JP5322390B2 - 丸棒検査装置及び丸棒検査方法 - Google Patents
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Description
5・・・・軸受基台
6・・・・軸受基台
7・・・・誘導筒
8・・・・誘導筒
10・・・回転基台
15・・・遮光板
20・・・発光ダイオード
21・・・基板
22・・・安定化電源
25・・・フォトダイオード
26・・・集光レンズ
27・・・素子支持部
30・・・データ解析部
W・・・・丸棒
Claims (4)
- 丸棒の外周面の疵や汚れを検査する丸棒検査装置において、
該丸棒の軸に略垂直に該外周面に光を照射する光源と、
該丸棒の軸方向に略垂直な断面視で、該丸棒の軸における該光源の入射方向とのなす角度が130度〜170度になるように設けられた受光センサとを備え、
該丸棒の軸中心方向に向かって該丸棒の太さ方向の略全体に対して照射された該光源から光の該外周面での反射光を該受光センサで受光し、該受光した光の光量の減少から該疵や汚れを検出することを特徴とする丸棒検査装置。 - 前記光源が、発光ダイオードであることを特徴とする請求項1記載の丸棒検査装置。
- 前記受光センサが、フォトダイオードであることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の丸棒検査装置。
- 丸棒の外周面の疵や汚れを検査する丸棒検査方法において、
該丸棒の軸に略垂直に該外周面に光を照射し、
該丸棒の軸方向に略垂直な断面視で該丸棒の軸における該光源の入射方向とのなす角度が130度〜170度になるように設けられた受光センサで、該丸棒の軸中心方向に向かって該丸棒の太さ方向の略全体に対して照射された該光源からの光の該外周面での反射光を受光し、
該受光した光の光量の減少から該疵や汚れを検出することを特徴とする丸棒検査方法。
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