JP5415394B2 - テストプラグ及び該テストプラグを用いた電気試験方法 - Google Patents

Description

この発明は、例えば、計測器具を接続されて、相間電圧等を計測するためのテストプラグ及び該テストプラグを用いた電気試験方法に関する。

従来より、変電所等の電気所に設置された継電器盤等の電気盤には、テストターミナルが設けられている。テストターミナルは、変圧器回路及び変流器回路に組み込まれ、プラグ挿入口が形成された計器用変圧器テストターミナル（ＰＴＴターミナル）及び計器用変流器テストターミナル（ＣＴＴターミナル）を含んでいる。

図１１に示すように、電気盤１０２において、テストプラグ１０１にテスタ等の計測器具を接続して、例えば、相間電圧等を計測する場合には、テストプラグ１０１は、電気盤１０２に設けられたテストターミナルのプラグ挿入口１０３に挿入され、断面コ字形状の接続金具１０４によって同軸上に配設された一対の端子が接続される。

ところが、接続金具１０４には電圧が印加されるため、感電や、導電性の工具等の接触による相間短絡の虞がある。そこで、絶縁テープ（例えば、ビニルテープ）等の絶縁用部材１０５によって、接続金具１０４を含む導電部位を被覆して養生された状態で、互いに隣接する端子間の接触を防止する。例えば、その一部を絶縁部材で被覆した接続金具を用いる技術が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。この状態で、テスタ等の計測器具を用いて、例えば、相間電圧等を計測する。

特開２００７−２８８８３３号公報

しかしながら、上記従来技術では、上記導電部位をすべて覆ってしまうと、電圧測定が実施できない。そこで、導電部位を僅かに露出させておく必要がある。このため、僅かな露出であっても、特に狭隘な空間で測定作業を行う場合には、誤接触によって、感電や、相間短絡によるミストリップを引き起こす危険性が残ってしまう。

この発明は、前記の課題を解決し、感電や短絡等の危険を回避して、安全にかつ確実に試験を行うことができるテストプラグ及び該テストプラグを用いた電気試験方法を提供することを目的としている。

前記の課題を解決するために、請求項１の発明は、テストターミナルを介して電気盤に装着され、電圧計測を含む電気試験のために用いられるテストプラグであって、電気試験を行うための棒状電極を有する機器に接続され、かつ同軸上に配設される対をなす第１の端子及び第２の端子と、前面側に配置される前記第１の端子又は前記第２の端子を覆う絶縁体とを備え、前記絶縁体には、前記棒状電極が挿入され、その先端部を前記第１の端子又は前記第２の端子に電気的に接続させるための挿入孔が形成され、前記第１の端子及び前記第２の端子は、前記テストターミナルへの装着時に前記テストターミナルの第１の導体及び第２の導体にそれぞれ接続され、前記第１の導体及び前記第２の導体は、それぞれ電源側装置及び負荷側装置に接続され、前記第１の端子と前記第２の端子とは接続具を介して電気的に接続され、少なくとも前記接続具の導電部位は、絶縁性部材によって覆われていることを特徴としている。

請求項１の発明では、第１の端子又は第２の端子を覆う絶縁体には、電気試験を行うための機器の棒状電極が挿入され、その先端部を第１の端子又は第２の端子に電気的に接続させるための挿入孔が形成されている。

請求項２の発明は、請求項１に記載のテストプラグであって、前記棒状電極が接続される前記第１の端子又は前記第２の端子の前端部には、前記棒状電極によって押圧されることによって前記前端部へ向けて変位する可動接続体が嵌着される凹部が形成され、前記棒状電極は、前記可動接続体を介して前記第１の端子又は前記第２の端子に接続されることを特徴としている。

請求項３の発明は、請求項２に記載のテストプラグであって、前記絶縁体には前記棒状電極と前記第１の端子又は前記第２の端子との接続状態を示す表示窓が形成され、前記可動接続体の変位とともに変位し、前記棒状電極と前記第１の端子又は前記第２の端子とが接続されたときに、少なくともその一部が前記表示窓において露出される接続表示部材を備えたことを特徴としている。

請求項４の発明は、テストターミナルを介して電気盤に装着して電圧計測を含む電気試験を行うテストプラグを用いた電気試験方法であって、前記テストプラグは、電気試験のための棒状電極を有する機器に接続され、かつ同軸上に配設される対をなす第１の端子及び第２の端子と、前面側に配置される前記第１の端子又は前記第２の端子を覆う絶縁体とを備え、前記絶縁体には、前記棒状電極が挿入され、その先端部を前記第１の端子又は前記第２の端子に電気的に接続させるための挿入孔が形成され、前記棒状電極を前記挿入孔に挿入し、前記第１の端子又は前記第２の端子に接続させて電気試験を行うとともに、前記テストプラグの前記第１の端子及び前記第２の端子は、前記テストプラグを前記テストターミナルへ装着したときに前記テストターミナルの第１の導体及び第２の導体にそれぞれ接続され、前記第１の導体及び前記第２の導体は、それぞれ電源側装置及び負荷側装置に接続され、前記第１の端子と前記第２の端子とを接続具を介して電気的に接続し、少なくとも前記接続具の導電部位を、絶縁性部材によって覆うことを特徴としている。

請求項１の発明によれば、第１の端子又は第２の端子を覆う絶縁体には、電気試験を行うための機器の棒状電極が挿入され、その先端部を第１の端子又は第２の端子に電気的に接続させるための挿入孔が形成されているので、棒状電極を挿入孔に挿入して電気試験を行うことによって、感電や短絡等の危険を回避して、安全にかつ確実に試験を行うことができる。

また、第１の端子と第２の端子とを接続する接続具の導電部位は、絶縁性部材によって覆われているので、感電や短絡等の危険を確実に回避することができる。

請求項２の発明によれば、棒状電極は可動接続体を介して第１の端子又は第２の端子に接続されるので、確実に接続することができる。

請求項３の発明によれば、棒状電極と第１の端子又は第２の端子とが接続されたときに、接続表示部材の少なくともその一部が表示窓において露出されるので、棒状電極の接続を確認して、確実に試験を行うことができる。

請求項４の発明によれば、第１の端子又は第２の端子を覆う絶縁体には、電気試験を行うための機器の棒状電極が挿入され、その先端部を第１の端子又は第２の端子に電気的に接続させるための挿入孔が形成されているので、棒状電極を挿入孔に挿入して電気試験を行うことによって、感電や短絡等の危険を回避して、安全にかつ確実に試験を行うことができる。

また、第１の端子と第２の端子とを接続する接続具の導電部位は、絶縁性部材によって覆われているので、感電や短絡等の危険を確実に回避することができる。

この発明の実施の形態１によるテストプラグの構成、及び同テストプラグを用いた電圧測定方法を説明するための斜視図である。 同テストプラグの構成、及び同テストプラグを用いた電圧測定方法を説明するための断面図である。 同テストプラグの構成、及び同テストプラグを用いた電圧測定方法を説明するための一部破断側面図である。 同テストプラグの構成を示す斜視図である。 同電圧測定方法において用いられる接続金具の構成を説明するための斜視図である。 この発明の実施の形態２によるテストプラグの端子部の構成及び機能を説明するための断面図である。 同端子部の構成及び機能を説明するための断面図である。 同端子部の構成を示す正面図である。 この発明の実施の形態２の変形例によるテストプラグの端子部の構成及び機能を説明するための断面図である。 同端子部の構成及び機能を説明するための断面図である。 従来技術を説明するための説明図である。

次に、この発明の実施の形態について、図面を用いて詳しく説明する。

（実施の形態１）
図１は、この発明の実施の形態１によるテストプラグの構成、及び同テストプラグを用いた電圧測定方法を説明するための斜視図、図２は、同テストプラグの構成、及び同テストプラグを用いた電圧測定方法を説明するための断面図、図３は、同テストプラグの構成、及び同テストプラグを用いた電圧測定方法を説明するための一部破断側面図、図４は、同テストプラグの構成を示す斜視図、図５は、同電圧測定方法において用いられる接続金具の構成を説明するための斜視図である。

図１乃至図３に示すように、テストプラグ１は、継電器盤等の電気盤２に設けられたテストターミナルのプラグ挿入口３に挿入され、断面コ字形状の接続金具５によって同軸上に配設された一対の端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）が接続され、さらに、絶縁テープ等の絶縁用部材６によって、接続金具５の露出部位を含む導電部位が被覆された状態で、テスタ等の計測器具（機器）を用いて、例えば、相間電圧等を計測するために用いられる。

図１及び図４に示すように、テストプラグ１は、基体８のプラグ挿入口３に挿入される背面側にプラグ部９が設けられ、計測器が接続される前面側に端子部１１，１２，１３，１４が設けられ、各端子部１１（１２，１３，１４）には、例えば、テスタのテスタ棒４の接触電極４ａが挿入される所定の直径（例えば、３ｍｍ〜４ｍｍ程度）の挿入孔１１ｔ（１２ｔ，１３ｔ，１４ｔ）が形成されて概略構成されている。

プラグ部９は、上下に互いに絶縁された各一対の接触子１６，１７が絶縁板１８に設けられて構成されている。端子部１１（１２，１３，１４）においては、各一対の接触子１６，１７の反対側（前面側）に、同軸上に配設された一対の端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）が対応する接触子１７，１６に接続されて配置されている。

なお、端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）は、それぞれ、テストターミナルの負荷側導体（第２の導体）及び電源側導体（第１の導体）にそれぞれ接続され、負荷側導体及び電源側導体は、それぞれ負荷側装置及び電源側装置に接続される。

端子部１１（１２，１３，１４）は、雄ねじ部を有する端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）と、端子１１ａ（１２ａ，１３ａ，１４ａ）の雄ねじ部と螺合する絶縁性部材から構成されるナット部１１ｃ（１２ｃ，１３ｃ，１４ｃ）と、固定絶縁部１１ｄ（１２ｄ，１３ｄ，１４ｄ）と、端子１１ｂ（１２ｂ，１３ｂ，１４ｂ）の雄ねじ部と螺合する絶縁性部材から構成されるナット部１１ｅ（１２ｅ，１３ｅ，１４ｅ）とを有している。

ナット部１１ｅ（１２ｅ，１３ｅ，１４ｅ）には、接触電極４ａが挿入され、端子１１ｂ（１２ｂ，１３ｂ，１４ｂ）に電気的に接続させるための挿入孔１１ｔ（１２ｔ，１３ｔ，１４ｔ）が端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）等と軸（中心軸）を同じくして形成されている。

接続金具５は、端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）を電気的に接続するために用いられ、図５に示すように、端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）のうち、一方の端子の雄ねじ部に嵌め込まれる凹部が形成された接触板２１と、他方の端子の雄ねじ部に嵌め込まれる凹部が形成された接触板２２と、接触板２１，２２を接続する連結部２３とを有している。

次に、図１乃至図３を参照して、テストプラグ１を用いた電圧測定方法について説明する。まず、接続金具５を、端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）に取り付ける。ここで、接触板２１を、例えば、端子１１ａの基部とナット部１１ｃとの間に締め付けて固定し、接触板２２を、固定絶縁部１１ｄとナット部１１ｅとの間に締め付けて固定する。

次に、接続金具５を含む導電部位を、絶縁テープ（例えば、ビニルテープ）等の絶縁用部材６によって完全に覆う。次に、テストプラグ１をプラグ挿入口３に挿入する。この状態で、例えば、挿入孔１１ｔにテスタ棒４の接触電極４ａを挿入して、端子１１ｂに電気的に接続させ、残りのテスタ棒４の接触電極４ａを挿入孔１２ｔに挿入して、端子１２ｂに電気的に接続させて、端子１１ｂ，１２ｂの相間電圧を計測する。

こうして、この実施の形態の構成によれば、ナット部１１ｅ（１２ｅ，１３ｅ，１４ｅ）には、接触電極４ａが挿入され、端子１１ｂ（１２ｂ，１３ｂ，１４ｂ）に電気的に接続させるための挿入孔１１ｔ（１２ｔ，１３ｔ，１４ｔ）が形成されているので、絶縁用部材６によって、断面コ字形状の接続金具５の露出部位を含む導電部位が全て被覆され状態で、テスタ等の計測器具を用いて、例えば、相間電圧等を計測することができる。

したがって、テストプラグ１を用いて、導電部を露出させずに、感電や短絡等の危険を回避しつつ、接触電極４ａを端子１１ｂ（１２ｂ，１３ｂ，１４ｂ）に確実に接続させて、安全にかつ確実に相間電圧等の測定を行うことができる。ここで、小径の挿入孔１１ｔ（１２ｔ，１３ｔ，１４ｔ）に接触電極４ａを挿入し、内部の端子１１ｂ（１２ｂ，１３ｂ，１４ｂ）の前端に接続させるので、他の導電物が誤接触する可能性は極めて小さい。また、挿入孔１１ｔ（１２ｔ，１３ｔ，１４ｔ）にテスタ棒４の接触電極４ａを挿入するのみで、簡単にかつ迅速に電圧等を計測することができる。

（実施の形態２）
図６は、この発明の実施の形態２によるテストプラグの端子部の構成及び機能を説明するための断面図、図７は、同端子部の構成及び機能を説明するための断面図、図８は、同端子部の構成を示す正面図である。

図６及乃至図８に示すように、テストプラグ２５の各端子部２６は、雄ねじが螺設された端子２６ｂと、絶縁性部材から構成される固定絶縁部２６ｄと、端子２６ｂと螺合する絶縁性部材から構成されるナット部２６ｅと、端子２６ｂに形成された凹部２６ｒに固定された環状の固定接続部材２７と、主として空洞部２６ｐ内を軸方向に沿って変位可能な可動接続部材２８と、軸に直交する方向に沿って空洞部２６ｓ内を変位可能とされ、端子２６ｂと接触電極４ａとの電気的接続状態を示すためのインジケータ部材２９とを有している。なお、図６及び図７においては、実施の形態１における端子１１ａに対応する端子等の図示を省略している。

また、凹部２６ｒ内には、可動接続部材２８を押し返すように作用する圧縮ばね３１が固定接続部材２７を貫通するように配置され、空洞部２６ｓ内には、インジケータ部材２９を空洞部２６ｓ内に収納するように作用する圧縮ばね３２が配置され、接触電極４ａが挿入される挿入孔２６ｔ内には、接触電極４ａを支持する板ばね３３が配置されている。

可動接続部材２８は、固定接続部材２７に接続される接続端部２８ａと、接触電極４ａの先端部を受ける受け部２８ｂと、接続端部２８ａと受け部２８ｂとを接続する導電部２８ｃとを有している。また、受け部２８ｂには、接触電極４ａの先端部を押さえて支持する板ばね２８ｅが配置され、導電部２８ｃには接触電極４ａの先端部が嵌入される凹部２８ｄが形成されている。

また、インジケータ部材２９の後端部には、傾斜面が形成され、図７に示すように、圧縮ばね３１の付勢力に抗して接触電極４ａによって可動接続部材２８が押し込まれると、圧縮ばね３２の付勢力に抗して傾斜面が押され、インジケータ部材２９が、その前端部が空洞部２６ｓの開口端面（表示窓）から突出（露出）するように変位する。また、ナット部２６ｅには、挿入孔２６ｔと、空洞部２６ｐと、空洞部２６ｓとが形成され、端子２６ｂには、凹部２６ｒが形成されている。

次に、図６乃至図８を参照して、テストプラグ２５の動作について説明する。図６に示すように、テスタ棒４の接触電極４ａが挿入孔２６ｔに挿入されると、板ばね３３によって押さえられ、さらに押し込まれると、先端部が可動接続部材２８に達し、先端部が凹部２８ｄに嵌入される。さらに、圧縮ばね３１の付勢力に抗して押し込まれると、可動接続部材２８が端子２６ｂへ向けて変位し、図７に示すように、接続端部２８ａが、固定接続部材２７に嵌入されて、接触電極４ａは、可動接続部材２８及び固定接続部材２７を介して、端子２６ｂに接続される。

一方、図７に示すように、接触電極４ａによって可動接続部材２８が押し込まれると、圧縮ばね３２の付勢力に抗してインジケータ部材２９の後端部の傾斜面が押され、インジケータ部材２９が空洞部２６ｓの開口端面（表示窓）へ向けて変位し、接続端部２８ａが、固定接続部材２７に嵌入されたときに、インジケータ部材２９の前端部は、空洞部２６ｓの開口端面から突出（露出）し、接触電極４ａが端子２６ｂに接続されたことを示す。

この実施の形態の構成によれば、上述した実施の形態１と略同様の効果を得ることができる。加えて、端子２６ｂと接触電極４ａとの電気的接続状態をインジケータ部材２９によって確認することができるので、確実に電圧等を測定することができる。また、接触電極４ａは可動接続体２８を介して端子２６ｂに接続されるので、確実に接続することができる。

以上、この発明の実施の形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。例えば、上述した実施の形態では、挿入孔１１ｔ（１２ｔ，１３ｔ，１４ｔ）を端子１１ａ，１１ｂ（１２ａ，１２ｂ、１３ａ，１３ｂ、１４ａ，１４ｂ）と軸を同じくして形成する場合について述べたが、これに限らず、例えば、その軸が端子の軸に対して所定の角度（例えば、９０度）までの範囲で、傾いていても良い。

また、実施の形態２では、インジケータ部材をナット部２６ｅの外壁面から突出させて、接続状態を示す場合について述べたが、接続時に色表示させるように構成しても良い。ここで、着色されたインジケータ部材を、可動接続部材に直接取り付けて変位させても良いし、伝達部材（歯車等）を介して、可動接続部材の運動に連動させて変位させるようにしても良い。

例えば、図９及び図１０に示すように、テストプラグ３５の各端子部３６は、雄ねじが螺設された端子３６ｂと、絶縁性部材から構成される固定絶縁部３６ｄと、端子３６ｂと螺合する絶縁性部材から構成されるナット部３６ｅと、端子３６ｂに形成された凹部３６ｒに固定された環状の固定接続部材３７と、主として空洞部３６ｐ内を軸方向に沿って変位可能な可動接続部材３８と、ナット部３６ｅの外壁面に沿って変位可能な端子３６ｂと接触電極４ａとの電気的接続状態を示すためのインジケータ部材３９とを有している。

また、凹部３６ｒ内には、可動接続部材３８を押し返すように作用する圧縮ばね４１が固定接続部材３７を貫通するように配置され、開口３６ｓから、着色（例えば、赤色）され、ナット部３６ｅの外壁面形状に対応した曲面形状を有する板状のインジケータ部材３９が視認可能とされ、接触電極４ａが挿入される挿入孔３６ｔ内には、接触電極４ａを支持する板ばね４２が配置されている。

可動接続部材３８は、固定接続部材３７に接続される接続端部３８ａと、接触電極４ａ先端部を受ける受け部３８ｂと、接続端部３８ａと受け部３８ｂとを接続する導電部３８ｃとを有している。また、受け部３８ｂには、接触電極４ａの先端部を押さえて支持する板ばね３８ｅが配置され、導電部３８ｃには接触電極４ａの先端部が嵌入される凹部３８ｄが形成され、受け部３８ｂには、インジケータ部材３９を支持する例えば線状又は板状の支持部材３８ｆが固定されている。

なお、インジケータ部材３９は、支持部材３８ｆとともに軸（中心軸）方向に沿って変位可能とされ、かつ、支持部材３８によって軸に直交し軸から開口３６ｓへ向かう方向に沿って若干変位可能なように支持され、さらに、開口３６ｓ近傍に形成された案内部（不図示）によって外壁面に沿って変位可能とされる。また、ナット部３６ｅには、挿入孔３６ｔと、空洞部３６ｐとが形成され、端子３６ｂには、凹部３６ｒが形成されている。

こうして、図１０に示すように、接続端部３８ａが、固定接続部材３７に嵌入されて、接触電極４ａが、可動接続部材３８及び固定接続部材３７を介して、端子３６ｂに接続されると、開口３６ｓから着色されたインジケータ部材３９が視認される。また、ナット部１１ｅ，１２ｅ，１３ｅ，１４ｅの絶縁材料として、透明樹脂を用いて可視化するようにしても良い。

また、電気所として、変電所のほか、発電所等に設置された電気盤について適用できる。また、４極用のテストプラグのほか、２極用のテストプラグ等にも適用できる。

１，２５，３５ テストプラグ
２ 電気盤
３ プラグ挿入口
４ａ 接触電極（棒状電極）
５ 接続金具（接続具）
６ 絶縁用部材（絶縁性部材）
１１，１２，１３，１４，２６，３６ 端子部
１１ａ，１２ａ，１３ａ，１４ａ 端子（第１の端子又は第２の端子）
１１ｂ，１２ｂ，１３ｂ，１４ｂ，２６ｂ，３６ｂ 端子（第２の端子又は第１の端子）
１１ｅ，１２ｅ，１３ｅ，１４ｅ，２６ｅ，３６ｅ ナット部（絶縁体）
１１ｔ，１２ｔ，１３ｔ，１４ｔ，２６ｔ，３６ｔ 挿入孔
２６ｒ，３６ｒ 凹部
２８，３８ 可動接続部材（可動接続体）
２９，３９ インジケータ部材（接続表示部材）
３６ｓ 開口（表示窓）

Claims (4)

1. テストターミナルを介して電気盤に装着され、電圧計測を含む電気試験のために用いられるテストプラグであって、
   電気試験を行うための棒状電極を有する機器に接続され、かつ同軸上に配設される対をなす第１の端子及び第２の端子と、前面側に配置される前記第１の端子又は前記第２の端子を覆う絶縁体とを備え、前記絶縁体には、前記棒状電極が挿入され、その先端部を前記第１の端子又は前記第２の端子に電気的に接続させるための挿入孔が形成され、
   前記第１の端子及び前記第２の端子は、前記テストターミナルへの装着時に前記テストターミナルの第１の導体及び第２の導体にそれぞれ接続され、前記第１の導体及び前記第２の導体は、それぞれ電源側装置及び負荷側装置に接続され、前記第１の端子と前記第２の端子とは接続具を介して電気的に接続され、少なくとも前記接続具の導電部位は、絶縁性部材によって覆われていることを特徴とするテストプラグ。
2. 前記棒状電極が接続される前記第１の端子又は前記第２の端子の前端部には、前記棒状電極によって押圧されることによって前記前端部へ向けて変位する可動接続体が嵌着される凹部が形成され、前記棒状電極は、前記可動接続体を介して前記第１の端子又は前記第２の端子に接続されることを特徴とする請求項１に記載のテストプラグ。
3. 前記絶縁体には前記棒状電極と前記第１の端子又は前記第２の端子との接続状態を示す表示窓が形成され、前記可動接続体の変位とともに変位し、前記棒状電極と前記第１の端子又は前記第２の端子とが接続されたときに、少なくともその一部が前記表示窓において露出される接続表示部材を備えたことを特徴とする請求項２に記載のテストプラグ。
4. テストターミナルを介して電気盤に装着して電圧計測を含む電気試験を行うテストプラグを用いた電気試験方法であって、
   前記テストプラグは、電気試験のための棒状電極を有する機器に接続され、かつ同軸上に配設される対をなす第１の端子及び第２の端子と、前面側に配置される前記第１の端子又は前記第２の端子を覆う絶縁体とを備え、前記絶縁体には、前記棒状電極が挿入され、その先端部を前記第１の端子又は前記第２の端子に電気的に接続させるための挿入孔が形成され、
   前記棒状電極を前記挿入孔に挿入し、前記第１の端子又は前記第２の端子に接続させて電気試験を行うとともに、
   前記テストプラグの前記第１の端子及び前記第２の端子は、前記テストプラグを前記テストターミナルへ装着したときに前記テストターミナルの第１の導体及び第２の導体にそれぞれ接続され、前記第１の導体及び前記第２の導体は、それぞれ電源側装置及び負荷側装置に接続され、前記第１の端子と前記第２の端子とを接続具を介して電気的に接続し、少なくとも前記接続具の導電部位を、絶縁性部材によって覆うことを特徴とするテストプラグを用いた電気試験方法。

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