラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合（図１４において「異常」と示されている場合）には、エラー信号を出力する。なお、図１４では、エラー信号が出力されていることが「異常」として示されている。

また、ドライバ１７２は、Ｘラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内にあることを示し、Ｙラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内にあることを示し、かつ、Ｚラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内にあることを示している場合には、エラー信号を出力しない。なお、図１４では、エラー信号が出力されていないことが「正常」として示されている。

以上のように、第１の実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、磁界検出素子１３０におけるＸ軸センサ１３ＸとＹ軸センサ１３ＹとＺ軸センサ１３Ｚとのうちのいずれか１つ以上が磁石の存在を検出した場合に、エラー信号が演出制御用マイクロコンピュータ１００に対して出力される。演出制御用マイクロコンピュータ１００は、エラー信号を入力した場合に、演出装置を用いて異常報知を行う（図８参照）。

また、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３は、互いに直交する３軸に沿って配置されているので、磁石の向き（Ｎ極とＳ極との位置関係）がどのようになっている場合でも、精度よく磁石の存在を検出することができる。

実施の形態２．
第１の実施の形態では、比較回路１５０が用いる比較電圧（０．６Ｖまたは２．１Ｖ）を調整することによって、磁界検出素子１３０におけるセンサの特性のばらつき等や地磁気の影響を排除したが、第２の実施の形態（実施の形態２）では、マイクロコントローラのソフトウェアによって、センサの特性のばらつき等や地磁気の影響を排除する。具体的には、遊技機に対する電力供給が開始されたとき等に磁界検出素子１３０から検出電圧を入力して、入力した検出電圧を初期値とし、磁界検出素子１３０からの検出電圧の初期値からの変化量が所定値を越えた場合に、遊技機の近傍に磁石が存在すると判断する。なお、初期値は適宜更新される。

また、第２の実施の形態では、遊技機の内部や裏面に磁界を生じさせる部材（不正部材ではなく、遊技機に設けられているソレノイド等の正規のもの）が存在する場合に、その影響も排除する処理を行う。以下、遊技機の内部や裏面に存在する磁界を生じさせる部材をソレノイドとする。

図１５および図１６は、図１０（Ｂ）に示された制御回路１８０の構成例を示す説明図である。なお、図１５および図１６には、制御回路１８０の機能すなわち制御回路１８０による一部の処理も、ブロックで示されている。また、図１５および図１６には、主として、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧を例にした構成および機能が示されているが、制御回路１８０は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧およびＺ軸センサ１３Ｚの検出電圧についても、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧についての処理と同様の処理を行う。

図１１に示された発振器１３１は、約２００ｋＨｚで発振しているとする。すなわち、発振器１３１は、約２００ｋＨｚのクロック信号を出力しているとする。すると、磁界検出素子１３０からの検出電圧に約２００ｋＨｚのノイズが混入している可能性がある。そこで、制御回路１８０は、磁界検出素子１３０からの検出電圧を平均化し、平均化後の信号を用いて処理を行う。制御回路１８０はＡ−Ｄ変換器１６０を有し、Ａ−Ｄ変換器１６０がディジタル化した検出電圧を用いて処理を行う。なお、Ａ−Ｄ変換器１６０は、１０ビットのディジタル信号を出力し、「１」は、約３．２ｍＶに相当する。つまり、「００００００００００」が０Ｖであるとすると、「０００００００００１」は約３．２ｍＶを示し、「００００００００１０」は約６．４ｍＶを示す。１０ビットで表される以降の値についても同様に、「１」増えた数値は、約３．２ｍＶ多くなっている値に相当する。

第２の実施の形態でも、第１の実施の形態の場合と同様に、制御回路１８０は、Ｘ軸センサ１３ＸとＹ軸センサ１３ＹとＺ軸センサ１３Ｚとを、２ｍｓ毎に順に選択する。すなわち、２ｍｓ毎に、ＸＹＺ選択信号を、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚが順に動作するように変化させる。

第２の実施の形態では、２ｍｓの期間内にＸ軸センサ１３Ｘの検出電圧を４回入力することにする。入力の周期（サンプリング周期）は、例えば１２３．２μｓである。１２３．２μは、５μｓ（２００ｋＭｚ相当）よりも十分長い時間であり、その周期で４回サンプリングすれば、約２００ｋＭｚのノイズ成分の影響は排除されると考えられる。

図１５に示すように、Ａ−Ｄ変換器１６０の４回の出力は、それぞれ、レジスタ２１１〜２１４に順次格納される。第１平均化部２０２は、レジスタ２１１〜２１４に格納された検出電圧（ディジタル値に変換されたもの）を加算し、加算値を、下位ビットの方向に２ビット分シフトする。すなわち、１／４する処理を実行する。このように、平均化の対象の信号数を４にすれば、ビットシフト処理のみで平均化処理を実現できる。

第１平均化部２０２の出力は、レジスタ２２１〜２２８に順次格納される。第１平均化部２０２は、６ｍｓに１回平均化処理を実行するので、レジスタ２２１〜２２８には、６ｍｓ毎の検出電圧の平均値が順次格納される。なお、第１平均化部２０２が新たなデータを出力する度に、レジスタ２２１〜２２８内のデータが次段に順次シフトされる。すなわち、レジスタ２２ｘ（ｘ：１〜８）の内容がレジスタ２２（ｘ＋１）に転送される。また、初段のレジスタ２２１に第１平均化部２０２が出力したデータが格納され、最終段のレジスタ２２８内のデータは破棄される。

そして、第２平均化部２０３は、全てのレジスタ２２１〜２２８に平均値（第１平均化部２０２が出力したデータ）が格納された後、第１平均化部２０２が新たなデータを出力する度に、レジスタ２２１〜２２８に格納された平均値を加算し、加算値を、下位ビットの方向に３ビット分シフトする。すなわち、１／８する処理を実行する。よって、レジスタ２２１〜２２８に格納された平均値が、さらに平均化される。このように、第２平均化部２０３による平均化の対象の信号数を８にすれば、ビットシフト処理のみで平均化処理を実現できる。

第１平均化部２０２はノイズ除去のために平均化処理を行ったが、第２平均化部２０３は、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧を時間的に平均する（時間平均する）。時間平均する理由は、瞬間的な磁界変化の検出を排除するためである。つまり、瞬間的な磁界変化の影響を排除するためである。

第２平均化部２０３は、算出した平均化された検出電圧を、現状値レジスタ２３２に格納する。

なお、第２平均化部２０３は、電力供給が開始されてから５秒間、すなわち制御回路１８０が動作開始してから５秒間、現状値レジスタ２３２に検出電圧を格納する処理を実行しない。また、５秒経過後、最初に算出した平均化された検出電圧を、初期値レジスタ２３１に格納する。なお、電力供給が開始されてから５秒後に初期値を設定するのは、遊技機の周辺の磁界環境が安定することを期待してのことであり、他の時間（０秒でもよい。）にしてもよい。

また、第２平均化部２０３は、前回検出電圧を初期値レジスタ２３１に格納してから１０秒経過すると、再び、算出した平均化された検出電圧を、初期値レジスタ２３１に格納する。すなわち、定期的に初期値を更新する。定期的に初期値を更新する理由は、遊技機の稼働が進むと遊技機に設けられている電磁部品等が着磁する可能性も考えられ、着磁した場合には、遊技機の近傍に磁石が存在しない場合にセンサが出力する検出電圧の値が変わるからである。なお、この実施の形態では、１０秒毎に初期値を更新するが、１０秒の周期は一例であり、他の更新周期を用いてもよい。ただし、初期値を更新する周期が短すぎると、磁石を低速で動かして行う不正行為を検出できなくなるおそれがあるので、ある程度以上の長さの周期であることが好ましい。

また、第２平均化部２０３は、遊技機に設けられているソレノイドが動作したことを検出してから、６０ｍｓ間、現状値レジスタ２３２に検出電圧を格納する処理を実行しない。また、６０ｍｓ経過後、最初に算出した平均化された検出電圧を、初期値レジスタ２３１に格納する。なお、遊技機に設けられているソレノイドが動作したことを検出してから、６０ｍｓ間、後段の減算部２３３、比較部２３４，２３５、加算部２４１、比較部２４４，２４５およびエラー判定部２５１も動作しない。減算部２３３、比較部２３４，２３５、加算部２４１、比較部２４４，２４５およびエラー判定部２５１を動作させない理由は、ソレノイドが動作したことを検出してから暫くの期間において、正確な磁石検出ができないと考えられ、エラー信号を出力するか否かの判断を中断すべきだからである。６０ｍｓにした理由は、実験に用いたソレノイドの動作開始時の急激な磁界変化の期間が約３０ｍｓであって、それに対して余裕を持たせた時間である。ただし、実際に使用するソレノイド等の特性に応じて、６０ｍｓ以外の時間を採用することが好ましい場合もある。また、ソレノイドが動作したことを検出したら初期値を更新する理由は、ソレノイドの動作中（動作開始時ほどではないが、動作していない場合比べると大きな磁界を生ずる。）では、ソレノイドが動作していないときに比べて、遊技機の近傍に磁石が存在しない場合にセンサが出力する検出電圧の値が変わるからである。

ソレノイドが動作したことを検出するために、減算部２０４および比較部２０５が設けられている。ソレノイドには、動作開始時に比較的大きな電流が流れ、そのときに瞬間的に大きな磁界変化が生ずる。そこで、瞬間的な検出電圧の値、すなわち、第２平均化部２０３によって平均化される前の検出電圧の値と、第２平均化部２０３によって平均化された検出電圧の値との差分（この例では、差分の絶対値）が減算器２０４で算出され、減算器２０４による差分が、比較部２０５でしきい値と比較される。

この例では、しきい値は、１２である（図１５におけるＤは１０進数であることを示す。）。なお、Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「１２」は、約３．２ｍＶ×１２＝約３８ｍＶに相当する。比較部２０５は、減算器２０４による差分がしきい値よりも大きい場合に、ソレノイドが動作したことを検出したことを示す信号を出力する。すなわち、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧が瞬間的に３８ｍＶ以上増加した場合に、ソレノイドが動作したことを検出したとする。

なお、この例では、ソレノイドが動作したか否か検出するためのしきい値を３８ｍＶにしたが、その値は一例であって、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて、適宜しきい値を決定すればよい。

減算部２３３は、初期値レジスタ２３１に格納されている初期値と現状値レジスタ２３２に格納されている検出電圧の値との差分（この例では、差分の絶対値）を算出する。そして、差分を、Ｘ軸変化量として、図１６に示す加算部２４１に出力する。Ｘ軸変化量は、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧の初期値からの差を示している。

また、第２平均化部２０３が出力する平均化された検出電圧の値は、比較部２３４，２３５に入力される。比較部２３４は、入力された検出電圧の値としきい値（６５０Ｄ（１０進））とを比較し、入力された検出電圧の値がしきい値を越えている場合には異常信号（強磁界エラー信号）をエラー判定部２５１に出力する。また、比較部２３５は、入力された検出電圧の値としきい値（１８５Ｄ（１０進））とを比較し、入力された検出電圧の値がしきい値未満である場合には異常信号（強磁界エラー信号）をエラー判定部２５１に出力する。

Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「６５０」は、約３．２ｍＶ×６５０＝約２．１Ｖに相当する。また、「１８５」は、約３．２ｍＶ×１８５＝約０．６Ｖに相当する。よって、Ｘ軸センサ１３Ｘからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合には、異常信号が出力される。なお、Ｙ軸センサ１３Ｙからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合にも異常信号（強磁界エラー信号）が出力され、Ｚ軸センサ１３Ｚからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合にも異常信号（強磁界エラー信号）が出力される。

加算部２４１には、Ｙ軸変化量およびＺ軸変化量も入力される。Ｙ軸変化量は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧の、Ｙ軸についての初期値からの差を示している。また、Ｚ軸変化量は、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧の、Ｚ軸についての初期値からの差を示している。

加算部２４１は、Ｘ軸変化量とＹ軸変化量とＺ軸変化量とを加算し、加算値（各軸変化量合計）を比較部２４４，２４５に出力する。比較部２４４は、加算値としきい値（８０Ｄ（１０進））とを比較する。そして、加算値がしきい値を越えている場合には、異常信号（磁界変化エラー信号）をエラー判定部２５１に出力する。また、比較部２４４は、加算値としきい値（６０Ｄ（１０進））とを比較する。そして、加算値がしきい値未満である場合には、異常解除信号（磁界変化エラー解除信号）をエラー判定部２５１に出力する。

第２の実施の形態では、各軸の変化量を加算し、加算値にもとづいて、磁界変化があったか否か確認する。すなわち、遊技機の近傍に磁石が存在するか否か確認する。このように、３軸の各々の変化量を考慮して磁界変化があったか否か確認するので、磁界変化を精度よく確認することができる。なお、ここでは、３軸の各々の変化量を加算するので、３軸の各々の変化量を考慮する場合でも、制御回路１８０の処理は複雑化しない。

また、比較部２４４が用いるしきい値は８０であるが、Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「８０」は、約３．２ｍＶ×８０＝約２５０ｍＶに相当する。比較部２４４は、加算値（各軸変化量合計）がしきい値よりも大きい場合に、磁界変化があったと判定する。すなわち、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧の初期値からの変化量と、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧の初期値からの変化量と、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧の初期値からの変化量との和が、約２５０ｍＶを越えた場合に、磁界変化があったと判定する。なお、２５０ｍＶとしたのは、実験に用いた磁石を遊技機の表面から２０ｃｍ離れた箇所に置いたときの磁界変化が２４０ｍＶであったからであり、その値に余裕を持たせた２５０ｍＶを採用した。

しかし、磁界変化があったか否か検出するためのしきい値としての２５０ｍＶは一例であって、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて、適宜しきい値を決定すればよい。

また、比較部２４５が用いるしきい値は６０であるが、Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「６０」は、約３．２ｍＶ×６０＝約１９０ｍＶに相当する。比較部２４５は、加算値（各軸変化量合計）がしきい値未満になった場合に、磁界変化が解消したと判定する。すなわち、遊技機の近傍から磁石が存在しなくなったと判定する。

なお、１９０ｍＶは、磁界変化を検出するためのしきい値に相当する２５０ｍＶから、実験の際の磁界変化である２４０ｍＶの１／４（＝６０ｍＶ）を差し引いた値に相当する。すなわち、この例では、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧の初期値からの変化量と、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧の初期値からの変化量と、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧の初期値からの変化量との和が約１９０ｍＶに相当する値になったら磁界変化が解消したと判定する。しかし、磁界変化が解消したと判定するためのしきい値は、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて適宜決定される。

エラー判定部２５１は、Ｘ軸、Ｙ軸およびＺ軸についての異常信号（強磁界エラー信号）の１つ以上が所定時間継続して出力された場合に、エラー信号を演出制御用マイクロコンピュータ１００に出力する。なお、所定時間は、一例として１００ｍｓであるが、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて、適宜所定時間を決定すればよい。

また、エラー判定部２５１は、比較部２４４から、異常信号（磁界変化エラー信号）が所定時間継続して出力された場合に、エラー信号を演出制御用マイクロコンピュータ１００に出力する。なお、所定時間は、一例として１００ｍｓであるが、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて、適宜所定時間を決定すればよい。

また、エラー判定部２５１は、比較部２４４からの異常信号にもとづいてエラー信号を出力した後、比較部２４５から異常解除信号（磁界変化エラー解除信号）が入力された場合に、エラー信号の出力を停止する。

以上のように、第２の実施の形態では、制御回路１８０が、磁界検出素子（磁気センサ）１３０の検出電圧を入力して、所定の時期（遊技機の周囲の磁界が安定していると判断される時期）に入力した検出電圧の値を初期値として設定し、磁界検出素子１３０の検出電圧が初期値に対して所定値以上異なる値であることを検出した場合に、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するので、磁石の向きによらず磁界を検出することができ、また、広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる。

また、第２の実施の形態では、所定の時期に設定した初期値と、磁界検出素子１３０の検出電圧とを比較するので、遊技機において磁界を生じさせる部品や、磁気を帯びる可能性がある部品を使用している場合でも、磁石が遊技機近傍に存在することを精度よく検出することができる。例えば、磁界検出素子１３０の近傍に、金属部品、ソレノイド、スピーカ等の磁気を帯びる可能性がある部品が存在する場合でも、従来の磁石検出方式とは異なり、それらの部品によって誤検出してしまうことなく、精度よく磁石を検出することができる。

また、第２の実施の形態では、制御回路１８０は、磁界検出素子１３０の検出電圧を平均化した上で比較処理等を実行するので、ノイズの影響を排除することができるとともに、突発的に生じた磁界変化（不正行為に用いられる磁石によらない磁界変化）によって誤って磁石を検出した状態になることを防止することができる。さらに、遊技機における電気回路に電流が流れるときには電流にもとづく磁界が生ずるが、電流にもとづく磁界の影響も排除することができる。

なお、第２の実施の形態では、磁石が遊技機近傍に存在すると判定する際に、比較部２４４からの異常信号（磁界変化エラー信号）と強磁界エラー信号とを併用したが、比較部２４４からの異常信号（磁界変化エラー信号）のみを用いて、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するようにしてもよい。

実施の形態３．
第１の実施の形態および第２の実施の形態では、磁石が遊技機近傍に存在することを精度よく検出することができるが、遊技機に設けられている部材において磁石が用いられているような場合や、遊技機設置島内の設置物または遊技機設置島における反対側に設置されている遊技機が磁界を生じさせるような場合に、不正行為に用いられる磁石を検出したと判断する可能性がある。

そこで、第３の実施の形態では、遊技機の前側（遊技者が存在する側）に存在する磁石のみを検出するように磁界検出用回路１４０を構成する。

図１７は、第３の実施の形態（実施の形態３）における磁界検出素子（磁気センサ）の設置場所の一例を示す説明図である。図１７に示す例では、４つの磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄが、遊技盤６の外側四隅に設置されている。なお、図１７において、破線の円形は、磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄの磁界検出可能範囲を示す。磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄの磁界検出可能範囲は、遊技盤６の前面のほぼ全体（遊技領域の全体）をカバーしている。なお、図１７に示す例では、磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄのいずれか１つ以上によって遊技領域の全体がカバーされているが、各々の磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄが遊技領域の全体をカバーできるような特性を有する磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄを使用してもよい。また、第３の実施の形態では、４つの磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄが設置されているが、それよりも多い数の磁界検出素子が設置されていてもよい。

図１８は、図１０（Ｃ）に示された制御回路１９０の構成例を示す説明図である。なお、図１８には、制御回路１９０の機能すなわち制御回路１９０による一部の処理も、ブロックで示されている。また、図１８には、主として、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧を例にした構成および機能が示されているが、制御回路１９０は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧およびＺ軸センサ１３Ｚの検出電圧についても、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧についての処理と同様の処理を行う。

Ａ−Ｄ変換器１６０、第１平均化部２０２、第２平均化部２０３、比較部２０５および減算部２３３は、第２の実施の形態におけるＡ−Ｄ変換器１６０、第１平均化部２０２、第２平均化部２０３、比較部２０５および減算部２３３と同様に動作する（図１５参照）。

従って、減算部２３３は、第２の実施の形態の場合と同様に、初期値レジスタ２３１に格納されている初期値と現状値レジスタ２３２に格納されている検出電圧の値との差分を算出する。そして、差分を、Ｘ軸変化量として、ベクトル算出部２５１に出力する。なお、Ｘ軸変化量は、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧の初期値からの差を示している。また、ベクトル算出部２５１は、制御回路１９０に含まれている。

また、制御回路１９０は、Ｘ軸センサ１３ＸについてＸ軸変化量を作成するのと同様にして、Ｙ軸センサ１３ＹについてＹ軸変化量を作成し、Ｚ軸センサ１３ＺについてＺ軸変化量を作成する。Ｙ軸変化量は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧の初期値からの差を示し、Ｚ軸変化量は、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧の初期値からの差を示している。

なお、制御回路１９０を含む磁界検出用回路１４０は、４つの磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄのそれぞれに対応して設けられているが、図１８には、そのうちの１つのみの制御回路１９０が示されている。４つの制御回路１９０は、同じ構成の回路である。以下、磁界検出素子１３０Ａに対応して設けられている磁界検出用回路１４０を第１の磁界検出用回路とする。また、磁界検出素子１３０Ｂに対応して設けられている磁界検出用回路を第２の磁界検出用回路とし、磁界検出素子１３０Ｃに対応して設けられている磁界検出用回路を第３の磁界検出用回路とし、磁界検出素子１３０Ｄに対応して設けられている磁界検出用回路を第４の磁界検出用回路とする。

第１〜第４の磁界検出用回路における制御回路１９０において、ベクトル算出部２５１は、減算部２３３が出力するＸ軸変化量をｘ成分とし、Ｙ軸センサ１３Ｙについての減算部（図１８において図示せず：Ｘ軸センサ１３Ｘについての減算部２３３と同様の処理を行うもの）が出力するＹ軸変化量をｙ成分とし、Ｚ軸センサ１３Ｚについての減算部（図１８において図示せず：Ｘ軸センサ１３Ｘについての減算部２３３と同様の処理を行うもの）が出力するＺ軸変化量をｚ成分とする３次元ベクトル（磁気ベクトル）を決定する。

そして、ベクトル算出部２５１は、決定した３次元ベクトルを示すデータを、交点検出部４０１に出力する。交点検出部４０１は、第１〜第４の磁界検出用回路の外部に設けられている回路である。

交点検出部４０１は、第１〜第４の磁界検出用回路における制御回路１９０のベクトル算出部２５１から、３次元ベクトルを示すデータを入力する。各々の３次元ベクトルにおけるＺ方向が一致していない場合には、交点検出部４０１は、いずれかの３次元ベクトル（例えば、第１の磁界検出用回路から出力された３次元ベクトル）におけるＺ軸に、他の３次元ベクトルのＺ軸を合わせる補正処理を行う。

図１９は、３次元ベクトルの平面への投影を示す説明図である。図２０は、投影線にもとづいて磁石の位置を検出する方法を説明するための説明図である。図１９に示すように、交点検出部４０１は、各々の３次元ベクトルを、所定の平面に投影する。すると、所定の平面において、４本の線分（投影線）が現れる。なお、所定の平面は、例えば、Ｚ軸を鉛直方向とするＸ−Ｙ平面である。図１９には、Ｘ−Ｙ平面が遊技機１の表面および裏面に直交している例が示されているが、Ｘ−Ｙ平面は遊技機１の表面および裏面に直交しない場合もある。交点検出部４０１は、４本の線分のそれぞれを両方向に延長する。すると、図２０に示すように、４本の直線が交わる点が発生する。なお、図２０において、矢印１３０ａ〜１３０ｄは、図１７に示された磁界検出素子１３０Ａ〜１３０Ｄの検出信号にもとづいて第１〜第４の磁界検出用回路において算出された３次元ベクトルの投影線を示す。また、図２０には、投影線の両方向への延長線のうち一方向の延長線のみが示されている。交点検出部４０１は、所定の平面において、４本の直線が交わる点を示すデータを前後判定部４０２に出力する。なお、前後判定部４０２も、第１〜第４の磁界検出用回路の外部に設けられている回路である。

前後判定部４０２は、４本の直線が交わる点の延長上に磁界を発生する部材（磁気発生源）が存在すると判断する。そして、磁気発生源が存在する側が、遊技盤６の面に対して表側（遊技者が存在する側）にあるのか後側にあるのか判定する。すなわち、交点検出部４０１が検出した磁気の方向にもとづいて、磁気発生源が遊技機の表側の特定の範囲内にあるのか否かを判定する。また、前後判定部４０２は、交点検出部４０１が出力した４本の直線が交わる点を示すデータにもとづいて、磁気発生源の位置を特定する処理も実行する。前後判定部４０２は、例えば、４本の直線が交わる点を、磁気発生源の位置とみなす。

前後判定部４０２が、磁気発生源が存在する側が遊技盤６の面に対して表側にあると判定し、かつ、磁気発生源が遊技機の表側の特定の範囲内にあると判定した場合に、エラー判定部４０４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断して、演出制御用マイクロコンピュータ１００に対してエラー信号を出力する。なお、図２０には、磁気発生源が遊技機の表側に存在している例が示されている。図２０は、遊技機１を上方から見た図に相当する。また、特定の範囲は、例えば、遊技領域に対応する領域である。さらに、特定の範囲を狭めてもよい。例えば、遊技領域における第１始動口１３および第２始動口１４が設けられている領域に対応する領域を特定の範囲とする。

第３の実施の形態では、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であるのか否かを判定して不正行為に用いられる磁石が遊技機の近傍に存在するか否か判定するので、遊技機に設けられている部材において磁石が用いられているような場合や遊技機設置島内の設置物または遊技機設置島における反対側に設置されている遊技機が磁界を生じさせるような場合でも、不正行為に用いられる磁石を誤りなく検出することができる。

なお、エラー判定部４０４は、前後判定部４０２が、磁気発生源が存在する側が遊技盤６の面に対して表側にあると判定した場合には、磁石が特定の範囲内にあるか否かに関係なく、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断して、演出制御用マイクロコンピュータ１００に対してエラー信号を出力するようにしてもよい。

また、Ａ−Ｄ変換器１６０、第１平均化部２０２、第２平均化部２０３、比較部２０５および減算部２３３は、第２の実施の形態におけるＡ−Ｄ変換器１６０、第１平均化部２０２、第２平均化部２０３、比較部２０５および減算部２３３と同様に動作するので、第２の実施の形態の場合と同様に、所定の時期に設定した初期値と、磁界検出素子１３０の検出電圧とを比較することになり、遊技機において磁界を生じさせる部品や、磁気を帯びる可能性がある部品を使用している場合でも、磁石が遊技機近傍に存在することを精度よく検出することができる。

また、第２の実施の形態の場合と同様に、制御回路１９０は、磁界検出素子１３０の検出電圧を平均化した上で比較処理等を実行するので、ノイズの影響を排除することができるとともに、突発的に生じた磁界変化（不正行為に用いられる磁石によらない磁界変化）によって誤って磁石を検出した状態になることを防止することができる。さらに、遊技機における電気回路に電流が流れるときには電流にもとづく磁界が生ずるが、電流にもとづく磁界の影響も排除することができる。

図２１は、第３の実施の形態の変形例を示すブロック図である。図２１に示す構成は、図１８に示す構成に対して、前後判定部４０２の出力にもとづいて、磁気発生源の移動方向および移動距離を判定する移動方向／距離判定部４０３が付加された構成である。

前後判定部４０２は、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であるのか否か判定するのであるが、移動方向／距離判定部４０３は、前後判定部４０２の判定結果を、所定期間毎（この例では、０．５秒毎）に入力する。また、移動方向／距離判定部４０３は、交点検出部４０１から、４本の直線が交わる点を示すデータを所定期間毎に入力する。

図２２は、４本の直線（投影線）にもとづいて磁石の移動を検出する方法を説明するための説明図である。移動方向／距離判定部４０３は、４本の直線が交わる点の移動方向によって磁気発生源の移動方向を判定し、また、４本の直線が交わる点の移動距離によって磁気発生源の移動方向を判定する。具体的には、移動方向／距離判定部４０３は、４本の直線が交わる点の移動方向を、磁気発生源の移動方向とみなし、４本の直線が交わる点の移動距離を、磁気発生源の移動距離とみなす。

そして、磁気発生源の移動方向にもとづいて磁石を検出する場合には、移動方向／距離判定部４０３が、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であり、かつ、例えば、磁気発生源の移動方向が、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の設置位置に相当する箇所に向かっていないと判定したときに、エラー判定部４０４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断し、演出制御用マイクロコンピュータ１００に対してエラー信号を出力する。図２２には、磁気発生源が存在する領域が表側における特定の範囲Ｗ内であることが示されている。その状態において、移動方向が所定の方向（例えば、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の設置位置に相当する箇所に向かわない方向）である場合には、エラー判定部４０４はエラー信号を出力する。また、図２２には、移動後の交点を決定するための投影線および延長線は記載省略されているが、移動後の交点は、移動前の交点を決定する場合と同様に、４つの３次元ベクトルの投影線にもとづいて決定される。

また、磁気発生源の移動距離にもとづいて磁石を検出する場合には、移動方向／距離判定部４０３が、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であり、かつ、例えば、磁気発生源の移動距離が、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の移動可能距離の範囲に含まれないと判定したときに、エラー判定部４０４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断し、演出制御用マイクロコンピュータ１００に対してエラー信号を出力する。

エラー判定部４０４は、磁気発生源の移動方向および移動距離もとづいて、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であるか否か判定してもよい。例えば、移動方向／距離判定部４０３が、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であり、かつ、磁気発生源の移動方向が、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の設置位置に相当する箇所に向かっていないことを検出し、さらに、磁気発生源の移動距離が、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の移動可能距離の範囲に含まれないことを検出した場合に、エラー判定部４０４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断し、演出制御用マイクロコンピュータ１００に対してエラー信号を出力する。

第３の実施の形態の変形例では、磁気発生源の移動方向または磁気発生源の移動距離を検出し、検出結果にもとづいて、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するように構成されているので、磁界を生じさせる可能性がある正規の可動部材が遊技機に設けられている場合に、可動部材を不正行為に用いられている磁石と誤って検出することを防止できる等の効果がある。

なお、磁気発生源の移動方向にもとづいて磁石を検出する場合に、移動方向／距離判定部４０３が、磁気発生源の移動方向が遊技領域７における特定部に相当する箇所に向かっていると判定したときに、エラー判定部４０４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断するようにしてもよい。遊技領域７における特定部は、例えば、入賞領域（特に、第１始動入賞口１３または第２始動入賞口１４）である。また、磁気発生源の移動距離にもとづいて磁石を検出する場合に、磁気発生源の移動距離が、所定の範囲に含まれるときには、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断するようにしてもよい。所定の範囲は、１０〜４０ｃｍなど、遊技領域７内で磁石で不正に遊技球を入賞領域に誘導した場合に磁石が移動する範囲である。

以上に説明したように、第１〜第３の実施の形態（変形例を含む。）では、磁石の向きによらず磁界を検出することができ、また、広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる。さらに、遊技機の裏面に磁界を生じさせる可能性がある正規の部材が存在する場合にも、磁石の存在を精度よく検知できる。

なお、第１〜第３の実施の形態（変形例を含む。）では、始動入賞にもとづいて特別図柄表示器８に可変表示される特別図柄の停止図柄が所定の図柄の組み合わせになると大当りになるタイプの遊技機（第１種パチンコ遊技機ということにする。）を例にしたが、始動入賞にもとづいて開放する電動役物の所定領域（特定領域：Ｖ入賞領域）への入賞があると大当りになるタイプの遊技機（第２種パチンコ遊技機ということにする。）にも本発明を適用することができる。

第２種パチンコ遊技機では、電動役物の入口および特定領域が不正行為を受けやすいので、磁界検出素子１３０および磁界検出用回路１４０は、特に、電動役物の入口および特定領域に遊技球を不正に誘導する行為を発見できるように設けられていることが好ましい。第２種パチンコ遊技機では、不正に遊技球を特定領域に入賞させることによって直接的に大当りを発生させることができ遊技店が被る損害が大きいので、磁界検出素子１３０および磁界検出用回路１４０による効果は大きい。しかし、第１〜第３の実施の形態（変形例を含む。）で例示した第１種パチンコ遊技機についても、始動入賞口に遊技球を不正に誘導したり、大入賞口に遊技球を不正に誘導したりする不正行為によって遊技店が損害を被るおそれがあるので、磁界検出素子１３０および磁界検出用回路１４０を設けることは効果的である。

また、第１〜第３の実施の形態（変形例を含む。）では、磁界検出用回路１４０は演出制御基板８０に設置され、磁界検出用回路１４０からのエラー信号は演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力されていたが、磁界検出用回路１４０を主基板３１に設置し、磁界検出用回路１４０からのエラー信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力させるように構成してもよい。そのように構成する場合には、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が、直接、不正行為に用いられる可能性がある磁石を発見したことを報知用の電気部品（演出装置等）を用いて報知する制御を行ってもよいし、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が演出制御用マイクロコンピュータ１００にコマンドを送信し、演出制御用マイクロコンピュータ１００が、報知用の電気部品（演出装置等）を用いて報知する制御を行ってもよい。

また、第１〜第３の実施の形態（変形例を含む。）では、図１０に示された制御回路１７０，１８０，１９０は、演出制御用マイクロコンピュータ１００の外部（エラー信号が遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力させるようにこうせいされた場合には遊技制御用マイクロコンピュータ５６０の外部）に設けられているマイクロコントローラで実現されたが、制御回路１７０，１８０，１９０の機能を、演出制御用マイクロコンピュータ１００または遊技制御用マイクロコンピュータ５６０で実現するようにしてもよい。

なお、電子コンパス（磁気コンパス）を、遊技機に対する不正行為に用いられる磁石を検出するために単に流用したのでは、精度よく磁石を検出することは困難である。地磁気の影響を受け、しかも緯度の違いに応じて地磁気の強さは異なるからである。しかし、第１〜第３の実施の形態では、地磁気の影響を考慮して検出のしきい値を設定するので、地磁気の影響を受けずに、精度よく磁石を検出することができる。

また、電子コンパスを、遊技機に対する不正行為に用いられる磁石を検出するために単に流用したのでは、遊技機設置島内の設置物または遊技機設置島における反対側に設置されている遊技機が磁界を生じさせるような場合に、それらに起因して、不正行為に用いられる磁石を誤検出するおそれがあるが、第３の実施の形態では、遊技機設置島内の設置物または遊技機設置島における反対側に設置されている遊技機の影響を受けずに、不正行為に用いられる磁石を検出することができる。

本発明を、遊技球を用いて所定の遊技を行うことが可能な遊技機に好適に適用することができる。

パチンコ遊技機を正面からみた正面図である。 遊技制御基板（主基板）の回路構成例を示すブロック図である。 演出制御基板、ランプドライバ基板および音声出力基板の回路構成例を示すブロック図である。 遊技制御用マイクロコンピュータにおけるＣＰＵが実行するメイン処理を示すフローチャートである。 ２ｍｓタイマ割込処理を示すフローチャートである。 演出制御用ＣＰＵが実行するメイン処理を示すフローチャートである。 演出制御プロセス処理を示すフローチャートである。 不正検出処理を示すフローチャートである。 磁界検出素子の設置位置を説明するための説明図である。 磁界検出用回路の構成例を、磁界検出素子とともに示すブロック図である。 （Ａ）は磁界検出素子の構成例を示すブロック図、（Ｂ）はＸ軸センサ、Ｙ軸センサおよびＺ軸センサの位置関係を示す説明図、（Ｃ）は互いに直交する３軸（Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸）を示す説明図である。 第１の実施の形態における比較回路の動作を説明するための説明図である。 第１の実施の形態における磁界検出用回路の具体例を磁界検出素子とともに示すブロック図である。 磁界検出用回路の動作例を示すタイミング図である。 第２の実施の形態における制御回路の構成例を示す説明図である。 第２の実施の形態における制御回路の構成例を示す説明図である。 第３の実施の形態における磁界検出素子の設置場所の一例を示す説明図である。 第３の実施の形態における制御回路の構成例を示す説明図である。 ３次元ベクトルの平面への投影を示す説明図である。 投影線にもとづいて磁石の位置を検出する方法を説明するための説明図である。 第３の実施の形態の変形例における制御回路の構成を示す説明図である。 投影線にもとづいて磁石の移動を検出する方法を説明するための説明図である。

符号の説明

１ パチンコ遊技機
２Ａ 遊技枠
６ 遊技盤
７ 遊技領域
８ 特別図柄表示器
９ 演出表示装置
１３ 第１始動入賞口
１４ 第２始動入賞口
１５ 可変入賞球装置
３１ 遊技制御基板（主基板）
５６ ＣＰＵ
５６０ 遊技制御用マイクロコンピュータ
８０ 演出制御基板
１００ 演出制御用マイクロコンピュータ
１０１ 演出制御用ＣＰＵ
１３０ 磁界検出素子（磁気センサ）
１３１ 発振器
１３２ タイミング制御回路
１３３ 基準電圧発生器
１３４ サンプルホールド回路（選択回路）
１３５ 差動増幅器
１３Ｘ Ｘ軸センサ
１３Ｙ Ｙ軸センサ
１３Ｚ Ｚ軸センサ
１４０ 磁界検出用回路
１５０ 比較回路
１６０ Ａ−Ｄ変換器
１７１ ラッチ回路
１７２ ドライバ
１７０，１８０，１９０ 制御回路
２５１ ベクトル算出部
４０１ 交点検出部
４０２ 前後判定部
４０３ 移動方向／距離判定部
４０４ エラー判定部

Claims (4)

1. 遊技球を用いて所定の遊技を行うことが可能な遊技機であって、
   互いに直交する３軸に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁気センサが４箇所以上に設置され、
   それぞれの磁気センサの３軸の各々の方向の検出電圧を、前記磁気センサを駆動する駆動クロック信号の周期よりも長い間隔でサンプリングして平均する平均化部と、
   前記平均化部が出力するそれぞれの前記磁気センサの３軸の各々の方向の検出電圧にもとづいて、磁気の方向を検出する方向検出手段と、
   前記方向検出手段が検出した磁気の方向にもとづいて、磁気発生源が遊技機の表側の特定の範囲内にあるのか否かを判定する磁気発生源判定手段と、
   前記磁気発生源判定手段によって磁気発生源が前記特定の範囲内にあると判定されたときに、磁石が遊技機近傍に存在すると判定する磁石判定手段とを備え、
   前記平均化部は、遊技機に対する電力供給が開始されてから所定期間が経過したときに検出電圧を平均化する処理を開始する
   ことを特徴とする遊技機。
2. 外枠に対して開閉自在に設置された遊技枠と、該遊技枠に着脱可能に取り付けられ所定の板状体に複数の遊技用部品が取り付けられた遊技盤を備え、前記遊技用部品として演出用の画像表示装置が前記遊技盤に設けられ、前記画像表示装置を制御する演出制御手段が搭載された演出制御基板が前記画像表示装置の裏側に設置された遊技機であって、
   磁気センサを、前記演出制御基板に搭載した
   請求項１記載の遊技機。
3. 外枠に対して開閉自在に設置された遊技枠と、該遊技枠に着脱可能に取り付けられ、所定の板状体に複数の遊技用部品が取り付けられた遊技盤とを備え、
   磁気センサを、前記遊技枠に設置した
   請求項１記載の遊技機。
4. それぞれの磁気センサの３軸の各々の方向の検出電圧にもとづいて、磁気発生源の移動方向または磁気発生源の移動距離を検出する移動検出手段を備え、
   磁石判定手段は、前記移動検出手段の検出結果にもとづいて、磁石が遊技機近傍に存在すると判定する
   請求項１から請求項３のうちのいずれかに記載の遊技機。

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