JPH087231B2 - 測定プローブ - Google Patents
測定プローブInfo
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- JPH087231B2 JPH087231B2 JP4038735A JP3873592A JPH087231B2 JP H087231 B2 JPH087231 B2 JP H087231B2 JP 4038735 A JP4038735 A JP 4038735A JP 3873592 A JP3873592 A JP 3873592A JP H087231 B2 JPH087231 B2 JP H087231B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06772—High frequency probes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測定プローブ、特に、
電気信号を被測定デバイスから測定装置に送るための測
定プローブに関する。
電気信号を被測定デバイスから測定装置に送るための測
定プローブに関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】被測定
デバイスの機能を調べるために、低電圧及び高電圧プロ
ーブ、電流プローブ、温度プローブ等の種々の測定プロ
ーブがある。これらのプローブは、柔軟な伝送線、即ち
ケーブルを介して終端出力結合器に接続された信号入力
ヘッドを有する。終端出力結合器は、オシロスコープ又
は他の電気試験機器の入力端に接続され、入力信号ヘッ
ドは被測定デバイスに触れるために使用する。
デバイスの機能を調べるために、低電圧及び高電圧プロ
ーブ、電流プローブ、温度プローブ等の種々の測定プロ
ーブがある。これらのプローブは、柔軟な伝送線、即ち
ケーブルを介して終端出力結合器に接続された信号入力
ヘッドを有する。終端出力結合器は、オシロスコープ又
は他の電気試験機器の入力端に接続され、入力信号ヘッ
ドは被測定デバイスに触れるために使用する。
【０００３】低電圧プローブは、電子回路内の電圧を調
べるために使用する。電磁干渉（ＥＭＩ）を減少させ、
観察する電気信号の劣化を防止するため、低電圧プロー
ブは、細長い円筒状外側導体の一端内に、同軸状に配置
されたプローブ・チップを有し、プローブ・チップの一
端は、被試験デバイスに触れるために、外側導体の端部
を越えて延びる。絶縁プラグは、円筒外側導体内にプロ
ーブ・チップを固定するために使用する。基板上に配置
された受動又は能動回路は、細長い円筒状外側導体内に
配置され、プローブ・チップの他端に電気的に接続され
る。伝送線は、基板に電気的に接続され、信号入力ヘッ
ドからの電気信号を、測定器の入力端に接続された終端
出力結合器に結合する。細長い円筒状外側導体の大部分
は、絶縁材料により囲まれている。外側導体の一部は、
プローブ・チップ近傍で露出され、プローブ上にＢＮＣ
コネクタの様な種々のプローブ用アダプタを配置でき
る。上記の特性を有する代表的な低電圧プローブには、
テクトロニクス社が製造、販売するＰ６１０６Ａ受動プ
ローブがある。Ｐ６１０６Ａと共に使用するＢＮＣプロ
ーブ・アダプタも、テクトロニクス社が製造、販売して
いる。
べるために使用する。電磁干渉（ＥＭＩ）を減少させ、
観察する電気信号の劣化を防止するため、低電圧プロー
ブは、細長い円筒状外側導体の一端内に、同軸状に配置
されたプローブ・チップを有し、プローブ・チップの一
端は、被試験デバイスに触れるために、外側導体の端部
を越えて延びる。絶縁プラグは、円筒外側導体内にプロ
ーブ・チップを固定するために使用する。基板上に配置
された受動又は能動回路は、細長い円筒状外側導体内に
配置され、プローブ・チップの他端に電気的に接続され
る。伝送線は、基板に電気的に接続され、信号入力ヘッ
ドからの電気信号を、測定器の入力端に接続された終端
出力結合器に結合する。細長い円筒状外側導体の大部分
は、絶縁材料により囲まれている。外側導体の一部は、
プローブ・チップ近傍で露出され、プローブ上にＢＮＣ
コネクタの様な種々のプローブ用アダプタを配置でき
る。上記の特性を有する代表的な低電圧プローブには、
テクトロニクス社が製造、販売するＰ６１０６Ａ受動プ
ローブがある。Ｐ６１０６Ａと共に使用するＢＮＣプロ
ーブ・アダプタも、テクトロニクス社が製造、販売して
いる。
【０００４】ＢＮＣプローブ・アダプタは、一端にＢＮ
Ｃコネクタ、及び他端から延びる円筒状金属管を有す
る。金属管は、プローブの円筒状外側導体を囲む絶縁材
料との間に隙間を形成する第１内径を有する。ＢＮＣコ
ネクタに最も近い第２内径は、プローブの円筒状外側導
体より僅かに小さく、金属管の軸に平行に形成され、円
筒状外側導体の端部を掴むための指を形成するスロット
即ち細長い穴を有する。ＢＮＣコネクタは、外側導体と
同軸状に配置され、且つ電気的に絶縁された中心導体を
有する。ＢＮＣコネクタの外側導体は、円筒状金属管に
電気的に接続されている。プローブのプローブ・チップ
は、ＢＮＣコネクタの中心導体に嵌合し、円筒状金属管
はプローブの円筒状外側導体に係合し、ＢＮＣコネクタ
を介して信号がプローブに供給される同軸信号路が形成
される。
Ｃコネクタ、及び他端から延びる円筒状金属管を有す
る。金属管は、プローブの円筒状外側導体を囲む絶縁材
料との間に隙間を形成する第１内径を有する。ＢＮＣコ
ネクタに最も近い第２内径は、プローブの円筒状外側導
体より僅かに小さく、金属管の軸に平行に形成され、円
筒状外側導体の端部を掴むための指を形成するスロット
即ち細長い穴を有する。ＢＮＣコネクタは、外側導体と
同軸状に配置され、且つ電気的に絶縁された中心導体を
有する。ＢＮＣコネクタの外側導体は、円筒状金属管に
電気的に接続されている。プローブのプローブ・チップ
は、ＢＮＣコネクタの中心導体に嵌合し、円筒状金属管
はプローブの円筒状外側導体に係合し、ＢＮＣコネクタ
を介して信号がプローブに供給される同軸信号路が形成
される。
【０００５】電圧測定プローブには、プローブを特定の
定格を超えて使用すると、生命に影響する電気ショック
を与えるおそれがあることを操作者に警告するための電
圧定格がある。プローブの電圧定格を超えると、プロー
ブ・チップ及びプローブの外側導体間で放電が起きる虞
れがある。絶縁規格は、電気／電子測定及び試験器に関
するＵＬ規格により、特定の電圧規格に関して、導電性
部品間と、導電性部品及び操作者間との最短距離が定め
られている。例えば、ピークＡＣ電圧規格が２１〜３１
５Ｖである電気機器は、導電性部品間と、露出した導電
性部品及び操作者間とでは、空気中で最小約３.５ｍｍ
の間隔、及び物体表面上で最小約４.６ｍｍの間隔を設
ける必要がある。通常、低電圧プローブは、単一絶縁デ
バイスである。単一絶縁に関するＵＬ規格は、プローブ
のピークＡＣ電圧規格の２倍＋６０Ｈｚの高電圧試験中
の１４１４ピーク・ボルトである。また、二重絶縁プロ
ーブのＵＬ規格は、プローブのピークＡＣ電圧規格の４
倍＋６０Ｈｚの高電圧試験中の２８７８ピーク・ボルト
である。プローブの電圧レベル規格が増加するにつれ
て、最小隔離距離規格も増加する。これにより、高電圧
プローブは、低電圧プローブより大幅に大きくなる。
定格を超えて使用すると、生命に影響する電気ショック
を与えるおそれがあることを操作者に警告するための電
圧定格がある。プローブの電圧定格を超えると、プロー
ブ・チップ及びプローブの外側導体間で放電が起きる虞
れがある。絶縁規格は、電気／電子測定及び試験器に関
するＵＬ規格により、特定の電圧規格に関して、導電性
部品間と、導電性部品及び操作者間との最短距離が定め
られている。例えば、ピークＡＣ電圧規格が２１〜３１
５Ｖである電気機器は、導電性部品間と、露出した導電
性部品及び操作者間とでは、空気中で最小約３.５ｍｍ
の間隔、及び物体表面上で最小約４.６ｍｍの間隔を設
ける必要がある。通常、低電圧プローブは、単一絶縁デ
バイスである。単一絶縁に関するＵＬ規格は、プローブ
のピークＡＣ電圧規格の２倍＋６０Ｈｚの高電圧試験中
の１４１４ピーク・ボルトである。また、二重絶縁プロ
ーブのＵＬ規格は、プローブのピークＡＣ電圧規格の４
倍＋６０Ｈｚの高電圧試験中の２８７８ピーク・ボルト
である。プローブの電圧レベル規格が増加するにつれ
て、最小隔離距離規格も増加する。これにより、高電圧
プローブは、低電圧プローブより大幅に大きくなる。
【０００６】殆どの場合、電圧プロービングは、共通接
地電位を基準にした電圧信号に対して行われる。共通接
地電位は、試験装置から供給され、終端出力コネクタ及
びプローブの伝送線を介して信号入力ヘッドに供給され
る。更に、信号入力ヘッドにおいて、信号入力ヘッドの
外側導体は、被試験デバイス共通接地電位に電気的に接
続される。特別に設計された試験装置は、共通電圧が接
地されていないが、非接地電位に対しフロート（浮動）
可能であるフローティング測定ができる。この場合、共
通電圧は、試験装置ではなく被試験デバイスから供給さ
れる。信号入力ヘッドでプローブの外側導体は、電圧源
に電気的に接続される。高電圧フローティング測定で
は、操作者を保護するために、信号及び測定プローブの
外側導体の両方をシールドする必要がある。更に、ＵＬ
規格に従うと、フローティング測定を行うためには、プ
ローブに二重絶縁が必要である。
地電位を基準にした電圧信号に対して行われる。共通接
地電位は、試験装置から供給され、終端出力コネクタ及
びプローブの伝送線を介して信号入力ヘッドに供給され
る。更に、信号入力ヘッドにおいて、信号入力ヘッドの
外側導体は、被試験デバイス共通接地電位に電気的に接
続される。特別に設計された試験装置は、共通電圧が接
地されていないが、非接地電位に対しフロート（浮動）
可能であるフローティング測定ができる。この場合、共
通電圧は、試験装置ではなく被試験デバイスから供給さ
れる。信号入力ヘッドでプローブの外側導体は、電圧源
に電気的に接続される。高電圧フローティング測定で
は、操作者を保護するために、信号及び測定プローブの
外側導体の両方をシールドする必要がある。更に、ＵＬ
規格に従うと、フローティング測定を行うためには、プ
ローブに二重絶縁が必要である。
【０００７】従来の低電圧プローブは、フローティング
測定に関する厳格な安全条件を満たしておらず、高電圧
フローティング測定用に特別に設計されたフローティン
グ測定プローブは、共通の電圧接地測定用のプローブ・
アダプタと共に使用できない。
測定に関する厳格な安全条件を満たしておらず、高電圧
フローティング測定用に特別に設計されたフローティン
グ測定プローブは、共通の電圧接地測定用のプローブ・
アダプタと共に使用できない。
【０００８】したがって、本発明の目的は、フローティ
ング測定プローブとして、及びプローブ・アダプタを装
着可能なプローブとして使用可能な測定プローブの提供
にある。
ング測定プローブとして、及びプローブ・アダプタを装
着可能なプローブとして使用可能な測定プローブの提供
にある。
【０００９】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明の測定プ
ローブは、細長い円筒状外側導体である管状導体３６
と、この外側導体と同軸状に配置され、外側導体の端部
を越えて延びるプローブ・チップ３０とを有する。絶縁
材料から成る本体４６は、外側導体及びプローブ・チッ
プの一部を囲み、プローブ・チップ及び外側導体を電気
的に絶縁する。切欠き部６０は、プローブ・チップから
離れて絶縁性本体に形成されて外側導体を露出させ、着
脱可能なアダプタ６２の外側導体を測定プローブの外側
導体に電気的に接続する手段となる。細長い円筒状外側
導体を外部電源間の電気接続のための手段が設けられ
る。着脱可能なアダプタは、測定プローブのプローブ・
チップに接続される中心導体７０と、切欠き部で測定プ
ローブの細長い円筒状外側導体に接続される外側導体６
８とから成る同軸信号路を形成する。
ローブは、細長い円筒状外側導体である管状導体３６
と、この外側導体と同軸状に配置され、外側導体の端部
を越えて延びるプローブ・チップ３０とを有する。絶縁
材料から成る本体４６は、外側導体及びプローブ・チッ
プの一部を囲み、プローブ・チップ及び外側導体を電気
的に絶縁する。切欠き部６０は、プローブ・チップから
離れて絶縁性本体に形成されて外側導体を露出させ、着
脱可能なアダプタ６２の外側導体を測定プローブの外側
導体に電気的に接続する手段となる。細長い円筒状外側
導体を外部電源間の電気接続のための手段が設けられ
る。着脱可能なアダプタは、測定プローブのプローブ・
チップに接続される中心導体７０と、切欠き部で測定プ
ローブの細長い円筒状外側導体に接続される外側導体６
８とから成る同軸信号路を形成する。
【００１０】更に、本発明では、着脱可能なアダプタ
は、外側導体内に配置されると共に、外側導体から絶縁
されたジャック８８を有する。外側導体はスリーブ７２
を形成し、スリーブは、絶縁本体の切欠き部６０に係合
して、測定プローブの細長い円筒状外側導体と電気的に
接触するばね偏倚フィンガ７４を有する。ジャック８８
は、測定プローブのプローブ・チップ３０と電気的に接
触し、スリーブと反対方向に延びるプローブ・チップ９
４に電気的に接続される。プローブ・チップは、電流又
は温度検出デバイス、電圧結合デバイス等であってもよ
い。
は、外側導体内に配置されると共に、外側導体から絶縁
されたジャック８８を有する。外側導体はスリーブ７２
を形成し、スリーブは、絶縁本体の切欠き部６０に係合
して、測定プローブの細長い円筒状外側導体と電気的に
接触するばね偏倚フィンガ７４を有する。ジャック８８
は、測定プローブのプローブ・チップ３０と電気的に接
触し、スリーブと反対方向に延びるプローブ・チップ９
４に電気的に接続される。プローブ・チップは、電流又
は温度検出デバイス、電圧結合デバイス等であってもよ
い。
【００１１】
【実施例】図１〜図３に示す本発明の測定プローブ１０
は、伝送線即ちケーブル１６を介して終端出力結合器１
４に接続された信号入力ヘッド１２を有する。終端出力
結合器１４は、オシロスコープ２０、又は他の電気測定
器の入力コネクタ１８に接続される。オシロスコープ２
０は、測定プローブ１０の共通電圧接続を接地電位に対
して行わない場合に、フローティング測定を行う機能を
有する。この場合、終端出力結合器１４は、操作者から
絶縁される他、装置のシャーシからも絶縁される。
は、伝送線即ちケーブル１６を介して終端出力結合器１
４に接続された信号入力ヘッド１２を有する。終端出力
結合器１４は、オシロスコープ２０、又は他の電気測定
器の入力コネクタ１８に接続される。オシロスコープ２
０は、測定プローブ１０の共通電圧接続を接地電位に対
して行わない場合に、フローティング測定を行う機能を
有する。この場合、終端出力結合器１４は、操作者から
絶縁される他、装置のシャーシからも絶縁される。
【００１２】プローブ・ヘッド１２は、絶縁材料から成
るプラグ３２内で軸方向に配置されたプローブ・チップ
３０を有し、プローブ・チップは、絶縁プラグ３２の端
部を越えて延びる。プローブ・チップ３０の一端は、被
試験デバイスに接触させるために使用され、他端は電気
回路が形成された基板３４に電気的に接続される。基板
３４は、測定プローブ１０の信号入力ヘッド１２の外側
同軸状導体を形成する細長い管状導体３６の中に配置さ
れる。絶縁材料３８は基板３４を取り囲み、基板３４及
び管状導体３６間の放電を防止する。基板３４の他端
は、伝送線１６の端部の結合電気プラグ（図示せず）を
受け入れる電気ジャック（差し込み口）４２に接続され
る。管状導体３６は、絶縁プラグ３２に形成されたスロ
ットに嵌合する。
るプラグ３２内で軸方向に配置されたプローブ・チップ
３０を有し、プローブ・チップは、絶縁プラグ３２の端
部を越えて延びる。プローブ・チップ３０の一端は、被
試験デバイスに接触させるために使用され、他端は電気
回路が形成された基板３４に電気的に接続される。基板
３４は、測定プローブ１０の信号入力ヘッド１２の外側
同軸状導体を形成する細長い管状導体３６の中に配置さ
れる。絶縁材料３８は基板３４を取り囲み、基板３４及
び管状導体３６間の放電を防止する。基板３４の他端
は、伝送線１６の端部の結合電気プラグ（図示せず）を
受け入れる電気ジャック（差し込み口）４２に接続され
る。管状導体３６は、絶縁プラグ３２に形成されたスロ
ットに嵌合する。
【００１３】管状導体３６は、管状導体３６をフローテ
ィング測定用の電位源又は接地基準測定のための電気接
地に接続するために使用する折れ曲がった導体４４に接
続される。信号入力ヘッド１２は、絶縁材料４６により
覆われる。絶縁材料４６は、信号入力ヘッド１２の外形
を形成し、管状導体３６を操作者から電気的に隔離す
る。電気ジャック４２及び電気コネクタ４４は、信号入
力ヘッド１２の絶縁材料内に形成される開口４８及び５
０内で夫々露出されている。指ガード５２は、信号入力
ヘッド１２の周囲で放射方向に延びると共に、プローブ
・チップ３０から離れて配置され、操作者に対する保護
を補強する。上述では、測定プローブは、絶縁プラグ３
２及び信号入力ヘッド１２の周囲の絶縁材料４６と共に
説明した。これらの構成要素は、上述した構造を有する
単一部品として形成してもよい。
ィング測定用の電位源又は接地基準測定のための電気接
地に接続するために使用する折れ曲がった導体４４に接
続される。信号入力ヘッド１２は、絶縁材料４６により
覆われる。絶縁材料４６は、信号入力ヘッド１２の外形
を形成し、管状導体３６を操作者から電気的に隔離す
る。電気ジャック４２及び電気コネクタ４４は、信号入
力ヘッド１２の絶縁材料内に形成される開口４８及び５
０内で夫々露出されている。指ガード５２は、信号入力
ヘッド１２の周囲で放射方向に延びると共に、プローブ
・チップ３０から離れて配置され、操作者に対する保護
を補強する。上述では、測定プローブは、絶縁プラグ３
２及び信号入力ヘッド１２の周囲の絶縁材料４６と共に
説明した。これらの構成要素は、上述した構造を有する
単一部品として形成してもよい。
【００１４】上述の測定プローブ１０は、外側管状導体
３６を３相電源の電圧位相の１つの様な電源に接続し
て、フローティング測定を行うために使用できる。この
様な測定中に、操作者及び試験装置に必要な保護を行う
ために、測定プローブ１０は、特定の電圧定格に対して
導電部品間と、導電部品及び操作者間との最短距離に関
して、ＵＬ規格に定められた電気及び電子測定及び試験
装置規格（ＵＬ１２４４）を満足する必要がある。本発
明の好適な実施例では、測定プローブ１０は、８５０ボ
ルトの交流ピーク電圧定格を有する。安全性に関するＵ
Ｌ規格を満足するためには、測定プローブ１０内の導電
性部品間と、操作者及びプローブ１０内の露出部品間と
に、空気中で約６ｍｍ、基板上で約９ｍｍの最小間隙が
存在する必要がある。これらの規格を満足するために、
プローブ・チップ３０が軸方向に配置される絶縁プラグ
３２に、図３に示す様にプローブ・チップ３０が露出さ
れる中心開口５４を形成する。内側スリーブ５６は、中
心開口５４を囲み、外側スリーブ５８と共に、管状導体
３６が摺動して嵌合するスロット４０を形成する。中心
開口５４内で露出されたプローブ・チップ３０及び内側
スリーブ５６の外側縁部の距離は、ＵＬ規格に定められ
た表面隔離距離の最小限条件を満足する。同様に、開口
５０の端部及び導体４４間の表面上距離及び空気中距離
は、８５０ピーク交流ボルトの定格電圧で、測定プロー
ブ１０に関してＵＬ規格で定めた最小値よりも大きい。
更に、プローブ１０は、６０Ｈｚの高電圧試験の間、プ
ローブのピーク電圧定格の４倍＋２８７８ピーク交流ボ
ルトである２重絶縁プローブの規格を満足する。これ
は、６２２８ピーク交流ボルト即ち約１２ＫＶピーク・
ピーク電圧である。上述のプローブ構造は、電気及び電
子技術者学会、プローブ・チップ定格規格ＩＥＥＥ５８
７を満足する。この規格は、ＵＬ２重絶縁規格と同等で
ある。
３６を３相電源の電圧位相の１つの様な電源に接続し
て、フローティング測定を行うために使用できる。この
様な測定中に、操作者及び試験装置に必要な保護を行う
ために、測定プローブ１０は、特定の電圧定格に対して
導電部品間と、導電部品及び操作者間との最短距離に関
して、ＵＬ規格に定められた電気及び電子測定及び試験
装置規格（ＵＬ１２４４）を満足する必要がある。本発
明の好適な実施例では、測定プローブ１０は、８５０ボ
ルトの交流ピーク電圧定格を有する。安全性に関するＵ
Ｌ規格を満足するためには、測定プローブ１０内の導電
性部品間と、操作者及びプローブ１０内の露出部品間と
に、空気中で約６ｍｍ、基板上で約９ｍｍの最小間隙が
存在する必要がある。これらの規格を満足するために、
プローブ・チップ３０が軸方向に配置される絶縁プラグ
３２に、図３に示す様にプローブ・チップ３０が露出さ
れる中心開口５４を形成する。内側スリーブ５６は、中
心開口５４を囲み、外側スリーブ５８と共に、管状導体
３６が摺動して嵌合するスロット４０を形成する。中心
開口５４内で露出されたプローブ・チップ３０及び内側
スリーブ５６の外側縁部の距離は、ＵＬ規格に定められ
た表面隔離距離の最小限条件を満足する。同様に、開口
５０の端部及び導体４４間の表面上距離及び空気中距離
は、８５０ピーク交流ボルトの定格電圧で、測定プロー
ブ１０に関してＵＬ規格で定めた最小値よりも大きい。
更に、プローブ１０は、６０Ｈｚの高電圧試験の間、プ
ローブのピーク電圧定格の４倍＋２８７８ピーク交流ボ
ルトである２重絶縁プローブの規格を満足する。これ
は、６２２８ピーク交流ボルト即ち約１２ＫＶピーク・
ピーク電圧である。上述のプローブ構造は、電気及び電
子技術者学会、プローブ・チップ定格規格ＩＥＥＥ５８
７を満足する。この規格は、ＵＬ２重絶縁規格と同等で
ある。
【００１５】上述のプローブは、フローティング高電圧
測定用の測定プローブの規格を満足するが、接地基準同
軸信号路を必要とする着脱可能なアダプタ用の電気接続
は、行われていない。これは、管状導体３６の形式の外
側導体が、操作者から完全に絶縁されるからであり、上
述した低電圧プローブの様な従来の測定プローブでは、
外側導体は、上述のＢＮＣアダプタの様な着脱可能なア
ダプタを受け入れるために、プローブ・チップの近傍で
露出される。本発明では、接地基準同軸信号路を設ける
ためには、切欠き部６０がプローブ・チップ３０から安
全な距離で絶縁本体４６に形成され、管状導体３６を露
出させる。他の方法では、切欠き部６０は、絶縁プラグ
３２内に形成してもよい。切欠き部６０は、着脱可能な
アダプタ６２の外側導体６４を管状導体３６に電気的に
接続する手段である。図１、図４、図５Ａ及び図５Ｂに
示す様に、着脱可能なアダプタ６２は、一端に外側導体
６８及び中心導体７０と、他端に導電性管状スリーブ７
２を含むＢＮＣ形電気コネクタ６６を有する。スリーブ
７２は、測定プローブ１０が挿入される穴７３を形成す
る。ばねで偏倚されたフィンガ７４は、スリーブ７２に
形成されたスロット７６内に配置される。フィンガ７４
は、測定プローブ１０の信号入力ヘッド１２の絶縁本体
４６の切欠き部６０に係合し、プローブ１０の管状導体
３６と電気的に接触する。ばね偏倚フィンガ７４は、第
１部分７８及び第２部分８０から成り、第１部分７８の
一端は、スリーブ７２に結合する。ばね偏倚フィンガ７
４及びスリーブ７２間の機械的応力を減少させるため
に、第１部分７８及びスリーブ７２間の連結部は、ばね
偏倚フィンガの幅の１／４を最小とする半円部７５で形
成される。第２部分８０は、第１部分７８の他端から穴
７３内に突出する角部を形成し、測定プローブ１０に着
脱可能なアダプタ６２を配置する際に、絶縁部材４６を
削るのを防止するためにドーム状頂部８２を有する。ば
ね偏倚フィンガ７４と共にスリーブ７２を製造する際
に、スリーブ７２に平行な２つのスロット７６を切り取
り、スロット７６間の金属をばね偏倚フィンガ７４に変
形させるために、打ち抜き処理を使用できる。
測定用の測定プローブの規格を満足するが、接地基準同
軸信号路を必要とする着脱可能なアダプタ用の電気接続
は、行われていない。これは、管状導体３６の形式の外
側導体が、操作者から完全に絶縁されるからであり、上
述した低電圧プローブの様な従来の測定プローブでは、
外側導体は、上述のＢＮＣアダプタの様な着脱可能なア
ダプタを受け入れるために、プローブ・チップの近傍で
露出される。本発明では、接地基準同軸信号路を設ける
ためには、切欠き部６０がプローブ・チップ３０から安
全な距離で絶縁本体４６に形成され、管状導体３６を露
出させる。他の方法では、切欠き部６０は、絶縁プラグ
３２内に形成してもよい。切欠き部６０は、着脱可能な
アダプタ６２の外側導体６４を管状導体３６に電気的に
接続する手段である。図１、図４、図５Ａ及び図５Ｂに
示す様に、着脱可能なアダプタ６２は、一端に外側導体
６８及び中心導体７０と、他端に導電性管状スリーブ７
２を含むＢＮＣ形電気コネクタ６６を有する。スリーブ
７２は、測定プローブ１０が挿入される穴７３を形成す
る。ばねで偏倚されたフィンガ７４は、スリーブ７２に
形成されたスロット７６内に配置される。フィンガ７４
は、測定プローブ１０の信号入力ヘッド１２の絶縁本体
４６の切欠き部６０に係合し、プローブ１０の管状導体
３６と電気的に接触する。ばね偏倚フィンガ７４は、第
１部分７８及び第２部分８０から成り、第１部分７８の
一端は、スリーブ７２に結合する。ばね偏倚フィンガ７
４及びスリーブ７２間の機械的応力を減少させるため
に、第１部分７８及びスリーブ７２間の連結部は、ばね
偏倚フィンガの幅の１／４を最小とする半円部７５で形
成される。第２部分８０は、第１部分７８の他端から穴
７３内に突出する角部を形成し、測定プローブ１０に着
脱可能なアダプタ６２を配置する際に、絶縁部材４６を
削るのを防止するためにドーム状頂部８２を有する。ば
ね偏倚フィンガ７４と共にスリーブ７２を製造する際
に、スリーブ７２に平行な２つのスロット７６を切り取
り、スロット７６間の金属をばね偏倚フィンガ７４に変
形させるために、打ち抜き処理を使用できる。
【００１６】スリーブ７２は一端にフランジ８４を有
し、このフランジ８４はＢＮＣ形コネクタ６６の外側導
体６８に形成された肩部８６に合わさる。中心導体７０
は、絶縁材料９０により外側導体６８から絶縁された一
端にジャック８８を有する。中心導体７０の他端は、絶
縁材料９２により外側導体６８から絶縁され、測定プロ
ーブ１０に電圧を供給するために被試験デバイスに接続
されるプローブ・チップ９４を形成する。
し、このフランジ８４はＢＮＣ形コネクタ６６の外側導
体６８に形成された肩部８６に合わさる。中心導体７０
は、絶縁材料９０により外側導体６８から絶縁された一
端にジャック８８を有する。中心導体７０の他端は、絶
縁材料９２により外側導体６８から絶縁され、測定プロ
ーブ１０に電圧を供給するために被試験デバイスに接続
されるプローブ・チップ９４を形成する。
【００１７】管状スリーブ７２の穴７３により、着脱可
能なアダプタ６２は、測定プローブ１０の信号入力ヘッ
ド１２に摺動的に嵌合する。管状スリーブ７２上のばね
偏倚フィンガ７４は、絶縁材料４６内の切欠き部６０に
係合し、導電性管３６と電気接触する。同時に、プロー
ブ・チップ３０は、着脱可能アダプタ６２内でジャック
８８に係合し、プローブ・チップ９４と電気的に接続さ
れる。
能なアダプタ６２は、測定プローブ１０の信号入力ヘッ
ド１２に摺動的に嵌合する。管状スリーブ７２上のばね
偏倚フィンガ７４は、絶縁材料４６内の切欠き部６０に
係合し、導電性管３６と電気接触する。同時に、プロー
ブ・チップ３０は、着脱可能アダプタ６２内でジャック
８８に係合し、プローブ・チップ９４と電気的に接続さ
れる。
【００１８】着脱可能なアダプタ６２は、ＢＮＣ形導体
６６として説明したが、本発明の要旨を逸脱することな
く、他の形の電気コネクタ又はデバイスを、着脱可能な
アダプタ６２と共に使用してもよい。ただし、着脱可能
なアダプタ６２が測定プローブ１０内の切欠き部に係合
するために、ばね偏倚フィンガ７４と、プローブ１０の
プローブ・チップに電気的に接続するジャック８８とを
有する。他の形の同軸電気コネクタは、ＳＭＡコネク
タ、ＵＨＦ、ＲＣＡ等を含む。その他に、着脱可能なア
ダプタ６２のプローブ・チップは、電流又は温度検出デ
バイスでもよい。
６６として説明したが、本発明の要旨を逸脱することな
く、他の形の電気コネクタ又はデバイスを、着脱可能な
アダプタ６２と共に使用してもよい。ただし、着脱可能
なアダプタ６２が測定プローブ１０内の切欠き部に係合
するために、ばね偏倚フィンガ７４と、プローブ１０の
プローブ・チップに電気的に接続するジャック８８とを
有する。他の形の同軸電気コネクタは、ＳＭＡコネク
タ、ＵＨＦ、ＲＣＡ等を含む。その他に、着脱可能なア
ダプタ６２のプローブ・チップは、電流又は温度検出デ
バイスでもよい。
【００１９】着脱可能アダプタ６２の他の実施例を、図
６Ａ及び図６Ｂに示す。外側導体６８のスリーブ７２内
にスロットと、スロット内に配置されるばね偏倚フィン
ガ７４とを形成する代わりに、スリーブ７２には、その
端部から軸方向に延びる略三角形状突出部９６が形成さ
れる。ばね偏倚フィンガ７４は、三角形状突出部９６の
頂部から延びる。ばね偏倚フィンガ７４は、上述の実施
例のフィンガと同一の構造である。三角形状突出部９６
の基部及び高さ寸法は、部分８０のドーム状頂部８２
で、ばね偏倚フィンガ７４により与えられる力の関数と
して選択される。例えば、ばね偏倚フィンガ７４のばね
力を増加させるために、ばね偏倚フィンガ７４の部分７
８の長さを犠牲にして、三角状突出部９６の高さを増加
させる。更に、第１部分７８及び三角状突出部９６の頂
部の相互連結部での応力集中を減少させるために、曲線
部９８の半径は、ばね偏倚フィンガ７２の幅の最小１／
４の相互接続部に形成される。
６Ａ及び図６Ｂに示す。外側導体６８のスリーブ７２内
にスロットと、スロット内に配置されるばね偏倚フィン
ガ７４とを形成する代わりに、スリーブ７２には、その
端部から軸方向に延びる略三角形状突出部９６が形成さ
れる。ばね偏倚フィンガ７４は、三角形状突出部９６の
頂部から延びる。ばね偏倚フィンガ７４は、上述の実施
例のフィンガと同一の構造である。三角形状突出部９６
の基部及び高さ寸法は、部分８０のドーム状頂部８２
で、ばね偏倚フィンガ７４により与えられる力の関数と
して選択される。例えば、ばね偏倚フィンガ７４のばね
力を増加させるために、ばね偏倚フィンガ７４の部分７
８の長さを犠牲にして、三角状突出部９６の高さを増加
させる。更に、第１部分７８及び三角状突出部９６の頂
部の相互連結部での応力集中を減少させるために、曲線
部９８の半径は、ばね偏倚フィンガ７２の幅の最小１／
４の相互接続部に形成される。
【００２０】上述の測定プローブは、細長い円筒状外側
導体と、この外側導体と同軸状に配置され、外側導体の
端部を越えて延びるプローブ・チップとを有する。絶縁
材料から成る本体は、外側導体及びプローブ・チップの
一部を囲み、プローブ・チップ及び外側導体を電気的に
絶縁する。切欠き部は、プローブ・チップから離れて絶
縁性本体に形成されて外側導体を露出させ、着脱可能な
アダプタの外側導体を測定プローブの外側導体に電気的
に接続する手段となる。着脱可能なアダプタは、測定プ
ローブに摺動して嵌合する管状スリーブと、絶縁性本体
の切欠き部に係合して、測定プローブの外側導体と電気
的に接触するばね偏倚フィンガとを有する。着脱可能な
アダプタ内に配置された中心導体は、一端部に形成され
たジャックを有し、ジャックは測定プローブのプローブ
・チップと電気的に接触する。測定プローブは、フロー
ティング測定に関する安全基準を全て満足すると同時
に、接地基準信号測定用の接地基準同軸信号路を形成で
きる。
導体と、この外側導体と同軸状に配置され、外側導体の
端部を越えて延びるプローブ・チップとを有する。絶縁
材料から成る本体は、外側導体及びプローブ・チップの
一部を囲み、プローブ・チップ及び外側導体を電気的に
絶縁する。切欠き部は、プローブ・チップから離れて絶
縁性本体に形成されて外側導体を露出させ、着脱可能な
アダプタの外側導体を測定プローブの外側導体に電気的
に接続する手段となる。着脱可能なアダプタは、測定プ
ローブに摺動して嵌合する管状スリーブと、絶縁性本体
の切欠き部に係合して、測定プローブの外側導体と電気
的に接触するばね偏倚フィンガとを有する。着脱可能な
アダプタ内に配置された中心導体は、一端部に形成され
たジャックを有し、ジャックは測定プローブのプローブ
・チップと電気的に接触する。測定プローブは、フロー
ティング測定に関する安全基準を全て満足すると同時
に、接地基準信号測定用の接地基準同軸信号路を形成で
きる。
【００２１】本発明によれば、管状導体３６に接触する
電気コネクタ導体４４は、他端部が絶縁性本体４６に形
成された開口内で露出され、残りの部分が絶縁性本体で
覆われ、また、管状導体は切欠き部で絶縁本体の外面よ
りも下で露出するのみであるので、電気コネクタ導体に
高フローティング電圧を供給する測定時にも安全に測定
することができ、アダプタ使用時に接地基準測定をする
場合に、アダプタから切欠き部で露出された管状導体に
接地電位を与えることができる。
電気コネクタ導体４４は、他端部が絶縁性本体４６に形
成された開口内で露出され、残りの部分が絶縁性本体で
覆われ、また、管状導体は切欠き部で絶縁本体の外面よ
りも下で露出するのみであるので、電気コネクタ導体に
高フローティング電圧を供給する測定時にも安全に測定
することができ、アダプタ使用時に接地基準測定をする
場合に、アダプタから切欠き部で露出された管状導体に
接地電位を与えることができる。
【図１】本発明の測定プローブの本体の斜視図。
【図２】図１の測定プローブの信号入力ヘッドの軸に沿
った断面図。
った断面図。
【図３】図１の測定プローブの絶縁プラグの軸に沿った
断面図。
断面図。
【図４】図１の測定プローブの着脱可能なアダプタの軸
に沿った断面図。
に沿った断面図。
【図５】図４のアダプタのバネ偏倚フィンガの側面図及
び端面図。
び端面図。
【図６】図４のアダプタのスリーブの立面図及び側面
図。
図。
【符号の説明】 ３０ プローブ・チップ ３６ 円筒状導体 ４６ 絶縁性本体 ６２ アダプタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジュリー・エー・キャンベル アメリカ合衆国オレゴン州97219 ポート ランド ブロードリーフ・ドライブ サウ ス・ウェスト 1850 (56)参考文献 特開 昭57−207865（ＪＰ，Ａ) 実開 昭59−54853（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】細長い管状導体と、 該管状導体の一端部内に同軸状に配置され、一端部が上
記管状導体の上記一端部を越えて延び、他端部が電気ジ
ャックに電気的に結合するプローブ・チップと、 一端部が上記管状導体の周囲に接触し、他端部が上記管
状導体から離間された電気コネクタ導体と、 上記プローブ・チップを上記一端部を露出させて覆い、
上記管状導体及び上記プローブ・チップ間を絶縁し、上
記プローブ・チップの先端部から離れた部分で上記管状
導体の一部を露出させる切欠き部を形成して上記管状導
体を覆い、該電気コネクタ導体の他端部及び上記電気ジ
ャックを内部で夫々露出させる２つの開口が形成され、
上記電気コネクタ導体の残りの部分を覆う絶縁性本体と
を具え、 上記２つの開口内の上記電気コネクタ導体及び上記電気
ジャックには、外部の電位源及びプローブ・ケーブルが
接続されることを特徴とする測定プローブ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/647,315 US5136237A (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Double insulated floating high voltage test probe |
| US647315 | 1991-01-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0682480A JPH0682480A (ja) | 1994-03-22 |
| JPH087231B2 true JPH087231B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=24596477
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4038735A Expired - Fee Related JPH087231B2 (ja) | 1991-01-29 | 1992-01-29 | 測定プローブ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5136237A (ja) |
| EP (1) | EP0496984B1 (ja) |
| JP (1) | JPH087231B2 (ja) |
| DE (1) | DE69125136T2 (ja) |
Families Citing this family (47)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5338213A (en) * | 1993-02-01 | 1994-08-16 | Hubbell Incorporated | Submersible pump pothead test plug |
| US6028423A (en) * | 1997-12-11 | 2000-02-22 | Sanchez; Jorge | Isolation instrument for electrical testing |
| US5729150A (en) | 1995-12-01 | 1998-03-17 | Cascade Microtech, Inc. | Low-current probe card with reduced triboelectric current generating cables |
| US5717328A (en) * | 1996-07-10 | 1998-02-10 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for using a miniature probe as a hand held probe |
| US5914613A (en) | 1996-08-08 | 1999-06-22 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system with local contact scrub |
| US6034533A (en) | 1997-06-10 | 2000-03-07 | Tervo; Paul A. | Low-current pogo probe card |
| US6256882B1 (en) | 1998-07-14 | 2001-07-10 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
| WO2000039595A1 (en) * | 1998-12-30 | 2000-07-06 | Proteus Corporation | Dual-pin probe for testing circuit boards |
| US6578264B1 (en) | 1999-06-04 | 2003-06-17 | Cascade Microtech, Inc. | Method for constructing a membrane probe using a depression |
| US6255834B1 (en) | 1999-10-21 | 2001-07-03 | Dell Usa, L.P. | Test fixture having a floating self-centering connector |
| US6466044B1 (en) | 1999-10-21 | 2002-10-15 | Dell Products L.P. | Through connector circuit test apparatus |
| US6838890B2 (en) | 2000-02-25 | 2005-01-04 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
| US6605934B1 (en) * | 2000-07-31 | 2003-08-12 | Lecroy Corporation | Cartridge system for a probing head for an electrical test probe |
| US6965226B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-11-15 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
| US6914423B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-07-05 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station |
| DE20114544U1 (de) | 2000-12-04 | 2002-02-21 | Cascade Microtech, Inc., Beaverton, Oreg. | Wafersonde |
| AU2002327490A1 (en) | 2001-08-21 | 2003-06-30 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
| USRE43685E1 (en) | 2002-01-08 | 2012-09-25 | Tecey Software Development Kg, Llc | Apparatus and method for measurement for dynamic laser signals |
| US6724205B1 (en) | 2002-11-13 | 2004-04-20 | Cascade Microtech, Inc. | Probe for combined signals |
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| US7057404B2 (en) | 2003-05-23 | 2006-06-06 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Shielded probe for testing a device under test |
| US7492172B2 (en) | 2003-05-23 | 2009-02-17 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
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| US7187188B2 (en) | 2003-12-24 | 2007-03-06 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck with integrated wafer support |
| JP2007517231A (ja) | 2003-12-24 | 2007-06-28 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | アクティブ・ウェハプローブ |
| KR20070058522A (ko) | 2004-09-13 | 2007-06-08 | 캐스케이드 마이크로테크 인코포레이티드 | 양측 프루빙 구조 |
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| US7656172B2 (en) | 2005-01-31 | 2010-02-02 | Cascade Microtech, Inc. | System for testing semiconductors |
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| JP4231038B2 (ja) * | 2005-08-22 | 2009-02-25 | 株式会社ケーヒン | 高電圧測定装置 |
| US7294995B1 (en) * | 2006-05-08 | 2007-11-13 | Tektronix, Inc. | Current probing system |
| US7723999B2 (en) | 2006-06-12 | 2010-05-25 | Cascade Microtech, Inc. | Calibration structures for differential signal probing |
| US7764072B2 (en) | 2006-06-12 | 2010-07-27 | Cascade Microtech, Inc. | Differential signal probing system |
| US7403028B2 (en) | 2006-06-12 | 2008-07-22 | Cascade Microtech, Inc. | Test structure and probe for differential signals |
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| US7888957B2 (en) | 2008-10-06 | 2011-02-15 | Cascade Microtech, Inc. | Probing apparatus with impedance optimized interface |
| US8410806B2 (en) | 2008-11-21 | 2013-04-02 | Cascade Microtech, Inc. | Replaceable coupon for a probing apparatus |
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1991
- 1991-01-29 US US07/647,315 patent/US5136237A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-06 EP EP91120991A patent/EP0496984B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-06 DE DE69125136T patent/DE69125136T2/de not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-01-29 JP JP4038735A patent/JPH087231B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
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| DE69125136T2 (de) | 1997-10-09 |
| EP0496984A3 (en) | 1993-06-02 |
| EP0496984B1 (en) | 1997-03-12 |
| EP0496984A2 (en) | 1992-08-05 |
| JPH0682480A (ja) | 1994-03-22 |
| US5136237A (en) | 1992-08-04 |
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