JP5397164B2 - 配向測定装置 - Google Patents
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Description
(ステップ1)
測定対象試料の幅、すなわち測定領域をN個(Nは整数)の領域に分割するステップ。
(ステップ2)
測定領域より外側の定位置を基準位置とし、走行する測定対象試料がない状態で、基準位置での共振周波数を測定し、それを基準位置ブランク値Aとするステップ。
(ステップ3)
走行する測定対象試料がない状態で測定ヘッドを幅方向に測定幅分走査させ、N個に分割した各領域における共振周波数を測定し、それを第1から第N領域のブランク値Aとするステップ。
(ステップ4)
ステップ2で求めた基準位置ブランク値Aとステップ3で求めた第1から第N領域のブランク値Aのそれぞれの差を第1から第N領域のブランク補正値とするステップ。
(ステップ5)
走行する測定対象試料がない状態で、測定ヘッドを基準位置に配置し、測定ヘッド面を覆う大きさにカットされた標準試料を測定ヘッド面に吸引もしくは吸着させて共振周波数を測定し、それを基準位置標準試料測定値とするステップ。
(ステップ6)
走行する測定対象試料がない状態で、標準試料を測定ヘッド面に吸引もしくは吸着させたまま、測定ヘッドを試料の幅方向に測定幅分走査させ、N個に分割した各領域における共振周波数を測定し、それを第1から第N領域の標準試料測定値とするステップ。
(ステップ7)
ステップ5で求めた基準位置標準試料測定値とステップ6で求めた第1から第N領域の標準試料測定値のそれぞれの差を第1から第N領域の標準試料補正値とするステップ。
(ステップ8)
ステップ5で測定ヘッド面に吸引もしくは吸着させた標準試料を取り除くステップ。
(ステップ9)
測定対象試料を走行させた状態で、基準位置での共振周波数を測定し、それを基準位置ブランク値Bとするステップ。
(ステップ10)
ステップ9で求めた基準位置ブランク値Bとステップ4で求めた第1から第N領域のブランク補正値のそれぞれの差を第1から第N領域の補正ブランク値とするステップ。
(ステップ11)
測定対象試料を走行させた状態で、測定ヘッドを試料の幅方向に測定幅分走査させ、N個に分割した各領域における共振周波数を測定し、それを第1から第N領域の測定値とするステップ。
(ステップ12)
ステップ11で求めた第1から第N領域の測定値にステップ7で求めた標準試料補正値を加算して、第1から第N領域の補正測定値を求めるステップ。
(ステップ13)
ステップ10で求めた第1から第N領域の補正ブランク値とステップ12で求めた第1から第N領域の補正測定値のそれぞれの差を第1から第N領域の共振周波数のシフト量とするステップ。
第N領域のブランク補正値=基準位置ブランク値A−第N領域のブランク値A (1)
第N領域の標準試料補正値=基準位置標準試料測定値−第N領域の標準試料測定値 (2)
以上の作業を行うことにより、ブランク測定時、及び試料測定時の位置補正を行うための、第N領域のブランク補正値、第N領域の標準試料補正値が得られる。
ΔfN= 第N領域の補正ブランク値 − 第N領域の補正測定値 (3)
この場合、前述の(1)式は下式となる。
第N領域のブランク補正値=基準位置ブランク値A/第N領域のブランク値A
また、標準試料補正値は、ステップ7において、ステップ5で求めた基準位置標準試料測定値とステップ6で求めた第1から第N領域の標準試料測定値のそれぞれの差を第1から第N領域の標準試料補正値としたが、ステップ5で求めた基準位置標準試料測定値とステップ6で求めた第1から第N領域の標準試料測定値のそれぞれの比を第1から第N領域の標準試料補正値としてもよい。
この場合、前述の(2)式は下式となる。
第N領域の標準試料補正値=基準位置標準試料測定値/第N領域の標準試料測定値
さらに補正ブランク値は、ステップ9で求めた基準位置ブランク値Bとステップ3で求めた第1から第N領域のブランク値Aのそれぞれの差を補正ブランク値としたが、ステップ9で求めた基準位置ブランク値Bとステップ3で求めた第1から第N領域のブランク値Aのそれぞれの比を補正ブランク値としてもよい。
このようにブランク補正値、標準試料補正値、標準試料補正値を基準位置に対する差ではなく比の値を採用した場合には、スッテプ11で求めた第1から第N領域の測定値にステップ7で求めた標準試料補正値を乗算して、補正測定値を求めればよく、最終的に(3)式で得られる第N領域での共振周波数シフト量ΔfNは同じ値となる。
(実施例)
(比較例1)
実施例と同様にして、ブランク及び上質紙測定での基準位置との差を求めた。ただし各領域の補正には、第1〜7領域のブランク補正値の平均値、第1〜第7領域の標準試料補正値の平均値を用いた。結果を表3に示す。結果は40kHz前後変動するものがあり、各領域に応じた補正を行わないと補正が不十分となり、比較例1と同様に配向測定結果に悪影響を及ぼすことが考えられる。
6:測定ヘッド
7:セラミック
8:金属ケース
9a、9b:ロッドアンテナ
10:ポリテトラフルオロエチレン樹脂製のカバー
11:測定ヘッド
12:走行する測定対象試料
13:測定ヘッド移動用レール
Claims (1)
- マイクロ波誘電体共振器を用い、走行する測定対象試料に対し、測定ヘッドを試料の幅方向に走査させてオンライン測定を行う配向測定装置において、以下のステップにより、測定ヘッドの位置による測定値のバラツキを補正することを特徴とする配向測定装置。
(ステップ1)
測定対象試料の幅、すなわち測定領域をN個(Nは整数)の領域に分割するステップ。
(ステップ2)
測定領域より外側の定位置を基準位置とし、走行する測定対象試料がない状態で、基準位置での共振周波数を測定し、それを基準位置ブランク値Aとするステップ。
(ステップ3)
走行する測定対象試料がない状態で測定ヘッドを幅方向に測定幅分走査させ、N個に分割した各領域における共振周波数を測定し、それを第1から第N領域のブランク値Aとするステップ。
(ステップ4)
ステップ2で求めた基準位置ブランク値Aとステップ3で求めた第1から第N領域のブランク値Aのそれぞれの差を第1から第N領域のブランク補正値とするステップ。
(ステップ5)
走行する測定対象試料がない状態で、測定ヘッドを基準位置に配置し、測定ヘッド面を覆う大きさにカットされた標準試料を測定ヘッド面に吸引もしくは吸着させて共振周波数を測定し、それを基準位置標準試料測定値とするステップ。
(ステップ6)
走行する測定対象試料がない状態で、標準試料を測定ヘッド面に吸引もしくは吸着させたまま、測定ヘッドを試料の幅方向に測定幅分走査させ、N個に分割した各領域における共振周波数を測定し、それを第1から第N領域の標準試料測定値とするステップ。
(ステップ7)
ステップ5で求めた基準位置標準試料測定値とステップ6で求めた第1から第N領域の標準試料測定値のそれぞれの差を第1から第N領域の標準試料補正値とするステップ。
(ステップ8)
ステップ5で測定ヘッド面に吸引もしくは吸着させた標準試料を取り除くステップ。
(ステップ9)
測定対象試料を走行させた状態で、基準位置での共振周波数を測定し、それを基準位置ブランク値Bとするステップ。
(ステップ10)
ステップ9で求めた基準位置ブランク値Bとステップ4で求めた第1から第N領域のブランク補正値のそれぞれの差を第1から第N領域の補正ブランク値とするステップ。
(ステップ11)
測定対象試料を走行させた状態で、測定ヘッドを試料の幅方向に測定幅分走査させ、N個に分割した各領域における共振周波数を測定し、それを第1から第N領域の測定値とするステップ。
(ステップ12)
ステップ11で求めた第1から第N領域の測定値にステップ7で求めた標準試料補正値を加算して、第1から第N領域の補正測定値を求めるステップ。
(ステップ13)
ステップ10で求めた第1から第N領域の補正ブランク値とステップ12で求めた第1から第N領域の補正測定値のそれぞれの差を第1から第N領域の共振周波数のシフト量とするステップ。
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JP2009251769A JP5397164B2 (ja) | 2009-11-02 | 2009-11-02 | 配向測定装置 |
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JP2009251769A JP5397164B2 (ja) | 2009-11-02 | 2009-11-02 | 配向測定装置 |
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Family Applications (1)
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JP2008046138A (ja) * | 2001-09-10 | 2008-02-28 | Pioneer Electronic Corp | 誘電率測定装置、誘電体測定方法、及び情報記録・再生装置 |
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- 2009-11-02 JP JP2009251769A patent/JP5397164B2/ja not_active Expired - Fee Related
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