JP5385095B2 - 出力回路及びそれを用いた受光回路、フォトカプラ - Google Patents
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 31
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 239000004299 sodium benzoate Substances 0.000 description 8
- 101150061050 CIN1 gene Proteins 0.000 description 6
- 101150005988 cin2 gene Proteins 0.000 description 6
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 101100102627 Oscarella pearsei VIN1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100112673 Rattus norvegicus Ccnd2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/04—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
- H03F3/08—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
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- H03F3/08—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
- H03F3/085—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light using opto-couplers between stages
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/4508—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using bipolar transistors as the active amplifying circuit
- H03F3/45085—Long tailed pairs
- H03F3/45089—Non-folded cascode stages
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
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- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/30—Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities
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- H—ELECTRICITY
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- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
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Description
=Vref+(4×Vf)−Vf=Vref+(3×Vf)
で決定される。そして、NPNトランジスタQ27とQ28はカレントミラーとなっているため、電流IcQ27に対して、NPNトランジスタQ27とQ28のミラー比に応じた定電流がIoとして差動対トランジスタQ24、Q25の動作電流として流れる。なお、抵抗R23に付された符号は、その抵抗の有する抵抗値も示すものとする。また、他の抵抗の抵抗値についても同様とする。
VCIN2=VCC
となり、VCIN1<VCIN2となる。上述したように、コンパレータ30の出力端子COUT1、COUT2からは、それぞれ入力端子CIN1、CIN2の反転出力が出力される。このため、出力端子COUT1、COUT2からの出力電位をそれぞれVCOUT1、VCOUT2とすると、VCOUT1>VCOUT2となる。つまり、コンパレータ30の出力端子COUT1からハイレベル、出力端子COUT2からロウレベルの信号が出力される。
VCIN2=VCC−R22×Io
となり、VCIN1>VCIN2となる。コンパレータ30の出力端子COUT1、COUT2からは、それぞれ入力端子CIN1、CIN2の反転出力が出力され、VCOUT1<VCOUT2となる。つまり、コンパレータ30の出力端子COUT1からロウレベル、出力端子COUT2からハイレベルの信号が出力される。
VCC≧Vref+(4×Vf)
の式で決まるVCCがVsに相当する。よって、Vsは、
Vs=VbeQ52×((R51+R53)/R51)+Vf・・・(1)
となる。なお、この式(1)でのVfは、ダイオードD51の順方向電圧である。
=VbQ126−VbeQ126=VbQ111−VbeQ111
=Vref+(4×Vf)−Vf=Vref+(3×Vf)
で決定される。ここで、NPNトランジスタQ127、Q128及びプルダウン回路150のNPNトランジスタQ151は、NPNトランジスタQ127を入力トランジスタとするカレントミラー回路を構成している。このため、NPNトランジスタQ128には、電流IcQ127に対して、NPNトランジスタQ127とQ128とのミラー比に応じた定電流Ioが流れる。この定電流がIoは差動対トランジスタQ124、Q125の動作電流として流れる。なお、抵抗R123に付された符号は、その抵抗の有する抵抗値も示すものとする。また、他の抵抗の抵抗値についても同様とする。また、プルダウン回路150のNPNトランジスタQ151もオン状態となり、電流IcQ127に対して、NPNトランジスタQ127とQ151とのミラー比に応じた定電流が流れる。
VCIN102=VCC−R121×Io
となり、VCIN101>VCIN102となる。
VCIN102=VCC
となり、VCIN101<VCIN102となる。
200 受光回路
300、400、500 フォトカプラ回路
110 バイアス回路
120 差動アンプ
130 コンパレータ
140 出力段回路
150 プルダウン回路
210 受光アンプ
VCC 電源端子
GND 接地端子
VIN101、VIN102 差動入力端子
IN301、IN302 信号入力端子
VOUT 出力端子
Q111〜Q114、Q121〜Q128、Q141〜Q145 NPNトランジスタ
R111〜R114、R121〜R123、R141、R142 抵抗
R211、R411、R511 帰還抵抗
D111〜D113、D121、D141 ダイオード
PD211、PD511 フォトダイオード
AMP211、AMP411 電流電圧変換アンプ
E211 基準電圧回路
LED301 発光ダイオード
DPD411、DPD511 ダミーフォトダイオード
Claims (10)
- 電源電圧が所定の電圧以上で動作するバイアス回路と、
前記バイアス回路の動作時に生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給されると、入力差動信号に応じた信号を出力する差動増幅回路と、
前記差動増幅回路からの出力に応じた差動信号を入力し、その差動信号に応じて出力信号を出力し、前記バイアス回路よりも直列接続された素子の段数が少なく構成される出力段回路と、
前記バイアス回路の生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給されない場合、強制的に前記出力段回路が入力する差動信号の一方のレベルを接地電圧とすることで、前記出力段回路が出力する出力信号のレベルを固定するプルダウン回路と、を有し、
前記出力段回路は、電源電圧を供給する電源端子と出力ノードとの間に接続される第1導電型の第1のトランジスタと、前記出力ノードと接地電圧を供給する接地端子との間に接続される第1導電型の第2のトランジスタとを備え、入力する信号に応じて、前記第1、第2のトランジスタが交互にオン状態、オフ状態が切り替わることで前記出力ノードに接続される負荷を駆動し、
前記出力段回路は、第3〜第5のトランジスタと、第1、第2の抵抗を更に備え、
前記第1のトランジスタの制御端子が第1のノードに接続され、
前記第2のトランジスタの制御端子が第2のノードに接続され、
前記第1の抵抗は、前記電源端子と前記第1のノードとの間に接続され、
前記第3のトランジスタは、前記第1のノードと前記第2のノードとの間に接続され、当該出力段回路が入力する差動信号の一方を制御端子に入力し、
前記第4のトランジスタは、前記第2のノードと前記接地端子との間に接続され、制御端子が第3のノードに接続され、
前記第5のトランジスタは、前記電源端子と前記第3のノードとの間に接続され、当該出力段回路が入力する差動信号の他方を制御端子に入力し、
前記第2の抵抗は、前記第3のノードと前記接地端子との間に接続される
出力回路。 - 前記プルダウン回路は、第6、第7のトランジスタと、第3の抵抗とを有し、
前記第6のトランジスタは、前記差動増幅回路からの出力に応じた差動信号の一方を入力する前記出力段回路の入力端子と、前記接地端子との間に接続され、制御端子が第4のノードに接続され、
前記第3の抵抗は、前記電源端子と前記第4のノードとの間に接続され、
前記第7のトランジスタは、前記第4のノードと前記接地端子との間に接続され、前記バイアス回路の生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給されない場合にオフ状態となり、前記バイアス回路の生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給される場合、そのバイアス電流もしくはバイアス電圧に応じた電流を流す
請求項1に記載の出力回路。 - 電源電圧が所定の電圧以上で動作するバイアス回路と、
前記バイアス回路の動作時に生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給されると、入力差動信号に応じた信号を出力する差動増幅回路と、
前記差動増幅回路からの出力に応じた差動信号を入力し、その差動信号に応じて出力信号を出力し、前記バイアス回路よりも直列接続された素子の段数が少なく構成される出力段回路と、
前記バイアス回路の生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給されない場合、強制的に前記出力段回路が入力する差動信号の一方のレベルを接地電圧とすることで、前記出力段回路が出力する出力信号のレベルを固定するプルダウン回路と、を有し、
前記差動増幅回路は、
電源電圧を供給する電源端子と第5のノードとの間に直列接続された第4の抵抗と第8のトランジスタを有する第1の電流経路と、前記電源端子と前記第5のノードとの間に直列接続された第5の抵抗と第9のトランジスタを有する第2の電流経路と、
前記第5のノードと接地電圧を供給する接地端子との間に接続され、前記第1、第2の電流経路に駆動電流を供給する第10のトランジスタと、を備え、
前記第8のトランジスタの制御端子は、前記入力差動信号の一方を入力する第1の入力端子が接続され、
前記第9のトランジスタの制御端子は、前記入力差動信号の他方を入力する第2の入力端子が接続され、
前記第4の抵抗と前記第8のトランジスタの第1の中間ノード及び前記第5の抵抗と前記第9のトランジスタの第2の中間ノードから前記入力差動信号に応じた信号が出力され、
前記第10のトランジスタは、前記バイアス回路の生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給されない場合にオフ状態となり、前記バイアス回路の生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給される場合、そのバイアス電流もしくはバイアス電圧に応じた電流を前記駆動電流として流し、
前記差動増幅回路は、
前記電源端子と前記接地端子との間で直列接続される第11、第12のトランジスタと、
前記第1の中間ノードと前記第8のトランジスタとの間に接続される第13のトランジスタと、
前記第2の中間ノードと前記第9のトランジスタとの間に接続される第14のトランジスタと、を更に有し、
前記第13、第14のトランジスタの制御端子は、前記第11、第12のトランジスタの第3の中間ノードと接続され、
前記第11のトランジスタは、前記バイアス回路の生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給されない場合にオフ状態となり、前記バイアス回路の生成するバイアス電流もしくはバイアス電圧が供給される場合、そのバイアス電流もしくはバイアス電圧に応じた電流を流し、
前記第12のトランジスタは、前記第11のトランジスタの流す電流に応じた電流を流す
出力回路。 - 前記差動増幅回路は、
前記第1、第2の中間ノードの間に接続される第15のトランジスタを更に有し、
前記第15のトランジスタの制御端子は、前記第1の中間ノードに接続される
請求項3に記載の出力回路。 - 前記第8〜第15のトランジスタは、同じ導電型である
請求項4に記載の出力回路。 - 請求項3〜請求項5のいずれか1項に記載の出力回路と、
光入力信号に応じた光電流を流すフォトダイオードと、
前記光電流に応じた電圧信号を出力する第1の電流電圧変換増幅回路と、を備え、
前記差動増幅回路に入力される入力差動信号の一方が、前記第1の電流電圧変換増幅回路の出力する電圧信号である
受光回路。 - 所定の基準電圧を出力する基準電圧生成回路を備え、
前記差動増幅回路に入力される入力差動信号の他方が、前記基準電圧生成回路の出力する基準電圧である
請求項6に記載の受光回路。 - 前記フォトダイオードと同一構成のダミーフォトダイオードと、前記第1の電流電圧変換増幅回路と同一構成の第2の電流電圧変換増幅回路とを更に有し、
前記フォトダイオードは、前記第1の電流電圧変換増幅回路の入力端子と前記接地端子との間に接続され、
前記第1の電流電圧変換増幅回路は、第1の帰還抵抗が並列接続され、その出力端子が前記出力回路の入力差動信号の一方を入力する第1の入力端子に接続され、
前記ダミーフォトダイオードは、前記第2の電流電圧変換増幅回路の入力端子と前記接地端子との間に接続され、
前記第2の電流電圧変換増幅回路は、第2の帰還抵抗が並列接続され、その出力端子が前記出力回路の入力差動信号の他方を入力する第2の入力端子に接続される
請求項6に記載の受光回路。 - 前記フォトダイオードと同一構成のダミーフォトダイオードと、前記第1の電流電圧変換増幅回路と同一構成の第2の電流電圧変換増幅回路とを更に有し、
前記フォトダイオードは、前記第1の電流電圧変換増幅回路の入力端子と第6のノードとの間に接続され、
前記第1の電流電圧変換増幅回路は、第1の帰還抵抗が並列接続され、その出力端子が前記出力回路の入力差動信号の一方を入力する第1の入力端子に接続され、
前記ダミーフォトダイオードは、前記第2の電流電圧変換増幅回路の入力端子と前記第6のノードとの間に接続され、
前記第2の電流電圧変換増幅回路は、第2の帰還抵抗が並列接続され、その出力端子が前記出力回路の入力差動信号の他方を入力する第2の入力端子に接続され、
第1の増幅回路は、第3の帰還抵抗が並列接続され、その入出力端子が前記第6のノードに接続される
請求項6に記載の受光回路。 - 請求項6〜請求項9のいずれか1項に記載の受光回路と、
入力電気信号に応じて、前記フォトダイオードが受光する入力光信号を発光する発光ダイオードと、を有する
フォトカプラ回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009250107A JP5385095B2 (ja) | 2009-10-30 | 2009-10-30 | 出力回路及びそれを用いた受光回路、フォトカプラ |
US12/923,959 US8384055B2 (en) | 2009-10-30 | 2010-10-18 | Output circuit, light-receiver circuit using the same, and photocoupler |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009250107A JP5385095B2 (ja) | 2009-10-30 | 2009-10-30 | 出力回路及びそれを用いた受光回路、フォトカプラ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011097406A JP2011097406A (ja) | 2011-05-12 |
JP5385095B2 true JP5385095B2 (ja) | 2014-01-08 |
Family
ID=43924402
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009250107A Expired - Fee Related JP5385095B2 (ja) | 2009-10-30 | 2009-10-30 | 出力回路及びそれを用いた受光回路、フォトカプラ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8384055B2 (ja) |
JP (1) | JP5385095B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI475948B (zh) * | 2012-07-09 | 2015-03-01 | Acer Inc | 折疊式電子設備 |
JP6171311B2 (ja) * | 2012-11-12 | 2017-08-02 | 住友電気工業株式会社 | 差動増幅回路 |
JP6471619B2 (ja) * | 2015-06-12 | 2019-02-20 | 株式会社デンソー | 電子装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH025612A (ja) | 1988-06-24 | 1990-01-10 | Fujitsu Ltd | 半導体論理回路 |
JPH03141711A (ja) * | 1989-10-27 | 1991-06-17 | Hitachi Ltd | 電力増幅器のラッシュ電流防止回路 |
US5410270A (en) * | 1994-02-14 | 1995-04-25 | Motorola, Inc. | Differential amplifier circuit having offset cancellation and method therefor |
JP2689967B2 (ja) * | 1995-09-22 | 1997-12-10 | 日本電気株式会社 | 受光集積回路 |
JP4281193B2 (ja) * | 2000-01-24 | 2009-06-17 | ソニー株式会社 | 出力回路 |
KR100351932B1 (ko) * | 2000-05-30 | 2002-09-12 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리 장치의 전압 감지 회로 |
KR100351931B1 (ko) * | 2000-05-30 | 2002-09-12 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리 장치의 전압 감지 회로 |
JP4092243B2 (ja) * | 2003-04-21 | 2008-05-28 | Necエレクトロニクス株式会社 | 光増幅回路 |
KR100512940B1 (ko) * | 2003-10-27 | 2005-09-07 | 삼성전자주식회사 | 데이터 전송 시스템 및 방법 |
KR100733414B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2007-06-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전원 생성장치 |
JP5024020B2 (ja) * | 2007-12-17 | 2012-09-12 | 富士通株式会社 | バイアス回路 |
US7973521B2 (en) * | 2008-08-08 | 2011-07-05 | Mediatek Inc. | Voltage regulators |
-
2009
- 2009-10-30 JP JP2009250107A patent/JP5385095B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-10-18 US US12/923,959 patent/US8384055B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8384055B2 (en) | 2013-02-26 |
JP2011097406A (ja) | 2011-05-12 |
US20110101256A1 (en) | 2011-05-05 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130304 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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