JP5466560B2 - X線検査装置およびその動作方法 - Google Patents
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Description
図1に示すように、X線検査装置は、X線発生器10と、X線検出器12と、画像処理装置14とを備えている。X線発生器10は、製造ラインにおいて被検査物である製品16を搬送してくるベルトコンベア18の上方に配置され、X線検出器12はベルトコンベア18の下方であって、X線発生器10に対応した位置に配置される。
画像処理装置14は、図2に示すように、入力部22,出力部24,画像処理部26を有するパーソナルコンピュータで構成する。
(1)模擬劣化画質レベル設定手段36は、予め決定された模擬劣化画質レベルが入力され、入力された模擬劣化画質レベルを設定する。
(2)模擬劣化画質レベル設定手段36は、模擬劣化画質レベルを演算し、演算された模擬劣化画質レベル設定する。
X線検査装置の動作を、フローチャートを参照しながら説明する。なお、以下の説明においては、
・模擬劣化画質レベル設定手段が、予め決定された模擬劣化画質レベルを設定する場合と、
・模擬劣化画質レベル設定手段36が、模擬劣化画質レベルを演算し、演算された模擬劣化画質レベル設定する場合と、に分けて説明する。
・感度補正モード(ステップS1)
製造ラインの可動開始時に、入力部22から、画像処理部26に感度補正を指示する。X線透過画像形成部28は、X線検査装置が最良の感度で動作するように、感度を補正する。感度補正の方法は、種々あるが、例えば感度補正前のX線検査装置で、X線照射時の画像濃度とX線非照射時の画像濃度とを採取し、これらの濃度から補正係数を求めて、製品検査時の実際の画像濃度を変換している(特開2001−4560号公報参照)。
入力部22から、模擬劣化画質レベル設定手段36に模擬劣化画質レベルの設定を指示する。同時に、入力部22の指示により、切換部32を出力部24側に切換える。
・動作確認モード(ステップS3)
入力部22から、画像処理部26に動作確認を指示する。これにより、切換部32は、動作確認部34側に切換えられる。
動作確認モードでX線検査装置の良否判定が正常に実行されることが確認できたならば、入力部22から、通常動作モードの指示なされ、切換部32は出力部24側に切換えられる。
入力部22から、模擬劣化画質レベル設定手段36に模擬劣化画質レベルの演算を指示する。同時に、入力部22の指示により、切換部32を出力部24側に切換える。
12 X線検出器
14 画像処理装置
22 入力部
24 出力部
26 画像処理部
28 X線透過画像形成部
30 良否判定部
32 切換部
34 動作確認部
36 模擬劣化画質レベル設定手段(設定手段)
Claims (13)
- 被検査物に照射するX線を発生するX線発生器と、
前記被検査物を透過したX線を電気信号に変換するX線検出器と、
前記X線検出器の出力する電気信号に基づいてX線透過画像を形成するX線透過画像形成部と、
前記X線透過画像および予め設定された判定基準に基づいて、前記被検査物を良否判定する良否判定部とを備えるX線検査装置において、
前記良否判定部は、模擬劣化画質レベル設定手段を有し、前記模擬劣化画質レベル設定手段は、前記X線検査装置を模擬劣化状態にするために、前記判定基準に基づいて良品と判定されるようなX線透過画像である良品画像の画質を劣化させる目標レベルである模擬劣化画質レベルを設定し、
設定された前記模擬劣化画質レベルに対応させて、前記X線発生器,前記X線検出器,前記X線透過画像形成部の少なくとも一つを制御して、前記X線検査装置を模擬劣化状態にし、模擬劣化状態にある前記X線検査装置において、前記良否判定部の良否判定が正常であることを確認する動作確認部をさらに備える、ことを特徴とするX線検査装置。 - 前記模擬劣化画質レベル設定手段は、前記良品画像の画質レベルL0と、前記良品画像の画質を劣化させていったときに、前記判定基準に基づいて良品から不良品へ遷移したと判定される画質レベルL1とを取得し、前記画質レベルL0と前記画質レベルL1との差である画質劣化度に基づいて、前記模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記模擬劣化画質レベル設定手段は、前記模擬劣化画質レベルが、前記画質レベルL1に対して所定の余裕度を有するように、前記模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項2に記載のX線検査装置。
- 前記模擬劣化画質レベル設定手段は、予め決定された前記模擬劣化画質レベルが入力され、入力された前記模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項3に記載のX線検査装置。
- 前記模擬劣化画質レベル設定手段は、前記模擬劣化画質レベルを演算し、演算された前記模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項3に記載のX線検査装置。
- 前記動作確認部は、前記X線発生器を制御して、X線の照射強度を弱めることにより、前記良品画像の画質を前記模擬劣化画質レベルに劣化させる、ことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のX線検査装置。
- 前記動作確認部は、前記X線検出器を制御して、前記電気信号の信号レベルを弱めることにより、前記良品画像の画質を前記模擬劣化画質レベルに劣化させる、ことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のX線検査装置。
- 前記動作確認部は、前記X線透過画像形成部を制御して、前記X線透過画像の各画素の濃度を増減させることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載のX線検査装置。
- 前記X線透過画像形成部は、感度補正機能を有し、
前記X線透過画像形成部は、感度補正された前記X線透過画像を形成し、
前記模擬劣化画質レベル設定部は、感度補正された前記良品画像に基づいて、模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載のX線検査装置。 - 被検査物に照射するX線を発生するX線発生器と、
前記被検査物を透過したX線を電気信号に変換するX線検出器と、
前記X線検出器の出力する電気信号に基づいてX線透過画像を形成するX線透過画像形成部と、
前記X線透過画像および予め設定された判定基準に基づいて、前記被検査物を良否判定する良否判定部とを備えるX線検査装置の動作方法において、
前記X線検査装置の動作開始時に、前記X線透過画像形成部の感度補正を行ない、
前記X線検査装置を模擬劣化状態にするために、前記判定基準に基づいて良品と判定されるようなX線透過画像である良品画像の画質を劣化させる目標レベルである模擬劣化画質レベルを設定し、
設定された前記模擬劣化画質レベルに対応させて、前記X線発生器,前記X線検出器,前記X線透過画像形成部の少なくとも一つを制御して、前記X線検査装置を模擬劣化状態にし、模擬劣化状態にある前記X線検査装置において、前記良否判定部の良否判定が正常であることを確認し、
前記良否判定部の良否判定が正常であることが確認できたら、感度補正後の動作条件で、被検査物の検査を開始する、ことを特徴とするX線検査装置の動作方法。 - 前記動作確認時に、前記X線発生器を制御して、X線の照射強度を弱めることにより、前記良品画像の画質を前記模擬劣化画質レベルに劣化させる、ことを特徴とする請求項10に記載のX線検査装置の動作方法。
- 前記動作確認時に、前記X線検出器を制御して、前記電気信号の信号レベルを弱めることにより、前記良品画像の画質を前記模擬劣化画質レベルに劣化させる、ことを特徴とする請求項10または11に記載のX線検査装置。
- 前記動作確認時に、前記X線透過画像形成部を制御して、前記X線透過画像の各画素の濃度を増減させることを特徴とする請求項10,11または12に記載のX線検査装置。
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