JP4855007B2 - 走査型レーザ顕微鏡 - Google Patents
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特許文献1に開示されている走査型レーザ顕微鏡は、蛍光観察を行うために試料に照射する観察用レーザ光を光軸に垂直な面内で走査させる第1のレーザ走査装置と、刺激用レーザ光を試料平面の任意の位置に照射するために刺激用レーザ光を移動させる第2のレーザ走査装置とを備えている。
本発明は、試料を励起する観察用レーザ光を発する観察用レーザ光源と、該観察用レーザ光を、対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する第1の光走査装置と、前記観察用レーザ光が照射された試料から発せられる光を検出する検出光学系と、試料に光刺激を与える刺激用レーザ光を発する刺激用レーザ光源と、該刺激用レーザ光を、前記対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する、前記第1の光走査装置とは異なる第2の光走査装置と、前記観察用レーザ光および前記刺激用レーザ光により形成されるスポット光の位置を検出するスポット位置検出手段と、該スポット位置検出手段により検出された観察用レーザ光および刺激用レーザ光のスポット光の位置に基づいて、前記観察用レーザ光および刺激用レーザ光の位置ずれを補正する補正手段とを備える走査型レーザ顕微鏡を提供する。
光学部品を切り替えたり交換したり、あるいは観察用レーザ光あるいは刺激用レーザ光の波長を切り替えたりする場合、観察用レーザ光あるいは刺激用レーザ光の角度が一方向にずれる場合が多い。本発明によれば、補正手段の作動により、第1の光走査装置または第2の光走査装置の少なくとも一方の走査角にオフセットを付与することで、レーザ光の角度ずれを簡易に補正して、観察画像上で指定した位置に刺激用レーザ光を正確に照射することが可能となる。
このように構成することで、光路合成手段の作動により観察用レーザ光と刺激用レーザ光の光路が合成される。合成されたレーザ光は、光路合成手段と対物レンズとの間に配置されているスポット位置検出手段の作動により、それらのスポット位置が一度に検出され、補正手段の作動により、観察用レーザ光と刺激用レーザ光との位置合わせを容易に行うことができる。この場合に、対物レンズにレーザ光を入射させることなく位置合わせを行うので、試料にレーザ光を照射する必要がなく、位置合わせ作業中の試料の退色等の発生を防止することができる。また、試料に代えて調整用のチャートのような基準サンプルをステージ上に配置する必要がなく、調製前後において同一の観察状態を保持することができる。
このようにすることで、レーザ光の位置合わせを行う際には、光路合成手段と対物レンズとの間にスポット位置検出手段を挿入し、観察を行う際には、光路合成手段と対物レンズとの間からスポット位置検出手段を抜き出すことにより、試料をステージに配置したままの状態で、観察用レーザ光と刺激用レーザ光との位置合わせと観察とを行うことができる。したがって、試料を移動させずにすむので、調整の前後において、同一の観察状態を保持することができる。また、試料に代えて調整用チャートのような基準サンプルをステージ上に配置する必要がなく、調整作業を容易にすることができる。
このようにすることで、観察用レーザ光と刺激用レーザ光の位置合わせと、これらのレーザ光を用いた試料の観察とをミラーの挿脱によって簡易に切り替えることができる。
このようにすることで、ビームスプリッタを介して観察用レーザ光と刺激用レーザ光とを常にスポット位置検出器に導くことができ、第1の光走査装置および第2の光走査装置によるレーザ光の走査を行わないときには、ミラーの挿脱等を行わなくても、いつでも観察用レーザ光と刺激用レーザ光の位置合わせ作業を行うことができる。
このようにすることで、観察用レーザ光および刺激用レーザ光がそれぞれ照射されることにより試料から発せられる反射光のような光が対物レンズによって集光された後、撮像素子に結像される。したがって、撮像素子により取得された観察用レーザ光および刺激用レーザ光の光スポットの位置に基づいて、補正手段の作動により、観察用レーザ光と刺激用レーザ光との位置合わせを行うことができる。
試料からの光の結像位置には、通常、水銀灯等の照明により試料より発する蛍光等を撮像するための撮像素子が着脱可能に配置されるので、その着脱位置を利用してスポット位置検出用の撮像素子を取り付けることにより、既存の走査型レーザ顕微鏡に後付けで、レーザ光の位置合わせ機能を容易に搭載することが可能となる。また、水銀灯を光源とする蛍光観察用の撮像素子が備えられている場合には、スポット位置検出用の撮像素子として共用するようにしてもよい。
このようにすることで、試料を透過する観察用レーザ光および刺激用レーザ光のスポット位置を撮像素子により検出でき、観察時と位置調節時とで、光路を切り替えることなく任意のタイミングで位置調整を行うことができる。また、透過光路にコンデンサユニットが備えられている場合には、該コンデンサユニットの代わりにスポット位置検出手段を装着することができ、装置への後付けが容易である。
このようにすることで、観察用レーザ光および刺激用レーザ光のスポット位置を簡易に検出することができる。
レーザ光が略平行光となる位置におけるレーザ光の傾斜角度が、観察用レーザ光および刺激用レーザ光の照明位置に影響するので、角度センサの作動によりレーザ光の傾斜角度を検出することによりスポット位置ずれを容易に検出することができる。
刺激用レーザ光源として極短パルスレーザ光を発するレーザ光源を使用することにより、非ディスキャン検出器によって、鮮明な蛍光画像を取得することが可能となり、観察用レーザ光に基づく蛍光画像との対比を容易にして精度よく位置調整を行うことができる。
このようにすることで、試料を透過する刺激用レーザ光の画像を非ディスキャン検出器により検出できる。
このようにすることで、非ディスキャン検出器により鮮明な蛍光画像を取得することができ、観察用レーザ光に基づく蛍光画像との対比を容易にし、精度よく位置合わせを行うことができる。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡1は、図1に示されるように、観察用レーザ光L1を発する観察用レーザ光源2と、観察用レーザ光L1を2次元的に走査する第1の光走査装置3と、刺激用レーザ光L2を発する刺激用レーザ光源4と、刺激用レーザ光L2を2次元的に走査する第2の光走査装置5と、これら第1,第2の光走査装置3,5により走査された観察用レーザ光L1および刺激用レーザ光L2を結像させる瞳投影レンズ6,7と、これら観察用レーザ光L1および刺激用レーザ光L2の光路を合成する光路合成用ダイクロイックミラー8と、合成されたレーザ光Lを略平行光にする結像レンズ9と、略平行光にされたレーザ光を試料Aに集光する対物レンズ10と、試料Aを載置するステージ11と、試料Aに観察用レーザ光L1を照射することにより発生し、対物レンズ10、結像レンズ9、光路合成用ダイクロイックミラー8、第1の光走査装置5を介して戻る蛍光Fを検出する光検出器12,13と、前記光路合成用ダイクロイックミラー8と前記対物レンズ10との間に挿脱可能に配置され、前記観察用レーザ光L1および前記刺激用レーザ光L2により形成されるスポット光の位置を検出するスポット位置検出装置14と、各種装置を制御する制御部15とを備えている。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡1を用いて試料Aを観察する場合には、観察用レーザ光源2である可視レーザ光源2Aまたは赤外パルスレーザ光源2Bの少なくとも一方を作動させる。制御部15は、AOTF16および波長切替制御装置17を作動させることにより、観察用レーザ光L1の波長を設定するとともに、AOTF16およびAOM18を作動させることにより、観察用レーザ光L1の強度を調節する。
また、制御部15は、光路合成用ダイクロイックミラー8のミラー駆動装置25を作動させ、空穴8cが光路内に配置されるように光路合成用ダイクロイックミラー8を移動させる。
また、このとき、キューブターレット45のキューブ切替装置48を作動させ、反射ミラー47aを含むミラーキューブ47を選択しておく。
また、数%のレーザ光L1,L2を常時分岐して検出しているので、例えば、装置の立ち上げ時や画像を取得する直前などに、定期的にあるいは必要に応じて、任意のタイミングで補正作業を容易に行うことが可能となる。
なお、以下の各実施形態の説明において、特に言及しない場合には、上述した第1の実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡1と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を省略する。
この場合において、本実施形態においても、観察用レーザ光L1と刺激用レーザ光L2との光軸合わせの際に、両レーザ光L1,L2を試料Aに照射させずに済むので、補正作業中における試料Aの退色等の不都合の発生を未然に防止することができる。
また、本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100によれば、通常、着脱可能に設けられるキューブターレット45の着脱位置を利用してスポット位置検出装置101を配置するので、キューブターレット45のスペースをそのまま利用することができる。したがって、既存の走査型レーザ顕微鏡100に後付けで、スポット位置検出手段101を取り付けることが容易になり、また、キューブターレット45用のスペースとして既に確保されているスペースを利用することで、装置全体の大型化を防止することができる。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡110は、図6に示されるように、第1の実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡1の光路合成用ダイクロイックミラー8と対物レンズ10との間に挿脱可能なスポット位置検出装置14に代えて、試料Aを挟んで対物レンズ10と対向する位置に、結像レンズ111と撮像素子112とを備えるスポット位置検出装置113を備えている。
また、予め透過照明用のコンデンサレンズの代わりに装着するので、既存の走査型レーザ顕微鏡に後付けで、スポット位置検出装置113を取り付けることが容易になり、また、既にコンデンサレンズ用に確保されているスペースを利用することで、装置全体の大型化を防止することができる。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡120は、図7に示されるように、第1の実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡1の光路合成用ダイクロイックミラー8と対物レンズ10との間に挿脱可能なスポット位置検出装置14に代えて、接眼レンズ38用の鏡筒121の上部に配置されるスポット位置検出装置122を備えている。スポット位置検出装置122は、鏡筒121内の結像レンズ39による結像位置に撮像面を配置する撮像素子123を備えている。
なお、本実施形態の説明においては、上述した第4の実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡120と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡140は、第3の実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡110のスポット位置検出ユニット113に代えて、試料Aにおいて発生した蛍光F1,F2を集光する結像レンズ141と、試料Aを透過した観察用レーザ光L1および刺激用レーザ光L2を遮断し、刺激用レーザ光L2によって発生した蛍光F2のみを透過するバリアフィルタ142と、バリアフィルタ142を透過した蛍光F2を略平行光にするコリメートレンズ143と、略平行光にされた蛍光F2を検出する非ディスキャン検出器144とを備えている。
一方、刺激用レーザ光L2が試料Aに照射されると、試料Aにおいて発生した蛍光F2が試料Aを透過して、透過照明光路に入り、結像レンズ141、バリアフィルタ142、ミラー147、コリメートレンズ143およびミラー145を介して非ディスキャン検出器144により検出される。これにより、刺激用レーザ光L2の走査画像を取得することができる。
一方、観察用レーザ光源L1として超短パルスレーザ光を出射する光源を使用する場合には、前記光検出器144を多光子蛍光画像を取得するための非ディスキャン検出器として使用することができる。したがって、試料Aにおいて多光子励起効果を発生させることにより、試料Aの所定深さ位置における鮮明な蛍光画像を取得することができる。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡150は、上記第6の実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡140と比較して、非ディスキャン検出器151の位置が相違している。
L1 観察用レーザ光
L2 刺激用レーザ光
F,F1,F2 蛍光(光)
1,100,110,120,130,140,150 走査型レーザ顕微鏡
2,2A,2B 観察用レーザ光源
3 第1の光走査装置
4 刺激用レーザ光源
5 第2の光走査装置
8 光路合成用ダイクロイックミラー(光路合成手段)
10 対物レンズ
12,13 検出光学系
14,101,113,122 スポット位置検出手段
15 制御部(補正手段)
34 ミラー
36,104,112,123 撮像素子(スポット位置検出器)
45 キューブターレット
46,47,47′,47″ ミラーキューブ
111,141 結像レンズ(結像手段)
142,152 バリアフィルタ
144,151 非ディスキャン検出器
Claims (17)
- 試料を励起する観察用レーザ光を発する観察用レーザ光源と、
該観察用レーザ光を、対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する第1の光走査装置と、
前記観察用レーザ光が照射された試料から発せられる光を検出する検出光学系と、
試料に光刺激を与える刺激用レーザ光を発する刺激用レーザ光源と、
該刺激用レーザ光を、前記対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する、前記第1の光走査装置とは異なる第2の光走査装置と、
前記観察用レーザ光および前記刺激用レーザ光により形成されるスポット光の位置を検出するスポット位置検出手段と、
該スポット位置検出手段により検出された観察用レーザ光および刺激用レーザ光のスポット光の位置に基づいて、前記観察用レーザ光および刺激用レーザ光の位置ずれを補正する補正手段とを備える走査型レーザ顕微鏡。 - 前記補正手段が、前記第1の光走査装置または前記第2の光走査装置の少なくとも一方の走査角にオフセットを付与する請求項1に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記観察用レーザ光の光路と前記刺激用レーザ光の光路とを合成する光路合成手段を備え、
前記スポット位置検出手段が、前記光路合成手段と前記対物レンズとの間に配置されている請求項1または請求項2に記載の走査型レーザ顕微鏡。 - 前記スポット位置検出手段が、前記光路合成手段と前記対物レンズとの間の光路に挿脱可能に設けられている請求項3に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記光路合成手段と対物レンズとの間に、複数のミラーキューブを有するキューブターレットが着脱可能に設けられるとともに、
前記スポット位置検出手段が、前記キューブターレットの着脱位置に、着脱可能に設けられている請求項4に記載の走査型レーザ顕微鏡。 - 前記スポット位置検出手段が、撮像素子または多分割センサからなるスポット位置検出器と、光路に挿脱可能に設けられ、光路上に配置されたときに、観察用レーザ光および刺激用レーザ光を前記スポット位置検出器に導くミラーとを備える請求項3に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記スポット位置検出手段が、撮像素子または多分割センサからなるスポット位置検出器と、観察用レーザ光および刺激用レーザ光の一部を前記スポット位置検出器に導くビームスプリッタとを備える請求項3または請求項4に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記スポット位置検出手段は、前記観察用レーザ光および前記刺激用レーザ光が前記対物レンズを介して試料に照射されることにより試料から発せられる光が対物レンズを介して結像する位置に配置された撮像素子を備える請求項1または請求項2に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記撮像素子が、着脱可能に設けられている請求項8に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記スポット位置検出手段は、前記観察用レーザ光および前記刺激用レーザ光が前記対物レンズを介して試料に照射されることにより試料から発せられる光を、試料に対して前記対物レンズとは反対側において結像させる結像手段と、該結像手段による結像位置に配置された撮像素子とを備える請求項1または請求項2に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記スポット位置検出手段が、荷電結合素子または多分割センサである請求項1から請求項5のいずれかに記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記スポット位置検出手段は、前記観察用レーザ光および刺激用レーザ光が略平行光となる位置に配置され、これら観察用レーザ光および刺激用レーザ光の傾斜角度を検出する角度センサを備え、検出された傾斜角度に基づいてスポット位置のずれを検出する請求項1から請求項5のいずれかに記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 試料を励起する観察用レーザ光を発する観察用レーザ光源と、
該観察用レーザ光源を対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する第1の光走査装置と、
前記観察用レーザ光が照射された試料から発せられる光を検出する検出光学系と、
試料に光刺激を与える刺激用レーザ光を発する刺激用レーザ光源と、
該刺激用レーザ光を前記対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する、前記第1の光走査装置とは異なる第2の光走査装置と、
前記観察用レーザ光と刺激用レーザ光の光路を合成する光路合成手段と、
前記第2の光走査装置の作動により、刺激用レーザ光を試料上で走査した際に得られる蛍光、反射光または透過光を走査装置を経ることなく検出する非ディスキャン検出器と、
該非ディスキャン検出器により取得された刺激用レーザ光に基づく走査画像と、前記検出光学系により取得された観察用レーザ光に基づく走査画像とに基づいて、刺激用レーザ光および観察用レーザ光の位置ずれを求め、この位置ずれを補正する補正手段とを備える走査型レーザ顕微鏡。 - 試料を励起する観察用レーザ光を発する観察用レーザ光源と、
該観察用レーザ光源を対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する第1の光走査装置と、
試料に光刺激を与える刺激用レーザ光を発する刺激用レーザ光源と、
該刺激用レーザ光を前記対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する、前記第1の光走査装置とは異なる第2の光走査装置と、
前記観察用レーザ光と刺激用レーザ光の光路を合成する光路合成手段と、
前記観察用レーザ光および前記刺激用レーザ光を試料上で走査した際に得られる光を走査装置を経ることなく検出する非ディスキャン検出器と、
該非ディスキャン検出器により取得された観察用レーザ光および刺激用レーザ光に基づく走査画像に基づいて、刺激用レーザ光および観察用レーザ光の位置ずれを求め、この位置ずれを補正する補正手段とを備える走査型レーザ顕微鏡。 - 前記非ディスキャン検出器が、試料に対して前記対物レンズとは反対側の光路上に配置されている請求項13または請求項14に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記非ディスキャン検出器の前段に刺激用レーザ光を遮断し、蛍光を透過するバリアフィルタを備える請求項13から請求項15のいずれかに記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 試料を励起する観察用レーザ光を発する観察用レーザ光源と、
該観察用レーザ光源を対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する第1の光走査装置と、
前記観察用レーザ光が照射された試料から発せられる光を検出する検出光学系と、
試料に光刺激を与える刺激用レーザ光を発する刺激用レーザ光源と、
該刺激用レーザ光を、前記試料に対して対物レンズとは反対側から入射させて試料上で2次元的に走査する、前記第1の光走査装置とは異なる第2の光走査装置と、
前記観察用レーザ光および前記刺激用レーザ光が試料に照射されることにより試料から発せられる光が対物レンズを介して結像する位置に配置され、スポット光の位置を検出する撮像素子からなるスポット位置検出手段と、
該スポット位置検出手段により検出されたスポット光の位置に基づいて、前記観察用レーザ光および刺激用レーザ光の位置ずれを補正する補正手段とを備える走査型レーザ顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005232011A JP4855007B2 (ja) | 2005-08-10 | 2005-08-10 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005232011A JP4855007B2 (ja) | 2005-08-10 | 2005-08-10 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007047465A JP2007047465A (ja) | 2007-02-22 |
JP4855007B2 true JP4855007B2 (ja) | 2012-01-18 |
Family
ID=37850336
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005232011A Expired - Fee Related JP4855007B2 (ja) | 2005-08-10 | 2005-08-10 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4855007B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5153171B2 (ja) * | 2007-03-16 | 2013-02-27 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置とその制御方法 |
JP2008298861A (ja) * | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Olympus Corp | 観察装置 |
JP2009198903A (ja) * | 2008-02-22 | 2009-09-03 | Olympus Corp | 光学機器 |
JP5620319B2 (ja) | 2011-03-23 | 2014-11-05 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
JP5988676B2 (ja) * | 2012-05-02 | 2016-09-07 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置 |
DE102017217378A1 (de) * | 2017-09-29 | 2019-04-04 | Carl Zeiss Meditec Ag | Vorrichtung zur Auskopplung eines Teiles der Strahlung eines jederzeit frei wählbaren Beobachtungsstrahlenganges eines Binokulars |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07199079A (ja) * | 1993-12-29 | 1995-08-04 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微測光装置 |
JPH11305138A (ja) * | 1998-04-17 | 1999-11-05 | Olympus Optical Co Ltd | 光走査装置 |
JP2003050354A (ja) * | 2001-08-06 | 2003-02-21 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザ顕微鏡 |
-
2005
- 2005-08-10 JP JP2005232011A patent/JP4855007B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007047465A (ja) | 2007-02-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110517 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110715 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111018 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111026 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141104 Year of fee payment: 3 |
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