JP5277317B2 - 荷電粒子顕微鏡 - Google Patents
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Description
(1)イメージシフト時に、磁界レンズの回転作用により、レンズ中心から軌道がずれる。この軌道のずれを補正するコイルの励磁条件が電磁レンズでフォーカスした場合と静電レンズの場合とで異なる。補正量の回転成分が電磁レンズの場合には、高さ方向の変化に対して磁界の強度が変化するために回転がキャンセルされる方向に作用するが、静電レンズの場合には、磁界の強度が変化しないため、高さ方向の変化に対して回転成分がキャンセルされる作用が発生しない。また、補正精度は分解能に影響を与えるため、高分解能化を目的とした荷電粒子顕微鏡においては高精度補正が要求される。
(2)静電レンズと電磁レンズのレンズ中心を完全に一致させることができず、荷電粒子線を複数のレンズ中心に同時に通過させることは困難であるため、ひとつのレンズ中心を通すことになる。このとき、荷電粒子線をレンズ中心に合わせた系にてフォーカスを変化させた場合はフォーカス変化時に同一の箇所で発生しないが、これとは別の系でフォーカスを変化させた場合、視野の移動が発生することになる。また、視野ずれはイメージシフトによって方向が変化する。この視野ずれは、画像を取得しながら、その先鋭度判定によって合焦点位置を判定するオートフォーカスの精度を劣化させる要因となる。
(3)前述の(1)(2)の現象は、装置ごとに振る舞いが異なる。これは、たとえば装置の組み立て精度にも起因するため、全く同一の振る舞いの装置を作成することは困難である。また、レンズ中心を通すための補正条件が外乱などの環境変化によって長期的には安定しないことが知られている。
(1)アライナコイルの出力を、対物レンズのコイル電流と電極印加電圧、加速電圧およびイメージシフトコイルの入力値によって決定する。
(2)レンズ中心を通したフォーカス系以外にてフォーカスを振る場合に発生する視野ずれを抑制するために、イメージシフト条件を動的に変化させて視野ずれを止めるためのフィードバック条件を対物レンズのコイル電流と電極印加電圧、加速電圧およびイメージシフトコイルの入力値によって決定する。
(3)アライナコイル出力値の決定に用いる演算手法に、装置の代表条件での調整データを元に多変量データによる補間によって算出するためのテーブルと演算手段を(1)(2)に対して準備し、テーブルのデータの有効性をチェックする機能を有する。
それぞれの関係を以下の式に示す。
Iobj=f(Ha,Vobj=G)・・・(式1)
Vobj=g(Ha,Hm)・・・・・・・(式2)
ALX=s(Ha,Hm,ISX,ISY)・・・(式3)
ALY=t(Ha,Hm,ISX,ISY)・・・(式4)
Haは試料平均高さ、Hmは試料高さ計測値、ISXはイメージシフト偏向器X制御値、ISYはイメージシフト偏向器Y制御値、Iobjは電磁型対物レンズ制御値、Vobjは静電型対物レンズ制御値、ALXは光学軌道補正器X制御値、ALYは光学軌道補正器Y制御値である。本テーブルの調整によって前述の関数の係数が決定される。特に、フォーカスを決定する電磁型および静電型対物レンズ制御値は、それぞれ従属する変数であるため、たとえば次のように調整する。(式1)から(式4)の右式はすべてHaによって決定されることから、次のように同時に取得することが可能である。
この構成では、偏向位置がすべて偏向器にて実施されるため、イメージシフト偏向時の光
学軌道だけでなく、走査偏向時の光学軌道に対してもイメージシフト偏向時の補正関数で
最適化することが可能となる。
実行後、「試料印加電圧の変化分の視野ずれ量をイメージシフト値に加算」116のシーケンスを実行することにより、試料印加電圧の変化時に発生する視野ずれ量をあらかじめホストコンピュータ4に格納されている補正テーブルのデータをもとに算出した値を制御回路82に割り当てて制御電源57および58が制御される。なお、上記の「試料印加電圧を変化」115は、実施例1で述べたように、電圧制御電源61から試料33およびシールド電極36に印加する電圧を変化させて行うものとする。「光学軌道調整値の設定」111では116にて再設定されたイメージシフト値に対応する光学軌道調整値が設定される。その後、「フォーカス判定画像の取得」117にて画像を取得後、「フォーカス判定画像取得終了か?」118にて未終了の場合は115のシーケンスに戻って116、111、117を繰り返す。118のシーケンスにて終了の場合は「ジャストフォーカス条件Vjustの算出」119のシーケンスを実行し、得られたフォーカス判定画像の評価値から合焦点位置と判定する試料印加電圧Vjustを算出する。得られたフォーカス条件の算出値は、「試料印加電圧Vjustの設定」120のシーケンスでの試料印加電圧の設定値Vjustに反映される。試料印加電圧を初期値に対して変更すると、視野ずれが発生するため、「試料印加電圧Vjust時の視野ずれ量をイメージシフト値に加算」121のシーケンスにて、発生する視野ずれ分を戻すようなイメージシフト値を加算する。このとき、最適な光学軌道を通る条件が変化するので、「光学軌道調整値の設定」122のシーケンスでは、121にて設定されたイメージシフト値に対応する光学軌道調整値が設定された後、「画像の取得」112が実行される。本実施例における光学軌道調整値の設定方法は実施例1に記載の方法と同一なので説明を割愛する。「全観察点での画像取得終了か?」113の判定にてまだ観察すべき箇所が残っている場合は、「試料印加電圧の初期化」123を実行した後105以下の動作を繰り返し、113の判定にて観察すべき箇所がない場合は「観察の終了、試料の取り出し」114を実行し、観察を終了する。
(Eb−Ea)−(Ed−Ec)<Eth・・・・(式5)
(Fb−Fa)−(Ed−Ec)<Eth・・・・(式6)
EthおよびFthは、あらかじめ設定された値で調整値のずれの許容値を意味する。
式5および式6を満たせば補正は必要なしと判断され、「判定に「正常」を出力」158を動作させる。一方、式5および式6を満たさない場合、「判定に「再調整要」を出力」159を動作させ、調整データの再調整が必要である旨をユーザに告知する。
以上の実施によって、調整データの信頼性を容易に確認することが可能となった。
Claims (9)
- 被計測試料を保持する試料ステージを格納する試料室と、前記被計測試料上に荷電粒子線を二次元に走査して発生する二次信号を検出して出力する荷電粒子光学鏡筒とを備えた荷電粒子顕微鏡であって、
前記荷電粒子光学鏡筒は、前記被計測試料上に前記荷電粒子線を集束させる対物レンズと、
前記荷電粒子線が走査される前記被計測試料上の走査領域において該走査の中心を所望の位置に設定する偏向器と、
前記荷電粒子線を前記走査領域の中心に設定した時に発生する前記対物レンズの軸外収差を低減させる光軸調整器を有すると共に、
前記対物レンズの軸外収差を所定値以下に制御する前記光軸調整器の制御値を格納する設定値記憶部と、前記対物レンズと前記偏向器と前記光軸調整器のそれぞれの制御値を制御する制御部とを具備してなる演算処理装置を有し、
前記対物レンズは、電磁レンズおよび静電レンズからなる複数のレンズによって構成されるイマージョンレンズであり、
前記設定値記憶部は、前記電磁レンズおよび静電レンズのそれぞれの制御値と前記偏向器の制御値によって決定される前記光軸調整器の制御値を格納することを特徴とする荷電粒子顕微鏡。 - 請求項1記載の荷電粒子顕微鏡であって、
前記偏向器は、イメージシフト偏向器で構成される
ことを特徴とする荷電粒子顕微鏡。 - 請求項1記載の荷電粒子顕微鏡であって、
前記偏向器は、イメージシフト偏向器および走査偏向器で構成される
ことを特徴とする荷電粒子顕微鏡。 - 請求項1記載の荷電粒子顕微鏡であって、
前記試料ステージが前記被計測試料の保持機構を有すると共に、前記被計測試料の高さを測定する高さ計測装置と、
同一被計測試料における試料高さの変化による前記対物レンズの焦点位置の変化分を静電レンズの調整によって追随させて所望の集束条件を求める手段を有することを特徴とする荷電粒子顕微鏡。 - 請求項4記載の荷電粒子顕微鏡であって、
前記被計測試料に電圧を印加し、かつ該電圧を変化させることによって前記荷電粒子線が前記被計測試料上で所望の焦点位置に集束させる手段を有する
ことを特徴とする荷電粒子顕微鏡。 - 被計測試料を保持する試料ステージを格納する試料室と、前記被計測試料上に荷電粒子線を二次元に走査して発生する二次信号を検出して出力する荷電粒子光学鏡筒とを備えた荷電粒子顕微鏡であって、
前記荷電粒子光学鏡筒は、前記被計測試料上に前記荷電粒子線を集束させる対物レンズと、
前記荷電粒子線が走査される前記被計測試料上の走査領域において該走査の中心を所望の位置に設定する偏向器と、
前記荷電粒子線を前記走査領域の中心に設定した時に発生する前記対物レンズの軸外収差を低減させる光軸調整器を有すると共に、
前記対物レンズの軸外収差を最小とする前記光軸調整器の制御値を格納する設定値記憶部と、前記対物レンズと前記偏向器と前記光軸調整器のそれぞれの制御値を制御する第1の制御部と、前記被計測試料に電圧を印加することにより生じる前記荷電粒子線の前記被計測試料への着床位置のずれ量を計測し該ずれ量に基づいて前記第1の制御部の制御値に補正を加える第2の制御部とを具備してなる演算処理装置を有し、
前記設定値記憶部は、前記対物レンズの制御値と前記偏向器の制御値によって決定される前記光軸調整器の制御値を格納することを特徴とする荷電粒子顕微鏡。 - 請求項6記載の荷電粒子顕微鏡であって、
前記対物レンズが電磁レンズおよび静電レンズからなる複数のレンズによって構成されるイマージョンレンズである
ことを特徴とする荷電粒子顕微鏡。 - 請求項6記載の荷電粒子顕微鏡であって、
前記試料ステージが前記被計測試料の保持機構を有すると共に、前記被計測試料の高さを測定する高さ計測装置と、
同一被計測試料における試料高さの変化による前記対物レンズの焦点位置の変化分を静電レンズの調整によって追随させ、所望の集束条件を求める手段を有することを特徴とする荷電粒子顕微鏡。 - 請求項6に記載の荷電粒子顕微鏡であって、
前記第2の制御部は、与えられたフォーカス条件に応じて前記偏向器を制御することにより焦点位置の変化時に取得する画像の観察位置の変化を低減させる制御条件を算出し、算出された前記制御条件を基に前記与えられたフォーカス条件を所望のフォーカス条件に補正することを特徴とする荷電粒子顕微鏡。
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