JP5463671B2 - 焦点検出装置、顕微鏡 - Google Patents
焦点検出装置、顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5463671B2 JP5463671B2 JP2008554066A JP2008554066A JP5463671B2 JP 5463671 B2 JP5463671 B2 JP 5463671B2 JP 2008554066 A JP2008554066 A JP 2008554066A JP 2008554066 A JP2008554066 A JP 2008554066A JP 5463671 B2 JP5463671 B2 JP 5463671B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- focus detection
- sample
- microscope
- observation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 84
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 41
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 25
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 16
- 238000012576 optical tweezer Methods 0.000 description 14
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 2
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 2
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 2
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
- G02B21/245—Devices for focusing using auxiliary sources, detectors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/32—Micromanipulators structurally combined with microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
そこで本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、焦点検出に利用する光の波長帯域を限定し、それ以外のより広い波長帯域の光を顕微鏡による観察や焦点検出以外に使用可能とした焦点検出装置、及びこれを備えた顕微鏡を提供することを目的とする。
試料から発せられ撮像手段に入射する蛍光と、前記試料に照射する多光子励起観察用の励起光と、前記蛍光の波長帯域と前記多光子励起観察用の励起光の波長帯域とに挟まれる波長帯域の光であって前記試料に照射する焦点検出用の光とが入射し、入射する光から前記焦点検出用の光を分離し、前記試料と前記試料を撮影する撮像手段とを結ぶ観察光路に設置される光学部材と、
前記試料で反射した前記焦点検出用の光を受光する受光手段と、
前記受光手段からの信号に基づいて顕微鏡の対物レンズと前記試料との焦点ずれを検出する制御手段と、
を有することを特徴とする焦点検出装置を提供する。
また、本発明の第1態様によれば、
前記焦点検出装置は、前記多光子励起観察用の励起光を前記試料に入射させる光導入部材を有し、
前記光導入部材は、前記観察光路上であって前記光学部材と前記撮像手段との間に設置されることが望ましい。
また、本発明の第1態様によれば、
前記光学部材は前記焦点検出用の光を前記試料方向に反射し、前記試料から発せられ前記撮像手段に入射する前記蛍光を透過し、前記試料に照射する前記多光子励起観察用の励起光を透過することが望ましい。
また、本発明の第1態様によれば、
前記焦点検出装置は、前記焦点検出用の光の光路上に光軸方向に移動可能なオフセットレンズを有することが望ましい。
本発明の第2態様は、
本発明の第1態様に係る焦点検出装置を有する顕微鏡であって、
前記顕微鏡は試料載置用ステージと、前記焦点検出用の光を発する光源と、前記多光子励起観察用の励起光を発する光源と、
を有することを特徴とする顕微鏡を提供する。
また、本発明の第2態様によれば、
前記焦点検出用の光を発する光源は、波長帯域の異なる複数の光を選択的に発する光源であり、
前記光学部材は、前記光源の発する波長帯域の異なる複数の光にそれぞれ対応した複数のダイクロイックミラーを光路内へ挿脱可能に備えたダイクロイックミラーユニットであることが望ましい。
(第1実施形態)
はじめに、本実施形態に係る焦点検出装置を備えた顕微鏡の全体的な構成を説明する。
図1は、本発明の第1実施形態に係る焦点検出装置を備えた顕微鏡の全体構成を示す図である。
図1に示すように本顕微鏡1は、顕微鏡本体2と、焦点検出装置3と、光ピンセット光学系4とからなる。
本実施形態では、焦点検出に用いる光を除く光を非焦点ずれ検出光と称する。この非焦点ずれ検出光には、光ピンセット光や多光子励起光、更には例えば蛍光観察における観察対象物からの蛍光が含まれる。また、光ピンセット光や多光子励起光を発する光源を第2の光源と称する。
また、光ピンセット光学系4は、レーザ光源11と、該レーザ光源11側から順に、レンズ12と、ミラー13a、13bと、ハーフミラー14とを備えている。なお、ハーフミラー14は、顕微鏡本体2における対物レンズ8と結像レンズ9との間の光路中に配置されており、これによりレーザ光源11からのレーザ光を、顕微鏡本体2内の光路へ導き試料6へ照射することができる。また、本実施形態においてレーザ光源11は、波長λIR3=1064nmの赤外レーザ光を発するものである。
また、光ピンセット光学系4において、レーザ光源11から発せられたレーザ光は、レンズ12を経て、ミラー13a、13bによって反射され、顕微鏡本体2内のハーフミラー14へ導かれる。そしてこのレーザ光は、該ハーフミラー14によって反射され、後述するダイクロイックミラー15を透過した後、対物レンズ8を介して試料6に照射される。これにより、観察者は試料6に光ピンセット操作を行うことが可能となる(以下、「光ピンセット法による観察」という)。
本焦点検出装置3は、所定の波長帯域の光を発するIR光源16と、該IR光源16側から順に、レンズ17と、ハーフマスク18と、ハーフミラー19と、ダイクロイックミラー15とを備えており、さらにハーフミラー19の反射光路上には、結像レンズ20と、受光素子21とを備えている。なお、本実施形態においてIR光源16の発する所定の波長帯域の光とは、波長λIR1=770nmの近赤外光である。
また、ダイクロイックミラー15は、顕微鏡本体2における対物レンズ8とハーフミラー14との間の光路中に配置されており、これによりIR光源16からの光を顕微鏡本体2内の光路へ導くことができる。そして本実施形態におけるダイクロイックミラー15は、図2に示すようにIR光源16から発せられた所定の波長帯域の光、すなわち波長λIR1の近赤外光のみを反射する特性を有している。なお、図2は、本発明の第1実施形態における焦点検出装置3のダイクロイックミラー15の反射特性を示す図である。
これに伴い、本焦点検出装置3に備えられた制御部22は、受光素子21で得られた信号に基づいてレンズ界面6aの光軸方向位置を検出し、すなわち対物レンズ8とレンズ界面6aとの焦点ずれを検出し、顕微鏡本体2に備えられた不図示の対物レンズ駆動部を介して対物レンズ8を駆動することで、対物レンズ8の焦点位置にレンズ界面6aを配置する。これにより、顕微鏡本体2において試料6の合焦が達成される。なお、以上の合焦動作は、試料6の観察中常に実行されるため、試料6の合焦状態は観察中常に維持されることとなる。したがって本顕微鏡1は、投薬を伴う観察や長時間にわたる観察、さらには試料の複数の箇所の連続観察を行う場合に非常に有用である。
また、本実施形態における合焦動作は、上述のように対物レンズ8の焦点位置にレンズ界面6aを配置することで達成される。しかしながら本実施形態の構成はこれに限られず、本焦点検出装置3はさらに、ハーフミラー19とダイクロイックミラー15との間の光路中に、光軸方向へ移動可能なオフセットレンズを備えた構成とすることが望ましい。このオフセットレンズを移動させることで、レンズ界面6aを対物レンズ8の焦点位置へ配置する際に、レンズ界面6aを該焦点位置から任意のオフセット量だけ光軸方向へずらして配置することが可能となる。これにより、レンズ界面6a、すなわち試料6の表面だけでなく、試料6の深さ方向の所望の箇所に焦点合わせを行うことが可能となる。なお、斯かるオフセットレンズは、以下の各実施形態の焦点検出装置においても備えられていることが望ましい。
また、本実施形態では、上述のように不図示の対物レンズ駆動部によって対物レンズ8を上下動させて合焦動作を行っているが、本実施形態の構成はこれに限られず、ステージ駆動部を設け、ステージ7を上下動させて合焦動作を行う構成とすることもできる。なお、これは以下の各実施形態の顕微鏡においても同様である。
図3は、本発明の第2実施形態に係る焦点検出装置を備えた顕微鏡の全体構成を示す図である。
以下、本実施形態及び後述する第3実施形態に係る焦点検出装置を備えた顕微鏡について、上記第1実施形態と同様の構成である部分には同じ符号を付してその説明を省略し、異なる構成の部分について詳細に説明する。
本実施形態の焦点検出装置30は、上記第1実施形態の焦点検出装置におけるIR光源16に代えて図4Aに示す複数の波長の光を選択的に発することが可能なIR光源31を備え、さらにダイクロイックミラー15に代えて図4Bに示すダイクロイックミラーユニット32を備えている。
本実施形態においてIR光源31は、波長λIR1=770nmの近赤外光を発するLED31aと、波長λIR2=870nmの赤外光を発するLED31bと、波長λIR3=1064nmの赤外光を発するLED31cとを備えており、観察者はこれらのLEDを選択的に発光させることが可能である。なお、図4Aは、本発明の第2実施形態における焦点検出装置30のIR光源31の構成を示す図である。
また、ダイクロイックミラーユニット32には不図示のスライド機構が設けられており、このスライド機構を介して該ダイクロイックミラーユニット32を光路内へスライドさせることでダイクロイックミラー32a、32b、32cを選択的に光路内へ配置することが可能である。これにより、IR光源31において選択したLEDの波長に対応したダイクロイックミラーを光路内に配置することができる。
なお、これに伴い本焦点検出装置30に備えられた制御部22で行われる合焦動作及びその維持は上記第1実施形態と同様である。
また、以上はLED31aから発せられた波長λIR1の近赤外光について説明したが、LED31bから発せられる波長λIR2の赤外光、LED31cから発せられる波長λIR3の赤外光についても、それぞれに対応したダイクロイックミラーユニット32におけるダイクロイックミラー32b、ダイクロイックミラー32cを光路内へ配置することで同様の合焦動作及びその維持を達成することができる。
また本顕微鏡は、上述のように焦点検出装置30においてLED31a、31b、31cとこれに対応するダイクロイックミラー32a、32b、32cとを切り替えることで、通常観察と併用したい観察方法に合わせて焦点検出光の波長帯域を変更することができる。したがって具体的には、例えばダイクロイックミラー32bを光路内へ配置してLED31bを発光させる、即ち波長λIR2の赤外光を焦点検出光として使用すれば、図5に示すように通常観察(波長λFL1、λFL2、λFL3)に加えて、長波長の蛍光色素を使用する蛍光観察(波長λFL4)と光ピンセット法による観察(波長λIR3)とを行うことが可能となる。なお、このように焦点検出光の波長帯域を変更した場合でも、受光素子の信号検出条件を電気的に切り替える構成とすれば、試料6の合焦状態を維持することができる。
図6は、本発明の第3実施形態に係る焦点検出装置を備えた顕微鏡の全体構成を示す図である。
本実施形態の焦点検出装置40は、上記第1実施形態の焦点検出装置3におけるダイクロイックミラー15に代えて、図7に示すパーシャルミラー41を備えている。
図7A、7Bは、本発明の第3実施形態における焦点検出装置40のパーシャルミラー41の構成を示し、図7Aは上面図を、図7Bは正面図を示す。
図7Bに示すように、パーシャルミラー41は、後述するパーシャルミラー部42と、これを挟持する2つの三角柱プリズム43a、43bとからなる。そしてパーシャルミラー部42は、図7Bに示すようにIR光源16側から見て顕微鏡本体2における対物レンズ8の光軸方向へ長軸が伸びた楕円形状の透過面42aと、該透過面42aの長軸側の両端部に設けられた反射面42bとからなる。
なお、パーシャルミラー部42の透過面42aは、顕微鏡本体2において不図示の照明光源によって照明された試料6からの光、及び光ピンセット光学系4からのレーザ光を遮らない大きさに形成されているため、通常観察及び光ピンセット法による観察にパーシャルミラー41が支障をきたすことはない。さらに、遮る場合でも、その遮光量は小さいため、許容できるものである。
なお、これに伴い本焦点検出装置40に備えられた制御部22で行われる合焦動作及びその維持は上記第1実施形態と同様である。
また、本実施形態の焦点検出装置40は、IR光源16に代えて上記第2実施形態におけるIR光源31を備える構成とすることもできる。これにより、上記第2実施形態と同様の効果を奏することができる。また、パーシャルミラー41は焦点検出光の波長帯域に関わらず使用可能であるため、第2実施形態のようにダイクロイックミラーユニット32を光路内へスライドさせるような作業を必要としないため、よりスムーズな焦点検出光の切り替えを実現することができる。
Claims (6)
- 試料から発せられ撮像手段に入射する蛍光と、前記試料に照射する多光子励起観察用の励起光と、前記蛍光の波長帯域と前記多光子励起観察用の励起光の波長帯域とに挟まれる波長帯域の光であって前記試料に照射する焦点検出用の光とが入射し、入射する光から前記焦点検出用の光を分離し、前記試料と前記試料を撮影する撮像手段とを結ぶ観察光路に設置される光学部材と、
前記試料で反射した前記焦点検出用の光を受光する受光手段と、
前記受光手段からの信号に基づいて顕微鏡の対物レンズと前記試料との焦点ずれを検出する制御手段と、
を有することを特徴とする焦点検出装置。 - 前記焦点検出装置は、前記多光子励起観察用の励起光を前記試料に入射させる光導入部材を有し、
前記光導入部材は、前記観察光路上であって前記光学部材と前記撮像手段との間に設置されることを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。 - 前記光学部材は前記焦点検出用の光を前記試料方向に反射し、前記試料から発せられ前記撮像手段に入射する前記蛍光を透過し、前記試料に照射する前記多光子励起観察用の励起光を透過することを特徴とする請求項1または2に記載の焦点検出装置。
- 前記焦点検出装置は、前記焦点検出用の光の光路上に光軸方向に移動可能なオフセットレンズを有することを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の焦点検出装置。
- 請求項1から4の何れか1項に記載の焦点検出装置を有する顕微鏡であって、
前記顕微鏡は試料載置用ステージと、前記焦点検出用の光を発する光源と、前記多光子励起観察用の励起光を発する光源と、
を有することを特徴とする顕微鏡。 - 前記焦点検出用の光を発する光源は、波長帯域の異なる複数の光を選択的に発する光源であり、
前記光学部材は、前記光源の発する波長帯域の異なる複数の光にそれぞれ対応した複数のダイクロイックミラーを光路内へ挿脱可能に備えたダイクロイックミラーユニットであることを特徴とする請求項5に記載の顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008554066A JP5463671B2 (ja) | 2007-01-19 | 2008-01-09 | 焦点検出装置、顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007010541 | 2007-01-19 | ||
JP2007010541 | 2007-01-19 | ||
PCT/JP2008/050463 WO2008087992A1 (ja) | 2007-01-19 | 2008-01-09 | 焦点検出装置、顕微鏡 |
JP2008554066A JP5463671B2 (ja) | 2007-01-19 | 2008-01-09 | 焦点検出装置、顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008087992A1 JPWO2008087992A1 (ja) | 2010-05-06 |
JP5463671B2 true JP5463671B2 (ja) | 2014-04-09 |
Family
ID=39635994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008554066A Active JP5463671B2 (ja) | 2007-01-19 | 2008-01-09 | 焦点検出装置、顕微鏡 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8208202B2 (ja) |
EP (1) | EP2107406A4 (ja) |
JP (1) | JP5463671B2 (ja) |
CN (1) | CN101583895B (ja) |
WO (1) | WO2008087992A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2497700A (en) * | 2011-01-12 | 2013-06-19 | Idea Machine Dev Design & Production Ltd | Compact microscopy system and method |
JP6153321B2 (ja) * | 2012-12-10 | 2017-06-28 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
JP6171824B2 (ja) * | 2013-10-10 | 2017-08-02 | セイコーエプソン株式会社 | 液体噴射ヘッドの製造方法 |
US9488820B2 (en) | 2014-04-10 | 2016-11-08 | Thorlabs, Inc. | Autofocus system |
WO2017090210A1 (ja) * | 2015-11-27 | 2017-06-01 | 株式会社ニコン | 顕微鏡、観察方法、及び画像処理プログラム |
DE102016119727A1 (de) * | 2016-10-17 | 2018-04-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zur Strahlmanipulation für ein Scanning-Mikroskop und Mikroskop |
JP2021032628A (ja) * | 2019-08-21 | 2021-03-01 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 顕微鏡画像測定装置及び顕微鏡画像測定方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6173132A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-15 | Minolta Camera Co Ltd | 補助光を用いた自動焦点調整を行なうカメラシステム |
JP2002303800A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-18 | Nikon Corp | 光による微粒子操作装置 |
JP2003270524A (ja) * | 2002-03-19 | 2003-09-25 | Nikon Corp | 焦点検出装置およびこれを備えた顕微鏡、および、焦点検出方法 |
JP2006201465A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Olympus Corp | 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 |
JP2006309088A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Research Organization Of Information & Systems | 顕微鏡合焦位置高精度計測法 |
JP2006343783A (ja) * | 2006-09-19 | 2006-12-21 | Nikon Corp | コンフォーカル顕微鏡 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3828381C2 (de) * | 1988-08-20 | 1997-09-11 | Zeiss Carl Fa | Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung eines optischen Systems |
US5537168A (en) * | 1991-04-26 | 1996-07-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Projection optical apparatus comprising automatic adjustment unit |
JPH1020198A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Olympus Optical Co Ltd | 近赤外線顕微鏡及びこれを用いた顕微鏡観察システム |
US6226118B1 (en) * | 1997-06-18 | 2001-05-01 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical microscope |
US7202953B1 (en) * | 1998-12-21 | 2007-04-10 | Evotec Biosystems Ag | Scanning microscopic method having high axial resolution |
US6603607B2 (en) * | 2000-04-07 | 2003-08-05 | Nikon Corporation | Minute particle optical manipulation method and apparatus |
DE10035190C5 (de) * | 2000-07-20 | 2009-07-16 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Fluoreszenzmessung |
JP4021183B2 (ja) * | 2001-11-29 | 2007-12-12 | オリンパス株式会社 | 合焦状態信号出力装置 |
IL148664A0 (en) * | 2002-03-13 | 2002-09-12 | Yeda Res & Dev | Auto-focusing method and device |
JP4370554B2 (ja) * | 2002-06-14 | 2009-11-25 | 株式会社ニコン | オートフォーカス装置およびオートフォーカス付き顕微鏡 |
CN2550755Y (zh) * | 2002-07-03 | 2003-05-14 | 中国科学技术大学 | 分散体系稳定程度的微观诊断装置 |
JP4121849B2 (ja) * | 2002-12-26 | 2008-07-23 | オリンパス株式会社 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
JP2005062515A (ja) * | 2003-08-13 | 2005-03-10 | Nikon Corp | 蛍光顕微鏡 |
HUP0401802A2 (en) * | 2004-09-02 | 2006-03-28 | 3D Histech Kft | Focusing method object carriers on fast-moving digitalization and object carrier moving mechanics, focusing optic, optical distance-measuring instrument |
JP2006276193A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Nikon Corp | 顕微鏡 |
-
2008
- 2008-01-09 EP EP08703323A patent/EP2107406A4/en not_active Ceased
- 2008-01-09 CN CN2008800021034A patent/CN101583895B/zh active Active
- 2008-01-09 WO PCT/JP2008/050463 patent/WO2008087992A1/ja active Application Filing
- 2008-01-09 JP JP2008554066A patent/JP5463671B2/ja active Active
-
2009
- 2009-07-09 US US12/500,202 patent/US8208202B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6173132A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-15 | Minolta Camera Co Ltd | 補助光を用いた自動焦点調整を行なうカメラシステム |
JP2002303800A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-18 | Nikon Corp | 光による微粒子操作装置 |
JP2003270524A (ja) * | 2002-03-19 | 2003-09-25 | Nikon Corp | 焦点検出装置およびこれを備えた顕微鏡、および、焦点検出方法 |
JP2006201465A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Olympus Corp | 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 |
JP2006309088A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Research Organization Of Information & Systems | 顕微鏡合焦位置高精度計測法 |
JP2006343783A (ja) * | 2006-09-19 | 2006-12-21 | Nikon Corp | コンフォーカル顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2008087992A1 (ja) | 2010-05-06 |
US8208202B2 (en) | 2012-06-26 |
EP2107406A1 (en) | 2009-10-07 |
WO2008087992A1 (ja) | 2008-07-24 |
CN101583895B (zh) | 2012-09-05 |
CN101583895A (zh) | 2009-11-18 |
US20090273830A1 (en) | 2009-11-05 |
EP2107406A4 (en) | 2012-02-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5463671B2 (ja) | 焦点検出装置、顕微鏡 | |
US7639357B2 (en) | Laser scanning microscope | |
JP4546741B2 (ja) | 蛍光顕微鏡 | |
US8040597B2 (en) | Illuminating device | |
JP5006694B2 (ja) | 照明装置 | |
EP2315065B1 (en) | Microscope | |
US20070051869A1 (en) | Scanning microscope and method for examining a sample by using scanning microscopy | |
JPWO2006001259A1 (ja) | 蛍光測光装置 | |
US6924490B2 (en) | Microscope system | |
JP4854880B2 (ja) | レーザー顕微鏡 | |
US7170676B2 (en) | Illumination switching apparatus and method | |
JP2003270538A (ja) | 顕微鏡システム | |
JP2017523469A (ja) | 顕微鏡および微小試料の光学的な検査および/または操作のための方法 | |
US11709137B2 (en) | Light sheet fluorescence microscope | |
JP4855007B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡 | |
JP2000098250A (ja) | 落射蛍光顕微鏡 | |
JP4172212B2 (ja) | 顕微鏡標本の照明方法とこれを用いた照明装置を有する顕微鏡 | |
JPH11231227A (ja) | 実体顕微鏡 | |
JP5145119B2 (ja) | 内視鏡光源装置 | |
JP4406108B2 (ja) | 多光子励起レーザ顕微鏡 | |
JP2005010296A (ja) | 蛍光顕微鏡 | |
JP4563699B2 (ja) | 照明切換装置 | |
JP2002090640A (ja) | 紫外線顕微鏡 | |
JP2006133747A (ja) | 顕微鏡装置及びレーザユニット | |
US20180059397A1 (en) | Microscope system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110111 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110126 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110323 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130416 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130617 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131224 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140106 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5463671 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |