JP5422663B2 - パワー半導体モジュール - Google Patents
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Description
本発明は、パワー半導体モジュール、特に電力変換装置等に用いられる双方向パワースイッチング素子により構成されたパワー半導体モジュールに関するものである。
産業用モータ、家電モータ等の駆動を含む様々な用途で電力変換装置が用いられ、パワースイッチング素子をその制御素子とともに1つの半導体パッケージに集約したパワー半導体モジュールが用いられるようになっている。
従来のパワー半導体モジュールの1つとして、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)をパワースイッチング素子として採用したインバータ・モジュールが知られている。インバータは、交流電源を整流して平滑化した直流電源をパワースイッチング素子によって任意の周波数の交流に逆変換する回路である(特許文献1参照)。
このようなインバータとは違って、交流電源から任意の周波数の三相交流に直接変換するマトリックスコンバータによって、電力変換装置のエネルギー効率を向上する取り組みがなされている。インバータでは直流電源をスイッチングするため、ハイ・サイド及びロウ・サイドとも一方向性のパワースイッチング素子を用いればよいが、マトリックスコンバータの場合には、交流電源から直接スイッチングして交流負荷を制御するため、双方向パワースイッチング素子と、それを制御するドライバとが必要となる。双方向パワースイッチング素子は、例えば2素子の逆阻止IGBTを逆並列に接続することで実現可能であり、それぞれのIGBTのゲートにそれぞれのエミッタを基準にした制御信号を印加することでスイッチング制御を行う(特許文献2参照)。
インバータでは直流電源をハイ・サイド及びロウ・サイドのスイッチング素子で交互にオン・オフすることで容易に交流信号を発生することができるが、双方向スイッチング素子を用いたマトリックスコンバータでは、交流電源が入力になるため、入力電源のタイミングと負荷出力のタイミングとを合わせた複雑なスイッチング制御や、高速でのスイッチング制御が必要となる。
パワースイッチング素子は、そのソース又はエミッタを基準電位としてゲート又はベースにドライバICの駆動信号を印加することで開閉制御が行われる。インバータの場合には、スイッチング素子の駆動の基準となる電位がドライバICの制御グランドと異なっていても、スイッチングの対象が直流であるため、グランドに対する極性が明確であることから、比較的容易に駆動信号を作り出すことができる。ところが、マトリックスコンバータのように双方向スイッチング素子を用いる場合、ドライバICの制御グランドに対してスイッチング素子の駆動の基準となる電位及びその極性が不確定であり、このようなドライバICを単一のICとして実現することが困難である。
また、パワー半導体モジュールは大電力の負荷を制御するため、その安全性への配慮が重要となる。例えばインバータの場合には、スイッチング素子のハイ・サイドとロウ・サイドとが同時にオンすると大電流の貫通電流が流れ、これらスイッチング素子の破壊のみならず出火、火災の原因となる。インバータは動作が単純であるため、同時にオンしないような制御等の安全策が取り易いが、マトリックスコンバータでは、上述のように複雑かつ高速の制御が必要であり、ちょっとしたドライバICの誤動作があっても危険な動作モードになる可能性があり、誤動作を抑制する構成や制御が求められている。
本発明は、上記課題を鑑み、マトリックスコンバータ等の双方向パワースイッチング素子により構成されたパワー半導体モジュールにおいて、高い性能と安定性を得ること、及びその機能を小型のモジュールに集約することを目的とするものである。
上記目的を達成するために、本発明は、電力用リードと制御用リードとを含む複数の導体パターンを有する基板と、双方向パワー半導体からなるスイッチング素子と、前記スイッチング素子を駆動するドライバICとからなるパワー半導体モジュールにおいて、前記スイッチング素子は前記基板の第1の導体パターン上に実装され、前記スイッチング素子のソース又はエミッタ端子は前記電力用リードをなす第2の導体パターンに電気的に接続され、前記ドライバICは前記第2の導体パターンと電気的に接続された第3の導体パターン上に実装され、前記第3の導体パターンは前記第1の導体パターンと近接し、前記ドライバICの接地端子は前記第3の導体パターンと電気的に接続され、前記ドライバICの駆動端子は前記スイッチング素子のゲート又はベース端子と電気的に接続された構成を採用することとしたものである。
本発明によれば、双方向パワー半導体からなるスイッチング素子の極直近にドライバICを配置し、当該スイッチング素子のソース又はエミッタ端子とゲート又はベース端子との間に駆動信号を印加することから、回路周辺の浮遊容量を最小限に抑え、駆動信号の遅延を抑えることができ、高速のスイッチング制御が可能となる。また、前記スイッチング素子の駆動の基準電位となるソース又はエミッタ端子と同一の基準電位で前記ドライバICが動作することで、周辺の回路の電圧変動の影響を受けにくく誤動作の発生しない当該スイッチング素子の制御ができる。また、前記基準電位と電気的に接続された第3の導体パターン上にドライバICを実装することで、そのシールド効果によって当該ドライバICの周辺の電位を安定化し、誤動作を抑制することができる。
更に好ましくは、前記ドライバICの駆動端子と前記スイッチング素子のゲート又はベース端子との間を直接ボンディングワイヤによって接続することで、より浮遊容量の低減と外乱を抑制することができ、高速で誤動作のないスイッチング駆動ができる。
更に好ましくは、前記ドライバICを実装した前記第3の導体パターンと、前記スイッチング素子を実装した前記第1の導体パターンとを互いに隣接させることで、より浮遊容量の低減と外乱を抑制することができ、高速で誤動作のないスイッチング駆動ができる。
更に好ましくは、前記第2の導体パターンと前記第3の導体パターンとを連続した同一の導体パターンとすることで、前記ドライバICと前記スイッチング素子との基準電位への外乱を抑え、誤動作のない駆動を実現できる。
更に好ましくは、ヒートスプレッダとなる金属ブロックに前記スイッチング素子が実装されたものを前記第1の導体パターン上に実装することで、前記スイッチング素子の放熱性が上がり、取り扱える許容損失を大きくとることができる。
更に好ましくは、前記ドライバICの電源端子が電気的に接続された第4の導体パターンが、前記電力用リードをなす前記第2の導体パターンに隣接して延在し、前記第2の導体パターンと前記第4の導体パターンとの間にコンデンサが接続された構成とすることで、前記ドライバICの基準電位と電源との間の電圧を安定化することができ、より誤動作のないスイッチング駆動を実現できる。
更に好ましくは、前記第2の導体パターンと前記第4の導体パターンとの間に接続された前記コンデンサを当該モジュールに内蔵することで、前記ドライバICの直近でその動作電源を安定化させることができ、より誤動作のないスイッチング駆動を実現できる。
更に好ましくは、前記第2の導体パターンと前記第4の導体パターンとが当該モジュール外に前記電力用リードとして併設して延出され、前記第2の導体パターンと前記第4の導体パターンとの間に前記コンデンサを外付けできる形態とすることで、前記コンデンサを内蔵できない場合でも駆動の基準電位となる前記第2の導体パターンと前記ドライバICの電源端子とを当該モジュール外で隣接させて前記コンデンサを外付けできることから、誤動作のないスイッチング駆動を実現できる。
更に好ましくは、前記スイッチング素子が前記第1の導体パターン上に実装された位置よりも、前記ドライバICが前記第3の導体パターン上に実装された位置の方が前記電力用リードに近く配置することで、前記ドライバICの駆動の基準電位となる前記第2の導体パターンの極近傍に前記ドライバICを実装することができ、より誤動作のないスイッチング駆動を実現できる。更に、前記ドライバICの電源安定化のための前記コンデンサを外付けした場合、前記ドライバICを前記コンデンサのより近傍に配置することができ、より誤動作のないスイッチング駆動を実現できる。
更に好ましくは、当該モジュールの一辺に前記電力用リードが、当該モジュールの他の一辺に前記制御用リードがそれぞれ集約され、前記電力用リードと前記制御用リードとを離間して配置することで、前記電力用リードと前記制御用リードとの間に要求される絶縁耐圧を満足するパワー半導体モジュールを実現できる。
更に好ましくは、前記複数の導体パターンを有する基板をリードフレームで構成することで、当該モジュールの外部接続性が確保される。
更に好ましくは、前記複数の導体パターンを有する基板を絶縁金属ベース基板とすることで、当該モジュールの外部接続性を確保しつつ、前記スイッチング素子の放熱性を向上させることができる。
以上のとおり、本発明は、双方向パワー半導体からなるスイッチング素子とドライバICとの配置によって、回路周辺の浮遊容量を最小限に抑え、高速のスイッチング制御を可能とする。また、スイッチング素子とドライバICとの駆動の基準電位の安定化を図り、またドライバICへの外乱を抑制する構成によって、誤動作のないスイッチング駆動を実現し、高い性能と動作の安定性・安全性を併せ持つパワー半導体モジュールを実現できる。
図1は、本発明の実施の形態のパワー半導体モジュールの平面図であり、太い破線領域内がパワー半導体モジュール1の筐体部分であって、その内部構造が分かるように筐体を除いて図示している。
本発明のパワー半導体モジュール1は、絶縁金属ベース基板2として、モジュールの放熱板となる金属板に絶縁樹脂を介してリードフレームを接着し、第1〜第5の導体パターン3a〜3eを形成した基板を用いている。
電力の開閉を行うスイッチング素子4として、双方向パワー半導体からなるスイッチング素子を用いている。ここでは、GaNを用いたダブルゲートのGIT(Gate Injection Transistor)で双方向スイッチングを実現している。他にも、従来例のように2素子の逆阻止IGBTを逆並列に接続することでも実現できる。このような双方向のスイッチング素子4を、金属ブロックであるヒートスプレッダ5に一旦はんだによって実装し、ヒートスプレッダ5ごと、スイッチング素子4を第1の導体パターン3a上にはんだによって実装を行っている。スイッチング素子4のソース又はエミッタ端子は、例えばアルミのボンディングワイヤ6aによって、第2の導体パターン3bに電気的に接続される。
ドライバIC7は、スイッチング素子4が実装された第1の導体パターン3aと隣接した第3の導体パターン3cにはんだによって実装される。ドライバIC7の動作グランドパッドと第3の導体パターン3cとの間はボンディングワイヤ(図示していない)で電気的に接続され、スイッチング素子4を駆動するドライバIC7の信号パッドと、スイッチング素子4のゲート又はベースパッドとの間は、直接ボンディングワイヤ6bによって接続される。ここで、第2の導体パターン3bと第3の導体パターン3cとは電気的に繋がっている同一の導体パターンであり、スイッチング素子4のソース又はエミッタと接続され、スイッチング素子4のゲート又はベースに印加される駆動信号の基準となる電位の導体パターンであることから、この第3の導体パターン3cを基準・グランドとしてドライバIC7を動作させることで、外乱に強く誤動作のないスイッチング素子4の駆動を実現できる。また、ドライバIC7を基準電位となる第3の導体パターン3c上に実装することで、周囲の外乱からのシールド効果も期待でき、更にスイッチング素子4にドライバIC7を隣接して配置し、直接ボンディングワイヤ6bで接続していることから、不要な浮遊容量がつかず、高速なスイッチング制御を安定して行うことができる。
更に、ドライバIC7を制御する制御IC8は、第5の導体パターン3e上に実装され、ドライバIC7と制御IC8との間は直接ボンディングワイヤ6cによって接続される。
パワー半導体モジュール1の外形の一辺には、制御用リード9が配置されており、絶縁金属ベース基板2を構成する導体パターンであるリードフレームを外部に露出させたものである。この制御用リード9は制御IC8と電気的に接続されていて、外部から制御用リード9を介して制御IC8への電源の供給と制御信号の入力が行われる。
パワー半導体モジュール1のもう一方の辺には、交流電源入力端子R,Sや交流負荷出力端子U,V,W等の電力用リード10が配置されており、スイッチング素子4等に接続されている絶縁金属ベース基板2を構成する導体パターンであるリードフレームを外部に露出させたものである。交流電源入力端子R,Sは単相交流電源に、交流負荷出力端子U,V,Wは三相交流負荷13にそれぞれ接続される。電力用リード10は、スイッチング素子4の開閉によって制御された電力変換の入出力端子として機能するものである。
更に、電力用リード10の中には、ドライバIC7の電源パッドと電気的に接続された第4の導体パターン3dを延在させた端子があり、ドライバIC7のグランドパッドと電気的に接続された第3の導体パターン3cに対応する電力用リード10との間には、外部電源12よりドライバIC7の動作電源が供給され、更に両端子間にコンデンサ11を配置することで、ドライバIC7の電源の安定化、動作の安定化を図っている。コンデンサ11を設ける位置は、ドライバIC7の近傍であるほど、ドライバIC7の電源への外乱が減り、誤動作を防止することができる。
図1に示した構成では、パワー半導体モジュール1の一辺に電力用リード10が、当該パワー半導体モジュール1の他の一辺に制御用リード9がそれぞれ集約される。この結果、電力用リード10と制御用リード9とが、絶縁耐圧を満足するように互いに離間して配置されている。
また、スイッチング素子4よりも電力用リード10に近い側にドライバIC7を実装しており、外付けのコンデンサ11とドライバIC7とが極近傍に配置できるように配置している。このことによって、ドライバIC7の電源のより安定化を図り、外乱を減らして誤動作を防止することができる。
また、図1では、コンデンサ11を外付けとしているが、部品を内蔵する技術を用いて、第3の導体パターン3cと第4の導体パターン3dとの間にチップコンデンサを実装し、パワー半導体モジュール1内に当該チップコンデンサを内蔵することで、ドライバIC7の動作電源の更なる安定化を図ることができる。
また、上述したように、ドライバIC7は対応するスイッチング素子4のソース又はエミッタを基準としたグランドと電源によって動作するため、ドライバIC7の各々は異なるグランドで動作するため、各々は絶縁分離されている必要がある。また、制御IC8は、各々のドライバIC7のグランドとはまた異なる、制御系のグランドと電源とで動作し、それぞれを絶縁分離することと、スイッチング素子4を直近に配したドライバIC7で駆動することとにより、それぞれの電気的干渉を減らし誤動作を抑制することができる。
なお、本実施の形態では、ドライバIC7の動作電源を外部電源12から供給しているが、絶縁トランスを使って制御IC8からドライバIC7へ電力伝送して内部で電源を作ることも可能である。
図2は、図1のパワー半導体モジュールの変形例を示す部分拡大平面図である。図2によれば、スイッチング素子4のソース又はエミッタ端子に接続された第2の導体パターン3bと、ドライバIC7が実装された第3の導体パターン3cとが互いに分離されたうえ、これら両導体パターン3b,3c間がボンディングワイヤ6dによって電気的に接続される。その他の点は図1の構成と同様であって、図1の場合と同様の効果が得られる。
以上のとおり、本発明は、従来の技術では困難であった双方向パワースイッチング素子を用いたマトリックスコンバータ等の電力変換装置において、ドライバICをスイッチング素子の極近傍に集積することを可能とし、その高速制御や動作の安定性・安全性を実現することができる。
1 パワー半導体モジュール
2 絶縁金属ベース基板
3a 第1の導体パターン
3b 第2の導体パターン
3c 第3の導体パターン
3d 第4の導体パターン
3e 第5の導体パターン
4 スイッチング素子
5 ヒートスプレッダ
6a,6b,6c,6d ボンディングワイヤ
7 ドライバIC
8 制御IC
9 制御用リード
10 電力用リード
11 コンデンサ
12 外部電源
13 三相交流負荷
2 絶縁金属ベース基板
3a 第1の導体パターン
3b 第2の導体パターン
3c 第3の導体パターン
3d 第4の導体パターン
3e 第5の導体パターン
4 スイッチング素子
5 ヒートスプレッダ
6a,6b,6c,6d ボンディングワイヤ
7 ドライバIC
8 制御IC
9 制御用リード
10 電力用リード
11 コンデンサ
12 外部電源
13 三相交流負荷
Claims (12)
- 電力用リードと制御用リードとを含む複数の導体パターンを有する基板と、双方向パワー半導体からなるスイッチング素子と、前記スイッチング素子を駆動するドライバICとからなるパワー半導体モジュールであって、
前記スイッチング素子は、前記基板の第1の導体パターン上に実装され、
前記スイッチング素子のソース又はエミッタ端子は、前記電力用リードをなす第2の導体パターンに電気的に接続され、
前記ドライバICは、前記第2の導体パターンと電気的に接続された第3の導体パターン上に実装され、
前記第3の導体パターンは、前記第1の導体パターンと近接し、
前記ドライバICの接地端子は、前記第3の導体パターンと電気的に接続され、
前記ドライバICの駆動端子は、前記スイッチング素子のゲート又はベース端子と電気的に接続されたことを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記ドライバICの駆動端子と前記スイッチング素子のゲート又はベース端子との間は、直接ボンディングワイヤによって接続されていることを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記ドライバICを実装した前記第3の導体パターンと、前記スイッチング素子を実装した前記第1の導体パターンとは、互いに隣接していることを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記第2の導体パターンと前記第3の導体パターンとは、連続した同一の導体パターンであることを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
ヒートスプレッダとなる金属ブロックに前記スイッチング素子が実装されたものを前記第1の導体パターン上に実装したことを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記ドライバICの電源端子が電気的に接続された第4の導体パターンが、前記電力用リードをなす前記第2の導体パターンに隣接して延在し、前記第2の導体パターンと前記第4の導体パターンとの間にコンデンサが接続されていることを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項6記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記第2の導体パターンと前記第4の導体パターンとの間に接続された前記コンデンサが当該モジュールに内蔵されていることを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項6記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記第2の導体パターンと前記第4の導体パターンとが当該モジュール外に前記電力用リードとして併設して延出され、前記第2の導体パターンと前記第4の導体パターンとの間に前記コンデンサを外付けできるように構成されたことを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記スイッチング素子が前記第1の導体パターン上に実装された位置よりも、前記ドライバICが前記第3の導体パターン上に実装された位置の方が、前記電力用リードに近く配置されていることを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
当該モジュールの一辺に前記電力用リードが、当該モジュールの他の一辺に前記制御用リードがそれぞれ集約されて、前記電力用リードと前記制御用リードとが絶縁耐圧を満足するように離間して配置されたことを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記複数の導体パターンを有する基板は、リードフレームからなることを特徴とするパワー半導体モジュール。 - 請求項1記載のパワー半導体モジュールにおいて、
前記複数の導体パターンを有する基板は、絶縁金属ベース基板からなることを特徴とするパワー半導体モジュール。
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Patent Citations (3)
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JP2002043512A (ja) * | 2000-07-28 | 2002-02-08 | Mitsubishi Electric Corp | パワーモジュール |
JP2005218205A (ja) * | 2004-01-29 | 2005-08-11 | Hitachi Ltd | 半導体モジュールおよび電力変換装置 |
JP2009027883A (ja) * | 2007-07-23 | 2009-02-05 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置 |
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