JP5424750B2 - バイアス回路 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体装置内の回路にバイアス電圧を供給するバイアス回路に係り、特に、消費電流の低減と共に起動時における信頼性の向上等を図ったものに関する。
従来、電源電圧に依存しない一定電圧を出力することのできるバイアス回路としては、例えば、図35に基本回路構成例が、図36にその具体回路構成例がそれぞれ示されたようなものがある。
以下、これらの図を参照しつつ、この従来回路について説明する。
まず、図35に示された基本回路構成例について説明すれば、この従来のバイアス回路は、所定の基準電流を発生する基準電流発生部100Aと、この基準電流発生部100Aに一定の電流を供給する定電流供給部110Aとを有してなるものである。
基準電流発生部100Aは、定電流源X100Aとインピーダンス素子Z100Aとを主たる構成要素として構成されてなる一方、定電流供給部110Aは、カレントミラー回路X110Aを用いて構成されたものとなっている。そして、基準電流発生部100Aにより第1のバイアス電圧Vbias1が、定電流供給部110Aにより第2のバイアス電圧Vbias2が得られるようになっている。
図36には、より具体的な構成例が示されており、以下、同図を参照しつつ、この具体回路例について説明する。
この具体回路構成例において、定電流源X100Aは、Nチャンネル型MOS FET(以下「N型MOSトランジスタ」と称する)であるMN100Bと、これに直列接続された抵抗器R100とから構成されたものとなっている。
また、インピーダンス素子Z100Aとして、N型MOSトランジスタMN100Aが用いられており、このN型MOSトランジスタMN100Aと先のN型MOSトランジスタMN100Bとは、相互にゲートが接続されており、カレントミラー回路を構成するものとなっている。そして、N型MOSトランジスタMN100Bのソースは、抵抗器R100を介して、また、N型MOSトランジスタMN100Aのソースは直接、共通電位(接地)VSSが印加されるものとなっている。
一方、カレントミラー回路X110Aは、Pチャンネル型MOS FET(以下「P型MOSトランジスタ」と称する)であるMP110AとMP110Bとを用いて構成されたものとなっており、基板とソースに電源電圧VDDが印加されるようになっている。
しかして、P型MOSトランジスタMP110Aのドレインから流出する電流とP型MOSトランジスタMP110Bのドレインから流出する電流は、それぞれの素子の形状により決定される一定の比を有する関係となっている。
かかる構成において、電源電圧VDDが供給されている状態にあっては、第1のバイアス電圧Vbias1は、N型MOSトランジスタMN100Aのゲート・ソース間電圧に等しくなる。また、第1のバイアス電圧Vbias1は、抵抗器R100に生ずる電圧とN型MOSトランジスタMN100Bのゲート・ソース間電圧との和にも等しい。すなわち、このバイアス回路の出力電圧は、N型MOSトランジスタMN100AとMN100Bにおけるチャンネル長とチャンネル幅との比と抵抗器R100の抵抗値とで決定される一定値となる。
このようなバアイス回路は、動作開始時に電源電圧を印加するだけでは回路は直ちに起動されないという欠点がある。
例えば、図42には、かかる従来回路における電源投入時における主要部の波形例が示されており、第1のバイアス電圧Vbias1が起動時から大凡33msec後に所定の電圧に達していることが確認でき(図42(A)及び図42(C)参照)、回路の起動に時間が必要なことが解る。
このような不都合を解消する方策としては、例えば、図37に示されたように、P型MOSトランジスタによるリセットスイッチ120Aを設け、リセット端子Trに入力されるリセット信号によって起動を行うようにした構成が知られている。なお、図37においては、図36に示された構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
また、図38に示されたように、バイアス回路の出力側にバイアス電圧のフィードバックによるリセット動作を行う起動回路120Bを設け、電源投入時にリセット信号を発生し、回路のリセットを図るようにしたものが提案されている(例えば、特許文献1等参照)。
また、図39に示されたように、バイアス回路の内部ノードと電源間に、起動用のコンデンサCs1、Cs2を用いたリセット回路120Cを設けたものが提案されている(例えば、特許文献2等参照)。
またさらに、図40に示されたように、バイアス回路の出力側に、バイアス電圧のフィードバックによる電流と、バイアス回路内の電流との比較を行い、所定の比率以下の場合にバイアス回路に起動電流を流してリセットを行うように構成されたリセット回路120Dを設けたものが提案されている(例えば、特許文献3等参照)。
また、図41には、基準電流発生部100A内のN型MOSトランジスタMN100Bのソース電圧をモニタして、所望の電圧以下の場合に、N型MOSトランジスタMN100Bのソース・ドレイン間に電流を流すように構成されたリセット回路120Eを設けたものが提案されている(例えば、特許文献4等参照)。
特開2002−124637号公報(第3−6頁、図1−図4) 特開2002−328732号公報(第4−7頁、図1−図14) 特開2002−287834号公報(第4−6頁、図1−図5) 特許第3068580号公報(第5−6頁、図1)
Gray Meyer、"Analysis and Design of Analog Intergrated Circuits Second Edition""、12. MOS AMPLIFIER DESIGN、PROBLEMS 12.9、p.761
しかしながら、特許文献1、2や非特許文献1等に示された従来回路にあっては、動作中にノイズの影響により基準電流発生部の電流が流れなくなるようなことがあり、その場合、電源を再投入しなければ動作復帰できないとうい問題がある。
また、特許文献3、4等に示された従来回路にあっては、動作中にノイズの影響により基準電流発生部の電流が流れなくなっても自動復帰するが、そのために設けられた起動回路(リセット回路)における消費電流が増えるため、バイアス回路を含めた全体としての消費電流の増加を招くという問題がある。
本発明は、上記実状に鑑みてなされたもので、動作中におけるノイズの侵入によって、回路動作が停止しても、起動回路を再度駆動させることなく、また、外部からリセット信号を入力させることなく、回路動作を復帰させることができ、しかも、起動回路における消費電流の増加を抑圧できるバイアス回路を提供するものである。
上記本発明の目的を達成するため、本発明に係るバイアス回路は、
第1の電流源と第1のインピーダンス素子から構成され、一定の電流を外部へ供給する基準電流供給部と、
第1のカレントミラー回路から構成され、前記基準電流供給部からの電流供給を受け、供給された電流に応じて電流を生成する定電流供給部と、
第2のカレントミラー回路と第2のインピーダンス素子から構成されて、前記定電流供給部に対して並列接続され、前記基準電流供給部と前記定電流供給部の動作開始のための電流を供給する起動用定電流供給部とを有し、
前記基準電流供給部の前記第1のインピーダンス素子に流れる電流に応じた電圧が前記第1のインピーダンス素子から前記第1の電流源と外部の回路へ対して第1のバイアス電圧として、それぞれ出力可能とされると共に
前記定電流供給部の前記第1のカレントミラー回路から外部の回路へ対して第2のバイアス電圧が、前記起動用定電流供給部の前記第2のカレントミラー回路から外部の回路へ対して第3のバイアス電圧が、それぞれ出力可能に構成されてなるものである。
かかる構成において、前記基準電流供給部は、カレントミラー接続された第1及び第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタを有し、前記第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタは、抵抗器を介してそのソースに、前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのソースと共に低電源電圧が印加されてなり、
前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレイン及びゲートと前記第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのゲートとの相互の接続点に前記第1のバイアス電圧が出力可能とされ、
前記定電流供給部は、ゲートとドレインが前記第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインに接続された第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタと、前記第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタとカレントミラー接続されると共に、ドレインが前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインに接続された第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタとを有してなり、前記第1及び第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのゲートと前記第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインとの相互の接続点に前記第2のバイアス電圧が出力可能とされ、
前記起動用定電流供給部は、カレントミラー接続された起動用定電流供給部用第1及び第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタを有し、
前記起動用定電流供給部用第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタは、そのドレイン及びゲートが、インピーダンス素子を介して前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレイン及びゲートと、前記第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインに接続される一方、前記起動用定電流供給部用第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタは、そのドレインが、前記第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインと、前記第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレイン及びゲートに接続されてなり、
前記起動用定電流供給部用第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのゲート及びドレインと前記インピーダンス素子の相互の接続点に前記第3のバイアス電圧が出力可能とされ、
前記起動用定電流供給部用第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタにより前記インピーダンス素子を介して前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタへ定常電流を供給可能とすることにより、前記起動用定電流供給部用第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタよる前記基準電流供給部へ対する電流供給を可能に構成されてなるものが好適である。
本発明によれば、動作中にノイズ等の原因により基準電流源の電流が流れなくなった場合に、起動用の回路を再駆動させることなく、かつ、基準電流源の電流の一部を流用して起動回路を駆動できるようにしたので、従来と異なり、起動回路用の電流を常時必要とせず、そのため、消費電流の低減を図ることができる。
また、従来と異なり、起動回路に対してオン・オフ動作を与える必要が無いため、安定した回路動作が確保できる。
また、従来に比して回路の簡素化が図れているため、シリコン基板上に回路を形成した場合においては、チップ面積の縮小化が可能となり、ひいては資源の節約に資するという効果を奏するものである。
本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第1の基本構成例を示す構成図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第2の基本構成例を示す構成図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第1の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第2の具体回路構成例を示す回路図である。 図4に示された第2の具体回路構成例における主要部の波形図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第3の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第4の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第5の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第6の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第7の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第8の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第9の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第10の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第11の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第12の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第13の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第14の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第15の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第16の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第17の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第18の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第19の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第20の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第21の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第22の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第23の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第24の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第25の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第26の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第27の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第28の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第29の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第30の具体回路構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態におけるバイアス回路の第31の具体回路構成例を示す回路図である。 従来回路の第1の構成例を示す構成図である。 図35に示された構成例の具体回路例を示す回路図である。 起動機能を付加した従来回路の構成例を示す回路図である。 起動機能を付加した第2の従来回路構成例を示す回路図である。 リセット回路を付加した従来回路構成例を示す回路図である。 リセット回路を付加した第2の従来回路構成例を示す回路図である。 リセット回路を付加した第3の従来回路構成例を示す回路図である。 図36に示された従来回路における主要部の波形図である。
以下、本発明の実施の形態について、図1乃至図34を参照しつつ説明する。
なお、以下に説明する部材、配置等は本発明を限定するものではなく、本発明の趣旨の範囲内で種々改変することができるものである。
最初に、第1の基本構成例について、図1を参照しつつ説明する。
第1の基本構成例におけるバイアス回路は、基準電流供給部100と、定電流供給部110と、起動用定電流供給部120とを具備して構成されたものとなっている。
基準電流供給部100と定電流供給部110は、高電源電圧VDDと低電源電圧VSSとの間に縦続接続されたものとなっている。
基準電流供給部100は、第1の電流源(図1においては「X100」と表記)94と、第1のインピーダンス素子(図1においては「Z100」と表記)97とを主たる構成要素として構成されてなり、第1のバイアス出力端子131に第1のバイアス電圧Vbias1が出力されるようになっている。
定電流供給部110は、第1のカレントミラー回路(図1においては「X110」と表記)95を用いて構成されており、第2のバイアス出力端子132に第2のバイアス電圧Vbias2が出力されるようになっている。
また、起動用定電流供給部120は、第2のカレントミラー回路(図1においては「X120」と表記)96と第2のインピーダンス素子(図1においては「Z120」と表記)98とを主たる構成要素として構成されてなり、第3のバイアス出力端子133に第3のバイアス電圧Vbias3が出力されるようになっている。
かかる起動用定電流供給部120は、高電源電圧VDDと低電源電圧VSS間において縦続接続された上述の定電流供給部110と基準電流供給部100に対して並列接続されたものとなっている。換言すれば、高電源電圧VDDと低電源電圧VSS間において、起動用定電流供給部120は、基準電流供給部100と縦続接続されたものとなっている。
かかる構成において、基準電流供給部100の第1のインピーダンス素子97には、定電流供給部110からの低電源電圧VSS側へ電流が流れ、第1のインピーダンス素子97に繋がる第1のバイアス出力端子131には、その電流に応じた第1のバイアス電圧Vbias1が生ずるものとなっている。
また、第1のバイアス出力端子131に繋がる基準電流供給部100の第1の電流源94は、第1のバイアス電圧Vbias1の大きさによって低電源電圧VSS側へ流れる電流を制御するようになっている。
定電流供給部110は、第1のカレントミラー回路95により、高電源電圧VDD側から端子A110へ流れる電流に応じて、高電源電圧VDD側から端子B110へ流れる電流が比例関係となるように構成されたものとなっている。
起動用定電流供給部120は、第2のカレントミラー回路96により、高電源電圧VDD側から第2のインピーダンス素子98を介して端子A120へ流れる電流に応じて、高電源電圧VDD側から端子B120へ流れる電流が比例関係となるように構成されたものとなっている。
次に、かかる構成におけるバイアス回路の起動について説明する。
例えば、第2のカレントミラー回路96がPチャンネル型MOS型電界効果トランジスタ(以下「P型MOSトランジスタ」と称する)を用いて構成されていることを前提とし、P型MOSトランジスタのしきい値電圧をVthpとすると、起動用定電流供給部120の端子A120の電圧VA120が、VA120<VDD+Vthpとなると電流が流れ出す。この電流IA120は、IA120=(VDD+Vthp−VA120)/Z120と求められるものである。ここで、Z120は、第2のインピーダンス素子98のインピーダンスであるとする。
しかして、電流IA120は、端子A100から基準電流供給部100へ流れ込み、第1のインピーダンス素子97を介して低電源電圧VSS側へ至る。
第1のインピーダンス素子97に電流が流れ込むと、第1のバイアス電圧Vbias1が発生して、第1の電流源94が起動され、端子B100に流れる電流が生ずる。
一方、定電流供給部110においては、端子B100へ電流が流れ込むことによって、第1のカレントミラー回路95が起動され、起動用定電流供給部120と定電流供給部110の間に形成される閉ループに電流が流れ、所望の電流となるよう帰還回路として機能する。
このように、起動用定電流供給部120において発生される電流が、起動用のアイドリング電流として基準電流供給部100へ流されることによって、バイアス回路の起動時間が短縮されるものとなっている。
そして、定電流供給部110と起動用定電流供給部120は、それぞれカレントミラー回路に構成されたものとなっているため、基準電流供給部100の端子A100に流れる電流と端子B100に流れる電流の比が、アイドリング電流によって崩されることがなく、高精度の電流源としての機能を保持できるものとなっている。
図2には、第2の基本構成例が示されており、以下、同図について説明する。
なお、図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第2の基本構成例は、図1に示された第1の基本構成例における電源電圧と逆の関係となるように、電源との接続を入れ替えたものである。
すなわち、高電源電圧VDDと低電源電圧VSSとの間に、基準電流供給部100と定電流供給部110が縦続接続された点は、図1に示された第1の基本構成例と同一であるが、基準電流供給部100が高電源電圧VDD側に、定電流供給部110が低電源電圧VSS側に、それぞれ位置するよう設けられた点が異なるものである。
また、起動用定電流供給部120は、図1に示された第1の基本構成例と異なり、低電源電圧VSS側に接続された構成となっている。
なお、かかる構成における動作は、先の図1に示された第1の基本構成例で説明した動作と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
図3には、図1に示された第1の基本構成例の具体回路例が示されており、以下、同図を参照しつつこの具体回路例について説明する。なお、図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
まず、基準電流供給部100において、第1のインピーダンス素子97は、第1のNチャンネル型MOS FET(以下「N型MOSトランジスタ」と称する)1を用いて構成されている。
また、第1の電流源94は,第2のN型MOSトランジスタ(図3においては「MN100B」と表記)2と抵抗器(図3においては「R100」と表記)81aを有して構成されたものとなっている。
第1のN型MOSトランジスタ(図3においては「MN100A」と表記)1と第2のN型MOSトランジスタ2は、カレントミラー回路を構成したものとなっている。
すなわち、第1及び第2のN型MOSトランジスタ1,2は、各々のゲートが相互に接続されると共に、第1のN型MOSトランジスタ1のドレインに接続されたものとなっている。そして、第1のN型MOSトランジスタ1のドレインは、第1のバイアス出力端子131及び端子A100に接続されている。
また、第2のN型MOSトランジスタ2のソースは、抵抗器81aを介して、第1のN型MOSトランジスタ1のソースと共に、低電源電圧VSS(接地)が印加されるようになっている一方、第2のN型MOSトランジスタ2のドレインは、端子B100に接続されている。
定電流供給部110においては、第1のカレントミラー回路95が、第1及び第2のPチャンネル型MOS FET(以下「P型MOSトランジスタ」と称する)21,22を用いて構成されたものとなっている。
すなわち、第1及び第2のP型MOSトランジスタ(図3においては、それぞれ「MP110A」、「MP110B」と表記)21,22は、各々のゲートが相互に接続されると共に、第1のP型MOSトランジスタ21のドレインに接続されたものとなっている。そして、第1のP型MOSトランジスタ21のドレインは、第2のバイアス出力端子132及び端子A110に接続されている。
一方、第1及び第2のP型MOSトランジスタ21,22のソースは、共に高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
また、第2のP型MOSトランジスタ22のドレインは、端子B110に接続されている。
かかる構成において、第1のP型MOSトランジスタ21のドレインから流れ出る電流と第2のP型MOSトランジスタ22のドレインから流れ出る電流は、これら素子の形状により決定される一定の比を有する関係となっている。
そして、定電流供給部110の端子A110は、基準電流供給部100の端子B100に、定電流供給部110の端子B110は、基準電流供給部100の端子A100に、それぞれ接続されたものとなっている。
起動用定電流供給部120においては、第2のカレントミラー回路96が、第3及び第4のP型MOSトランジスタ(図3においては、それぞれ「MP120A」、「MP120B」と表記)23,24を用いて構成されたものとなっている。
すなわち、第3及び第4のP型MOSトランジスタ23,24は、各々のゲートが相互に接続されると共に、第のP型MOSトランジスタ23のドレイン及び第3のバイアス出力端子133に接続されたものとなっている。
また、第3及び第4のP型MOSトランジスタ23,24のソースは、共に高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
さらに、第3のP型MOSトランジスタ23のドレインは、第2のインピーダンス素子98を介して端子A120に接続される一方、第4のP型MOSトランジスタ24のドレインは、端子B120に接続されている。
かかる構成において、第3のP型MOSトランジスタ23のドレインから流れ出る電流と第4のP型MOSトランジスタ24のドレインから流れ出る電流は、これら素子の形状により決定される一定の比を有する関係となっている。
そして、端子A120は、基準電流供給部100の端子A100及び定電流供給部110の端子B110に接続され、また、端子B120は、基準電流供給部100の端子B100及び定電流供給部110の端子A110に接続されたものとなっている。
かかる構成における動作は、先に図1に示された第1の基本構成例で説明した動作と基本的に同一であるので、再度の詳細な説明は省略するが、概略を以下に説明することとする。
まず、起動用定電流供給部120において、第3及び第4のP型MOSトランジスタ23,24のしきい値電圧をVthpとすると、起動用定電流供給部120の端子A120の電圧VA120が、VA120<VDD+Vthpとなると電流が流れ出す。この電流IA120は、IA120=(VDD+Vthp−VA120)/Z120と求められものである。ここで、Z120は、第2のインピーダンス素子98のインピーダンスであるとする。
しかして、電流IA120は、端子A100から第1のインピーダンス素子97を介して低電源電圧VSS側へ至る。そして、第1のインピーダンス素子97に電流が流れることによって、第1のバイアス電圧Vbias1が発生して、第1の電流源94が起動され、端子B100に流れる電流が生ずる。
一方、定電流供給部110においては、端子B100へ電流が流れ込むことによって、第1のカレントミラー回路95が起動され、起動用定電流供給部120と定電流供給部110の間に形成される閉ループに電流が流れ、所望の電流となるよう帰還回路として機能する。
それに対応して、第2及び第3のバイアス電圧Vbias2,Vbias3が発生することとなる。
このように、起動用定電流供給部120において発生される電流が、起動用のアイドリング電流として基準電流供給部100へ流されることによって、バイアス回路の起動時間が短縮されるものとなっている。
図4には、図2に示された第2の基本構成例の具体回路例が示されており、以下、同図を参照しつつこの具体回路例について説明する。なお、図2、図3に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この具体回路例は、図3に示された具体回路例における電源電圧と逆の関係となるように、電源との接続を入れ替え、それに対応してトランジスタの種類を変えたものであり、この点を除けば、基本的には図3に示された回路と同一の構成の回路である。
以下、回路接続の異なる点について説明することとする。
まず、基準電流供給部100において、第1のインピーダンス素子97は、基準電流供給部用第1のP型MOSトランジスタ(図4においては「MP100A」と表記)29を用いて構成されている。
また、第1の電流源94は,基準電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ(図4においては「MP100B」と表記)30と抵抗器81aを有して構成されたものとなっている。
そして、基準電流供給部用第1及び第2のP型MOSトランジスタ29,30は、各々のゲートが相互に接続されると共に、基準電流供給部用第1のP型MOSトランジスタ29のドレインに接続されたものとなっている。また、基準電流供給部用第1のP型MOSトランジスタ29のドレインは、第1のバイアス出力端子131及び端子A100に接続されている。
一方、基準電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ30のソースは、抵抗器81aを介して、基準電流供給部用第1のP型MOSトランジスタ29のソースと共に、高電源電圧VDDが印加されるようになっている一方、基準電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ30のドレインは、端子B100に接続されている。
定電流供給部110においては、第1のカレントミラー回路95が、定電流供給部用第1及び第2のN型MOSトランジスタ(図4においては、それぞれ「MN110A」、「MN110B」と表記)9,10を用いて構成されたものとなっている。
すなわち、定電流供給部用第1及び第2のN型MOSトランジスタ9,10は、各々のゲートが相互に接続されると共に、第1のN型MOSトランジス91のドレイン及び第2のバイアス出力端子132並びに端子A110に接続されている。
一方、定電流供給部用第1及び第2のN型MOSトランジスタ9,10のソースは、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
また、第2のN型MOSトランジスタ10のドレインは、端子B110に接続されている。
起動用定電流供給部120においては、第2のカレントミラー回路96が、起動用定電流供給部用第1及び第2のN型MOSトランジスタ(図4においては、それぞれ「MN120A」、「MN120B」と表記)3,4を用いて構成されたものとなっている。
すなわち、起動用定電流供給部用第1及び第2のN型MOSトランジスタ3,4は、各々のゲートが相互に接続されると共に、起動用定電流供給部用第1のN型MOSトランジスタ3のドレイン及び第3のバイアス出力端子133に接続されたものとなっている。
また、起動用定電流供給部用第1及び第2のN型MOSトランジスタ3,4のソースは、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
さらに、起動用定電流供給部用第1のN型MOSトランジスタ3のドレインは、第2のインピーダンス素子98を介して端子A210に接続される一方、起動用定電流供給部用第2のN型MOSトランジスタ4のドレインは、端子B120に接続されている。
かかる構成における動作は、図1や図3で説明した動作と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
図5には、上述の図4に示された構成例における主要部の動作波形例が示されており、図42に示された従来回路の同様な波形図を参照しつつ、本発明の実施の形態におけるバイアス回路の特性を従来回路と比較して説明する。
まず、図42の波形図は、図36に示された従来回路における主要部の波形例である。すなわち、従来回路においては、高電源電圧VDDが零から所定の電圧に立ち上がると(図42(A)参照)、トランジスタのリーク電流によって、基準電流供給部100Aを構成するトランジスタ(図示せず)の内部容量に充電されてゆき、第1のバイアス電圧Vbias1が徐々に上昇し、トランジスタの閾値電圧に近づきリーク電流が更に増加する。このリーク電流の増加によって第1のバイアス電圧Vbias1は加速度的に上昇する(図42(C)参照)。
この例では、高電源電圧VDDが零から所定電圧に立ち上がってから第1のバイアス電圧Vbias1が加速度的に上昇するまで大凡33μsec程の時間を要していることが確認できる。なお、図42(B)は、カレントミラー回路X110Aを構成するP型MOSトランジスタMP100Aの電流変化を示す波形図である。
一方、本発明の実施の形態においては、高電源電圧VDDが零から所定電圧に立ち上がってから第1のバイア電圧Vbias1第1のバイア電圧Vbias1が所定の電圧に立ち上がるまで、大凡11μsec程の時間となっており(図5(D)参照))、従来に比して格段の時間短縮がなされていることが確認できる。
これは、上述した従来回路のリーク電流に代えて、起動用定電流供給部120によって積極的に電流供給を行うようにしたことによるものである。
すなわち、具体的には、高電源電圧VDDと低電源電圧VSSとの間に、P型MOSトランジスタ96、インピーダンス素子98、及び、N型MOSトランジスタ1を直列に設け、P型MOSトランジスタ96のソース・ドレイン間、インピーダンス素子98、N型MOSトランジスタ1のドレイン・ソース間の経路に電流を定常的に流すようにしたことで、第1のバイア電圧Vbias1の立ち上がり時間の短縮が可能となっている。
また、バイアス回路が一定電流を保つようにするには、起動用定電流供給部120が、定電流回路として動作する必要がある。そのため、本発明の実施の形態においては、起動用定電流供給部120を構成する起動用定電流供給部用第1のN型MOSトランジスタ3のソース・ゲート間電圧が、定電流供給部110を構成するN型MOSトランジスタ9のソース・ゲート間電圧よりも低く設定され、かつ、基準電流供給部用第1及び第2のP型MOSトランジスタ29,30がカレントミラー回路として一定電流を流す条件、すなわち、基準電流供給部用第第2のP型MOSトランジスタ30を飽和領域で動作させることで実現されたものとなっている。
次に、第3の構成例について、図6を参照しつつ説明する。
なお、図1、図2、図3に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
かかる第3の構成例においては、定電流供給部110の第1のカレントミラー回路95が、バイポーラトランジスタを用いて構成された点が、先の図3に示された回路と異なるものとなっている。
すなわち、第1のカレントミラー回路95は、PNP型の定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ(図6においては、それぞれ「QP110A」、「QP110B」と表記)41,42と、NPN型の定電流供給部用第3のトランジスタ(図6においては「QN110」と表記)69と、定電流供給部用第1及び第2の抵抗器(図6においては、それぞれ「R110A」、「R110B」と表記)82,83を用いて構成されたものとなっている。
定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ41,42は、各々のベースが相互に接続されると共に、定電流供給部用第3のトランジスタ69のコレクタに接続されたものとなっている。
定電流供給部用第3のトランジスタ69は、ベースが定電流供給部用第1のトランジスタ41のコレクタと共に、第2のバイアス電圧出力端子132及び端子A110に接続されたものとなっている。また、定電流供給部用第3のトランジスタ69のエミッタは、低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
かかる定電流供給部用第3のトランジスタ69は、電流増幅を行って定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ41,42のベース電流補償を行うようになっている。
一方、定電流供給部用第1のトランジスタ41のエミッタは、定電流供給部用第1の抵抗器82を介して、また、定電流供給部用第2のトランジスタ42のエミッタは、定電流供給部用第2の抵抗器83を介して、共に高電源電圧VDDが印加されるようになっている。このように定電流供給部用第1及び第2の抵抗器82,83を用いることで、熱暴走が防止されるものとなっている。
そして、定電流供給部用第2のトランジスタ42のコレクタは、端子B110に接続されたものとなっている。
かかる構成における基本的動作は、図1、図3で説明した回路動作と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第4の構成例について、図7を参照しつつ説明する。
なお、図6に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
かかる第4の構成例は、図6に示された構成例における電源電圧と逆の関係となるように、電源の接続を入れ替え、それに対応してトランジスタの種類を変えたものであり、この点を除けば、基本的には図6に示された構成例と同一の構成を有する回路である。
かかる第4の構成例は、別言すれば、その基本的な構成は、先の図2に示された構成例と同一となるものである。
以下、具体的に異なる点について説明する。
定電流供給部110の第1のカレントミラー回路95は、NPN型の定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ(図7においては、それぞれ「QN110A」、「QN110B」と表記)61,62と、PNP型の定電流供給部用第3のトランジスタ(図7においては「QP110」と表記)47と、定電流供給部用第1及び第2の抵抗器82,83を用いて構成されたものとなっている。
定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ61,62は、各々のベースが相互に接続されると共に、定電流供給部用第3のトランジスタ47のコレクタに接続されたものとなっている。
定電流供給部用第3のトランジスタ47は、ベースが定電流供給部用第1のトランジスタ61のコレクタと共に、第2のバイアス電圧出力端子132及び端子A110に接続されたものとなっている。また、定電流供給部用第3のトランジスタ47のエミッタは、高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
一方、定電流供給部用第1のトランジスタ61のエミッタは、定電流供給部用第1の抵抗器82を介して、また、定電流供給部用第2のトランジスタ62のエミッタは、定電流供給部用第2の抵抗器83を介して、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。そして、定電流供給部用第2のトランジスタ62のコレクタは、端子B110に接続されたものとなっている。
かかる構成における基本的動作は、図1、図3で説明した回路動作と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第5の構成例について、図8を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第5の構成例は、起動用定電流供給部120を、バイポーラトランジスタを用いて構成した例を示したものである。
すなわち、起動用定電流供給部120において、第2のカレントミラー回路96が、PNP型の起動用定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ(図8においては、それぞれ「QP120A」、「QP120B」と表記)43,44と、NPN型の起動用定電流供給部用第3のトランジスタ(図8においては「QN121」と表記)65と、起動用定電流供給部用第1及び第2の抵抗器(図8においては、それぞれ「R120A」、「R120B」と表記)84,85とを用いて構成されたものとなっている。
具体的には、まず、起動用定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ43,44は、各々のベースが相互に接続されると共に、起動用定電流供給部用第3のトランジスタ65のコレクタに接続されたものとなっている。
また、起動用定電流供給部用第1のトランジスタ43のエミッタは、起動用定電流供給部用第1の抵抗器84を介して、起動用定電流供給部用第2のトランジスタ44のエミッタは、起動用定電流供給部用第2の抵抗器85を介して、共に、高電源電圧VDDが印加されることで、熱暴走の防止が図られている。
一方、起動用定電流供給部用第1のトランジスタ43のコレクタ及び起動用定電流供給部用第3のトランジスタ65のベースは、第3のバイアス電圧出力端子133に接続されると共に、第2のインピーダンス素子98を介して端子A120に接続されたものとなっている。
また、起動用定電流供給部用第2のトランジスタ44のコレクタは、端子B120に接続されている。
そして、起動用定電流供給部用第3のトランジスタ65のエミッタは、低電源電圧VSSが印加されるようになっている。かかる起動用定電流供給部用第3のトランジスタ65は、電流増幅を行って起動用定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ43,44のベース電流補償を行うようになっている。
かかる構成における基本的動作は、図1、図3で説明した回路動作と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第6の構成例について、図9を参照しつつ説明する。
なお、図1、図8に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
かかる第6の構成例は、図8に示された構成例における電源電圧と逆の関係となるように、電源の接続を入れ替え、それに対応して、特に起動用定電流供給部120を構成するトランジスタの種類を変えたものであり、この点を除けば、基本的には図8に示された構成例と同一構成の回路である。
かかる第6の構成例は、起動用定電流供給部120の具体的な構成を除けば、その基本的な構成は、先の図2に示された構成例と同一となるものである。
この第6の構成例において、起動用定電流供給部120の第2のカレントミラー回路96は、NPN型の起動用定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ(図9においては、それぞれ「QN120A」、「QN120B」と表記)63,64と、PNP型の起動用定電流供給部用第3のトランジスタ(図9においては「QP121」と表記)46と、起動用定電流供給部用第1及び第2の抵抗器84,85とを用いて構成されたものとなっている。
具体的には、まず、起動用定電流供給部用第1及び第2のトランジスタ63,64は、各々のベースが相互に接続されると共に、起動用定電流供給部用第3のトランジスタ46のコレクタに接続されたものとなっている。
また、起動用定電流供給部用第1のトランジスタ63のエミッタは、起動用定電流供給部用第1の抵抗器84を介して、起動用定電流供給部用第2のトランジスタ64のエミッタは、起動用定電流供給部用第2の抵抗器85を介して、共に、低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
一方、起動用定電流供給部用第1のトランジスタ63のコレクタ及び起動用定電流供給部用第3のトランジスタ46のベースは、第3のバイアス電圧出力端子133に接続されると共に、第2のインピーダンス素子98を介して端子A120に接続されたものとなっている。
また、起動用定電流供給部用第2のトランジスタ64のコレクタは、端子B120に接続されている。
そして、起動用定電流供給部用第3のトランジスタ46のエミッタは、高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
かかる構成における基本的動作は、図1、図3で説明した回路動作と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第7の構成例について、図10を参照しつつ説明する。
なお、図1、図3に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第7の構成例は、基準電流供給部100の第1のインピーダンス素子97が、基準電流供給部用第1のN型MOSトランジスタ1と、PNP型の基準電流供給部用トランジスタ(図10においては「QP100A」と表記)45とを用いて構成されたものとなっている点が図3に示された構成例と異なるものであり、他の回路部分は、基本的に図1に示された基本構成例と同様のものである。
すなわち、具体的には、基準電流供給部用第1のN型MOSトランジスタ1のソースには、基準電流供給部用トランジスタ45のエミッタが接続され、この基準電流供給部用トランジスタ45のコレクタは、ベースと相互に接続されると共に、低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
かかる構成における基本的動作は、図1、図3で説明した回路動作と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第8の構成例について、図11を参照しつつ説明する。
なお、図1、図4に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
かかる第8の構成例は、図10に示された構成例における電源電圧と逆の関係となるように、電源の接続を入れ替え、それに対応してトランジスタの種類を変えたものであり、この点を除けば、基本的には図10に示された構成例と同一の構成を有する回路である。
かかる第8の構成例は、別言すれば、その基本的な構成は、先の図2に示された構成例と同一となるものである。
以下、具体的に異なる点について説明する。
この第8の構成例において、基準電流供給部100の第1のインピーダンス素子97は、基準電流供給部用第1のP型MOSトランジスタ29と、NPN型の基準電流供給部用第1のトランジスタ(図11においては「QN100A」と表記)66とを用いて構成されたものとなっている点が、図4に示された構成例と異なるものであり、他の回路部分は、基本的に図2に示された基本構成例と同様のものである。
すなわち、具体的には、基準電流供給部用第1のP型MOSトランジスタ29のソースには、基準電流供給部用トランジスタ66のエミッタが接続され、この基準電流供給部用トランジスタ66のコレクタは、ベースと相互に接続されると共に、高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
かかる構成における基本的動作は、図1、図3で説明した回路動作と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第9の構成例について、図12を参照しつつ説明する。
なお、図1、図3に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第9の構成例は、基準電流供給部100の第1の電流源94及び第1のインピーダンス素子97を、それぞれMOSトランジスタとバイポーラトランジスタを用いて構成した点が図3に示された構成例と異なるものであり、他は基本的に図1に示された基本構成例と同様のものである。
以下、具体的に説明すれば、まず、第1のインピーダンス素子97は、図10に示された構成例と同一の構成であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略する。
一方、第1の電流源94は、基準電流供給部用第2のN型MOSトランジスタ2と、PNP型の基準電流供給部用第2のトランジスタ(図12においては「QP100B」と表記)49と、抵抗器81aを有して構成されたものとなっている。
すなわち、まず、基準電流供給部用第2のN型MOSトランジスタ2のゲートは、基準電流供給部用第1のN型MOSトランジスタ1のゲートと相互に接続されると共に、基準電流供給部用第1のN型MOSトランジスタ1のドレイン、第1のバイアス出力端子131及び端子A100に接続されたものとなっており、この点は、図3に示された構成例と変わるところはないものとなっている。
また、図3に示された構成例同様、基準電流供給部用第2のN型MOSトランジスタ2のドレインは、端子B100に接続されたものとなっている。
一方、基準電流供給部用第2のN型MOSトランジスタ2のソースは、抵抗器(図12においては「R100B」と表記)81bを介してPNP型の基準電流供給部用第2のトランジスタ49のエミッタに接続されている。そして、基準電流供給部用第2のトランジスタ49のベースはコレクタと相互に接続されると共に、低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
かかる構成における基本的動作は、図1、図3で説明した回路動作と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第10の構成例について、図13を参照しつつ説明する。
なお、図1、図4及び図11に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
かかる第10の構成例は、図12に示された構成例における電源電圧と逆の関係となるように、電源の接続を入れ替え、それに対応してトランジスタの種類を変えたものであり、この点を除けば、基本的には図12に示された構成例と同一構成の回路である。
かかる第10の構成例は、別言すれば、その基本的な構成は、先の図2に示された構成例と同一となるものである。
以下、具体的に異なる点について説明する。
この第10の構成例において、第1の電流源94は、基準電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ30と、NPN型の基準電流供給部用第2のトランジスタ(図13においては「QN100B」と表記)67と、抵抗器81bを有して構成されたものとなっている。
すなわち、まず、基準電流供給部用第2のトランジスタ67のベースとコレクタは、相互に接続されると共に、高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
一方、基準電流供給部用第2のトランジスタ67のエミッタは、抵抗器81bを介して基準電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ30のソースに接続され、基準電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ30のドレインは、端子B100に接続されたものとなっている。
なお、基準電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ30のゲートは、図11に示された構成例と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略する。
次に、第11の構成例について、図14を参照しつつ説明する。
なお、図1、図10に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第11の構成例は、図10に示された構成例において、バイアス電圧に依存した電圧を得ることができるよう電圧変換回路105を付加したものである。
この構成例における電圧変換回路105は、第2及び第3のバイアス出力電圧Vbias2,Vbias3に依存した変換電圧VBGRが得られるものとなっている。
かかる電圧変換回路105は、電圧変換回路用第1及び第2のP型MOSトランジスタ(図14においては、それぞれ「MP41」、「MP42」と表記)25,26と、抵抗器(図14においては「R40」と表記)87と、PNP型の電圧変換回路用トランジスタ(図14においては「QP40」と表記)48とを有して構成されたものとなっている。
具体的には、まず、電圧変換回路用第1のP型MOSトランジスタ25は、ソースに高電源電圧VDDが印加されるようになっている一方、ゲートは、第2のバイアス出力端子132に接続されている。第2のバイアス出力端子132は、第1のカレントミラー回路95に接続されているものであるが、第1のカレントミラー回路95は、具体的には、例えば、図2に示された構成例の如く構成され、第2のバイアス出力端子132は、カレントミラー回路を構成する定電流供給部用第1及び第2のP型MOSトランジスタ21,22のゲートに接続されるものであるので、上述の電圧変換回路用第1のP型MOSトランジスタ25は、上述のような接続によって、これら定電流供給部用第1及び第2のP型MOSトランジスタ21,22と共にカレントミラー回路を構成するものとなっていると言うことができる。
そして、電圧変換回路用第1のP型MOSトランジスタ25のドレインは、変換電圧出力端子134及び抵抗器87の一端に接続され、この抵抗器87の他端は、PNP型の電圧変換回路用トランジスタ48のエミッタに接続されたものとなっている。
また、電圧変換回路用トランジスタ48は、ベースとコレクタが相互に接続されると共に、低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
一方、電圧変換回路用第2のP型MOSトランジスタ26は、起動用定電流供給部120の第2のカレントミラー回路96とカレントミラー回路を構成するように設けられたものとなっている。
すなわち、電圧変換回路用第2のP型MOSトランジスタ26は、ソースに高電源電圧VDDが印加されるようになっている一方、ゲートは、第3のバイアス出力端子132に接続されている。
そして、電圧変換回路用第2のP型MOSトランジスタ26のドレインは、変化電圧出力端子134に接続されたものとなっている。
かかる構成によって、変化電圧出力端子134には、第2及び第3のバイアス電圧Vbias2,Vbias3に比例した定電圧が得られることとなる。
なお、電圧変換回路105の動作を除けば、図1、図10に示された構成例における動作と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第12の構成例について、図15を参照しつつ説明する。
なお、図2、図11、図14に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
かかる第12の構成例は、図14に示された構成例における電源電圧と逆の関係となるように、電源の接続を入れ替え、それに対応して、トランジスタの種類を変えたものであり、この点を除けば、基本的には図14に示された構成例と同一構成の回路である。
以下、具体的に異なる点を中心に説明する。
この第12の構成例において、電圧変換回路105は、電圧変換回路用第1及び第2のN型MOSトランジスタ(図15においては、それぞれ「MN41」、「MN42」と表記)5,6と、抵抗器87と、NPN型の電圧変換回路用トランジスタ(図15においては「QN40」と表記)68とを有して構成されたものとなっている。
具体的には、まず、電圧変換回路用第1のN型MOSトランジスタ5は、ソースに低電源電圧VSSが印加されるようになっている一方、ゲートは、第2のバイアス出力端子132に接続されている。
また、電圧変換回路用第1のN型MOSトランジスタ5のドレインは、変換電圧出力端子134及び抵抗器87の一端に接続され、この抵抗器87の他端は、NPN型の電圧変換回路用トランジスタ87のエミッタに接続されたものとなっている。
そして、電圧変換回路用トランジスタ87のコレクタは、ベースと相互に接続されると共に、高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
一方、電圧変換回路用第2のN型MOSトランジスタ6は、ソースに低電源電圧VSSが印加されるようになっている一方、ゲートは、第3のバイアス出力端子132に接続され、また、ドレインは、変換電圧出力端子134に接続されたものとなっている。
かかる構成における基本的動作は、図14で説明した回路動作と同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第13の構成例について、図16を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第13の構成例は、先に図1に示された構成例における第2のインピーダンス素子98を、具体的に、抵抗器(図16においては「R120」と表記)88で実現した例を示すものである。
かかる点を除けば、その基本的な動作は、図1において説明した通りであるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第14の構成例について、図17を参照しつつ説明する。
なお、図2、図16に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第14の構成例は、先に図2に示された構成例における第2のインピーダンス素子98を、具体的に、抵抗器88で実現した例を示すものである。
かかる点を除けば、その基本的な動作は、図2において説明した通りであるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第15の構成例について、図18を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第15の構成例は、先に図1に示された構成例における第2のインピーダンス素子98を、具体的に、P型MOSトランジスタ(図18においては「MP120」と表記)27で実現した例を示すものである。
すなわち、P型MOSトランジスタ27は、そのソースが第2のカレントミラー回路96が接続される一方、ドレインは、端子A120に接続されたものとなっている。
そして、P型MOSトランジスタ27のゲートには、低電源電圧VSSが印加されるものとなっている。
かかる点を除けば、その基本的な動作は、図1において説明した通りであるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第16の構成例について、図19を参照しつつ説明する。
なお、図2、図18に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第16の構成例は、先に図2に示された構成例における第2のインピーダンス素子98を、N型MOSトランジスタ(図19においては「MN120」と表記)7で実現した例を示すものである。
かかる点を除けば、その基本的な動作は、図2において説明した通りであるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第17の構成例について、図20を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第17の構成例は、先に図1に示された構成例における第2のインピーダンス素子98を、具体的に、直列接続された複数のP型MOSトランジスタにより実現した例を示すものである。
すなわち、起動用定電流供給部用第1のP型MOSトランジスタ31のソースは、第2のカレントミラー回路96に接続される一方、そのドレインは、起動用定電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ32のソースに接続されたものとなっている。
そして、起動用定電流供給部用第2のP型MOSトランジスタ32のドレインは、起動用定電流供給部用第3のP型MOSトランジスタ33のソースに接続され、起動用定電流供給部用第3のP型MOSトランジスタ33のドレインは、端子A120に接続され、起動用定電流供給部用第1乃至第3のP型MOSトランジスタ31乃至33は、直列接続されたものとなっている。
なお、起動用定電流供給部用第1乃至第3のP型MOSトランジスタ31乃至33のゲートは、低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
かかる構成において、その基本的な動作は、図1において説明した通りであるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第18の構成例について、図21を参照しつつ説明する。
なお、図2に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第18の構成例は、先に図2に示された構成例における第2のインピーダンス素子98を、具体的に、直列接続された複数のN型MOSトランジスタにより実現した例を示すものである。
すなわち、起動用定電流供給部用第1のN型MOSトランジスタ11のドレインは、第2のカレントミラー回路96に接続される一方、そのソースは、起動用定電流供給部用第2のN型MOSトランジスタ12のドレインに接続されたものとなっている。
そして、起動用定電流供給部用第2のN型MOSトランジスタ12のソースは、起動用定電流供給部用第3のN型MOSトランジスタ13のドレインに接続され、起動用定電流供給部用第3のN型MOSトランジスタ13のソースは、端子A120に接続され、起動用定電流供給部用第1乃至第3のN型MOSトランジスタ11乃至13は、直列接続されたものとなっている。
なお、起動用定電流供給部用第1乃至第3のP型MOSトランジスタ11乃至13のゲートは、高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
かかる構成において、その基本的な動作は、図1において説明した通りであるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第19の構成例について、図22を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第19の構成例は、図1に示された構成において、第1のバイアス出力端子131と低電源電圧VSSとの間に、コンデンサ(図22においては「C100」と表記)92を設けたものであり、他の構成は、図1に示された構成と同一のものである。
かかる構成例においては、コンデンサ92により、特に、第1のバイアス電圧Vbias1の安定化を図ることができるものとなっている。
かかる点を除けば、基本的な動作は、図1において説明した通りであるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第20の構成例について、図23を参照しつつ説明する。
なお、図2に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第20の構成例は、図2に示された構成において、第1のバイアス出力端子131と高電源電圧VDDとの間に、コンデンサ92を設けたものであり、他の構成は、図2に示された構成と同一のものである。
かかる構成においては、図22に示された第19の構成例同様、コンデンサ92による第1のバイアス電圧Vbias1の安定化を図ることができるもので、かかる点を除けば、基本的な動作は、図1において説明した通りであるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第21の構成例について、図24を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第21の構成例は、図22に示された構成例におけるコンデンサ92に変えて、N型MOSトランジスタ(図24においては「MN100」と表記)8を用いて、コンデンサ92を用いたと同様の機能の実現を図ったものである。
すなわち、N型MOSトランジスタ8のゲートは、第1のバイアス出力端子131に接続される一方、ドレイン及びソースは、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっており、N型MOSトランジスタ8の容量が用いられるようになっている。
かかる構成における動作は、図22に示された第19の構成例と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第22の構成例について、図25を参照しつつ説明する。
なお、図2に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第22の構成例は、図2に示された構成において、第1のバイアス出力端子131と高電源電圧VDDとの間に、P型MOSトランジスタ(図25においては「MP100」と表記)28を設けたものであり、他の構成は、図2に示された構成と同一のものである。
すなわち、P型MOSトランジスタ28のゲートは、第1のバイアス出力端子131に接続される一方、ドレイン及びソースは、共に高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
かかる構成における動作は、図23に示された第19の構成例と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第23の構成例について、図26を参照しつつ説明する。
なお、図1、図10に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第23の構成例は、図1に示された構成例において、バイアス電圧に依存した電流出力を得ることができるようにP型及びN型MOSトランジスタが付加されて構成されたものである。
すなわち、P型MOSトランジスタ34とP型MOSトランジスタ35は、共にソースに高電源電圧VDDが印加されるようになっている一方、各々のドレインは共に電流出力端子(図26においては「IOUTP1−A」と表記)141に接続されたものとなっている。そして、P型MOSトランジスタ34のゲートは、第2のバイアス出力端子132に、また、P型MOSトランジスタ35のゲートは、第3のバイアス出力端子133に、それぞれ接続されたものとなっている。
また、P型MOSトランジスタ36とP型MOSトランジスタ37は、共にソースに高電源電圧VDDが印加されるようになっている一方、各々のドレインは共に電流出力端子(図26においては「IOUTPn−A」と表記)142に接続されたものとなっている。そして、P型MOSトランジスタ36のゲートは、第2のバイアス出力端子132に、また、P型MOSトランジスタ37のゲートは、第3のバイアス出力端子133に、それぞれ接続されたものとなっている。
一方、N型MOSトランジスタ14,15は、各々のゲートが共に第1のバイアス出力端子131に接続される一方、各々のソースは、低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
そして、N型MOSトランジスタ14のドレインは、電流出力端子(図26においては「IOUTP1−B」と表記)143に接続される一方、N型MOSトランジスタ15のドレインは、電流出力端子(図26においては「IOUTPn−B」と表記)144に接続されたものとなっている。
かかる構成においては、電流出力端子141〜144の増設によって電流出力が得られる点を除けば、図1に示された構成例における動作と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第24の構成例について、図27を参照しつつ説明する。
なお、図1、図26に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第24の構成例は、先に図26に示された構成例におけるトランジスタの種類を一部変えたもので、基本的な回路構成は、図26に示された構成例と同一のものである。
PNP型トランジスタ51,52は、各々のコレクタが共に電流出力端子141に接続される一方、PNP型トランジスタ51のエミッタは、抵抗器89aを介して、PNP型トランジスタ52のエミッタは、抵抗器89bを介して、共に高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
そして、PNP型トランジスタ51のベースは、第2のバイアス出力端子132に、PNP型トランジスタ52のベースは、第3のバイアス出力端子133に、それぞれ接続されたものとなっている。
また、PNP型トランジスタ53,54は、各々のコレクタが共に電流出力端子142に接続される一方、PNP型トランジスタ53のエミッタは、抵抗器89cを介して、PNP型トランジスタ54のコレクタは、抵抗器89dを介して、共に高電源電圧VDDが印加されるようになっている。
そして、PNP型トランジスタ53のベースは、第2のバイアス出力端子132に、PNP型トランジスタ54のベースは、第3のバイアス出力端子133に、それぞれ接続されたものとなっている。
また、N型MOSトランジスタ14のドレインは、電流出力端子143に接続される一方、ソースはPNP型トランジスタ55のエミッタに接続されたものとなっている。そして、PNP型トランジスタ55のベース及びコレクタは、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
さらに、N型MOSトランジスタ15のドレインは、電流出力端子144に接続される一方、ソースはPNP型トランジスタ56のエミッタに接続されたものとなっている。そして、PNP型トランジスタ56のベース及びコレクタは、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
かかる構成における動作は、図1、図26に示された構成例と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第25の構成例について、図28を参照しつつ説明する。
なお、図2、図26に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第25の構成例は、図26に示された構成例における電源電圧と逆の関係となるように、電源との接続を入れ替え、それに対応してトランジスタの種類を変えたものであり、この点を除けば、基本的には同一の構成を有する回路である。
以下、図2、図26に示された構成例と異なる点を中心に説明する。
まず、N型MOSトランジスタ16,17は、ドレイン同士が共に電流出力端子142に接続される一方、ソースは、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
そして、N型MOSトランジスタ16のゲートは、第3のバイアス出力端子133に接続される一方、N型MOSトランジスタ17のゲートは、第2のバイアス出力端子132に接続されたものとなっている。
また、P型MOSトランジスタ36,37は、ドレイン同士が共に電流出力端子141に接続される一方、ソースは、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
そして、P型MOSトランジスタ36のゲートは、第2のバイアス出力端子132に接続される一方、P型MOSトランジスタ37のゲートは、第3のバイアス出力端子133に接続されたものとなっている。
かかる構成における動作は、図2、図26に示された構成例と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第26の構成例について、図29を参照しつつ説明する。
なお、図2、図27に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第26の構成例は、図27に示された構成例における電源電圧と逆の関係となるように、電源との接続を入れ替え、それに対応してトランジスタの種類を変えたものであり、この点を除けば、基本的には同一の構成を有する回路である。
以下、異なる点を中心に説明すれば、まず、NPN型トランジスタ73,74は、各々のコレクタが共に電流出力端子141に接続される一方、NPN型トランジスタ73のエミッタは、抵抗器89cを介して、また、NPN型トランジスタ74のエミッタは、抵抗器89dを介して、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
そして、NPN型トランジスタ73のベースは、第2のバイアス出力端子132に接続される一方、NPN型トランジスタ74のベースは、第3のバイアス出力端子133に接続されたものとなっている。
また、NPN型トランジスタ71,72は、各々のコレクタが共に電流出力端子142に接続される一方、NPN型トランジスタ71のエミッタは、抵抗器89aを介して、また、NPN型トランジスタ72のエミッタは、抵抗器89bを介して、共に低電源電圧VSSが印加されるようになっている。
そして、NPN型トランジスタ71のベースは、第2のバイアス出力端子132に接続される一方、NPN型トランジスタ72のベースは、第3のバイアス出力端子133に接続されたものとなっている。
かかる構成における動作は、図2、図27に示された構成例と基本的に同一であるので、ここでの再度の詳細な説明は省略することとする。
次に、第27の構成例について、図30を参照しつつ説明する。
この第27の構成例は、バイアス回路の動作停止を行い、消費電流の低減を行うためスイッチ素子を設けたものである。
すなわち、スイッチ素子としてP型MOSトランジスタ(図30においては「MP124」と表記)38が、そのソースに、高電源電圧VDDよりも高い第2の高電源電圧VDD2が印加される一方、ドレインには高電源電圧VDDが印加されるように設けられ、ゲートには、パワーダウン信号(図30においては「Power Down 」と表記)が入力されるようになっている。
この例の場合、バイアス回路は、第2の高電源電圧VDD2が供給された場合に比動作状態、すなわち、いわゆる待機状態となるよう回路が設定されており、高電源電圧VDDが供給される場合に、回路が正常動作となるものである。
パワーダウン信号は、バイアス回路を非動作状態とする場合には、論理値Highに相当するレベルでP型MOSトランジスタ38のゲートに入力されるようになっている。すなわち、この場合、P型MOSトランジスタ38は、導通状態となり、バイアス回路は、P型MOSトランジスタ38を介して第2の高電源電圧VDD2が供給されることで、非動作状態となる。
一方、パワーダウン信号が論理値Lowに相当するレベルでP型MOSトランジスタ38のゲートに入力される場合には、P型MOSトランジスタ38は非導通状態となり、バイアス回路には高電源電圧VDDが供給されること通常の動作状態となる。
これによって、通常の動作状態に比して回路の消費電流の低減が図られることとなる。
次に、第28の構成例について、図31を参照しつつ説明する。
なお、図30に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
P型MOSトランジスタ38のドレインと低電源電圧VSSとの間にコンデンサ93を接続して、回路動作の安定化を図ったものである。
次に、第29の構成例について、図32を参照しつつ説明する。
なお、図31に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第29の構成例は、図31に示された構成例において、P型MOSトランジスタ38に変えて、インピーダンス素子(図32においては「Z140」と表記)99を設けたものである。かかる構成においては、インピーダンス素子99が有する寄生容量によってローパスフィルタが形成されるようにし、第2の高電源電圧VDD2の高周波ノイズを高電源電圧VDDへ通過させることで、ノイズの低減と共に回路動作の安定化を図ったものである。
次に、第30の構成例について、図33を参照しつつ説明する。
なお、図31に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第30の構成例は、図32に示された構成例におけるインピーダンス素子99に代えて、ダイオード接続されたP型MOSトランジスタを設けたものである。
すなわち、P型MOSトランジスタ(図33においては「MP140」と表記)39は、ソースに第2の電源電圧VDD2が印加される一方、ゲートとドレインとが相互に接続されて高電源電圧VDDが印加されるよう設けられたものとなっている。
次に、第31の構成例について、図34を参照しつつ説明する。
なお、図31に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
この第31の構成例は、図32に示された構成例におけるインピーダンス素子99に代えて、抵抗器(図34においては「R140」と表記)91を設けたものである。
94…第1の電流源
95…第1のカレントミラー回路
96…第2のカレントミラー回路
100…基準電流供給部
110…定電流供給部
120…起動用定電流供給部

Claims (3)

  1. 第1の電流源と第1のインピーダンス素子から構成され、一定の電流を外部へ供給する基準電流供給部と、
    第1のカレントミラー回路から構成され、前記基準電流供給部からの電流供給を受け、供給された電流に応じて電流を生成する定電流供給部と、
    第2のカレントミラー回路と第2のインピーダンス素子から構成されて、前記定電流供給部に対して並列接続され、前記基準電流供給部と前記定電流供給部の動作開始のための電流を供給する起動用定電流供給部とを有し、
    前記基準電流供給部の前記第1のインピーダンス素子に流れる電流に応じた電圧が前記第1のインピーダンス素子から前記第1の電流源と外部の回路へ対して第1のバイアス電圧として、それぞれ出力可能とされると共に
    前記定電流供給部の前記第1のカレントミラー回路から外部の回路へ対して第2のバイアス電圧が、前記起動用定電流供給部の前記第2のカレントミラー回路から外部の回路へ対して第3のバイアス電圧が、それぞれ出力可能に構成されてなることを特徴とするバイアス回路。
  2. 前記基準電流供給部は、カレントミラー接続された第1及び第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタを有し、前記第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタは、抵抗器を介してそのソースに、前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのソースと共に低電源電圧が印加されてなり、
    前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレイン及びゲートと前記第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのゲートとの相互の接続点に前記第1のバイアス電圧が出力可能とされ、
    前記定電流供給部は、ゲートとドレインが前記第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインに接続された第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタと、前記第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタとカレントミラー接続されると共に、ドレインが前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインに接続された第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタとを有してなり、前記第1及び第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのゲートと前記第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインとの相互の接続点に前記第2のバイアス電圧が出力可能とされ、
    前記起動用定電流供給部は、カレントミラー接続された起動用定電流供給部用第1及び第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタを有し、
    前記起動用定電流供給部用第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタは、そのドレイン及びゲートが、インピーダンス素子を介して前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレイン及びゲートと、前記第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインに接続される一方、前記起動用定電流供給部用第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタは、そのドレインが、前記第2のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレインと、前記第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのドレイン及びゲートに接続されてなり、
    前記起動用定電流供給部用第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタのゲート及びドレインと前記インピーダンス素子の相互の接続点に前記第3のバイアス電圧が出力可能とされ、
    前記起動用定電流供給部用第1のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタにより前記インピーダンス素子を介して前記第1のNチャンネル型MOS電界効果トランジスタへ定常電流を供給可能とすることにより、前記起動用定電流供給部用第2のPチャンネル型MOS電界効果トランジスタよる前記基準電流供給部へ対する電流供給を可能に構成されてなることを特徴とする請求項1記載のバイアス回路。
  3. 前記定電流供給部をバイポーラトランジスタにより構成し、あるいは前記起動用定電流供給部をバイポーラトランジスタにより構成し、あるいは前記基準電流供給部を、MOS電界効果トランジスタとバイポーラトランジスタにより構成することを特徴とする請求項1又は請求項2記載のバイアス回路。
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