JP5492481B2 - 電子部品搭載装置 - Google Patents

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Description

本発明は、ノズルで電子部品を吸着して搭載を行う電子部品搭載装置に関する。
従来の電子部品搭載装置は、吸着ノズルを搭載し、X−Y平面を自在に移動可能なヘッドを備え、電子部品のフィーダ等の部品供給部から吸着により電子部品を受け取り、基板の部品搭載箇所までヘッドが移動して電子部品の搭載を行っている。
また、ヘッドには、互いに対向するライン状の発光部と受光部からなる吸着電子部品の位置検出装置が搭載され、ライン上の光線の遮光幅から電子部品のノズル回りの角度とノズル中心線と電子部品の中心線のズレの検出を部品搬送中に行い、検出された部品角度と位置ズレとに基づいて角度と位置の補正を行ってから電子部品の搭載が行われていた(例えば、特許文献1参照)。
特開2006−128197号公報
しかしながら、上記特許文献1の従来技術では、ヘッドの移動により吸着ノズルに撓みを生じる場合があり、上記のように、ヘッドに搭載した受光部で電子部品の位置を検出する構成の場合、ノズルの撓みの影響により遮光位置に検出誤差を生じ、検出位置精度が低下するという問題があった。この問題に対して、ノズルに撓みを生じない加速度でヘッドを駆動するという対策も考えられるが、その場合、搬送時間が長くなり、搭載効率が低下するので、その対策は採用できなかった。
本発明は、搭載効率の低下を抑えつつ高い位置精度で電子部品の搭載を行うことをその目的とする。
請求項1記載の発明は、電子部品の搭載が行われる基板を保持する基板保持部と、搭載される複数の電子部品を供給する部品供給部と、前記基板に搭載する電子部品を吸着する昇降可能な吸着ノズルを備えたヘッドと、水平面内で互いに直交するX軸方向及びY軸方向のそれぞれの駆動源により前記ヘッドを前記部品供給部と前記基板保持部との間で移動位置決めするヘッド移動機構と、前記ヘッドに搭載され、前記Y軸方向に沿った入射光のX軸方向の受光幅により前記吸着ノズルに対する吸着電子部品の位置の計測を行う位置計測手段と、搭載データに基づいて前記基板に対する搭載動作制御を実行する動作制御手段とを備える電子部品搭載装置において、前記吸着ノズルの撓みが前記各電子部品の各々に要求される搭載精度の許容範囲となる前記X軸方向の駆動源の許容最大加速度を、前記各電子部品ごとに記憶する許容最大加速度記憶手段を備え、前記動作制御手段は、搭載を行う電子部品に応じて前記許容最大加速度記憶手段から前記X軸方向の駆動源の許容最大加速度を取得すると共に、前記ヘッド移動機構により前記部品供給部から前記基板保持部の基板に前記ヘッドの移動を行う移動期間の少なくとも一部について、前記位置計測手段による前記電子部品の位置計測を行うために、前記X軸方向の駆動源の加速度を前記許容最大加速度に制限する制限期間を設ける制御を行うことを特徴とする。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明と同様の構成を備えると共に、前記動作制御手段は、前記制限期間中は前記X軸方向の駆動源の加速度を前記許容最大加速度に制限し、前記制限期間経過後は前記X軸方向の駆動の源の最大加速度の制限を解除することを特徴とする。
請求項3記載の発明は、請求項1又は2記載の発明と同様の構成を備えると共に、前記動作制御手段は、搭載を行う個々の電子部品について、前記移動期間の一部を前記X軸方向の駆動源を制止する制止期間とし、前記制止期間経過後は前記X軸方向の駆動源の加速度を制限しない第一の制御パターンと、前記移動期間の全てを通じて前記X軸方向の駆動源の加速度を前記許容最大加速度に制限する第二の制御パターンのいずれか一方を選択可能であり、前記動作制御手段は、個々の電子部品について前記各制御パターンによる移動所要時間を算出すると共に、当該移動所要時間の短くなる方の制御パターンを選択し実行することを特徴とする。
請求項4記載の発明は、請求項1から3のいずれか一項に記載の発明と同様の構成を備えると共に、 前記部品供給部は、個々の電子部品を保有する複数の電子部品フィーダと当該各電子部品フィーダをX軸方向に並べて設置可能な設置部とからなり、前記動作制御手段は、要求される搭載精度が高い電子部品から優先的に、前記搭載データが示す基板上の搭載位置に基づいて、X軸方向について移動量が小さくなるように、前記設置部の電子部品フィーダの配置を求め、当該電子部品フィーダの配置を作業者に示す教示手段を備えることを特徴とする。
請求項5記載の発明は、請求項1から4のいずれか一項に記載の発明と同様の構成を備えると共に、前記位置計測手段は複数の前記受光素子又は受光素子を備えるカメラであることを特徴とする。
請求項1記載の発明では、位置計測手段が入射光のX軸方向の受光幅により吸着ノズルに吸着された電子部品の位置計測を行うので、ヘッドのX軸方向の移動加速度により吸着ノズルがX軸方向に撓みを生じると、計測位置の誤差を生じることとなる。
従って、動作制御手段が、ヘッドの移動期間の少なくとも一部を制限期間としてX軸方向の駆動源の加速度を吸着ノズルの撓みが電子部品の搭載精度の範囲内となる許容最大加速度に制限して駆動すると共に、当該制限期間の間に電子部品の位置計測を実行することにより、許容誤差の範囲内で搭載が可能となり、電子部品の検出位置の精度向上を図ることが可能となる。また、X軸方向の駆動源は電子部品に要求される搭載精度を満たす範囲でのみ加速度が制限されるので、当該制限を最小限とし、部品の搭載効率の低下を回避することが可能である。
なお、上記発明において、特にY軸方向の駆動源の加速度については特に制限を設ける必要がなく、ヘッドの移動中は制限のない通常移動加速度の範囲内で駆動制御が行われる。
請求項2記載の発明では、制限期間中は許容最大加速度の範囲でX軸方向の駆動源が駆動され、制限期間経過後は制限なくX軸方向の駆動源が駆動されるので、加速度の制限の影響をより低減し、部品の搭載効率の低下をより効果的に回避することが可能となる。
請求項3記載の発明では、第一及び第二の制御パターンのいずれの場合でも、吸着ノズルの撓みの影響を抑えて精度良く電子部品の搭載を可能とすると共に、より所要時間の少ないパターンが選択されるので、部品の搭載効率の低下をより効果的に回避することが可能となる。
請求項4記載の発明では、搭載精度が高く要求される電子部品から順に電子部品フィーダと搭載位置とがX軸方向についてより接近するように配置を定め、当該配置を教示するので、作業者はより適切な配置で各電子部品フィーダを配置することができ、その結果、吸着ノズルの撓みによる位置測定誤差を低減し、各電子部品について搭載精度の向上を図ることが可能となる。
請求項5記載の発明では、位置計測手段が複数の受光素子又は受光素子を備えるカメラとするので、その解像度に応じてより正確な電子部品の搭載を行うことができる。
本実施形態たる電子部品搭載装置100の概略構成を示す説明図である。 電子部品搭載装置の制御系を示すブロック図である。 X軸方向に沿った視線から見たヘッド140の側面図である。 図4は吸着ノズルの周辺部のみを図示したヘッドの底面図であって、図4(A)はヘッドのX軸方向への移動加速度が小さい場合を示し、図4(B)はヘッドのX軸方向への移動加速度が大きい場合を示している。 ヘッドのX軸方向の加速度により吸着ノズルに撓みを生じる状態を示斜視図である。 搭載条件データの内容を表形式で示した説明図である。 基板における各電子部品の搭載位置とフィーダバンクにおける各電子部品の電子部品フィーダの設置位置との関係を示す説明図である。 部品配置指示制御のフローチャートである。 第一の制御パターンの動作説明図である。 第一の制御パターンによるヘッド移動時の動作制御を示すフローチャートである。 第二の制御パターンの動作説明図である。 第二の制御パターンによるヘッド移動時の動作制御を示すフローチャートである。 第三の制御パターンの動作説明図である。 第三の制御パターンによるヘッド移動時の動作制御を示すフローチャートである。 図15(A)は位置計測手段としてCCDカメラを採用した例を示す説明図、図15(B)はその撮像例である。
(発明の実施形態)
本発明の実施形態について、図1乃至図12に基づいて説明する。図1は本実施形態たる電子部品搭載装置100の概略構成を示す説明図、図2は電子部品搭載装置100の制御系を示すブロック図である。以下、図示のように、水平面において互いに直交する二方向をそれぞれX軸方向とY軸方向とする。また、これらに直交する鉛直方向をZ軸方向というものとする。
電子部品搭載装置100は、基板Kに各種の電子部品の搭載を行うものであって、図1に示すように、搭載の対象となる電子部品を供給する複数の電子部品フィーダ101と、当該各電子部品フィーダ101をX軸方向に複数並べて保持するフィーダバンク102とからなる部品供給部103と、X軸方向に基板を搬送する基板搬送手段108と、当該基板搬送手段108による基板搬送経路の途中に設けられた基板Kに対する電子部品搭載作業を行うための基板保持部104と、吸着ノズル141を昇降可能に保持して電子部品Tの保持を行うヘッド140と、ヘッド140を部品供給部102と基板保持部104とを含んだ作業エリア内の任意の位置に駆動搬送するヘッド移動機構としてのX−Yガントリ107と、ヘッド140に搭載され、Y軸方向に沿った入射光のX軸方向の幅から吸着ノズル141に対する吸着された電子部品Cの位置及び角度の計測を行う位置計測手段130と、上記各構成を搭載支持するベースフレーム114と上記各構成の動作制御を行う動作制御手段10とを備えている。
かかる電子部品搭載装置100の動作制御手段10は、電子部品の搭載に関する各種の設定内容が記録された搭載データを保有し、搭載データから搭載すべき電子部品と、電子部品の電子部品フィーダ101の設置位置に基づく部品受け取り位置と、基板上の搭載位置を示すデータ等を読み出すと共に、X−Yガントリ107を制御してヘッド140を電子部品の受け取り位置及び搭載位置に移送し、各位置においてヘッド140を制御して吸着ノズル141の昇降動作及び吸着又は搭載動作を行い、吸着から搭載を行う際の移動中において、後述する部品位置計測手段120を用いて吸着時の電子部品の位置及びノズル回りの角度検出を行うと共に位置補正及び角度調節をなどの動作制御を実行する。
(基板搬送手段及び基板保持部)
基板搬送手段108は、図示しない搬送ベルトを備えており、その搬送ベルトにより基板KをX軸方向に沿って搬送する。
また、前述したように、基板搬送手段108による基板搬送経路の途中には、電子部品を基板Kへ搭載する際の作業位置で基板Kを固定保持するための基板保持部104が設けられている。この基板保持部104は、作業位置まで搬送された基板Kを保持し且つ下方から基板に接する図示しない複数の支持ピンで支持し、上方から電子部品の搭載時の基板Kの撓みを防止する。
これにより、基板Kは安定した状態で保持されて電子部品の搭載作業が行われる。
(部品供給部)
部品供給部103のフィーダバンク102は、ベースフレーム114のY軸方向一端部に設けられ、X−Y平面に沿って各電子部品フィーダ101を載置する載置板102aと各電子部品フィーダ101の先端部を突き当てる立板102bとから構成されている。かかるフィーダバンク102は、ベースフレーム114に対して着脱可能であり、装着時には定位置に固定される構造となっている。
上記電子部品フィーダ101の先端部には位置決め用の図示しない突起が形成されており、上記フィーダバンク102の立板102bには、突起が挿入される位置決め用穴がX軸方向に並んで形成されている。これにより、各電子部品フィーダ101は、載置板102aの上面において、X軸方向に沿って羅列し且つX軸方向における定位置に装備される。
なお、各電子部品フィーダ101にはラッチ機構が設けられ、ラッチ機構の操作によりフィーダバンク102への着脱が可能となっている。
上述した電子部品フィーダ101は、後端部側に電子部品が均一間隔で無数に封入されたテープを巻回したテープリール(図示略)を保持すると共に、先端部近傍には、上述したように、ヘッド140への電子部品の受け渡し部101aを有している。
電子部品の搭載動作時には、ヘッド140は、搭載対象となる電子部品フィーダ101の受け渡し部101aに吸着ノズル141が位置決めされて電子部品の受け渡しが行われる。
(X−Yガントリ)
X−Yガントリ107は、X軸方向にヘッド140の移動を案内するX軸ガイドレール107aと、このX軸ガイドレール107aと共にヘッド140をY軸方向に案内する二本のY軸ガイドレール107bと、X軸方向に沿ってヘッド140を移動させる駆動源であるX軸モータ109と、X軸ガイドレール107aを介してヘッド140をY軸方向に移動させる駆動源であるY軸モータ110とを備えている。そして、各モータ109、110の駆動により、ヘッド140を二本のY軸ガイドレール107bの間となる領域のほぼ全体に搬送することを可能としている。
なお、各モータ109、110はサーボモータであり、ぞれぞれの回転量が動作制御手段10に認識され、所望の回転量となるように制御されることにより、ヘッド140を介して吸着ノズル141の位置決めを行っている。
また、電子部品搭載作業の必要上、前述した部品供給部103、基板保持部104はいずれもX−Yガントリ107によるヘッド140の搬送可能領域内に配置されている。
(ヘッド)
図3はX軸方向に沿った視線から見たヘッド140の側面図である。ヘッド140には、その先端部で空気吸引により電子部品Tを保持する吸着ノズル141と、剛体からなる支持フレーム142と、吸着ノズル141に回転動作を付与する回転モータ144(図2参照、図3では図示略)と、支持フレーム142に対してZ軸方向に沿って上下動可能に支持されると共に吸着ノズル141回転可能に支持する移動体145と、ノズル141に対してZ軸方向に沿って上下動動作を付与する駆動源であるZ軸モータ146(図2参照、図3では図示略)とを備えている。
上記吸着ノズル141は、内部が中空であってその下端部で電子部品Cの吸着を行うと共にその上端部で図示しないエアーチューブから負圧の供給を受けている。
さらに、吸着ノズル141は、図示しないスラスト軸受けを介して移動体145に支持されており、移動体145と共に上下動を行いつつ移動体145に対して回転動作を可能としており、電子部品Cの吸着、搬送、搭載等を行う際の上下動を可能としている。
また、ヘッド140には、図1,2に示すように、電子部品Cの搭載時に基板Kに付された位置決めマークを撮像し、基板位置を認識するための基板撮像カメラ152が搭載されている。この基板撮像カメラ152は、その視線がZ軸方向に沿って下方を向くようにヘッド140に取り付けられている。
(位置計測手段)
図4は吸着ノズル141の周辺部のみを図示したヘッド140の底面図であって、図4(A)はヘッド140のX軸方向への移動加速度が小さい場合を示し、図4(B)はヘッド140のX軸方向への移動加速度が大きい場合を示している。
図3及び図4に示すように、位置計測手段130は、ヘッド140の底部において吸着ノズル141を挟んでY軸方向の一方と他方とに配置された発光部131及び受光部132からなる。上記発光部131は、X軸方向に沿って並んだ複数の光源としてのLEDであり、各LEDはY軸方向に沿って光照射を行うように配置されている。また、受光部132は、X軸方向に沿って並んだ複数の受光素子であり、各受光素子はその受光面がY軸方向に垂直となるように配置されている。また、発光部131と受光部132は、吸着ノズル141の先端部に吸着された電子部品Cよりも十分にX軸方向幅が広く設定されている。
上記構成により、位置計測手段130の発光部131及び受光部132の高さまで吸着ノズル141に吸着された電子部品Cが上昇されると、発光部131の一部の照射光が電子部品CのX軸方向幅に応じて遮蔽されるので、受光部132の各受光素子の検出により、遮蔽領域の幅を求めることができる。その際、吸着ノズル141を回転モータ144で回転させて得られる遮蔽領域の幅の変化からZ軸回りの電子部品Cの角度が認識されて当該角度を調整することができる。
また、受光部132で検出される遮蔽領域のX軸方向における所在位置から吸着ノズル141と電子部品CとのX軸方向の中心位置のズレ量を求めることができ、吸着ノズル141を回転モータ144により回転させることによるズレ量の変化から、吸着ノズル141の中心と電子部品Cの平面視における中心とのズレ量を求めることができる。従って、かかるズレ量と前述した電子部品CのZ軸回りの検出角度とを照合して、吸着ノズル141を停止させたときの電子部品CのX軸及びY軸方向の位置ズレを算出することが可能となっている。
なお、発光部131としては、X軸方向に同様の幅を有するレーザ光をY軸方向に沿って射出するレーザ光源でもよい。
ところで、吸着ノズル141は、上下動及び回転を行うために、その全長をある程度長くとる必要があり、全体を剛体で形成したとしてもヘッド140の移動加速度が大きくなると逆方向への撓みが発生する(図4(B)及び図5の二点差線表記)。上記位置計測手段130は一定の方向であるY軸方向からの受光により電子部品Cの位置や角度を検出する構成のため、撓みのY軸方向成分については検出に影響はないが、X軸方向成分については吸着ノズル141の撓み量がそのまま検出誤差となってしまう。
位置計測手段130による電子部品Cの位置及び角度検出は、ヘッド140の移動時に実行されるので、動作制御手段10では、ヘッド140の移動動作制御により吸着ノズル141の撓みによる誤差を低減し抑止している。かかる制御内容については後述する。
(動作制御手段)
図2に示すように、動作制御手段10は、主に、X−Yガントリ107のX軸モータ109、Y軸モータ110、ヘッド140において吸着ノズル141の昇降を行うZ軸モータ146、吸着ノズル141の回転を行う回転モータ144、吸着ノズル141への負圧の供給と停止を切り替える切り換え用電磁弁153、基板撮像カメラ152及び位置計測手段130の発光部131と受光部132について、後述する各種の制御プログラムに従って各種の処理及び制御を実行するCPU30と、各種の処理及び制御を実行するためのプログラムが格納されたシステムROM12と、各種のデータを格納することで各種の処理の作業領域となるRAM13と、CPU30と各種の機器との接続を図るI/F(インターフェース)14と、基板に搭載する電子部品のリストや各電子部品の搭載位置及び電子部品の受け取り位置等の搭載の動作制御に要する搭載データ、後述する搭載条件データ、その他の設定情報等が格納される不揮発性の記憶装置17と、各種の設定や操作に要するデータの入力を行うための操作パネル15と、各種設定の内容や必要情報の提示等を行う表示モニタ18とを有している。また、前述した各モータ109,110,144,146はいずれもエンコーダを備えるサーボモータであり、図示しないサーボドライバを介してI/F14と接続されている。
記憶装置17には、基板Kに対して搭載すべき電子部品のリスト及び搭載の順番、各電子部品の電子部品フィーダ101の受け渡し部101aの所在位置、各電子部品の基板Kにおける搭載位置を定めた搭載データが記憶されている。なお、一種類の基板Kにつき一つの搭載データが定められている。
また、記憶装置17には、上記搭載データのほかに、各種の電子部品Cについて搭載条件を定めた搭載条件データが記憶されている。図6はかかる搭載条件データの内容を表形式で示した説明図である。
搭載条件データは、電子部品を吸着ノズル141で吸着してから基板Kに搬送する際のX軸方向の適正な加速度を動作制御手段10が取得するためのデータである。かかる搭載条件データは、各電子部品(図6ではC1,C2,C3,…とする)について要求される搭載精度(許容される搭載位置誤差)N1,N2,N3,…、搭載精度に基づく吸着ノズル141の許容撓み量X1,X2,X3,…、吸着ノズル141に生じる撓み量が搭載精度の範囲内となるX軸方向の許容最大加速度G1,G2,G3,…が記憶されている。
搭載精度Niとは、電子部品Cの構造上の理由、例えば、半田付けが行われる端子の大きさ、端子の個数等により、個々の電子部品について許容される搭載位置誤差の値であり、搭載精度Niがより高く要求される電子部品であるほど、許容最大加速度Giは小さくなる。
そして、許容最大加速度Giは、吸着ノズル141の剛性からその先端部の撓み量が搭載精度Niの範囲となる最大の加速度であり、これは予め算出により得られたもの或いは試験により実測から得られたものを各電子部品ごとに搭載条件データに記録したものである。
なお、上記搭載条件データに定められた搭載精度Ni、許容できる撓み量Xi、許容最大加速度Giは、それぞれ段階的に定められていても良い。
また、上記搭載条件データは、テーブル形式のデータであり、電子部品を特定すると許容最大加速度Giの値が即座に取得可能となっているが、例えば、各電子部品に対応する搭載精度Niのみが記憶され、搭載精度Niと既知の吸着ノズル141の剛性から演算で許容最大加速度Giを算出しても良い。
(部品配置指示制御)
上記動作制御手段10のCPU30は、システムROM12に記憶された部品配置指示制御プログラムを実行することにより、基板Kに搭載される個々の電子部品Cの搭載精度に応じて適正な各電子部品フィーダ101の取り付け位置をオペレータに示す制御を行う。
即ち、前述したように、各電子部品Cは、要求される搭載精度がそれぞれ異なるので、CPU30は、電子部品フィーダ101の設置を行う際に、吸着ノズル141の撓みにより特に搭載精度の影響を受けるX軸方向について、ヘッド140の移動量が少なくなるようにフィーダバンク102に電子部品フィーダ101を配置するために、その配置を表示モニタ18に表示してオペレータに指示する制御を行う。この場合、表示モニタ18は「教示手段」として機能することとなる。
図7は基板Kにおける各電子部品C1,C2,C3の搭載位置P1,P2,P3とフィーダバンク102における各電子部品C1,C2,C3の電子部品フィーダ101の設置位置との関係を示す説明図、図8は部品配置指示制御のフローチャートである。
CPU30は、搭載データから基板Kに搭載される電子部品のリストを読み出し、搭載条件データから各電子部品Cに要求される搭載精度を読み出して(ステップS11)、その精度が高いものから順にフィーダバンク102における電子部品フィーダ101の設置位置を特定する。なお、この時点では搭載データ中には、前述した各電子部品の電子部品フィーダ101の受け渡し部101aの所在位置のデータは作成されておらず、かかる部品配置指示制御により全ての電子部品Cについて電子部品フィーダ101の設置位置の特定が完了してから搭載データに書き込みが行われるようになっている。
まず、CPU30は、電子部品フィーダ101の設置領域が未確定な電子部品の中から最も高い搭載精度が要求されている電子部品(仮にC1,C2,C3とする)を特定し、当該電子部品について搭載データから基板上の搭載位置P1,P2,P3の位置座標を取得する(ステップS12)。
そして、基板保持部104に保持された基板Kの各搭載位置P1,P2,P3についてX軸方向の位置が一致するフィーダバンク102上の設置領域Q7,Q11,Q15を特定する。さらに、この設置領域に対して、既に他の電子部品のフィーダ101の設置が確定していないか否かを確認し(ステップS13)、既に他の電子部品のフィーダ101の設置が確定している場合には、隣接する設置領域について、他の電子部品のフィーダ101の設置が確定していないか否かを確認し(ステップS14)、確定していない設置領域が発見されるまで、確認の対象となる設置領域を順次隣に推移させる。
また、ステップS13又は14で未確定の設置領域が見つかった場合には、当該電子部品のフィーダ101の設置領域に確定する(ステップS15)。
そして、全ての電子部品について、フィーダ101の設置領域が確定したか判定し(ステップS16)、まだ未確定の電子部品が存在する場合には、ステップS12に処理を戻し、次に搭載精度が高い電子部品についてステップS12〜S16の処理を繰り返す。
これにより全ての電子部品Cについてフィーダバンク102上の設置領域が確定すると、各電子部品フィーダ101の受け渡し部101aの所在位置が確定するので、それぞれの位置座標を搭載データに記録する処理を行う。また、CPU30は、表示モニタ18に各電子部品Cの電子部品フィーダ101の設置領域を表示して(ステップS17)、その通りに各電子部品フィーダ101を設置するように指示を促す。
(ヘッドの搬送動作制御[第一の制御パターン])
CPU30は、電子部品吸着後のヘッド140の搬送動作について二つの制御パターンのいずれか一方を選択して行う。
まず、第一の制御パターンについて説明する。図9は第一の制御パターンの動作説明図である。
電子部品の吸着後、搭載位置までの搬送中に、位置計測手段130による電子部品Cの位置ズレ及び角度の計測を実行する必要があるが、その際、X軸方向の加速度は計測に誤差をもたらすことは前述した通りである。従って、かかる第一の制御パターンでは、ヘッド140の移動開始から搭載位置への到達までの移動期間T0の内、ヘッド140の移動開始からの所定期間をX軸モータ109の駆動を行わない制止期間T1と定め、当該制止期間T1中に位置計測手段130により電子部品の位置ズレ等を計測する制御を実行すると共に、制止期間T1の経過後は、X軸モータ109を通常移動加速度とする制御を行う。
なお、Y軸モータ110については、移動期間T0を通じて最大加速度を通常移動加速度として駆動が行われる。なお「通常移動加速度」とは、モータが過剰に発熱したり過度の耐久性の低下を生じたりしない通常使用の範囲で駆動し得る最大の加速度である。例えば、特に制限を行わないヘッド140の移動の場合には、X軸及びY軸モータ109,110の加速度はこの通常移動加速度以下の範囲で駆動が行われる。
図9において、制止期間T1中は矢印L1の軌跡でヘッド140は移動を行い、制止期間T1の経過後は矢印L2の軌跡で移動を行う。なお、図9では説明を明確とするためにL2の矢印を直線としているが、実際にはX軸モータ109又はY軸モータ110のいずれか一方が先に目標移動量の駆動を完了して先に停止する場合が多く、ヘッド140は実際には屈曲した軌跡を描くこととなる。
位置計測手段130による電子部品Cの位置ズレ量及び角度の計測に要する所要時間は電子部品の種類にかかわらずほぼ一定であり、制止期間T1は少なくとも計測の所要時間以上の長さに予め設定される。
かかる第一の制御パターンでは、位置計測手段130による計測の実行中はX軸モータ109が駆動しないので、吸着ノズル141のX軸方向への撓みを防止し、精度良く電子部品Cの位置ズレ量及び角度を計測することができる。
図10は第一の制御パターンによるヘッド移動時の動作制御を示すフローチャートである。図示のように、まず、CPU30は、電子部品の吸着後、X軸モータ109は加速度0つまり駆動せず、Y軸モータ110は加速度の上限を通常移動加速度としてヘッド140の駆動を開始する(ステップS21)。
そして、ヘッド140の移動開始と共に吸着ノズル141に吸着された電子部品Cの位置ズレ及び角度を位置計測手段130により計測する(ステップS22)。
ついで、CPU30は、移動開始から制止期間T1が経過したか判定し(ステップS23)、経過した場合には、X軸モータ109及びY軸モータ110の双方について、加速度の上限を通常移動加速度としてヘッド140の移動を行う(ステップS24)。
そして、ヘッド140が搭載位置Pに到達したか否かを判定する(ステップS25)。このとき、搭載位置Pへのヘッド140の位置決めは、ステップ22で計測した電子部品Cの位置ズレ量及び角度を考慮して実行する。
そして、搭載位置に到達した場合には、ヘッド140を停止させて制御を終了する。ヘッド140の到達後は、電子部品の搭載動作に移行する。
(ヘッドの搬送動作制御[第二の制御パターン])
次に、第二の制御パターンについて説明する。図11は第二の制御パターンの動作説明図である。
この第二の制御パターンでは、ヘッド140の移動期間T0を通じて、X軸モータ109を前述した搭載条件データに定められた許容最大加速度Gを上限として駆動させる制御を行う。
なお、この場合も、Y軸モータ110については、移動期間T0を通じて加速度の上限を通常移動加速度として駆動が行われる。
つまり、図示のように、移動期間T0において、ヘッド140は矢印L3の軌跡で搭載位置まで移動を行う。
なお、図11では説明を明確とするためにL3の矢印を直線としているが、この場合も、いずれか一方のモータ109又は110が先に目標移動量の駆動を完了して先に停止する場合が多く、ヘッド140は実際には屈曲した軌跡を描くこととなる。
かかる第二の制御パターンでは、位置計測手段130による計測の実行中において、X軸モータ109が吸着している電子部品Cの搭載精度の許容範囲内の誤差しか生じない許容最大加速度を上限として駆動が行われるので、要求される精度の範囲で電子部品Cの位置ズレ量及び角度を計測することができる。
図12は第二の制御パターンによるヘッド移動時の動作制御を示すフローチャートである。図示のように、まず、CPU30は、現在吸着している電子部品の許容最大加速度Gの値を搭載条件データから読み出して(ステップS31)、電子部品の吸着後、X軸モータ109は加速度の上限を許容最大加速度Gとして駆動し、Y軸モータ110は加速度の上限を通常移動加速度として駆動し、ヘッド140の移動を開始する(ステップS32)。
そして、ヘッド140の移動開始と共に吸着ノズル141に吸着された電子部品Cの位置ズレ及び角度を位置計測手段130により計測する(ステップS33)。
ついで、CPU30は、ヘッド140が搭載位置Pに到達したか否かを判定する(ステップS34)。このときも、搭載位置Pへのヘッド140の位置決めは、ステップ33で計測した電子部品Cの位置ズレ量及び角度を考慮して実行する。
そして、搭載位置に到達した場合には、ヘッド140を停止させて制御を終了する。ヘッド140の到達後は、電子部品の搭載動作に移行する。
(ヘッドの搬送動作制御[制御パターンの選択処理])
動作制御手段10のCPU30は、上述した第一及び第二の制御パターンを選択的に実行する。即ち、CPU30は、搭載データを取得すると、各電子部品について、電子部品フィーダ101の受け渡し部101aから基板Kにおける搭載位置までの移動所要時間を第一及び第二の制御パターンのそれぞれについて算出し、移動所要時間の短くなる制御パターンを選択する。
つまり、CPU30は、搭載を行う各電子部品について個々に第一又は第二の制御パターンのいずれを実行するかを選択し、その選択結果を電子部品のリストに関連づけて搭載データに追記する処理を行う。
これにより、基板Kに対する電子部品の搭載制御の実行の際には、CPU30は、個々の電子部品の搭載動作時に、搭載データからいずれの制御パターンでヘッド140の移動を行うかを読み出して、実行することができる。
(実施形態の効果)
電子部品搭載装置100では、その動作制御手段10のCPU30が、ヘッド140の移動中に、X軸モータ109を駆動させない制止期間又はX軸モータ109の加速度を許容最大加速度に制限する制限期間を設けるので、その期間中に電子部品の位置及び角度の計測を行うことにより、吸着ノズル141の撓みの影響を低減して精度良く計測ができ、搭載精度の向上を図ることが可能である。
また、CPU30は、第一又は第二の制御パターンのいずれか所要移動時間の少ないパターンを選択して実行するので、部品の搭載効率の低下をより効果的に回避することが可能となる。
また、CPU30は、部品配置指示制御を実行して、搭載精度が高く要求される電子部品Cから順に電子部品フィーダ101と搭載位置PとがX軸方向についてより接近するように配置を定め、当該配置を表示モニタ18により教示するので、作業者はより適切な配置で各電子部品フィーダ101をフィーダバンク102上に配置することができ、その結果、吸着ノズル141の撓みによる位置測定誤差を低減し、各電子部品Cについて搭載精度の向上を図ることが可能となる。
(ヘッドの搬送動作制御の他の例)
上記電子部品搭載装置100の動作制御手段10は。第一又は第二の制御パターンに従ってヘッド140の搬送制御を実施していたが、これらのパターンに限定されるものではない。図13はヘッドの搬送動作制御の第三の制御パターンの動作説明図である。
この第三の制御パターンでは、電子部品Cの吸着後、ヘッド140の移動開始から搭載位置への到達までの移動期間T0の内、X軸モータ109の加速度を電子部品の搭載精度に応じた許容最大加速度に制限する制限期間T3を定め、当該制限期間T3中に位置計測手段130により電子部品の位置ズレ等を計測する制御を実行すると共に、制限期間T3の経過後は、X軸モータ109を通常移動加速度とする制御を行う。
なお、Y軸モータ110については、移動期間T0を通じて加速度の上限を通常移動加速度として駆動が行われる。
上記制限期間T3は、前述した第一の制御パターンの制止期間T1と同様に設定される。また、X軸モータ109の許容最大加速度は搭載を行う電子部品Cに応じて搭載条件データから取得される。
図13において、制限期間T3中は矢印L4の軌跡でヘッド140は移動を行い、制限期間T3の経過後は矢印L5の軌跡で移動を行う。なお、図13では説明を明確とするためにL5の矢印を直線としているが、実際には、L2やL3の場合と同様に屈曲した軌跡を描くこととなる。
かかる第三の制御パターンでは、位置計測手段130による計測の実行中もX軸モータ109は搭載精度を損なわない加速度の範囲で駆動が行われ、且つ、計測後は通常移動加速で駆動が行われるので、吸着ノズル141のX軸方向への撓みを抑制して精度良く電子部品Cの位置ズレ量及び角度を計測し、且つ、ヘッド140の移動時間を効果的に短縮し、搭載動作の迅速過を図ることが可能となる。
また、この第三の制御パターンは、前述した第一又は第二の制御パターンのいずれよりも高速でヘッド140の移動を行うことができるので、より適切なパターンを予め選択する必要がなく、全ての電子部品について当該第三の制御パターンで一貫して電子部品の搭載を行うことができる。
図14は第三の制御パターンによるヘッド移動時の動作制御を示すフローチャートである。図示のように、まず、CPU30は、電子部品の吸着後、X軸モータ109は加速度の上限を電子部品に応じた許容最大加速度Gとし、Y軸モータ110は加速度の上限を通常移動加速度としてヘッド140の駆動を開始する(ステップS41)。
そして、ヘッド140の移動開始と共に吸着ノズル141に吸着された電子部品Cの位置ズレ及び角度を位置計測手段130により計測する(ステップS42)。
ついで、CPU30は、移動開始から制限期間T3が経過したか判定し(ステップS43)、経過した場合には、X軸モータ109及びY軸モータ110の双方について、加速度の上限を通常移動加速度としてヘッド140の移動を行う(ステップS44)。
そして、ヘッド140が搭載位置Pに到達したか否かを判定する(ステップS45)。このとき、搭載位置Pへのヘッド140の位置決めは、ステップ42で計測した電子部品Cの位置ズレ量及び角度を考慮して実行する。
そして、搭載位置に到達した場合には、ヘッド140を停止させて制御を終了する。ヘッド140の到達後は、電子部品の搭載動作に移行する。
上記第三の制御パターンを実施する場合には、制限期間T3中は許容最大加速度の範囲でX軸方向の駆動源が駆動され、制限期間経過後は制限なくX軸方向の駆動源が駆動されるので、搭載精度を第二の制御パターンと同じレベルに維持しつつも、部品の搭載効率の低下をより効果的に回避することが可能となる。
(その他)
なお、図15に示すように、位置計測手段としては二次元配列された受光素子を用いたCCD等のカメラ130Aを使用することも可能である。この場合、CCDカメラ130Aは、その視線をY軸方向に向けてヘッド140の底部に配置し、撮像画像から電子部品Cとを抽出して、吸着ノズル141とのX軸方向の中心位置のズレ量を求め、吸着ノズル14を回転させることで得られるズレ量の変化から、上記位置計測手段130と同様に電子部品の角度及びX軸及びY軸方向の位置ズレを算出することが可能である。また、電子部品の位置及び角度について、ほぼ検出原理を等しくするために、吸着ノズル141の加速度による撓みの影響も同様に生じる。
従って、上述したカメラ130Aを適用することにより、位置計測手段130の場合と同様に使用することが可能となる。
10 動作制御手段
17 記憶装置(許容最大加速度記憶手段)
18 表示モニタ(教示手段)
30 CPU(吸着所要時間取得制御手段、解放所要時間取得制御手段、解放所要時間確認制御手段)
100 電子部品搭載装置
101 電子部品フィーダ
102 フィーダバンク(設置部)
103 部品供給部
104 基板保持部
107 X−Yガントリ(ヘッド移動機構)
109 X軸モータ(X軸方向の駆動源)
110 Y軸モータ(Y軸方向の駆動源)
130 位置計測手段
130A CCDカメラ
141 吸着ノズル
140 ヘッド
C 電子部品
K 基板

Claims (5)

  1. 電子部品の搭載が行われる基板を保持する基板保持部と、
    搭載される複数の電子部品を供給する部品供給部と、
    前記基板に搭載する電子部品を吸着する昇降可能な吸着ノズルを備えたヘッドと、
    水平面内で互いに直交するX軸方向及びY軸方向のそれぞれの駆動源により前記ヘッドを前記部品供給部と前記基板保持部との間で移動位置決めするヘッド移動機構と、
    前記ヘッドに搭載され、前記Y軸方向に沿った入射光のX軸方向の受光幅により前記吸着ノズルに対する吸着電子部品の位置の計測を行う位置計測手段と、
    搭載データに基づいて前記基板に対する搭載動作制御を実行する動作制御手段とを備える電子部品搭載装置において、
    前記吸着ノズルの撓みが前記各電子部品の各々に要求される搭載精度の許容範囲となる前記X軸方向の駆動源の許容最大加速度を、前記各電子部品ごとに記憶する許容最大加速度記憶手段を備え、
    前記動作制御手段は、
    搭載を行う電子部品に応じて前記許容最大加速度記憶手段から前記X軸方向の駆動源の許容最大加速度を取得すると共に、
    前記ヘッド移動機構により前記部品供給部から前記基板保持部の基板に前記ヘッドの移動を行う移動期間の少なくとも一部について、前記位置計測手段による前記電子部品の位置計測を行うために、前記X軸方向の駆動源の加速度を前記許容最大加速度に制限する制限期間を設ける制御を行うことを特徴とする電子部品搭載装置。
  2. 前記動作制御手段は、前記制限期間中は前記X軸方向の駆動源の加速度を前記許容最大加速度に制限し、前記制限期間経過後は前記X軸方向の駆動の源の最大加速度の制限を解除することを特徴とする請求項1記載の電子部品搭載装置。
  3. 前記動作制御手段は、搭載を行う個々の電子部品について、
    前記移動期間の一部を前記X軸方向の駆動源を制止する制止期間とし、前記制止期間経過後は前記X軸方向の駆動源の加速度を制限しない第一の制御パターンと、
    前記移動期間の全てを通じて前記X軸方向の駆動源の加速度を前記許容最大加速度に制限する第二の制御パターンのいずれか一方を選択可能であり、
    前記動作制御手段は、個々の電子部品について前記各制御パターンによる移動所要時間を算出すると共に、当該移動所要時間の短くなる方の制御パターンを選択し実行することを特徴とする請求項2記載の電子部品搭載装置。
  4. 前記部品供給部は、個々の電子部品を保有する複数の電子部品フィーダと当該各電子部品フィーダをX軸方向に並べて設置可能な設置部とからなり、
    前記動作制御手段は、要求される搭載精度が高い電子部品から優先的に、前記搭載データが示す基板上の搭載位置に基づいて、X軸方向について移動量が小さくなるように、前記設置部の電子部品フィーダの配置を求め、
    当該電子部品フィーダの配置を作業者に示す教示手段を備えることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電子部品搭載装置。
  5. 前記位置計測手段は複数の前記受光素子又は受光素子を備えるカメラであることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の電子部品搭載装置。
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