JP5327792B2 - 顕微鏡システム - Google Patents
顕微鏡システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5327792B2 JP5327792B2 JP2008535979A JP2008535979A JP5327792B2 JP 5327792 B2 JP5327792 B2 JP 5327792B2 JP 2008535979 A JP2008535979 A JP 2008535979A JP 2008535979 A JP2008535979 A JP 2008535979A JP 5327792 B2 JP5327792 B2 JP 5327792B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- microscope system
- imaging
- object plane
- intermediate image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/02—Objectives
- G02B21/025—Objectives with variable magnification
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/02—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
- G02B17/026—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system having static image erecting or reversing properties only
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/18—Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
- G02B21/20—Binocular arrangements
- G02B21/22—Stereoscopic arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B15/00—Optical objectives with means for varying the magnification
- G02B15/14—Optical objectives with means for varying the magnification by axial movement of one or more lenses or groups of lenses relative to the image plane for continuously varying the equivalent focal length of the objective
- G02B15/143—Optical objectives with means for varying the magnification by axial movement of one or more lenses or groups of lenses relative to the image plane for continuously varying the equivalent focal length of the objective having three groups only
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0028—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders specially adapted for specific applications, e.g. for endoscopes, ophthalmoscopes, attachments to conventional microscopes
Description
従って、顕微鏡システムによって達成される、物体平面に配置可能な物体の調整可能な結像倍率は、顕微鏡システム内で直列に配置された2つのズームシステムに分割され、第1のズームシステムは第1のサブシステムに配置され、第2のズームシステムは第2のサブシステムに配置されている。
また、前記少なくとも一対の結像光路は前記第1のサブシステムの前記複数の光学レンズのうちのいくつかの光学レンズを順次通過し、前記物体平面を中間像に結像し、前記いくつかの光学レンズは、前記物体平面の像(representation)が、最大で0.9倍に縮小されて前記中間像に結像されるように構成されている。この点において、「最大で0.9倍に縮小される」とは、中間像における物体平面の像が0.1(すなわち、10%)以上だけ縮小されることを意味する。
さらに、前記いくつかの光学レンズは、前記物体平面の像が、最大で0.8倍に縮小されて前記中間像に結像されるように構成されている。
さらに、前記いくつかの光学レンズは、前記物体平面の像が、最大で0.6倍に縮小されて前記中間像に結像されるように構成されている。
さらに、前記いくつかの光学レンズは、前記物体平面の像が、最大で0.5倍に縮小されて前記中間像に結像されるように構成されている。
図1Bは、図1Aの結像システムの基本素子の空間的構成の斜視図を概略的に示し、
図2Aは、図1Aに示される結像システムの光学レンズを通過する光路をより大きい尺度で概略的に示し、
図2Bは、図2Aの代わりに第1の実施の形態における結像システムにおいて使用され得る光学レンズを通過する光路を概略的に示し、
図3は、本発明に係る顕微鏡システムの光学レンズと従来の顕微鏡システムの対応する光学レンズとのサイズの比較例を示し、
図4は、図1Aの顕微鏡システムにおいて代替例として使用され得る光学レンズの構成を示し、
図5は、図1Aの顕微鏡システムにおいて代替例として使用され得る光学レンズのさらなる構成の異なる動作状態を示し、
図6は、図1Aの顕微鏡システムにおいて代替例として使用され得る光学レンズのさらなる構成の異なる動作状態を示し、
図7は、本発明の第2の実施の形態における顕微鏡システムの結像システムの光路を概略的に示し、
図8は、従来技術における顕微鏡システムの一般的な構造を概略的に示している。
物体平面における立体視角よりも中間像における立体視角をこのように大きくすることにより、中間像を結像する光学素子による結像光路の分離が容易となる。従って、先行技術よりも高い程度で結像光路が分岐するので、上記顕微鏡システムは、特にコンパクトに作製することができる。
さらに、第3の光学レンズ6及び第4の光学レンズ7間、並びに、第8の光学レンズ14の後ろには、アフォーカルな界面AF1又はAF2がそれぞれ配置され、結像光路2a及び2bは、アフォーカルな界面において無限遠に集束される。アフォーカルな界面AF1及びAF2を設けることにより、顕微鏡システムの結像システム26のモジューラ構造が実現される。図2Aにおいて、アフォーカルな界面AF1が倍尺で概略的に示されている。
Claims (31)
- 顕微鏡システムの物体平面に配置可能な物体を結像するための顕微鏡システムであって、
前記物体平面において立体視角を有する少なくとも一対の結像光路を形成するための結像システムを含み、
前記結像システムは、前記少なくとも一対の結像光路の両方の結像光路によって共通に横切られる複数の光学レンズを備えた第1のサブシステムを有し、
前記結像システムは、前記少なくとも一対の結像光路のうちの1つの結像光路によってのみそれぞれ横切られる複数の光学レンズを備えた第2のサブシステムを有し、
前記第1のサブシステムの少なくとも2つの光学レンズ及び前記第2のサブシステムの少なくとも2つの光学レンズは、前記物体平面に配置可能な前記物体の結像倍率をそれぞれ変更するために、1つの共通の結像光路に沿って互いに対して変位可能であることを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記少なくとも一対の結像光路は前記第1のサブシステムの前記複数の光学レンズのうちのいくつかの光学レンズを順次通過し、前記物体平面を中間像に結像し、
前記いくつかの光学レンズは、前記物体平面の像(representation)が、最大で0.9倍に縮小されて前記中間像に結像されるように構成されている、請求項1に記載の顕微鏡システム。 - 前記いくつかの光学レンズは、前記物体平面の像が、最大で0.8倍に縮小されて前記中間像に結像されるように構成されている、請求項2に記載の顕微鏡システム。
- 前記いくつかの光学レンズは、前記物体平面の像が、最大で0.6倍に縮小されて前記中間像に結像されるように構成されている、請求項2に記載の顕微鏡システム。
- 前記いくつかの光学レンズは、前記物体平面の像が、最大で0.5倍に縮小されて前記中間像に結像されるように構成されている、請求項2に記載の顕微鏡システム。
- 前記少なくとも一対の結像光路は前記第1のサブシステムの前記複数の光学レンズのうちのいくつかの光学レンズを順次通過し、前記物体平面を中間像に結像し、
前記少なくとも一対の結像光路は、前記中間像において他の立体視角を有し、
前記物体平面における前記立体視角の、前記中間像における前記立体視角に対する比は、0.9未満である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の顕微鏡システム。 - 前記物体平面における前記立体視角の、前記中間像における前記立体視角に対する比は、0.8未満である、請求項6に記載の顕微鏡システム。
- 前記物体平面における前記立体視角の、前記中間像における前記立体視角に対する比は、0.6未満である、請求項6に記載の顕微鏡システム。
- 前記少なくとも一対の結像光路は、前記光学レンズによって規定される前記結像光路の立体軸(stereoscopic axes)の光軸からの距離がそれぞれ最大である2つの領域間に前記中間像が配置されるように、前記第1のサブシステムの前記光学レンズにおいて導かれる、請求項6〜8のいずれか1項に記載の顕微鏡システム。
- 前記少なくとも一対の結像光路は、前記少なくとも一対の結像光路の各結像光路において導かれるビーム束の直径が最大である2つの領域間に前記中間像が配置されるように、前記第1のサブシステムの前記光学レンズにおいて導かれる、請求項6〜9のいずれか1項に記載の顕微鏡システム。
- 前記光学レンズの第1の組の光学有効面が、前記中間像と、前記結像光路の立体軸の前記光軸からの距離及び前記少なくとも一対の結像光路の各結像光路において導かれるビーム束の直径のうちの少なくとも1つがそれぞれ最大である、前記2つの領域のうちの第1の領域との間に配置され、
前記第1の領域は、前記中間像と前記物体平面との間に配置され、
前記光学レンズの第2の組の光学有効面が、前記中間像と前記2つの領域のうちの第2の領域との間に配置され、
前記光学レンズの第3の組の有効光学面が、前記第1の領域と前記物体平面との間に配置されている、請求項9に記載の顕微鏡システム。 - 前記第1の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第2の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、少なくとも1.1である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第2の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、少なくとも1.2である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第2の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、少なくとも1.4である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第3の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、0.2〜0.6である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第3の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、0.3〜0.5である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第3の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、0.4である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第2の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第3の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、0.1〜0.6である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第2の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第3の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、0.2〜0.5である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第2の組の光学有効面の合計焦点距離の、前記第3の組の光学有効面の合計焦点距離に対する比は、0.3である、請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の領域における前記結像光路の立体軸の前記光軸からのそれぞれの距離の、前記第2の領域における前記結像光路の立体軸の前記光軸からのそれぞれの距離に対する比は、最大で1.1である、請求項9に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の領域における前記結像光路の立体軸の前記光軸からのそれぞれの距離の、前記第2の領域における前記結像光路の立体軸の前記光軸からのそれぞれの距離に対する比は、最大で1.2である、請求項9に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の領域における前記結像光路の立体軸の前記光軸からのそれぞれの距離の、前記第2の領域における前記結像光路の立体軸の前記光軸からのそれぞれの距離に対する比は、最大で1.4である、請求項9に記載の顕微鏡システム。
- 前記光学レンズは、前記結像光路を、前記結像光路の立体軸の前記光軸からの距離及び前記少なくとも一対の結像光路の各結像光路において導かれるビーム束の直径のうちの少なくとも1つが最大である前記領域のうちの少なくとも1つにおいて、無限遠に集束させる、請求項9〜23のいずれか1項に記載の顕微鏡システム。
- 前記結像システムは、前記少なくとも一対の結像光路を偏向させるための第1、第2、第3及び第4のミラー面を備えており、
前記少なくとも一対の結像光路は、前記第1のミラー面、前記第2のミラー面、前記第3のミラー面及び前記第4のミラー面によって順次偏向される、請求項1〜24のいずれか1項に記載の顕微鏡システム。 - 前記第1のミラー面及び前記第4のミラー面は、互いに対して80度〜100度の角度を有し、前記第2のミラー面及び前記第3のミラー面は、互いに対して80度〜100度の角度を有し、前記第3のミラー面及び前記第4のミラー面は、互いに対して50度〜70度の角度を有する、請求項25に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1のミラー面及び前記第4のミラー面は、互いに対して90度の角度を有し、前記第2のミラー面及び前記第3のミラー面は、互いに対して90度の角度を有し、前記第3のミラー面及び前記第4のミラー面は、互いに対して60度の角度を有する、請求項26に記載の顕微鏡システム。
- 前記第2、第3及び第4のミラー面のうちの少なくとも1つは、前記第1のサブシステムの光学レンズ間に配置されている、請求項26又は27に記載の顕微鏡システム。
- 前記物体平面を照明するための照明光路を有する照明システムをさらに備えた、請求項1〜28のいずれか1項に記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡システムは、立体顕微鏡である、請求項1〜29のいずれか1項に記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡システムは、外科用顕微鏡である、請求項30に記載の顕微鏡システム。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005050345 | 2005-10-20 | ||
DE102005050345.4 | 2005-10-20 | ||
DE102006012388A DE102006012388A1 (de) | 2005-10-20 | 2006-03-17 | Mikroskopiesystem |
DE102006012388.3 | 2006-03-17 | ||
PCT/EP2006/010157 WO2007045500A1 (de) | 2005-10-20 | 2006-10-20 | Mikroskopiesystem |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009512887A JP2009512887A (ja) | 2009-03-26 |
JP2009512887A5 JP2009512887A5 (ja) | 2012-11-08 |
JP5327792B2 true JP5327792B2 (ja) | 2013-10-30 |
Family
ID=37663356
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008535979A Expired - Fee Related JP5327792B2 (ja) | 2005-10-20 | 2006-10-20 | 顕微鏡システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8054543B2 (ja) |
EP (2) | EP1938138A1 (ja) |
JP (1) | JP5327792B2 (ja) |
DE (1) | DE102006012388A1 (ja) |
WO (1) | WO2007045500A1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006012388A1 (de) | 2005-10-20 | 2007-04-26 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Mikroskopiesystem |
DE102006009452B4 (de) * | 2005-10-20 | 2010-07-01 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Stereomikroskop |
DE102006010767B4 (de) * | 2006-03-08 | 2008-04-17 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Mikroskopiesystem |
DE102009012707A1 (de) * | 2009-03-11 | 2010-09-16 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop mit mehreren optischen Systemen im Abbildungsstrahlengang |
DE102009046449B3 (de) * | 2009-11-06 | 2011-05-12 | Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. | Stereomikroskop |
JP5421741B2 (ja) | 2009-11-20 | 2014-02-19 | 三鷹光器株式会社 | 手術顕微鏡 |
JP2012212096A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-11-01 | Olympus Corp | 顕微鏡光学系 |
JP2013057816A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Olympus Corp | 顕微鏡光学系 |
JP2013109081A (ja) * | 2011-11-18 | 2013-06-06 | Olympus Corp | 倒立顕微鏡 |
DE102013015981B4 (de) * | 2013-09-25 | 2020-06-10 | Carl Zeiss Meditec Ag | Operationsmikroskop mit hoher Vergrößerung |
EP2921099A1 (de) * | 2014-03-18 | 2015-09-23 | Dieter Mann GmbH | Ophthalmoskopie-Vorsatzeinheit für Operationsmikroskop |
US10267625B2 (en) | 2016-06-29 | 2019-04-23 | Nikon Corporation | Determination of operability of a digital scanner with shearing interferometry |
US10299880B2 (en) * | 2017-04-24 | 2019-05-28 | Truevision Systems, Inc. | Stereoscopic visualization camera and platform |
EP3531184B1 (en) | 2018-02-23 | 2022-06-29 | Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. | Surgical microscope with movable beam deflector, method for operating the same and retrofit-kit |
CN111323934B (zh) * | 2020-04-23 | 2021-11-30 | 复旦大学 | 一种光谱成像光学装调装置 |
Family Cites Families (54)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL7216306A (ja) | 1972-12-01 | 1974-06-05 | ||
DE3217776C2 (de) * | 1982-05-12 | 1985-01-31 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Stereomikroskop |
US4601550A (en) * | 1983-08-08 | 1986-07-22 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Stereo-microscope with a common objective lens system |
US4545655A (en) * | 1984-04-02 | 1985-10-08 | Polaroid Corporation | Optical viewing system |
DE3760288D1 (en) * | 1986-03-14 | 1989-08-03 | Haag Ag Streit | Stereo microscope |
DE3833876A1 (de) | 1988-10-05 | 1990-04-12 | Zeiss Carl Fa | Zwei optisch-mechanisch gekoppelte operationsmikroskope mit koaxialer beleuchtung |
GB2242033B (en) * | 1990-03-05 | 1994-01-05 | Sigma Ltd | Optical projection lens system |
DE9003458U1 (ja) | 1990-03-24 | 1990-05-31 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim, De | |
DE4012552A1 (de) * | 1990-04-20 | 1991-10-24 | Wild Heerbrugg Ag | Operationsmikroskop fuer mindestens zwei operateure |
US5612816A (en) | 1992-04-28 | 1997-03-18 | Carl-Zeiss-Stiftung | Endoscopic attachment for a stereoscopic viewing system |
EP0582148B1 (de) * | 1992-08-01 | 1999-03-17 | Carl Zeiss | Endoskopischer Vorsatz für ein stereoskopisches Beobachtungssystem |
DE4336715C2 (de) | 1992-10-27 | 1999-07-08 | Olympus Optical Co | Stereomikroskop |
JPH06337351A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Olympus Optical Co Ltd | 実体顕微鏡 |
DE4331635C2 (de) * | 1992-12-22 | 2001-03-15 | Zeiss Carl Fa | Beleuchtungseinrichtung für ein Operationsmikroskop mit optisch-mechanisch gekoppelten Beobachtertuben |
US5701196A (en) | 1993-11-05 | 1997-12-23 | Olympus Optical Co., Ltd | Stereomicroscope |
JP3689124B2 (ja) * | 1993-11-18 | 2005-08-31 | オリンパス株式会社 | 実体顕微鏡 |
CH689903A5 (de) | 1994-12-23 | 2000-01-14 | Zeiss Carl Fa | Zoom-System für mindestens zwei stereoskopische Beobachtungs- oder Dokumentationsstrahlengänge. |
JP2992350B2 (ja) | 1995-02-03 | 1999-12-20 | ライカ ミクロスコピー ジステーメ アクチエンゲゼルシャフト | 立体顕微鏡 |
DE19718102B4 (de) | 1996-05-29 | 2011-07-21 | Olympus Corporation | Stereomikroskop |
US6631036B2 (en) * | 1996-09-26 | 2003-10-07 | Carl-Zeiss-Stiftung | Catadioptric objective |
JPH10260359A (ja) | 1997-03-19 | 1998-09-29 | Olympus Optical Co Ltd | 像回転装置 |
JP3752356B2 (ja) * | 1997-04-09 | 2006-03-08 | オリンパス株式会社 | 実体顕微鏡 |
JPH1184263A (ja) * | 1997-09-05 | 1999-03-26 | Olympus Optical Co Ltd | 立体視顕微鏡の撮影光学系 |
JP4470247B2 (ja) * | 1999-10-20 | 2010-06-02 | 株式会社ニコン | 倒立顕微鏡 |
JP3857888B2 (ja) | 2000-07-11 | 2006-12-13 | ペンタックス株式会社 | ビデオ式顕微鏡への防振機構の組込みの決定方法 |
US6628457B2 (en) | 2000-07-11 | 2003-09-30 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Antivibration microscope |
EP1320779B1 (de) | 2000-09-26 | 2004-12-08 | Carl Zeiss | Bildumkehrsystem, ophthalmoskopie-vorsatzmodul und operationsmikroskop |
DE10140402B4 (de) * | 2000-09-26 | 2012-08-30 | Carl Zeiss Meditec Ag | Bildumkehrsystem, Ophthalmoskopie-Vorsatzmodul und Operationsmikroskop |
DE10300925B4 (de) | 2002-02-04 | 2020-02-27 | Carl Zeiss Meditec Ag | Stereo-Untersuchungsvorrichtung und Stereo-Bilderzeugungsvorrichtung mit einer solchen |
US7180660B2 (en) | 2002-02-04 | 2007-02-20 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss | Stereo-examination systems and stereo-image generation apparatus as well as a method for operating the same |
DE10330581B4 (de) | 2002-08-23 | 2015-02-19 | Carl Zeiss Meditec Ag | Verstellvorrichtung |
JP4197915B2 (ja) | 2002-09-19 | 2008-12-17 | オリンパス株式会社 | 実体顕微鏡用撮影装置 |
DE10255960A1 (de) | 2002-11-29 | 2004-06-24 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Stereomikroskop |
DE10255961B3 (de) | 2002-11-29 | 2004-04-08 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Stereomikroskop |
DE10255967A1 (de) | 2002-11-29 | 2004-06-09 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Vorrichtung zur Ausspiegelung eines stereoskopischen Beobachtungsstrahlengangs |
DE10255964A1 (de) | 2002-11-29 | 2004-07-01 | Siemens Ag | Photovoltaisches Bauelement und Herstellungsverfahren dazu |
DE10255965A1 (de) | 2002-11-29 | 2004-06-09 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Stereomikroskop |
US7159831B2 (en) | 2003-02-21 | 2007-01-09 | Carl-Zeiss-Stiftung | Adjusting device |
DE10312471B4 (de) | 2003-03-20 | 2006-04-13 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Mikroskop, insbesondere Stereomikroskop |
DE10312681B4 (de) | 2003-03-21 | 2005-09-15 | Carl Zeiss | Mikroskopiesystem |
DE10316242A1 (de) * | 2003-04-09 | 2004-10-28 | Carl Zeiss | Umlenksystem für eine Beobachtungseinrichtung sowie Beobachtungseinrichtung |
JP4043991B2 (ja) * | 2003-04-25 | 2008-02-06 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡観察装置及びプローブ型顕微鏡 |
US20040223213A1 (en) | 2003-04-25 | 2004-11-11 | Hiroya Fukuyama | Microscopic observing apparatus and probe microscope |
DE10323091A1 (de) | 2003-05-16 | 2004-12-02 | Carl Zeiss | OP-Feldbeleuchtungsvorrichtung |
DE10332603B4 (de) | 2003-07-17 | 2006-04-06 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Stereomikroskop |
DE10355527A1 (de) | 2003-11-21 | 2005-06-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Mikroskopkamera |
DE102004052253B4 (de) | 2003-12-10 | 2018-02-08 | Carl Zeiss Meditec Ag | Objektiv für ein Operationsmikroskop, Operationsmikroskop sowie Verfahren zum Einstellen eines Objektivs |
JP5093979B2 (ja) | 2003-12-10 | 2012-12-12 | カール ツァイス メディテック アーゲー | 観察装置用対物レンズ、顕微鏡ならびに対物レンズの調節方法 |
DE602005007403D1 (de) | 2004-03-25 | 2008-07-24 | Olympus Corp | Scannendes konfokales Mikroskop |
DE102005013570B9 (de) | 2004-04-02 | 2014-12-18 | Carl Zeiss Meditec Ag | Stereomikroskopiesystem und Stereomikroskopieverfahren |
JP4576876B2 (ja) | 2004-05-10 | 2010-11-10 | 株式会社ニコン | 顕微鏡システム |
JP2005070809A (ja) * | 2004-11-11 | 2005-03-17 | Mitaka Koki Co Ltd | 立体顕微鏡 |
DE102006009452B4 (de) * | 2005-10-20 | 2010-07-01 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Stereomikroskop |
DE102006012388A1 (de) | 2005-10-20 | 2007-04-26 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Mikroskopiesystem |
-
2006
- 2006-03-17 DE DE102006012388A patent/DE102006012388A1/de not_active Withdrawn
- 2006-10-20 US US12/090,629 patent/US8054543B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-10-20 EP EP06806441A patent/EP1938138A1/de not_active Withdrawn
- 2006-10-20 WO PCT/EP2006/010157 patent/WO2007045500A1/de active Application Filing
- 2006-10-20 EP EP12000916A patent/EP2463701A1/de not_active Withdrawn
- 2006-10-20 JP JP2008535979A patent/JP5327792B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-10-05 US US13/253,852 patent/US8804236B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8054543B2 (en) | 2011-11-08 |
WO2007045500A1 (de) | 2007-04-26 |
US20080212171A1 (en) | 2008-09-04 |
JP2009512887A (ja) | 2009-03-26 |
US20120120486A1 (en) | 2012-05-17 |
DE102006012388A1 (de) | 2007-04-26 |
US8804236B2 (en) | 2014-08-12 |
EP2463701A1 (de) | 2012-06-13 |
EP1938138A1 (de) | 2008-07-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5327792B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
US7777941B2 (en) | Greenough-type stereomicroscope | |
US7605975B2 (en) | Stereomicroscope | |
JP3541051B2 (ja) | 手術用顕微鏡用の照明装置及び手術用顕微鏡 | |
JP2009512887A5 (ja) | ||
JP2004004827A (ja) | 顕微鏡で使用されるアフォーカルズーム装置 | |
JP2002174773A (ja) | 立体顕微鏡検査システム | |
JP4446024B2 (ja) | アフォーカルズームシステム | |
US7583434B2 (en) | Stereomicroscope | |
JP5240483B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JPS6014327B2 (ja) | 複数の観察者によつて観察可能な立体顕微鏡 | |
US9715097B2 (en) | Stereomicroscope having a main observer beam path and a co-observer beam path | |
JP2007025702A (ja) | 被写界深度を広げた光学装置 | |
JP4347029B2 (ja) | ステレオ顕微鏡 | |
CN111045202A (zh) | 一种手术显微镜 | |
JP5093979B2 (ja) | 観察装置用対物レンズ、顕微鏡ならびに対物レンズの調節方法 | |
JP2004185003A (ja) | ステレオ顕微鏡 | |
JP3969545B2 (ja) | 実体顕微鏡 | |
JP4744821B2 (ja) | 立体顕微鏡 | |
US9285576B2 (en) | Stereoscopic microscope | |
US7423807B2 (en) | Ophthalmoscopic stereomicroscope with correction component | |
JP2004109488A (ja) | 実体顕微鏡 | |
JPH07140395A (ja) | 実体顕微鏡 | |
JP2006221177A (ja) | 観察装置用鏡胴ならびに観察装置 | |
US8529064B2 (en) | Attachment module for a microscope for observing the fundus of the eye |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091001 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120217 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120327 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120619 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120626 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120718 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120725 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120824 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120831 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20120924 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130402 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130523 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130625 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20130717 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130717 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5327792 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |