JP5314662B2 - X線光電子分光装置およびx線光電子分光方法 - Google Patents
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図1は、第1実施形態のX線光電子分光装置1の構成図である。X線光電子分光装置1は、X線を測定対象物2に入射させたときに励起されて放出される光電子のエネルギースペクトルを検出するものであって、X線源10,電子レンズ20,エネルギー分析器30,検出器40および処理部50を備える。
図7は、第2実施形態のX線光電子分光装置2の構成図である。X線光電子分光装置2は、X線を測定対象物2に入射させたときに励起されて放出される光電子のエネルギースペクトルを検出するものであって、X線源10,電子レンズ20,エネルギー分析器30,検出器40および処理部60を備える。
S'(x)={a(x)E+b(x)}S(x) …(1)
S(x)=S'(x)/{a(x)E+b(x)} …(2)
Claims (4)
- 測定対象物に照射すべきX線を出力するX線源と、前記X線源から出力されたX線が前記測定対象物に照射されることにより前記測定対象物で発生した電子を減速させるとともに収束させる電子レンズと、前記電子レンズにより収束された電子をエネルギー分散させるエネルギー分析器と、前記エネルギー分析器を経た電子のエネルギースペクトルを検出する検出器と、前記検出器により検出されたエネルギースペクトルを処理する処理部と、を備え、
前記処理部が、前記X線源から出力されたX線の照射により前記測定対象物で発生した電子が前記電子レンズおよび前記エネルギー分析器を経て前記検出器に到達したときに前記検出器により得られた補正前エネルギースペクトルを、前記電子レンズによる電子の減速が調整されて前記測定対象物のフェルミ準位よりも低束縛エネルギー側にある禁止帯に相当する帯域のものとして前記検出器により得られた第1補正用エネルギースペクトルに基づいて補正する、
ことを特徴とするX線光電子分光装置。 - 前記処理部が、前記補正前エネルギースペクトルを、前記第1補正用エネルギースペクトルに基づいて補正した後に、前記電子レンズによる電子の減速が調整されて前記測定対象物のフェルミ準位よりも高束縛エネルギー側にある禁止帯に相当する帯域のものとして前記検出器により得られた第2補正用エネルギースペクトルに基づいて補正する、
ことを特徴とする請求項1に記載のX線光電子分光装置。 - 測定対象物に照射すべきX線を出力するX線源と、前記X線源から出力されたX線が前記測定対象物に照射されることにより前記測定対象物で発生した電子を減速させるとともに収束させる電子レンズと、前記電子レンズにより収束された電子をエネルギー分散させるエネルギー分析器と、前記エネルギー分析器を経た電子のエネルギースペクトルを検出する検出器と、を備えるX線光電子分光装置を用いて、
前記X線源から出力されたX線の照射により前記測定対象物で発生した電子が前記電子レンズおよび前記エネルギー分析器を経て前記検出器に到達したときに前記検出器により得られた補正前エネルギースペクトルを、前記電子レンズによる電子の減速が調整されて前記測定対象物のフェルミ準位よりも低束縛エネルギー側にある禁止帯に相当する帯域のものとして前記検出器により得られた第1補正用エネルギースペクトルに基づいて補正する、
ことを特徴とするX線光電子分光方法。 - 前記補正前エネルギースペクトルを、前記第1補正用エネルギースペクトルに基づいて補正した後に、前記電子レンズによる電子の減速が調整されて前記測定対象物のフェルミ準位よりも高束縛エネルギー側にある禁止帯に相当する帯域のものとして前記検出器により得られた第2補正用エネルギースペクトルに基づいて補正する、
ことを特徴とする請求項3に記載のX線光電子分光方法。
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