JP5461711B2 - 高強度、高伝導性を有する銅合金及びその製造方法 - Google Patents

高強度、高伝導性を有する銅合金及びその製造方法 Download PDF

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Description

発明の詳細な説明
〔技術分野〕
本発明は、引張強度を増大ないしは維持しながら、高伝導性と高加工性を有する半導体用リードフレーム材、発光ダイオード(LED)リードフレーム材などに適した銅合金及びその製造方法に関する。
〔背景技術〕
リードフレーム用銅合金としては、Cu−Fe−P合金が一般的に使われている。例えば、Fe0.05〜0.15重量%、P0.025〜0.04重量%を含有した銅合金(C19210)や、Fe2.1〜2.6重量%、P0.015〜0.15重量%、Zn0.05〜0.20重量%を含有した銅合金(CDA194)は、銅合金の中でも強度及び伝導性に優れ、国際標準合金として広く使われている。
しかし、高集積化や小型化が進むにつれ、電気、熱伝導性以外に、加工性に必要な高伸率性、メッキ性などの表面状態に優れた高伝導用銅合金がより強く要求されている。
Cu−Fe−P合金の長所は高導電率が特徴であるが、高強度のために、FeとPの含量を増やしたり、Sn、Mg、Caなどの第3元素を添加することもあったが、これらの元素量を増加させると、強度は増加するが、必然的に導電率が低下する。したがって、銅合金での成分組成の制御だけで、上記した半導体装置に大容量化、小型化及び高機能化の傾向によって要求される高導電率と高強度のバランスが良い、又はこれらの特性を両立した銅合金を実現するのには限界がある。
日本特開2001−244400号の実施例1では、Fe2.41重量%、Zn0.24重量%、P0.03重量%であり、残部がCuからなっており、このような組成の溶湯を鋳塊として熱間加工及び溶体化処理、1次冷間圧延、時効処理、最終パス(pass)のロール(roll)径が100mm以上、圧延速度が200mm/min以上、圧延油の粘度が0.05cm2/S以上の条件で最終冷間圧延(加工度50%)、焼鈍の順に銅合金を製造した。
しかし、Feの含有量が2.4重量%を超えれば、導電率などの材料の特性だけでなく、鋳造性などの生産性が著しく低下するという問題が発生する。実際に上記の特許文献の実施例1では、Cu−Fe−P系銅合金の引張強度は530MPaと比較的に高いが、導電率は63%IACSで、高導電率を確保することができなかった。
日本特開2000−178670号では、FeまたはNiとPの合計を0.05〜2.0重量%、Zn5重量%以上、Sn0.1〜3.30重量%であり、残部がCuからなっており、FeまたはNiとPの原子量比(Fe/P、Ni/P、(Fe+Ni)/P)が0.2〜3.0であり、粒径が35μm以下に制御され、0.2μm未満のFe−P化合物が均一に分散している銅合金が開示されている。
しかし、ZnやSnの含有量が多いので、微細な析出物粒子を増やしたとしても、必然的に両立したCu−Fe−P系銅合金を実現するのに問題点があった。
日本特開昭63−161134号では、Fe0.01〜0.3重量%、P0.4重量%以下、Zn1.5〜5.0重量%、Sn0.2〜1.5重量%であり、残部がCuからなった銅合金が開示されている。近年、電子部品の小型化に伴って、電子部品用の材料も薄くなる傾向にあり、その材料には高い強度が要求されている。
しかし、上記の特許においては、高強度の銅合金を得ようとする場合、冷間圧延の加工度を高くしなければならず、そのため、加工性が悪くなるという問題点があった。
〔発明の概要〕
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は、上記した従来の問題点を改善するためのもので、銅合金組成を適切に配合し、既存の製品より優れた引張強度、電気伝導度を同時に兼備して、端子、コネクタ、スイッチ、リレーなどの電気、電子部品に適した銅合金を提供しようとすることにその目的がある。
〔課題を解決するための手段〕
上記した目的を達成するための本発明は、100重量%中に、Fe0.05〜0.25重量%、P0.025〜0.15重量%、Cr0.01〜0.25重量%、Si0.01〜0.15重量%、Mg0.01〜0.25重量%であり、残りがCu及び不可避的不純物で組成された高伝導性、高強度を有する電気及び電子部品用銅合金からなる。
また、本発明は、上記した組成に、Zn、Sn、Mn、Al、Niのうち少なくとも1種を1.0重量%以下に組成することができる。
上記した組成を有する本発明は、Cu基地にFe粒子分散及びFeとPの結合によるFe−P系析出物を形成して、電気伝導度及び強度を向上させるもので、Fe0.05%未満では、分散効果及び析出物の形成の不足によって強度の確保が難しく、Fe0.25重量%超過時には、添加元素の含量の過多によって適正析出量を外れ、電気伝導度が低下するため、特性を要求するリードフレーム用要求水準である70%IACSを確保しにくい。
本発明は、Cu基地にCrとSiの結合によるCr-Si系析出物を形成して、電気伝導度及び強度を向上させるもので、Cr0.01重量%未満の場合、析出物の形成の不足によって強度の確保及び加工性の向上が難しく、Cr0.25重量%超過時には、Cr-Si系析出物が粗大化するため導電率の低下を招く。
図3は、Cuマトリックス内に析出されたCr−Si系析出物を示す走査電子顕微鏡写真である。
本発明は、Cu基地にMgとPの結合によるMg−P系析出物を形成して、電気伝導度及び強度を向上させるもので、Mg0.01重量%未満の場合、析出物の形成の不足によって強度の確保が難しく、Mg0.25重量%超過時には、電気伝導度の大幅な低下や曲げ加工性の低下を招き、製造コストが増大する。
図4は、Cuマトリックス内に析出されたMg−P系析出物を示す走査電子顕微鏡写真である。
本発明は、Si0.01重量%未満時には、溶解鋳造時の脱酸及び鋳塊加熱の後の製造工程の析出物の生成が不十分であるため、強度に寄与できず、Siを0.15重量%以上含有させると、上記した効果に対するこれ以上の改善効果がないと同時に、導電率の低下が大きくなるためである。
図2は、Cuマトリックス内に析出されたMg−Si系析出物を示す走査電子顕微鏡写真である。
Pは、脱酸作用及びFe、Mgと析出物を形成し、銅合金の強度や耐熱性を向上させる主要元素であって、P0.025重量%未満では、析出物の形成が不足であるため、十分な強度や耐熱性が得られず、P0.15重量%超過時には、導電率の低下だけでなく、耐熱性や熱間加工性、プレス加工性が低下する。
本発明は、上記の合金組成において、Fe、Mg及びPの比率が(Mg+Fe)/P=0.4〜50からなり、好ましくは、Fe、Mg、Pの比率が(Mg+Fe)/P=2〜10である。
また、本発明は、Cr、Mg、Siの比率が(Cr+Mg)/Si=0.1〜50からなり、好ましくは、Cr、Mg、Siの比率が(Cr+Mg)/Si=1〜10である。
本発明は、上記した組成に、Zn、Sn、Mn、Al、Niのうち少なくとも1種を1.0重量%以下添加させ得るもので、前記元素は、電気伝導度及び強度に影響を及ぼし、その添加量が1.0重量%を超過すると、強度は増加するが電気伝導度が低下する。
また、本発明は、図1に示すように、上記した組成になるように溶湯を得るステップ、次いで鋳造して鋳塊を得るステップ、850〜1000℃で熱間圧延するステップ、冷却した後、冷間圧延するステップ、400〜600℃で1〜10時間焼鈍熱処理するステップ(1次焼鈍)、圧下率30〜70%で中間圧延するステップ(2次冷間圧延)、500〜800℃で30〜600秒間熱処理するステップ(2次焼鈍)、20〜40%で仕上げ圧延(最終冷間圧延)するステップと、からなることを特徴とする製造方法からなる。
前記熱間圧延において1000℃を超過すると、むしろ析出物の形成が低下し、800℃未満の場合にも同様の現象を示す。
また、冷間圧延時の圧下率の上限は特に規定されていないが、通常85%以下の加工率の範囲において良好な結果が得られる。高い加工率は圧延機などに負荷を増大させる。
1次焼鈍時の適正条件は400〜600℃で1〜10時間であり、600℃を超過し、10時間を超過すると、強度に直接的な影響を及ぼし、高い温度及び長時間ではむしろ電気伝導度が減少する現象を示し、400℃未満で、1時間未満では、析出物の確保や再結晶化が不十分になる。
2次冷間圧延では、冷間加工率が70%以上であれば、材料中に歪み量が増加し、曲げ加工性が低下する。反面、冷間加工率が20%以下であれば、十分な強度の向上の効果を得られない。
2次焼鈍は、歪み取り焼鈍であって、500℃以下で、30秒以下であれば、プレス加工の歪みを十分に除去することができず、750℃以上で、600秒以上であれば、材料の軟化が進み、所望の機械的特性を得られない。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明は、Cu−Fe−P系合金にMg、Cr、Siを使用して、表面欠陥がなく、且つ、最終合金の特性である導電率を大きく低下せず、既存より高い高強度、高加工性を維持しながらも高伝導性を有する銅合金であって、半導体用リードフレームの素材及びトランジスタ用素材として使用可能であり、高強度、高伝導性及び高加工性の素材であるので、コネクタ用端子材として活用できるという長所がある。
本発明の製造工程図である。 銅マトリックス内に析出されたMg−Si系析出物を示す走査電子顕微鏡写真である。 銅マトリックス内に析出されたCr−Si系析出物を示す走査電子顕微鏡写真である。 銅マトリックス内に析出されたMg−P系析出物を示す走査電子顕微鏡写真である。
以下、本発明を実施例によって説明する。
表1に示す合金を高周波溶解炉にて溶解し、厚さ22mm、幅40mm、長さ180mmの鋳塊を作製した。この鋳塊を、950℃で1時間加熱後、厚さ10mmに熱間圧延し、両面を各1mmずつ面削した後、1.5mmまで冷間圧延した。この冷間圧延材を480℃の温度で3時間熱処理を行い、その後、0.4mmまで冷間圧延した後、650℃の温度で歪み取り焼鈍処理を行い、0.25mmまで仕上げ圧延して、表2に示す冷間圧延材を得た。
また、表面の洗浄のために選択的な時効処理を行った後、酸洗研磨を行うと共に2番目の熱処理後にはテンションレベラ(tension leveler)で矯正加工を行った。
本発明の上記実施例による製造工程は、これに限定されるものではなく、個別顧客が要求する品質に対応するために、通常、伸銅工場で行われているように、熱間圧延後に対して冷間圧延、時効処理、表面クリーニング(酸洗研磨)、引張焼鈍、テンションレベリングなどの工程を取捨選択して、必要によって対応して組み合わせても良い。
上記した組成及び製造工程を通じて得た試験片を切り出して、引張強度(TS)及び電気伝導度(EC)を調べた実験結果を表2に示した。
引張強度は、KS BO802に準拠し、電気伝導度はKS D0240に準拠して測定した。
表面欠陥は、圧延条の幅及び長さ方向のいずれも中央に該当する部位から、幅30mm*長さ10mm(幅30mm×長さ10mm)の試験片を切り出して、両面を肉眼で観察し、長さ1mm以上の欠陥を数えて評価した。ただし、根本的に合金自体の健全性と関係ないロールマーク、凹み、スクラッチ、異物などは対象から除外した。
〔実施例〕
上記表1及び表2から分かるように、本発明の試料1〜10は、比較例1〜13及び従来のC19210及びCDA194に比べて強度と電気伝導度との調和がとれた優れた合金と評価された。
各特性を説明すると、本発明の試料1〜10の電気伝導度は、従来のC19210(85%IACS)と比較したときに比べて多少低下したが、引張強度において全て52kgf/mm 2 以上で、C19210の38kgf/mm 2 に比べて非常に優れ、強度と電気伝導度との調和がとれた優れた合金と評価された。
本発明の試料1〜10は、従来のCDA194に比べて強度及び電気伝導度に優れ、且つこれらの特性の調和がとれた合金と評価された。
〔産業上の利用可能性〕
本発明は、引張強度を増大ないしは維持しながら、高伝導性と高加工性を有する半導体用リードフレーム材、発光ダイオード(LED)リードフレーム材、コネクタ用端子などの銅合金素材として広く活用することができる。

Claims (9)

  1. 100重量%として、Fe0.05〜0.25重量%、P0.025〜0.15重量%、Cr0.01〜0.25重量%、Si0.01〜0.15重量%、Mg0.01〜0.25重量%であり、残りがCu及び不可避的不純物で組成される高強度及び高伝導性銅合金であって、
    前記高強度及び高伝導性銅合金は、Fe−P、Mg−P、Cr−Si、Mg−Si系析出物を含んでいることを特徴とする高強度及び高伝導性銅合金
  2. 前記組成に、Zn、Sn、Mn、Al、Niのうち少なくとも1種が1.0重量%以下含まれてなることを特徴とする、請求項1に記載の高強度及び高伝導性銅合金。
  3. Fe、Mg及びPの比率が、(Mg+Fe)/P=0.4〜50であることを特徴とする、請求項1または2に記載の高強度及び高伝導性銅合金。
  4. Fe、Mg、Pの比率が、(Mg+Fe)/P=2〜10であることを特徴とする、請求項3に記載の高強度及び高伝導性銅合金。
  5. Cr、Mg、Siの比率が、(Cr+Mg)/Si=0.1〜50であることを特徴とする、請求項1〜4の何れか1項に記載の高強度及び高伝導性銅合金。
  6. Cr、Mg、Siの比率が、(Cr+Mg)/Si=1〜10であることを特徴とする、請求項5に記載の高強度及び高伝導性銅合金。
  7. 100重量%として、Fe0.05〜0.25重量%、P0.025〜0.15重量%、Cr0.01〜0.25重量%、Si0.01〜0.15重量%、Mg0.01〜0.25重量%であり、残りがCu及び不可避的不純物で組成された溶湯を得るステップと、次いで鋳造して鋳塊を得るステップ、850〜1000℃で熱間圧延するステップ、冷却した後、冷間圧延するステップ、400〜600℃で1〜10時間焼鈍熱処理するステップ、圧下率30〜70%で中間圧延するステップ、500〜800℃で30〜600秒間熱処理するステップ、20〜40%で仕上げ圧延するステップと、からなることを特徴とする、高強度及び高伝導性銅合金の製造方法。
  8. 前記組成に、Zn、Sn、Mn、Al、Niのうち少なくとも1種が1.0重量%以下含まれてなることを特徴とする、請求項7に記載の高強度及び高伝導性銅合金の製造方法。
  9. 前記400〜600℃で1〜10時間焼鈍熱処理するステップは、Fe−P、Mg−P、Cr−Si、Mg−Si系析出物を形成させ、高強度を確保させる工程を含んでいることを特徴とする、請求項7又は8に記載の高強度及び高伝導性銅合金の製造方法。
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